JP2556180B2 - はんだブリッジ検査装置 - Google Patents
はんだブリッジ検査装置Info
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- JP2556180B2 JP2556180B2 JP2215528A JP21552890A JP2556180B2 JP 2556180 B2 JP2556180 B2 JP 2556180B2 JP 2215528 A JP2215528 A JP 2215528A JP 21552890 A JP21552890 A JP 21552890A JP 2556180 B2 JP2556180 B2 JP 2556180B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- inspection area
- circuit
- area
- solder bridge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、はんだブリッジ検査装置、特にプリント基
板にはんだ付けされた表面実装ICのリード間のはんだブ
リッジの有無を検査するはんだブリッジ検査装置に関す
る。
板にはんだ付けされた表面実装ICのリード間のはんだブ
リッジの有無を検査するはんだブリッジ検査装置に関す
る。
第５図は、従来のはんだブリッジ検査装置のブロック
図である。
図である。
第５図の照明21は検査対象部品７に斜め上方から光を
照射する。カメラ22は検査対象部品７の上方に取り付け
られ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ｅを
出力する。二値化回路23は濃淡画像信号ｅを入力しあら
かじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応し
た“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像
信号ｆを出力する。検査領域発生回路24では、二値化画
像信号ｆを入力し検査領域記憶回路25に記憶されている
検査領域信号ｇにより設定される検査対象部品７のリー
ド間に検査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｈを出力す
る。判定回路26では、検査領域内二値化画像信号ｈを入
力し、“1"のエリアがあればはんだブリッジありと判定
する。第６図は二値化画像信号のパターン図である。点
線部はリード間に発生させられた検査領域27であり、斜
線部は検査領域内二値化画像信号の“1"のエリアを示し
ている。照明21から照射した光の反射光が、カメラ22に
多く入射する部分が“1"のエリアであり、第６図ではリ
ード28,28′間に発生したはんだブリッジ29からの反射
光による部分のエリア30となる。
照射する。カメラ22は検査対象部品７の上方に取り付け
られ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ｅを
出力する。二値化回路23は濃淡画像信号ｅを入力しあら
かじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応し
た“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像
信号ｆを出力する。検査領域発生回路24では、二値化画
像信号ｆを入力し検査領域記憶回路25に記憶されている
検査領域信号ｇにより設定される検査対象部品７のリー
ド間に検査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｈを出力す
る。判定回路26では、検査領域内二値化画像信号ｈを入
力し、“1"のエリアがあればはんだブリッジありと判定
する。第６図は二値化画像信号のパターン図である。点
線部はリード間に発生させられた検査領域27であり、斜
線部は検査領域内二値化画像信号の“1"のエリアを示し
ている。照明21から照射した光の反射光が、カメラ22に
多く入射する部分が“1"のエリアであり、第６図ではリ
ード28,28′間に発生したはんだブリッジ29からの反射
光による部分のエリア30となる。
上述した従来のはんだ付け検査装置は検査領域をリー
ド間に端がリードにかからないように発生させ、検査領
域内に濃淡画像の明るい部分があればはんだブリッジあ
りと判定していたので、切れかかったはんだブリッジや
部分的に光りにくいはんだブリッジは検出できないとい
う欠点があった。
ド間に端がリードにかからないように発生させ、検査領
域内に濃淡画像の明るい部分があればはんだブリッジあ
りと判定していたので、切れかかったはんだブリッジや
部分的に光りにくいはんだブリッジは検出できないとい
う欠点があった。
本発明のはんだブリッジ検査装置は、検査対象部品に
斜め上方から光を照射する照明と、前記検査対象部品の
画像を取り込む前記検査対象部品の上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“1"で暗い部分は“0"の二値化画像に変換する二
値化回路と、前記検査対象部品の内一本のリードを含み
該リードと直角な方向の端が左右の隣接するリードにか
からない検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記
二値化回路より出力される二値化画像に前記検査領域記
憶回路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域
発生回路と、該検査領域発生回路より出力される検査領
域内の二値化画像の“1"のエリアの前記検査対象部品の
リードと直角な方向の長さがあらかじめ設定した判定値
より長ければはんだブリッジありと判定する判定回路と
を含んで構成される。
斜め上方から光を照射する照明と、前記検査対象部品の
画像を取り込む前記検査対象部品の上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“1"で暗い部分は“0"の二値化画像に変換する二
値化回路と、前記検査対象部品の内一本のリードを含み
該リードと直角な方向の端が左右の隣接するリードにか
からない検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記
二値化回路より出力される二値化画像に前記検査領域記
憶回路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域
発生回路と、該検査領域発生回路より出力される検査領
域内の二値化画像の“1"のエリアの前記検査対象部品の
リードと直角な方向の長さがあらかじめ設定した判定値
より長ければはんだブリッジありと判定する判定回路と
を含んで構成される。
本発明のはんだブリッジ検査装置は、検査対象部品の
斜め上方から光を照射する照明と、前記検査対象部品の
画像を取り込む前記検査対象部品の上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“1"で暗い部分は“0"の二値化画像に変換する二
値化回路と、前記検査対象部品のリード間にリードと直
角な方向の端が隣接するリードにかかる検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内二値化画像のリード
と直角な方向の両端の２つの“1"のエリア間の長さがあ
らかじめ設定した判定値より短かいか、両端からの“1"
のエリアが接続していればはんだブリッジありと判定す
る判定回路とを含んで構成される。
斜め上方から光を照射する照明と、前記検査対象部品の
画像を取り込む前記検査対象部品の上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“1"で暗い部分は“0"の二値化画像に変換する二
値化回路と、前記検査対象部品のリード間にリードと直
角な方向の端が隣接するリードにかかる検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内二値化画像のリード
と直角な方向の両端の２つの“1"のエリア間の長さがあ
らかじめ設定した判定値より短かいか、両端からの“1"
のエリアが接続していればはんだブリッジありと判定す
る判定回路とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図の照明１は検査対象部品７に斜め上方から光を照
射する。カメラ２は検査対象部品７の上方に取り付けら
れ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ａを出
力する。二値化回路３は濃淡画像信号ａを入力しあらか
じめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像信
号ｂを出力する。検査領域発生回路４では、二値化画像
信号ｂを入力し検査領域記憶回路５に記憶されている検
査領域信号ｃにより設定される検査対象部品のリードを
含み該リードと直角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の端が
左右の隣接するリードにかからない検査領域を発生さ
せ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域
内二値化画像信号ｄを出力する。判定回路６では、検査
領域内二値化画像信号ｄを入力し、検査領域内のリード
部分のエリアを含む“1"のエリアを検出し、該エリアの
Ｘ方向の最大座標と最小座標の差よりＸ方向の長さを求
める。該測長したＸ方向の長さがあらかじめ設定した判
定値より長けば、はんだブリッジありと判定する。
第１図の照明１は検査対象部品７に斜め上方から光を照
射する。カメラ２は検査対象部品７の上方に取り付けら
れ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ａを出
力する。二値化回路３は濃淡画像信号ａを入力しあらか
じめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像信
号ｂを出力する。検査領域発生回路４では、二値化画像
信号ｂを入力し検査領域記憶回路５に記憶されている検
査領域信号ｃにより設定される検査対象部品のリードを
含み該リードと直角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の端が
左右の隣接するリードにかからない検査領域を発生さ
せ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域
内二値化画像信号ｄを出力する。判定回路６では、検査
領域内二値化画像信号ｄを入力し、検査領域内のリード
部分のエリアを含む“1"のエリアを検出し、該エリアの
Ｘ方向の最大座標と最小座標の差よりＸ方向の長さを求
める。該測長したＸ方向の長さがあらかじめ設定した判
定値より長けば、はんだブリッジありと判定する。
次に第２図を用いて、はんだブリッジ検出の原理を説
明する。第２図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部は一本のリード８を含みリードと直角な方向の端
が隣接する左右9,9′にかからない検査領域10であり、
斜線部は二値化画像信号の“1"のエリアを示している。
照明１から照射した光の反射光が、カメラ２に多く入射
する部分は反射率の高い部分であり、リード８からの反
射光によるリード部分のエリア11とはんだブリッジから
の反射光によるはんだブリッジ部分のエリア12とからな
る。はんだブリッジ部分のエリア12はリード８に接触し
たはんだブリッジからの反射光による“1"のエリアで、
リード部分のエリア11と接触している場合を示す。
明する。第２図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部は一本のリード８を含みリードと直角な方向の端
が隣接する左右9,9′にかからない検査領域10であり、
斜線部は二値化画像信号の“1"のエリアを示している。
照明１から照射した光の反射光が、カメラ２に多く入射
する部分は反射率の高い部分であり、リード８からの反
射光によるリード部分のエリア11とはんだブリッジから
の反射光によるはんだブリッジ部分のエリア12とからな
る。はんだブリッジ部分のエリア12はリード８に接触し
たはんだブリッジからの反射光による“1"のエリアで、
リード部分のエリア11と接触している場合を示す。
第一の判定回路６ではまずリード８からの反射光によ
るリード部分のエリア11を検出する。検出の方法として
は例えば、検査領域10はリード８からＸ方向左右均等に
発生されることから、複数の“1"のエリアのうちＸ方向
の中心座標が、検査領域10のＸ方向の中心座標に最も近
い“1"のエリアをリード部分のエリア11として検出する
ことができる。次に検出したリード部分のエリア11のＸ
方向の長さをＸ方向の最大座標XMAXと最小座標XMINの差
より求め、あらかじめ設定してある判定値と比較し、判
定値より大きければはんだブリッジありと判定する。は
んだブリッジがない場合リード部分のエリア11のＸ方向
の長さはリード幅になるのにたいして、はんだブリッジ
がある場合エリア11のＸ方向の長さはリード幅とはんだ
ブリッジＸ方向の長さを加えた値となる。そのため判定
値をリード幅以上の値に設定しておくことで、リードに
接触したはんだブリッジを検出することができる。
るリード部分のエリア11を検出する。検出の方法として
は例えば、検査領域10はリード８からＸ方向左右均等に
発生されることから、複数の“1"のエリアのうちＸ方向
の中心座標が、検査領域10のＸ方向の中心座標に最も近
い“1"のエリアをリード部分のエリア11として検出する
ことができる。次に検出したリード部分のエリア11のＸ
方向の長さをＸ方向の最大座標XMAXと最小座標XMINの差
より求め、あらかじめ設定してある判定値と比較し、判
定値より大きければはんだブリッジありと判定する。は
んだブリッジがない場合リード部分のエリア11のＸ方向
の長さはリード幅になるのにたいして、はんだブリッジ
がある場合エリア11のＸ方向の長さはリード幅とはんだ
ブリッジＸ方向の長さを加えた値となる。そのため判定
値をリード幅以上の値に設定しておくことで、リードに
接触したはんだブリッジを検出することができる。
第３図は本発明の他の実施例を示すブロック図であ
る。第３図の照明51は検査対象部品７に斜め上方から光
を照射する。カメラ52は検査対象部品７の上方に取り付
けられ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ｊ
を出力する。二値化回路53は濃淡画像信号ｊを入力しあ
らかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応
した“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画
像信号ｋを出力する。検査領域発生回路54では、二値化
画像信号ｋを入力し検査領域記憶回路55に記憶されてい
る検査領域信号ｍにより設定される検査対象部品７のリ
ード間にリードと直角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の端
が隣接するリードにかかる検査領域を発生させ、該検査
領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画
像信号ｎを出力する。判定回路56では、検査領域内二値
化画像信号ｎを入力し、検査領域内に検査領域のＸ方向
の端に接する両端の２つの“1"のエリア間の長さを測長
し、あらかじめ設定した判定値より短かいか、両端から
の“1"のエリアが接続していればはんだブリッジありと
判定する。
る。第３図の照明51は検査対象部品７に斜め上方から光
を照射する。カメラ52は検査対象部品７の上方に取り付
けられ検査対象部品７の画像を取り込み濃淡画像信号ｊ
を出力する。二値化回路53は濃淡画像信号ｊを入力しあ
らかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応
した“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画
像信号ｋを出力する。検査領域発生回路54では、二値化
画像信号ｋを入力し検査領域記憶回路55に記憶されてい
る検査領域信号ｍにより設定される検査対象部品７のリ
ード間にリードと直角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の端
が隣接するリードにかかる検査領域を発生させ、該検査
領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画
像信号ｎを出力する。判定回路56では、検査領域内二値
化画像信号ｎを入力し、検査領域内に検査領域のＸ方向
の端に接する両端の２つの“1"のエリア間の長さを測長
し、あらかじめ設定した判定値より短かいか、両端から
の“1"のエリアが接続していればはんだブリッジありと
判定する。
次に第４図を用いて、はんだブリッジ検出の原理を説
明する。第４図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部はＸ方向の端が隣接するリード58,58′にかかる
検査領域59であり、斜線部は検査領域内二値化画像信号
の“1"のエリアを示している。照明１から照射した光の
反射光が、カメラ２に多く入射する部分は反射率の高い
部分であり、リード58,58′からの反射光によりリード
部分のエリア60,60′とはんだブリッジからの反射光に
よるはんだブリッジ部分のエリア61,61′とからなる。
明する。第４図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部はＸ方向の端が隣接するリード58,58′にかかる
検査領域59であり、斜線部は検査領域内二値化画像信号
の“1"のエリアを示している。照明１から照射した光の
反射光が、カメラ２に多く入射する部分は反射率の高い
部分であり、リード58,58′からの反射光によりリード
部分のエリア60,60′とはんだブリッジからの反射光に
よるはんだブリッジ部分のエリア61,61′とからなる。
判定回路56では検査領域59の左端に接触する“1"のエ
リアの右端の座標XLと検査領域９の右端に接触する“1"
のエリアの左端の座標XRの左より左右両端の“1"のエリ
ア間の長さを求め、あらかじめ設定してある判定値と比
較し、判定値より小さければはんだブリッジありと判定
する。はんだブリッジにより検査領域59の左端に接触す
る“1"のエリアと検査領域59の右端に接触する“1"のエ
リアが接続されている場合もはんだブリッジありと判定
する。はんだブリッジがない場合、左右両端の“1"のエ
リア間の長さはリード部分のエリア60,60′の間の長さ
でリード間の長さになるが、切れかかったはんだブリッ
ジや部分的に光りにくい箇所のあるはんだブリッジがあ
る場合、左右両端の“1"のエリア間の長さはリードに接
触したはんだブリッジ部分のエリア61と61′のＸ方向の
長さ分リード間の長さより短くなる。そのため判定値を
リード間の長さより短い値に設定しておくことで、切れ
かかったはんだブリッジや部分的に光りにくい箇所のあ
るはんだブリッジを検出することができる。
リアの右端の座標XLと検査領域９の右端に接触する“1"
のエリアの左端の座標XRの左より左右両端の“1"のエリ
ア間の長さを求め、あらかじめ設定してある判定値と比
較し、判定値より小さければはんだブリッジありと判定
する。はんだブリッジにより検査領域59の左端に接触す
る“1"のエリアと検査領域59の右端に接触する“1"のエ
リアが接続されている場合もはんだブリッジありと判定
する。はんだブリッジがない場合、左右両端の“1"のエ
リア間の長さはリード部分のエリア60,60′の間の長さ
でリード間の長さになるが、切れかかったはんだブリッ
ジや部分的に光りにくい箇所のあるはんだブリッジがあ
る場合、左右両端の“1"のエリア間の長さはリードに接
触したはんだブリッジ部分のエリア61と61′のＸ方向の
長さ分リード間の長さより短くなる。そのため判定値を
リード間の長さより短い値に設定しておくことで、切れ
かかったはんだブリッジや部分的に光りにくい箇所のあ
るはんだブリッジを検出することができる。
本発明のはんだブリッジ検査装置は、検査領域を検査
対象部品の隣接するリード間にリードと直角な方向の端
がリードにかからないように発生させるかわりに、検査
領域を一本のリードを含み隣接する左右のリードにかか
らないように発生させ、リード部分の反射光の幅により
はんだブリッジを検出するので、切れかかったはんだブ
リッジや部分的に光りにくいはんだブリッジを見逃すこ
となく検出することができるという効果がある。
対象部品の隣接するリード間にリードと直角な方向の端
がリードにかからないように発生させるかわりに、検査
領域を一本のリードを含み隣接する左右のリードにかか
らないように発生させ、リード部分の反射光の幅により
はんだブリッジを検出するので、切れかかったはんだブ
リッジや部分的に光りにくいはんだブリッジを見逃すこ
となく検出することができるという効果がある。
本発明のはんだブリッジ検査装置は、検査領域を検査
対象部品の隣接するリード間に発生させるかわりに、検
査領域を検査対象部品の隣接するリード間にリード方向
と直角な方向の端がリードにかかるように発生させ、検
査領域の両端を反射光のある部分の間隔を測定すること
によりはんだブリッジを検出するので切れかかったはん
だブリッジや部分的に光りにくい箇所のあるはんだブリ
ッジも見逃すことなく検出することができるという効果
がある。
対象部品の隣接するリード間に発生させるかわりに、検
査領域を検査対象部品の隣接するリード間にリード方向
と直角な方向の端がリードにかかるように発生させ、検
査領域の両端を反射光のある部分の間隔を測定すること
によりはんだブリッジを検出するので切れかかったはん
だブリッジや部分的に光りにくい箇所のあるはんだブリ
ッジも見逃すことなく検出することができるという効果
がある。
第１図および第２図はそれぞれ本発明の一実施例を示す
ブロック図および原理を説明するためのパターン図、第
３図および第４図はそれぞれ本発明の他の実施例を示す
ブロックおよび原理を説するパターン図、第５図および
第６図はそれぞれ従来のはんだブリッジ検査装置を示す
ブロック図および原理を説明するパターン図である。 1,21,51……照明、2,22,52……カメラ、3,23,53……二
値化回路、4,24,54……検査領域発生回路、5,25,55……
検査領域記憶回路、6,26,56……第一の判定回路、７…
…対象部品、8,9,9′,28,28′,58,58′……リード、10,
27,59……検査領域、11,60,60′……リード部分のエリ
ア、12,30,61,61′……はんだブリッジ部分のエリア、2
9……はんだブリッジ、30……はんだブリッジのエリ
ア、a,e,j……濃淡画像信号、b,f,k……二値化画像信
号、c,g,m……検査領域信号、d,h,n……検査領域内二値
化画像信号。
ブロック図および原理を説明するためのパターン図、第
３図および第４図はそれぞれ本発明の他の実施例を示す
ブロックおよび原理を説するパターン図、第５図および
第６図はそれぞれ従来のはんだブリッジ検査装置を示す
ブロック図および原理を説明するパターン図である。 1,21,51……照明、2,22,52……カメラ、3,23,53……二
値化回路、4,24,54……検査領域発生回路、5,25,55……
検査領域記憶回路、6,26,56……第一の判定回路、７…
…対象部品、8,9,9′,28,28′,58,58′……リード、10,
27,59……検査領域、11,60,60′……リード部分のエリ
ア、12,30,61,61′……はんだブリッジ部分のエリア、2
9……はんだブリッジ、30……はんだブリッジのエリ
ア、a,e,j……濃淡画像信号、b,f,k……二値化画像信
号、c,g,m……検査領域信号、d,h,n……検査領域内二値
化画像信号。
Claims (2)
- 【請求項１】検査対象部品に斜め上方から光を照射する
照明と、前記検査対象部品の画像を取り込む前記検査対
象部品の上方に取り付けられたカメラと、該カメラから
取り込んだ濃淡画像の明るい部分は“1"で暗い部分は
“0"の二値化画像に変換する二値化回路と、前記検査対
象部品の内一本のリードを含み該リードと直角な方向の
端が左右の隣接するリードにかからない検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内の二値化画像の“1"
のエリアの前記検査対象部品のリードと直角な方向の長
さがあらかじめ設定した判定値より長ければはんだブリ
ッジありと判定する判定回路とを含むことを特徴とする
はんだブリッジ検査装置。 - 【請求項２】検査対象部品の斜め上方から光を照射する
照明と、前記検査対象部品の画像を取り込む前記検査対
象部品の上方に取り付けられたカメラと、該カメラから
取り込んだ濃淡画像の明るい部分は“1"で暗い部分は
“0"の二値化画像に変換する二値化回路と、前記検査対
象部品のリード間にリードと直角な方向の端が隣接する
リードにかかる検査領域を記憶する検査領域記憶回路
と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前記検
査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させる
検査領域発生回路と、該検査領域発生回路より出力され
る検査領域内二値化画像のリードと直角な方向の両端の
２つの“1"のエリア間の長さがあらかじめ設定した判定
値より短かいか、両端からの“1"のエリアが接続してい
ればはんだブリッジありと判定する判定回路とを含むこ
とを特徴とするはんだブリッジ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215528A JP2556180B2 (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | はんだブリッジ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215528A JP2556180B2 (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | はんだブリッジ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0498148A JPH0498148A (ja) | 1992-03-30 |
| JP2556180B2 true JP2556180B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=16673921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2215528A Expired - Lifetime JP2556180B2 (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | はんだブリッジ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2556180B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007514167A (ja) * | 2003-12-12 | 2007-05-31 | スピードライン・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | プリントされたはんだペーストの欠陥を検出するためのシステムおよび方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4969664B2 (ja) * | 2010-03-03 | 2012-07-04 | シーケーディ株式会社 | 半田印刷検査装置及び半田印刷システム |
-
1990
- 1990-08-15 JP JP2215528A patent/JP2556180B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007514167A (ja) * | 2003-12-12 | 2007-05-31 | スピードライン・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | プリントされたはんだペーストの欠陥を検出するためのシステムおよび方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0498148A (ja) | 1992-03-30 |
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