JPH0656292B2 - はんだ付検査装置 - Google Patents
はんだ付検査装置Info
- Publication number
- JPH0656292B2 JPH0656292B2 JP1215186A JP21518689A JPH0656292B2 JP H0656292 B2 JPH0656292 B2 JP H0656292B2 JP 1215186 A JP1215186 A JP 1215186A JP 21518689 A JP21518689 A JP 21518689A JP H0656292 B2 JPH0656292 B2 JP H0656292B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- inspection
- illumination
- inspection area
- window
- Prior art date
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明ははんだ付状態検査装置、特に、プリント基板に
はんだ付けされた表面実装部品の電極のはんだ付け状態
を検査するはんだ付け検査装置に関する。
はんだ付けされた表面実装部品の電極のはんだ付け状態
を検査するはんだ付け検査装置に関する。
従来のはんだ付け検査装置ははんだ付け部に一定の角度
で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取り込
むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはんだ付
け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含んで構
成される。
で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取り込
むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはんだ付
け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含んで構
成される。
次に従来のはんだ付け検査装置について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第５図の電極２０は、はんだ２１によりはんだ付けされ
ている。
ている。
照明２２からは照射光ｖがはんだ２１に照射される。
カメラ２３ははんだ付け部の画像を入力し、判定部２４
へ画像信号ｗを出力する。
へ画像信号ｗを出力する。
判定部２４では画像信号ｗを入力し極端に輝度の高い箇
所があるかないかにより照射光ｖの正反射光がカメラ２
３に入射しているかどうか判定し、正反射光がカメラ２
３に入射していると判定した場合は正常、そうでない場
合は欠陥と判定している。
所があるかないかにより照射光ｖの正反射光がカメラ２
３に入射しているかどうか判定し、正反射光がカメラ２
３に入射していると判定した場合は正常、そうでない場
合は欠陥と判定している。
上述した従来のはんだ付け検査装置ははんだ付け部の画
像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品の位
置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取り込
んでしまいはんだ付け部が精度よく検査できないという
欠点があった。
像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品の位
置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取り込
んでしまいはんだ付け部が精度よく検査できないという
欠点があった。
本発明のはんだ付け検査装置は検査対象はんだ付け部に
上方から光を照射する第一の照明と、該第一の照明を点
灯させる第一の照明点灯回路と、検査対象はんだ付け部
の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラと、第一
の照明が点灯している時に取り込んだ濃淡画像を二値化
画像に変換する二値化回路と、第一の検査領域を記憶す
る第一の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力
される二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶
されている第一の検査領域を発生させる第一のウィンド
ウ発生回路と、該第一のウィンドウ発生回路より出力さ
れるウィンドウ内二値化画像より、検査対象電極の先端
を検出し該電極の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出回
路と、検査対象はんだ付け部に斜め方向から光を照射す
る第二の照明と、該第二の照明を点灯させる第二の照明
点灯回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域
記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された
位置ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記
憶されている第二の検査領域の座標を補正して、前記第
二の照明が点灯している時に取り込んだ濃淡画像に補正
した第二の検査領域を発生させる第二のウィンドウ発生
回路と、該第二のウィンドウ発生回路より出力されるウ
ィンドウ内濃淡画像の濃淡値の総和を求める加算回路
と、該加算回路から出力される加算値より検査結果を判
定する判定回路とを含んで構成される。
上方から光を照射する第一の照明と、該第一の照明を点
灯させる第一の照明点灯回路と、検査対象はんだ付け部
の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラと、第一
の照明が点灯している時に取り込んだ濃淡画像を二値化
画像に変換する二値化回路と、第一の検査領域を記憶す
る第一の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力
される二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶
されている第一の検査領域を発生させる第一のウィンド
ウ発生回路と、該第一のウィンドウ発生回路より出力さ
れるウィンドウ内二値化画像より、検査対象電極の先端
を検出し該電極の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出回
路と、検査対象はんだ付け部に斜め方向から光を照射す
る第二の照明と、該第二の照明を点灯させる第二の照明
点灯回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域
記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された
位置ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記
憶されている第二の検査領域の座標を補正して、前記第
二の照明が点灯している時に取り込んだ濃淡画像に補正
した第二の検査領域を発生させる第二のウィンドウ発生
回路と、該第二のウィンドウ発生回路より出力されるウ
ィンドウ内濃淡画像の濃淡値の総和を求める加算回路
と、該加算回路から出力される加算値より検査結果を判
定する判定回路とを含んで構成される。
〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図の電極１はプリント基板２上のパッド３にはんだ
４によりはんだ付けされている。
４によりはんだ付けされている。
第一の照明５は、第一の照明点灯回路６からの第一の駆
動信号ａにより駆動され検査対象はんだ付け部を上方よ
り照明する。
動信号ａにより駆動され検査対象はんだ付け部を上方よ
り照明する。
カメラ７は前記検査対象はんだ付け部の画像を取り込み
濃淡画像信号ｂを出力する。
濃淡画像信号ｂを出力する。
二値化回路８は前記濃淡画像信号ｂを入力しあらかじめ
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“１”と暗い部分に対応した“０”に変換し、二値化画
像信号ｃを出力する。
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“１”と暗い部分に対応した“０”に変換し、二値化画
像信号ｃを出力する。
第一のウィンドウ発生回路９では、前記二値化画像信号
ｃを入力し第一の検査領域記憶回路１０に記憶されてい
る第一の検査領域信号ｄにより設定される検査ウィンド
ウを発生させ、該検査ウィンドウ内の二値化画像のみを
抽出したウィンドウ内二値化画像信号ｅを出力する。
ｃを入力し第一の検査領域記憶回路１０に記憶されてい
る第一の検査領域信号ｄにより設定される検査ウィンド
ウを発生させ、該検査ウィンドウ内の二値化画像のみを
抽出したウィンドウ内二値化画像信号ｅを出力する。
位置ずれ量検出回路１１では、前記ウィンドウ内二値化
画像信号ｅを入力し、電極の先端の辺と平行な方向に各
ラインごと走査し“１”の数を計測し、“１”の総和が
あらかじめ設定した一定値以上のラインは計測値を
“１”とし、一定値より少ないラインは計測値を“０”
とする。
画像信号ｅを入力し、電極の先端の辺と平行な方向に各
ラインごと走査し“１”の数を計測し、“１”の総和が
あらかじめ設定した一定値以上のラインは計測値を
“１”とし、一定値より少ないラインは計測値を“０”
とする。
さらに電極の部品方向より走査して計測値が“１”から
“０”に変化する座標を電極先端座標として検出し、該
電極先端座標と、あらかじめ登録してある正常に実装さ
れた場合の電極先端座標との差をとり位置ずれ量を求
め、位置ずれ量信号ｆを第二のウィンドウ発生回路１４
に出力する。
“０”に変化する座標を電極先端座標として検出し、該
電極先端座標と、あらかじめ登録してある正常に実装さ
れた場合の電極先端座標との差をとり位置ずれ量を求
め、位置ずれ量信号ｆを第二のウィンドウ発生回路１４
に出力する。
第二の照明１２は、第二の照明点灯回路１３からの第二
の駆動信号ｇにより駆動され検査対象はんだ付け部を斜
め方向より照射する。
の駆動信号ｇにより駆動され検査対象はんだ付け部を斜
め方向より照射する。
第二のウィンドウ発生回路１４は、第二の検査領域記憶
回路１５に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより
設定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｆの示
す位置ずれ量に応じて補正して発生させる。
回路１５に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより
設定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｆの示
す位置ずれ量に応じて補正して発生させる。
従って部品が位置ずれを起こしていても検査ウィンドウ
は検査対象はんだ付け部に発生させることができる。
は検査対象はんだ付け部に発生させることができる。
さらに第二のウィンドウ発生回路１４は、前記第二の照
明１２が点灯しているときの濃淡画像信号ｂ-1を入力し
前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検査ウィン
ドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内濃淡画像
信号ｉを出力する。
明１２が点灯しているときの濃淡画像信号ｂ-1を入力し
前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検査ウィン
ドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内濃淡画像
信号ｉを出力する。
加算回路１６は、前記ウィンドウ内濃淡画像信号ｉを入
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路１７に出力する。
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路１７に出力する。
判定回路１７では、あらかじめ設定された基準値と入力
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
制御回路１８は各回路にタイミング信号を出し、全体の
制御を行う。第一の照明点灯回路６に第一の点灯指令信
号ｋを出して第一の照明５を点灯させているとき、二値
化回路８に第一の処理開始信号１を出力する。
制御を行う。第一の照明点灯回路６に第一の点灯指令信
号ｋを出して第一の照明５を点灯させているとき、二値
化回路８に第一の処理開始信号１を出力する。
次に位置ずれ量検出回路１１から第一の処理終了信号ｍ
を入力したら、第二の照明点灯回路１３に第二の点灯指
令信号ｎを出して第二の照明１２を点灯させ、第二のウ
ィンドウ発生回路に第二の処理開始信号ｏを出力する。
を入力したら、第二の照明点灯回路１３に第二の点灯指
令信号ｎを出して第二の照明１２を点灯させ、第二のウ
ィンドウ発生回路に第二の処理開始信号ｏを出力する。
次に第２図と第３図(a),(b)と第４図(a),(b)を用いて、
本発明の原理を説明する。
本発明の原理を説明する。
第２図より、第一の照明５からの照射光ｐ，ｑ，ｒがそ
れぞれ電極１，はんだ４，パッド３に照射し、反射光ｐ
-1，ｑ-1，ｒ-1となる。
れぞれ電極１，はんだ４，パッド３に照射し、反射光ｐ
-1，ｑ-1，ｒ-1となる。
電極１とパッド３はほぼ水平であるため反射光ｐ-1，ｒ
-1は上方へ反射しカメラに入射するが、はんだ４は水平
になっていないため反射光ｑ-1はカメラに入射しない。
-1は上方へ反射しカメラに入射するが、はんだ４は水平
になっていないため反射光ｑ-1はカメラに入射しない。
従って二値化画像信号ｃは第３図(a)のパターンとな
る。
る。
第３図(b)より明らかなように計算値は電極１に相当す
る部分が“１”，はんだ４に相当する部分が“０”，パ
ッド３に相当する部分が“１”となり、計測値ｄを部品
方向から走査して“１”から“０”に変化する座標が電
極先端部座標ｓである。
る部分が“１”，はんだ４に相当する部分が“０”，パ
ッド３に相当する部分が“１”となり、計測値ｄを部品
方向から走査して“１”から“０”に変化する座標が電
極先端部座標ｓである。
第３図(a)において斜線部は二値化画像信号ｂの“１”
の部分を示し、斜線のない部分は二値化画像信号ｂの
“０”の部分を示す。
の部分を示し、斜線のない部分は二値化画像信号ｂの
“０”の部分を示す。
第４図(a),(b)は斜めからの照明を点灯させてはんだ付
け部の検査を行う原理図である。
け部の検査を行う原理図である。
第二の照明１２は正常なはんだ付け部からの反射光ｕが
カメラ７に入射する方向に取り付けておく。
カメラ７に入射する方向に取り付けておく。
第４図(a)は正常にはんだ付けが行われている場合であ
る。はんだ付け部に照射された照射光ｔは、はんだ付け
が正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ４の
表面で正反射しカメラ７に入射し、濃淡画像ｂ-1のはん
だ付け部は明るくなる。
る。はんだ付け部に照射された照射光ｔは、はんだ付け
が正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ４の
表面で正反射しカメラ７に入射し、濃淡画像ｂ-1のはん
だ付け部は明るくなる。
第４図(b)は、はんだ付けが正常に行われていない場合
であり、はんだ付け部への照射光ｔは電極側面またはパ
ッドで乱反射し、反射光ｕは散乱するため濃淡画像ｂ-1
のはんだ付け部は暗くなる。
であり、はんだ付け部への照射光ｔは電極側面またはパ
ッドで乱反射し、反射光ｕは散乱するため濃淡画像ｂ-1
のはんだ付け部は暗くなる。
従って、正常にはんだ付けが行われている場合の加算値
と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値の
間に判定回路１６で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値の
間に判定回路１６で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
本発明のはんだ付け検査装置は、まず電極の先端を見つ
け部位の位置ずれ量を求めてから、該位置ずれ量に応じ
て検査箇所の補正を行い、はんだ付け状態の検査を行う
ので部位の位置ずれに影響されずに精度よく検査を行う
ことができるという効果がある。
け部位の位置ずれ量を求めてから、該位置ずれ量に応じ
て検査箇所の補正を行い、はんだ付け状態の検査を行う
ので部位の位置ずれに影響されずに精度よく検査を行う
ことができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図、
第３図(a),(b)、第４図(a),(b)は本発明の原理を説明す
るための模式図、第５図は従来の一例を示す模式図であ
る。 １……電極、２……プリント基板、３……パッド、４…
…はんだ、５……第一の照明、６……第一の照明点灯回
路、７……カメラ、８……二値化回路、９……第一のウ
ィンドウ発生回路、１０……第一の検査領域記憶回路、
１１……位置ずれ量検出回路、１２……第二の照明、１
３……第二の照明点灯回路、１４……第二のウィンドウ
発生回路、１５……第二の検査領域記憶回路、１６……
加算回路、１７……判定回路、１８……制御回路、２０
……電極、２１……はんだ、２２……照明、２３……カ
メラ、２４……判定部、 ａ……第一の駆動信号、ｂ……濃淡画像信号、ｃ……二
値化画像信号、ｄ……第一の検査領域信号、ｅ……ウイ
ンドウ内二値化画像信号、ｆ……位置ずれ量信号、ｇ…
…第二の駆動信号、ｈ……第二の検査領域信号、ｉ……
ウィンドウ内濃淡画像信号、ｊ……加算値信号、ｋ……
第一の点灯指令信号、ｌ……第一の処理開始信号、ｍ…
…第一の処理終了信号、ｎ……第二の点灯指令信号、ｏ
……第二の処理開始信号、ｐ，ｑ，ｒ……照射光、
ｐ-1，ｑ-1，ｒ-1……反射光、ｓ……電極先端座標、ｔ
……照射光、ｕ……反射光、ｖ……照射光、ｗ……画像
信号。
第３図(a),(b)、第４図(a),(b)は本発明の原理を説明す
るための模式図、第５図は従来の一例を示す模式図であ
る。 １……電極、２……プリント基板、３……パッド、４…
…はんだ、５……第一の照明、６……第一の照明点灯回
路、７……カメラ、８……二値化回路、９……第一のウ
ィンドウ発生回路、１０……第一の検査領域記憶回路、
１１……位置ずれ量検出回路、１２……第二の照明、１
３……第二の照明点灯回路、１４……第二のウィンドウ
発生回路、１５……第二の検査領域記憶回路、１６……
加算回路、１７……判定回路、１８……制御回路、２０
……電極、２１……はんだ、２２……照明、２３……カ
メラ、２４……判定部、 ａ……第一の駆動信号、ｂ……濃淡画像信号、ｃ……二
値化画像信号、ｄ……第一の検査領域信号、ｅ……ウイ
ンドウ内二値化画像信号、ｆ……位置ずれ量信号、ｇ…
…第二の駆動信号、ｈ……第二の検査領域信号、ｉ……
ウィンドウ内濃淡画像信号、ｊ……加算値信号、ｋ……
第一の点灯指令信号、ｌ……第一の処理開始信号、ｍ…
…第一の処理終了信号、ｎ……第二の点灯指令信号、ｏ
……第二の処理開始信号、ｐ，ｑ，ｒ……照射光、
ｐ-1，ｑ-1，ｒ-1……反射光、ｓ……電極先端座標、ｔ
……照射光、ｕ……反射光、ｖ……照射光、ｗ……画像
信号。
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象はんだ付け部に上方から光を照射
する第一の照明と、該第一の照明を点灯させる第一の照
明点灯回路と、検査対象はんだ付け部の画像を取り込む
上方に取り付けられたカメラと、前記第一の照明が点灯
している時に取り込んだ濃淡画像を二値化画像に変換す
る二値化回路と、第一の検査領域を記憶する第一の検査
領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化
画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されている第
一の検査領域を発生させる第一のウィンドウ発生回路
と、該第一のウィンドウ発生回路より出力されるウィン
ドウ内二値化画像より検査対象電極の先端を検出し該電
極の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出回路と、検出対
象はんだ付け部に斜め方向から光を照射する第二の照明
と、該第二の照明を点灯させる第二の照明点灯回路と、
第二の検査領域を記憶する第二の検査領域記憶回路と、
前記位置ずれ量検出回路により検出された位置ずれ量に
応じて前記第二の検査領域記憶回路に記憶されている第
二の検査領域の座標を補正して前記第二の照明が点灯し
ている時に取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領
域を発生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二の
ウィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画
像の濃淡値の総和を求める加算回路と、該加算回路から
出力される加算値より検査結果を判定する判定回路とを
含むことを特徴とするはんだ付け検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1215186A JPH0656292B2 (ja) | 1989-08-21 | 1989-08-21 | はんだ付検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1215186A JPH0656292B2 (ja) | 1989-08-21 | 1989-08-21 | はんだ付検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0378607A JPH0378607A (ja) | 1991-04-03 |
| JPH0656292B2 true JPH0656292B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=16668100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1215186A Expired - Lifetime JPH0656292B2 (ja) | 1989-08-21 | 1989-08-21 | はんだ付検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656292B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019527A (ja) * | 1996-06-27 | 1998-01-23 | Nec Toyama Ltd | 電子部品の画像検査装置およびその検査方法 |
| JP4941186B2 (ja) * | 2007-09-03 | 2012-05-30 | 日本電気株式会社 | 電子部品のフィレット幅検査装置 |
-
1989
- 1989-08-21 JP JP1215186A patent/JPH0656292B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0378607A (ja) | 1991-04-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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