JP3056552B2 - 表面状態検査方法 - Google Patents
表面状態検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は表面状態検査方法、特
に、光照射手段により被検査面に光を照射し、その被検
査面からの反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光
画像中の明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査
する表面状態検査方法に関する。
に、光照射手段により被検査面に光を照射し、その被検
査面からの反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光
画像中の明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査
する表面状態検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動車等の車両においては、車体に対す
る塗装完了後に塗装面の表面状態の検査、即ち、該塗装
面上における塗装欠陥の有無が検出されることになる。
そして、上記塗装面等の表面状態を検査する技術とし
て、例えば特開昭６２−２３３７１０号公報には、検査
対象物の被検査面に光を照射して、その反射光をスクリ
ーン上に投影させ、その投影像の鮮映度から被検査面の
表面欠陥を自動的に検出する技術が開示されている。
る塗装完了後に塗装面の表面状態の検査、即ち、該塗装
面上における塗装欠陥の有無が検出されることになる。
そして、上記塗装面等の表面状態を検査する技術とし
て、例えば特開昭６２−２３３７１０号公報には、検査
対象物の被検査面に光を照射して、その反射光をスクリ
ーン上に投影させ、その投影像の鮮映度から被検査面の
表面欠陥を自動的に検出する技術が開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
に被検査面に光を照射し、その反射光を捕らえて映像処
理することにより表面欠陥を検出する技術の一例とし
て、表面欠陥の検出に適した所定の輝度勾配で光度が次
第に変化する明暗光、あるいは明暗変化が繰り返されて
いる明暗光を被検査面に照射し、その反射光を捕らえて
作成した受光画像中の明度変化に基づいて表面欠陥を検
出することが考えられている。即ち、図１０に示すよう
に、上記受光画像中の明度変化を示す波形の原画像ａを
作成すると共に、図１１に示すように、上記受光画像を
その明度の変化方向に走査して明度変化を微分した微分
値を示す画像ｂを作成し、この画像ｂと上記原画像ａと
を合成した強調画像ｃ作成することが考えられている。
これにより、図１０中に（イ）で示される欠陥部の信号
に、図１１に（ロ）で示される上記欠陥部に相当する微
分値を加算することにより、図１２に（ハ）に示すよう
に欠陥部が強調されることになって、欠陥の検査精度が
向上することになる。この場合、原画像ａに画像ｂの微
分値が加算されることにより、強調画像ｃの明度レベル
が全体に上昇することになって、その最大明度部分が、
明度変化の演算処理限度を越えた状態となり、このた
め、図１２に示すように、強調画像ｃにおける明度変化
を示す波形が、その頂部がカットされた波形となり、こ
の部位における欠陥の検出が困難となる。この不具合を
解消するために、原画像ａの明暗勾配が緩やかとなるよ
うに、被検査面に照射する明暗光の輝度を低下させた場
合には、全体の明度が低下することになって、検査精度
が低下することになるといった新たな問題が発生するこ
とになる。
に被検査面に光を照射し、その反射光を捕らえて映像処
理することにより表面欠陥を検出する技術の一例とし
て、表面欠陥の検出に適した所定の輝度勾配で光度が次
第に変化する明暗光、あるいは明暗変化が繰り返されて
いる明暗光を被検査面に照射し、その反射光を捕らえて
作成した受光画像中の明度変化に基づいて表面欠陥を検
出することが考えられている。即ち、図１０に示すよう
に、上記受光画像中の明度変化を示す波形の原画像ａを
作成すると共に、図１１に示すように、上記受光画像を
その明度の変化方向に走査して明度変化を微分した微分
値を示す画像ｂを作成し、この画像ｂと上記原画像ａと
を合成した強調画像ｃ作成することが考えられている。
これにより、図１０中に（イ）で示される欠陥部の信号
に、図１１に（ロ）で示される上記欠陥部に相当する微
分値を加算することにより、図１２に（ハ）に示すよう
に欠陥部が強調されることになって、欠陥の検査精度が
向上することになる。この場合、原画像ａに画像ｂの微
分値が加算されることにより、強調画像ｃの明度レベル
が全体に上昇することになって、その最大明度部分が、
明度変化の演算処理限度を越えた状態となり、このた
め、図１２に示すように、強調画像ｃにおける明度変化
を示す波形が、その頂部がカットされた波形となり、こ
の部位における欠陥の検出が困難となる。この不具合を
解消するために、原画像ａの明暗勾配が緩やかとなるよ
うに、被検査面に照射する明暗光の輝度を低下させた場
合には、全体の明度が低下することになって、検査精度
が低下することになるといった新たな問題が発生するこ
とになる。
【０００４】そこで本発明は、被検査面に明暗光を照射
し、その反射光を捕らえて受光画像を作成すると共に、
該受光画像中の明度変化を示す明暗データを作成し、且
つ受光画像を走査して明度変化の微分値を求め、この微
分値と上記明暗データとを合わせることにより明暗の変
化を強調して被検査面の表面状態を検査する場合におけ
る上記の不具合を解消して、精度良く表面欠陥を検出す
ることのできる表面状態検査方法を提供することを目的
する。
し、その反射光を捕らえて受光画像を作成すると共に、
該受光画像中の明度変化を示す明暗データを作成し、且
つ受光画像を走査して明度変化の微分値を求め、この微
分値と上記明暗データとを合わせることにより明暗の変
化を強調して被検査面の表面状態を検査する場合におけ
る上記の不具合を解消して、精度良く表面欠陥を検出す
ることのできる表面状態検査方法を提供することを目的
する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は次のように構成したことを特徴とする。
めに、本発明は次のように構成したことを特徴とする。
【０００６】まず、本願の請求項１に記載の発明は、光
照射手段より被検査面に光を照射し、その被検査面から
の反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光画像中の
明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査する表面
状態検査方法において、上記光照射手段より被検査面に
対して明から暗へ変化する明暗光を照射すると共に、上
記受光画像中の明度変化を示す明暗データを作成し、且
つ受光画像をその明暗の変化方向と直交する方向に走査
して明度変化の微分値を求め、この微分値と上記明暗デ
ータとを合わせることにより明暗の変化を強調して被検
査面の表面状態を検査することを特徴とする。
照射手段より被検査面に光を照射し、その被検査面から
の反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光画像中の
明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査する表面
状態検査方法において、上記光照射手段より被検査面に
対して明から暗へ変化する明暗光を照射すると共に、上
記受光画像中の明度変化を示す明暗データを作成し、且
つ受光画像をその明暗の変化方向と直交する方向に走査
して明度変化の微分値を求め、この微分値と上記明暗デ
ータとを合わせることにより明暗の変化を強調して被検
査面の表面状態を検査することを特徴とする。
【０００７】また、請求項２に記載の発明は、上記請求
項１に記載の発明において、光照射 手段として、光源と
該光源からの光を被検査面に照射するスクリーンとの間
に透過場所によって光の透過率が異なる光フィルタを設
けることにより、上記被検査面に明暗光を照射するよう
にしたものを用いることを特徴とする。
項１に記載の発明において、光照射 手段として、光源と
該光源からの光を被検査面に照射するスクリーンとの間
に透過場所によって光の透過率が異なる光フィルタを設
けることにより、上記被検査面に明暗光を照射するよう
にしたものを用いることを特徴とする。
【０００８】
【作用】上記の構成によれば、請求項１，２のいずれに
記載の発明によっても、明暗の変化方向と直交する方向
に受光画像を走査して明度変化の微分値が演算されるこ
とになり、その走査線上に欠陥がない場合には、微分値
が常に０となる。これにより、受光画像から得られた明
暗データに上記微分値を加算した場合においても、全体
の明度レベルが上昇してその最大明度部位が演算処理限
度を越えるといった事態が確実に防止されることになっ
て、明暗光が照射された被検査面の全領域についてその
表面状態を検出することができると共に、欠陥部の明度
変化が強調されることになって、その検査精度が向上す
ることになる。
記載の発明によっても、明暗の変化方向と直交する方向
に受光画像を走査して明度変化の微分値が演算されるこ
とになり、その走査線上に欠陥がない場合には、微分値
が常に０となる。これにより、受光画像から得られた明
暗データに上記微分値を加算した場合においても、全体
の明度レベルが上昇してその最大明度部位が演算処理限
度を越えるといった事態が確実に防止されることになっ
て、明暗光が照射された被検査面の全領域についてその
表面状態を検出することができると共に、欠陥部の明度
変化が強調されることになって、その検査精度が向上す
ることになる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１０】 まず、本発明に係る表面状態検査方法によ
り自動車の車体塗装面を検査するように構成された表面
状態検査装置について説明すると、図１に示すように、
塗装検査ステーションＳに搬送された車体１の近傍に
は、該車体１の塗膜面１ａを検査して塗装欠陥部の有無
を検出する表面状態検査装置２が配置されており、この
検査装置２は、台座３に載置されたロボット装置４を有
し、該ロボット装置４の先端アーム４ａに光照射手段５
と、ＣＣＤカメラ６とが支持金具７を介して取り付けら
れ、これらの光照射手段５とＣＣＤカメラ６とが、塗装
ステーションＳに搬入された車体１の表面、即ち、該車
体１の塗膜面１ａをトレースし、その際、上記光照射手
段５により照射された光が車体１の塗膜面１ａで反射さ
れてＣＣＤカメラ６に受光されるようになっている。
り自動車の車体塗装面を検査するように構成された表面
状態検査装置について説明すると、図１に示すように、
塗装検査ステーションＳに搬送された車体１の近傍に
は、該車体１の塗膜面１ａを検査して塗装欠陥部の有無
を検出する表面状態検査装置２が配置されており、この
検査装置２は、台座３に載置されたロボット装置４を有
し、該ロボット装置４の先端アーム４ａに光照射手段５
と、ＣＣＤカメラ６とが支持金具７を介して取り付けら
れ、これらの光照射手段５とＣＣＤカメラ６とが、塗装
ステーションＳに搬入された車体１の表面、即ち、該車
体１の塗膜面１ａをトレースし、その際、上記光照射手
段５により照射された光が車体１の塗膜面１ａで反射さ
れてＣＣＤカメラ６に受光されるようになっている。
【００１１】 また、上記のような光照射手段５とＣＣＤ
カメラ６とによる塗装欠陥検査においては、ホストコン
ピュータ８によって与えられる指令によりロボットコン
トローラ９が制御され、このロボットコントローラ９の
信号がロボット装置４に送られて、該ロボット装置４に
内蔵された所定のアクチュエータ（図示せず）が駆動さ
れ、これにより、ロボット装置４は光照射手段５および
ＣＣＤカメラ６が車体１の塗膜面１ａをなぞるようにそ
れらを移動させると共に、上記ＣＣＤカメラ６により得
られる受光画像を画像処理プロセッサ１０に送る。そし
て、この画像処理プロセッサ１０は、ＣＣＤカメラ６か
らのビデオ信号を増幅したのち微分し、その微分信号の
データをホストコンピュータ８に伝送して解析させ、こ
れにより、車体１の塗膜面１ａ上の塗装欠陥の有無なら
びに欠陥箇所の座標および塗装欠陥の形状、その大小を
検出するように構成されている。
カメラ６とによる塗装欠陥検査においては、ホストコン
ピュータ８によって与えられる指令によりロボットコン
トローラ９が制御され、このロボットコントローラ９の
信号がロボット装置４に送られて、該ロボット装置４に
内蔵された所定のアクチュエータ（図示せず）が駆動さ
れ、これにより、ロボット装置４は光照射手段５および
ＣＣＤカメラ６が車体１の塗膜面１ａをなぞるようにそ
れらを移動させると共に、上記ＣＣＤカメラ６により得
られる受光画像を画像処理プロセッサ１０に送る。そし
て、この画像処理プロセッサ１０は、ＣＣＤカメラ６か
らのビデオ信号を増幅したのち微分し、その微分信号の
データをホストコンピュータ８に伝送して解析させ、こ
れにより、車体１の塗膜面１ａ上の塗装欠陥の有無なら
びに欠陥箇所の座標および塗装欠陥の形状、その大小を
検出するように構成されている。
【００１２】 次に、上記の光照射手段５の構成について
説明すると、この光照射手段５は、図２に示すように、
一側面が解放されたボックス１１内に設けられた光源と
しての複数の蛍光灯（特に蛍光灯に限定されるものでは
ない）１２…１２と、これらの蛍光灯１２の前面に設け
られてボックス１１の一側面を閉塞する光フィルタ１３
および拡散スクリーン１４とで構成されている。そし
て、上記光フィルタ１３は、各蛍光灯１２により照射さ
れる光を明から暗に、あるいは暗から明への変化が繰り
返される明暗光に変換し得るように、透過場所によって
光の透過率が異なるように構成されている。即ち、本実
施例においては、図２に示す互いに直交するＸ，Ｙ方向
のうちＹ方向についてのみ透過率が小から大に繰り返し
変化するように構成されており、この光フィルタ１３に
より、図３に示すように、上記Ｙ方向に沿って所定の明
暗勾配で暗から明への変化が繰り返されている明暗光が
形成され、この明暗光が上記車体１の塗膜面１ａに照射
されるようになっている。
説明すると、この光照射手段５は、図２に示すように、
一側面が解放されたボックス１１内に設けられた光源と
しての複数の蛍光灯（特に蛍光灯に限定されるものでは
ない）１２…１２と、これらの蛍光灯１２の前面に設け
られてボックス１１の一側面を閉塞する光フィルタ１３
および拡散スクリーン１４とで構成されている。そし
て、上記光フィルタ１３は、各蛍光灯１２により照射さ
れる光を明から暗に、あるいは暗から明への変化が繰り
返される明暗光に変換し得るように、透過場所によって
光の透過率が異なるように構成されている。即ち、本実
施例においては、図２に示す互いに直交するＸ，Ｙ方向
のうちＹ方向についてのみ透過率が小から大に繰り返し
変化するように構成されており、この光フィルタ１３に
より、図３に示すように、上記Ｙ方向に沿って所定の明
暗勾配で暗から明への変化が繰り返されている明暗光が
形成され、この明暗光が上記車体１の塗膜面１ａに照射
されるようになっている。
【００１３】 また、上記拡散スクリーン１４は、光フィ
ルタ１３を透過した光を拡散させて車体１の塗膜面１ａ
にムラなく明暗光を照射するためのものである。
ルタ１３を透過した光を拡散させて車体１の塗膜面１ａ
にムラなく明暗光を照射するためのものである。
【００１４】 以上のように構成された表面状態検査装置
２では、塗装ステーションＳに塗装済みの車体１が搬入
されるのに伴い欠陥検査作業が開始さることになる。即
ち、上記ロボット装置４が、ロボットコントローラ９に
制御されて、光照射手段５とＣＣＤカメラ６とを一定の
間隔で保った状態で、且つこれらを塗膜面１ａに対して
適切な距離を確保した状態で該塗膜面１ａに沿って移動
させる。そして、そのときに上記光照射手段５により、
図４に示すように、ＣＣＤカメラ６の視野Ｆをカバーす
る比較的広い塗膜面１ａに対してＹ方向に暗から明への
変化が連続して繰り返される明暗光５ａが照射される。
このため、塗膜面１ａには暗から明への変化が繰り返さ
れる明度変化のある光照射領域が形成され、また、該光
照射領域からの反射光を受光するＣＣＤカメラ６には、
図５に示すように、上記明暗光５ａの暗から明への変化
方向Ｙに対応する矢印Ｙ１で示す方向に暗から明に変化
する明暗ある受光画像１５が作成されることになる。
２では、塗装ステーションＳに塗装済みの車体１が搬入
されるのに伴い欠陥検査作業が開始さることになる。即
ち、上記ロボット装置４が、ロボットコントローラ９に
制御されて、光照射手段５とＣＣＤカメラ６とを一定の
間隔で保った状態で、且つこれらを塗膜面１ａに対して
適切な距離を確保した状態で該塗膜面１ａに沿って移動
させる。そして、そのときに上記光照射手段５により、
図４に示すように、ＣＣＤカメラ６の視野Ｆをカバーす
る比較的広い塗膜面１ａに対してＹ方向に暗から明への
変化が連続して繰り返される明暗光５ａが照射される。
このため、塗膜面１ａには暗から明への変化が繰り返さ
れる明度変化のある光照射領域が形成され、また、該光
照射領域からの反射光を受光するＣＣＤカメラ６には、
図５に示すように、上記明暗光５ａの暗から明への変化
方向Ｙに対応する矢印Ｙ１で示す方向に暗から明に変化
する明暗ある受光画像１５が作成されることになる。
【００１５】なお、図５において、符号Ｉは、暗から明
への変化が繰り返されている明暗光５ａ中における暗か
ら明への一変化領域を示し、また、各領域Ｉにおいて線
の密度が粗である程、明度が高く、線の密度が密である
程、明度が低いことを示している。
への変化が繰り返されている明暗光５ａ中における暗か
ら明への一変化領域を示し、また、各領域Ｉにおいて線
の密度が粗である程、明度が高く、線の密度が密である
程、明度が低いことを示している。
【００１６】従って、車体１の塗膜面１ａの光照射領域
に欠陥があると、該欠陥に対応する一変化領域からの明
暗光５ａにより、その欠陥の形状に応じて該欠陥部の明
度が変化し、例えば、図４に示すような凸欠陥１６の場
合には、図５に示すように、受光画像１５中における暗
から明に変化する一変化領域Ｉ内に、一側部に暗部１６
ａ′が他側部に明部１６ｂ′が隣合わせとなった暗から
明に変化する凸欠陥部１６′が認識されることになり、
また、図４に示すような凹欠陥１７の場合には、図５に
示すように、受光画像１５中における暗から明に変化す
る一変化領域Ｉ内に、一側部に明部１７ａ′が他側部に
暗部１７ｂ′が隣合わせとなった明から暗に変化する凹
欠陥部１７ａ′が認識されることになる。
に欠陥があると、該欠陥に対応する一変化領域からの明
暗光５ａにより、その欠陥の形状に応じて該欠陥部の明
度が変化し、例えば、図４に示すような凸欠陥１６の場
合には、図５に示すように、受光画像１５中における暗
から明に変化する一変化領域Ｉ内に、一側部に暗部１６
ａ′が他側部に明部１６ｂ′が隣合わせとなった暗から
明に変化する凸欠陥部１６′が認識されることになり、
また、図４に示すような凹欠陥１７の場合には、図５に
示すように、受光画像１５中における暗から明に変化す
る一変化領域Ｉ内に、一側部に明部１７ａ′が他側部に
暗部１７ｂ′が隣合わせとなった明から暗に変化する凹
欠陥部１７ａ′が認識されることになる。
【００１７】 そして、ＣＣＤカメラ６は、その受光画像
の明るさの変化に応じて変化するビデオ信号を画像処理
プロセッサ１０に出力する。この画像処理プロセッサ１
０は、画像処理して塗装欠陥の位置座標、形状および大
小を検出し、これをホストコンピュータ８内のメモリー
に記憶する。そして、塗装欠陥の補修時には、メモリー
内の記憶内容を取り出し、その欠陥の種類に応じた所定
の補修動作が実行されることになる。
の明るさの変化に応じて変化するビデオ信号を画像処理
プロセッサ１０に出力する。この画像処理プロセッサ１
０は、画像処理して塗装欠陥の位置座標、形状および大
小を検出し、これをホストコンピュータ８内のメモリー
に記憶する。そして、塗装欠陥の補修時には、メモリー
内の記憶内容を取り出し、その欠陥の種類に応じた所定
の補修動作が実行されることになる。
【００１８】 次に、上記画像処理プロセッサ１０による
塗装欠陥の検出動作を、図６に示すフローチャートに基
づいてより詳細に説明すると、まず、ステップＳ１にお
いてＣＣＤカメラ６により作成された受光画像１５を取
り込み、図７に示す受光画像１５中の明度変化を示す波
形を有する原画像Ａと共に、図８に示す上記受光画像１
５をその明暗の変化方向Ｙと直交するＸ方向に走査して
明暗変化の度合いを示す微分値が表示された画像Ｂを作
成する。そして、ステップＳ２では、上記原画像Ａと画
像Ｂとを合成することにより、それぞれの画像中に
（ニ），（ホ）で示される欠陥部が強調された図９に示
す強調画像Ｃを作成し、欠陥部（ヘ）の強調を行い、ス
テップＳ３においては、上記強調画像Ｃより欠陥の位置
の座標、その欠陥の種別、大きさを演算し、その後、ス
テップＳ４では、欠陥データをホストコンピュータ８に
出力する。
塗装欠陥の検出動作を、図６に示すフローチャートに基
づいてより詳細に説明すると、まず、ステップＳ１にお
いてＣＣＤカメラ６により作成された受光画像１５を取
り込み、図７に示す受光画像１５中の明度変化を示す波
形を有する原画像Ａと共に、図８に示す上記受光画像１
５をその明暗の変化方向Ｙと直交するＸ方向に走査して
明暗変化の度合いを示す微分値が表示された画像Ｂを作
成する。そして、ステップＳ２では、上記原画像Ａと画
像Ｂとを合成することにより、それぞれの画像中に
（ニ），（ホ）で示される欠陥部が強調された図９に示
す強調画像Ｃを作成し、欠陥部（ヘ）の強調を行い、ス
テップＳ３においては、上記強調画像Ｃより欠陥の位置
の座標、その欠陥の種別、大きさを演算し、その後、ス
テップＳ４では、欠陥データをホストコンピュータ８に
出力する。
【００１９】 以上のような塗装欠陥検出時には、明暗の
変化方向Ｙと直交する方向Ｘに受光画像１５を走査して
明度変化の微分値が演算されることになり、その走査線
上に欠陥がない場合には、微分値が常に０となる。これ
により、受光画像１５から得られた明暗データに上記微
分値を加算した場合においても、全体の明度レベルが上
昇してその最大明度部位が演算処理限度を越えるといっ
た事態が確実に防止されることになって、明暗光１５ａ
が照射された被検査面の全領域についてその表面状態を
検出することができると共に、欠陥部の明度変化が強調
されることになって、その検査精度が向上することにな
る。
変化方向Ｙと直交する方向Ｘに受光画像１５を走査して
明度変化の微分値が演算されることになり、その走査線
上に欠陥がない場合には、微分値が常に０となる。これ
により、受光画像１５から得られた明暗データに上記微
分値を加算した場合においても、全体の明度レベルが上
昇してその最大明度部位が演算処理限度を越えるといっ
た事態が確実に防止されることになって、明暗光１５ａ
が照射された被検査面の全領域についてその表面状態を
検出することができると共に、欠陥部の明度変化が強調
されることになって、その検査精度が向上することにな
る。
【００２０】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、明暗の
変化方向と直交する方向に受光画像を走査して明度変化
の微分値が演算されることになり、その走査線上に欠陥
がない場合には、微分値が常に０となって、受光画像か
ら得られた明暗データに上記微分値を加算した場合にお
いても、全体の明度レベルが上昇してその最大明度部位
が演算処理限度を越えるといった事態が確実に防止され
ることになり、これにより、明暗光が照射された被検査
面の全領域についてその表面状態を精度良く検出するこ
とができると共に、欠陥部の明度変化が強調されること
になって、その検査精度が向上することになる。
変化方向と直交する方向に受光画像を走査して明度変化
の微分値が演算されることになり、その走査線上に欠陥
がない場合には、微分値が常に０となって、受光画像か
ら得られた明暗データに上記微分値を加算した場合にお
いても、全体の明度レベルが上昇してその最大明度部位
が演算処理限度を越えるといった事態が確実に防止され
ることになり、これにより、明暗光が照射された被検査
面の全領域についてその表面状態を精度良く検出するこ
とができると共に、欠陥部の明度変化が強調されること
になって、その検査精度が向上することになる。
【図１】 表面状態検査装置の斜視図。
【図２】 光照射手段の分解斜視図。
【図３】 明暗勾配のパターンを示すグラフ。
【図４】 照射状態および受光状態を示す拡大図。
【図５】 受光画像の部分拡大図。
【図６】 欠陥部検査動作を示すフローチャート図。
【図７】 明度変化の状態を示す原画像の図。
【図８】 微分値を示す画像の図。
【図９】 強調画像を示す図。
【図１０】 従来の明度変化の状態を示す原画像の
図。
図。
【図１１】 従来の微分値を示す画像の図。
【図１２】 従来の強調画像を示す図。
１ 車体 １ａ 塗膜面 ２ 表面状態検査装置 ５ 光照射手段 ５ａ 明暗光 ６ ＣＣＤカメラ ８ ホストコンピュータ １０ 画像処理プロセッサ １５ 受光画像 １６，１７ 塗装欠陥
Claims (2)
- 【請求項１】 光照射手段より被検査面に光を照射し、
その被検査面からの反射光を捕らえて受光画像を作成
し、該受光画像中の明度変化に基づいて被検査面の表面
状態を検査する表面状態検査方法であって、上記光照射
手段より被検査面に対して明から暗へ変化する明暗光を
照射すると共に、上記受光画像中の明度変化を示す明暗
データを作成し、且つ受光画像をその明暗の変化方向と
直交する方向に走査して明度変化の微分値を求め、この
微分値と上記明暗データとを合わせることにより明暗の
変化を強調して被検査面の表面状態を検査することを特
徴とする表面状態検査方法。 - 【請求項２】 光照射手段として、光源と該光源からの
光を被検査面に照射するスクリーンとの間に透過場所に
よって光の透過率が異なる光フィルタを設けることによ
り、上記被検査面に明暗光を照射するようにしたものを
用いることを特徴とする請求項１に記載の表面状態検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3225053A JP3056552B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 表面状態検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3225053A JP3056552B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 表面状態検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545144A JPH0545144A (ja) | 1993-02-23 |
| JP3056552B2 true JP3056552B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=16823305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3225053A Expired - Fee Related JP3056552B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 表面状態検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3056552B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5734742A (en) * | 1994-09-19 | 1998-03-31 | Nissan Motor Co., Ltd. | Inspection system and process |
-
1991
- 1991-08-09 JP JP3225053A patent/JP3056552B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0545144A (ja) | 1993-02-23 |
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