JPH05256622A - 表面実装icリードずれ検査装置 - Google Patents
表面実装icリードずれ検査装置Info
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- JPH05256622A JPH05256622A JP4026340A JP2634092A JPH05256622A JP H05256622 A JPH05256622 A JP H05256622A JP 4026340 A JP4026340 A JP 4026340A JP 2634092 A JP2634092 A JP 2634092A JP H05256622 A JPH05256622 A JP H05256622A
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
面実装ICの各リード毎のずれを検査する。 【構成】検査対象リード15を含んで発生させた第一の
検査領域13から検出されるリードのリードと直角な方
向の座標と、検査対象リード15の先のパッド11を含
んで発生させた第二の検査領域14から検出されるパッ
ドのリードと直角な方向の座標の差よりずれ量を算出
し、あらかじめ記憶している判定値と比較し検査結果の
良否を判定する。
Description
置、特に、プリント基板にはんだ付けされた表面実装I
Cのリードのずれを検査する表面実装ICリードずれ検
査装置に関する。
品の隣接するリード間に斜め上方から光を照射する照明
と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“1”に、暗い部分は“0”の二値化画像に変換
する二値化回路と、検査対象部品の一本のリードの両側
にリードずれの許容できる限界の座標に発生させる二つ
の検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化
回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路
に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回
路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二
値化画像より、検査領域内に“1”のエリアがあるか判
定する判定回路とを含んで構成される。
面を参照して詳細に説明する。図3は従来の一例を示す
ブロック図であり、図4はICリードがパッドに実装さ
れた状態を示すICの部分平面図である。図3の照明2
1は検査対象部品に斜め上方から光を照射する。カメラ
22は検査対象部品の上方に取り付けられ検査対象部品
の画像を取り込み濃淡画像信号fを出力する。二値化回
路23は前記濃淡画像信号fを入力しあらかじめ設定し
た二値化レベルにより明るい部分に対応した“1”と暗
い部分に対応した“0”に変換し、二値化画像信号gを
出力する。
号gを入力し検査領域記憶回路25に記憶されている検
査領域信号hにより設定される検査領域29をパッド2
7に実装されたリード28の両側にリードずれの許容で
きる限界の座標に発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号iを出力す
る。判定回路26では、検査領域内二値化画像信号iを
入力し、“1”のエリア30があればリードずれと判定
する。
は、検査領域を計算上リードずれが許容できる限界の座
標に発生させ、該検査領域内にリードからの反射光があ
るとリードずれと判定していたので、検査領域の座標発
生精度の影響を受けリードずれを精度よく検出できない
という欠点があった。
ードずれ実装装置は、検査対象部品の斜め上方から光を
照射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む情報に
取り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡
画像の明るい部分は“1”に、暗い部分は“0”の二値
化画像に変換する二値化回路と、検査対象リードを含む
検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、検査対
象リードより先のパッド部分の検査領域を記憶する第二
の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される
二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されて
いる検査領域を発生させる第一の検査領域発生回路と、
該第一の検査領域発生回路より出力される第一の検査領
域内二値化画像信号より前記検査領域内のリードからの
反射光による“1”のエリアを検出し、該エリアのリー
ドと直角の方向の“1の”の範囲の中心座標を計測する
第一の計測回路と、前記二値化回路より出力される二値
化画像に前記第二の検査領域記憶回路の記憶されている
検査領域を発生させる第二の検査領域発生回路と、該第
二の検査領域発生回路より出力される第二の検査領域内
二値化画像信号より前記検査領域内のパッドからの反射
こにより“1”のエリアを検出し該エリアのリードと直
角の方向の“1”の範囲の中心座標を計測する第二の計
測回路と、前記第一の計測回路からの第一の計測値の第
二の計測回路からの第二の計測値との差をとりリードず
れ量を算出しあらかじめ設定した判定値より大きければ
リードずれと判定する判定回路とを含んで構成される。
して詳細に説明する。
である。図1の照明1は検査対象部品に斜め上方から光
を照射する。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付け
られ検査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号aを出
力する。二値化回路3は前記濃淡画像信号aを入力しあ
らかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応
した“1”と暗い部分に対応した“0”に変換し、二値
化画像信号b,bbを出力する。
化画像信号bを入力し第一の検査領域記憶回路5に記憶
されている第一の検査領域信号cにより設定される検査
対象リードを含む検査領域を発生させ、該第一の検査領
域内の二値化画像のみを抽出した第一の検査領域内二値
化画像信号dを出力する。第一の計測回路6では、該第
一の検査領域内二値化画像信号dを入力し、リードと直
角な方向(以下X方向と呼ぶ)の“1”の範囲の中心座
標X1を“1”を最大座標と最小座標の平均より求め第
一の中心座標信号eを出力する。
化画像信号bbを入力し第二の検査領域記憶回路8に記
憶されている第二の検査領域信号ccにより設定される
検査対象リードより先のパッド部分を含む検査領域を発
生させ、該第二の検査領域内の二値化画像のみを抽出し
た第二の検査領域内二値化画像信号ddを出力する。第
二の計測回路9では、該第二の検査領域内二値化画像信
号ddを入力し、X方向の“1”の範囲の中心座標X2
を“1”の最大座標と最小座標の平均より求め第二の中
心座標信号eeを出力する。
eeを入力し、X方向の座標X1とX2との差をとり、
該値があらかじめ設定した判定値より長ければ、リード
ずれと判定する。
る。点線部はパッド11上のリード12を含む第一の検
査領域13と、リード12より先のリード12を含む第
一の検査領域13と、リード12より先のリード12を
含まない第二の検査領域14である。照明1はパッド1
1とリード12からの反射光がカメラ2に入射する角度
に取り付けられており、反射率の高いパッド11とリー
ド12からの反射光が強いため二値化画像信号“1”の
エリアを示す斜線部はリード部分のエリア15とパッド
部分のエリア16となる。ただしリーダ12の側面のパ
ッド11上にははんだフィレットが形成されているた
め、上方に取り付けられた照明1からの照明光は斜め方
向へ反射し、上方に取り付けられたカメラ2へは入射し
ない。従って、第一の計測回路6により計測されるX1
はリードの中心座標となり、第二の計測回路9により計
測されるX2はパッドの中心座標となる。
のずれの許容限界長さに設定しておくことで、許容され
る以上ずれたリードをリードずれと検出することができ
る。
置は、検査領域を検査対象部品のリードの両側にリード
ずれの許容できる限界の座標に発生させ検査領域内にリ
ードからの反射光が入ったら欠陥と判定していたかわり
に、リードとパッドを含んで発生させる検査領域から求
めるリード中心のX方向座標と、パッドのみを含んで発
生させる検査領域から求めるパッド中心のX方向座標と
の差から、パッド中心ととリード中心のずれ量を求め判
定するので、検査領域の座標発生制度に影響を受けずに
精度よくリードずれを検出することができるという効果
がある。
る。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 検査対象部品の斜め上方から光を照射す
る照明と、検査対象部品の画像を取り込む情報に取り付
けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の
明るい部分は“1”に、暗い部分は“0”の二値化画像
に変換する二値化回路と、検査対象リードを含む検査領
域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、検査対象リー
ドより先のパッド部分の検査領域を記憶する第二の検査
領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化
画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されている検
査領域を発生させる第一の検査領域発生回路と、該第一
の検査領域発生回路より出力される第一の検査領域内二
値化画像信号より前記検査領域内のリードからの反射光
による“1”のエリアを検出し、該エリアのリードと直
角の方向の“1の”の範囲の中心座標を計測する第一の
計測回路と、前記二値化回路より出力される二値化画像
に前記第二の検査領域記憶回路の記憶されている検査領
域を発生させる第二の検査領域発生回路と、該第二の検
査領域発生回路より出力される第二の検査領域内二値化
画像信号より前記検査領域内のパッドからの反射こによ
り“1”のエリアを検出し該エリアのリードと直角の方
向の“1”の範囲の中心座標を計測する第二の計測回路
と、前記第一の計測回路からの第一の計測値の第二の計
測回路からの第二の計測値との差をとりリードずれ量を
算出しあらかじめ設定した判定値より大きければリード
ずれと判定する判定回路とを含むことを特徴とする表面
実装ICリードずれ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4026340A JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装icリードずれ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4026340A JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装icリードずれ検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05256622A true JPH05256622A (ja) | 1993-10-05 |
JP2803427B2 JP2803427B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=12190712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4026340A Expired - Lifetime JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装icリードずれ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2803427B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10354036B2 (en) * | 2015-07-15 | 2019-07-16 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Model data generation device, method of generating model data, mounting reference point determination device, and method of determining mounting reference point |
-
1992
- 1992-02-13 JP JP4026340A patent/JP2803427B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10354036B2 (en) * | 2015-07-15 | 2019-07-16 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Model data generation device, method of generating model data, mounting reference point determination device, and method of determining mounting reference point |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2803427B2 (ja) | 1998-09-24 |
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