JPH05272928A - はんだ付け検査装置 - Google Patents
はんだ付け検査装置Info
- Publication number
- JPH05272928A JPH05272928A JP2633192A JP2633192A JPH05272928A JP H05272928 A JPH05272928 A JP H05272928A JP 2633192 A JP2633192 A JP 2633192A JP 2633192 A JP2633192 A JP 2633192A JP H05272928 A JPH05272928 A JP H05272928A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- inspection area
- soldered
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】リード浮きという特殊なはんだ付け欠陥も精度
よく検出する。 【構成】検査対象はんだ付け部の画像データを、あらか
じめ荷重データ記憶回路１１に記憶させておく荷重デー
タをパラメータとしてニューロ演算回路１０によりニュ
ーロ演算し、良品カテゴリ出力値と欠陥カテゴリ出力値
を求めて検査結果の判定を行う。
よく検出する。 【構成】検査対象はんだ付け部の画像データを、あらか
じめ荷重データ記憶回路１１に記憶させておく荷重デー
タをパラメータとしてニューロ演算回路１０によりニュ
ーロ演算し、良品カテゴリ出力値と欠陥カテゴリ出力値
を求めて検査結果の判定を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明ははんだ付検査装置に関
し、特にプリント基板にはんだ付けされた表面実装ＩＣ
のリードとパッド間のはんだ付け状態を検査するはんだ
付け検査装置に関する。
し、特にプリント基板にはんだ付けされた表面実装ＩＣ
のリードとパッド間のはんだ付け状態を検査するはんだ
付け検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のはんだ付け検査装置を図６に示
す。リード１はプリント基板２上のパッド３にはんだ４
によりはんだ付けされている。照明５は検査対象はんだ
付け部分を斜めから照射する。カメラ６は検査対象はん
だ付け部の画像を取り込みアナログ画像信号ａを出力す
る。ＡＤ変換回路７はアナログ画像信号ａを入力しＡＤ
変換を行い濃淡画像信号ｂを出力する。検査領域発生回
路８では、濃淡画像信号ｂを入力し検査領域記憶回路９
に記憶されている検査領域信号ｃにより設定される検査
領域を発生させ、検査領域内の濃淡画像のみを抽出した
検査領域内濃淡画像信号ｄを出力する。判定回路１２で
は検査領域内濃淡画像信号ｄを入力し極端に輝度の高い
箇所があるかないかにより照射光の正反射光がカメラ６
に入射しているかどうか判定し、正反射光がカメラ６に
入射していると判定した場合は正常、そうでない場合は
欠陥と判定している。
す。リード１はプリント基板２上のパッド３にはんだ４
によりはんだ付けされている。照明５は検査対象はんだ
付け部分を斜めから照射する。カメラ６は検査対象はん
だ付け部の画像を取り込みアナログ画像信号ａを出力す
る。ＡＤ変換回路７はアナログ画像信号ａを入力しＡＤ
変換を行い濃淡画像信号ｂを出力する。検査領域発生回
路８では、濃淡画像信号ｂを入力し検査領域記憶回路９
に記憶されている検査領域信号ｃにより設定される検査
領域を発生させ、検査領域内の濃淡画像のみを抽出した
検査領域内濃淡画像信号ｄを出力する。判定回路１２で
は検査領域内濃淡画像信号ｄを入力し極端に輝度の高い
箇所があるかないかにより照射光の正反射光がカメラ６
に入射しているかどうか判定し、正反射光がカメラ６に
入射していると判定した場合は正常、そうでない場合は
欠陥と判定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のはんだ
付け検査装置ははんだ付け部の画像よりはんだ付け状態
の検査を行っていたが、リード浮き欠陥の場合でもたま
たまリードと接触しないリードの下側のはんだの端がは
んだ付け部と同じ位置になった場合、はんだの端からの
正反射光がカメラに入射し正常と判定され欠陥の見逃し
になるという欠点があった。
付け検査装置ははんだ付け部の画像よりはんだ付け状態
の検査を行っていたが、リード浮き欠陥の場合でもたま
たまリードと接触しないリードの下側のはんだの端がは
んだ付け部と同じ位置になった場合、はんだの端からの
正反射光がカメラに入射し正常と判定され欠陥の見逃し
になるという欠点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のはんだ付け検査
装置は、検査対象はんだ付け部に光を照射する照明と、
検査対象はんだ付け部の画像を取り込む情報に取り付け
られたカメラと、前記カメラから入力した画像をＡＤ変
換し濃淡画像信号を出力するＡＤ変換回路と、検査領域
を記憶する検査領域記憶回路と、ＡＤ変換回路より出力
される濃淡画像信号に前記検査領域記憶回路に記憶され
ている検査領域を発生させる検査領域発生回路と、荷重
データを記憶する荷重データ記憶回路と、前記検査領域
発生回路より出力される検査領域内濃淡画像信号より前
記荷重データ記憶回路から出力される荷重データ信号を
用いてニューロ演算を行うニューロ演算回路と、前記ニ
ューロ演算回路から出力されるニューロ演算信号を入力
し検査結果の判定を行う判定回路とを含んで構成され
る。
装置は、検査対象はんだ付け部に光を照射する照明と、
検査対象はんだ付け部の画像を取り込む情報に取り付け
られたカメラと、前記カメラから入力した画像をＡＤ変
換し濃淡画像信号を出力するＡＤ変換回路と、検査領域
を記憶する検査領域記憶回路と、ＡＤ変換回路より出力
される濃淡画像信号に前記検査領域記憶回路に記憶され
ている検査領域を発生させる検査領域発生回路と、荷重
データを記憶する荷重データ記憶回路と、前記検査領域
発生回路より出力される検査領域内濃淡画像信号より前
記荷重データ記憶回路から出力される荷重データ信号を
用いてニューロ演算を行うニューロ演算回路と、前記ニ
ューロ演算回路から出力されるニューロ演算信号を入力
し検査結果の判定を行う判定回路とを含んで構成され
る。
【０００５】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図１のリード１はプリント基板２上のパッド３
にはんだ４によりはんだ付けされている。
である。図１のリード１はプリント基板２上のパッド３
にはんだ４によりはんだ付けされている。
【０００７】照明５は、検査対象はんだ付け部を照明す
る。カメラ６は検査対象はんだ付け部の画像を取り込み
アナログ画像信号ａを出力する。ＡＤ変換回路７はアナ
ログ画像信号ａを入力しＡＤ変換を行い濃淡画像信号ｂ
を出力する。検査領域発生回路８では、濃淡画像信号ｂ
を入力し検査領域記憶回路９に記憶されている検査領域
信号ｃにより設定される検査領域を発生させ、検査領域
内の濃淡画像のみを抽出した検査領域内濃淡画像信号ｄ
を出力する。
る。カメラ６は検査対象はんだ付け部の画像を取り込み
アナログ画像信号ａを出力する。ＡＤ変換回路７はアナ
ログ画像信号ａを入力しＡＤ変換を行い濃淡画像信号ｂ
を出力する。検査領域発生回路８では、濃淡画像信号ｂ
を入力し検査領域記憶回路９に記憶されている検査領域
信号ｃにより設定される検査領域を発生させ、検査領域
内の濃淡画像のみを抽出した検査領域内濃淡画像信号ｄ
を出力する。
【０００８】ニューロ演算回路１０では、検査領域内濃
淡画像信号ｄを入力し荷重データ記憶回路１１に予め記
憶させておく荷重データ信号ｅによるパラメータを用い
てニューロ演算を行い、演算結果信号ｆを出力する。判
定回路１２では、演算結果信号ｆを入力し欠陥カテゴリ
への出力値があらかじめ設定された基準値より大きけれ
ば欠陥と判定する。
淡画像信号ｄを入力し荷重データ記憶回路１１に予め記
憶させておく荷重データ信号ｅによるパラメータを用い
てニューロ演算を行い、演算結果信号ｆを出力する。判
定回路１２では、演算結果信号ｆを入力し欠陥カテゴリ
への出力値があらかじめ設定された基準値より大きけれ
ば欠陥と判定する。
【０００９】次に図２と図３とを用いて、本発明の原理
を説明する。図２（ａ）は良品のはんだ付け部の斜視
図、図２（ｂ）は欠陥のはんだ付け部の斜視図である。
良品のはんだ付け部は凹面になっており、欠陥のはんだ
部は先端部がまるくなっており凸面になっている。従っ
てカメラ６に入る反射光のパターンは良品と欠陥で異な
るパターンとなる。図３（ａ）はカメラ６で撮った良品
のはんだ付け部の画像のパターン図、図３（ｂ）は欠陥
のもののパターン図の一例である。照明５の照明角度と
カメラ６の取り付け角度より、はんだ４の範囲のうち特
定の角度範囲の面の領域が斜線部で表した特に反射光の
強い領域となる。
を説明する。図２（ａ）は良品のはんだ付け部の斜視
図、図２（ｂ）は欠陥のはんだ付け部の斜視図である。
良品のはんだ付け部は凹面になっており、欠陥のはんだ
部は先端部がまるくなっており凸面になっている。従っ
てカメラ６に入る反射光のパターンは良品と欠陥で異な
るパターンとなる。図３（ａ）はカメラ６で撮った良品
のはんだ付け部の画像のパターン図、図３（ｂ）は欠陥
のもののパターン図の一例である。照明５の照明角度と
カメラ６の取り付け角度より、はんだ４の範囲のうち特
定の角度範囲の面の領域が斜線部で表した特に反射光の
強い領域となる。
【００１０】図３は照明５を低い角度から照射させてカ
メラを真上に取り付けた場合のパターン図である。はん
だ４のうち比較的角度の急な領域が特に反射光の強い領
域となり、良品の場合は図３（ａ）の斜線部分に示すよ
うにリード先端部付近が特に反射光の強い領域となり、
欠陥の場合は図３（ｂ）に示すようにはんだの外側付近
が特に反射光の強い領域となり、良品と欠陥とで異なる
パターンとなる。
メラを真上に取り付けた場合のパターン図である。はん
だ４のうち比較的角度の急な領域が特に反射光の強い領
域となり、良品の場合は図３（ａ）の斜線部分に示すよ
うにリード先端部付近が特に反射光の強い領域となり、
欠陥の場合は図３（ｂ）に示すようにはんだの外側付近
が特に反射光の強い領域となり、良品と欠陥とで異なる
パターンとなる。
【００１１】従って、あらかじめはんだ付け部の良品箇
所と欠陥箇所の画像をそれぞれ良品のカテゴリと欠陥の
カテゴリとして学習させ、得られた荷重データを荷重デ
ータ記憶回路１１に記憶させておき検査対象はんだ付け
部の検査領域内濃淡画像データを前記荷重データをパラ
メータとしてニューロ演算することにより、良品の場合
は良品カテゴリの出力値に高い値が出、欠陥の場合は欠
陥カテゴリの出力値に高い値が出る。
所と欠陥箇所の画像をそれぞれ良品のカテゴリと欠陥の
カテゴリとして学習させ、得られた荷重データを荷重デ
ータ記憶回路１１に記憶させておき検査対象はんだ付け
部の検査領域内濃淡画像データを前記荷重データをパラ
メータとしてニューロ演算することにより、良品の場合
は良品カテゴリの出力値に高い値が出、欠陥の場合は欠
陥カテゴリの出力値に高い値が出る。
【００１２】よって、判定回路１２では欠陥カテゴリの
出力値があらかじめ設定した基準値以上の値であれば欠
陥と判定される。また判定回路１２では良品カテゴリの
出力値があらかじめ設定した基準値以下の値であれば欠
陥と判定することもできる。
出力値があらかじめ設定した基準値以上の値であれば欠
陥と判定される。また判定回路１２では良品カテゴリの
出力値があらかじめ設定した基準値以下の値であれば欠
陥と判定することもできる。
【００１３】次に図４、図５を用いてニューロ演算の一
例について詳しく説明を行う。図４は検査領域内濃淡画
像データをｍ×ｎの格子上に区切ったパターン図、図５
はニューロ演算におけるニューラルネットの構造図であ
る。図４に示す各格子内の濃淡値の平均値をニューラル
ネットの入力層の各ユニットの出力値Ｉi に割り当て
る。中間層のユニットｊの出力値Ｈj は次の（１），
（２）式によって得られる。
例について詳しく説明を行う。図４は検査領域内濃淡画
像データをｍ×ｎの格子上に区切ったパターン図、図５
はニューロ演算におけるニューラルネットの構造図であ
る。図４に示す各格子内の濃淡値の平均値をニューラル
ネットの入力層の各ユニットの出力値Ｉi に割り当て
る。中間層のユニットｊの出力値Ｈj は次の（１），
（２）式によって得られる。
【００１４】
【００１５】Ｉi ：入力層のユニットｉの出力 Ｈj ：中間層のユニットｊの出力 Ｗji：入力層のユニットｉから中間層のユニットｊへの
結合係数 θj ：中間層のユニットｊのオフセット ｆ（ｘ）はシグモイド関数で ｆ（ｘ）＝｛１＋ｔａｎｈ（ｘ／ｕ0 ）｝／２ ・・・（３） Ｕ0 ：傾き係数 出力層ユニットは良品と欠陥の２つとする。ただしここ
では説明を容易にするため出力層ユニットを２つする
が、良品のモードや欠陥のモードによっては出力層の数
を増やすことも考えられる。出力層のユニットｋの出力
値Ｏk は次の（４），（５）式によって得られる。
結合係数 θj ：中間層のユニットｊのオフセット ｆ（ｘ）はシグモイド関数で ｆ（ｘ）＝｛１＋ｔａｎｈ（ｘ／ｕ0 ）｝／２ ・・・（３） Ｕ0 ：傾き係数 出力層ユニットは良品と欠陥の２つとする。ただしここ
では説明を容易にするため出力層ユニットを２つする
が、良品のモードや欠陥のモードによっては出力層の数
を増やすことも考えられる。出力層のユニットｋの出力
値Ｏk は次の（４），（５）式によって得られる。
【００１６】
【００１７】Ｏk ：出力層のユニットｋの出力 Ｖkj：中間層のユニットｊから出力層のユニットｋへの
結合係数 γk ：中間層のユニットｊのオフセット 以上の計算のなかで使用するＷjiとＶkjがあらかじめ求
めて荷重データ記憶回路１１に記憶させておく値とな
る。
結合係数 γk ：中間層のユニットｊのオフセット 以上の計算のなかで使用するＷjiとＶkjがあらかじめ求
めて荷重データ記憶回路１１に記憶させておく値とな
る。
【００１８】また、学習時にＯ1 を良品のカテゴリとし
て割当、Ｏ2 を欠陥カテゴリとして割当てるとすると、
（５）により得られたＯ1 の値が良品カテゴリの出力値
であり、Ｏ2 の値が欠陥カテゴリの出力値となる。
て割当、Ｏ2 を欠陥カテゴリとして割当てるとすると、
（５）により得られたＯ1 の値が良品カテゴリの出力値
であり、Ｏ2 の値が欠陥カテゴリの出力値となる。
【００１９】
【発明の効果】本発明のはんだ付け検査装置は、リード
先端部からの強い反射光の有無により良品と欠陥の判定
を行っていた代わりに、取り込んだパターンからニュー
ロ演算を行うことにより反射光のパターン形状の違いに
より判定を行うので精度よく検査を行うことができると
いう効果がある。
先端部からの強い反射光の有無により良品と欠陥の判定
を行っていた代わりに、取り込んだパターンからニュー
ロ演算を行うことにより反射光のパターン形状の違いに
より判定を行うので精度よく検査を行うことができると
いう効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】はんだ付け部を示す斜視図で、（ａ）は良品の
斜視図、（ｂ）は不良の斜視図である。
斜視図、（ｂ）は不良の斜視図である。
【図３】カメラ６で撮ったはんだ付け部の画像のパター
ンを示す図で、（ａ）は良品の図、（ｂ）は不良の図で
ある。
ンを示す図で、（ａ）は良品の図、（ｂ）は不良の図で
ある。
【図４】ニューロ演算を行うための検査領域内の濃淡画
像の分割を示す図である。
像の分割を示す図である。
【図５】ニューロ演算におけるニューラルネットの構造
図である。
図である。
【図６】従来のはんだ付け検査装置のブロック図であ
る。
る。
１ リード ２ プリント基板 ３ パッド ４ はんだ ５ 照明 ６ カメラ ７ ＡＤ変換回路 ８ 検査領域発生回路 ９ 検査領域記憶回路 １０ ニューロ演算回路 １１ 荷重データ記憶回路 １２ 判定回路 ａ アナログ画像信号 ｂ 濃淡画像信号 ｃ 検査領域信号 ｄ 検査領域内濃淡画像信号 ｅ 荷重データ信号 ｆ 演算結果信号
Claims (1)
- 【請求項１】 検査対象はんだ付け部に光を照射する照
明と、検査対象はんだ付け部の画像を取り込む情報に取
り付けられたカメラと、前記カメラから入力した画像を
ＡＤ変換し濃淡画像信号を出力するＡＤ変換回路と、検
査領域を記憶する検査領域記憶回路と、ＡＤ変換回路よ
り出力される濃淡画像信号に前記検査領域記憶回路に記
憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回路
と、荷重データを記憶する荷重データ記憶回路と、前記
検査領域発生回路より出力される検査領域内濃淡画像信
号より前記荷重データ記憶回路から出力される荷重デー
タ信号を用いてニューロ演算を行うニューロ演算回路
と、前記ニューロ演算回路から出力されるニューロ演算
信号を入力し検査結果の判定を行う判定回路とを含むこ
とを特徴とするはんだ付け検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2633192A JPH05272928A (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | はんだ付け検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2633192A JPH05272928A (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | はんだ付け検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05272928A true JPH05272928A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=12190445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2633192A Pending JPH05272928A (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | はんだ付け検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05272928A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110996547A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-04-10 | 河北科技大学 | 一种应用于锡浆涂抹设备的驱动参数计算方法和装置 |
| CN111010818A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-04-14 | 河北科技大学 | 一种应用于锡浆涂抹设备的涂抹路径规划方法及装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315708A (ja) * | 1989-06-13 | 1991-01-24 | Sharp Corp | 部品装着基板照明装置 |
| JPH05303627A (ja) * | 1991-03-22 | 1993-11-16 | Hitachi Denshi Ltd | はんだ付けの状態検査装置 |
-
1992
- 1992-02-13 JP JP2633192A patent/JPH05272928A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315708A (ja) * | 1989-06-13 | 1991-01-24 | Sharp Corp | 部品装着基板照明装置 |
| JPH05303627A (ja) * | 1991-03-22 | 1993-11-16 | Hitachi Denshi Ltd | はんだ付けの状態検査装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110996547A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-04-10 | 河北科技大学 | 一种应用于锡浆涂抹设备的驱动参数计算方法和装置 |
| CN111010818A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-04-14 | 河北科技大学 | 一种应用于锡浆涂抹设备的涂抹路径规划方法及装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980421 |