JPS5997133A - オリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を測定する装置 - Google Patents
オリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を測定する装置Info
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- JPS5997133A JPS5997133A JP58198942A JP19894283A JPS5997133A JP S5997133 A JPS5997133 A JP S5997133A JP 58198942 A JP58198942 A JP 58198942A JP 19894283 A JP19894283 A JP 19894283A JP S5997133 A JPS5997133 A JP S5997133A
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- JP
- Japan
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- potential
- signal
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B27/00—Photographic printing apparatus
- G03B27/72—Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
- G03B27/80—Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus in dependence upon automatic analysis of the original
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Control Of Exposure In Printing And Copying (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、オリジナルの背景（バック）と映像域の両方
の光学密度（又は濃Ｖ）を測定するための測定装置に係
るもので、オリジナルのストリップ上の光学密度を検出
して測定された光学密度の指標である電位パターンを有
する電気的信号を発生するための光電検出器と、第１基
準電位が極限電位から偏移する以上にその電位が極限電
位から偏移する信号部分を測定信号から検出して、検出
された信号部分の数の指標である第１出力信号を発生す
る第１検出回路と、第２基準電位が極限電位から偏移す
る以上にその電位が極限電位から偏移する信号部分を測
定信号から検出して、第２出力信号を発生する第３− ２検出回路と、第１検出回路の出力信号と第２検出回路
の出力信号とを比較するための比較回路とから成るもの
である。
の光学密度（又は濃Ｖ）を測定するための測定装置に係
るもので、オリジナルのストリップ上の光学密度を検出
して測定された光学密度の指標である電位パターンを有
する電気的信号を発生するための光電検出器と、第１基
準電位が極限電位から偏移する以上にその電位が極限電
位から偏移する信号部分を測定信号から検出して、検出
された信号部分の数の指標である第１出力信号を発生す
る第１検出回路と、第２基準電位が極限電位から偏移す
る以上にその電位が極限電位から偏移する信号部分を測
定信号から検出して、第２出力信号を発生する第３− ２検出回路と、第１検出回路の出力信号と第２検出回路
の出力信号とを比較するための比較回路とから成るもの
である。
この種の性行は、米国特許第３２０２０４２号から周知
である。この特許によれば、オリジナルの環状のストリ
ップが検出器により走査されて、この検出器が、ス）
ＩＪツブの中で該検出器により検出された光学密度に従
っているいろなピークを含む波の形で測定信号を発生す
る。ピーク検出器が、オリジナルのバックの光学密度の
指標である最も高い電位を測定信号から選択する。レベ
ル検出器と計数器とから成る検出回路が低い基準電位の
上にある信号部分の数を決定するために用いられる。低
い基準電位は手動による調節が可能であるが、測定中は
固定される。第２検出回路が、同じ方法で測定中は固定
される高い基準電位上にある信号部分の数を決定するの
に使用される。これら２つの数の間の４− 関係は、比較回路において決定されて表示器により表示
される。オリジナルを照明するための光源の強さを変え
ることにより、ある同一の基準信号の上にあるできるだ
け多数の信号部分の光学密度を取り出すことが可能であ
り、またバックの光学密度が特定の限界内にあるかどう
かを決定することも可能である。映像域の光学密度とバ
ックのそれとの間に十分に大きな差がある場合には、オ
リジナルは光源がそれに対する測定用にセットされた強
さで複写される。測定装置θは、リトグラフフィルムの
ような硬調感光材を用いて、その上に影像情報の光学密
度とは相当異なる光学密度のバック上ｌこ特定制限内の
光学密度を有する映像情報を全て再生しようとするとき
、オリジナルを測定することを目的とするものである。
である。この特許によれば、オリジナルの環状のストリ
ップが検出器により走査されて、この検出器が、ス）
ＩＪツブの中で該検出器により検出された光学密度に従
っているいろなピークを含む波の形で測定信号を発生す
る。ピーク検出器が、オリジナルのバックの光学密度の
指標である最も高い電位を測定信号から選択する。レベ
ル検出器と計数器とから成る検出回路が低い基準電位の
上にある信号部分の数を決定するために用いられる。低
い基準電位は手動による調節が可能であるが、測定中は
固定される。第２検出回路が、同じ方法で測定中は固定
される高い基準電位上にある信号部分の数を決定するの
に使用される。これら２つの数の間の４− 関係は、比較回路において決定されて表示器により表示
される。オリジナルを照明するための光源の強さを変え
ることにより、ある同一の基準信号の上にあるできるだ
け多数の信号部分の光学密度を取り出すことが可能であ
り、またバックの光学密度が特定の限界内にあるかどう
かを決定することも可能である。映像域の光学密度とバ
ックのそれとの間に十分に大きな差がある場合には、オ
リジナルは光源がそれに対する測定用にセットされた強
さで複写される。測定装置θは、リトグラフフィルムの
ような硬調感光材を用いて、その上に影像情報の光学密
度とは相当異なる光学密度のバック上ｌこ特定制限内の
光学密度を有する映像情報を全て再生しようとするとき
、オリジナルを測定することを目的とするものである。
この周知の測定装置は、オリジナルの弱い情報もまた複
写上に示される複写を作成することを目的とする自動露
出制御を有する複写機に使用するには適さないものであ
る。ここで言う「弱い情報」とは、その光学密度がバッ
クのそれと余り差のない情報のことを指す。複写のバッ
クを白くする複写条件を選択した場合には、このような
弱い情報は一般的に複写するうちに全くあるいは部分的
に失なわれてしまう。従って、オリジナルに弱い情報が
含まれている場合、露出を変えるなど使用するプロセス
条件を変えるか、あるいは電子写真プロセスにおいて、
現像電極の現像電圧を変えるなどするのが通例である。
写上に示される複写を作成することを目的とする自動露
出制御を有する複写機に使用するには適さないものであ
る。ここで言う「弱い情報」とは、その光学密度がバッ
クのそれと余り差のない情報のことを指す。複写のバッ
クを白くする複写条件を選択した場合には、このような
弱い情報は一般的に複写するうちに全くあるいは部分的
に失なわれてしまう。従って、オリジナルに弱い情報が
含まれている場合、露出を変えるなど使用するプロセス
条件を変えるか、あるいは電子写真プロセスにおいて、
現像電極の現像電圧を変えるなどするのが通例である。
その結果得られるのは、バックに陰の入った複写で、こ
れでは弱い情報は依然弱く再現されるが、情報の喪失は
ない。
れでは弱い情報は依然弱く再現されるが、情報の喪失は
ない。
周知の装置ではまた、測定中と複写中にオリジナルを露
出するのに同一の光源を必要とする。
出するのに同一の光源を必要とする。
これは、一般的に感光材がせん光灯により照明される近
代的複写機における使用上の欠陥といえるものである。
代的複写機における使用上の欠陥といえるものである。
本発明の目的は、前述のような欠点を除去して周知の装
置を改良することである。この目的で１本発明によれば
、前記のような測定装置は、ピーク検出器により選択さ
れる極限電位に従って第１および第２基準電位の大きさ
を調整する手段をイ１１１えている。
置を改良することである。この目的で１本発明によれば
、前記のような測定装置は、ピーク検出器により選択さ
れる極限電位に従って第１および第２基準電位の大きさ
を調整する手段をイ１１１えている。
望ましくは、極限電位に比例してこれらの基準電位を８
１．１整する手段がこの目的のために用いられる。
１．１整する手段がこの目的のために用いられる。
次に添付図面に沿って、本発明の詳細な説明する。
第１図に示される回路は、検出器１を備えており、この
検出器１は複写機の適当な箇所に装着されて、オリジナ
ルのストリップに生じる光学密度が該検出器を通るのを
測定するものである。検出器１はアナログ増幅器２の入
力に接続されている。アナログ増幅器の出力は、ピーク
検出器３、レベル検出器４の反転入力、そしてレベル検
出器５の反転入力に接続されている。
検出器１は複写機の適当な箇所に装着されて、オリジナ
ルのストリップに生じる光学密度が該検出器を通るのを
測定するものである。検出器１はアナログ増幅器２の入
力に接続されている。アナログ増幅器の出力は、ピーク
検出器３、レベル検出器４の反転入力、そしてレベル検
出器５の反転入力に接続されている。
単安定マルチバイブレータ６と積分器７とがレベル検出
器４の後に続いて接続されており、レベル検出器４と共
に第１検出回路８を形成する。琳安定マルチバイブレー
タ９と積分器１０もまた、レベル検出器５の後ζこ続い
て接続されており、レベル検出器５と共に第２検出回路
１１を形成する。ピーク検出器３の出力は２つの加減分
圧器１２．１３に接続されている。分圧器１２の加減タ
ッピングがレベル検出器４の非反転入力に接続されてい
る。レベル検出器５の非反転入力は開閉要素１４の接点
に接続されており、開閉要素１４は別の２つの接点で分
圧器１２と１３の加減タッピングに接続されている。従
って、開閉要素１４の位置によって、レベル検出器５は
分圧器１２と１３のいずれかに接続される。開閉要素１
４を開閉するための制御入力は、レベル検出器５の出力
に接続されている。積分器１０の出力は、直接コンパレ
ータ１６の非反転入力に接続されており、積分器７の出
力は加該分圧ｒ７１１７を介してコンパレータ１６の非
反転入力に接続されている。
器４の後に続いて接続されており、レベル検出器４と共
に第１検出回路８を形成する。琳安定マルチバイブレー
タ９と積分器１０もまた、レベル検出器５の後ζこ続い
て接続されており、レベル検出器５と共に第２検出回路
１１を形成する。ピーク検出器３の出力は２つの加減分
圧器１２．１３に接続されている。分圧器１２の加減タ
ッピングがレベル検出器４の非反転入力に接続されてい
る。レベル検出器５の非反転入力は開閉要素１４の接点
に接続されており、開閉要素１４は別の２つの接点で分
圧器１２と１３の加減タッピングに接続されている。従
って、開閉要素１４の位置によって、レベル検出器５は
分圧器１２と１３のいずれかに接続される。開閉要素１
４を開閉するための制御入力は、レベル検出器５の出力
に接続されている。積分器１０の出力は、直接コンパレ
ータ１６の非反転入力に接続されており、積分器７の出
力は加該分圧ｒ７１１７を介してコンパレータ１６の非
反転入力に接続されている。
１０画のオリジナルを走査する間に、検出器１力頌１１
定信号を発生し、この測定信号は増幅器２により、大地
電位２２に関して嬉２図に示される曲線２１のような形
状を有する増幅信号に変換される。この曲線の深い下降
部は、オリジナルにおける光学密度の高い映像情報（強
い情報）を表わし、浅い下降部は光学密度の低い映像情
報（弱い情報）を表わす。ピーク検出器３が測定信号か
ら、オリジナルのバックの光学密度の指数である極限電
位２３を選択する。極限電位２３を比例する第１基準電
位２４が、分圧器１２を介してレベル検出器４の非反転
入力に印加される。極限電位２３に比例する第２基準電
位２５は、同じ方法でレベル検出器５の非反転入力に印
加される。曲線２１で表わされる増幅された測定信号が
、２つのレベル検出器の反転入力に送られる。これらの
検出器は、増幅された測定信号が関連する基準電位より
低くなる毎にその出力に高い信号を発生し、増幅された
測定信号が関連する基準電位より高いときは低い信号を
発生する。レベル検出器はこうして、関連する基準電位
が極限電位から離れている以上に極限電位から離れてい
る測定信号の部分を検出する。基準電位は極限電位２３
化依存したままであるため、第１基準電位２４は実際上
、極限電位に近い値に設定でき、オリジナルのバックの
光学密度と関係なく弱い情報を検出することが可能であ
る。
定信号を発生し、この測定信号は増幅器２により、大地
電位２２に関して嬉２図に示される曲線２１のような形
状を有する増幅信号に変換される。この曲線の深い下降
部は、オリジナルにおける光学密度の高い映像情報（強
い情報）を表わし、浅い下降部は光学密度の低い映像情
報（弱い情報）を表わす。ピーク検出器３が測定信号か
ら、オリジナルのバックの光学密度の指数である極限電
位２３を選択する。極限電位２３を比例する第１基準電
位２４が、分圧器１２を介してレベル検出器４の非反転
入力に印加される。極限電位２３に比例する第２基準電
位２５は、同じ方法でレベル検出器５の非反転入力に印
加される。曲線２１で表わされる増幅された測定信号が
、２つのレベル検出器の反転入力に送られる。これらの
検出器は、増幅された測定信号が関連する基準電位より
低くなる毎にその出力に高い信号を発生し、増幅された
測定信号が関連する基準電位より高いときは低い信号を
発生する。レベル検出器はこうして、関連する基準電位
が極限電位から離れている以上に極限電位から離れてい
る測定信号の部分を検出する。基準電位は極限電位２３
化依存したままであるため、第１基準電位２４は実際上
、極限電位に近い値に設定でき、オリジナルのバックの
光学密度と関係なく弱い情報を検出することが可能であ
る。
第３図に示すよろに、レベル検出器４の出力に発生され
た信号はブロック形状２６を有し、レベル検出器５の出
力に発生された信号はブロック形状２７を有する。ブロ
ック形状信号２６は、検出器により検出される全ての映
像情報を表現でき、ブロック形状信号２７は、検出器に
より検出される強い情報を表現できるものである。第２
図中人で示される第２基準電位２５周辺の小さな変化は
、レベル検出器５の出力に別Ｉこは示されない。これは
高い信号がレベル検出器５の出力に発生されるとき、開
閉要素１４が第１基準電位２４がレベル検出器５に接続
されるように開閉転換するためである。開閉要素１４は
、増幅された測定信号が第１基準電位より高くなるまで
は、その初期状態に戻れない。
た信号はブロック形状２６を有し、レベル検出器５の出
力に発生された信号はブロック形状２７を有する。ブロ
ック形状信号２６は、検出器により検出される全ての映
像情報を表現でき、ブロック形状信号２７は、検出器に
より検出される強い情報を表現できるものである。第２
図中人で示される第２基準電位２５周辺の小さな変化は
、レベル検出器５の出力に別Ｉこは示されない。これは
高い信号がレベル検出器５の出力に発生されるとき、開
閉要素１４が第１基準電位２４がレベル検出器５に接続
されるように開閉転換するためである。開閉要素１４は
、増幅された測定信号が第１基準電位より高くなるまで
は、その初期状態に戻れない。
従って開閉要素１４が提供する利点は、高い光学密度を
有する映像情報において、複数ピークをもつ測定信号を
生む小さな変化は情報の別個の項目としてではなく情報
の単一項目として測定装置により処理される点である。
有する映像情報において、複数ピークをもつ測定信号を
生む小さな変化は情報の別個の項目としてではなく情報
の単一項目として測定装置により処理される点である。
単安定マルチバイブレータ６または９によって、信号の
立上り面２６または２７は各々、第４図に示されるよう
な固定した幅と振幅のパルスに変換される。これらのパ
ルスは各々、積分器７または１０によって積分されて直
流信号を出す。
立上り面２６または２７は各々、第４図に示されるよう
な固定した幅と振幅のパルスに変換される。これらのパ
ルスは各々、積分器７または１０によって積分されて直
流信号を出す。
直流信号の大地に関する電位（第５図中それぞれ２８ま
たは２９）は、測定時間中に単安定マルチバイブレータ
６または９の出力に発生されるパルスの数に比例する。
たは２９）は、測定時間中に単安定マルチバイブレータ
６または９の出力に発生されるパルスの数に比例する。
この２つの直流信号がコンパレータ１６曇こ送られる。
加減分圧器１７が最高値に設定されるとき、オリジナル
における強い情報項目の数が映像情報項目の総数に等し
いかそれより小さいかを、コンパレータ１６が指示する
。その時読に回路が１つの弱い情報項目の信号を送る。
における強い情報項目の数が映像情報項目の総数に等し
いかそれより小さいかを、コンパレータ１６が指示する
。その時読に回路が１つの弱い情報項目の信号を送る。
分圧器１７の設定を変えることによって、その回路は、
強い情報項目の数と情報項目総数との間の異なる比率に
対し、ひいては異なるパーセンテイジの弱い情報に反応
１１− するようにできる。
強い情報項目の数と情報項目総数との間の異なる比率に
対し、ひいては異なるパーセンテイジの弱い情報に反応
１１− するようにできる。
ピーク検出器３の出力に発生された信号は、複写機内の
自動露出調整システムを制御して、望ましくは白い複写
紙ｉこはバックも白い複写を生むよろに用いることがで
きる。コンパレータ１６の出力の信号が、特定パーセン
ト以上の弱い情報が走査したオリジナル部分で生じてい
ることを示す場合、その信号が自動露出調整システムに
対し、または電子写真複写機では現像装置上の逆起電力
に対し、一定の補正を与えることで、あるいはまた多く
の場合、露出と前記の逆起電力が一緒に変えられること
で、弱い情報項目も可視的に残る陰のついたバックをも
つ複写を与えることができる。
自動露出調整システムを制御して、望ましくは白い複写
紙ｉこはバックも白い複写を生むよろに用いることがで
きる。コンパレータ１６の出力の信号が、特定パーセン
ト以上の弱い情報が走査したオリジナル部分で生じてい
ることを示す場合、その信号が自動露出調整システムに
対し、または電子写真複写機では現像装置上の逆起電力
に対し、一定の補正を与えることで、あるいはまた多く
の場合、露出と前記の逆起電力が一緒に変えられること
で、弱い情報項目も可視的に残る陰のついたバックをも
つ複写を与えることができる。
本発明がここに記載された実施態様に限定されるもので
ないことは言うまでもない。本発明によっているいろな
変形例が可能である。例えば、検出器は光電池として、
これが静止したオ１２− または全体を走査するようにしても良い。他の実施態様
では、検出器が光電池の列から成り、この光電池がオリ
ジナルの帯を一瞬１こ検出して、検出した情報を光電池
を通じてこれに連結された回路に次々と送るようにして
も良い。選択的実施態様として、異なる回路配置、例え
ば第１図の実施態様における開閉要素１４を取り除いて
、レベル検出器５と単安定マルチバイブレータ９の間に
ＪＫフリップ７０ツブを用いることもできる。ＪＫフリ
ップフロップは、レベル検出器４の出力信号により上昇
または下降する信号のジャンプに対し閉塞されて、次に
レベル検出器４の出力信号がフリップフロップのＪまた
はに入力に接続される。
ないことは言うまでもない。本発明によっているいろな
変形例が可能である。例えば、検出器は光電池として、
これが静止したオ１２− または全体を走査するようにしても良い。他の実施態様
では、検出器が光電池の列から成り、この光電池がオリ
ジナルの帯を一瞬１こ検出して、検出した情報を光電池
を通じてこれに連結された回路に次々と送るようにして
も良い。選択的実施態様として、異なる回路配置、例え
ば第１図の実施態様における開閉要素１４を取り除いて
、レベル検出器５と単安定マルチバイブレータ９の間に
ＪＫフリップ７０ツブを用いることもできる。ＪＫフリ
ップフロップは、レベル検出器４の出力信号により上昇
または下降する信号のジャンプに対し閉塞されて、次に
レベル検出器４の出力信号がフリップフロップのＪまた
はに入力に接続される。
マイクロコンピュータを用いる実施態様では。
マイクロコンピュータが開閉装置として用いられる。こ
れはマイクロコンピュータが、検出器回路１１がレベル
検出器４の出力が高い間は１つ以上の情報項目を検出で
きないよう保証することができるためである。
れはマイクロコンピュータが、検出器回路１１がレベル
検出器４の出力が高い間は１つ以上の情報項目を検出で
きないよう保証することができるためである。
第１図の実施態様における積分器もまた計数器に桁き換
えることができ、計数した信号部分は、これに適合させ
たコンパレイク回路内で比較される。もちろん、陰画オ
リジナル上の測定用の実施態様も可能である。とりわけ
このためには、第１図の実施態様におけるピーク検出器
３を最大値の代りに最小値を測定するべく適合させ、分
圧器１２．１３の代りに加算装置を用いてレベル検出器
の入力を変換するようにすると良い。
えることができ、計数した信号部分は、これに適合させ
たコンパレイク回路内で比較される。もちろん、陰画オ
リジナル上の測定用の実施態様も可能である。とりわけ
このためには、第１図の実施態様におけるピーク検出器
３を最大値の代りに最小値を測定するべく適合させ、分
圧器１２．１３の代りに加算装置を用いてレベル検出器
の入力を変換するようにすると良い。
透明の陰画オリジナル測定用には、ピーク検出器とレベ
ル検出器の入力のみ適合させて、分圧器を加算器に置き
換えることはせずに、分圧器を大地電位にではなく検出
器によって空白測定から引き出されるベース電位に接続
するのが有利である。ケース毎に空白測定を実施してそ
れをオリジナル測定中持続することによって、空白測定
は光源自体で、すなわち検出器と光源との間に陰画をお
くことな〈実施することができる。
ル検出器の入力のみ適合させて、分圧器を加算器に置き
換えることはせずに、分圧器を大地電位にではなく検出
器によって空白測定から引き出されるベース電位に接続
するのが有利である。ケース毎に空白測定を実施してそ
れをオリジナル測定中持続することによって、空白測定
は光源自体で、すなわち検出器と光源との間に陰画をお
くことな〈実施することができる。
ベース電位を適用することによって、検出器感度におけ
る変化に対して、また測定に用いられる光源の老化によ
る光の強さの変化に対して、自動的に回路を特定の限界
内に修正することが可能となる。
る変化に対して、また測定に用いられる光源の老化によ
る光の強さの変化に対して、自動的に回路を特定の限界
内に修正することが可能となる。
本発明が、２つの検出回路を用いる実施態様に制限され
るものでないことは言ろまでもない。
るものでないことは言ろまでもない。
それ以上の検出回路が用いられても差しつかえない。こ
のような測定装置は、強弱の情報に加えて、普通の強さ
の情報を測定して、オリジナルに生じるいろいろな情報
量により陰のない、またはわずかに陰のある、またはも
つと強く陰のあるバックを有する複写を作製するのに用
いることも可能である。
のような測定装置は、強弱の情報に加えて、普通の強さ
の情報を測定して、オリジナルに生じるいろいろな情報
量により陰のない、またはわずかに陰のある、またはも
つと強く陰のあるバックを有する複写を作製するのに用
いることも可能である。
第１図は本発明による測定装置の概略回路図、第２〜５
図は、第１図による回路をこおけるいろいろな箇所で発
生される信号の形状を示すグラフである。 １・・・検出器、２・・・アナログ増幅器、３・・・ピ
ーク検出器、４．５・・・レベル検出器、６，９・・・
単安定マルチバイブレータ、７．１０・・・積分器、８
・・・第１検出回路、１０・・・積分器、１１・・・第
２検出回路、１２，１３．１７・・・加減分圧器、１４
・・・開閉要素、１６・・・コンパレータ、２２・・・
大地電位、２３・・・極限電位、２４・・・第１基準電
位、２５・・・第２基準電位。 代理人弁虐士今 村 元
図は、第１図による回路をこおけるいろいろな箇所で発
生される信号の形状を示すグラフである。 １・・・検出器、２・・・アナログ増幅器、３・・・ピ
ーク検出器、４．５・・・レベル検出器、６，９・・・
単安定マルチバイブレータ、７．１０・・・積分器、８
・・・第１検出回路、１０・・・積分器、１１・・・第
２検出回路、１２，１３．１７・・・加減分圧器、１４
・・・開閉要素、１６・・・コンパレータ、２２・・・
大地電位、２３・・・極限電位、２４・・・第１基準電
位、２５・・・第２基準電位。 代理人弁虐士今 村 元
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）オリジナルのス） ＩＪツブ上で光学濃度を検出
して、測定した光学濃度の指標である電位パターンを有
する電気的測定信号を発生するための光電検出器と、測
定信号からオリジナルの背景の光学濃度の指標である極
限電位を選択するピーク検出器と、第１基準電位が極限
電位から偏移する以上にその電位が極限電位から偏移す
る信号部分を測定信号から検出して、検出された信号部
分の数の指標である第１出力信号を発生する第１検出回
路と、第２基準電位が極限電位から偏移する以上に極限
電位から偏移する信号部分を測定信号から検出して、検
出された信号部分の指標である第２出力信号を発生する
第２検出回路と、＠１検出回路の出力信号と第２検出回
路の出力信号とを比較するための比較回路とから成り、
ピーク検出器により選択された極限電位に従って、第１
および第２基準電位の大きさを調整する手段が備えられ
ているオリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を測
定する測定装置。 （２）第１および第２基準電位を調整するための手段が
、これらの基準電位を極限電位に比例して調整する特許
請求の範囲第１項に記載の測定装置。 ＋３１＠１および第２基準電位を調整するための手段が
、これらの基準電位の各々を極限電位から特定一定の基
準差に調整する特許請求の範囲第１項に記載の測定装置
。 （４）第１基準電位が極限電位から偏移する以上に第２
基準電位が極限電位から偏移する測定装置で、第２検出
回路の出力信号が第１検出回路の出力信号の変化後１回
以上変化するのを防ぐ開閉装置１〒が第２検出回路に備
乙られている特許請求の範囲第１項から第３項の何れか
ζこ記載の１１１１１定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8204260 | 1982-11-03 | ||
| NL8204260A NL8204260A (nl) | 1982-11-03 | 1982-11-03 | Meetinrichting voor het meten van de optische dichtheid van zowel de ondergrond als van de beeldpartijen in een orgineel. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5997133A true JPS5997133A (ja) | 1984-06-04 |
| JPH0535414B2 JPH0535414B2 (ja) | 1993-05-26 |
Family
ID=19840523
Family Applications (1)
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| JP58198942A Granted JPS5997133A (ja) | 1982-11-03 | 1983-10-24 | オリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を測定する装置 |
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Cited By (1)
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- 1983-10-24 JP JP58198942A patent/JPS5997133A/ja active Granted
- 1983-10-28 US US06/546,372 patent/US4585352A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62186247A (ja) * | 1986-02-12 | 1987-08-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 写真焼付露光量決定方法 |
| JPH0640197B2 (ja) * | 1986-02-12 | 1994-05-25 | 富士写真フイルム株式会社 | 写真焼付露光量決定方法 |
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