JPH0535414B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、オリジナルの背景（バツク）と映像
域の両方の光学密度（又は濃度）を測定するため
の測定装置に係るもので、オリジナルのストリツ
プ上の光学密度を検出して測定された光学密度の
指標である電位パターンを有する電気的信号を発
生するための光電検出器と、第１基準電位が極限
電位から偏移する以上にその電位が極限電位から
偏移する信号部分を測定信号から検出して、検出
された信号部分の数の指標である第１出力信号を
発生する第１検出回路と、第２基準電位が極限電
位から偏移する以上にその電位が極限電位から偏
移する信号部分を測定信号から検出して、第２出
力信号を発生する第２検出回路と、第１検出回路
の出力信号と第２検出回路の出力信号とを比較す
るための比較回路とから成るものである。

この種の装置は、米国特許第3202042号から周
知である。この特許によれば、オリジナルの環状
のストリツプが検出器により走査されて、この検
出器が、ストリツプの中で該検出器により検出さ
れた光学密度に従つていろいろなピークを含む波
の形で測定信号を発生する。ピーク検出器が、オ
リジナルのバツクの光学密度の指標である最も高
い電位を測定信号から選択する。レベル検出器と
計数器とから成る検出回路が低い基準電位の上に
ある信号部分の数を決定するために用いられる。
低い基準電位は手動による調節が可能であるが、
測定中は固定される。第２検出回路が、同じ方法
で測定中は固定される高い基準電位上にある信号
部分の数を決定するのに使用される。これら２つ
の数の間の関係は、比較回路において決定されて
表示器により表示される。オリジナルを照明する
ための光源の強さを変えることにより、ある同一
の基準信号の上にあるできるだけ多数の信号部分
の光学密度を取り出すことが可能であり、またバ
ツクの光学密度が特定の限界内にあるかどうかを
決定することも可能である。映像域の光学密度と
バツクのそれとの間に十分に大きな差がある場合
には、オリジナルは光源がそれに対する測定用に
セツトされた強さで複写される。測定装置は、リ
トグラフフイルムのような硬調感光材を用いて、
その上に映像情報の光学密度とは相当異なる光学
密度のバツク上に特定制限内の光学密度を有する
映像情報を全て再生しようとするとき、オリジナ
ルを測定することを目的とするものでる。

この周知の測定装置は、オリジナルの弱い情報
もまた複写上に示される複写を作成することを目
的とする自動露出制御を有する複写機に使用する
には適さないものである。ここで言う「弱い情
報」とは、その光学密度がバツクのそれと余り差
のない情報のことを指す。複写のバツクを白くす
る複写条件を選択した場合には、このような弱い
情報は一般的に複写するうちに全くあるいは部分
的に失なわれてしまう。従つて、オリジナルに弱
い情報が含まれている場合、露出を変えるなど使
用するプロセス条件を変えるか、あるいは電子写
真プロセスにおいて、現像電極の現像電圧を変え
るなどするのが通例である。その結果得られるの
は、バツクに陰の入つた複写で、これでは弱い情
報は依然弱く再現されるが、情報の喪失はない。

周知の装置ではまた、測定中と複写中にオリジ
ナルを露出するのに同一の光源を必要とする。こ
れは、一般的に感光材がせん光灯により照明され
る近代的複写機における使用上の欠陥といえるも
のである。

本発明の目的は、前述のような欠点を除去して
周知の装置を改良することである。この目的で、
本発明によれば、前記のような測定装置は、ピー
ク検出器により選択される極限電位に従つて第１
および第２基準電位の大きさを調整する手段を備
えている。

望ましくは、極限電位に比例してこれらの基準
電位を調整する手段がこの目的のために用いられ
る。

次に添付図面に沿つて、本発明を詳細に説明す
る。

第１図に示される回路は、検出器１を備えてお
り、この検出器１は複写機の適当な箇所に装着さ
れて、オリジナルのストリツプに生じる光学密度
が該検出器を通るのを測定するものである。検出
器１はアナログ増幅器２の入力に接続されてい
る。アナログ増幅器の出力は、ピーク検出器３、
レベル検出器４の反転入力、そしてレベル検出器
５の反転入力に接続されている。

単安定マルチバイブレータ６と積分器７とがレ
ベル検出器４の後に続いて接続されており、レベ
ル検出器４と共に第１検出回路８を形成する。単
安定マルチバイブレータ９と積分器１０もまた、
レベル検出器５の後に続いて接続されており、レ
ベル検出器５と共に第２検出回路１１を形成す
る。ピーク検出器３の出力は２つの加減分圧器１
２，１３に接続されている。分圧器１２の加減タ
ツピングがレベル検出器４の非反転入力に接続さ
れている。レベル検出器５の非反転入力は開閉要
素１４の接点に接続されており、開閉要素１４は
別の２つの接点で分圧器１２と１３の加減タツピ
ングに接続されている。従つて、開閉要素１４の
位置によつて、レベル検出器５は分圧器１２と１
３のいずれかに接続される。開閉要素１４を開閉
するための制御入力は、レベル検出器５の出力に
接続されている。積分器１０の出力は、直接コン
パレータ１６の非反転入力に接続されており、積
分器７の出力は加減分圧器１７を介してコンパレ
ータ１６の非反転入力に接続されている。

陽画のオリジナルを走査する間に、検出器１が
測定信号を発生し、この測定信号は増幅器２によ
り、大地電位２２に関して第２図に示される曲線
２１のような形状を有する増幅信号に変換され
る。この曲線の深い下降部は、オリジナルにおけ
る光学密度の高い映像情報（強い情報）を表わ
し、浅い下降部は光学密度の低い映像情報（弱い
情報）を表わす。ピーク検出器３が測定信号か
ら、オリジナルのバツクの光学密度の指数である
極限電位２３を選択する。極限電位２３を比例す
る第１基準電位２４が、分圧器１２を介してレベ
ル検出器４の非反転入力に印加される。極限電位
２３に比例する第２基準電位２５は、同じ方法で
レベル検出器５の非反転入力に印加される。曲線
２１で表わされる増幅された測定信号が、２つの
レベル検出器の反転入力に送られる。これらの検
出器は、増幅された測定信号が関連する基準電位
より低くなる毎にその出力に高い信号を発生し、
増幅された測定信号が関連する基準電位より高い
ときは低い信号を発生する。レベル検出器はこう
して、関連する基準電位が極限電位から離れてい
る以上に極限電位から離れている測定信号の部分
を検出する。基準電位は極限電位２３に依存した
ままであるため、第１基準電位２４は実際上、極
限電位に近い値に設定でき、オリジナルのバツク
の光学密度と関係なく弱い情報を検出することが
可能である。

第３図に示すように、レベル検出器４の出力に
発生された信号はブロツク形状２６を有し、レベ
ル検出器５の出力に発生された信号はブロツク形
状２７を有する。ブロツク形状信号２６は、検出
器により検出される全ての映像情報を表現でき、
ブロツク形状信号２７は、検出器により検出され
る強い情報を表現できるものである。第２図中Ａ
で示される第２基準電位２５周辺の小さな変化
は、レベル検出器５の出力に別には示されない。
これは高い信号がレベル検出器５の出力に発生さ
れるとき、開閉要素１４が第１基準電位２４がレ
ベル検出器５に接続されるように開閉転換するた
めである。開閉要素１４は、増幅された測定信号
が第１基準電位より高くなるまでは、その初期状
態に戻れない。従つて開閉要素１４が提供する利
点は、高い光学密度を有する映像情報において、
複数ピークをもつ測定信号を生む小さな変化は情
報の別個の項目としてではなく情報の単一項目と
して測定装置により処理される点である。

単安定マルチバイブレータ６または９によつ
て、信号の立上り面２６または２７は各々、第４
図に示されるような固定した幅と振幅のパルスに
変換される。これらのパルスは各々、積分器７ま
たは１０によつて積分された直流信号を出す。直
流信号の大地に関する電位（第５図中それぞれ２
８または２９）は、測定時間中に単安定マルチバ
イブレータ６または９の出力に発生されるパルス
の数に比例する。この２つの直流信号がコンパレ
ータ１６に送られる。加減分圧器１７が最高値に
設定されるとき、オリジナルにおける強い情報項
目の数が映像情報項目の総数に等しいかそれより
小さいかを、コンパレータ１６が指示する。その
時既に回路が１つの弱い情報項目の信号を送る。
分圧器１７の設定を変えることによつて、その回
路は、強い情報項目の数と情報項目総数との間の
異なる比率に対し、ひいては異なるパーセンテイ
ジの弱い情報に反応するようにできる。

ピーク検出器３の出力に発生された信号は、複
写機内の自動露出調整システムを制御して、望ま
しくは白い複写紙にはバツクも白い複写を生むよ
うに用いることができる。コンパレータ１６の出
力の信号が、特定パーセント以上の弱い情報が走
査したオリジナル部分で生じていることを示す場
合、その信号が自動露出調整システムに対し、ま
たは電子写真複写機では現像装置上の逆起電力に
対し、一定の補正を与えることで、あるいはまた
多くの場合、露出と前記の逆起電力が一緒に変え
られることで、弱い情報項目も可視的に残る陰の
ついたバツクをもつ複写を与えることができる。

本発明がここに記載された実施態様に限定され
るものでないことは言うまでもない。本発明によ
つていろいろな変形例が可能である。例えば、検
出器は光電池として、これが静止したオリジナル
の上を移動することでオリジナルのストリツプま
たは全体を走査するようにしても良い。他の実施
態様では、検出器が光電池の列から成り、この光
電池がオリジナルの帯を一瞬に検出して、検出し
た情報を光電池を通じてこれに連結された回路に
次々と送るようにしても良い。選択的実施態様と
して、異なる回路配置、例えば第１図の実施態様
における開閉要素１４を取り除いて、レベレ検出
器５と単安定マルチバイブレータ９の間にJKフ
リツプフロツプを用いることもできる。JKフリ
ツプフロツプは、レベル検出器４の出力信号によ
り上昇または下降する信号のジヤンプに対し閉塞
されて、次にレベル検出器４の出力信号がフリツ
プフロツプのＪまたＫ入力に接続される。

マイクロコンピユータを用いる実施態様では、
マイクロコンピユータが開閉装置として用いられ
る。これはマイクロコンピユータが、検出器回路
１１がレベル検出器４の出力が高い間は１つ以上
の情報項目を検出できないよう保証することがで
きるためである。

第１図の実施態様における積分器もまた計数器
に置き換えることができ、計数した信号部分は、
これに適合させたコンパレイタ回路内で比較され
る。もちろん、陰画オリジナル上の測定用の実施
態様も可能である。とりわけこのためには、第１
図の実施態様におけるピーク検出器３を最大値の
代りに最小値を測定するべく適合させ、分圧器１
２，１３の代りに加算装置を用いてレベル検出器
の入力を変換するようにすると良い。

透明な陰画オリジナル測定用には、ピーク検出
器とレベル検出器の入力のみ適合させて、分圧器
を加算器に置き換えることはせずに、分圧器を大
地電位にではなく検出器によつて空白測定から引
き出されるベース電位に接続するのが有利であ
る。ケース毎に空白測定を実施してそれをオリジ
ナル測定中持続することによつて、空白測定は光
源自体で、すなわち検出器と光源との間に陰画を
おくことなく実施することができる。

ベース電位を適用することによつて、検出器感
度における変化に対して、また測定に用いられる
光源の老化による光の強さの変化に対して、自動
的に回路を特定の限界内に修正することが可能と
なる。

本発明が、２つの検出回路を用いる実施態様に
制限されるものではないことは言うまでもない。
それ以上の検出回路が用いられても差しつかえな
い。このような測定装置は、強弱の情報に加え
て、普通の強さの情報を測定して、オリジナルに
生じるいろいろな情報量により陰のない、または
わずかに陰のある、またはもつと強く陰のあるバ
ツクを有する複写を作製するのに用いることも可
能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による測定装置の概略回路図、
第２〜５図は、第１図による回路におけるいろい
ろな箇所で発生される信号の形状を示すグラフで
ある。 １……検出器、２……アナログ増幅器、３……
ピーク検出器、４，５……レベル検出器、６，９
……単安定マルチバイブレータ、７，１０……積
分器、８……第１検出回路、１０……積分器、１
１……第２検出回路、１２，１３，１７……加減
分圧器、１４……開閉要素、１６……コンパレー
タ、２２……大地電位、２３……極限電位、２４
……第１基準電位、２５……第２基準電位。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ オリジナルのストリツプ上で光学濃度を検出
   して、測定した光学濃度の指標である電位パター
   ンを有する電気的測定信号を発生するための光電
   検出器と、測定信号からオリジナルの背景の光学
   濃度の指標である極限電位を選択するピーク検出
   器と、第１基準電位が極限電位から偏移する以上
   にその電位が極限電位から偏移する信号部分を測
   定信号から検出して、検出された信号部分の数の
   指標である第１出力信号を発生する第１検出回路
   と、第２基準電位が極限電位から偏移する以上に
   極限電位から偏移する信号部分を測定信号から検
   出して、検出された信号部分の指標である第２出
   力信号を発生する第２検出回路と、第１検出回路
   の出力信号と第２検出回路の出力信号とを比較す
   るための比較回路とから成り、ピーク検出器によ
   り選択された極限電位に従つて、第１および第２
   基準電位の大きさを調整する手段が備えられてい
   るオリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を
   測定する測定装置。 ２ 第１および第２基準電位を調整するための手
   段が、これらの基準電位を極限電位に比例して調
   整する特許請求の範囲第１項に記載の測定装置。 ３ 第１および第２基準電位を調整するための手
   段が、これらの基準電位の各々を極限電位から特
   定一定の基準差に調整する特許請求の範囲第１項
   に記載の測定装置。 ４ 第１基準電位が極限電位から偏移する以上に
   第２基準電位が極限電位から偏移する測定装置
   で、第２検出回路の出力信号が第１検出回路の出
   力信号の変化後１回以上変化するのを防ぐ開閉装
   置が第２検出回路に備えられている特許請求の範
   囲第１項から第３項の何れかに記載の測定装置。