KR20010004670A - 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치 - Google Patents

반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20010004670A
KR20010004670A KR1019990025373A KR19990025373A KR20010004670A KR 20010004670 A KR20010004670 A KR 20010004670A KR 1019990025373 A KR1019990025373 A KR 1019990025373A KR 19990025373 A KR19990025373 A KR 19990025373A KR 20010004670 A KR20010004670 A KR 20010004670A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
generator
signal
automatic refresh
buffer
input
Prior art date
Application number
KR1019990025373A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100324821B1 (ko
Inventor
김강용
김생환
한종희
Original Assignee
김영환
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019990025373A priority Critical patent/KR100324821B1/ko
Priority to TW089112561A priority patent/TW587249B/zh
Priority to US09/604,300 priority patent/US6292420B1/en
Priority to JP2000194828A priority patent/JP4431254B2/ja
Publication of KR20010004670A publication Critical patent/KR20010004670A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100324821B1 publication Critical patent/KR100324821B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/403Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 메모리 소자에서의 자동 리프레쉬 모드동작때의 소비 전력을 줄일 수 있도록 한 자동 리프레쉬 방법 및 장치에 관한 것으로, 자동 리프레쉬 동작중에는 입력 버퍼들의 동작을 직접 디스에이블시키거나 그 입력 버퍼들을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터의 동작을 디스에이블시킴으로써 소비 전류를 줄이게 된다.

Description

반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치{Auto refresh method of semiconductor memory device and the apparatus thereof}
본 발명은 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디램 또는 싱크로너스 디램 등과 같은 반도체 메모리 소자에서 메모리 셀의 데이터를 자동 리프레쉬하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
디램(DRAM), 에스 디램(SDRAM) 등과 같은 반도체 메모리 소자는 메모리 셀에 저장되어 있는 데이터를 안정적으로 유지시키기 위해 주기적으로 또는 비주기적으로 셀프 리프레쉬(self refresh) 또는 자동 리프레쉬(auto refresh) 명령에 의해 데이터를 리프레쉬한다.
도 1은 종래의 자동 리프레쉬 회로의 구성도이고, 도 2는 일반적인 클럭 인에이블신호에 대한 버퍼 제어신호의 생성을 설명하는 타이밍도이다.
클럭 버퍼(10)는 외부에서 입력되는 클럭신호(clk)를 버퍼링하여 입력 버퍼 제너레이터(14)로 보내고, 클럭 인에이블 버퍼(12)는 외부에서 입력되는 클럭 인에이블신호(cke)를 버퍼링하여 상기 입력 버퍼 제너레이터(14)로 보낸다. 리프레쉬 모드로 진입할 때 상기 클럭 인에이블신호(cke)가 하이레벨이면 자동 리프레쉬동작을 수행하고, 로우레벨이면 셀프 리프레쉬동작을 수행한다.
상기 입력 버퍼 제너레이터(14)는 상기 버퍼들(10,12)로부터의 신호를 받아 입력버퍼 즉, 명령 버퍼(16), 어드레스 버퍼(24), 데이터 입력 버퍼(26)를 인에이블시키거나 디스에이블시키는 제어신호(buffer_gen)를 출력한다.
상기 명령 버퍼(16)는 상기 입력 버퍼 제너레이터(14)로부터의 제어신호(buffer_gen)와 외부로부터 입력되는 TTL레벨의 칩 선택 바신호(csb), 라스바 신호(rasb), 카스바 신호(casb), 라이트 인에이블바 신호(web)를 내부적으로 사용가능한 CMOS레벨로 버퍼링하고, 명령 디코더(18)는 그 명령 버퍼(16)로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 모드로 진입하는 단계로 판단되면 그에 해당??하는 소정 레벨의 신호(aref)를 로오 액티브 제어레이터(20)로 보낸다. 이어, 지연 제너레이터(22)는 상기 로오 액티브 제너레이터(20)에서 출력되는 로오 액티브신호(row_active)를 받아 라스 사이클 타임(tRAS)만큼 지연된 신호(rRAS_delay)를 상기 로오 액티브 제너레이터(20) 로 피드백시킨다.
그런데, 통상적으로 상기 입력 버퍼(명령 버퍼(16), 어드레스 버퍼(24), 데이터 입력 버퍼(26))는 클럭 인에이블신호(cke)의 상태에 따라 입력 버퍼 제너레이터(14)에서 만들어진 제어신호(buffer_gen)에 의해 온/오프 된다. 그러므로 자동 리프레쉬 모드에서 상기 클럭 인에이블신호(cke)가 하이이므로 상기 입력 버퍼들은 여전히 제기능을 수행한다.
하나의 입력 버퍼가 온일 때 흐르는 전류는 수십 μA에서 수백 μA가 되고, 하나의 칩에는 수십개의 입력 버퍼들이 존재하므로, 이 칩이 자동 리프레쉬 모드에 있을 때 입력 버퍼로 흐르는 전류는 모두 수 mA에서 수십 mA가 된다.
따라서, 자동 리프레쉬 모드동안에는 외부 명령이 입력되는 입력 버퍼들을 인에이블시킬 필요가 없음에도 불구하고 계속 동작하고 있으므로, 불필요한 전력 소비가 발생한다.
따라서 본 발명은 상기한 종래 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 반도체 메모리 소자에서의 자동 리프레쉬 모드 동작때의 소비 전력을 줄일 수 있도록 한 자동 리프레쉬 방법 및 장치를 제공함에 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법은, 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법에 있어서,
자동 리프레쉬 모드로의 진입시 외부데이터를 입력받는 버퍼를 직접 디스에이블시키고 자동 리프레쉬를 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법은, 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법에 있어서,
자동 리프레쉬 모드로의 진입시 외부데이터를 입력받는 입력 버퍼를 제어하는 입력 버퍼 제너레이터를 디스에이블시켜 상기 입력 버퍼를 디스에이블시키고 자동 리프레쉬를 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치는, 다수의 입력 버퍼, 상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터, 상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 소정 레벨의 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더, 상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브신호를 출력하는 로오 액티브 제너레이터 및, 상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 상기 로오 액티브 제너레이터로 피드백시키는 지연 제너레이터를 구비하는 반도체 메모리 소자에 있어서,
상기 명령 디코더 및 상기 지연 제너레이터로부터의 신호를 조합하여 상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치는, 다수의 입력 버퍼,
상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 제어하는 입력 버퍼 제너레이터,
상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더,
상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브신호를 출력하는 로오 액티브 제너레이터,
상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 출력하는 지연 제너레이터 및,
상기 자동 리프레쉬 신호와 상기 지연 제너레이터로부터의 신호와의 조합에 의해 결정되는 제어신호를 이용하여 상기 다수의 입력 버퍼를 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치는, 다수의 입력 버퍼,
상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터,
상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더,
상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브신호를 출력사는 로오 액티브 제너레이터,
상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 출력하는 지연 제너레이터 및,
상기 자동 리프레쉬 신호와 상기 지연 제너레이터로부터의 신호와의 조합에 의해 결정되는 제어신호를 이용하여 상기 입력 버퍼 제너레이터를 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비한다.
도 1은 종래의 자동 리프레쉬 회로의 구성도,
도 2는 일반적인 클럭 인에이블신호에 대한 버퍼 제어신호의 생성을 설명하는 타이밍도,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도,
도 4는 본 발명에 채용되는 입력 버퍼 제너레이터의 일예에 따른 내부 회로도,
도 5는 본 발명에 채용되는 입력 버퍼 제너레이터의 다른 예에 따른 내부회로도,
도 6은 본 발명에 채용되는 입력 버퍼 제너레이터의 또다른 예에 따른 내부 회로도,
도 7은 본 발명에 채용되는 입력 버퍼 제너레이터의 또다른 예에 따른 내부 회로도,
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 입력 버퍼 제너레이터의 동작 타이밍도,
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬장치의 블록도,
도 10은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도
도 11은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도,
도 12는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도이다.
〈 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 〉
10,30,50,70,90,110 : 클럭 버퍼
12,32,52,72,92,112 : 클럭 인에이블 버퍼
14,34,54,74,94,114 : 입력 버퍼 제너레이터
16,36,56,76,96,116 : 명령 버퍼
18,38,58,78,98,118 : 명령 디코더
20,40,60,80,100,126 : 로오 액티브 제너레이터
22,42,62,88,102,128 : 지연 제너레이터
24,44,64,82,104,120 : 어드레스 버퍼
26,46,66,84,106,122 : 데이터 입력 버퍼
68,86,108,124 : 자동 리프레쉬 제너레이터
이하, 본 발명의 실시예에 대해 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도로서, 클럭 버퍼(30)는 종래와 마찬가지로 외부에서 입력되는 클럭신호(clk)를 버퍼링하여 입력 버퍼 제너레이터(34)로 보내고, 클럭 인에이블 버퍼(32)는 외부에서 입력되는 클럭 인에이블신호(cke)를 버퍼링하여 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)로 보낸다.
상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 해당 반도체 메모리 소자가 자동 리프레쉬 모드로 진입하게 됨에 따라 발생되는 후술하는 명령 디코더(38)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받게 됨에 따라 다수의 입력 버퍼 즉, 명령 버퍼(36), 어드레스 버퍼(44), 데이터 입력 버퍼(46)를 제어하는 제어신호(buffer_gen)를 출력한다.
상기 명령 버퍼(36)는 상기 입력 버퍼 제너레이터(14)로부터의 제어 신호(buffer_gen)에 의해 동작제어되고, 외부로부터 입력되는 TLL 레벨의 칩 선택 바신호(csb), 라스바 신호(rasb), 카스바 신호(casb), 라이트 인에이블바 신호(web)를 내부적으로 사용가능한 CMOS 레벨로 버퍼링한다. 상기 명령 디코더(38)는 그 명령 버퍼(36)로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 모드로 진입하는 단게로 판단되면 그에 해당하는 소정 레벨의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)와 로오 액티브 제너레이터(40)로 보낸다.
지연 제너레이터(42)에서는 상기 로오 액티브 제너레이터(20)에서 출력되는 로오 액티브신호(row_active)를 입력받아 라스 사이클 타임(tRAS)을 보장해 주는 지연기를 거쳐 지연신호(tRAS_delay)를 인에이블시킨다. 상기 지연신호(tRAS_delay)는 상기 로오 액티브 제너레이터(40)와 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)로 피드백된다.
여기서, 본 발명의 실시예에서는 자동 리프레쉬 모드로 진입하게 되면 내부적으로 자동 리프레쉬를 위한 신호(aref)와 로오 액티브신호(row_active)가 인에이블되고 일정시간 후에 로오 액티브신호(row_active)를 디스에이블시킨다. 상기 일정시간은 라스 사이클 타임(tRAS)이라는 AC 파라미터를 위한 내부적인 지연으로서 이 지연을 tRAS_delay라 한다.
그리고, 본 발명의 실시예에 따라 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 도 4∼도 7과 같이 구성될 수 있다.
도 4에 따르면, 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 상기 명령 디코더(38)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받아 지연시키는 지연기(1), 상기 지연 제너레이터(42)로부터의 신호(tRAS_delay)를 입력받아 지연시키는 지연기(2), 상기 지연기들(1,2)의 출력신호를 래칭하는 노어 게이트 로직의 래치(LT1) 및, 상기 클럭 인에블 버퍼(32)로부터의 신호(cked)와 상기 래치(LT1)의 출력신호를 입력받아 앤드처리하여 최종적인 제어신호(buffer_gen)를 생성하는 앤드로직(ND1,IV1)으로 구성된다.
여기서, 예를 들어 상기 자동 리프레쉬 신호(aref)가 인에이블되었을 때 하이이고, 상기 지연신호(tRAS_delay)가 인에이블되었을 때 로우이면 상기 지연기(1)는 짝수개의 인버터로 구성되고, 상기 지연기(2)는 홀수개의 인버터로 구성된다.
도 5에 따르면, 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 상기 명령 디코더(38)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받아 지연시키는 지연기(3), 상기 지연 제너레이터(42)로부터의 신호(tRAS_delay)를 입력받아 지연시키는 지연기(4), 상기 지연기들(3,4)의 출력신호를 래칭하는 낸드 게이트 로직의 래치(LT2)의 출력신호를 인버터(IV2)로 반전시킨 신호를 입력받아 앤드처리하여 최종적인 제어신호(buffer_gen)를 생성하는 앤드로직(ND2,IV3)으로 구성된다.
도 6에 따르면, 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 상기 명령 디코더(38)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받아 지연시키는 지연기(5), 상기 지연 제너레이터(42)로부터의 신호(tRAS_delay)를 입력받아 지연시키는 지연기(6), 상기 지연기들(5,6)의 출력신호를 래칭하는 노어 게이트 로직의 래치(LT3) 및, 상기 클럭 인에이블 버퍼(32)로부터의 신호(cked)를 인버터(IV4)에 의해 반전시킨 신호와 상기 래치(LT3)의 출력신호를 인버터(IV5)를 통해 반전시킨 신호를 입력받아 노어처리하여 최종적인 제어신호(bufer_gen)를 생성하는 노어 게이트(NOR1)로 구성된다.
도 7에 따르면, 상기 입력 버퍼 제너레이터(34)는 상기 명령 디코더(38)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받아 지연시키는 지연기(7), 상기 지연 제너레이터(42)로부터의 신호(tRAS_delay)를 입력받아 지연시키는 지연기(8),상기 지연기들(7,8)의 출력신호를 래칭하는 낸드 게이트 로직의 래치(LT4) 및, 상기 클럭 인에블 버퍼(32)로부터의 신호(cked)를 인버터(IV6)를 통해 반전시킨 신호와 상기 래치(LT4)의 출력신호를 입력받아 노어처리하여 최종적인 제어신호(buffer_gen)를 생성하는 노어 게이트(NOR2)로 구성된다.
상기한 구성으로 된 도 3의 실시예의 동작에 대해 도 8의 타이밍도를 참조하여 설명하면, 외부 자동 리프레쉬 명령(즉, cke=하이, csb=로우, rasb=로우, web=하이)에 의해 명령 디코더(38)의 출력신호(aref)가 인에이블된다. 이 출력신호(aref)에 의해 로오 액티브 제너레이터(40)에서 로오 액티브를 인에이블시키고, 입력 버퍼 제너레이터(34)에서의 출력신호(buffer_gen)는 디스에이블된다. 지연 제너레이터(42)에서는 인에이블된 로오 액티브신호(row_active)를 받아 라스 사이클 타임(tRAS)을 보장해주는 지연기를 거쳐 출력신호(tRAS_delay)를 인에이블시키고, 입력 버퍼 제너레이터(34)에서 출력신호(buffer_gen)를 인에이블시켜 외부 자동 리프레쉬 명령이 입력된 시점에서 tRC 후에 입력되는 외부 명령을 위해 입력 버퍼(즉, 명령 버퍼(36), 어드레스 버퍼(44), 데이터 입력 버퍼(46))를 온시키게 된다.
도 9는 본 발명의 다른 실시에에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도로서, 도 3의 구성과 거의 유사하고 차이나는 점은 자동 리프레쉬 제너레이터(68)를 추가로 구비한다는 것이 차이난다. 상기 자동 리프레쉬 제너레이터(68)는 명령 디코더(58)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)와 지연 제너레이터(62)로 부터의 시호(tRAS_delay)를 입력받아 제어신호(aref-gen)를 생성한다.
이 제어신호(aref_gen)는 입력 버퍼들(즉, 명령버퍼(76), 어드레스 버퍼(82), 데이터 입력 버퍼(84))로 입력되어 입력 버퍼 제너레이터(74)에서의 제어신호(buffer_gen)와 함께 상기 입력 버퍼들을 제어한다.
즉, 상기 제어신호(buffer_gen)와 제어신호(aref_gen)가 모두 인에이블될때만 상기 입력 버퍼들의 동작을 인에이블시키고, 상기 제어신호(buffer_gen)와 제어신호(aref_gen)중에서 어느 하나만 디스에이블되어도 상기 입력 버퍼들의 동작을 디스에이블시킨다.
도 10은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도로서, 상술한 도 9와 구성요소의 수에서는 동일하지만 상호 연관관계에서 차이난다.
즉, 도 10에서 자동 리프레쉬 제너레이터(86)는 명령 디코더(78)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받음에 따라 인에이블된 제어신호(aref-gen)를 출력시킨다. 이때 상기 자동 리프레쉬 제너레이터(86)는 그 제어신호(aref-gen)와는 다른 하나의 신호를 인에이블시켜 지연 제너레이터(88)로 보낸다. 여기서 상기 제어신호(aref-gen)와는 다른 하나의 신호를 상기 제어신호(aref-gen)로 하여도 무방하다.
이 신호가 지연 제너레이터(88)로 입력됨에 따라 지연기를 거친 출력신호(tRAS_delay)가 자동 리프레쉬 제너레이터(86)로 피드백되어 그 자동 리프레쉬 제너레이터(86)의 출력신호(aref-gen)를 디스에이블시킨다.
상기 제어신호(aref-gen)는 입력 버퍼들(즉, 명령 버퍼(70), 어드레스 버퍼(82), 데이터 입력 버퍼(84))과 로오 액티브 제너레이터(80)로 입력되어 이들 회로를 제어한다.
도 11은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도로서, 도 9의 구성과 거의 유사하고 다만 차이나는 점은 도 9의 경우 자동 리프레쉬 제너레이터(68)에서의 제어신호(aref-gen)를 입력 버퍼들(명령 버퍼(56), 어드레스 버퍼(64), 데이터 입력 버퍼(66))로 입력되게 하였으나, 도 11에서는 입력 버퍼 제너레이터(94)로 입력되게 하여 그 입력 버퍼 제너레이터(94)의 출력신호(buffer-gen)를 제어하도록 하였다.
즉, 도 11에서는 클럭 인에이블신호(cke)가 로우이거나 제어신호(aref-gen)가 인에이블되면 상기 입력 버퍼 제너레이터(94)에서 출력되는 제어신호(buffer-gen)는 디스에이블되고, 그로 인해 입력 버퍼들(즉, 명령 버퍼(96), 어드레스(104), 데이터 입력 버퍼(106))의 동작이 디스에이블된다. 그 외에는 상기 제어신호(buffer_gen)을 인에이블시킨다.
도 12는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치의 블록도로서, 도 10의 구성과 거의 유사하고 다만 차이나는 점은 도 10의 경우 자동 리프레쉬 제너레이터(86)에서의 제어신호(aref-gen)를 입력 버퍼들(명령버퍼(76), 어드레스 버퍼(82), 데이터 입력 버퍼(84))로 입력되게 하였으나, 도 12에서는 입력 버퍼 제너레이터(114)로 입력되게 하여 그 입력 버퍼 제너레이터(114)의 출력신호(buffer-gen)를 제어하도록 하였다.
즉, 도 12에서는 자동 리프레쉬 제너레이터(124)는 명령 디코더(118)로부터의 자동 리프레쉬 신호(aref)를 입력받음에 따라 인에이블된 제어신호(aref-gen)를 출력시킨다. 이때, 상기 자동 리프레쉬 제너레이터(124)는 그 제어신호(aref-gen)와는 다른 하나의 신호를 인에이블시켜 지연 제너레이터(128)로 보낸다. 여기서 상기 제어신호(aref-gen)와는 다른 하나의 신호를 상기 제어신호(aref-gen)로 하여도 무방하다.
이 신호가 지연 제너레이터(128)로 입력됨에 따라 지연기를 거친 출력신호(tRAS_delay)가 자동 리프레쉬 제너레이터(124)로 피드백되어 그 자동 리프레쉬 제너레이터(124)의 출력신호(aref-gen)를 디스에이블시킨다.
상기 제어신호(aref-gen)는 입력 버퍼들(즉, 명령 버퍼(116), 어드레스 버퍼(120), 데이터 입력 버퍼(122))과 로오 액티브 제너레이터(126)로 입력되어 이들 회로를 제어한다.
이상 설명한 바와 같은 본 발명에 의하면, 자동 리프레쉬 동작중에는 입력버퍼들의 동작을 직접 제어한다거나 그 입력 버퍼들을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터의 동작을 제어함으로써, 소비 전류를 줄일 수 있게 된다.
한편 본 발명은 상술한 실시예로만 한정되는 것이 아니라 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 수정 및 변형하여 실시할 수 있다.

Claims (12)

  1. 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법에 있어서,
    자동 리프레쉬 모드로의 진입시 외부데이터를 입력받는 버퍼를 직접 디스에이블시키고 자동 리프레쉬를 행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법
  2. 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법에 있어서,
    자동 리프레쉬 모드로의 진입시 외부데이터를 입력받는 입력 버퍼를 제어하는 입력 버퍼 제너레이터를 디스에이블시켜 상기 입력 버퍼를 디스에이블시키고 자동 리프레쉬를 행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 입력 버퍼 제너레이터에 대한 동작제어는 상기 자동 리프레쉬 모드로의 진입시 발생되는 자동 리프레쉬 신호와, 상기 자동 리프레쉬 모드에 따른 라스 사이클 타임을 보장하는 지연기를 거친 지연신호를 조합하여 행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 자동 리프레쉬 신호가 외부 자동 리프레쉬 명령에 의해 인에이블되면 상기 입력 버퍼 제너레이터를 디스에이블시키고, 상기 지연신호가 인에이블됨에 따라 상기 입력 버퍼 제너레이터를 인에이블시키는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법
  5. 다수의 입력 버퍼,
    상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 입력 버퍼 제어레이터,
    상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 소정 레벨의 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더,
    상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브 신호를 출력하는 로오 액티브 제너레이터 및,
    상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 상기 로오 액티브 제너레이터로 피드백시키는 지연 제너레이터를 구비하는 반도체 메모리 소자에 있어서,
    상기 명령 디코더 및 상기 지연 제너레이터로부터의 신호를 조합하여 상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 다수의 입력 버퍼는 상기 입력 버퍼 제너레이터로부터의 신호와 상기 자동 리프레쉬 제너레이터로부터의 신호가 모두 인에이블되었을때만 동작 인에이블되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  7. 다수의 입력 버퍼,
    상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터,
    상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더,
    상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브 신호를 출력하는 로오 액티브 제너레이터,
    상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 출력하는 지연 제너레이터 및,
    상기 자동 리프레쉬 신호와 상기 지연 제너레이터로부터의 신호와의 조합에 의해 결정되는 제어신호를 이용하여 상기 다수의 입력 버퍼를 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 자동 리프레쉬 제너레이터는 상기 다수의 입력 버퍼를 디스에이블시킨후 상기 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호가 인에이블되면 상기 다수의 입력 버퍼를 인에이블시키는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  9. 제 7항에 있어서,
    상기 자동 리프레쉬 제너레이터는 상기 다수의 입력 버퍼를 제어할 때 상기 로오 액티브 제너레이터의 동작도 함께 제어하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  10. 다수의 입력 버퍼,
    상기 다수의 입력 버퍼의 동작을 제어하는 입력 버퍼 제너레이터,
    상기 다수의 입력 버퍼중에서 명령 버퍼로부터의 신호를 해독하여 자동 리프레쉬 신호를 출력하는 명령 디코더,
    상기 자동 리프레쉬 신호가 인에이블됨에 따라 로오 액티브신호를 출력하는 로오 액티브 제너레이터,
    상기 로오 액티브신호에 따라 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호를 출력하는 지연 제너레이터 및,
    상기 자동 리프레쉬 신호와 상기 지연 제너레이터로부터의 신호와의 조합에 의해 결정되는 제어신호를 이용하여 상기 입력 버퍼 제너레이터를 제어하는 자동 리프레쉬 제너레이터를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 자동 리프레쉬 제너레이터는 상기 입력 버퍼 제너레이터를 디스에이스블시켜 상기 다수의 입력 버퍼를 디스에이블시킨 후 상기 라스 사이클 타임만큼 지연된 신호가 인에이블되면 상기 입력 버퍼 제너레이터를 인에이블시키는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 자동 리프레쉬 제너레이터는 상기 입력 버퍼 제너레이터를 제어할 때 상기 로오 액티브 제너레이터의 동작도 함께 제어하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 장치.
KR1019990025373A 1999-06-29 1999-06-29 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치 KR100324821B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990025373A KR100324821B1 (ko) 1999-06-29 1999-06-29 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치
TW089112561A TW587249B (en) 1999-06-29 2000-06-23 Method and device for automatically performing refresh operation in semiconductor memory device
US09/604,300 US6292420B1 (en) 1999-06-29 2000-06-26 Method and device for automatically performing refresh operation in semiconductor memory device
JP2000194828A JP4431254B2 (ja) 1999-06-29 2000-06-28 半導体メモリ素子の自動リフレッシュ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990025373A KR100324821B1 (ko) 1999-06-29 1999-06-29 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010004670A true KR20010004670A (ko) 2001-01-15
KR100324821B1 KR100324821B1 (ko) 2002-02-28

Family

ID=19597076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990025373A KR100324821B1 (ko) 1999-06-29 1999-06-29 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6292420B1 (ko)
JP (1) JP4431254B2 (ko)
KR (1) KR100324821B1 (ko)
TW (1) TW587249B (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100408719B1 (ko) * 2001-06-25 2003-12-11 주식회사 하이닉스반도체 클럭을 이용한 tRAS 딜레이 제어 장치
KR100779871B1 (ko) * 2001-10-18 2007-11-27 마이크론 테크놀로지 인코포레이티드 동적 랜덤 액세스 메모리용 저전력 오토-리프레쉬 회로 및방법
KR100849063B1 (ko) * 2002-06-28 2008-07-30 주식회사 하이닉스반도체 자동 리프레쉬 로우 사이클 시간에 뱅크 액티브 신호를최적화하는 회로 및 방법
KR100884609B1 (ko) * 2007-09-12 2009-02-19 주식회사 하이닉스반도체 메모리장치의 버퍼제어회로
KR100945940B1 (ko) * 2008-06-27 2010-03-05 주식회사 하이닉스반도체 리프레쉬 신호 생성 회로

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100363481B1 (ko) * 2000-06-23 2002-11-30 주식회사 하이닉스반도체 입력 버퍼 제어 장치
US6731548B2 (en) * 2002-06-07 2004-05-04 Micron Technology, Inc. Reduced power registered memory module and method
KR100557590B1 (ko) * 2002-12-26 2006-03-03 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 오토 리프레시 제어회로
KR100529038B1 (ko) * 2003-04-30 2005-11-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자
CN100397529C (zh) * 2003-05-14 2008-06-25 凌阳科技股份有限公司 省电的静态存储器控制电路
KR100642414B1 (ko) 2004-04-20 2006-11-03 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 제어 회로
KR100616199B1 (ko) * 2004-12-06 2006-08-25 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 전압 발생 제어회로 및 방법
KR100706830B1 (ko) * 2005-10-19 2007-04-13 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 액티브 구간 제어장치 및 방법
US7733731B2 (en) 2007-03-05 2010-06-08 Micron Technology, Inc. Control of inputs to a memory device
KR100920843B1 (ko) * 2008-05-09 2009-10-08 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 오토리프레쉬 동작 제어회로
KR101047002B1 (ko) * 2009-06-26 2011-07-06 주식회사 하이닉스반도체 데이터버퍼 제어회로 및 반도체 메모리 장치
TWI449042B (zh) * 2010-02-25 2014-08-11 Elite Semiconductor Esmt 半導體記憶元件之自我更新電路及其方法
US9488530B2 (en) * 2013-10-23 2016-11-08 National Kaohsiung First University Of Science And Technology Time-domain temperature sensing system with a digital output and method thereof

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2607394B2 (ja) 1990-11-01 1997-05-07 株式会社日立製作所 非反転バッファ装置および半導体記憶装置
JP2977385B2 (ja) 1992-08-31 1999-11-15 株式会社東芝 ダイナミックメモリ装置
US5710741A (en) 1994-03-11 1998-01-20 Micron Technology, Inc. Power up intialization circuit responding to an input signal
JPH08297969A (ja) 1995-04-26 1996-11-12 Mitsubishi Electric Corp ダイナミック型半導体記憶装置
JPH09167488A (ja) 1995-12-18 1997-06-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP3825862B2 (ja) 1997-02-27 2006-09-27 株式会社ルネサステクノロジ 同期型ダイナミック型半導体記憶装置
JPH10241398A (ja) 1997-02-28 1998-09-11 Nec Corp 半導体メモリ装置
US5999481A (en) * 1997-08-22 1999-12-07 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for controlling the operation of an integrated circuit responsive to out-of-synchronism control signals
US5986964A (en) * 1998-11-02 1999-11-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device consistently operating a plurality of memory cell arrays distributed in arrangement
JP3266127B2 (ja) * 1999-01-25 2002-03-18 日本電気株式会社 同期式半導体記憶装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100408719B1 (ko) * 2001-06-25 2003-12-11 주식회사 하이닉스반도체 클럭을 이용한 tRAS 딜레이 제어 장치
KR100779871B1 (ko) * 2001-10-18 2007-11-27 마이크론 테크놀로지 인코포레이티드 동적 랜덤 액세스 메모리용 저전력 오토-리프레쉬 회로 및방법
KR100849063B1 (ko) * 2002-06-28 2008-07-30 주식회사 하이닉스반도체 자동 리프레쉬 로우 사이클 시간에 뱅크 액티브 신호를최적화하는 회로 및 방법
KR100884609B1 (ko) * 2007-09-12 2009-02-19 주식회사 하이닉스반도체 메모리장치의 버퍼제어회로
US7760557B2 (en) 2007-09-12 2010-07-20 Hynix Semiconductor Inc. Buffer control circuit of memory device
US7961528B2 (en) 2007-09-12 2011-06-14 Hynix Semiconductor Inc. Buffer control circuit of memory device
KR100945940B1 (ko) * 2008-06-27 2010-03-05 주식회사 하이닉스반도체 리프레쉬 신호 생성 회로
US7903491B2 (en) 2008-06-27 2011-03-08 Hynix Semiconductor Inc. Refresh signal generating circuit
US8050128B2 (en) 2008-06-27 2011-11-01 Hynix Semiconductor Inc. Refresh signal generating circuit
US8189418B2 (en) 2008-06-27 2012-05-29 Hynix Semiconductor Inc. Refresh signal generating circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP4431254B2 (ja) 2010-03-10
TW587249B (en) 2004-05-11
KR100324821B1 (ko) 2002-02-28
JP2001035150A (ja) 2001-02-09
US6292420B1 (en) 2001-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100324821B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치
KR100415092B1 (ko) 모드 레지스터를 갖는 반도체 메모리 장치 및 상기 반도체메모리 장치에서의 디프 파워 다운 모드의 제어 방법
US20010043507A1 (en) Synchronous semiconductor memory device capable of high speed reading and writing
JP2001014845A (ja) 同期型半導体メモリシステム
JP2000156082A (ja) 半導体記憶装置
US20040027900A1 (en) Semiconductor memory device and system outputting refresh flag
KR20040100439A (ko) 동기식 반도체 메모리 소자
KR100616199B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 전압 발생 제어회로 및 방법
US6636443B2 (en) Semiconductor memory device having row buffers
KR100338967B1 (ko) 클럭 동기 시스템
JP2022144926A (ja) 半導体メモリ装置
US20120025871A1 (en) Semiconductor device and method for operating the same
KR20000008778A (ko) 라스 액세스 시간 제어 회로
KR100772540B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR20060135227A (ko) 메모리 장치의 커맨드 버퍼 제어 방법
KR100324819B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 리프레쉬 장치
US6084822A (en) Semiconductor synchronous memory device responsive to external masking signal for forcing data port to enter into high-impedance state and method for controlling the same
KR101039859B1 (ko) 반도체 메모리 장치
US7652933B2 (en) Voltage generating circuit of semiconductor memory apparatus capable of reducing power consumption
KR100695512B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR100802075B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR100437607B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 리프레쉬 발생회로
KR100557572B1 (ko) 전력소모를 방지한 데이터 리프레쉬 입력장치
US6075747A (en) Method of controlling a row address strobe path
KR20120064328A (ko) 반도체 메모리 장치 및 그 동작방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130128

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140122

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150121

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160121

Year of fee payment: 15