KR20000008778A - 라스 액세스 시간 제어 회로 - Google Patents

라스 액세스 시간 제어 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR20000008778A
KR20000008778A KR1019980028742A KR19980028742A KR20000008778A KR 20000008778 A KR20000008778 A KR 20000008778A KR 1019980028742 A KR1019980028742 A KR 1019980028742A KR 19980028742 A KR19980028742 A KR 19980028742A KR 20000008778 A KR20000008778 A KR 20000008778A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
precharge
ras
auto
access time
Prior art date
Application number
KR1019980028742A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100305021B1 (ko
Inventor
김미영
Original Assignee
김영환
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019980028742A priority Critical patent/KR100305021B1/ko
Publication of KR20000008778A publication Critical patent/KR20000008778A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100305021B1 publication Critical patent/KR100305021B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 메모리의 로오 어드레스에 관한 것으로, 특히 액티브 명령이 들어오면 라스 액세스 시간(tRAS)이 지난 이후에 지연 신호(SDLY)를 발생시켜서 내부적으로 발생되는 자동 프리차지 신호를 제어함으로써, 라스 액세스 시간안에 워드라인이 디스에이블 되는 것을 방지할 수 있도록, 반도체 메모리의 로오 어드레스 신호를 발생시키는 회로에 있어서, 뱅크 어드레스 신호(BA), 프리차지 신호(PCG), 액티브 신호(ACT), 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 입력 받아 로오 어드레스 신호(RAS)를 출력하는 라스 발생부와 ; 상기 라스 발생부로 부터 출력되는 로오 어드레스 신호(RAS)를 라스 액세스 시간(tRAS) 만큼 지연시킨 지연 신호(SDLY)를 출력하는 지연 회로부 ; 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)이 들어와 리드 또는 라이트 동작을 수행한 후, 자동 프리차지 신호(APCG)를 출력하는 자동 프리차지부 ; 및 상기 지연 회로부로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력 받아 논리 연산하여 상기 라스 발생부를 제어하기 위한 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 출력하는 제어 회로부를 구비한, 라스 액세스 시간 제어 회로에 관한 것이다.

Description

라스 액세스 시간 제어 회로
본 발명은 반도체 메모리의 로오 어드레스에 관한 것으로, 특히 액티브 명령이 들어오면 라스 액세스 시간(tRAS)이 지난 이후에 지연 신호(SDLY)를 발생시켜서 내부적으로 발생되는 자동 프리차지 신호를 제어함으로써, 라스 액세스 시간안에 워드라인이 디스에이블 되는 것을 방지할 수 있도록 한 라스 액세스 시간 제어 회로에 관한 것이다.
일반적으로, 로오 어드레스 신호(Row Address Strobe 이하 RAS 라 칭함)가 활성화 된 순간부터 디램(DRAM)에서 데이터가 읽혀지는 경로는, 로오 어드레스 신호(RAS)가 입력되어 로오 어드레스 버퍼에서 생성된 제어 신호에 의해 로오 어드레스 버퍼가 활성화되고, 이를 통해 X-어드레스를 받아들여 디코더로 전송한다.
이에 해당하는 워드라인을 활성화시켜 셀의 데이터를 완전히 재저장(restore) 시킨 후, 다시 프리차지(precharge) 시킬 수 있을때까지의 소요 시간을 라스 액세스 시간(tRAS)이라 한다.
종래의 라스 액세스 시간(tRAS)의 동작을 도 1 에 도시된 바와 같은 타이밍도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 액티브 명령(Active Command 이하 ACT 라 칭함)이 도 1 의 (가)에 도시된 바와 같이 4번째 클럭(CLK)에서 들어오고, tRCD(여기에서는 2 CLK 이라고 하자) 후에 6번째 클럭(CLK)에서 자동 프리차지 리드 명령(Read with Autoprecharge 이하 RDwP 라 칭함)이 들어온다.
이때, 버스트 랭스(Burst Length 이하 BL 라 칭함)가 "1"이라고 하면(BL=1), 6번째 클럭(CLK)에서 리드(Read)를 한 후에, 도 1 의 (다)에 도시된 바와 같이 7번째 클럭(CLK)에서 프리차지(precharge 이하 PCG 라 칭함)를 시작하게 되므로, 라스 액세스 시간(tRAS)을 만족하지 못하게 된다.
도 1 의 (나)에 도시된 바와 같이 로오 어드레스 신호(RAS)가 액티브되어 있는 시간이 라스 액세스 시간(tRAS)을 만족하지 못하면, 셀 데이터가 충분히 리스토어(Restore)되지 못하므로 셀 데이터의 보유 시간(retention time)에 영향을 미치게 되어 데이터 손실을 가져오게 되는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제 문제점 들을 해소시키기 위하여 창안된 것으로, 액티브 명령이 들어오면 라스 액세스 시간(tRAS)이 지난 이후에 지연 신호(SDLY)를 발생시켜서 내부적으로 발생되는 자동 프리차지 신호를 제어함으로써, 라스 액세스 시간안에 워드라인이 디스에이블 되는 것을 방지할 수 있도록 한 라스 액세스 시간 제어 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1 의 (가) 내지 (다)는 일반적인 라스 액세스 시간(tRAS)의 동작 타이밍도,
도 2 는 본 발명에 따른 라스 액세스 시간 제어 회로도,
도 3 의 (가) 내지 (마)는 도 2 에 대한 입출력 타이밍도이다.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
1 : 라스 발생부 2 : 지연 회로부
3 : 자동 프리차지부 4 : 제어 회로부
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 반도체 메모리의 로오 어드레스 신호를 발생시키는 회로에 있어서, 뱅크 어드레스 신호(BA), 프리차지 신호(PCG), 액티브 신호(ACT), 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 입력 받아 로오 어드레스 신호(RAS)를 출력하는 라스 발생부와 ; 상기 라스 발생부로 부터 출력되는 로오 어드레스 신호(RAS)를 라스 액세스 시간(tRAS) 만큼 지연시킨 지연 신호(SDLY)를 출력하는 지연 회로부 ; 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)이 들어와 리드 또는 라이트 동작을 수행한 후, 자동 프리차지 신호(APCG)를 출력하는 자동 프리차지부 ; 및 상기 지연 회로부로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력 받아 논리 연산하여 상기 라스 발생부를 제어하기 위한 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 출력하는 제어 회로부를 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(Write with Autoprecharge 이하 WRwP 라 칭함)의 경우에 리드 또는 라이트 명령을 수행하고 나서 프리차지(PCG)가 될 때 제어 신호를 첨가하여 이 제어 신호의 제어를 받게 한다.
이러한 제어 블럭은 액티브 명령으로 부터 라스 액세스 시간(tRAS)이 지난 후에 인에이블(enable) 되는 신호를 발생하게 한다.
이 신호에 의해 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)의 프리차지 신호(PCG)가 라스 액세스 시간(tRAS) 이전에는 로오 어드레스 신호(RAS)를 디스에이블(disable) 시키지 못하게 하므로써, 라스 액세스 시간(tRAS) 이전에 워드라인(Word Line 이하 WL 이라 칭함)이 디스에이블 되는 것을 막아준다.
본 발명에 따른 동작 원리를 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 라스 액세스 시간 제어 회로는 도 2 에 도시한 바와 같이, 반도체 메모리의 로오 어드레스 신호를 발생시키는 회로에 있어서, 뱅크 어드레스 신호(BA), 프리차지 신호(PCG), 액티브 신호(ACT), 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 입력 받아 로오 어드레스 신호(RAS)를 출력하는 라스 발생부(1)와 ; 상기 라스 발생부(1)로 부터 출력되는 로오 어드레스 신호(RAS)를 라스 액세스 시간(tRAS) 만큼 지연시킨 지연 신호(SDLY)를 출력하는 지연 회로부(2) ; 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)이 들어와 리드 또는 라이트 동작을 수행한 후, 자동 프리차지 신호(APCG)를 출력하는 자동 프리차지부(3) ; 및 상기 지연 회로부(2)로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부(3)로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력 받아 논리 연산하여 상기 라스 발생부(1)를 제어하기 위한 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 출력하는 제어 회로부(4)를 구비한다.
상기 제어 회로부(4)는 상기 지연 회로부(2)로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부(3)로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력으로 논리 연산하는 논리 소자(NAND1)로 구성한다.
먼저, 라스 발생부(1)로 도 3 의 (가)와 같이 액티브 명령(Active Command 이하 ACT 라 칭함)이 들어오면, 뱅크 어드레스(Bank Address 이하 BA 라 칭함)에 해당하는 뱅크의 로오 어드레스 신호(RAS)가 도 3 의 (나)와 같이 액티브된다.
상기와 같이 라스 발생부(1)로 부터 발생된 도 3 의 (나)와 같은 로오 어드레스 신호(RAS)는, 워드라인(WL)을 인에이블 시키는 로오 경로(Row Path)로 들어간다.
액티브 명령(ACT) 이후에, 자동 프리차지부(3)로 자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)이 들어와 리드 또는 라이트 동작을 수행한 후, 상기 자동 프리차지부(3)는 자동 프리차지 동작을 수행하기 위해 도 3 의 (라)와 같은 자동 프리차지 신호(APCG)를 발생시킨다.
이러한 자동 프리차지 신호(APCG)가 도 3 의 (마)와 같은 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 바로 "로우"로 디스에이블 시키는 것이 아니라, 지연 회로부(2)로 부터 출력되는 도 3 의 (다)와 같은 지연 신호(SDLY)의 제어를 받는다.
상기 지연 회로부(2)로 부터 도 3 의 (다)와 같이 출력되는 지연 신호(SDLY)는 제어 회로부(4)로 입력된다.
여기서, 상기 지연 신호(SDLY)는 도 3 의 (다)에 도시한 바와 같이, 라스 액세스 시간(tRAS) 만큼의 지연시간을 갖는 상기 지연 회로부(2)의 출력으로, 상기 라스 발생부(1)로 부터 출력되는 로오 어드레스 신호(RAS)가 도 3 의 (나)와 같이 인에이블된 이후, 라스 액세스 시간(tRAS) 후에 인에이블 된다.
따라서, 도 3 의 (라)에 도시한 바와 같이 자동 프리차지 신호(APCG)가 발생한 시점이 라스 액세스 시간(tRAS) 이전이라면, 도 3 의 (다)에 도시한 바와 같이 지연 신호(SDLY)가 "로우"이어서, 상기 제어 회로부(4)의 논리 소자(NAND1)의 논리 연산에 의해 도 3 의 (마)에 도시한 바와 같이 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 "하이"로 유지하고 있는다.
한편 상기와 같은 상태에서, 상기 지연 회로부(2)로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)가 도 3 의 (다)에 도시한 바와 같이 "하이"로 되면, 상기 제어 회로부(4)의 논리 소자(NAND1)의 논리 연산에 의해 도 3 의 (마)에 도시한 바와 같이 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 "로우"로 만들면서, 도 3 의 (나)에 도시한 바와 같이 로오 어드레스 신호(RAS)를 디스에이블 시킨다.
따라서, 라스 액세스 시간(tRAS) 이전에 로오 어드레스 신호(RAS)를 디스에이블 시키는 종래의 문제점을 해결할 수 있다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명은, 액티브 명령이 들어오면 라스 액세스 시간(tRAS)이 지난 이후에 지연 신호(SDLY)를 발생시켜서 내부적으로 발생되는 자동 프리차지 신호를 제어함으로써, 라스 액세스 시간안에 워드라인이 디스에이블 되는 것을 방지할 수 있으며, 이로 인하여 라스 액세스 시간(tRAS) 이전에 로오 어드레스 신호(RAS)가 디스에이블 되어 셀 데이터가 손실되는 로직 불량(Logic Fail)을 막을 수 있다.
아울러, 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (3)

  1. 반도체 메모리의 로오 어드레스 신호를 발생시키는 회로에 있어서,
    뱅크 어드레스 신호(BA), 프리차지 신호(PCG), 액티브 신호(ACT), 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 입력 받아 로오 어드레스 신호(RAS)를 출력하는 라스 발생부와 ;
    상기 라스 발생부로 부터 출력되는 로오 어드레스 신호(RAS)를 라스 액세스 시간(tRAS) 만큼 지연시킨 지연 신호(SDLY)를 출력하는 지연 회로부 ;
    자동 프리차지 리드 명령(RDwP) 또는 자동 프리차지 라이트 명령(WRwP)이 들어와 리드 또는 라이트 동작을 수행한 후, 자동 프리차지 신호(APCG)를 출력하는 자동 프리차지부 ; 및
    상기 지연 회로부로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력 받아 논리 연산하여 상기 라스 발생부를 제어하기 위한 라스 프리차지 신호(RAS_PCG)를 출력하는 제어 회로부를 구비한 것을 특징으로 하는 라스 액세스 시간 제어 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 회로부는,
    상기 지연 회로부로 부터 출력되는 지연 신호(SDLY)와 자동 프리차지부로 부터 출력되는 자동 프리차지 신호(APCG)를 입력으로 논리 연산하는 논리 소자로 구성한 것을 특징으로 하는 라스 액세스 시간 제어 회로.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 논리 소자는 낸드 게이트로 이루어진 것을 특징으로 하는 라스 액세스 시간 제어 회로.
KR1019980028742A 1998-07-15 1998-07-15 라스 액세스 시간 제어 회로 KR100305021B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980028742A KR100305021B1 (ko) 1998-07-15 1998-07-15 라스 액세스 시간 제어 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980028742A KR100305021B1 (ko) 1998-07-15 1998-07-15 라스 액세스 시간 제어 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000008778A true KR20000008778A (ko) 2000-02-15
KR100305021B1 KR100305021B1 (ko) 2001-10-19

Family

ID=19544396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980028742A KR100305021B1 (ko) 1998-07-15 1998-07-15 라스 액세스 시간 제어 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100305021B1 (ko)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100363480B1 (ko) * 2000-07-20 2002-12-05 주식회사 하이닉스반도체 오토 프리차지 제어 회로
KR100419270B1 (ko) * 2000-06-28 2004-02-19 가부시끼가이샤 도시바 반도체 메모리
KR100439046B1 (ko) * 2001-06-29 2004-07-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 오토프리차지회로
KR100543208B1 (ko) * 2000-12-22 2006-01-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리소자의 프리차아지신호 발생회로
KR100649826B1 (ko) * 1999-12-30 2006-11-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 오토 프리차지장치
US7167948B2 (en) 2003-04-30 2007-01-23 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
KR100746620B1 (ko) * 2006-06-29 2007-08-08 주식회사 하이닉스반도체 오토프리차지 신호 생성회로
KR100761380B1 (ko) * 2006-06-29 2007-09-27 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100950474B1 (ko) * 2007-12-28 2010-03-31 주식회사 하이닉스반도체 라스 타임 제어 회로

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100649826B1 (ko) * 1999-12-30 2006-11-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 오토 프리차지장치
KR100419270B1 (ko) * 2000-06-28 2004-02-19 가부시끼가이샤 도시바 반도체 메모리
KR100363480B1 (ko) * 2000-07-20 2002-12-05 주식회사 하이닉스반도체 오토 프리차지 제어 회로
KR100543208B1 (ko) * 2000-12-22 2006-01-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리소자의 프리차아지신호 발생회로
KR100439046B1 (ko) * 2001-06-29 2004-07-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 오토프리차지회로
US7167948B2 (en) 2003-04-30 2007-01-23 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
KR100746620B1 (ko) * 2006-06-29 2007-08-08 주식회사 하이닉스반도체 오토프리차지 신호 생성회로
KR100761380B1 (ko) * 2006-06-29 2007-09-27 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
US7436719B2 (en) 2006-06-29 2008-10-14 Hynix Semiconductor Inc. Auto-precharge signal generating circuit
KR100950474B1 (ko) * 2007-12-28 2010-03-31 주식회사 하이닉스반도체 라스 타임 제어 회로

Also Published As

Publication number Publication date
KR100305021B1 (ko) 2001-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100233973B1 (ko) 동기형 반도체 기억 장치
KR20040100439A (ko) 동기식 반도체 메모리 소자
US6529423B1 (en) Internal clock signal delay circuit and method for delaying internal clock signal in semiconductor device
US6192003B1 (en) Semiconductor memory device using a relatively low-speed clock frequency and capable of latching a row address and a column address with one clock signal and performing a page operation
USRE35065E (en) Control circuit for a semiconductor memory device and semiconductor memory system
KR100424118B1 (ko) 클럭 신호의 주파수 정보를 이용하여 셀 동작을 제어하는동기식 반도체 메모리 장치
KR100305021B1 (ko) 라스 액세스 시간 제어 회로
KR20050111522A (ko) 반도체 메모리
KR100419270B1 (ko) 반도체 메모리
US6026041A (en) Semiconductor memory device
KR100650730B1 (ko) 메모리 장치의 프리차지 타이밍 제어 방법 및 그 장치
KR20000008774A (ko) 동기식 디램의 자동 프리차지 장치
KR100353484B1 (ko) 컬럼 게이트를 갖는 반도체 메모리 및 컬럼 게이트의 제어 방법
KR100286346B1 (ko) 에스디램의 리프레쉬 회로
KR100480553B1 (ko) 디램장치의리프레쉬제어방법
KR100381969B1 (ko) 데이타 리드장치
KR20060106343A (ko) 반도체 메모리 소자의 로우 액티브 시간 제어회로
JPH087562A (ja) ダイナミックランダムアクセスメモリ
KR100922880B1 (ko) 반도체 메모리소자의 오토프리차지 제어회로 및 방법
KR100378687B1 (ko) 반도체 메모리 장치와 그의 프리차지 방법
KR100219563B1 (ko) 고주파수에서 리스토어 타임을 보상하는 반도체 메모리장치
KR100640577B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 리후레쉬 제어회로
KR20000003582A (ko) 로오 어드레스 스트로브 경로 제어방법
KR20050067449A (ko) 반도체 메모리 소자의 로우 액티브 시간 제어회로
KR100403345B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 라이트 동작회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100624

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee