KR101239035B1 - 터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법 - Google Patents

터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법 Download PDF

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히로시 하세가와
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후지쯔 콤포넌트 가부시끼가이샤
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Abstract

[과제] 2점이 동시에 접촉한 경우에도 용이하게 측정할 수 있는 터치 패널에서의 위치 검출 방법을 제공한다.
[해결수단] 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막을 갖는 터치 패널의 위치 검출 방법에 있어서, 상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위를 측정하는 제1 측정 공정과, 상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위를 측정하는 제2 측정 공정과, 상기 제1 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 제3 측정 공정과, 상기 제3 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 제4 측정 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법을 제공함으로써 상기 과제를 해결한다.

Description

터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법{METHOD FOR DETECTING POSITION IN TOUCH PANEL, TOUCH PANEL, AND METHOD FOR INITIALIZING TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법에 관한 것이다.
현재 보급되어 있는 전자 기기에는 터치 패널이 탑재되어 있는 것이 많다. 터치 패널은 직접 터치 패널에 손가락 등을 접촉시킴으로써 전자 기기에 정보를 입력할 수 있는 것이며, 간단한 정보 입력 수단으로서 향후 보급이 더욱 기대되고 있다.
그런데, 일반적인 터치 패널의 대부분은 접촉하고 있는 점이 1점인 경우에 접촉 위치를 검출하는 것이다. 따라서, 터치 패널에서의 접촉점이 2점 이상인 경우에는 정확한 접촉점의 위치 정보를 검출할 수 없다. 이 때문에 접촉점이 2점인 경우에도 각각의 접촉점에 있어서의 정확한 위치 정보를 검출할 수 있는 방법이 요망되어 왔다.
터치 패널에서의 접촉점이 2점인 경우에 접촉점을 검출하는 방법으로서는 아래의 특허문헌 1 내지 17에 여러가지 방법이 개시되어 있다. 구체적으로는, 1점째와 2점째가 접촉하는 아주 작은 시간차를 이용하는 방법, 터치 패널의 도체막에 저항을 접속하는 방법, X측 전극과 Y측 전극과의 사이에 전압을 인가하는 방법 등이 개시되어 있다.
또한, 특허문헌 12에는 2점에서 압하한 경우에 2점간의 거리 정보를 검출하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 14에는 저항막을 분할한 구성의 것이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 17에는 2조의 저항막을 사용한 구성의 것이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 18, 19에는 1점 입력에 있어서의 일그러짐을 보정하는 방법이 개시되어 있다.
일본특허공보 제3402858호 일본특허공개공보 2009－289157호 일본특허공보 제3397519호 일본특허공개공보 평8－54976호 일본특허공개공보 평3－77119호 일본특허공개공보 평10－171581호 일본특허공개공보 평11－95929호 일본특허공개공보 평1－269120호 일본특허공개공보 평8－241161호 일본특허공개공보 평8－54977호 일본특허공개공보 2007－156875호 일본특허공개공보 2009－176114호 일본특허공보 제3351080호 일본특허공개공보 평9－45184호 일본특허공개공보 2005－49978호 일본특허공개공보 2010－102627호 일본특허공개공보 평11－232023호 일본특허공개공보 2001－67186호 일본특허공보 제2554577호
그런데, 상기 서술한 터치 패널에 접촉한 2점의 위치 정보를 검출하는 방법에서는, 동시에 2점이 접촉한 경우에는 정확하게 2점의 위치 좌표를 검출할 수 없다는 문제점이나, 2점의 위치 정보를 검출하기 위하여 저항막을 분할한 구조나 저항막을 2조로 형성한 구조와 같은 특수한 구조 등으로 할 필요가 있고, 이 경우에는 비용상승에도 연결된다는 문제점이 있었다.
이 때문에 종래부터 사용되고 있는 4선식 터치 패널에 있어서 동시에 2점에서 접촉한 경우에도, 간단한 방법으로 그리고 저비용으로 각각의 좌표 위치를 검출할 수 있는 위치 검출 방법이 요망되고 있다.
본 발명은 이러한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 4선식 터치 패널에 있어서 동시에 2점에서 접촉한 경우에도, 간단한 방법으로 그리고 저비용으로 각각의 좌표 위치를 검출할 수 있는 터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법을 제공하는 것을 과제로 한다.
본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막을 갖는 터치 패널의 위치 검출 방법에 있어서, 상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위를 측정하는 제1 측정 공정과, 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위를 측정하는 제2 측정 공정과, 상기 제1 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 제3 측정 공정과, 상기 제3 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 제4 측정 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 측정 공정에서 검출된 전위가 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 저항과 상기 제1 저항에 의한 분압치와 대략 같은지에 의해 상기 터치 패널에서의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판별하는 공정과, 상기 제2 측정 공정에서 검출된 전위가 상기 제3 전극과 상기 제4 전극 사이의 저항과 상기 제2 저항에 의한 분압치와 대략 같은지에 의해 상기 터치 패널에서의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판별하는 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널에서의 접촉점이 2점이라고 판단된 경우에 있어서, 상기 제1 측정 공정에서 검출된 전위와 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 저항과 상기 제1 저항에 의한 분압치의 차이에 근거하여, 상기 터치 패널에서의 2점의 접촉점의 상기 한쪽 방향에 있어서의 거리를 산출하는 공정과, 상기 제2 측정 공정에서 검출된 전위와 상기 제3 전극과 상기 제4 전극 사이의 저항과 상기 제2 저항에 의한 분압치의 차이에 근거하여, 상기 터치 패널에서의 2점의 접촉점의 상기 다른쪽 방향에 있어서의 거리를 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 측정 공정 및 상기 제2 측정 공정 전에, 접촉점이 없는 상태 또는 접촉점이 1점인 경우에 있어서, 상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 초기 전위를 측정하는 공정과, 상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 초기 전위를 측정하는 공정을 구비하고, 상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위가 상기 제1 전극에서의 초기 전위보다 낮고, 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 상기 제3 전극에서의 초기 전위와 대략 동등한 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하고, 상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위가 상기 제1 전극에서의 초기 전위와 대략 동일하고, 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 상기 제3 전극에서의 초기 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 다른쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위보다 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하고, 상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위보다 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 다른쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위가 상기 제4 전극에서의 전위보다 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여 상기 제1 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하고, 상기 제3 전극에서의 전위가 상기 제4 전극에서의 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여, 상기 제2 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위와 상기 제4 전극에서의 전위가 대략 같은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향 또는 다른쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위가 상기 제2 전극에서의 전위보다 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여, 상기 제1 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하고, 상기 제1 전극에서의 전위가 상기 제2 전극에서의 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여, 상기 제2 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위와 상기 제2 전극에서의 전위가 대략 같은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향 또는 다른쪽 방향에 대략 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널에서의 접촉점이 2점이라고 판단된 경우에 있어서, 상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위의 평균치를 측정하고, 상기 평균치에 근거하여 상기 2점의 접촉점의 중점의 상기 다른쪽 방향에 있어서의 좌표를 산출하는 공정과, 상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위의 평균치를 측정하고, 상기 평균치에 근거하여 상기 2점의 접촉점의 중점의 상기 한쪽 방향에 있어서의 좌표를 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 측정 공정을 대신하여, 상기 제2 전극에 상기 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽을 접지하고, 상기 제1 전극에 전원 전압을 인가한 상태에서, 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 공정과, 상기 제2 측정 공정을 대신하여, 상기 제4 전극에 상기 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽을 접지하고, 상기 제3 전극에 전원 전압을 인가한 상태에서, 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 각각의 측정의 제어를 행하는 제어부를 갖는 터치 패널에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위를 측정하는 제어와, 상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위를 측정하는 제어와, 상기 제1 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 제어와, 상기 제3 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 제어를 행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 구비하고, 상기 제1 저항의 저항치는 상기 제1 저항막의 제1 전극과 제2 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 구비하고, 상기 제2 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제2 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 저항은 가변 저항인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제2 저항은 가변 저항인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 각각에 있어서의 전위의 측정의 제어를 행하는 제어부를 구비하고, 상기 제1 저항의 저항치 및 상기 제2 저항의 저항치는 상기 제어부에 의한 제어에 의해 설정되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제1 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제1 스위치를 구비하고, 상기 제1 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제1 저항막은 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제2 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제2 스위치를 구비하고, 상기 제2 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제2 저항막은 상기 제2 스위치에 의해 상기 제2 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제2 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제2 스위치를 구비하고, 상기 제2 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제2 저항막은 상기 제2 스위치에 의해 상기 제2 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 저항군에서 선택되는 저항의 저항치는 상기 제1 저항막의 제1 전극과 제2 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제2 저항군에서 선택되는 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 저항은 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제2 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽이 접지되는 것으로서, 상기 제2 저항은 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제4 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽이 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 저항군은 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제2 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제2 저항군은 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제4 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널의 초기화 방법에 있어서, 상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하는 공정과, 상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점의 거리와 전위의 관계식을 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 전위를 측정하는 공정에 있어서, 상기 2점의 접촉점은 4점 중 선택된 어느 2점으로서, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점을 고정한 상태에서, 다른 하나의 접촉점을 4점 중 나머지 3점에 대하여 순차 선택하여 접촉함으로써, 상기 전위를 측정하는 공정을 3회 실시하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 4점은 동일 직선 상에 위치하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 어느 하나의 접촉점은 상기 4점 중 터치 패널의 가장 외측에 위치하는 점인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하는 공정 전에, 상기 4점을 순차 접촉하여 상기 4점에 있어서의 좌표 위치를 검출하는 좌표 위치 검출 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 3개의 상이한 접촉점 중, 상기 어느 하나의 접촉점과 상기 어느 하나의 접촉점에 가장 가까운 접촉점과의 사이에는 2개의 점이 추가로 형성되어 있고, 상기 어느 하나의 접촉점, 상기 어느 하나의 접촉점에 가장 가까운 접촉점, 상기 추가로 형성된 2개의 점에 있어서, 상기 전위를 측정하는 공정을 3회 더 실시하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 관계식은 2차식 또는 3차식인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 관계식은 상기 접촉점간을 연결하는 1차식을 포함하는 것임을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널은 표시 장치 상에 설치되는 것으로서, 상기 접촉점의 위치는 상기 표시 장치에 표시되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널의 초기화시에는, 상기 터치 패널은 표시 지그 상에 설치되고, 표시 지그에는 상기 접촉점의 위치가 나타나 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 터치 패널에는 상기 접촉점의 위치가 나타나 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 전위를 측정하는 공정은 소정 횟수로 상기 전위를 측정하고, 상기 소정 횟수에 있어서의 이동 평균의 값이 소정의 범위 내인 경우에 있어서 상기 이동 평균의 값을 상기 측정된 전위로 하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널에 있어서, 상기 터치 패널은 표시 장치 상에 설치되는 것으로서, 상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하고, 상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점과 전위의 관계식을 산출하기 위한 접촉점이 상기 표시 장치에 표시되어 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널에 있어서, 상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하고, 상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점과 전위의 관계식을 산출하기 위한 접촉점이 나타나 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 접촉점으로서 나타나는 접촉점은 적어도 4점 이상인 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 4선식 터치 패널에 있어서 동시에 2점에서 접촉한 경우에도, 간단한 방법으로 그리고 저비용으로 각각의 좌표 위치를 검출할 수 있는 터치 패널에서의 위치 검출 방법, 터치 패널 및 터치 패널의 초기화 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명에 사용되는 터치 패널의 구성도이다.
도 2는 제1 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 플로우차트이다.
도 3은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 1점 접촉의 설명도(1)이다.
도 4는 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 1점 접촉의 설명도(2)이다.
도 5는 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 2점 접촉의 설명도(1)이다.
도 6은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 2점 접촉의 설명도(2)이다.
도 7은 터치 패널의 압하점을 유한 요소법에 의해 해석하기 위한 설명도이다.
도 8은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(1)이다.
도 9는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(2)이다.
도 10은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(3)이다.
도 11은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(4)이다.
도 12는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(5)이다.
도 13은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(6)이다.
도 14는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(7)이다.
도 15는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(8)이다.
도 16은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법의 설명도(1)이다.
도 17은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(9)이다.
도 18은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법의 설명도(2)이다.
도 19는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(10)이다.
도 20은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(11)이다.
도 21은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(12)이다.
도 22는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(13)이다.
도 23은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(14)이다.
도 24는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(15)이다.
도 25는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(16)이다.
도 26은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법의 설명도(3)이다.
도 27은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(17)이다.
도 28은 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법의 설명도(4)이다.
도 29는 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(18)이다.
도 30은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(19)이다.
도 31은 터치 패널을 유한 요소법에 의해 해석한 설명도(20)이다.
도 32는 2점간의 축방향에 있어서의 거리와 XH 전극에서의 전위의 상관도이다.
도 33은 2점간의 축방향에 있어서의 거리와 (기준 전위-측정 전위)의 상관도이다.
도 34는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 플로우차트이다.
도 35는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(1)을 나타내는 도면이다.
도 36은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(2)을 나타내는 도면이다.
도 37은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(3)을 나타내는 도면이다.
도 38은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(4)을 나타내는 도면이다.
도 39는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(5)을 나타내는 도면이다.
도 40은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(6)을 나타내는 도면이다.
도 41은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(7)을 나타내는 도면이다.
도 42는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(8)을 나타내는 도면이다.
도 43은 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(9)을 나타내는 도면이다.
도 44는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(10)을 나타내는 도면이다.
도 45는 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법의 서브루틴(11)을 나타내는 도면이다.
도 46은 제1 터치 패널에 있어서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 47은 제2 터치 패널에 있어서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 48은 제3 터치 패널에 있어서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 49는 제4 실시형태에 있어서의 터치 패널의 구성도이다.
도 50은 제4 실시형태에 있어서의 터치 패널의 설명도이다.
도 51은 제4 실시형태에 있어서의 터치 패널의 저항치의 설정 방법의 플로우차트이다.
도 52는 제5 실시형태에 있어서의 터치 패널의 구성도이다.
도 53은 제5 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 구성도이다.
도 54는 제5 실시형태에 있어서의 터치 패널의 저항치의 설정 방법의 플로우차트이다.
도 55는 제6 실시형태에 있어서의 터치 패널의 구성도이다.
도 56은 제6 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 구성도(1)이다.
도 57은 제6 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 구성도(2)이다.
도 58은 제6 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 구성도(3)이다.
도 59는 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 설명도이다.
도 60은 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 초기화 방법의 설명도이다.
도 61은 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 초기화 방법의 플로우차트(1)이다.
도 62는 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 초기화 방법의 플로우차트(2)이다.
도 63은 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 초기화 방법의 플로우차트(3)이다.
도 64는 제7 실시형태에 있어서의 터치 패널의 다른 초기화 방법의 설명도이다.
도 65는 제8 실시형태에 있어서의 터치 패널의 설명도이다.
도 66은 제8 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 설명도(1)이다.
도 67은 제8 실시형태에 있어서의 다른 터치 패널의 설명도(2)이다.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시형태에 대하여 설명한다. 또한, 동일한 부재 등에 대하여서는 동일한 참조부호를 부여하고 그 설명을 생략한다.
〔제1 실시형태〕
(터치 패널의 구조)
도 1에 근거하여 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 대하여 설명한다. 본 실시형태에 있어서의 터치 패널은 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투명 도전막으로 이루어지는 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)을 구비하고 있다. 또한, 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)은 유리 기판이나 투명 필름 등의 표면에 형성되어도 되고, 이 경우에는 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)이 대향하도록 배치된다. 제1 저항막(10)에는 X축 방향의 양단의 한쪽에 XH 전극(11), 다른쪽에 XL 전극(12)가 Y축 방향을 따라 형성되어 있다. 또한, 제2 저항막(20)에는 Y축 방향의 양단의 한쪽에 YH 전극(21), 다른쪽에 YL 전극(22)이 X축 방향을 따라 형성되어 있다.
XH 전극(11)은 제1 전극이 되는 것으로, 전원 전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW1)와, Vcc에 저항(Rx1)을 통하여 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)에 접속되어 있고, 또한, 접지 전위에 접속되어 있는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW7)에 저항(R)을 통하여 접속되어 있고, 나아가 제어부(30) 내에 형성된 AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADX1)에 접속되어 있다.
XL 전극(12)은 제2 전극이 되는 것으로, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW3)에 접속되어 있고, 또한, AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADX2)에 접속되어 있다.
YH 전극(21)은 제3 전극이 되는 것으로, 전원 전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW4)와, Vcc에 저항(Ry1)을 통하여 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)에 접속되어 있고, 또한, 제어부(30) 내에 형성된 AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADY1)에 접속되어 있다.
YL 전극(22)은 제4 전극이 되는 것으로, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW6)에 접속되어 있고, 또한, AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADY2)에 접속되어 있다.
또한, 저항(Rx1)은 제1 저항이 되는 것으로, 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 가지고 있고, 저항(Ry1)은 제2 저항이 되는 것으로, 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 구비하고 있다.
스위치(SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6 및 SW7)는 제어부(30)에 형성된 SW1 제어 단자, SW2 제어 단자, SW3 제어 단자, SW4 제어 단자, SW5 제어 단자, SW6 제어 단자 및 SW7 제어 단자에 각각 접속되어 있다.
또한, 제어부(30) 내에는 각종의 정보를 기억할 수 있는 메모리(32)가 형성되어 있고, 또한, 제어부(30)는 표시 장치(40)에 접속되어 있다.
(위치 검출 방법)
다음으로, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법에 대하여 설명한다. 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법은 도 1에 나타낸 구성의 터치 패널에서의 위치 검출 방법이며, 도 2에 근거하여 설명한다. 또한, 본 실시형태를 설명함에 있어서, 예를 들어, 전원 전압(Vcc)에 대하여서는 5V라고 표현하고, 접지 전위에 대하여서는 0V라고 표현하는 경우가 있다.
먼저, 스텝 102(S102)에서, 제1의 X방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF 상태로 하여, 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH 전극(11)에는 저항(Rx1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL 전극(12)은 접지되기 때문에, 제1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 기억시킨다. 또한, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 제1 저항막(10)에서 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이에 형성되는 저항 성분과 저항(Rx1)에 의해 분압된 값이 된다. 또한, 스텝 102를 제1 측정 공정이라고 칭하는 경우가 있다.
다음으로, 스텝 104(S104)에서, 제1의 Y방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH 전극(21)에는 저항(Ry1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL 전극(22)은 접지되기 때문에, 제2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 기억시킨다. 또한, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 제2 저항막(20)에서 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이에 형성되는 저항 성분과 저항(Ry1)에 의해 분압된 값이 된다. 또한, 스텝 104를 제2 측정 공정이라고 칭하는 경우가 있다.
다음으로, 스텝 106(S106)에서, 접촉점이 1점인지의 여부를 판단한다. 구체적으로는, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 측정한 전위 및 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 측정한 전위가 모두 Vcc/2인지를 판단함으로써, 접촉점이 1점인지 2점인지를 판단한다.
보다 구체적으로 설명하면, 스텝 102에 있어서, 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)의 접촉점이 A점의 1점만인 경우, 도 3에 나타낸 바와 같이, XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이에 있어서의 제1 저항막(10)의 저항치는 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R1)과 저항 성분(R2)이 직렬로 접속된 것으로 되어, 이 직렬로 접속된 것의 저항치는 저항(Rx1)의 값과 대략 동등하다. 따라서, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2가 된다.
또한, 스텝 104에서, 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)의 접촉점이 A점의 1점만인 경우, 도 4에 나타낸 바와 같이, YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이에 있어서의 제2 저항막(20)의 저항치는 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R3)과 저항 성분(R4)이 직렬로 접속된 것이 되고, 이 직렬로 접속된 것의 저항치는 저항(Ry1)의 값과 대략 동등하다. 따라서, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2가 된다.
한편, 스텝 102에서, 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)의 접촉점이 A점과 B점의 2점인 경우, 도 5에 나타낸 바와 같이, A점과 B점 사이의 저항 성분은 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R12)과 제2 저항막(20)에서의 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 것이 된다. 따라서, XL 전극(12)과 B점 사이는 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R11), A점과 B점 사이는 저항 성분(R12)과 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 저항 성분, A점과 XH 전극(11) 사이는 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R13)의 합성 저항이 된다. 따라서, 저항 성분(R12)과 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 저항 성분을 포함하기 때문에, 이 합성 저항의 값은 저항(Rx1)보다 낮아진다. 따라서, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2보다 낮은 전위가 된다.
또한, 스텝 104에 있어서, 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)의 접촉점이 A점과 B점의 2점인 경우, 도 6에 나타낸 바와 같이, A점과 B점 사이의 저항 성분은 제1 저항막(10)에서의 저항 성분(R12)과 제2 저항막(20)에서의 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 것이 된다. 따라서, YL 전극(22)과 A점 사이는 제2 저항막(20)에서의 저항 성분(R21), A점과 B점 사이는 저항 성분(R12)과 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 저항 성분, B점과 YH 전극(21) 사이는 제2 저항막(20)에서의 저항 성분(R23)의 합성 저항이 된다. 따라서, 저항 성분(R12)과 저항 성분(R22)이 병렬로 접속된 저항 성분을 포함하기 때문에, 이 합성 저항의 값은 저항(Ry1)보다 낮아진다. 따라서, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2보다 낮은 전위가 된다.
이상 설명한 바와 같이, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 측정한 전위 및 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 측정한 전위가 모두 Vcc/2인지의 여부를 판단함으로써 접촉점이 1점인지 또는 2점인지를 판단할 수 있다.
이러한 것을 뒷받침하는 것으로서, 터치 패널에 대하여 유한 요소법으로 해석한 결과를 나타낸다. 구체적으로는, 도 7에 나타낸 바와 같이 정사각형 형상의 터치 패널을 상정하고, X방향 및 Y방향으로 100분할한 것 중에, 압하점이 X방향으로 5, 20, 35, 50, 65, 80, 95번째의 위치(이하, 이들의 위치를 5의 위치, 20의 위치, 35의 위치, 50의 위치, 65의 위치, 80의 위치, 95의 위치라고 칭하는 경우가 있다) 및 Y방향으로 5, 20, 35, 50, 65, 80, 95번째의 위치(이하, 이들의 위치를 5의 위치, 20의 위치, 35의 위치, 50의 위치, 65의 위치, 80의 위치, 95의 위치라고 칭하는 경우가 있다)인 경우에 대하여 해석한 것이다. 또한, 간격 또는 거리 등에 대하여서는, 각각의 위치에 있어서의 값의 차이를 이용하여 표현하는 경우가 있다.
도 8은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 Y좌표가 모두 같은 5인 위치로서, X축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 8의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 8의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 9는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 Y좌표가 모두 같은 50인 위치로서, X축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 9의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 9의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 10은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 Y좌표가 모두 같은 95인 위치로서, X축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 10의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 10의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 8 내지 도 10에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가되는 전압의 5V의 절반 미만의 전위가 되고, 또한, 2점간의 거리가 멀어짐에 따라 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 저하한다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대하여 평행 방향에 있어서 접촉점인 2점간의 거리가 멀어지면, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 저하하는 것이다. 이러한 것은 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 마찬가지며, 이 경우 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 저하한다.
도 11은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 X좌표가 모두 같은 5인 위치로서, Y축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 11의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 11의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 12는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 X좌표가 모두 같은 50인 위치로서, Y축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 12의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 12의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 13은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 X좌표가 모두 같은 95인 위치로서, Y축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 13의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 13의 (b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 11 내지 도 13에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉 위치의 X좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가된 전압의 5V의 절반의 전위가 되어 2점간의 거리에 의존하지 않고 일정한 상태에 있다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대하여 수직 방향에 있어서 접촉점인 2점간의 거리가 멀어져도, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 변화하지 않고 일정한 상태에 있다. 이러한 것은 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 동일하다. 이 경우 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 변화하지 않고 일정한 상태에 있다.
도 14는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치를 경사 방향, 즉, X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향으로서, 양의 기울기의 방향(어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점보다 XL 전극(12) 및 YH 전극(21)에 모두 가까운 위치가 되는 방향, 또는 다른 하나의 접촉점은 어느 하나의 접촉점보다 XH 전극(11) 및 YL 전극(22)에 모두 가까운 위치가 되는 방향)을 따라 2점간의 X축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 14의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 14의 (b)는 X축 방향에 있어서의 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 15는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 저항(Rx1)을 통하여 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치를 경사 방향, 즉, X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향으로서, 음의 기울기의 방향(어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점보다 XH 전극(11) 및 YH 전극(21)에 모두 가까운 위치가 되는 방향, 또는 다른 하나의 접촉점은 어느 하나의 접촉점보다 XL 전극(12) 및 YL 전극(22)에 모두 가까운 위치가 되는 방향)을 따라, 2점간의 X축 방향에 있어서의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 15의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 15의 (b)는 X축 방향에 있어서의 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 14 및 도 15에 나타낸 바와 같이, 2개의 접촉점이 X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향인 경우, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가되는 전압의 5V의 절반 미만의 전위가 되고, 2점간의 거리가 멀어짐에 따라 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 저하한다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대하여 평행 방향도 수직 방향도 아닌 방향에 있어서, 2점간의 거리가 멀어지면, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 저하하는 것이다. 이러한 것은 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우도 마찬가지이며, 이 경우 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 저하한다.
구체적으로는, 터치 패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 사전에 X축 방향으로 전계 분포를 발생시켜 전위 검출부(ADX1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 마찬가지로 Y축 방향으로 전계 분포를 발생시켜 전위 검출부(ADY1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 기억시켜 둔다. 즉, 터치 패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서의 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF 상태로 하여 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH 전극(11)에는 저항(Rx1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL 전극(12)은 접지되기 때문에, 제1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 기억시킨다. 마찬가지로, 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH 전극(21)에는 저항(Ry1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL 전극(22)은 접지되기 때문에, 제2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 기억시킨다.
이 초기 전위의 값과 스텝 102 및 104에 있어서 측정된 전위의 값을 비교함으로써, 접촉점이 1점인지 2점인지, 2점인 경우에는 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지, Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지, X축 방향에도 Y축 방향에도 평행하지 않은 방향인지를 판단할 수 있다.
구체적으로는, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는 접촉점은 1점이라고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행(Y축 방향에 수직)이라고 판단한다. 또한, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인 것이라고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점은, X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사 방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단한다.
보다 구체적으로 설명하면, 전위 검출부(ADX1 및 ADY1)에 있어서 측정된 초기 전위가 모두 2.5V인 경우, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점은 1점이라고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행하다고 판단한다. 또한, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인 것이라고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사 방향이라고 판단한다.
이로써, 접촉점이 1점인지 2점인지, 2점인 경우에는 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지, X축 방향에도 Y축 방향에도 평행하지 않은 방향인지를 판단할 수 있다.
또한, 초기 전위를 측정하지 않고 동일한 판단을 행하는 다른 방법으로서는, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우는, 접촉점이 1점이라고 판단할 수 있다. 또한, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만인 경우에는, 접촉점은 Y축 방향에 평행한 방향에 있어서, 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 또한, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점은 X축 방향에 평행한 방향에 있어서 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 나아가, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만인 경우는, 접촉점은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사 방향에 있어서 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다.
이상의 내용에 근거하여 스텝 106에서는, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판단할 수 있다. 또한, 2.5V인지 2.5V 미만인지의 판단에 대하여서는, 2.5V를 기준으로 하여 소정의 범위의 임계치를 설정하고, 측정된 전위가 소정의 범위 내이면 전위는 2.5V인 것이라고 판단하고, 소정의 범위를 초과하는 경우에는 전위는 2.5V 미만인 것이라고 판단한다. 또한, 이렇게 판단된 정보는 필요에 따라 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억시킨다.
스텝 106에서, 터치 패널의 접촉점이 1점이라고 판단한 경우에는 스텝 108로 이행하고, 또한, 접촉점이 2점이라고 판단한 경우에는 스텝 110으로 이행한다.
다음으로, 스텝 108(S108)에서, 터치 패널의 접촉점이 1점인 경우의 접촉점의 위치 좌표가 검출된다. 이 위치 좌표의 검출은 접촉점이 1점이기 때문에 통상적인 위치 검출 방법에 의해 접촉점에 있어서의 좌표 위치의 검출을 행할 수 있다. 예를 들어, XH 전극(11)에 5V의 전위를 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 상태에서, 전위 검출부(ADX1) 등에 의해 X축 방향에 있어서의 전위를 검출하고, 이 전위에 기초하여 접촉점의 X좌표에 있어서의 위치를 검출한다. 또한, YH 전극(21)에 5V의 전위를 인가하고 YL 전극(22)를 접지한 상태에서, 전위 검출부(ADY1) 등에 의해 Y축 방향에 있어서의 전위를 검출하고, 이 전위에 기초하여 접촉점의 Y좌표에 있어서의 위치를 검출한다.
다음으로, 스텝 110(S110)에서, 제2의 X방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 스위치(SW1 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF 상태로 하여 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH 전극(11)에 Vcc의 전압이 인가되고, XL 전극(12)은 접지되기 때문에, 제1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 기억시킨다. 또한, 스텝 110을 제3 측정 공정이라고 칭하는 경우가 있다.
다음으로, 스텝 112(S112)에서, 제2의 Y방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 스위치(SW4 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF 상태로 하여 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH 전극(21)에 Vcc의 전압이 인가되고, YL 전극(22)은 접지되기 때문에, 제2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에서 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 기억시킨다. 또한, 스텝 112를 제4 측정 공정이라고 칭하는 경우가 있다.
다음으로, 스텝 114(S114)에서, 터치 패널에 있어서 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기를 검출한다. 구체적으로는, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지의 여부, 또한, 평행이 아닌 경우에는 양의 기울기인지 음의 기울기인지를 판단한다. 즉, 전술한 바와 같이, 터치 패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 사전에 X축 방향으로 전계 분포를 발생시켜 전위 검출부(ADX1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 마찬가지로, Y축 방향으로 전계 분포를 발생시켜 전위 검출부(ADY1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 기억시켜 둔다. 구체적으로는, 터치 패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서의 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF 상태로 하여 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH 전극(11)에는 저항(Rx1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL 전극(12)은 접지되기 때문에, 제1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 기억시킨다. 마찬가지로, 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH 전극(21)에는 저항(Ry1)을 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL 전극(22)은 접지되기 때문에, 제2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위 분포가 생긴다. 이 상태에서 전위 검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 기억시킨다.
이 초기 전위의 값과 스텝 102 및 104에 있어서 측정된 전위의 값을 비교함으로써, 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지, Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지를 판단할 수 있다.
구체적으로는, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행(Y축 방향에 수직)이라고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)이라고 판단할 수 있다. 이 경우, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사 방향에 있어서 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수도 있다.
보다 구체적으로 설명하면, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행하다고 판단하고, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인 것이라고 판단한다. 이 경우, 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만이고, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 미만인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사 방향이라고 판단할 수도 있다.
이로써, 접촉점인 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지 Y축 방향에 평행인지를 판단할 수 있다.
또한, 초기 전위를 측정하지 않고 동일한 판단을 행하는 다른 방법으로서는, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만인 경우, 즉, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위보다 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 낮은 경우에는, 접촉점은 Y축 방향에 평행한 방향에 있어서 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 또한, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 미만이고, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우, 즉, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위보다 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 높은 경우에는, 접촉점은 X축 방향에 평행한 방향에 있어서 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다.
선분이 평행이 아닌 경우에 대하여서는, 구체적으로는, 스텝 110에 있어서, 도 16에 나타낸 바와 같이 터치 패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, B점이 A점보다 XL 전극(12) 및 YH 전극(21)에 모두 가까운 경우, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위에 대하여서는, 도 17에 나타낸 바와 같이 전위 검출부(ADY2)에서 얻어지는 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 얻어지는 전위보다 높아진다.
도 17은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 일정 간격의 양의 기울기의 직선 상에 있는 경우에 있어서 접촉 위치를 변화시킨 것이다. 도 17의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 17의 (b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
이는 A점은 제1 저항막(10)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 XH 전극(11)에 가깝기 때문에, 그 영향을 강하게 받아 A점에 가까운 제2 저항막(20)에서의 YL 전극(22)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY2)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제1 저항막(10)에서 접지되어 있는 XL 전극(12)에 가깝기 때문에, 그 영향을 강하게 받아 B점에 가까운 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 생각된다.
한편, 스텝 110에서, 도 18에 나타낸 바와 같이 터치 패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH 전극(11) 및 YH 전극(21)에 모두 가까운 경우, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 도 19에 나타낸 바와 같이 전위 검출부(ADY2)에서 얻어지는 전위가 전위 검출부(ADY1)에서 얻어지는 전위보다 낮아진다.
도 19는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 일정 간격의 음의 기울기의 직선 상에 있는 경우에 있어서 접촉 위치를 변화시킨 것이다. 도 19의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 위치를 나타낸 것이며, 도 19의 (b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
이는 A점은 제1 저항막(10)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 XH 전극(11)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제1 저항막(10)에서 접지되어 있는 XL 전극(12)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제2 저항막(20)에서의 YL 전극(22)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY2)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 생각된다.
지금까지 설명한 바와 같이, 터치 패널에 접촉되어 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지 음인지를 판단할 수 있다.
또한, 스텝 110에 있어서 검출된 전위에 근거하여, 접촉하고 있는 2점이 X축 방향에 평행인 경우인지, Y축 방향에 평행인 경우인지에 대하여도 판단할 수 있다.
구체적으로는, 전압의 인가 방향인 X축 방향에 평행한 위치에서 2점이 접촉하고 있는 경우 및 전압의 인가 방향에 수직인 Y축 방향에 평행한 위치에서 2점이 접촉하고 있는 경우에는, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 값은, 후술하는 바와 같이, 동일해지기 때문에, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 값이 동등한 경우에는 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치는 X축 방향에 평행 또는 Y축 방향에 평행하다고 판단할 수 있다.
도 20은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 같은 좌표 위치로서, 2점의 접촉 위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 90이 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 X좌표가 5의 위치와 95의 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 20의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 20의 (b)는 접촉점에 있어서의 Y좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 21은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 같은 좌표 위치로서, 2점의 접촉 위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 X좌표가 20의 위치와 35의 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 21의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 21의 (b)는 접촉점에 있어서의 Y좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 22는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 같은 좌표 위치로서, 2점의 접촉 위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 X좌표가 65의 위치와 80의 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 22의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 22의 (b)는 접촉점에 있어서의 Y좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 20 내지 도 22에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 모두 같은 값이며, 이 값은 A점과 B점과의 중점에 대응하는 전위가 된다. 예를 들어, 도 20의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 50의 위치이기 때문에, 인가되는 전압의 5V의 전위의 절반인 2.5V의 값이 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다. 또한, 도 21의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 27.5에 상당하는 위치가 되고, 도 22의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 72.5에 상당하는 위치가 되어, 이들의 위치에 상당하는 전위가 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다.
또한, 도 23은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 X좌표가 같은 좌표 위치로서, 2점의 접촉 위치의 Y축 방향에 있어서의 간격을 90이 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 Y좌표가 5의 위치와 95의 위치인 경우)에서, X좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 23의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 23의 (b)는 접촉점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 24는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 X좌표가 같은 좌표 위치로서 2점의 접촉 위치의 Y축 방향에 있어서의 간격을 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 Y좌표가 65의 위치와 80의 위치인 경우)에서, X좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 24의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 24의 (b)는 접촉점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
또한, 도 25는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치의 X좌표가 같은 좌표 위치로서, 2점의 접촉 위치의 Y축 방향에 있어서의 간격을 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉 위치의 Y좌표가 20의 위치와 35의 위치인 경우)에서 X좌표에 있어서의 좌표 위치를 변화시킨 것이다. 도 25의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 25의 (b)는 접촉점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
도 23 내지 도 25에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉 위치의 Y좌표가 모두 같은 좌표 위치인 경우, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 모두 같은 값이며, A점과 B점의 X좌표에 대응하는 전위가 검출된다. 즉, Y축 방향에 평행한 방향으로 2점이 접촉하고 있는 경우, A점과 B점의 간격에 의존하지 않고 A점과 B점과의 X좌표에 대응하는 전위가 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다.
지금까지 X축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 동일한 방법에 의해 터치 패널에 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향 및 Y축 방향에 평행인지의 여부를 판단할 수 있다.
지금까지 설명한 바와 같이, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위가 같은 값인지 아닌지에 의해, 터치 패널에서의 2점의 접촉점이 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위 및 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위에 근거하여 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지 여부를 판단할 수 있고, 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 대소 관계에 의해 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 소위 양의 기울기인지 음의 기울기인지를 판단할 수 있다.
즉, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 낮은 전위인 경우, 2점을 연결하는 선분의 기울기는 양이라고 판단된다. 또한, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 높은 전위인 경우, 2점을 연결하는 선분의 기울기는 음이라고 판단된다. 또한, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위가 동등한 경우에는, 2점을 연결하는 선분은 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행하다고 판단된다.
또한, 터치 패널에서의 2점의 접촉점이 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지의 여부의 판단에 대하여서는, 스텝 110 및 112에 있어서 검출된 전위, 즉, 제3 측정 공정 및 제4 측정 공정에 있어서 얻어지는 정보에 근거하여 판단하는 경우에 대하여 설명했지만, 스텝 102 및 104에서 검출된 전위, 즉, 제1 측정 공정 및 제2 측정 공정에서 얻어지는 정보에 근거하여 판단하는 것도 가능하다.
또한, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 소위 양인지 음인지의 판단을 행하는 경우에, X축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여도 마찬가지로 행할 수 있다.
구체적으로는, 도 26에 나타낸 바와 같이, YH 전극(21)에 Vcc(5V)의 전압을 인가하고 YL 전극(22)을 접지(0V)한 경우에 있어서, 터치 패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH 전극(11) 및 YL 전극(22)에 가까운 경우 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에 있어서 검출되는 전위는, 도 27에 나타낸 바와 같이, 전위 검출부(ADX2)에서 얻어지는 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 얻어지는 전위보다 높아진다.
또한, 도 27은 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH 전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 일정 간격의 양의 기울기의 직선 상에 있는 경우에 있어서 접촉 위치를 변화시킨 것이다. 도 27의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 27의 (b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표와 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에 있어서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
이것은 A점은 제2 저항막(20)에서 접지되어 있는 YL 전극(22)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제2 저항막(20)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 YH 전극(21)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제1 저항막(20)에서의 XL 전극(12)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX2)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 생각된다.
또한, 도 28에 나타낸 바와 같이 YH 전극(21)에 Vcc(5V)의 전압을 인가하고 YL 전극(22)을 접지(0V)한 경우에 있어서, 터치 패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH 전극(11) 및 YH 전극(21)에 가까운 경우 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에 있어서 검출되는 전위는, 도 29에 나타낸 바와 같이, 전위 검출부(ADX2)에서 얻어지는 전위가 전위 검출부(ADX1)에서 얻어지는 전위보다 낮아진다.
또한, 도 29는 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH 전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 일정 간격의 음의 기울기의 직선 상에 있는 경우에 있어서 접촉 위치를 변화시킨 것이다. 도 29(a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 29(b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에 있어서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.
이것은 A점은 제2 저항막(20)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 YH 전극(21)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제2 저항막(20)에서 접지되어 있는 YL 전극(22)에 가깝기 때문에 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제1 저항막(10)에서의 XL 전극(12)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX2)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 생각된다.
이와 같이 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도, 마찬가지로 터치 패널에 있어서의 2점에서 접촉하고 있는 경우의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지 음인지를 판단할 수 있다.
다음으로, 스텝 116(S116)에 나타낸 바와 같이, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 중점을 산출한다. 구체적으로는, 스텝 110 및 스텝 112에 있어서 측정한 전위(제3 측정 공정 및 제4 측정 공정에서 측정한 전위)에 근거하여 각각의 전위의 중점을 산출함으로써, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 좌표의 중점을 산출한다.
이러한 것을 도 30 및 도 31에 근거하여 설명한다.
도 30은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 양의 기울기의 직선 상에 존재하고 있는 경우에 있어서, 2점의 접촉점의 중점이 50의 위치가 되도록 간격을 변화시켰을 경우를 나타낸 것이다. 도 30의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 30의 (b)는 X좌표에 있어서의 2점간의 거리(또는 Y좌표에 있어서의 2점간의 거리)와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위 및 이들의 평균과의 관계를 나타낸다.
도 31은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH 전극(11)에 5V의 전압을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한 경우로서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉 위치가 음의 기울기의 직선 상에 존재하고 있는 경우에 있어서, 2점의 접촉점의 중점이 50의 위치가 되도록 간격을 변화시켰을 경우를 나타낸 것이다. 도 31의 (a)는 이 상태에서의 터치 패널의 2점의 접촉점의 좌표 위치를 나타낸 것이며, 도 31의 (b)는 X좌표에 있어서의 2점간의 거리(또는 Y좌표에 있어서의 2점간의 거리)와 전위 검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위 및 이들의 평균과의 관계를 나타낸다.
도 30 및 도 31에 나타낸 바와 같이, 2점간의 간격이 넓어짐에 따라, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위 검출부(ADY2)에서 검출되는 전위의 차는 커지는 경향이 있다. 그러나, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위 검출부(ADY2)에서 검출되는 전위의 평균은 일정한 값을 나타내고 있고, 이 값은 터치 패널의 2점의 접촉점의 중점의 값을 나타낸다.
따라서, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위 검출부(ADY2)에서 검출되는 전위와의 평균치를 산출함으로써, 터치 패널의 2점의 접촉점의 중점의 X좌표에 대응하는 전위를 얻을 수 있고, 이 전위에 근거하여 중점의 X좌표를 얻을 수 있다.
도 30 및 도 31에서는 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 X좌표를 산출하는 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH 전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한 경우에 있어서, 전위 검출부(ADX1 및 ADX2)에 있어서 전위를 검출함으로써, 이 전위에 근거하여 마찬가지로 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표를 얻을 수 있다.
이상에 의해, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 좌표를 얻을 수 있다.
다음으로, 스텝 118(S118)에서, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점간의 거리를 산출한다. 구체적으로는, 스텝 102 및 스텝 104에서 측정한 전위(제1 측정 공정 및 제2 측정 공정에서 측정된 전위)에 근거하여 터치 패널에 접촉하고 있는 2점간의 거리를 산출한다.
이러한 것을 도 32에 근거하여 설명한다. 도 32는 스텝 102에서의 상태, 즉, 도 5에 나타낸 상태에서의 2점간의 X좌표에 있어서의 거리와 XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸 것이다. 도 32에 나타낸 바와 같이, 2점간의 거리가 넓어짐에 따라 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 값은 저하한다. 또한, 전압이 인가되고 있는 방향에 평행한 방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있는 경우와 X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있지 않은 경우, 즉, 양의 기울기의 방향 또는 음의 기울기의 방향으로 2점이 존재하고 있는 경우와는 2점간의 거리와 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계가 상이하다.
따라서, 스텝 114에 있어서 검출한 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 위치 관계, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있는지 아닌지에 대응하여, 도 32에 나타낸 2점간의 거리와 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 검출된 전위의 관계를 선택하고, 선택된 관계에 근거하여 X축 방향에 있어서의 2점간의 거리를 얻을 수 있다.
구체적으로는, 터치 패널의 2점의 접촉점이 X축 방향에 평행한 방향의 직선 상에 존재하고 있는 경우에는, 도 32에 있어서의 선 32A로 나타낸 곡선을 이용하여 스텝 102에서 전위 검출부(ADX1)에서 검출된 전위에 근거하여 2점에 있어서의 X축 방향에 있어서의 거리를 산출할 수 있다. 또한, 터치 패널의 2점의 접촉점이 X축 방향에 평행한 방향이 되는 직선 상에는 존재하고 있지 않은 경우, 즉, 터치 패널의 2점의 접촉점이 양의 기울기 또는 음의 기울기의 직선 상에 존재하고 있는 경우에는, 도 32에 있어서의 선 32B로 나타낸 곡선을 이용하여 스텝 102에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 검출된 전위에 근거하여 2점에 있어서의 X축 방향에 있어서의 거리 등을 산출할 수 있다.
또한, 도 33은 2.5V와 전위 검출부(ADX1) 등에서 검출되는 전위의 차이와 X축 방향에 있어서의 2점간의 거리의 관계를 나타낸 것이며, 마찬가지로 이 상관 관계에 근거하여 2.5V와 전위 검출부(ADX1) 등에서 검출되는 전위의 차이로부터 X축 방향에 있어서의 거리를 얻을 수 있다.
Y축 방향에 있어서의 거리에 대하여도, 상기와 동일한 방법에 의해, 스텝 104에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위에 근거하여 얻을 수 있다.
또한, 2.5V로부터의 전압의 차이(V)와 각각의 축방향에 있어서의 거리(L1~L4)(또한, 거리(L1~L4)는 X축 방향에 있어서의 거리(Lx), Y축 방향에 있어서의 거리(Ly)로 표현하는 경우가 있다)와의 관계를 아래의 식 1에 나타낸다. 이 식 1을 이용하여 각각의 축방향에 있어서의 거리(L)를 산출하여도 된다. 또한, 아래의 α1~α8, β1~β8, γ1~γ8, δ5~δ8은 도 32 또는 도 33에 근거하여 사전에 산출되어 있어도 되고, 실험 등에 의해 정하여도 된다. 나아가, 이들의 값은 제어부(30) 등에 기억시켜도 된다.
Figure 112011052180495-pat00001
또한, 아래의 식 2에 나타낸 3차식을 이용하여 산출할 수도 있다.
Figure 112011052180495-pat00002
다음으로, 스텝 120(S120)에서, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 위치 좌표를 산출한다.
구체적으로는, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 위치 관계와, 2점의 중점의 위치와, 2점간의 각각의 축방향에 있어서의 거리에 근거하여 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 위치 좌표를 산출한다.
구체적으로는, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 중점의 위치와 2점간의 각각의 축방향의 거리에 근거하여 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 위치 좌표를 산출한다. 구체적으로는 X축 방향의 거리를 Lx, Y축 방향에 있어서의 거리를 Ly로서 산출하고, 터치 패널에 접촉하고 있는 2점의 중점의 위치를 (Xc, Yc)로서 산출한 경우, 2점의 좌표는 아래의 식 3 또는 식 4에 나타낸 식으로 표현된다. 또한, 식 3은 2점이 양의 기울기 상에 존재하고 있는 경우, 식 4는 2점이 음의 기울기 상에 존재하고 있는 경우, 식 5는 X축 방향에 평행인 경우, 식 6은 Y축 방향에 평행인 경우를 각각 나타낸다.
Figure 112011052180495-pat00003
Figure 112011052180495-pat00004
Figure 112011052180495-pat00005
Figure 112011052180495-pat00006
이상에 의해, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법은 종료된다. 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법에서는 터치 패널에서의 접촉점이 2점인 경우에도 용이하고 정확하게 2점의 접촉점의 좌표 위치를 산출할 수 있다.
〔제2 실시형태〕
다음으로, 제2 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 터치 패널에서의 위치 검출 방법이며, 제1 실시형태와는 일부 상이한 프로세스를 갖는 것이다.
본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법에 대하여 도 34에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 202(S202)에서 초기화를 실시한다. 이 초기화의 구체적인 내용에 대하여서는 후술한다.
다음으로, 스텝 204(S204)에서, 터치 패널에 있어서 손가락 등에 의한 접촉이 있는지가 검출되어, 손가락 등에 의한 접촉이 있는 경우에는 스텝 206으로 이행하고, 손가락 등에 의한 접촉이 없는 경우에는 손가락 등에 의한 접촉이 있을 때까지 스텝 204를 반복한다. 구체적으로는, 제1 저항막(10)에 전압이 인가되어 있는 상태에서 제2 저항막(20)을 통하여 전위가 검출되었을 경우, 또는, 제2 저항막(20)에 전압이 인가되어 있는 상태에서 제1 저항막(10)을 통하여 전위가 검출된 경우에는, 손가락 등에 의한 접촉이 있는 것으로서 스텝 206으로 이행한다.
다음으로, 스텝 206(S206)에서, 1점 압하인지 2점 압하인지를 식별하는 프로세스를 실시한다. 이 공정의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 208(S208)에서, 2점 압하인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 206에서 1점 압하인지 2점 압하인지의 식별 정보에 근거하여, 1점 압하인지 2점 압하인지가 판단된다. 1점 압하인 경우에는 스텝 210으로 이행하고, 2점 압하인 경우에는 스텝 212로 이행한다.
다음으로, 스텝 210(S210)에서, 위치 좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 208에서 1점 압하인 것이라고 판단되었기 때문에, 통상적인 4선식 터치 패널에서의 위치 검출 방법에 의해 1점 압하되어 있는 좌표 위치가 산출된다. 이 후, 이 위치 검출 방법은 종료한다.
다음으로, 스텝 212(S212)에서, 터치 패널에 있어서 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 방향(기울기)을 식별한다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 214(S214)에서, 터치 패널에 있어서 압하되어 있는 2점간의 거리가 산출된다.
다음으로, 스텝 216(S216)에서, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 212에서 얻어진 정보에 근거하여 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지의 여부가 판단된다. 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인 것(평행 방향)으로 판단된 경우에는 스텝 218으로 이행하고, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 220으로 이행한다.
다음으로, 스텝 218(S218)에서, 압하되어 있는 평행 방향에 있어서의 2점의 좌표 위치가 산출되고, 그 후 이 위치 검출 방법은 종료한다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 220(S220)에서, 압하되어 있는 수직 방향에 있어서의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 212에서 얻어진 정보에 근거하여 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인지의 여부가 판단된다. 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인 것(수직 방향)으로 판단된 경우에는 스텝 222로 이행하고, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 224로 이행한다.
다음으로, 스텝 222(S222)에서, 압하되어 있는 2점의 좌표 위치가 산출되고, 그 후 이 위치 검출 방법은 종료한다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 224(S224)에서, 터치 패널에 있어서 압하되어 있는 2점의 중점의 좌표가 검출된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 226(S226)에서, 터치 패널에 있어서 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 판정된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
다음으로, 스텝 228(S228)에서, 터치 패널에 있어서 압하되어 있는 2점의 위치 좌표가 산출된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 후술한다.
이상에 의해, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 위치 검출 방법은 종료한다.
다음으로, 스텝 202에 있어서의 초기화의 서브루틴에 대하여 도 35에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 302(S302)에서, 저항(Rx1)과, XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 제1 저항막(10)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 3에 나타낸 바와 같이, 저항(Rx1)을 통하여 XH 전극(11)에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치 패널은 접촉하고 있지 않거나 또는 1점에서 접촉하고 있다.
다음으로, 스텝 304(S304)에서, XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에 의해 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 306(S306)에서, 전위 검출부(ADX1)에 의해 검출된 전위를 X축의 초기 전위로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억시킨다.
다음으로, 스텝 308(S308)에서, 저항(Ry1)과, YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 제2 저항막(20)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 4에 나타낸 바와 같이, 저항(Ry1)을 통하여 YH 전극(21)에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치 패널은 접촉하고 있지 않거나 또는 1점에서 접촉하고 있다.
다음으로, 스텝 310(S310)에서, YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에 의해 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 312(S312)에서, 전위 검출부(ADY1)에 의해 검출된 전위를 Y축의 초기 전위로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억시킨다.
또한, 스텝 302에서 306까지와 스텝 308에서 312까지의 순서는 반대로 하여도 된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 206에 있어서의 1점 압하인지 2점 압하인지를 식별하는 서브루틴에 대하여 도 36에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 322(S322)에서, 저항(Rx1)과 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 제1 저항막(10)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 3 또는 도 5에 나타낸 바와 같이, 저항(Rx1)에서 XH 전극(11)이 접속되어 있지 않은 측에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치 패널은 1점 또는 2점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.
다음으로, 스텝 324(S324)에서, XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에 의해 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 326(S326)에서, 저항(Ry1)과, YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 제2 저항막(20)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 4 또는 도 6에 나타낸 바와 같이, 저항(Ry1)에서 YH 전극(21)이 접속되어 있지 않은 측에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치 패널은 1점 또는 2점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.
다음으로, 스텝 328(S328)에서, YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에 의해 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 330(S330)에서, 초기화에서 구해진 X축의 초기 전위와 스텝 324에 있어서 검출된 전위차인 X전위차를 산출한다.
다음으로, 스텝 332(S332)에서, 초기화에서 구해진 Y축의 초기 전위와 스텝 328에 있어서 검출된 전위차인 Y전위차를 산출한다.
다음으로, 스텝 334(S334)에서, 스텝 332에서 산출된 Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인지의 여부가 판단된다. Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인 경우에는 스텝 336으로 이행하고, Y전위차가 소정의 Y임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 338으로 이행한다. 또한, Y임계치는 터치 패널에 있어서의 접촉이 1점인지 2점인지를 식별하기 위하여 사전에 설정되어 있는 값이며, 오차 등을 고려한 값이다.
다음으로, 스텝 336(S336)에서, 스텝 330에서 산출된 X전위차가 소정의 X임계치 미만인지의 여부가 판단된다. X전위차가 소정의 X임계치 미만인 경우에는 스텝 340으로 이행하고, X전위차가 소정의 X임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 338로 이행한다. 또한, X임계치는 터치 패널에 있어서의 접촉이 1점인지 2점인지를 식별하기 위하여 사전에 설정되어 있는 값이며, 오차 등을 고려한 값이다.
다음으로, 스텝 338(S338)에서, 터치 패널에서의 손가락 등에 의한 접촉은 2점이라고 판단되기 때문에, 이 정보가 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억된다.
다음으로, 스텝 340(S340)에서, 터치 패널에서의 손가락 등에 의한 접촉은 1점이라고 판단되기 때문에, 이 정보가 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 212에서 터치 패널에 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 방향(기울기)을 식별하기 위한 서브루틴에 대하여 도 37에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 362(S362)에서, 스텝 330에서 산출된 X전위차가 소정의 X임계치 미만인지의 여부가 판단된다. X전위차가 소정의 X임계치 미만인 경우에는 스텝 366으로 이행하고, X전위차가 소정의 X임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 364로 이행한다.
다음으로, 스텝 364(S364)에서, 스텝 332에서 산출된 Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인지의 여부가 판단된다. Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인 경우에는 스텝 368으로 이행하고, Y전위차가 소정의 Y임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 370으로 이행한다.
다음으로, 스텝 366(S366)에서, 터치 패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 수직인 Y축 방향에 평행한 직선 상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 수직 방향인 것으로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 정보가 기억된다.
다음으로, 스텝 368(S368)에서, 터치 패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 대하여 평행 방향(Y축 방향에 대하여 수직 방향)이 되는 직선 상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 평행 방향인 것으로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 정보가 기억된다.
다음으로, 스텝 370(S370)에서, 터치 패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 대하여 평행도 수직도 아닌 경사 방향의 직선 상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 경사 방향인 것으로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 정보가 기억된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 214에 있어서의 접촉점인 2점의 거리를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 38에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 382(S382)에서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉점에 있어서의 X좌표에 있어서의 거리, 즉, 2점의 접촉점에 있어서의 X좌표의 차이를 산출한다. 구체적으로는, 도 32, 도 33 또는 식 1, 식 2에 나타낸 식에 근거하여, 스텝 330에서 산출된 X전위차에 대응하는 X좌표에 있어서의 거리(Lx)를 산출한다.
다음으로, 스텝 384(S384)에서, 터치 패널에 있어서의 2점의 접촉점에 있어서의 Y좌표에 있어서의 거리, 즉, 2점의 접촉점에 있어서의 Y좌표의 차이를 산출한다. 구체적으로는, 도 32, 도 33 또는 식 1, 식 2에 나타낸 식에 근거하여, 스텝 332에서 산출된 Y전위차에 대응하는 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)를 산출한다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 218에 있어서의 평행 방향의 2점의 접촉점의 위치 좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 39에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 402(S402)에서, 통상의 4선식 위치 검출 방법에 의해 좌표 검출이 행해진다. 이로써, X좌표(Xa)와 Y좌표(Ya)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 평행 방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 존재하고 있기 때문에 Y좌표의 위치는 같은 값이 된다. 따라서, Y좌표(Ya)는 2개의 압하점의 Y좌표(Y1, Y2)가 된다. 또한, X좌표(Xa)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.
다음으로, 스텝 404(S404)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X1=Xa－Lx/2에 의해 산출된다.
다음으로, 스텝 406(S406)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X2=Xa＋Lx/2에 의해 산출된다.
다음으로, 스텝 408(S408)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표(Y1)를 스텝 402에 있어서 검출한 좌표(Ya)로 한다.
다음으로, 스텝 410(S410)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표(Y2)를 스텝 402에 있어서 검출한 좌표(Ya)로 한다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 222에 있어서의 수직 방향의 2점의 접촉점의 위치 좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 40에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 422(S422)에서, 통상적인 4선식 위치 검출 방법에 의해 좌표 검출이 행해진다. 이로써, X좌표(Xa)와 Y좌표(Ya)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 수직 방향, 즉, X축 방향에 수직인 방향으로 존재하고 있기 때문에 X좌표는 같은 값이 된다. 따라서, X좌표(Xa)는 2개의 압하점의 X좌표(X1, X2)가 된다. 또한, Y좌표(Ya)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.
다음으로, 스텝 424(S424)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표(X1)를 스텝 422에 있어서 검출한 좌표(Xa)로 한다.
다음으로, 스텝 426(S426)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표(X2)를 스텝 422에 있어서 검출한 좌표(Xa)로 한다.
다음으로, 스텝 428(S428)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여 어느 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y1=Ya＋Ly/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 430(S430)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y2=Ya－Ly/2에 의해 산출된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 224에 있어서의 접촉점이 2점의 경우의 중점 좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 41에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 442(S442)에서, XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 제1 저항막(10)에 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 16 또는 도 18에 나타낸 바와 같이, XH 전극(11)에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한다.
다음으로, 스텝 444(S444)에서, 제2 저항막(20)의 YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 446(S446)에서, 제2 저항막(20)의 YL 전극(22)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY2)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 448(S448)에서, YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 제2 저항막(20)에 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 26 또는 도 28에 나타낸 바와 같이, YH 전극(21)에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 YL 전극(22)을 접지한다.
다음으로, 스텝 450(S450)에서, 제1 저항막(10)의 XH 전극(11)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 452(S452)에서, 제1 저항막(10)의 XL 전극(12)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADX2)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 454(S454)에서, 스텝 450에 있어서 전위 검출부(ADX1)에서 검출된 전위와 스텝 452에 있어서 전위 검출부(ADX2)에서 검출된 전위의 평균치를 산출하고, 이 평균치의 값에 근거하여 중점의 X좌표(Xc)를 산출한다.
다음으로, 스텝 456(S456)에서, 스텝 444에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 스텝 446에 있어서 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위의 평균치를 산출하고, 이 평균치의 값에 근거하여 중점의 Y좌표(Yc)를 산출한다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
다음으로, 스텝 226에 있어서의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기의 방향을 조사하는 서브루틴에 대하여 도 42에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 462(S462)에서, XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 제1 저항막(10)에 전원 전압을 인가한다. 즉, 도 16 또는 도 18에 나타낸 바와 같이, XH 전극(11)에 전원 전압(Vcc)을 인가하고 XL 전극(12)을 접지한다.
다음으로, 스텝 464(S464)에서, 제2 저항막(20)의 YH 전극(21)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 466(S466)에서, 제2 저항막(20)의 YL 전극(22)에 접속되어 있는 전위 검출부(ADY2)에서 전위를 검출한다.
다음으로, 스텝 468(S468)에서, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위의 대소 관계가 판단된다. 구체적으로는, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 큰 경우, 스텝 470으로 이행한다. 또한, 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 크지 않은 경우, 스텝 472로 이행한다.
다음으로, 스텝 470(S470)에서, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 음의 기울기로 판단되기 때문에, 2개의 접촉점을 연결하는 선분이 음의 기울기라는 취지의 정보가 제어부(30)에서의 메모리(32)에 기억된다.
다음으로, 스텝 472(S472)에서, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 음의 기울기라고 판단되기 때문에, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 음의 기울기라는 취지의 정보가 제어부(30)에서의 메모리(32)에 기억된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다. 또한, 이 서브루틴의 스텝 462에서 스텝 466은 도 41에 나타낸 서브루틴과 중복되기 때문에, 도 41에 나타낸 서브루틴에 있어서 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위 및 전위 검출부(ADY2)에서 검출된 전위를 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억해 두고, 이 정보에 근거하여 스텝 468 이후의 스텝을 실시하여도 된다.
다음으로, 스텝 228에 있어서의 2점의 접촉점의 위치 좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 43에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 482(S482)에서, 메모리(32)에 기억되어 있는 정보에 근거하여, 2개의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지의 여부가 판단된다. 기울기가 양으로 판단된 경우에는 스텝 484로 이행하고, 기울기가 양이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 492로 이행한다.
다음으로, 스텝 484(S484)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 486(S486)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 488(S488)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y1=Yc－Ly/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 490(S490)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y2=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.
한편, 스텝 492(S492)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 494(S494)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 496(S496)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y1=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 498(S498)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456에서 얻어진 2점의 접촉점에 있어서의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y2=Yc－Ly/2에 의해 산출한다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
또한, 스텝 218 및 스텝 222에 있어서의 도 39 및 도 40에 나타낸 서브루틴을 대신하여 도 44및 도 45에 나타낸 서브루틴을 행하여도 된다.
구체적으로, 스텝 218에 있어서의 평행 방향의 2점의 접촉점의 위치 좌표를 산출하는 다른 서브루틴에 대하여 도 44에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 502(S502)에서, 도 41에 나타낸 터치 패널에서의 접촉점이 2점의 경우의 중점 검출의 서브루틴을 실시한다. 이로써, X좌표(Xc)와 Y좌표(Yc)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 평행 방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 존재하고 있기 때문에 Y좌표의 위치는 같은 값이 된다. 따라서, Y좌표(Yc)는 2개의 압하점의 Y좌표(Y1, Y2)가 된다. 또한, X좌표(Xc)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.
다음으로, 스텝 504(S504)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출된다.
다음으로, 스텝 506(S506)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382에서 얻어진 X좌표에 있어서의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출된다.
다음으로, 스텝 508(S508)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표(Y1)를 스텝 502에 있어서 검출한 좌표(Yc)로 한다.
다음으로, 스텝 510(S510)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표(Y2)를 스텝 502에 있어서 검출한 좌표(Yc)로 한다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
구체적으로, 스텝 222에 있어서의 수직 방향의 2점의 접촉점의 위치 좌표를 산출하는 다른 서브루틴에 대하여 도 45에 근거하여 설명한다.
먼저, 스텝 522(S522)에서, 도 41에 나타낸 터치 패널에서의 접촉점이 2점의 경우의 중점 검출의 서브루틴을 실시한다. 이로써, X좌표(Xc)와 Y좌표(Yc)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 수직 방향, 즉, X축 방향에 수직인 방향으로 존재하고 있기 때문에 X좌표는 같은 값이 된다. 따라서, X좌표(Xc)는 2개의 압하점의 X좌표(X1, X2)가 된다. 또한, Y좌표(Yc)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.
다음으로, 스텝 524(S524)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 X좌표(X1)를 스텝 522에 있어서 검출한 좌표(Xc)로 한다.
다음으로, 스텝 526(S526)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 X좌표(X2)를 스텝 522에 있어서 검출한 좌표(Xc)로 한다.
다음으로, 스텝 528(S528)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y1=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.
다음으로, 스텝 510(S530)에서, 터치 패널에 있어서의 2개의 압하점 중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384에서 얻어진 Y좌표에 있어서의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점에 있어서의 Y좌표는 Y2=Yc－Ly/2에 의해 산출된다.
이상으로 이 서브루틴이 종료한다.
본 실시형태에 있어서의 터치 패널에서의 위치 검출 방법은, 제1 실시형태와 마찬가지로, 터치 패널에 접촉하고 있는 접촉점이 2점인 경우에도 정확하고 간단한 방법에 의해 위치를 검출할 수 있다.
또한, 상기 이외의 내용에 대하여서는 제1 실시형태와 같다.
〔제3 실시형태〕
다음으로, 제3 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 터치 패널이고, 특히, 제1 실시형태 및 제2 실시형태에 있어서의 위치 검출 방법에 있어서 바람직하게 사용할 수 있는 구조의 터치 패널이다.
먼저, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 제1 저항막(10), 제2 저항막(20)과 저항(Rx1, Ry1)의 관계에 대하여 설명한다. 또한, 터치 패널에서는 1점을 압하한 경우에 검출되는 전위와 2점을 압하한 경우에 검출되는 전위의 차가 크면 클수록 터치 패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지의 판단을 용이하게 할 수 있다.
(제1 터치 패널)
제1 터치 패널은, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 91.0㎜, Y축 방향의 길이가 75.0㎜로 형성되어 있다. 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치는 351.4Ω이고, 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치는 210.0Ω이다. 이 제1 터치 패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 1점을 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대하여 조사한 결과에 대하여 설명한다.
표 1은 제1 터치 패널에서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항(Rx1 및 Ry1)의 값의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.
Figure 112011052180495-pat00007
도 46은 표 1의 결과에 근거하여 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는 저항(Rx1)의 저항치가 제1 저항막(10)의 저항치에 대하여 75~100%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 있어서 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.6V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 있어서 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.4V가 된다.
1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V 이상이면, 터치 패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지의 판별을 용이하게 실시할 수 있다. 따라서, 제1 터치 패널에 있어서는 터치 패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 25% 이상, 400% 이하인 것이 바람직하다. 더욱이, 보다 확실하게 1점 압하인지 2점 압하인지의 판별을 행하기 위하여는 전위차가 0.3V 이상인 것이 바람직하고, 이 경우에는 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50% 이상, 200% 이하인 것이 보다 바람직하다.
(제2 터치 패널)
다음으로, 제2 터치 패널은, 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서, 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 164.0㎜, Y축 방향의 길이가 101.0㎜로 형성되어 있다. 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치는 866.0Ω이고, 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치는 247.5Ω이다. 이 제2 터치 패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대하여 조사한 결과에 대하여 설명한다.
표 2는 제1 터치 패널에 있어서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항(Rx1 및 Ry1)의 값의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.
Figure 112011052180495-pat00008
도 47은 표 2의 결과에 근거하여 각각의 저항막에서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는 저항(Rx1)의 저항치가 제1 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.7V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.34V가 된다.
1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V 이상이면, 터치 패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지의 판별을 용이하게 행할 수 있다. 따라서, 제1 터치 패널에 있어서는, 터치 패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 25% 이상, 400% 이하인 것이 바람직하다. 더욱이, 보다 확실하게 1점 압하인지 2점 압하인지의 판별을 행하기 위하여는 전위차가 0.3V 이상인 것이 바람직하고, 이 경우에는 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50% 이상, 100% 이하인 것이 보다 바람직하다.
(제3 터치 패널)
다음으로, 제3 터치 패널은 도 1에 나타낸 터치 패널에 있어서 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 183.0㎜, Y축 방향의 길이가 143.0㎜로 형성되어 있다. 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치는 580.0Ω이며, 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치는 360.0Ω이다. 이 제2 터치 패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대하여 조사한 결과에 대하여 설명한다.
표 3 및 표 4는 제1 터치 패널에 있어서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항(Rx1 및 Ry1)의 값의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.
Figure 112011052180495-pat00009
Figure 112011052180495-pat00010
도 48은 표 3 및 표 4의 결과에 근거하여 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는, 저항(Rx1)의 저항치가 제1 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.32V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.24V가 된다.
1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V 이상이면, 터치 패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지의 판별을 용이하게 행할 수 있다. 따라서, 제1 터치 패널에 있어서는, 터치 패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50% 이상, 200% 이하인 것이 바람직하다.
이상으로부터, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서는 저항(Rx1 및 Ry1)의 저항치는 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하의 값으로 설정되고, 나아가서는 50% 이상, 200% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 보다 바람직하게는 50% 이상, 100% 이하이고, 더욱 바람직하게는 약 75% 이다.
〔제4 실시형태〕
다음으로, 제4 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 터치 패널이고, 도 49에 근거하여 설명한다.
본 실시형태에 있어서의 터치 패널은 제1 저항막(10)에 직렬로 접속되는 저항(Rx1, Rx2, Rx3)을 복수 가지고 있고, 제1 스위치(110)를 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3) 중 어느 하나를 선택하여 제1 저항막(10)에 직렬로 접속할 수 있다. 마찬가지로, 제2 저항막(20)에 직렬로 접속되는 저항(Ry1, Ry2, Ry3)을 복수 가지고 있고, 제2 스위치(120)를 전환함으로써 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 중 어느 하나를 선택하여 제2 저항막(20)에 직렬로 접속할 수 있다. 또한, 본 실시형태에서는, 저항(Rx1, Rx2, Rx3)을 제1 저항군(130)이라고 칭하고, 저항(Ry1, Ry2, Ry3)을 제2 저항군(140)이라고 칭한다. 또한, 제1 저항군(130) 및 제2 저항군(140)의 각각에 포함되는 저항의 수는 선택할 수 있도록 복수이면 된다. 또한, 제1 스위치(110)는 제어부(30)에서의 제1 스위치 제어 단자에 접속되어 있고, 제2 스위치(120)는 제어부(30)에서의 제2 스위치 제어 단자에 접속되어 있다.
본 실시형태에 있어서의 터치 패널에서는 제1 스위치(110)를 전환함으로써 제1 저항막(10)에 가장 적합한 저항을 저항(Rx1, Rx2, Rx3)에서 선택할 수 있다. 구체적으로는, 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되는 것을 저항(Rx1, Rx2, Rx3)에서 선택한다. 도 50은 저항(Rx1, Rx2, Rx3), 제1 스위치(110), 제1 저항막(10), 전위 검출부(ADX1)를 나타낸 것이다. 도 50에 나타낸 바와 같이, 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치를 RSx로 한 경우, 제1 스위치(110)를 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3)의 어느 하나와 접속하고, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 값이 (RSx/(RSx＋0.75RSx))×Vcc에서 얻어지는 값인 약 0.57Vcc에 가장 가까운 저항을 선택하고, 제1 스위치(110)를 전환함으로써 그 저항을 제1 저항막(10)과 접속한다.
마찬가지로, 제2 스위치(120)를 전환함으로써, 제2 저항막(20)에 가장 적합한 저항을 저항(Ry1, Ry2, Ry3)에서 선택한다. 구체적으로는, 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되는 것을 저항(Ry1, Ry2, Ry3)에서 선택한다.
본 실시형태에서는, 제1 스위치(110)에 의해 저항(Rx1, Rx2, Rx3)으로부터 최적인 저항치의 저항을 선택할 수 있고, 제2 스위치(120)에 의해 저항(Ry1, Ry2, Ry3)으로부터 최적인 저항치의 저항을 선택할 수 있기 때문에, 터치 패널의 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)에서 제조 오차 등에 의한 편차가 생긴 경우에도 최적인 저항을 선택할 수 있다. 또한, 형상의 상이한 여러가지 터치 패널에 대하여도 최적인 저항을 선택할 수 있다.
(저항의 선택 방법)
다음으로, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서, 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)에 접속되는 저항의 선택 방법에 대하여 도 51에 근거하여 설명한다. 또한, 이하의 제어의 일부 또한 전부는 제어부(30)에서의 제어에 근거하여 행해진다.
먼저, 스텝 602(S602)에서, 제1 스위치(110)를 전환하여, 예를 들어, 저항(Rx1)과 제1 저항막(10)을 직렬로 접속한다.
다음으로, 스텝 604(S604)에서, 전원 전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다.
다음으로, 스텝 606(S606)에서, 제1 저항막(10)에 접속되는 X축 방향의 저항(Rx1, Rx2, Rx3)의 모든 저항에 대하여, 전환된 상태에서 전위 검출부(ADX1)에서의 전위의 측정이 행하여졌는지 여부가 판단된다. 모든 저항에 대하여 전환된 상태에서 전위 검출부(ADX1)에서의 전위의 측정이 행해지고 있는 경우에는 스텝 608으로 이행한다. 한편, 모든 저항에 대하여서는 전환된 상태에서 전위 검출부(ADX1)에서의 전위의 측정이 행해지지 않은 경우에는 스텝 602로 이행한다. 이 때, 스텝 602에서는, 제1 스위치(110)를 전환함으로써, 제1 저항막(10)으로 다음의 저항(Rx2) 또는 저항(Rx3)과의 접속이 행해진다.
다음으로, 스텝 608(S608)에서, X축 방향의 저항(Rx1, Rx2, Rx3) 중에 전위 검출부(ADX1)에서 검출된 전위가 0.57Vcc에 가장 가까운 저항이 선택되고, 제1 스위치(110)에 의해 제1 저항막(10)과 직렬로 접속된다.
다음으로, 스텝 610(S610)에서, 제2 스위치(120)를 전환하여, 예를 들어, 저항(Ry1)과 제2 저항막(20)을 직렬로 접속한다.
다음으로, 스텝 612(S612)에서, 전원 전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다.
다음으로, 스텝 614(S614)에서, 제2 저항막(20)에 접속되는 Y축 방향의 저항(Ry1, Ry2, Ry3)의 모든 저항에 대하여, 전환된 상태에서 전위 검출부(ADY1)에서의 전위의 측정이 행하여졌는지 여부가 판단된다. 모든 저항에 대하여 전환된 상태에서 전위 검출부(ADY1)에서의 전위의 측정이 행해지고 있는 경우에는 스텝 616으로 이행한다. 한편, 모든 저항에 대하여서는 전환된 상태에서 전위 검출부(ADY1)에서의 전위의 측정이 행해지지 않은 경우에는 스텝 610으로 이행한다. 이 때, 스텝 610에서는, 제2 스위치(120)를 전환함으로써 제2 저항막(20)과 다음의 저항(Ry2) 또는 저항(Ry3)과의 접속이 행해진다.
다음으로, 스텝 616(S616)에서, Y축 방향의 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 중에 전위 검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 0.57Vcc에 가장 가까운 저항이 선택되고, 제2 스위치(120)에 의해 제2 저항막(20)과 직렬로 접속된다.
〔제5 실시형태〕
다음으로, 제5 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 터치 패널이고, 도 52에 근거하여 설명한다.
본 실시형태에 있어서의 터치 패널은 제1 저항막(10)에 직렬로 접속되는 저항(Rcx1) 및 제2 저항막(20)에 직렬로 접속되는 저항(Rcy1)이 가변 저항으로 형성되어 있다.
저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)의 저항치는 제1 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되도록 저항(Rcx1)의 값을 조절하고, 마찬가지로, 제2 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되도록 저항(Rcy1)의 값을 조절한다.
구체적으로는, 전위 검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 값이 약 0.57Vcc에 가장 가깝게 되도록 저항(Rcx1)의 값을 조절하고, 마찬가지로, 전위 검출부(ADY1)에서 검출되는 전위의 값이 약 0.57Vcc에 가장 가깝게 되도록 저항(Rcy1)의 값을 조절한다.
본 실시형태에서는, 터치 패널의 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)에서 제조 오차 등에 의한 편차가 생긴 경우에도, 최적인 저항치로 조절할 수 있다. 또한, 형상이 상이한 여러가지 터치 패널에 대하여도 최적인 저항치로 조절할 수 있다.
또한, 도 53에 나타낸 것은 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서, 저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)에 있어서의 저항치를 제어부(230)에 있어서 Rcx1 설정 단자 및 Rcy1 설정 단자를 통하여 설정할 수 있다.
(저항치의 설정 방법)
다음으로, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서, 제1 저항막(10) 및 제2 저항막(20)에 접속되는 저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)의 저항치의 설정 방법에 대하여 도 54에 근거하여 설명한다. 또한, 이하의 제어의 일부 또한 전부는 제어부(30)에서의 제어에 근거하여 행해진다.
먼저, 스텝 702(S702)에서, 전원 전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위 검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다.
다음으로, 스텝 704(S704)에서, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.57Vcc에 가까운 값인지의 여부가 판단된다. 예를 들어, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하인지의 여부가 판단된다(저항(Rcx1)의 저항치가 제1 저항막(10)에서의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하가 되도록 설정하는 경우). 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하인 경우에는 스텝 712로 이행한다. 또한, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하가 아닌 경우에는 스텝 706으로 이행한다.
또한, 스텝 704에 있어서, 저항(Rcx1)의 저항치가 제1 저항막(10)에서의 저항치에 대하여 50% 이상, 200% 이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.33Vcc 이상, 0.67Vcc 이하인지의 여부에 의해 판단할 수 있다. 또한, 50% 이상, 100% 이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.5Vcc 이상, 0.67Vcc 이하인지의 여부에 의해 판단할 수 있다.
다음으로, 스텝 706(S706)에서, 전위 검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc~0.8Vcc)보다 높은지 또는 낮은지가 판단된다. 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.8Vcc)보다 높은 경우에는 스텝 708으로 이행하고, 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc)보다 낮은 경우에는 스텝 710으로 이행한다.
다음으로, 스텝 708(S708)에서, 저항(Rcx1)에 있어서의 저항치가 높아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 702로 이행한다.
다음으로, 스텝 710(S710)에서, 저항(Rcx1)에 있어서의 저항치가 낮아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 702로 이행한다.
다음으로, 스텝 712(S712)에서, 전원 전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위 검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다.
다음으로, 스텝 714(S714)에서, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.57Vcc에 가까운 값인지의 여부가 판단된다. 예를 들어, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하인지의 여부가 판단된다(저항(Rcy1)의 저항치가 제2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하가 되도록 설정하는 경우). 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하인 경우에는 종료한다. 또한, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc 이상, 0.8Vcc 이하가 아닌 경우에는 스텝 716으로 이행한다.
또한, 스텝 714에 있어서, 저항(Rcy1)의 저항치가 제2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 50% 이상, 200% 이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.33Vcc 이상, 0.67Vcc 이하인지의 여부에 의해 판단할 수 있다. 또한, 50% 이상, 100% 이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.5Vcc 이상, 0.67Vcc 이하인지의 여부에 의해 판단할 수 있다.
다음으로, 스텝 716(S716)에서, 전위 검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc~0.8Vcc)보다 높은지 또는 낮은지가 판단된다. 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.8Vcc)보다 높은 경우에는 스텝 718으로 이행하고, 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc)보다 낮은 경우에는 스텝 720으로 이행한다.
다음으로, 스텝 718(S718)에서, 저항(Rcy1)에 있어서의 저항치가 높아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 712로 이행한다.
다음으로, 스텝 720(S720)에서, 저항(Rcy1)에 있어서의 저항치를 낮아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 712로 이행한다.
이상에 의해, 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 저항(Rcx1 및 Rcy1)에 있어서의 저항치를 소정의 값으로 설정할 수 있다.
또한, 제3 실시형태 내지 제5 실시형태에 있어서는, 저항(Rx1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcx1)의 한쪽을 XH 전극(11)에 접속하고 다른 한쪽을 전원 전압에 접속한 것으로서, 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcy1)의 한쪽을 YH 전극(21)에 접속하고 다른 한쪽을 전원 전압에 접속한 것에 대하여 설명했지만, 이들 대신에 저항(Rx1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcx1)의 한쪽을 XL 전극(12)에 접속하고 다른 한쪽을 접지한 것으로 하여도 되고, 또는, 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcy1)의 한쪽을 YL 전극(22)에 접속하고 다른 한쪽을 접지한 것으로 하여도 된다.
〔제6 실시형태〕
다음으로, 제6 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태에 있어서의 터치 패널은 제1 실시형태, 제4 실시형태, 제5 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 접속되는 저항(Rx1), 저항(Ry1) 등이 접지측에 접속되어 있는 구조의 것이다.
먼저, 도 55에 나타낸 구조의 터치 패널은 도 1에 대응하는 것이고, 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 저항(Rx1) 및 저항(Ry1)이 접지측에 접속되어 있는 구조이다. 구체적으로는, ITO 등의 투명 도전막으로 이루어지는 제1 저항막(10)과 제2 저항막(20)을 구비하고 있다. 제1 저항막(10)에는 X축 방향의 양단의 한쪽에 XH 전극(11), 다른쪽에 XL 전극(12)이 Y축 방향을 따라 형성되어 있다. 또한, 제2 저항막(20)에는 Y축 방향의 양단의 한쪽에 YH 전극(21), 다른쪽에 YL 전극(22)이 X축 방향을 따라 형성되어 있다.
XH 전극(11)은 제1 전극이 되는 것으로, 전원 전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW1)와 접속되어 있고, 또한, 접지 전위에 접속되어 있는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW7)에 저항(R)을 통하여 접속되어 있고, 나아가서는, 제어부(30) 내에 형성된 AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADX1)에 접속되어 있다.
XL 전극(12)은 제2 전극이 되는 것으로, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW3)와 접속되어 있고, 또한, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)와 저항(Rx1)을 통하여 접속되어 있고, 나아가서는, AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADX2)에 접속되어 있다.
YH 전극(21)은 제3 전극이 되는 것으로, 전원 전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW4)와 접속되어 있거나, 또는, 제어부(30) 내에 형성된 AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADY1)에 접속되어 있다.
YL 전극(22)은 제4 전극이 되는 것으로, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW6)와 접속되어 있고, 또한, 접지 전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)와 저항(Ry1)을 통하여 접속되어 있고, 나아가서는, AD 변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위 검출부(ADY2)에 접속되어 있다.
또한, 저항(Rx1)은 제1 저항이 되는 것으로, 저항막(10)에서의 XH 전극(11)과 XL 전극(12) 사이의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 가지고 있고, 저항(Ry1)은 제2 저항이 되는 것으로, 저항막(20)에서의 YH 전극(21)과 YL 전극(22) 사이의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 구비하고 있다.
스위치(SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6 및 SW7)는 제어부(30)에 형성된 SW1 제어 단자, SW2 제어 단자, SW3 제어 단자, SW4 제어 단자, SW5 제어 단자, SW6 제어 단자 및 SW7 제어 단자에 각각 접속되어 있다.
또한, 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널은 도 8 내지 도 10, 도 14, 도 15, 도 32에 있어서, 2점간 거리가 넓어짐에 따라 전위가 강하하는 것이지만, 본 실시형태의 도 55에 나타낸 구조의 터치 패널은 2점간 거리가 길어짐에 따라 전위가 상승하는 것이다.
다음으로, 도 56에 나타낸 구조의 터치 패널은 도 49에 대응하는 것이고, 제4 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 저항(Rx1, Rx2, Rx3, Ry1, Ry2, Ry3)이 접지측에 접속되어 있는 구조의 것이다. 구체적으로는, 제1 저항막(10)의 XL 전극(12)측에 직렬로 접속되는 저항(Rx1, Rx2, Rx3)을 복수 가지고 있고, 제1 스위치(110)를 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3) 중 어느 하나를 선택하여 제1 저항막(10)에 직렬로 접속할 수 있다. 마찬가지로, 제2 저항막(20)의 YL 전극(22)측에 직렬로 접속되는 저항(Ry1, Ry2, Ry3)을 복수 가지고 있고, 제2 스위치(120)를 전환함으로써 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 중 어느 하나를 선택하여 제2 저항막(20)에 직렬로 접속할 수 있다. 또한, 제1 스위치(110) 및 제2 스위치(120)는 접지 전위와 접속되어 있다.
다음으로, 도 57에 나타낸 구조의 터치 패널은 도 52에 대응하는 것이고, 제5 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 저항(Rcx1, Rcy1)이 접지측에 접속되어 있는 구조의 것이다. 구체적으로는, 가변 저항에 의해 형성되어 있는 저항(Rcx1)은 제1 저항막(10)의 XL 전극(12)측에 직렬로 접속되어 있고, 마찬가지로, 가변 저항에 의해 형성되어 있는 저항(Rcy1)은 제2 저항막(20)의 YL 전극(22)측에 직렬로 접속되어 있다. 또한, 저항(Rcx1)은 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)를 통하여 접지 전위와 접속되어 있고, 저항(Rcy1)은 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)를 통하여 접지 전위와 접속되어 있다.
다음으로, 도 58에 나타낸 구조의 터치 패널은 도 53에 대응하는 것이고, 제5 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 저항(Rcx1, Rcy1)이 접지측에 접속되어 있는 구조의 것이다. 구체적으로는, 저항(Rcx1)은 제1 저항막(10)의 XL 전극(12)측에 직렬로 접속되어 있고, 마찬가지로, 저항(Rcy1)은 제2 저항막(20)의 YL 전극(22)측에 직렬로 접속되어 있다. 또한, 저항(Rcx1)은 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)를 통하여 접지 전위와 접속되어 있고, 저항(Rcy1)은 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)를 통하여 접지 전위와 접속되어 있다. 또한, 저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)에 있어서의 저항치를 제어부(230)에 있어서 Rcx1 설정 단자 및 Rcy1 설정 단자를 통하여 설정할 수 있다.
〔제7 실시형태〕
다음으로, 제7 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널 등의 초기화 방법이다. 구체적으로는, 터치 패널에 있어서 접촉점이 2점인 경우의 위치 검출을 보다 정확하게 행하기 위한 초기화 방법이다.
본 실시형태에 있어서의 초기화 방법에서는, 도 59에 나타낸 바와 같이, 제1 실시형태에 있어서의 터치 패널(1)을 퍼스널 컴퓨터(PC, 60)에 접속된 표시 장치(40) 상의 소정의 위치에 배치하여 실시한다. 또한, 표시 장치(40)는 퍼스널 컴퓨터(60)을 통하지 않고 터치 패널(1)의 제어부(30)에 직접 접속된 것으로 하여도 된다.
본 실시형태에서는, 도 60에 나타낸 바와 같이, 터치 패널(1)이 설치되어 있는 표시 장치(40)의 표시 화면에는, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4가 압하 타이밍에 맞추어 표시되고, 표시되어 있는 점을 압하함으로써 터치 패널(1)의 초기화를 행할 수 있다. 점A1 및 점A4는 표시 장치(40)의 표시 화면의 대각선 상에 위치하고 있고, 표시 장치(40)의 표시 화면보다 X축 방향에 있어서 Xedg, Y축 방향에 있어서 Yedg만큼 내측에 위치하고 있다. 점A2 및 점A3는 점A1 및 점A4의 사이를 X축 방향으로 3등분, Y축 방향으로 3등분한 좌표에 위치하고 있다. 이 때문에, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4는 동일 직선 상에 위치하고 있다. 또한, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4는 표시 장치(40)의 표시 화면에 있어서의 4점이면 상기 3등분한 위치 이외의 위치이어도 된다.
(초기화 방법)
다음으로, 본 실시형태에 있어서의 초기화 방법에 대하여 도 61및 도 62에 근거하여 설명한다. 또한, 도 61 및 도 62에 있어서, 좌측의 플로우차트는 퍼스널 컴퓨터(60)에 있어서 행해지는 플로우이며, 우측의 플로우차트는 터치 패널(1)의 제어부(30)에서 행해지는 플로우이다. 본 실시형태에 있어서의 설명에 있어서는 2개의 플로우차트를 관련지어 설명한다.
먼저, 퍼스널 컴퓨터(60) 및 터치 패널(1)의 전원을 온으로 한다.
다음으로, 스텝 802(S802)에서, 퍼스널 컴퓨터(60)에서 터치 패널(1)로 보정 개시 커맨드가 송신된다. 이 보정 개시 커맨드는 본 실시형태에 있어서의 터치 패널의 초기화의 개시를 의미하는 커맨드이다. 이로써, 터치 패널(1)의 제어부(30)에서는, 스텝 902(S902)에 나타낸 바와 같이, 퍼스널 컴퓨터(60)으로부터 송신된 보정 개시 커맨드를 수신하고, 스텝 904로 이행함과 동시에 퍼스널 컴퓨터(60)에 ACK(Acknowledgement) 신호를 송신한다. 이 후, 스텝 904(S904)에서, 제어부(30)에서는 터치 패널(1)의 초기화를 개시하기 위하여 통상적인 터치 패널 입력 동작과는 상이한 보정 모드로 설정된다.
다음으로, 스텝 804(S804)에 있어서, 퍼스널 컴퓨터(60)은 제어부(30)로부터 송신된 ACK 신호를 수신하고, 스텝 806(S806)으로부터 스텝 816(S816)에 나타나는 1점 입력을 행하기 위한 표시를 행하는 루프로 이행한다. 또한, 스텝 906(S906) 내지 스텝 914(S914)는 스텝 806(S806) 내지 스텝 816(S816)에 대응하는 제어부(30)에서의 루프이다.
스텝 806으로부터 스텝 816에 있어서의 루프에서는, 먼저 스텝 808(S808)에서 점A1를 표시 장치(40)의 표시 화면에 표시한다.
다음으로, 스텝 810(S810)에서, 점A1를 압하함으로써 1점 입력이 되어 1점 입력이 온 상태가 된다. 이 정보는 퍼스널 컴퓨터(60)로부터 제어부(30)에 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 908(S908)에서 점A1의 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 전위가 측정된다.
다음으로, 스텝 812(S812)에서, 점A1의 압하가 해제, 즉, 점A1가 압하되지 않는 상태가 되어 입력이 OFF 상태인 것이 검출된다. 이 정보는 퍼스널 컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 910(S910)에 나타낸 바와 같이, 점A1의 1점 입력이 완료하고 좌표 위치가 산출된다.
다음으로, 스텝 814(S814)에서, 점A1의 좌표의 보존 명령이 퍼스널 컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 제어부(30)에서는, 스텝 912(S912)에 나타낸 바와 같이, 점A1의 좌표 위치가 보존된다.
스텝 806으로부터 스텝 816의 루프에 있어서는, 동일한 동작에 대하여 점A1를 포함하여 점A2, 점A3 및 점A4의 합계 4점에 대하여 실시한다. 구체적으로는, 스텝 808에 있어서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4를 순차 표시하고, 소정의 위치를 압하함으로써, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 좌표 위치를 검출하여 보존한다. 즉, 이들의 점에 대하여, 스텝 806 내지 스텝 816, 스텝 906 내지 스텝 914를 순차 실시한다.
다음으로, 스텝 916(S916)에서, 각 입력점간의 X축 방향의 거리 및 Y축 방향의 거리를 산출하여 보존한다. 구체적으로는, 스텝 806으로부터 스텝 816의 루프 및 스텝 906으로부터 스텝 914에서 얻어진 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 좌표 위치, 즉, 점A1(XA1, YA1), 점A2(XA2, YA2), 점A3(XA3, YA3), 점A4(XA4, YA4)에 근거하여, 점A1로부터 점A2까지의 거리(LXA2A1, LYA2A1), 점A1로부터 점A3까지의 거리(LXA3A1, LYA3A1), 점A1로부터 점A4까지의 거리(LXA4A1, LYA4A1)를 아래의 식 7에 나타낸 식에 근거하여 산출한다.
Figure 112011052180495-pat00011
다음으로, 스텝 822(S822)로부터 스텝 832(S832)에 나타내어지는 2점 입력을 행하기 위한 표시를 행하는 루프로 이행한다. 또한, 스텝 922(S922)로부터 스텝 930(S930)은 이것에 대응하는 제어부(30)에서의 루프이다.
스텝 822로부터 스텝 832에 있어서의 루프에서는, 먼저, 스텝 824(S824)에서, 점A1과 점A2의 2점을 표시 장치(40)의 표시 화면에 표시한다.
다음으로, 스텝 826(S826)에서, 점A1 및 점A2의 2점을 동시에 압하함으로써, 2점 입력이 되고 2점 입력이 온 상태가 된다. 이 정보는 퍼스널 컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 924(S924)에서 평균치 산출의 서브루틴이 동작한다. 또한, 스텝 924에 있어서의 평균치 산출의 서브루틴에 대하여서는 후술한다.
다음으로, 스텝 828(S828)에서, 점A1 및 점A2의 2점 압하가 해제, 즉, 점A1 및 점A2가 압하되지 않는 상태로 되고, 2점 입력이 OFF 상태인 것이 검출된다. 이 정보는 퍼스널 컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 926(S926)에 나타낸 바와 같이, 점A1 및 점A2의 2점 입력이 완료하고, 이 상태에서의 전압 강하치가 측정된다.
다음으로, 스텝 830(S830)에서, 전압 강하치의 보존 명령이 퍼스널 컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 제어부(30)에서는, 스텝 928(S928)에 나타낸 바와 같이, 점A1 및 점A2의 2점 압하한 경우의 전압 강하치가 보존된다.
스텝 822에서 스텝 832의 루프에서는 동일한 동작을 점A1 및 점A2의 2점을 포함하여, 점A1 및 점A3의 2점, 점A1 및 점A4의 2점에 대하여 행하여 합계 3회 실시한다. 구체적으로는, 스텝 824에 있어서, 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 순차 표시하고, 소정의 2점의 위치를 압하함으로써 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 압하한 경우의 전압 강하치를 검출하여 보존한다. 즉, 이들의 점에 대하여, 스텝 822에서 스텝 832, 스텝 922에서 스텝 930을 순차 실시한다.
다음으로, 스텝 932(S932)에서 근사식이 산출된다. 구체적으로는, 식 7에 나타낸 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 점A1로부터 점A2까지의 거리, 점A1로부터 점A3까지의 거리, 점A1로부터 점A4까지의 거리와, 스텝 822에서 스텝 832의 루프 및 스텝 922에서 스텝 830의 루프에서 검출된 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 압하한 경우의 전압 강하치에 근거하여, 식 1에 나타낸 경사진 X방향 근사식에 있어서의α2, β2, γ2를 구할 수 있고, 또한, 경사진 Y방향 근사식에 있어서의 α4, β4, γ4를 구할 수 있다. 따라서, 식 1에 나타낸 식에 근거하여 근사식을 산출할 수 있다. 구체적으로는, 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4의 3개의 상이한 접촉점의 조합에 있어서, 각각 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 위치 좌표와 전압 강하치를 얻을 수 있기 때문에, X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 각각 3개의 미지수인 α2, β2, γ2 및 α4, β4, γ4를 산출할 수 있다. 또한, 압하되는 점은 경사 방향이 아니고, X축 방향 및 Y축 방향을 따라 배열된 압하되는 점을 압하함으로써, 마찬가지로, 식 1에 나타낸 평행 방향 근사식에 있어서의 α1, β1, γ1을 구할 수 있고, 또한, 수직 방향 근사식에 있어서의 α3, β3, γ3를 구할 수 있다.
다음으로, 스텝 934(S934)에서 근사식이 보존된다. 보존된 근사식은 본 실시형태에 있어서의 터치 패널에 있어서 접촉점이 2점의 경우의 위치 검출에 사용된다.
다음으로, 도 63에 근거하여 스텝 924에 있어서의 평균치 산출의 서브루틴에 대하여 설명한다.
먼저, 스텝 942(S942)에서 1점 압하인지 2점 압하인지가 판정된다.
다음으로, 스텝 944(S944)에서, 소정의 시간이 경과하여 타임아웃으로 되어 있는지 아닌지가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 942에서 스텝 946은 루프로 되어 있고, 이 사이에 있어서 소정의 시간이 경과해 버리면 타임아웃이라고 판단된다. 따라서, 타임아웃인 것으로 판단된 경우에는 종료한다. 한편, 타임아웃이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 946으로 이행한다. 또한, 이러한 소정의 시간은 사전에 정해져 있다.
다음으로, 스텝 946(S946)에서, 2점 입력되어 있는지 아닌지가 판단된다. 2점 입력인 것으로 판단된 경우에는 스텝 948으로 이행한다. 한편, 2점 입력이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 942로 이행한다.
다음으로, 스텝 948(S948)에서, 측정 횟수가 소정 횟수 n 미만인지의 여부가 판단된다. 측정 횟수가 소정 횟수 n 미만인 경우에는 스텝 950으로 이행한다. 한편, 측정 횟수가 소정 횟수 n 미만이 아닌 경우(n회 이상인 경우)에는 스텝 952로 이행한다.
다음으로, 스텝 950(S950)에서, 합계치에 새롭게 측정된 측정치가 가산된다. 또한, 합계치는 본 서브루틴에 있어서 먼저 초기화되어 있기 때문에 0으로 되어 있다. 따라서, 스텝 950을 반복함으로써 새로운 측정치가 합계치에 순차 가산된다.
다음으로, 스텝 952(S952)에서, (합계치)의 값을 G1의 값으로 하고, (합계치＋최신의 측정치-가장 오래된 측정치)의 값을 G2의 값으로 한다. 이로써, G1의 값 및 G2의 값은 모두 n회 측정한 값의 합이 된다.
다음으로, 스텝 954(S954)에서, G1의 값을 n으로 나누어 G1의 평균치를 산출하고, G2의 값을 n으로 나누어 G2의 평균치를 산출한다. 여기서, G2의 평균치는 G1의 평균치의 하나 뒤의 이동 평균이 된다.
다음으로, 스텝 956(S956)에서, G2의 값을 합계치로 하여 치환한다.
다음으로, 스텝 958(S958)에서,｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하인지의 여부가 판단된다. ｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하인 경우에는, 도 62에 나타낸 메인루틴으로 돌아온다. 한편,｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하가 아닌 경우에는 스텝 942로 이행한다. 또한, 임계치는 측정된 전압의 값이 안정적으로 있는지 아닌지 판단하기 위하여 설정되는 것이며, 이와 같은 관점에서 임계치가 정해진다.
이상에 의해, 본 서브루틴이 종료한다.
또한, 본 실시형태에서는, 2점에 있어서의 접촉은 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4의 경우에 대하여 설명했지만, 점A1 및 점A4, 점A2 및 점A4, 점A3 및 점A4이어도 된다. 2점 중 어느 하나가 양단인 점A1 또는 점A4이면 정확한 근사식을 얻을 수 있기 때문에 바람직하다.
또한, 점A1 및 점A2에 있어서는, 오차가 생기기 쉬운 것으로부터, 도 64에 나타낸 바와 같이, 점A1과 점A2의 사이를 3등분하여 점A5 및 점A6로 하고, 점A1, 점A5, 점A6, 점A2에 대하여 도 61로부터 도 63에 나타낸 초기화의 프로세스를 재차 실시하고, 점A1과 점A2 사이의 근사식을 별도로 산출하여도 된다. 이 경우, 도 61에서 도 63의 플로우차트에는, 점A5가 점A2에 상당하고, 점A6가 점A3에 상당하고, 점A2가 점A4에 상당하는 것으로 하여 처리된다.
또한, 상기에 있어서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4, 점A5, 점A6 중 어느 5점을 사용함으로써, 식 2에 나타낸 3차식에 있어서의 L2 및 L4를 산출할 수 있다. 또한, X축 방향, Y축 방향으로 배열된 5점을 압하함으로써 식 2에 나타나는 L1 및 L3를 산출할 수도 있다.
또한, 2점간 거리의 정밀도를 높이는 방법으로서 2점 입력의 구간을 세분화하고, 예를 들어, 도 33에 나타낸 2점 입력에 의한 전압 강하의 전위차와 거리의 관계를 테이블로서 저장하고, 이들의 입력점을 통과하는 곡선, 예를 들어, 스플라인 곡선을 구한다. 이 스플라인 곡선은 식 1에 나타낸 2차식과 같이 구할 수도 있다. 이로써, 2점 입력 조작중에 측정한 전위로부터 2점간 거리를 보다 정밀하게 산출할 수 있다.
나아가, 2점 좌표산출의 근사식의 산출을 간략화하는 방법으로서 다음과 같은 방법이 있다. 구체적으로는, 복수의 사이즈의 터치 패널 중 대표적인 터치 패널을 선정하고, 선정된 1개의 터치 패널에서의 복수회의 2점 입력에 의한 전압 강하의 전위차를 ROM(Read Only Memory) 등에 테이블로서 기억시킨다. 이 후, 선정된 터치 패널 이외의 터치 패널을 제어부를 포함하는 회로 기판에 접속하고, 이 조합에 있어서의 최대 거리의 2점 입력에 있어서 측정되는 전압 강하의 전위차와의 비를 산출한다. 저장되어 있는 다른 각 2점 입력값은, 각각의 값과 저장되어 있는 최대 거리의 2점 입력에 의한 전압 강하의 전위차와의 비와, 선정된 터치 패널과는 다른 터치 패널을 접속하고 측정되는 최대 거리의 2점 입력의 전압 강하의 전위차의 비를 각각 곱함으로써, 접속된 터치 패널에 맞춘 2점 좌표를 얻는다.
또한, 본 실시형태에서는, 스텝 932에 있어서 식 1에 나타낸 2차의 근사식을 산출하는 경우에 대하여 설명했지만, 점A1과 점A2, 점A2와 점A3, 점A3과 점A4를 직선적으로 연결하는 1차의 근사식을 산출하는 것이어도 된다. 구체적으로는, 측정값 등에 근거하여 식 8에 나타낸 바와 같은 1차의 근사식을 산출하는 것이어도 된다. 이 경우, ε1~ε6, η1~η6의 값은 직선적으로 연결되는 2점에 있어서의 값에 근거하여 산출할 수 있다.
Figure 112011052180495-pat00012
나아가서는, 점A2로부터 점A4까지의 위치에서는 식 1에 나타낸 2차의 근사식을 이용하고, 점A1로부터 점A2까지의 위치에서는 식 8에 나타낸 1차의 근사식을 이용하여도 된다.
〔제8 실시형태〕
다음으로, 제8 실시형태에 대하여 설명한다. 본 실시형태는 표시 장치(40)를 사용하지 않고 행하는 초기화의 방법이다. 구체적으로는, 도 65에 나타낸 바와 같이, 표시 장치(40)를 대신하여 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치에 인쇄용에 의해 형성된 표지(71)가 형성되어 있는 표시 지그(70)를 사용하는 방법이다. 이 표시 지그(70) 상에 터치 패널(1)을 설치하고, 제7 실시형태와 동일한 방법에 의해 초기화를 행하는 것이다. 또한, 도 65의 (a)는 이 방법의 전체의 구조의 사시도이고, 도 65의 (b)는 표시 지그(70)의 상면도이다.
또한, 도 66에 나타낸 바와 같이, 터치 패널(1a)의 주위에 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치를 나타낸 표지(73)가 형성되어 있는 것이어도 된다. 이 표지(73)는 도전 페이스트 등에 의해 형성해도 된다. 구체적으로는, 표지(73)는 X축 방향의 대향하는 위치에 형성된 표지(73)를 연결하는 직선과 Y축 방향의 대향하는 위치에 형성된 표지(73)를 연결하는 직선이 교차하는 위치가 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치가 되도록 형성되어 있고, 이로써 접촉점으로 되는 점이 나타내어진다. 또한, 도 66의 (a)는 이 방법의 전체 구조의 사시도이고, 도 66의 (b)는 터치 패널(1a)의 상면도이다.
또한, 도 67에 나타낸 바와 같이, 터치 패널(1b)에 있어서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4에 대응하는 위치에 있어서의 도트 스페이서(75)를 제거하여 압하 에어리어(76)를 형성한 것이어도 된다. 또한, 압하 에어리어(76)는 접촉점이 되는 점이다.
지금까지 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하였지만, 본 발명은 상술한 실시예로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 상술한 실시예에 대한 여러 가지의 변형 및 치환을 더할 수 있다.
본원은 2010년 7월 22일에 출원한 일본특허출원 제2010-165325호, 2010년 9월 28일에 출원한 일본특허출원 제2010-217560호, 2010년 10월 27일에 출원한 일본특허출원 제2010-241370호에 근거하여 우선권을 주장하는 것이며, 상기 일본특허출원들의 모든 내용을 본원에 참조로서 원용한다.
10 제1 저항막
11 XH 전극
12 XL 전극
20 제2 저항막
21 YH 전극
22 YL 전극
30 제어부
31 AD 변환부
32 메모리
40 표시 장치
ADX1 전위 검출부
ADX2 전위 검출부
ADY1 전위 검출부
ADY2 전위 검출부
SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6, SW7 스위치
Rx1 저항
Rx2 저항

Claims (41)

  1. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막을 갖는 터치 패널의 위치 검출 방법에 있어서,
    상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위를 측정하는 제1 측정 공정과,
    상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위를 측정하는 제2 측정 공정과,
    상기 제1 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 제3 측정 공정과,
    상기 제3 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 제4 측정 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 측정 공정에서 측정된 전위가 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 저항과 상기 제1 저항에 의한 분압치와 같은지 아닌지에 의해 상기 터치 패널에서의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판별하는 공정과,
    상기 제2 측정 공정에서 검출된 전위가 상기 제3 전극과 상기 제4 전극 사이의 저항과 상기 제2 저항에 의한 분압치와 같은지 아닌지에 의해 상기 터치 패널에서의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판별하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 터치 패널에서의 접촉점이 2점이라고 판단된 경우에 있어서,
    상기 제1 측정 공정에서 검출된 전위와 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 저항과 상기 제1 저항에 의한 분압치의 차이에 근거하여, 상기 터치 패널에서의 2점의 접촉점의 상기 한쪽 방향에 있어서의 거리를 산출하는 공정과,
    상기 제2 측정 공정에서 검출된 전위와 상기 제3 전극과 상기 제4 전극 사이의 저항과 상기 제2 저항에 의한 분압치의 차이에 근거하여, 상기 터치 패널에서의 2점의 접촉점의 상기 다른쪽 방향에 있어서의 거리를 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 측정 공정 및 상기 제2 측정 공정 전에 접촉점이 없는 상태 또는 접촉점이 1점인 경우에 있어서,
    상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 초기 전위를 측정하는 공정과,
    상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 초기 전위를 측정하는 공정을 구비하고,
    상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위가 상기 제1 전극에서의 초기 전위보다 낮고, 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 상기 제3 전극에서의 초기 전위와 동등한 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향에 평행하다고 판단하고,
    상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위가 상기 제1 전극에서의 초기 전위와 동일하고, 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 상기 제3 전극에서의 초기 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 다른쪽 방향에 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위보다 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향에 평행하다고 판단하고,
    상기 제1 측정 공정에서 검출되는 제1 전극에서의 전위보다 상기 제2 측정 공정에서 검출되는 제3 전극에서의 전위가 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 다른쪽 방향에 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  6. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위가 상기 제4 전극에서의 전위보다 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여 상기 제1 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하고, 상기 제3 전극에서의 전위가 상기 제4 전극에서의 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여 상기 제2 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  7. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위와 상기 제4 전극에서의 전위가 같은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향 또는 다른쪽 방향에 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  8. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위가 상기 제2 전극에서의 전위보다 높은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여 상기 제1 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하고, 상기 제1 전극에서의 전위가 상기 제2 전극에서의 전위보다 낮은 경우에는, 상기 2점의 접촉점 중 어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점에 대하여 상기 제2 전극에 가깝고 또한 상기 제3 전극에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  9. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위와 상기 제2 전극에서의 전위가 같은 경우에는, 상기 2점의 접촉점은 상기 한쪽 방향 또는 다른쪽 방향에 평행하다고 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 패널에서의 위치 검출 방법.
  10. 제2항에 있어서,
    상기 터치 패널에서의 접촉점이 2점이라고 판단된 경우에 있어서,
    상기 제3 측정 공정에 있어서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위의 평균치를 측정하고, 상기 평균치에 근거하여 상기 2점의 접촉점의 중점의 상기 한쪽 방향에 있어서의 좌표를 산출하는 공정과,
    상기 제4 측정 공정에 있어서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위의 평균치를 측정하고, 상기 평균치에 근거하여 상기 2점의 접촉점의 중점의 상기 다른쪽 방향에 있어서의 좌표를 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 위치 검출 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 제1 측정 공정을 대신하여, 상기 제2 전극에 상기 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽을 접지하고, 상기 제1 전극에 전원 전압을 인가한 상태에서, 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 공정과,
    상기 제2 측정 공정을 대신하여, 상기 제4 전극에 상기 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽을 접지하고, 상기 제3 전극에 전원 전압을 인가한 상태에서, 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 위치 검출 방법.
  12. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 각각의 측정의 제어를 행하는 제어부를 갖는 터치 패널에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 전극에 제1 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제1 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위를 측정하는 제어와,
    상기 제3 전극에 제2 저항의 한쪽을 접속하고, 상기 제2 저항의 다른쪽에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위를 측정하는 제어와,
    상기 제1 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제3 전극에서의 전위 및 상기 제4 전극에서의 전위를 측정하는 제어와,
    상기 제3 전극에 전원 전압을 인가하고, 상기 제4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제1 전극에서의 전위 및 상기 제2 전극에서의 전위를 측정하는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  13. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 구비하고,
    상기 제1 저항의 저항치는 상기 제1 저항막의 제1 전극과 제2 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  14. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 구비하고,
    상기 제2 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 제2 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  16. 제13항에 있어서,
    상기 제1 저항은 가변 저항인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 제2 저항은 가변 저항인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  18. 제16항 또는 제17항에 있어서,
    상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 각각에 있어서의 전위의 측정의 제어를 행하는 제어부를 구비하고,
    상기 제1 저항의 저항치 및 상기 제2 저항의 저항치는 상기 제어부에 의한 제어에 의해 설정되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  19. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제1 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제1 스위치를 구비하고,
    상기 제1 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제1 저항막은 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  20. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제2 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제2 스위치를 구비하고,
    상기 제2 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제2 저항막은 상기 제2 스위치에 의해 상기 제2 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  21. 제19항에 있어서,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고, 다른쪽에 복수의 저항으로 이루어지는 제2 저항군의 한쪽이 접속되어 있는 제2 스위치를 구비하고,
    상기 제2 저항군의 다른쪽에는 전원 전압이 인가되어 있고, 상기 제2 저항막은 상기 제2 스위치에 의해 상기 제2 저항군의 저항 중 어느 1개를 선택하여 직렬로 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  22. 제19항 또는 제21항에 있어서,
    상기 제1 저항군에서 선택되는 저항의 저항치는 상기 제1 저항막의 제1 전극과 제2 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  23. 제20항 또는 제21항에 있어서,
    상기 제2 저항군에서 선택되는 저항의 저항치는 상기 제2 저항막의 제3 전극과 제4 전극 사이의 저항치에 대하여 25% 이상, 400% 이하인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  24. 제13항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 저항은 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제2 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되고,
    상기 제2 저항은 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제4 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  25. 제19항 또는 제21항에 있어서,
    상기 제1 저항군은 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제2 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  26. 제20항 또는 제21항에 있어서,
    상기 제2 저항군은 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 대신에, 상기 제4 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽은 접지되는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  27. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과, 상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과, 상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널의 초기화 방법에 있어서,
    상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널 상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하는 공정과,
    상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점의 거리와 전위의 관계식을 산출하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  28. 제27항에 있어서,
    상기 전위를 측정하는 공정에 있어서, 상기 2점의 접촉점은 4점 중 선택된 어느 2점으로서, 상기 2점의 접촉점 중 하나의 접촉점을 고정한 상태에서 다른 접촉점을 4점 중 나머지 3점에 대하여 순차 선택하여 접촉함으로써, 상기 전위를 측정하는 공정을 3회 실시하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 4점은 동일 직선 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  30. 제28항 또는 제29항에 있어서,
    상기 하나의 접촉점은 상기 4점 중 터치 패널의 가장 외측에 위치하는 점인 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  31. 제28항 또는 제29항에 있어서,
    상기 터치 패널 상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하는 공정 전에, 상기 4점을 순차 접촉하여 상기 4점에 있어서의 좌표 위치를 검출하는 좌표 위치 검출 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  32. 제28항 또는 제29항에 있어서,
    3개의 상이한 접촉점 중, 상기 하나의 접촉점과 상기 하나의 접촉점에 가장 가까운 접촉점의 사이에는 2개의 점이 더 형성되어 있고, 상기 하나의 접촉점, 상기 하나의 접촉점에 가장 가까운 접촉점, 상기 더 형성된 2개의 점에 있어서, 상기 전위를 측정하는 공정을 3회 더 실시하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  33. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관계식은 2차식 또는 3차식인 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  34. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관계식은 상기 접촉점간을 연결하는 1차식을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  35. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 터치 패널은 표시 장치 상에 설치되는 것으로서, 상기 접촉점의 위치는 상기 표시 장치에 표시되는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  36. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 터치 패널의 초기화시에는, 상기 터치 패널은 표시 지그 상에 설치되고, 상기 표시 지그에는 상기 접촉점의 위치가 나타나 있는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  37. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 터치 패널에는 상기 접촉점의 위치가 나타나 있는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  38. 제27항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전위를 측정하는 공정은 소정 횟수로 상기 전위를 측정하고, 상기 소정 횟수에 있어서의 이동 평균의 값이 소정의 범위 내인 경우에 있어서 상기 이동 평균의 값을 상기 측정된 전위로 하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 초기화 방법.
  39. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널에 있어서,
    상기 터치 패널은 표시 장치 상에 설치되는 것으로서,
    상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널 상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하고, 상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점과 전위의 관계식을 산출하기 위한 접촉점이 상기 표시 장치에 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  40. 한쪽 방향의 양단에 제1 전극 및 제2 전극이 형성된 제1 저항막과,
    상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향으로 양단에 제3 전극 및 제4 전극이 형성된 제2 저항막과,
    상기 제1 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제1 저항과,
    상기 제3 전극에 한쪽이 접속되고 다른쪽에 전원 전압이 인가되는 제2 저항을 갖는 터치 패널에 있어서,
    상기 터치 패널에 소정의 전위가 인가된 상태에서, 상기 터치 패널 상의 2점에서 접촉한 상태에서 전위를 측정하고, 상기 측정된 전위에 근거하여 2점의 접촉점과 전위의 관계식을 산출하기 위한 접촉점이 나타나 있는 것을 특징으로 하는 터치 패널.
  41. 제39항 또는 제40항에 있어서,
    상기 접촉점으로서 나타나는 접촉점은 적어도 4점 이상인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
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