JP2009048233A - タッチパネル入力装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】タッチに用いる物やパネルの個体差に依らず、複数点がタッチされたことを正確に判定することができるタッチパネル入力装置を提供する。
【解決手段】1点がタッチ入力されたときの接触抵抗値を含む電極端子間の抵抗値を基準値として算出し、タッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値と基準値との比較結果に応じて、タッチ入力の際に複数点がタッチされたか否かを判定する。
【選択図】図2
【解決手段】1点がタッチ入力されたときの接触抵抗値を含む電極端子間の抵抗値を基準値として算出し、タッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値と基準値との比較結果に応じて、タッチ入力の際に複数点がタッチされたか否かを判定する。
【選択図】図2
Description
この発明は、タッチパネル入力装置に関するものである。
従来のタッチパネル入力装置において、タッチパネル上で複数の点がタッチされると、実際にタッチした点とは異なる箇所の位置情報が入力され、誤った処理が認識される場合があった。このような誤認識を回避するため、タッチ処理がなされる度に複数点がタッチされたか否かを判定し、判定結果に応じてタッチのやり直しを促す処理が必要である。
このように複数点がタッチされたか否かを判定する従来の技術としては、例えば特許文献1に開示されるものがある。この特許文献1のタッチパネル入力装置では、タッチパネル上で複数点がタッチされるとタッチパネルの4端子間の抵抗値が低下する現象を利用して複数点のタッチの有無を判定している。具体的には、タッチパネル上の位置に対応付けて4端子間の抵抗値の基準値を基準値テーブルとして予め保持しておき、タッチパネルがタッチされた際に実測した4端子間の抵抗値と基準値テーブルから読み出した基準値とを比較し、実測された抵抗値の低下によって基準値との差が許容範囲外になると複数点がタッチされたと判定する。
従来のタッチパネル入力装置は、上述のように構成されているので、タッチパネルを構成する2層の抵抗膜が接触したときに発生する接触抵抗値が考慮されておらず、基準値テーブルに保持する基準値を求めた際に生じた接触抵抗値と、パネルをタッチしたときの接触抵抗値とが同程度でなければ、複数点がタッチされたことを正確に判定することができないという課題があった。
例えば、指の腹でタッチしたときに比べ、スタイラスペンや爪先のような尖った固い物でタッチしたときの接触抵抗値はかなり大きくなる。従って、指の腹でタッチしたときの4端子間抵抗値を基準値とすると、スタイラスペンや爪先によるタッチでは、複数点をタッチして4端子間抵抗値が低下しても基準値との差が許容範囲内となり、複数点のタッチを正確に判定できない。また、接触抵抗値はタッチパネルの個体差を反映するため、パネルごとに特有の基準値テーブルを作成しなくてはならないという手間がかかる。
この発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、タッチに用いる物やパネルの個体差に依らず、複数点がタッチされたことを正確に判定することができるタッチパネル入力装置を得ることを目的とする。
この発明に係るタッチパネル入力装置は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた抵抗膜を上下で電極端子が直交するように重ね合わせ、タッチ入力により抵抗膜面が押下されると上下の抵抗膜が接触するタッチパネルとを備え、タッチパネルのタッチ入力により抵抗膜が上下に接触したタッチ位置と電極端子との間の電圧値に基づいて当該タッチ位置の座標値を検出するタッチパネル入力装置において、タッチ入力されたときの電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定部と、タッチ入力による抵抗膜の接触抵抗値を測定する接触抵抗測定部と、接触抵抗測定部により測定された所定のタッチ位置で1点がタッチされたときの接触抵抗値を入力し、当該タッチ位置での接触抵抗値を含む電極端子間の抵抗値を基準値として算出する基準値算出部と、端子間抵抗測定部によりタッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値と基準値との比較結果に応じて、当該タッチ入力で複数点がタッチされたか否かを判定する判定部とを備えるものである。
この発明によれば、1点がタッチ入力されたときの接触抵抗値を含む電極端子間の抵抗値を基準値として算出し、タッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値と基準値との比較結果に応じて、タッチ入力の際に複数点がタッチされたか否かを判定するので、タッチに用いる物やパネルの個体差に依らず、複数点がタッチされたことを正確に判定することができるという効果がある。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1によるタッチパネル入力装置の構成を示す回路図である。図1において、タッチパネルTPは、2枚のアナログ抵抗膜TP1,TP2を備え、抵抗膜TP1(以下、x方向の抵抗膜TP1と適宜称す)には、それぞれx方向に延びた一対の電極からなる端子(電極端子)X1,X2が膜上のy方向に対向する両端に設けられており、抵抗膜TP2(以下、y方向の抵抗膜TP2と適宜称す)には、それぞれy方向(x方向に直交する方向)に延びた一対の電極からなる端子(電極端子)Y1,Y2が膜上のx方向に対向する両端に設けられている。タッチパネルTPは、端子X1,X2と端子Y1,Y2とがそれぞれ直交する方向に抵抗膜TP1,TP2が2層に重ね合わされる。
図1は、この発明の実施の形態1によるタッチパネル入力装置の構成を示す回路図である。図1において、タッチパネルTPは、2枚のアナログ抵抗膜TP1,TP2を備え、抵抗膜TP1(以下、x方向の抵抗膜TP1と適宜称す)には、それぞれx方向に延びた一対の電極からなる端子(電極端子)X1,X2が膜上のy方向に対向する両端に設けられており、抵抗膜TP2(以下、y方向の抵抗膜TP2と適宜称す)には、それぞれy方向(x方向に直交する方向)に延びた一対の電極からなる端子(電極端子)Y1,Y2が膜上のx方向に対向する両端に設けられている。タッチパネルTPは、端子X1,X2と端子Y1,Y2とがそれぞれ直交する方向に抵抗膜TP1,TP2が2層に重ね合わされる。
マイクロコントローラM1は、タッチパネルTPのパネル上でのタッチ位置を検出したり、LCD表示器L1に情報を表示させる構成要素であり、不図示のCPU、メモリや入出力ポートを備え、図2で後述する処理装置B、制御部8及び記憶装置Cを構成する。マイクロコントローラM1の出力ポートP0〜P7は、スイッチSW2,SW3,SW4,SW1,SW6,SW5,SW8,SW7を構成するMOSFET等のトランジスタのゲート端子にそれぞれ接続しており、出力ポートP0〜P7への出力設定によりスイッチSW1〜SW8を開閉することができる。
スイッチSW2は、所定の直流電圧を印加する電源VCC及びスイッチSW3のソース端子にソース端子が接続しており、ドレイン端子が抵抗rの一端に接続している。スイッチSW3は、スイッチSW2のドレイン端子に接続する上記抵抗rの他端、入力ポートADX1及び抵抗膜TP1の端子X1にドレイン端子が接続している。スイッチSW4は、ソース端子が電源VCC及びスイッチSW6のソース端子に接続しており、ドレイン端子がスイッチSW1のドレイン端子、入力ポートADY1及び抵抗膜TP2の端子Y1に接続している。スイッチSW1は、ソース端子がグランドGNDに接地される。
スイッチSW6は、直流電源VCCにソース端子が接続し、ドレイン端子が抵抗rの一端に接続している。スイッチSW5は、スイッチSW6のドレイン端子に接続する上記抵抗rの他端、入力ポートADX2及び抵抗膜TP1の端子X2にドレイン端子が接続し、ソース端子がグランドGNDに接地される。スイッチSW8は、スイッチSW7のドレイン端子、入力ポートADY2及び抵抗膜TP2の端子Y2にドレイン端子が接続し、ソース端子がグランドGNDに接地される。スイッチSW7は、スイッチSW8のドレイン端子、入力ポートADY2及び抵抗膜TP2の電極Y2にドレイン端子が接続し、ソース端子がグランドGNDに接地される。
入力ポートADX1,ADY1,ADX2,ADY2は、端子X1,Y1,X2,Y2にそれぞれ接続されており、パネルのタッチに応じて端子X1,Y1,X2,Y2に発生した抵抗値の変化を示すアナログ信号をマイクロコントローラM1内の不図示のADコンバータに入力する。A/Dコンバータは、端子X1,Y1,X2,Y2からのアナログ信号をデジタルデータに変換し、マイクロコントローラM1の不図示の処理部に送られる。LCD表示器L1は、2層に重ね合わされた抵抗膜TP1,TP2の下層に配置され、出力ポートLCDを介してマイクロコントローラM1から入力したタッチ対象となる情報内容をLCD画面上に表示する。
図2は、図1中のタッチパネル入力装置の機能構成を示すブロック図である。図2に示すように、実施の形態1によるタッチパネル入力装置は、信号線9を介してそれぞれ接続された入出力装置A、処理装置B、記憶装置C及び制御部8を備え、入出力装置Aが図1で示したタッチパネルTP及びLCD表示器L1からなり、また図2中で破線で示すように処理装置B、記憶装置C及び制御部8は図1で示したマイクロコントローラM1上に構築される。
入出力装置Aにおいて、タッチパネルTPは、タッチ入力されたパネル上の位置に応じた抵抗膜の抵抗値変化を出力する。LCD表示器L1は、制御部8からの命令に従った表示内容をLCD画面上に表示する。なお、LCD表示器L1は、2層に重ね合わされた抵抗膜の下層に配置される。
処理装置Bは、xy座標検出部1、4端子間抵抗値測定部2、4端子間抵抗値基準値算出部3、接触抵抗値測定部4、複数点タッチ判定部5、xy座標出力部6及びタッチ状態出力部7を備え、タッチパネルTPのパネル上でタッチされた位置を検出したり、LCD表示器L1に表示する情報を生成する処理に加え、複数点のタッチがなされたか否かを判定する処理を行う。xy座標検出部1は、タッチパネルTPのパネル上でのタッチ位置のxy座標を検出する。4端子間抵抗値測定部(端子間抵抗測定部)2では、2枚の抵抗膜TP1,TP2の両端にある端子X1,X2,Y1,Y2間の抵抗値(以下、4端子間の抵抗値と称す)を測定する。
4端子間抵抗値基準値算出部(基準値算出部)3は、複数点がタッチされたか否かを判定する際に用いる4端子間抵抗値の基準値を算出する。接触抵抗値測定部(接触抵抗測定部)4は、2層に重ね合わされた抵抗膜TP1,TP2が接触した際に生じる接触抵抗値を測定する。複数点タッチ判定部(判定部)5は、タッチパネルTPのパネル上で複数点がタッチされたか否かを判定する。xy座標出力部6は、パネル上でタッチされた位置(1点がタッチされた場合)を示すxy座標を制御部8に出力する。タッチ状態出力部7は、制御部8からの制御に従ってパネル上で複数点がタッチされた場合に応じて必要な情報をLCD表示器L1に表示させる。
記憶装置Cは、接触抵抗値保存バッファ(記憶部)B1を備え、図1中のマイクロコントローラM1内のメモリ(例えば、RAM)上に構築される。接触抵抗値保存バッファB1は、処理装置Bの接触抵抗値測定部4により測定された接触抵抗値を一時的に保存する。制御部8は、処理装置Bを構成する全ての処理部の動作制御や、入出力装置A及び記憶装置Cと処理装置Bとの間でのデータの受け渡しを制御する。
処理装置Bを構成する、xy座標検出部1、4端子間抵抗値測定部2、4端子間抵抗値基準値算出部3、接触抵抗値測定部4、複数点タッチ判定部5、xy座標出力部6及びタッチ状態出力部7、並びに、制御部8は、図1中のマイクロコントローラM1内の不図示のCPUが、本発明の趣旨に従うタッチパネル制御プログラムをメモリから読み込んで実行することにより、スイッチSW1〜SW8やマイクロコントローラM1のハードウエアとソフトウエアが協働した具体的な手段として具現化することができる。
次に動作について説明する。
図3は、実施の形態1のタッチパネル入力装置によるタッチ入力のキャリブレーション処理の流れを示すフローチャートであり、この図及び図1、図2を用いて処理の詳細を説明する。先ず、制御部8は、信号線9を介して位置が既知のキャリブレーション用ポイントをLCD表示器L1に指定し、LCD画面上にキャリブレーション用ポイントを表示させる(ステップST1)。ユーザがキャリブレーション用ポイントをタッチすると(ステップST2)、そのタッチ位置に応じた電圧値が入力ポートADX1,ADY1,ADX2,ADY2を介して制御部8に入力される。制御部8は、入力されたタッチ位置に応じた電圧値を、信号線9を介して処理装置B内の4端子間抵抗値測定部2に出力する。
図3は、実施の形態1のタッチパネル入力装置によるタッチ入力のキャリブレーション処理の流れを示すフローチャートであり、この図及び図1、図2を用いて処理の詳細を説明する。先ず、制御部8は、信号線9を介して位置が既知のキャリブレーション用ポイントをLCD表示器L1に指定し、LCD画面上にキャリブレーション用ポイントを表示させる(ステップST1)。ユーザがキャリブレーション用ポイントをタッチすると(ステップST2)、そのタッチ位置に応じた電圧値が入力ポートADX1,ADY1,ADX2,ADY2を介して制御部8に入力される。制御部8は、入力されたタッチ位置に応じた電圧値を、信号線9を介して処理装置B内の4端子間抵抗値測定部2に出力する。
次に、4端子間抵抗値測定部2は、2枚の抵抗膜TP1,TP2の4端子間の抵抗値を測定する(ステップST3)。具体的には、マイクロコントローラM1内の制御部8が、出力ポートP0〜P7へ印加する電圧を設定してスイッチSW1〜SW8を開閉し、入力ポートADX1,ADY1,ADX2,ADY2から入力された電圧を読み取って4端子間の抵抗値を測定する。例えば、端子X1,Y2間の抵抗値を測定する場合、制御部8は、スイッチSW2,SW7のみを開(オン)とし、この他全てのスイッチSW1,SW3〜6,SW8が閉(オフ)になるようにポートP0〜P7へ印加する出力値を制御する。
図4は、上述した端子X1,Y2間の抵抗値を測定する場合におけるタッチパネルTPの等価回路であり、図4中の矢印方向にキャリブレーション用ポイントが押下された場合を示している。スイッチSW2,SW7のみを開とした状態で、図4に示すように所定の1点がタッチされると、電源VCCとグランドGNDとの間には、抵抗値が既知の基準抵抗r、x方向の抵抗膜TP1上の抵抗(抵抗値R1)、x方向の抵抗膜TP1とy方向の抵抗膜TP2が接触した際に発生する接触抵抗(抵抗値R2)、及びy方向の抵抗膜TP2上の抵抗(抵抗値R3)が直列に接続した回路が形成される。
この状態で、マイクロコントローラM1は、端子X1に接続する入力ポートADX1の電圧値を示すアナログ信号と、端子Y2に接続する入力ポートADY2の電圧値を示すアナログ信号とを入力し、不図示のA/Dコンバータでデジタル信号に変換した後、4端子間抵抗値測定部2に出力する。4端子間抵抗値測定部2は、入力ポートADX1と入力ポートADY2との電圧値の差をとって、端子X1と端子Y2間にかかる電圧を測定する。続いて、4端子間抵抗値測定部2は、電源VCCから供給される既知の電圧、端子X1,Y2間の電圧及び既知の基準抵抗rの抵抗値を用い、端子X1,Y2間の抵抗値を算出する。
同様に、制御部8は、スイッチSW1,SW2のみが開(オン)となり、他のスイッチが全て閉(オフ)となるように出力ポートP0〜P7への出力設定を制御して、入力ポートADX1とADY1の電圧を測定し、4端子間抵抗値測定部2が端子X1,Y1間の抵抗値を算出する。続いて、制御部8は、スイッチSW1,SW6のみが開(オン)となり、他のスイッチが全て閉(オフ)となるように出力ポートP0〜P7への出力設定を制御して、入力ポートADX2とADY1の電圧を測定し、4端子間抵抗値測定部2が端子X2,Y1間の抵抗値を算出する。
さらに、制御部8は、スイッチSW7,SW6のみが開(オン)となり、他のスイッチが全て閉(オフ)となるように出力ポートP0〜P7への出力設定を制御して、入力ポートADX2とADY2の電圧を測定し、上記と同様にして、4端子間抵抗値測定部2が端子X2,Y2間の抵抗値を算出する。このようにして、位置が既知のキャリブレーション用ポイントがタッチされた際における、4端子間抵抗値(端子X1,Y2間、端子X1,Y1間、端子X2,Y1間、端子X2,Y2間)が求められる。
続いて、接触抵抗値測定部4は、ステップST3で求められた4端子間抵抗値を用い、キャリブレーション用ポイントがタッチされた際における接触抵抗値R2を算出する(ステップST4)。ここでは、既知位置のポイントがキャリブレーション用ポイントとして指定されタッチ入力されるので、キャリブレーション用ポイントにおけるx方向の抵抗膜TP1上の抵抗値とy方向の抵抗膜TP2上の抵抗値は既知である。つまり、図4の例では、x方向の抵抗膜TP1上の抵抗値R1とy方向の抵抗膜TP2上の抵抗値R3は既知である。従って、端子X1,Y2間の抵抗値(R1+R2+R3)から接触抵抗値R2を算出することができる。このようにして、4端子間の抵抗値から4つの接触抵抗値が得られる。
なお、複数点がタッチされたか否かを判定する際の基準値として用いる接触抵抗値としては、4端子間抵抗値から求められた4つの接触抵抗値のうちのどれか1つを選択してもよいし、4つの接触抵抗値の平均値を用いてもよい。ステップST4で測定された接触抵抗値は、接触抵抗値測定部4から制御部8に送られ、制御部8によって接触抵抗値保存バッファB1に保存される(ステップST5)。
次に、複数点がタッチされたか否かの判定処理について説明する。
図5は、実施の形態1のタッチパネル入力装置による複数点がタッチされたか否かの判定処理の流れを示すフローチャートであり、この図及び図1、図2を用いて処理の詳細を説明する。先ず、処理装置Bのxy座標検出部1は、タッチパネルTPのパネル上でタッチ入力された位置のxy座標を検出する(ステップST1a)。
図5は、実施の形態1のタッチパネル入力装置による複数点がタッチされたか否かの判定処理の流れを示すフローチャートであり、この図及び図1、図2を用いて処理の詳細を説明する。先ず、処理装置Bのxy座標検出部1は、タッチパネルTPのパネル上でタッチ入力された位置のxy座標を検出する(ステップST1a)。
ここで、図6に示すタッチ位置のxy座標を検出する処理のフローチャートに沿って、この処理を詳細に説明する。先ず、ステップST1a−1において、図1に示すように、制御部8が、出力ポートP0〜P7への出力設定を制御して、スイッチSW3,SW5のみを開(オン)とし、その他全てのスイッチを閉(オフ)とすることで、x方向の抵抗膜TP1の端子X1,X2の双方に電源VCCの直流電圧を印加する。
上述のようにして各抵抗膜TP1,TP2上の端子間にそれぞれ電圧を印加した状態でタッチ入力すると、図7に示すようなタッチパネルTPの等価回路が得られる。ここで、図7(a)は、端子X1,X2に電圧を印加した状態でタッチ入力した場合におけるタッチパネルTPの等価回路であり、図7(a)中の矢印方向にパネルが押下された場合を示している。スイッチSW3,SW5のみを開とした状態で、図7(a)に示すように所定の1点がタッチされると、電源VCCとグランドGNDとの間には、x方向の抵抗膜TP1上でタッチされた位置から両端子X1,X2までの各抵抗(抵抗値R1,R3)が直列に接続された回路が形成される。このとき、y方向の抵抗膜TP2は、接触抵抗(抵抗値R2)を介して、上記タッチされた位置で接続されるが、この接触抵抗には電流が流れず、y方向の抵抗膜TP2は、上記タッチされた位置と等電位になる。
この状態で、制御部8は、入力ポートADY2を介して端子Y2(端子Y1でもよい)の電圧レベルを測定して(ステップST1a−2)、タッチされた位置のx方向の電圧レベルを取得する。同様に、制御部8は、出力ポートP0〜P7への出力設定を制御して、スイッチSW4,SW8のみを開(オン)とし、その他全てのスイッチを閉(オフ)とすることで、y方向の抵抗膜TP2の端子Y1,Y2の双方に電源VCCの直流電圧を印加する(ステップST1a−3)。
図7(b)は、端子Y1,Y2に電圧を印加した状態でタッチ入力した場合におけるタッチパネルTPの等価回路であり、図7(b)中の矢印方向にパネルが押下された場合を示している。スイッチSW4,SW8のみを開とした状態で、図7(b)に示すように所定の1点がタッチされると、電源VCCとグランドGNDとの間には、y方向の抵抗膜TP2上でタッチされた位置から両端子Y1,Y2までの各抵抗(抵抗値R4,R5)が直列に接続された回路が形成される。
このとき、x方向の抵抗膜TP1は、接触抵抗(抵抗値R2)を介して、上記タッチされた位置で接続されるが、この接触抵抗には電流が流れず、x方向の抵抗膜TP1は、上記タッチされた位置と等電位になる。この状態で、制御部8は、入力ポートADX1を介して端子X1(端子X2でもよい)の電圧レベルを測定して(ステップST1a−4)、タッチされた位置のy方向の電圧レベルを取得する。
このようにして求められた上記タッチされた位置のx方向及びy方向の電圧レベルは、制御部8から処理装置Bのxy座標検出部1に送られる。ここで、タッチされた位置のx方向及びy方向の電圧レベルは、電源VCCから印加された電圧を抵抗値R1と抵抗値R3、抵抗値R4と抵抗値R5で分圧した値である。xy座標検出部1は、抵抗膜TP1上のx方向の電位勾配に応じたx座標及び抵抗膜TP2上のy方向の電位勾配に応じたy座標が既知であることから、上述のようにして求められた上記タッチされた位置のx方向及びy方向の電圧レベルを用いて、上記タッチされた位置を示すxy座標を算出する(ステップST1a−5)。
図5の説明に戻る。タッチされた位置のxy座標が求められると、4端子間抵抗値測定部2が、図3のステップST3で説明した方法で、タッチパネルTPの4端子間の抵抗値を測定する(ステップST2a)。次に、4端子抵抗値基準値算出部3が、図3で示したキャリブレーション処理で接触抵抗値保存バッファB1に保存された接触抵抗値を読み出し、複数点がタッチされたことを検出するための基準値を算出する(ステップST3a)。なお、ここでいう基準値とは、ステップST1aで検出されたxy座標が1点タッチされたと仮定したときの4端子間の抵抗値に相当する。例えば、図4では、ステップST1aで測定されたx方向の抵抗膜TP1上の抵抗値R1、y方向の抵抗膜TP2上の抵抗値R3、及びキャリブレーション処理のステップST5で保存した接触抵抗値R2の和が、基準値となる。
ここで、パネル上の複数点をタッチしたときに基準値よりも4端子間抵抗値が低下する現象の原理を、1点をタッチした場合と複数点(2点)をタッチした場合とに分けて説明する。図8は、タッチパネルTPのパネル上の1点をタッチした際の端子X1,Y2間の回路構成を示す図であり、図8(a)は1点をタッチしたときの模式図であり、図8(b)は1点をタッチしたときの等価回路である。端子X1,Y2間に電圧VCCを印加した状態で、図8(a)中で矢印で示す方向にパネルを押下すると、端子X1,Y2間には、図8(b)に示すようにx方向の抵抗膜TP1上の抵抗(抵抗値R1)、接触抵抗(抵抗値R2)及びy方向の抵抗膜TP2上の抵抗(抵抗値R3)が直列に接続された回路が形成される。
図9は、タッチパネルTPのパネル上の2点をタッチした際の端子X1,Y2間の回路構成を示す図であり、図9(a)は2点をタッチしたときの模式図であり、図9(b)は2点をタッチしたときの等価回路であり、図9(c)は近接して2点がタッチされたときの等価回路である。端子X1,Y2間に電圧VCCを印加した状態で、図9(a)中で矢印で示す方向にパネル上の2点を押下すると、端子X1,Y2間には、図9(b)に示すようにx方向の抵抗膜TP1上の抵抗(抵抗値R1)を介し、接触抵抗(抵抗値R2)、y方向の抵抗膜TP2上の抵抗(抵抗値R3)及び押下された2点間の抵抗(抵抗値R4)が並列に接続された回路が形成される。
このとき、押下された2点間の抵抗の抵抗値R4が減少するにつれて、つまり2点間の距離が小さくなると、図9(c)に示す等価回路に近くなり、端子X1,Y2間の抵抗値は、最小値である(R1+(R2+R3)/2)(R4→0としたとき)に近づく。反対に、抵抗値R4が増加するにつれて、つまり2点間の距離が離れるほど、端子X1,Y2間の抵抗値は、最大値である(R1+R2+R3)(R4→∞としたとき)に近づく。
このように端子X1,Y2間の抵抗値は、下記不等式で示すように抵抗値R4について単調に増加する。従って、2点をタッチしたときの端子X1,Y2間の抵抗値は、1点をタッチしたときの端子X1,Y2間の抵抗値(R1+R2+R3)よりも低下する。
(R1+(R2+R3)/2)<端子X1,Y2間の抵抗値<(R1+R2+R3)
(R1+(R2+R3)/2)<端子X1,Y2間の抵抗値<(R1+R2+R3)
この関係は、他の端子間である、端子X1,Y1間、端子X2,Y1間、端子X2,Y2間においても同様である。このような4端子間抵抗値の低下を利用して、1点が適切にタッチされたか、複数点が誤ってタッチされたかを判定することができる。
複数点タッチ判定部5は、上述した原理に基づき、ステップST2aで測定された4端子間抵抗値と、ステップST3aで算出された基準値とを入力し、4端子間抵抗値と基準値との差を算出し、この差が所定の閾値以上か否かを判定する(ステップST4a)。このとき、上記差が閾値未満であれば、複数点タッチ判定部5は、1点がタッチされたと判定し(ステップST5a)、その旨をxy座標出力部6に通知する。
xy座標出力部6は、複数点タッチ判定部5による判定結果を受けると、ステップST1aで検出された位置のxy座標をxy座標検出部1から入力し、LCD表示器L1に出力する(ステップST6a)。これにより、LCD表示器L1は、LCD画面上に当該タッチ位置に対応する情報を表示する(ステップST7a)。
ステップST4aにおいて、4端子間抵抗値と基準値との差が閾値以上であると、複数点タッチ判定部5は、複数点がタッチされたと判定(ステップST8a)し、その旨をタッチ状態出力部7に通知する。タッチ状態出力部7は、複数点がタッチされた旨の判定結果を受けると、複数点タッチによる誤作動を防止するためにステップST1aで検出されたxy座標をリジェクトし、複数点がタッチされたことを示す情報をLCD表示器L1に出力する(ステップST9a)。これにより、LCD表示器L1は、LCD画面上に当該情報を表示する(ステップST7a)。
以上のように、この実施の形態1によれば、一対の端子(X1,X2,Y1,Y2)が対向する端辺部にそれぞれ設けられた抵抗膜TP1,TP2を上下で電極端子が直交するように重ね合わせ、タッチ入力により抵抗膜面が押下されると上下の抵抗膜が接触するタッチパネルTPと、タッチ入力により抵抗膜が上下に接触したタッチ位置と電極端子との間の電圧値に基づいて、当該タッチ位置の座標値を検出するxy座標検出部1と、タッチパネルがタッチ入力されたときの電極端子間の抵抗値を測定する4端子間抵抗値測定部3と、抵抗膜が上下に接触したときの接触抵抗値を測定する接触抵抗値測定部4と、xy座標検出部1により検出されたタッチ位置の座標値及び接触抵抗値測定部4により測定された当該タッチ位置で1点がタッチ入力されたときの接触抵抗値を入力し、当該タッチ位置で1点がタッチ入力されたときの当該接触抵抗値を含む電極端子間の抵抗値を基準値として算出する4端子間抵抗値基準値算出部3と、4端子間抵抗値測定部3によりタッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値と基準値との比較結果に応じて、タッチ入力で複数点がタッチされたか否かを判定する複数点タッチ判定部5とを備えたので、タッチに用いる物やパネルの個体差に依らず、複数点がタッチされたことを正確に判定することができる。
具体的に説明すると、1点をタッチしたときの4端子間抵抗値を基準値テーブルに保存する従来の技術(例えば、特許文献1参照)では、基準値テーブルを作成したときの接触抵抗が、パネルを実際にタッチしたときの接触抵抗よりも小さいと、1点をタッチしたときの端子X1,Y2間の抵抗値(図8参照)に比べて、2点をタッチしたときの端子X1,Y2間の抵抗値(図9参照)の低下の度合が小さくなる。このため、複数点がタッチされたことを正確に検出することができない。
これに対して、上記実施の形態1では、キャリブレーション時に算出した接触抵抗値R2を用いて、タッチした位置に対応してリアルタイムに算出された4端子間基準値を利用する。これにより、タッチする物やパネルの個体差に由来する接触抵抗値の変化を吸収することができ、従来の技術よりも正確に複数点のタッチを検出することができる。また、基準値をテーブルとして保存する必要がないため、省メモリ化も図ることができる。
実施の形態2.
上記実施の形態1では、パネルタッチの際に測定された4端子抵抗値とキャリブレーション時に測定された接触抵抗値とを利用して基準値を算出し、この基準値とパネルタッチの際に測定された4端子抵抗値との比較評価により、複数点がタッチされたか否かを判定するタッチパネル入力装置を示した。この実施の形態2は、1点タッチと判定された場合の接触抵抗値を算出し、キャリブレーション時に測定された接触抵抗値をリアルタイムで更新するものである。
上記実施の形態1では、パネルタッチの際に測定された4端子抵抗値とキャリブレーション時に測定された接触抵抗値とを利用して基準値を算出し、この基準値とパネルタッチの際に測定された4端子抵抗値との比較評価により、複数点がタッチされたか否かを判定するタッチパネル入力装置を示した。この実施の形態2は、1点タッチと判定された場合の接触抵抗値を算出し、キャリブレーション時に測定された接触抵抗値をリアルタイムで更新するものである。
なお、実施の形態2によるタッチパネル入力装置は、上記実施の形態1と基本的に同様な構成を有するが、接触抵抗値測定部が接触抵抗値を更新する点が異なる。以降では、タッチパネル入力装置の構成については、上記実施の形態1で示した図1及び図2を用いて説明する。
次に動作について説明する。
図10は、実施の形態2のタッチパネル入力装置による複数点がタッチされたか否かの判定処理の流れを示すフローチャートであり、この図に沿って処理の詳細を説明する。
先ず、ステップST1aからステップST4aまでの処理、ステップST6aからステップST7aまでの処理、ステップST8a、ステップST9a及びステップST7aの処理は、上記実施の形態1で示した図5と同様である。
図10は、実施の形態2のタッチパネル入力装置による複数点がタッチされたか否かの判定処理の流れを示すフローチャートであり、この図に沿って処理の詳細を説明する。
先ず、ステップST1aからステップST4aまでの処理、ステップST6aからステップST7aまでの処理、ステップST8a、ステップST9a及びステップST7aの処理は、上記実施の形態1で示した図5と同様である。
なお、ステップST3aでは、最初に1点がタッチされるまでの初期段階においてはキャリブレーション時にバッファB1に保存された接触抵抗値を用いるが、それ以降の判定に用いる基準値は、前回1点タッチと判定された場合の接触抵抗値で更新されたバッファB1の記憶内容を用いて算出する。
ステップST2aで測定された4端子間抵抗値とステップST3aで算出された基準値との差が所定の閾値未満であると、複数点タッチ判定部5は、1点がタッチされたと判定(ステップST5a)して、その旨を接触抵抗値測定部4及びxy座標出力部6に通知する。接触抵抗値測定部4は、1点がタッチされた旨の判定結果を受けると、ステップST1aで検出された位置のxy座標をxy座標検出部1から入力すると共に、ステップST2aで測定された4端子間抵抗値を4端子間抵抗値測定部2から入力する。
次に、接触抵抗値測定部4は、ステップST1aで検出されたxy座標と、ステップST2aで測定された4端子間抵抗値を用いて、上記実施の形態1で示した図3のステップST4と同様な処理で接触抵抗値を算出する(ステップST5a−1)。つまり、ステップST1aにおいてタッチされた位置のxy座標が検出されているので、この位置におけるx方向の抵抗膜TP1上の抵抗値とy方向の抵抗膜TP2上の抵抗値は既知である。これにより、4端子間抵抗値から接触抵抗値を算出することができる。
この後、接触抵抗値測定部4は、算出した接触抵抗値を接触抵抗値保存バッファB1に保存して、その記憶内容を更新する(ステップST5a−2)。これにより、次回に複数点がタッチされたか否かを判定する際、4端子間抵抗値基準値算出部3は、このバッファB1から読み出した接触抵抗値を用いて基準値を算出する(ステップST3a)。
以上のように、この実施の形態2によれば、複数タッチ判定部5により1点タッチと判定された場合、接触抵抗値測定部4がこのタッチ位置での接触抵抗値をリアルタイムで算出して接触抵抗値保存バッファB1の記憶内容を更新し、4端子間抵抗値基準値算出部3が、次の時刻に複数点がタッチされたか否かを判定するときの基準値の算出に上記更新内容を用いるので、キャリブレーション時と比べて接触抵抗値が変化したとしても、変化を吸収した基準値を得ることができる。
1 xy座標検出部、2 4端子間抵抗値測定部(端子間抵抗測定部)、3 4端子間抵抗値基準値算出部(基準値算出部)、4 接触抵抗値測定部(接触抵抗測定部)、5 複数点タッチ判定部(判定部)、6 xy座標出力部、7 タッチ状態出力部、8 制御部、9 信号線、A 入出力装置、ADX1,ADY1,ADX2,ADY2,LCD 入力ポート、B 処理装置、C 記憶装置、B1 接触抵抗値保存バッファ(記憶部)、GND グランド、L1 LCD表示器、M1 マイクロコントローラ、P0〜P7 出力ポート、SW1〜SW8 スイッチ、TP タッチパネル、TP1,TP2 抵抗膜、VCC 電源、X1,X2,Y1,Y2 端子(電極端子)。
Claims (4)
- 一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた抵抗膜を上下で前記電極端子が直交するように重ね合わせ、タッチ入力により抵抗膜面が押下されると上下の前記抵抗膜が接触するタッチパネルとを備え、前記タッチパネルのタッチ入力により前記抵抗膜が上下に接触したタッチ位置と前記電極端子との間の電圧値に基づいて当該タッチ位置の座標値を検出するタッチパネル入力装置において、
タッチ入力されたときの前記電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定部と、
タッチ入力による前記抵抗膜の接触抵抗値を測定する接触抵抗測定部と、
前記接触抵抗測定部により測定された所定のタッチ位置で1点がタッチされたときの接触抵抗値を入力し、当該タッチ位置での前記接触抵抗値を含む前記電極端子間の抵抗値を基準値として算出する基準値算出部と、
前記端子間抵抗測定部によりタッチ入力の際に測定された前記電極端子間の抵抗値と前記基準値との比較結果に応じて、当該タッチ入力で複数点がタッチされたか否かを判定する判定部とを備えたタッチパネル入力装置。 - 判定部は、端子間抵抗測定部によりタッチ入力の際に測定された電極端子間の抵抗値が基準値から所定の閾値以上に低下していると、当該タッチ入力で複数点がタッチされたと判定し、前記閾値未満であると、当該タッチ入力で1点がタッチされたと判定することを特徴とする請求項1記載のタッチパネル入力装置。
- 接触抵抗値を保存する記憶部を備え、
接触抵抗測定部は、キャリブレーション処理で指定されたタッチ位置での接触抵抗値を測定して前記記憶部に保存し、
基準値算出部は、前記記憶部に保存された前記キャリブレーション処理で指定されたタッチ位置での接触抵抗値を用いて、基準値を算出することを特徴とする請求項1または請求項2記載のタッチパネル入力装置。 - 接触抵抗値を保存する記憶部を備え、
接触抵抗測定部は、判定部によりタッチ入力で1点がタッチされた旨の判定結果が得られると、当該タッチ位置での接触抵抗値を測定して前記記憶部の記憶内容を更新し、
基準値算出部は、前記接触抵抗測定部により更新された前記記憶部の接触抵抗値を用いて、基準値を算出することを特徴とする請求項1または請求項2記載のタッチパネル入力装置。
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