TWI536213B - Touch panel position detection method and touch panel - Google Patents

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TWI536213B
TWI536213B TW102103875A TW102103875A TWI536213B TW I536213 B TWI536213 B TW I536213B TW 102103875 A TW102103875 A TW 102103875A TW 102103875 A TW102103875 A TW 102103875A TW I536213 B TWI536213 B TW I536213B
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Kenichi Fujita
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Description

觸控面板之位置檢測方法及觸控面板
本發明係關於一種觸控面板之位置檢測方法及觸控面板。
於現今普及之電子設備中，有很多係搭載有觸控面板者。觸控面板係可藉由使手指等直接接觸觸控面板而對電子設備進行資訊輸入者，作為簡易之資訊輸入單元，今後將可期進一步之普及。
然而，一般的觸控面板大部分係於接觸點為一點時進行接觸位置之位置檢測者。因此，當觸控面板之接觸點為兩點以上時，無法檢測出正確之接觸點之位置資訊。因此，需要一種即便於接觸點為兩點時亦可檢測出各個接觸點之正確之位置資訊的方法。
作為對觸控面板之接觸點為兩點時的接觸點進行檢測的方法，由下述專利文獻1至17揭露了各種方法。具體而言，揭露了利用接觸第一點及第二點之微小之時間差的方法、於觸控面板之導體膜連接電阻的方法、於X側電極與Y側電極之間施加電壓的方法等。
又，於下述專利文獻12中，揭露了檢測於兩點按下時之兩點間之距離資訊的方法。又，於下述專利文獻14中，揭露了將電阻膜分割之結構者。又，於下述專利文獻17中，揭露了使用兩組電阻膜之結構者。又，於下述專利文獻18、19中，揭露了對一點輸入中之歪斜進行補正的方法。
專利文獻1：(日本)特許第3402858號公報
專利文獻2：(日本)特開2009-289157號公報
專利文獻3：(日本)特許第3397519號公報
專利文獻4：(日本)特開平8-54976號公報
專利文獻5：(日本)特開平3-77119號公報
專利文獻6：(日本)特開平10-171581號公報
專利文獻7：(日本)特開平11-95929號公報
專利文獻8：(日本)特開平1-269120號公報
專利文獻9：(日本)特開平8-241161號公報
專利文獻10：(日本)特開平8-54977號公報
專利文獻11：(日本)特開2007-156875號公報
專利文獻12：(日本)特開2009-176114號公報
專利文獻13：(日本)特許第3351080號公報
專利文獻14：(日本)特開平9-45184號公報
專利文獻15：(日本)特開2005-49978號公報
專利文獻16：(日本)特開2010-102627號公報
專利文獻17：(日本)特開平11-232023號公報
專利文獻18：(日本)特開2001-67186號公報
專利文獻19：(日本)特許第2554577號公報
專利文獻20：(日本)特開2011-76591號公報
專利文獻21：(日本)特開2011-123815號公報
專利文獻22：(日本)特開2011-134316號公報
於上述對觸控面板所接觸之兩點位置資訊進行檢測的方法中，當同時接觸兩點時，存在無法正確地檢測出兩點之位置坐標的問題，以及為了檢測出兩點之位置資訊需要形成分割電阻膜之結構、或設置兩組電阻膜之結構等特殊之構造，在此情況下存在成本上升的問題。
因此，在以往使用之四線式觸控面板中，需要一種即便是在同時於兩點接觸時也可簡單、低成本地檢測出各個坐標位置的位置檢測 方法。
根據本發明之一個方面，提供一種觸控面板之位置檢測方法，該觸控面板包括：一第一電阻膜，於一第一方向之兩端設有一第一電極及一第二電極；一第二電阻膜，於與該第一方向正交之一第二方向之兩端設有一第三電極及一第四電極，其特徵在於，於對該第一電極施加電源電壓、並將該第二電極接地的狀態下，測定該第一電極之電位，求出該第一方向上兩點接觸點之距離；於對該第三電極施加電源電壓、並將該第四電極接地的狀態下，測定該第三電極之電位，求出該第二方向上兩點接觸點之距離；並且基於由該第三電極之電位所得到之該第二方向上之兩點接觸點之距離，對由該第一電極之電位所得到之該第一方向上之兩點接觸點之距離進行補正。
根據本發明之一個實施例，能夠提供一種於四線式之觸控面板中，即便是在同時於兩點接觸時也可簡單、低成本地、更準確地檢測出各個坐標位置的觸控面板之位置檢測方法及觸控面板。
10‧‧‧第一電阻膜
11‧‧‧XH電極
12‧‧‧XL電極
20‧‧‧第二電阻膜
21‧‧‧YH電極
22‧‧‧YL電極
30‧‧‧控制部
31‧‧‧AD轉換部
32‧‧‧記憶體
40‧‧‧顯示裝置
ADX1‧‧‧電位檢測部
ADX2‧‧‧電位檢測部
ADY1‧‧‧電位檢測部
ADY2‧‧‧電位檢測部
SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6、SW7‧‧‧開關
Rx1‧‧‧電阻
Rx2‧‧‧電阻
第1圖係用於本發明之觸控面板的結構圖。
第2圖係第一實施方式中之位置檢測方法的流程圖。
第3圖係於第一實施方式中之觸控面板中一點接觸的說明圖(1)。
第4圖係於第一實施方式中之觸控面板中一點接觸的說明圖(2)。
第5圖係於第一實施方式中之觸控面板中兩點接觸的說明圖(1)。
第6圖係於第一實施方式中之觸控面板中兩點接觸的說明圖(2)。
第7圖係用於對利用有限要素法來解析觸控面板之按下點的說明圖。
第8(a)、8(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(1)。
第9(a)、9(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(2)。
第10(a)、10(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖 (3)。
第11(a)、11(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(4)。
第12(a)、12(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(5)。
第13(a)、13(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(6)。
第14(a)、14(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(7)。
第15(a)、15(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(8)。
第16圖係第一實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(1)。
第17(a)、17(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(9)。
第18圖係第一實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(2)。
第19(a)、19(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(10)。
第20(a)、20(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(11)。
第21(a)、21(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(12)。
第22(a)、22(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(13)。
第23(a)、23(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖 (14)。
第24(a)、24(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(15)。
第25(a)、25(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(16)。
第26圖係第一實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(3)。
第27(a)、27(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(17)。
第28圖係第一實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(4)。
第29(a)、29(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(18)。
第30(a)、30(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(19)。
第31(a)、31(b)圖係利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖(20)。
第32圖係兩點間之軸方向上之距離與XH電極上之電位的相關圖。
第33圖係兩點間之軸方向上之距離與(基準電位-測定電位)之相關圖。
第34圖係第二實施方式中位置檢測方法的流程圖。
第35圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(1)。
第36圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(2)。
第37圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(3)。
第38圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(4)。
第39圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(5)。
第40圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(6)。
第41圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(7)。
第42圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(8)。
第43圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(9)。
第44圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(10)。
第45圖係第二實施方式中位置檢測方法的子流程(11)。
第46圖係第一觸控面板中連接之電阻值之比例與電位之差。
第47圖係第二觸控面板中連接之電阻值之比例與電位之差。
第48圖係第三觸控面板中連接之電阻值之比例與電位之差。
第49圖係第四實施方式中觸控面板的結構圖。
第50圖係第四實施方式中觸控面板的說明圖。
第51圖係第四實施方式中觸控面板之電阻值之設定方法的流程圖。
第52圖係第五實施方式中觸控面板的結構圖。
第53圖係第五實施方式中其他觸控面板的結構圖。
第54圖係第五實施方式中觸控面板之電阻值之設定方法的流程圖。
第55圖係第六實施方式中觸控面板的結構圖。
第56圖係第六實施方式中其他之觸控面板的結構圖(1)。
第57圖係第六實施方式中其他之觸控面板的結構圖(2)。
第58圖係第六實施方式中其他之觸控面板的結構圖(3)。
第59圖係第七實施方式中觸控面板的說明圖。
第60圖係第七實施方式中觸控面板之初始化方法的說明圖。
第61圖係第七實施方式中觸控面板之初始化方法的流程圖(1)。
第62圖係第七實施方式中觸控面板之初始化方法的流程圖(2)。
第63圖係第七實施方式中觸控面板之初始化方法的流程圖(3)。
第64圖係第七實施方式中觸控面板之其他之初始化方法的說明圖。
第65(a)、65(b)圖係第八實施方式中觸控面板的說明圖。
第66(a)、66(b)圖係第八實施方式中其他之觸控面板的說明圖(1)。
第67圖係第八實施方式中其他之觸控面板的說明圖(2)。
第68圖係第九實施方式中觸控面板之按下點的說明圖。
第69圖係第九實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(1)。
第70圖係第九實施方式中觸控面板之位置檢測方法的說明圖(2)。
第71圖係兩點之中一點之Y坐標之位置與電壓下降之值的相關圖。
第72圖係兩點之中一點之Y坐標之位置與補正係數KRx的相關圖。
第73圖係第九實施方式中觸控面板之位置檢測方法的流程圖(1)。
第74圖係第九實施方式中觸控面板之位置檢測方法的流程圖(2)。
以下對本發明之實施方式進行說明。需要說明的是，對於相同部件等，付予相同符號並省略其說明。
[第一實施方式] (觸控面板之構造)
根據第1圖，對第一實施方式之觸控面板進行說明。本實施方式 之觸控面板具有由ITO(Indium Tin Oxide：氧化銦錫)等透明導電膜構成之第一電阻膜10以及第二電阻膜20。需要說明的是，第一電阻膜10及第二電阻膜20可形成於玻璃基板或透明薄膜等之表面，此時第一電阻膜10與第二電阻膜20相對地配置。在第一電阻膜10上，於X軸方向之兩端之一個上沿Y軸方向形成XH電極11、於另一個上沿Y軸方向形成XL電極12。又，在第二電阻膜20上，於Y軸方向之兩端之一個上沿X軸方向形成YH電極21、於另一個上沿X軸方向形成YL電極22。
XH電極11為第一電極，與由連接於電源電位Vcc之電晶體所構成之開關SW1、以及由透過電阻Rx1連接於Vcc之電晶體所構成之開關SW2連接，又，透過電阻R與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW7連接，再者，與設置於控制部30內的、用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADX1連接。
XL電極12為第二電極，與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW3連接，又，與用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADX2連接。
YH電極21為第三電極，與由連接於電源電位Vcc之電晶體所構成之開關SW4、以及由透過電阻Ry1連接於Vcc之電晶體所構成之開關SW5連接，又，與設置於控制部30內的、用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADY1連接。
YL電極22為第四電極，與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW6連接，又，與用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADY2連接。
需要說明的是，電阻Rx1為第一電阻，具有與電阻膜10中XH電極11與XL電極12之間之電阻值大致相等值之電阻值，電阻Ry1為第二電阻，具有與電阻膜20中YH電極21與YL電極22之間之電阻值大致相等值之電阻值。
開關SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6及SW7與設置於控制部30中的SW1控制端子、SW2控制端子、SW3控制端子、SW4控制端子、SW5控制端子、SW6控制端子及SW7控制端子連接。
需要說明的是，在控制部30內，設有可記憶各種資訊之記憶體32，又，控制部30連接於顯示裝置40。
(位置檢測方法)
接著，對本實施方式中之觸控面板之位置檢測方法進行說明。本實施方式之觸控面板之位置檢測方法係第1圖所示結構之觸控面板中之位置檢測方法，參照第2圖進行說明。需要說明的是，在對本實施方式進行說明時，作為例子，有時將電源電壓表示為5V，將接地電位表示為0V。
首先，在步驟S102中，進行第一X方向電位檢測。具體而言，在第1圖所示之觸控面板中，將開關SW2及SW3設為ON，將其餘之開關設為OFF狀態，在電位檢測部ADX1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Rx1對XH電極11施加Vcc之電壓、XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿X軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADX1測定電位，將檢測出之電位作為資訊記憶於記憶體32等中。需要說明的是，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位為於第一電阻膜10上由XH電極11與XL電極12之間所形成之電阻成分與電阻Rx1所分壓的值。又，有時將步驟S102稱為第一測定步驟。
接著，在步驟S104中，進行第一Y方向電位檢測。具體而言，在第1圖所示之觸控面板中，將開關SW5及SW6設為ON，將其餘之開關設為OFF，在電位檢測部ADY1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Ry1對YH電極21施加Vcc之電壓、YL電極22接地，因此在第二電阻膜20上沿X軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADY1測定電位，將檢測出之電位作為資訊記憶於記憶體32等中。需 要說明的是，在電位檢測部ADY1中所檢測出之電位為於第二電阻膜20上由YH電極21與YL電極22之間所形成之電阻成分與電阻Ry1所分壓的值。又，有時將步驟S104稱為第二測定步驟。
接著，在步驟S106中，進行接觸點是否為一點之判斷。具體而言，藉由判斷在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位以及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位是否均為Vcc/2，來進行接觸點為一點還是兩點之判斷。
更具體來說，在步驟S102中，當第一電阻膜10與第二電阻膜20之接觸點僅為A點一點時，如第3圖所示，XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜10之電阻值為第一電阻膜10之電阻成分R1與電阻成分R2串聯之值，該串聯電阻成分R1與電阻成分R2之電阻值與電阻Rx1之值大致相等。因此，在電位檢測部ADX1所檢測出之電位為Vcc/2。
在步驟S104中，當第一電阻膜10與第二電阻膜20之接觸點僅為A點一點時，如第4圖所示，YH電極21與YL電極22之間的第二電阻膜20之電阻值為第一電阻膜10之電阻成分R3與電阻成分R4串聯之值，該串聯電阻成分R3與電阻成分R4之電阻值與電阻Ry1之值大致相等。因此，在電位檢測部ADY1所檢測出之電位為Vcc/2。
另一方面，在步驟S102中，當第一電阻膜10與第二電阻膜20之接觸點為A點和B點兩點時，如第5圖所示，A點與B點之間的電阻成分為第一電阻膜10之電阻成分R12與第二電阻膜20之電阻成分R22並聯之值。由此，XL電極12與B點之間為第一電阻膜10之電阻成分R11，A點與B點之間為電阻成分R12與電阻成分R22並聯之電阻成分，A點與XH電極11之間為第一電阻膜10之電阻成分R13之合成電阻。因此，由於包含電阻成分R12與電阻成分R22並聯之電阻成分，因此該合成電阻之值低於電阻Rx1。由此，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位為較Vcc/2更低之電位。
又，在步驟S104中，當第一電阻膜10與第二電阻膜20之接觸點為A點和B點兩點時，如第6圖所示，A點與B點之間的電阻成分為第一電阻膜10之電阻成分R12與第二電阻膜20之電阻成分R22並聯之值。由此，YL電極22與A點之間為第二電阻膜20之電阻成分R21，A點與B點之間為電阻成分R12與電阻成分R22並聯之電阻成分，B點與YH電極21之間為第二電阻膜20之電阻成分R23之合成電阻。因此，由於包含電阻成分R12與電阻成分R22並聯之電阻成分，因此該合成電阻之值低於電阻Ry1。由此，在電位檢測部ADY1中所檢測出之電位為較Vcc/2更低之電位。
綜上所述，藉由判斷在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位以及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位是否均為Vcc/2，從而可進行接觸點為一點或兩點之判斷。
作為藉由判斷在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位以及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位是否均為Vcc/2，從而可進行接觸點為一點或兩點之判斷的根據，表示出利用有限要素法對觸控面板進行解析之結果。具體而言，如第7圖所示假定為正方形之形狀的觸控面板，對沿X方向及Y方向進行100分割者之中、按下點為X方向上第5、20、35、50、65、80、95個之位置(以下有時將該些位置稱為5之位置、20之位置、35之位置、50之位置、65之位置、80之位置、95之位置)、以及Y方向上第5、20、35、50、65、80、95個之位置(以下有時將該些位置稱為5之位置、20之位置、35之位置、50之位置、65之位置、80之位置、95之位置)之情形進行解析。需要說明的是，對於間隔或距離等，有時使用各個位置之值之差進行表示。
第8圖係表示沿當X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其Y坐標均同為5之位置，X軸方向上之間隔變化為30、 60、90的圖。第8(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第8(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
又，第9圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其Y坐標均同為50之位置，X軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第9(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第9(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
又，第10圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其Y坐標均同為95之位置，X軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第10(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第10(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
如第8圖至第10圖所示，當兩點之接觸位置之Y坐標均為相同位置時，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位為所施加電壓之5V之一半以下之電位，又，隨著兩點間距離遠離，在電位檢測部ADX1中所檢測出電位降低。換言之，若相對於施加電壓方向之平行方向上作為接觸點之兩點間之距離遠離，則在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位降低。對此，沿Y軸方向施加電壓時亦同樣，於該情形下，在電位檢測部ADY1中所檢測出之電位降低。
第11圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其X坐標均同為5之位置，Y軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第11(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐 標位置，第11(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
第12圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其X坐標均同為50之位置，Y軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第12(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第12(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
第13圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，對於觸控面板中之兩點之接觸位置，其X坐標均同為95之位置，Y軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第13(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第13(b)圖表示兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
如第11圖至第13圖所示，當兩點之接觸位置之X坐標均為相同位置時，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位為所施加電壓之5V之一半之電位，並不依存兩點間之距離而保持一定。換言之，即便相對於施加電壓之方向之垂直方向上作為接觸點之兩點間之距離遠離，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位也不發生變化而保持一定。對此，沿Y軸方向施加電壓時亦同樣。此時，在電位檢測部ADY1中所檢測出之電位不發生變化而保持一定。
第14圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置沿斜方向、亦即非為X軸方向及Y軸方向之右上方向(一個接觸點為較另一個接觸點離XL電極12及YH電極21均靠近之位置、或另一個接觸點為較一個接觸點離XH電極11及YL電極22均靠近之位置的 方向)，使兩點間之X軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第14(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第14(b)圖表示X軸方向上之兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
第15圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即透過電阻Rx1對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置沿斜方向、亦即非為X軸方向及Y軸方向之左上方向(一個接觸點為較另一個接觸點離XH電極11及YH電極21均靠近之位置、或另一個接觸點為較一個接觸點離XL電極12及YL電極22均靠近之位置的方向)，使兩點間之X軸方向上之間隔變化為30、60、90的圖。第15(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第15(b)圖表示X軸方向上之兩點間之間隔、亦即兩點間之距離與於電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。
如第14圖及第15圖所示，當兩個接觸點係非X軸方向及Y軸方向時，在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位為所施加電壓之5V之一半以下之電位，隨著兩點間距離遠離，在電位檢測部ADX1中所檢測出電位降低。換言之，若在相對於施加電壓方向之非平行方向非垂直方向上，兩點間之距離遠離，則在電位檢測部ADX1中所檢測出之電位降低。對此，沿Y軸方向施加電壓時亦同樣，於該情形下，在電位檢測部ADY1中所檢測出之電位降低。
具體而言，當觸控面板之接觸點為零時、或為一點時，預先沿X軸方向產生電場分布並在電位檢測部ADX1中對作為初始電位之電位進行測定，同樣，沿Y軸方向產生電場分布並在電位檢測部ADY1中對作為初始電位之電位進行測定，將其記憶於記憶體32中。換言之，當觸控面板之接觸點為零時、或為一點時，使第1圖所示之觸控面板之開關SW2及SW3為ON、使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部 ADX1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Rx1對XH電極11施加Vcc之電壓，並將XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿X軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADX1測定電位，將檢測出之電位作為初始電位記憶於記憶體32等中。同樣，使開關SW5及SW6為ON、使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部ADY1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Ry1對YH電極21施加Vcc之電壓，並將YL電極22接地，因此在第二電阻膜20上沿Y軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADY1測定電位，將檢測出之電位作為初始電位記憶於記憶體32等中。
藉由將該初始電位之值與在步驟S102及S104中所測定之電位之值進行比較，可判斷接觸點為一點還是兩點、當為兩點時連接接觸點兩點之線段為平行於X軸方向還是平行於Y軸方向(垂直於X軸方向)、還是為既不平行於X軸方向也不平行於Y軸方向之方向。
具體而言，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位與在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位大致相同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位與在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位大致相同時，判斷接觸點為一點；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位較在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位與在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位大致相同時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與X軸方向平行(垂直於Y軸方向)；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位與在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位大致相同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位較在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位更低時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與Y軸方向平行(垂直於X軸方向)；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位較在電位檢測部ADX1中所測定之初 始電位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位較在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位更低時，判斷接觸點在既非X軸方向亦非Y軸方向之斜方向上兩點接觸。
更具體而言，在由電位檢測部ADX1及ADY1所測定之初始電位均為2.5V的情況下，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V時，判斷接觸點為一點；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與X軸方向平行；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V以下時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與Y軸方向平行(垂直於X軸方向)；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V以下時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為既非X軸方向亦非Y軸方向之斜方向。
由此，可進行接觸點為一點或兩點、當為兩點時連接接觸點兩點之線段為平行於X軸方向或平行於Y軸方向(垂直於X軸方向)亦或為既不平行於X軸方向也不平行於Y軸方向之方向的判斷。
又，作為不測定初始電位而進行接觸點是一點還是兩點之判斷之別的方法，可當在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2.5V、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V時，判斷接觸點為一點。又，可當在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2.5V、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V以下時，判斷接觸點在與Y軸方向平行之方向上兩點接觸。又，可當在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2.5V以下、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V時，判斷接觸點在與X軸方向平行之方向上兩點接觸。再者，可當在電位檢測部 ADX1中所檢測出電位為2.5V以下、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V以下時，判斷接觸點在既非X軸方向亦非Y軸方向之斜方向上兩點接觸。
根據以上內容在步驟S106中，可判斷本實施方式之觸控面板之接觸點為一點還是兩點。需要說明的是，對於為2.5V還是為2.5V以下之判斷，以2.5V為基準設定用於決定預定範圍之閾值，若所測定之電位在預定範圍內，則判斷電位為2.5V，若超出預定範圍，則判斷電位為2.5V以下。需要說明的是，對於該些判斷之資訊，根據需要記憶於控制部30之記憶體32等中。
在步驟S106中，當判斷觸控面板之接觸點為一點時，移動至步驟S108，又，當判斷接觸點為兩點時，移動至步驟S110。
接著，在步驟S108中，檢測出觸控面板之接觸點為一點時的接觸點之位置坐標。對於該位置坐標之檢測，由於接觸點為一點，因此可利用通常之位置檢測方法來進行接觸點之位置坐標之檢測。例如，在對XH電極11施加5V之電位，將XL電極12接地的狀態下，利用電位檢測部ADY1等檢測出X軸方向上之電位，基於該電位檢測出接觸點之X坐標之位置。又，在對YH電極21施加5V之電位，將YL電極22接地的狀態下，利用電位檢測部ADX1等檢測出Y軸方向上之電位，基於該電位檢測出接觸點之Y坐標之位置。
接著，在步驟S110中，進行第二X方向電位檢測。具體而言，在第1圖所示之觸控面板中，使開關SW1及SW3為ON，使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部ADY1及ADY2中測定電位。在此狀態下，由於對XH電極11施加Vcc之電壓，XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿X軸方向產生電位分布。在此狀態下於電位檢測部ADY1及ADY2中測定電位，將檢測出之電位作為資訊記憶於記憶體32等中。需要說明的是，有時將步驟S110稱為第三測定步驟。
接著，在步驟S112中，進行第二Y方向電位檢測。具體而言，在第1圖所示之觸控面板中，使開關SW4及SW6為ON，使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部ADX1及ADX2中測定電位。在此狀態下，由於對YH電極21施加Vcc之電壓，YL電極22接地，因此在第二電阻膜20上沿Y軸方向產生電位分布。在此狀態下於電位檢測部ADX1及ADX2中測定電位，將檢測出之電位作為資訊記憶於記憶體32等中。需要說明的是，有時將步驟S112稱為第四測定步驟。
接著，在步驟S114中，對連接在觸控面板中接觸之兩點的線段之傾斜進行檢測。具體而言，對連接在觸控面板中接觸之兩點的線段是否平行於X軸方向或Y軸方向、以及不平行時是右上傾斜還是左上傾斜進行判斷。換言之，如上所述，當觸控面板之接觸點為零時、或為一點時，預先沿X軸方向產生電場分布並在電位檢測部ADX1中對作為初始電位之電位進行測定，同樣，沿Y軸方向產生電場分布並在電位檢測部ADY1中對作為初始電位之電位進行測定，將其記憶於記憶體32中。具體而言，當觸控面板之接觸點為零時、或為一點時，使第1圖所示之觸控面板之開關SW2及SW3為ON、使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部ADX1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Rx1對XH電極11施加Vcc之電壓，並將XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿X軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADX1測定電位，將檢測出之電位作為初始電位記憶於記憶體32等中。同樣，使開關SW5及SW6為ON、使其餘之開關為OFF狀態，在電位檢測部ADY1中測定電位。在此狀態下，由於透過電阻Ry1對YH電極21施加Vcc之電壓，並將YL電極22接地，因此在第二電阻膜20上沿Y軸方向產生電位分布。在此狀態下利用電位檢測部ADY1測定電位，將檢測出之電位作為初始電位記憶於記憶體32等中。
藉由將初始電位之值與在步驟S102及S104中所測定之電位之值 進行比較，可判斷連接接觸點兩點之線段為平行於X軸方向還是平行於Y軸方向(垂直於X軸方向)。
具體而言，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位較在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位與在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位大致相同時，可判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與X軸方向平行(垂直於Y軸方向)；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位與在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位大致相同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位較在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位更低時，可判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與Y軸方向平行(垂直於X軸方向)。此時，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位較在電位檢測部ADX1中所測定之初始電位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位較在電位檢測部ADY1中所測定之初始電位更低時，可判斷接觸點在既非X軸方向亦非Y軸方向之斜方向上兩點接觸。
更具體而言，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與X軸方向平行；當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V以下時，判斷連接作為接觸點之兩點的線段為與Y軸方向平行(垂直於X軸方向)。此時，當在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定之電位為2.5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定之電位為2.5V以下時，可判斷連接作為接觸點之兩點的線段為既非X軸方向亦非Y軸方向之斜方向。
由此，可進行判斷連接作為接觸點之兩點的線段為平行於X軸方向還是平行於Y軸方向。
又，作為不測定初始電位而進行同樣判斷之別的方法，可當在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2.5V、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V以下時，換言之，當電位檢測部ADY1所檢測出電位較電位檢測部ADX1所檢測出電位更低時，判斷接觸點在與Y軸方向平行之方向上兩點接觸。又，可當在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2.5V以下、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2.5V時，換言之，當電位檢測部ADY1所檢測出電位較電位檢測部ADX1所檢測出電位更高時，判斷接觸點在與X軸方向平行之方向上兩點接觸。
對於線段不平行之情況，具體而言，在步驟S110中，如第16圖所示，對於作為觸控面板之接觸點之兩點之A點及B點，當B點較A點更靠近XL電極12及YH電極21時，對於電位檢測部ADY1及ADY2中所檢測出之電位，如第17圖所示，在電位檢測部ADY2中所得到之電位較在電位檢測部ADY1中所得到之電位更高。
第17圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置在一定間隔之右上之直線上時，使接觸位置變化的圖。第17(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第17(b)圖表示兩點之中點之X坐標位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
推測其原因是：由於A點靠近在第一電阻膜10上施加5V之電壓之XH電極11，因此受其影響，與靠近A點之第二電阻膜20之YL電極22連接之電位檢測部ADY2更易檢測出較高之電位；由於B點靠近在第一電阻膜10上接地之XL電極12，因此受其影響，與靠近B點之第二電阻膜20之YH電極21連接之電位檢測部ADY1更易檢測出較低之電位。
在步驟S110中，如第18圖所示，對於作為觸控面板之接觸點之兩點之A點及B點，當A點較B點更靠近XH電極11及YH電極21時，對 於電位檢測部ADY1及ADY2中所檢測出之電位，如第19圖所示，在電位檢測部ADY2中所得到之電位較在電位檢測部ADY1中所得到之電位更低。
第19圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置在一定間隔之左上之直線上時，使接觸位置變化的圖。第19(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第19(b)圖表示兩點之中點之X坐標位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
推測其原因是：由於A點靠近在第一電阻膜10上施加5V之電壓之XH電極11，因此強烈地受到XH電極11之影響，與靠近A點之第二電阻膜20之YH電極21連接之電位檢測部ADY1更易檢測出較高之電位；由於B點靠近在第一電阻膜10上接地之XL電極12，因此強烈地受到XL電極12之影響，與靠近B點之第二電阻膜20之YL電極22連接之電位檢測部ADY2更易檢測出較低之電位。
綜上所述，可判斷連接接觸於觸控面板之兩點的線段之傾斜為右上還是左上。
又，還可根據在步驟S110中檢測出之電位，判斷接觸之兩點為平行於X軸方向、還是平行於Y軸方向。
具體而言，由於當兩點於與作為電壓施加方向之X軸方向平行的位置接觸時、以及當兩點於與作為電壓施加方向之X軸方向垂直的位置接觸時，電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位之值如下所述為相等，因此當當電位檢測部ADY1及ADY2所檢測之電位之值相等時，可判斷觸控面板中兩點之接觸位置平行於X軸方向或平行於Y軸方向。
第20圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加 5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之Y坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之X軸方向之間隔為90之方式為一定時(兩點之接觸位置之X坐標為5之位置和95之位置時)，使Y坐標上坐標位置變化的圖。第20(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第20(b)圖表示接觸點之Y坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
第21圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之Y坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之X軸方向之間隔為15之方式為一定時(兩點之接觸位置之X坐標為20之位置和35之位置時)，使Y坐標上坐標位置變化的圖。第21(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第21(b)圖表示接觸點之Y坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
第22圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之Y坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之X軸方向之間隔為15之方式為一定時(兩點之接觸位置之X坐標為65之位置和80之位置時)，使Y坐標上坐標位置變化的圖。第22(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第22(b)圖表示接觸點之Y坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
如第20圖至第22圖所示，當兩點之接觸位置之Y坐標均為相同位置時，電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位均為相同值，該值為對應A點與B點之中點的電位。例如，第20圖的情況下，由於中點之X坐標之位置為50之位置，因此電位檢測部ADY1及ADY2檢測出所施加之電壓之5V之電位之一半之2.5之值。又，第21圖的情況下，中點之X坐標之位置為相當於27.5的位置，第21圖的情況下，中點之X 坐標之位置為相當於72.5的位置，電位檢測部ADY1及ADY2檢測出與該些位置相當之電位。
又，第23圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之X坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之Y軸方向之間隔為90之方式為一定時(兩點之接觸位置之Y坐標為5之位置和95之位置時)，使X坐標上坐標位置變化的圖。第23(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第23(b)圖表示接觸點之X坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
第24圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之X坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之Y軸方向之間隔為15之方式為一定時(兩點之接觸位置之X坐標為65之位置和80之位置時)，使X坐標上坐標位置變化的圖。第24(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第24(b)圖表示接觸點之X坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
第25圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中之兩點之接觸位置之X坐標為相同坐標位置、使兩點之接觸位置之Y軸方向之間隔為15之方式為一定時(兩點之接觸位置之X坐標為20之位置和35之位置時)，使X坐標上坐標位置變化的圖。第25(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第25(b)圖表示接觸點之X坐標之位置與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的關係。
如第23圖至第25圖所示，當兩點之接觸位置之Y坐標均為相同位置時，電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位均為相同值，檢測出與A點和B點之X坐標對應之電位。換言之，當兩點在與Y軸方向平 行之方向上接觸時，不依存於A點與B點之間隔，電位檢測部ADY1及ADY2檢測出與A點和B點之X坐標對應之電位。
以上，對沿X軸方向施加電壓之情形進行了說明，對於沿Y軸方向施加電壓之情形也可利用同樣之方法來判斷連接在觸控面板上接觸之兩點的線段是否平行於X軸方向及Y軸方向。
如上所述，利用電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位是否為相同值，可根據在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出之電位及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所檢測出之電位，來判斷觸控面板中之兩點接觸點是否平行於X軸方向或Y軸方向，並可利用電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位之大小關係，來判斷連接所接觸兩點之線段之傾斜為右上之傾斜還是左上之傾斜。
換言之，當電位檢測部ADY1所檢測出之電位為較電位檢測部ADY2所檢測出之電位更低之電位時，判斷連接兩點之線段之傾斜為右上。又，當電位檢測部ADY1所檢測出之電位為較電位檢測部ADY2所檢測出之電位更高之電位時，判斷連接兩點之線段之傾斜為左上。又，當電位檢測部ADY1所檢測出之電位與電位檢測部ADY2所檢測出之電位相等時，判斷連接兩點之線段為平行於X軸方向或Y軸方向。
需要說明的是，對於觸控面板之兩點接觸點是否為平行於X軸方向或Y軸方向的判斷，對基於步驟S110及S112中所檢測出之電位、亦即在第三測定步驟及第四測定步驟中所得到之資訊進行判斷的情形進行了說明，但亦可基於步驟S102及S104中所檢測出之電位、亦即在第一測定步驟及第二測定步驟中所得到之資訊進行判斷。
又，當進行連接觸控面板之兩點接觸點之線段之傾斜為右上還是左上的判斷時，對沿X軸方向施加電壓的情形進行了說明，但沿Y軸方向施加電壓時亦可同樣地進行。
具體而言，如第26圖所示，當對YH電極21施加Vcc(5V)之電壓、使YL電極22接地(0V)時，對於作為觸控面板之接觸點之兩點的A點及B點，當A點較B點更靠近XH電極11及YL電極22時，對於電位檢測部ADX1及ADX2中所檢測出之電位，如第27圖所示，在電位檢測部ADX2中所得到之電位較在電位檢測部ADX1中所得到之電位更高。
需要說明的是，第27圖係表示當沿Y軸方向施加電壓時，亦即對YH電極21施加5V之電壓，將YL電極22接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置在一定間隔之右上之直線上時，使接觸位置變化的圖。第27(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第27(b)圖表示兩點之中點之X坐標位置與於電位檢測部ADX1及ADX2所檢測出之電位的關係。
推測其原因是：由於A點靠近在第二電阻膜20上接地之YL電極22，因此強烈地受到YL電極22之影響，與靠近A點之第一電阻膜10之XH電極11連接之電位檢測部ADX1更易檢測出較低之電位；由於B點靠近在第二電阻膜20上施加5V之電位之YH電極21，因此受其影響，與靠近B點之第二電阻膜20之XL電極12連接之電位檢測部ADX2更易檢測出較高之電位。
又，如第28圖所示，當對YH電極21施加Vcc(5V)之電壓、使YL電極22接地(0V)時，對於作為觸控面板之接觸點之兩點的A點及B點，當A點較B點更靠近XH電極11及YH電極21時，對於電位檢測部ADX1及ADX2中所檢測出之電位，如第29圖所示，在電位檢測部ADX2中所得到之電位較在電位檢測部ADX1中所得到之電位更低。
需要說明的是，第29圖係表示當沿Y軸方向施加電壓時，亦即對YH電極21施加5V之電壓，將YL電極22接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置在一定間隔之左上之直線上時，使接觸位置變化的圖。第29(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第29(b) 圖表示兩點之中點之X坐標位置與於電位檢測部ADX1及ADX2所檢測出之電位的關係。
推測其原因是：由於A點靠近在第二電阻膜20上接地之YH電極21，因此強烈地受到YH電極21影響，與靠近A點之第一電阻膜10之XH電極11連接之電位檢測部ADX1更易檢測出較高之電位；由於B點靠近在第二電阻膜20上之YL電極22，因此受其影響，與靠近B點之第一電阻膜10之XL電極12連接之電位檢測部ADX2更易檢測出較低之電位。
如此一來，即便是沿X軸方向施加電壓時，亦可同樣地判斷連接觸控面板中兩點接觸時之兩點接觸點的線段為右上還是左上。
接著，如步驟S116所示，算出觸控面板上接觸之兩點之中點。具體而言，藉由基於在步驟S110及S112中測定之電位(在第三測定步驟及第四測定步驟中測定之電位)來計算出各個電位之中點，從而計算出觸控面板中接觸之兩點之坐標之中點。
參照第30圖及第31圖對其進行說明。
第30圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置存在於右上之直線上時，以兩點接觸點之中點為50之方式使間隔變化時的圖。第30(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第30(b)圖表示X坐標之兩點間之距離(或Y坐標之兩點間之距離)與於電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位及其平均的關係。
第31圖係表示當沿X軸方向施加電壓時，亦即對XH電極11施加5V之電壓，將XL電極12接地時，觸控面板中之兩點之接觸位置存在於左上之直線上時，以兩點接觸點之中點為50之方式使間隔變化時的圖。第31(a)圖表示此狀態下之觸控面板之兩點接觸點之坐標位置，第31(b)圖表示X坐標之兩點間之距離(或Y坐標之兩點間之距離)與於 電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位及其平均的關係。
如第30圖及第31圖所示，處於隨著兩點間之間隔變寬，電位檢測部ADY1所檢測出之電位與電位檢測部ADY2所檢測出之電位之差變寬的趨勢。然而，電位檢測部ADY1所檢測出電位與電位檢測部ADY2所檢測出之電位之平均表示出一定之值，該值表示觸控面板之兩點接觸點之中點之值。
由此，藉由計算出電位檢測部ADY1所檢測出之電位與電位檢測部ADY2所檢測出之電位之平均值，可得到對應觸控面板之兩點接觸點之中點之X坐標的電位，並可根據所得到之電位得到中點之X坐標。
第30圖及第31圖對計算觸控面板上接觸之兩點接觸點之中點之X坐標的情形進行了說明，但當沿Y方向施加電壓時、亦即對YH電極21施加5V之電壓、將YL電極22接地時，亦可藉由檢測出電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位，並可同樣地根據檢測出之電位，而得到觸控面板中接觸之兩點接觸點之中點之Y坐標。
綜上所述，可得到觸控面板上接觸之兩點接觸點之中點之坐標。
接著，在步驟S118中，計算出觸控面板中接觸之兩點間之距離。具體而言，根據在步驟S102及步驟S104中測定之電位(在第一測定步驟及第二測定步驟中所測定之電位)，來計算出觸控面板中接觸之兩點間之距離。
參照第32圖對兩點間距離之計算進行說明。第32圖表示出步驟S102之狀態、亦即第5圖所示之狀態下的兩點間之X坐標之距離與連接於XH電極11之電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係。如第32圖所示，隨著兩點間之距離變寬，電位檢測部ADX1所檢測出之電位之值降低。又，當兩點存在於在與施加電壓之方向平行之、亦即平行於 X軸方向之方向上時，與兩點不存在於平行於X軸方向之方向上、亦即兩點存在於右上方向或左上方向之方向上時，兩點間之距離與電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係不同。
由此，對應在步驟S114中檢測出的觸控面板中接觸之兩點之位置關係、亦即兩點是否存在於與X軸方向平行之方向，選擇第32圖所示之兩點間之距離與在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出之電位的關係，並可基於所選擇之關係而得到X軸方向上之兩點間之距離。
具體而言，當觸控面板之兩點接觸點存在於與X軸方向平行之方向之直線上時，可使用第32圖中線32A所示之曲線，根據在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出之電位而計算出兩點之X軸方向之距離。又，當觸控面板之兩點接觸點未存在於與X軸方向平行之方向之直線上時、亦即觸控面板之兩點接觸點存在於右上或左上之直線上時，可使用第32圖中線32B所示之曲線，根據在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出之電位而計算出兩點之X軸方向之距離等。
需要說明的是，第33圖表示出2.5V與由電位檢測部ADX1等所檢測出電位之差、與X軸方向上兩點間之距離的關係。同樣，基於該相關關係，可利用2.5V與由電位檢測部ADX1所檢測出電位之差，來得到X軸方向之距離。
對於Y軸方向上之距離，亦可利用與上述相同之方法，基於在步驟S104中由電位檢測部ADY1所檢測出電位來得到。
需要說明的是，與2.5V之電壓之差V、與各個軸方向之距離L1~L4(需要說明的是，對於L1~L4，有時表示為X軸方向之距離Lx、Y軸方向之距離Ly)之關係如數學式1所示。也可使用該數學式1所示之式子計算出各個軸方向之距離L。需要說明的是，下述α1~α8、β1~β8、γ1~γ8、δ5~δ8可基於第32圖或第33圖預先計算出，亦可由實驗等而決 定。再者，該些值可記憶於控制部30等中。
[數學式1]平行方向近似式：L1=α 1V2+β 1V+γ 1 斜X方向近似式：L2=α 2V2+β 2V+γ 2 垂直方向近似式：L3=α 3V2+β 3V+γ 3 斜X方向近似式：L4=α 4V2+β 4V+γ 4
又，亦可使用如數學式2所示之三次式來計算。
[數學式2]平行方向近似式：L1=δ 5V3+α 5V2+β 5V+γ 5 斜X方向近似式：L2=δ 6V3+α 6V2+β 6V+γ 6 垂直方向近似式：L3=δ 7V3+α 7V2+β 7V+γ 7 斜X方向近似式：L4=δ 8V3+α 8V2+β 8V+γ 8
接著，在步驟S120中，計算出觸控面板中接觸之兩點之位置坐標。
具體而言，根據觸控面板中接觸之兩點之位置關係、兩點之中點之位置、以及兩點間之各個軸方向上之距離來計算出觸控面板中接觸之兩點之位置坐標。
具體而言，根據觸控面板中接觸之兩點之中點之位置、兩點間之各個軸方向之距離來計算出觸控面板中接觸之兩點之位置坐標。具體而言，當以X軸方向之距離為Lx、以Y軸方向之距離為Ly進行計算、以觸控面板中接觸之兩點之中點位置為(Xc、Yc)進行計算時，兩點之坐標由數學式3或數學式4所示之式子表示。需要說明的是，數學式3表示兩點存在於右上之傾斜的情形，數學式4表示兩點存在於左上之傾斜的情形，數學式5表示平行於X軸方向的情形，數學式6表示平行於Y軸方向的情形。
[數學式3] (Xc+Lx/2,Yc+Ly/2),(Xc-Lx/2,Yc-Ly/2)
[數學式4](Xc+Lx/2,Yc-Ly/2),(Xc-Lx/2,Yc+Ly/2)
[數學式5](Xc+Lx/2,Yc),(Xc-Lx/2,Yc)
[數學式6](Xc,Yc+Ly/2),(Xc,Yc-Ly/2)
綜上所述，本實施方式之觸控面板之位置檢測方法結束。在本實施方式之觸控面板之位置檢測方法中，即使是在觸控面板之接觸點為兩點時，亦可容易地正確地計算出兩點接觸點之坐標位置。
[第二實施方式]
接著，對第二實施方式進行說明。本實施方式係觸控面板之位置檢測方法，具有與第一實施方式一部分不同之程序。
對於本實施方式之觸控面板之位置檢測方法，參照第34圖進行說明。
首先，在步驟S202中，進行觸控面板之初始化。對於該初始化之具體內容下面將敘述。
接著，在步驟S204中，檢測於觸控面板上是否有由手指等之按下而進行之接觸，當有由手指等進行之接觸時，移動至步驟S206，當沒有由手指等進行之接觸時，直到有由手指等進行之接觸為止，重複步驟S204。具體而言，當在對第一電阻膜10施加電壓之狀態下，透過第二電阻膜20檢測出電位時，或者當在對第二電阻膜20施加電壓之狀態下，透過第一電阻膜10檢測出電位時，作為有又手指等進行之接觸，移動至步驟S206。
接著，在步驟S206中，進行識別為一點按下還是兩點按下之程序。
接著，在步驟S208中，進行是否為兩點按下之判斷。具體而言，根據在步驟S206中一點按下還是兩點按下之識別資訊，判斷是一點按下還是兩點按下。當為一點按下時，移動至步驟S210，當為兩點按下時，移動至步驟S212。
接著，在步驟S210中，計算位置坐標。具體而言，由於在步驟S208中判斷為一點按下，因此利用通常之4線式之觸控面板之位置檢測，來計算出一點按下之坐標位置。之後，第34圖之位置檢測結束。
在步驟S212中，識別連接在觸控面板上所按下兩點之線段之方向(傾斜)。對於步驟S212之程序之詳細內容後面將敘述。
接著，在步驟S214中，計算在觸控面板上所按下兩點間之距離。
接著，在步驟S216中，進行連接所按下兩點之線段是否平行於X軸方向的判斷。具體而言，根據步驟S212中所得到之資訊來判斷連接所按下兩點之線段是否平行於X軸方向。當判斷為連接所按下兩點之線段係平行於X軸方向(平行方向)時，移動至步驟S218，當判斷為連接所按下兩點之線段不平行於X軸方向時，移動至步驟S220。
接著，在步驟S218中，計算所按下之平行方向之兩點的坐標位置，之後，第34圖之位置檢測結束。對於該程式之詳細內容後面將敘述。
另一方面，當步驟S216為否時，在步驟S220中，連接進行所按下兩點之線段是否垂直於X軸方向的判斷。具體而言，根據步驟S212中所得到之資訊來判斷連接所按下兩點之線段是否垂直於X軸方向。當判斷為連接所按下兩點之線段係垂直於X軸方向(垂直方向)時，移動至步驟S222，當判斷為連接所按下兩點之線段不垂直於X軸方向時，移動至步驟S224。
接著，在步驟S222中，計算所按下之兩點的坐標位置，之後， 第34圖之位置檢測結束。對於該程式之詳細內容後面將敘述。
接著，在步驟S224中，檢測在觸控面板上所按下兩點之中點的坐標。對於該程式之詳細內容後面將敘述。
接著，在步驟S226中，計算連接在觸控面板上所按下兩點之線段的傾斜方向。對於該程式之詳細內容後面將敘述。
接著，在步驟S228中，計算在觸控面板上所按下兩點的位置坐標。對於該程式之詳細內容後面將敘述。
如上，本實施方式之觸控面板之位置檢測結束。
接著，根據第35圖對步驟S202中初始化之子流程進行說明。
首先，在步驟S302中，在電阻Rx1與、XH電極11與XL電極12之間之第一電阻膜10為串聯之狀態下對XH電極11施加電源電壓。換言之，如第3圖所示，透過電阻Rx1對XH電極11施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。需要說明的是，在此狀態下，為觸控面板未接觸或於一點接觸。
接著，在步驟S304中，利用與XH電極11連接之電位檢測部ADX1檢測電位。
接著，在步驟S306中，將利用電位檢測部ADX1所檢測出之電位作為X軸之初始電位記憶於控制部30之記憶體32等中。
接著，在步驟S308中，在電阻Ry1與、YH電極21與YL電極22之間之第二電阻膜20為串聯之狀態下施加電源電壓。換言之，如第4圖所示，透過電阻Ry1對YH電極21施加電源電壓Vcc，將YL電極22接地。需要說明的是，在此狀態下，為觸控面板未接觸或於一點接觸。
接著，在步驟S310中，利用與YH電極21連接之電位檢測部ADY1檢測電位。
接著，在步驟S312中，將利用電位檢測部ADY1所檢測出之電位作為Y軸之初始電位記憶於控制部30之記憶體32等中。
需要說明的是，步驟S302至S306與步驟S308至S312之順序亦可相反。
如下，第35圖之子流程結束。
接著，參照第36圖對步驟S206中之識別是一點按下還是兩點按下的子流程進行說明。
首先，在步驟S322中，在電阻Rx1與、XH電極11與XL電極12之間之第一電阻膜10為串聯之狀態下對電阻Rx1施加電源電壓。換言之，如第3圖或第5圖所示，在電阻Rx1上於未與XH電極11連接側施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。需要說明的是，在此狀態下，觸控面板為一點接觸或兩點接觸。
接著，在步驟S324中，利用與XH電極11連接之電位檢測部ADX1檢測電位。
接著，在步驟S326中，在電阻Ry1與、YH電極21與YL電極22之間之第二電阻膜20為串聯之狀態下施加電源電壓。換言之，如第4圖或第6圖所示，在電阻Ry1上於未與YH電極21連接側施加電源電壓Vcc，將YL電極22接地。需要說明的是，在此狀態下，觸控面板為一點接觸或兩點接觸。
接著，在步驟S328中，利用與YH電極21連接之電位檢測部ADY1檢測電位。
接著，在步驟S330中，計算作為初始化中求得之X軸之初始電位與步驟S324中檢測出之電位之差的X電位差。
接著，在步驟S332中，計算作為初始化中求得之Y軸之初始電位與步驟S328中檢測出之電位之差的Y電位差。
接著，在步驟S334中，判斷在步驟S332中所計算出之Y電位差是否未滿(小於)預定之Y閾值。當Y電位差未滿預定之Y閾值時，移動至步驟S336，當Y電位差不是未滿(大於等於)預定之Y閾值時，移動至 步驟S338。需要說明的是，Y閾值係用於識別觸控面板之接觸是否為一點還是兩點的預先設定之值，係考慮誤差等之值。
接著，在步驟S336中，判斷在步驟S330中所計算出之X電位差是否未滿(小於)預定之X閾值。當X電位差未滿預定之X閾值時，移動至步驟S340，當X電位差不是未滿(大於等於)預定之X閾值時，移動至步驟S338。需要說明的是，X閾值係用於識別觸控面板之接觸是否為一點還是兩點的預先設定之值，係考慮誤差等之值。
接著，在步驟S338中，當判斷為觸控面板中由手指等進行之接觸為兩點時，因此將表示兩點接觸之資訊記憶於控制部30之記憶體32等中。
接著，在步驟S340中，當判斷為觸控面板中由手指等進行之接觸為一點時，因此將表示一點接觸之資訊記憶於控制部30之記憶體32等中。
如上，第36圖之子流程結束。
接著，參照第37圖，對用於識別連接步驟212中觸控面板上所按下兩點之線段之方向(傾斜)的子流程進行說明。
首先，在步驟S362中，判斷在步驟S330中所計算出之X電位差是否未滿(小於)預定之X閾值。當X電位差未滿預定之X閾值時，移動至步驟S366，當X電位差不是未滿(大於等於)預定之X閾值時，移動至步驟S364。
接著，在步驟S364中，判斷在步驟S332中所計算出之Y電位差是否未滿(小於)預定之Y閾值。當Y電位差未滿預定之Y閾值時，移動至步驟S368，當Y電位差不是未滿(大於等於)預定之Y閾值時，移動至步驟370。
當步驟S362為是時，判斷為觸控面板上由手指等進行之兩點接觸點存在於平行於與X軸方向垂直之Y軸方向的直線上，並作為兩點 為垂直方向，在步驟S366中將表示兩點為垂直方向之資訊記憶於控制部30之記憶部32等中。
接著，在步驟S368中，判斷為觸控面板上由手指等進行之兩點接觸點存在於相對於X軸方向為垂直方向(相對於Y軸方向之平行方向)的直線上，並作為兩點為平行方向，將表示兩點為平行方向之資訊記憶於控制部30之記憶部32等中。
接著，在步驟S370中，判斷為觸控面板上由手指等進行之兩點接觸點存在於相對於X軸方向既非平行亦非垂直之斜方向的直線上，並作為兩點為斜方向，將表示兩點為斜方向之資訊記憶於控制部30之記憶部32等中。
如上，識別連接兩點之線段之方向之子流程結束。
接著，參照第38圖對步驟S214中計算作為接觸點之兩點之距離的子流程進行說明。
首先，在步驟S382中，計算觸控面板上兩點接觸點之X坐標之距離、亦即兩點接觸點之X坐標之差。具體而言，根據第32圖、第33圖或數學式1、數學式2所示之式子，計算出與在步驟S330中所計算出的X電位差對應的X坐標之距離Lx。
接著，在步驟S384中，計算觸控面板上兩點接觸點之Y坐標之距離、亦即兩點接觸點之Y坐標之差。具體而言，根據第32圖、第33圖或數學式1、數學式2所示之式子，計算出與在步驟S332中所計算出的Y電位差對應的Y坐標之距離Ly。
如上，計算兩點距離之子流程結束。
接著，參照第39圖，對步驟S218中計算平行方向之兩點接觸點之位置坐標的子流程進行說明。
首先，在步驟S402中，利用通常之4線式之位置檢測方法進行坐標檢測。由此，得到X坐標Xa及Y坐標Ya。在此，由於兩點按下點存 在於垂直方向、亦即垂直於X軸方向之方向，因此兩個按下點之X坐標為相同。由此，X坐標為X1、X2。又，Y坐標為兩個按下點之中點之坐標。
接著，在步驟S404中，將觸控面板之兩點按下點之中一個按下點之X坐標X1作為在步驟S402中檢測出之坐標Xa。
接著，在步驟S406中，將觸控面板之兩點按下點之中另一個按下點之X坐標X2作為在步驟S402中檢測出之坐標Xa。
接著，在步驟S408中，計算觸控面板之兩個按下點之中一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S384中得到之Y坐標之兩點間之距離Ly，由Y1=Ya+Ly/2計算出一個按下點之Y坐標。
接著，在步驟S410中，計算觸控面板之兩個按下點之中另一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y2=Ya-Ly/2計算出另一個按下點之Y坐標。
如上，本子流程結束。
接著，參照第40圖，對步驟S222中計算垂直方向之兩點接觸點之位置坐標的子流程進行說明。
首先，在步驟S422中，利用通常之4線式之位置檢測方法進行坐標檢測。由此，得到X坐標Xa及Y坐標Ya。此時，由於兩個按下點存在於平行方向、亦即平行於X軸方向之方向，因此Y坐標之位置為相同。由此，Y坐標Ya為兩點按下點之Y坐標Y1、Y2。又，X坐標Xa為兩個按下點之中點之坐標。
接著，在步驟S424中，計算觸控面板之兩個按下點之中一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X1=Xa-Lx/2計算出一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S426中，計算觸控面板之兩個按下點之中另一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S382中得到之X坐標之距離 Lx，由X2=Xa+Lx/2計算出另一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S428中，將觸控面板之兩點按下點之中一個按下點之Y坐標Y1作為在步驟S422中檢測出之坐標Ya。
接著，在步驟S430中，將觸控面板之兩點按下點之中另一個按下點之Y坐標Y2作為在步驟S422中檢測出之坐標Ya。
如上，本子流程結束。
接著，根據第41圖，對步驟S224中計算接觸點為兩點時之中點坐標的子流程進行說明。
首先，在步驟S442中，對XH電極11與XL電極12之間之第一電阻膜10施加電源電壓。換言之，如第16圖或第18圖所示，對XH電極11施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。
接著，在步驟S444中，由與第二電阻膜20之YH電極21連接之電位檢測部ADY1檢測電位。
接著，在步驟S446中，由與第二電阻膜20之YL電極22連接之電位檢測部ADY2檢測電位。
接著，在步驟S448中，對YH電極21與YL電極22之間之第二電阻膜20施加電源電壓。換言之，如第26圖或第28圖所示，對YH電極21施加電源電壓Vcc，將YL電極22接地。
接著，在步驟S450中，由與第一電阻膜10之XH電極11連接之電位檢測部ADX1檢測電位。
接著，在步驟S452中，由與第一電阻膜10之XL電極12連接之電位檢測部ADX2檢測電位。
接著，在步驟S454中，計算在步驟S450中由電位檢測部ADX1所檢測出電位與在步驟S452中由電位檢測部ADX2所檢測出電位之平均值，並根據電位之平均值之值來計算中點之X坐標Xc。
接著，在步驟S456中，計算在步驟S444中由電位檢測部ADY1所 檢測出電位與在步驟S446中由電位檢測部ADY2所檢測出電位之平均值，並根據該平均值之值來計算中點之Y坐標Yc。
如上，本子流程接觸。
接著，參照第42圖，對步驟S226中調查連接兩點接觸點之線段之傾斜之方向的子流程進行說明。
首先，在步驟S462中，對XH電極11與XL電極12之間之第一電阻膜10施加電源電壓。換言之，如第16圖或第18圖所示，對XH電極施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。
接著，在步驟S464中，由與第二電阻膜20之YH電極21連接之電位檢測部ADY1檢測電位。
接著，在步驟S466中，由與第二電阻膜20之YL電極22連接之電位檢測部ADY2檢測電位。
接著，在步驟S468中，判斷由電位檢測部ADY1所檢測出之電位與由電位檢測部ADY2所檢測出之電位的大小關係。具體而言，當由電位檢測部ADY1所檢測出之電位大於由電位檢測部ADY2所檢測出之電位時，移動至步驟S470。又，當由電位檢測部ADY2所檢測出之電位大於由電位檢測部ADY1所檢測出之電位時，移動至步驟S472。
接著，在步驟S470中，由於判斷為連接兩個接觸點之線段為右上，因此將連接兩個接觸點之線段為右上之主旨之資訊記憶於控制部30之記憶體32等中。
接著，在步驟S472中，由於判斷為連接兩個接觸點之線段為左上，因此將連接兩個接觸點之線段為左上之主旨之資訊記憶於控制部30之記憶體32等中。
如上，本子流程結束。需要說明的是，由於本子流程之步驟S462至步驟S466與第41圖所示之子流程重複，因此在第41圖所示之子流程中，可將由電位檢測部ADY1所檢測出之電位及由電位檢測部 ADY2所檢測出之電位先記憶於控制部30之記憶體32等中，並根據該資訊來進行步驟S468之後的步驟。
接著，參照第43圖，對步驟S228中計算兩點接觸點之位置坐標的子流程進行說明。
首先，在步驟S482中，根據記憶於記憶體部32中之資訊，判斷連接兩點接觸點之線段是否為右上。當判斷為傾斜是右上時，移動至步驟S484，當判斷為傾斜不是右上時，移動至步驟S492。
接著，在步驟S484中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S454中得到之兩點按下點之中點之X坐標Xc、與在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X1=Xc-Lx/2計算一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S486中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S454中得到之兩點按下點之中點之X坐標Xc、與在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx(亦即，在步驟S330中所計算出的與X電位差對應之X坐標之距離Lx)，由X2=Xc+Lx/2計算另一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S488中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S456中得到之兩點按下點之中點之Y坐標Yc、與在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y1=Yc-L2/2計算一個按下點之Y坐標。
接著，在步驟S490中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S456中得到之兩點按下點之中點之Y坐標Yc、與在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y2=Yc+L2/2計算一個按下點之Y坐標。
接著，在步驟S492中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S454中得到之兩點按下點之中 點之X坐標Xc、與在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X1=Xc-Lx/2計算一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S494中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S454中得到之兩點按下點之中點之X坐標Xc、與在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X2=Xc+Lx/2計算另一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S496中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S456中得到之兩點按下點之中點之Y坐標Yc、與在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y1=Yc+L2/2計算一個按下點之Y坐標。
接著，在步驟S498中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S456中得到之兩點按下點之中點之Y坐標Yc、與在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y2=Yc-L2/2計算一個按下點之Y坐標。
如上，本子流程結束。
需要說明的是，也可代替步驟S218及步驟S222中如第39圖及第40圖所示之子流程，而進行如第44圖及第45圖所示之子流程。
參照第44圖，對步驟S218中計算平行方向之兩點接觸點之位置坐標的其他之子流程進行說明。
在步驟S502中，進行第41圖所示之觸控面板之接觸點為兩點時的中點檢測之子流程。由此，得到X坐標Xc及Y坐標Yc。在此，由於認為兩個按下點存在於垂直方向、亦即垂直於X軸方向之方向，因此X坐標為相同之值。由此，X坐標Xc為兩個按下點之X坐標X1、X2。又，Y坐標Yc為兩個按下點之中點之坐標。
接著，在步驟S504中，將觸控面板中兩個按下點之中一個按下點之X坐標X1作為在步驟S502中檢測出之坐標Xc。
接著，在步驟S506中，將觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點之X坐標X2作為在步驟S502中檢測出之坐標Xc。
接著，在步驟S508中，計算出觸控面板中兩個按下點之中一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y1=Yc+Ly/2計算出一個按下點之Y坐標。
接著，在步驟S510中，計算出觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點之Y坐標。具體而言，根據在步驟S384中得到之Y坐標之距離Ly，由Y2=Yc-Ly/2計算出另一個按下點之Y坐標。
如上，本子流程結束。
參照第45圖，對步驟S222中計算垂直方向之兩點接觸點之位置坐標的其他之子流程進行說明。
首先，在步驟S522中，進行第41圖所示之觸控面板之接觸點為兩點時的中點檢測之子流程。由此，得到X坐標Xc及Y坐標Yc。在此，由於兩個按下點存在於平行方向、亦即平行於X軸方向之方向，因此Y坐標為相同之值。由此，Y坐標Yc為兩個按下點之Y坐標Y1、Y2。又，X坐標Xc為兩個按下點之中點之坐標。
接著，在步驟S524中，計算出觸控面板中兩個按下點之中一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X1=Xc-Lx/2計算出一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S526中，計算出觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點之X坐標。具體而言，根據在步驟S382中得到之X坐標之距離Lx，由X2=Xc+Lx/2計算出另一個按下點之X坐標。
接著，在步驟S528中，將觸控面板中兩個按下點之中一個按下點之Y坐標Y1作為在步驟S422中檢測出之坐標Yc。
接著，在步驟S530中，將觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點之Y坐標Y2作為在步驟S422中檢測出之坐標Yc。
如上，本子流程結束。
本實施方式之觸控面板之位置檢測方法，與第一實施方式相同，即使於觸控面板上接觸之接觸點為兩點時，亦能夠正確地利用簡單之方法進行位置檢測。
需要說明的是，對於上述以外之內容，與第一實施方式相同。
[第三實施方式]
接著，對第三實施方式進行說明。本實施方式係可使用第一實施方式及第二實施方式之位置檢測方法之觸控面板之一例。
首先，對在第1圖所示之觸控面板中，第一電阻膜10、第二電阻膜20與電阻Rx1、Ry1之關係進行說明。需要說明的是，在觸控面板中，一點按下時所檢測出之電位與兩點按下時所檢測出之電位之差越大，越能夠容易地進行觸控面板之接觸點為一點按下還是兩點按下的判斷。
(第一觸控面板)
對於第一觸控面板，是在第1圖所示之觸控面板上，以X軸方向之長度為91.0mm、Y軸方向為75.0mm之方式形成第一電阻膜10及第二電阻膜20。第一電阻膜10之XH電極11與XL電極12之間之電阻值為351.4Ω，第二電阻膜20之YH電極21與YL電極22之間之電阻值為210.0Ω。對於在該第一觸控面板中，針對電阻Rx1及Ry1之值、一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位進行調查之結果進行說明。
表1示出了在第一觸控面板中，電阻Rx1及Ry1之值、以各個電阻膜之電極間之電阻值為基準之電阻Rx1及Ry1之值的比例、以及在一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位及該些電位之差。需要說明的是，Vcc為5V。
第46圖表示出根據表1之結果，以各個電阻膜之電極間之電阻值 為基準時之電阻Rx1及Ry1之比例、與一點按下時及兩點按下時之電位之差的關係。在X軸方向上，電阻Rx1之電阻值相對於第一電阻膜10之電阻值為75~100%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.6V。在Y軸方向上，電阻Ry1之電阻值相對於第二電阻膜20之電阻值大約為75%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.4V。
一點按下時與兩點按下時的電位之差若為0.2V以上，則可容易地進行觸控面板之接觸點為一點按下還是兩點按下之判別。由此，相對於觸控面板之電阻膜之電阻值，電阻Rx1及Ry1之值為25%以上、40%以下為佳。再者，為了更確實地進行是一點按下還是兩點按下之判別，電位之差為0.3V以上為佳，此時，電阻Rx1及Ry1之值為50%以上、200%以下為更佳。
(第二觸控面板)
對於第二觸控面板，是在第1圖所示之觸控面板上，以X軸方向之長度為164.0mm、Y軸方向為101.0mm之方式形成第一電阻膜10及第二電阻膜20。第一電阻膜10之XH電極11與XL電極12之間之電阻值為866.0Ω，第二電阻膜20之YH電極21與YL電極22之間之電阻值為247.5Ω。對於在該第二觸控面板中，針對電阻Rx1及Ry1之值、一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位進行調查之結果進行說明。
表2示出了在第二觸控面板中，電阻Rx1及Ry1之值、以各個電阻膜之電極間之電阻值為基準之電阻Rx1及Ry1之值的比例、以及在一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位及該些電位之差。需要說明的是，Vcc為5V。
第47圖表示出根據表2之結果，以各個電阻膜之電極間之電阻值為基準時之電阻Rx1及Ry1之比例、與一點按下時及兩點按下時之電 位之差的關係。在X軸方向上，電阻Rx1之電阻值相對於第一電阻膜10之電阻值為大約75%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.7V。在Y軸方向上，電阻Ry1之電阻值相對於第二電阻膜20之電阻值大約為75%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.34V。
一點按下時與兩點按下時的電位之差若為0.2V以上，則可容易地進行觸控面板之接觸點為一點按下還是兩點按下之判別。由此，在第二觸控面板中，相對於觸控面板之電阻膜之電阻值，電阻Rx1及Ry1之值為25%以上、40%以下為佳。再者，為了更確實地進行是一點按下還是兩點按下之判別，電位之差為0.3V以上為佳，此時，電阻Rx1及Ry1之值為50%以上、100%以下為更佳。
(第三觸控面板)
對於第三觸控面板，是在第1圖所示之觸控面板上，以X軸方向之長度為183.0mm、Y軸方向為143.0mm之方式形成第一電阻膜10及第二電阻膜20。第一電阻膜10之XH電極11與XL電極12之間之電阻值為580.0Ω，第二電阻膜20之YH電極21與YL電極22之間之電阻值為360.0Ω。對於在該第三觸控面板中，針對電阻Rx1及Ry1之值、一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位進行調查之結果進行說明。
表3及表4示出了在第三觸控面板中，電阻Rx1及Ry1之值、以各個電阻膜之電極間之電阻值為基準之電阻Rx1及Ry1之值的比例、以及在一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位及該些電位之差。需要說明的是，Vcc為5V。
第48圖表示出根據表3及表4之結果，以各個電阻膜之電極間之電阻值為基準時之電阻Rx1及Ry1之比例、與一點按下時及兩點按下時之電位之差的關係。在X軸方向上，電阻Rx1之電阻值相對於第一電阻膜10之電阻值為大約75%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.32V。在Y軸方向上，電阻Ry1之電阻值相對於第二電阻膜20之電阻值大約為75%時，一點按下時與兩點按下時所檢測出之電位之差最大，其差大約為0.24V。
一點按下時與兩點按下時的電位之差若為0.2V以上，則可容易地進行觸控面板之接觸點為一點按下還是兩點按下之判別。由此，在第三觸控面板中，相對於觸控面板之電阻膜之電阻值，電阻Rx1及Ry1之值為50%以上、200%以下為佳。
如上所述，在本實施方式之觸控面板中，相對於第一電阻膜10及第二電阻膜20之電阻值，電阻Rx1及Ry1之電阻值被設定為25%以上、400%以下之值，再有，50%以上、200%以下為佳。又，更進一步50%以上、100%以下更佳，再進一步大約75%更加。
[第四實施方式]
接著，對第四實施方式進行說明。參照第49圖對本實施方式之觸控面板進行說明。
本實施方式之觸控面板具有複數個與第一電阻膜10串聯之電阻Rx1、Rx2、Rx3，藉由切換第一開關110，可選擇電阻Rx1、Rx2、Rx3之中任意一個，而與第一電阻膜10串聯。又，同樣地，本實施方式之觸控面板具有複數個與第二電阻膜20串聯之電阻Ry1、Ry2、Ry3，藉由切換第二開關120，可選擇電阻Ry1、Ry2、Ry3之中任意一個，而與第二電阻膜20串聯。需要說明的是，在本實施方式中，將電阻Rx1、Rx2、Rx3稱為第一電阻群130，將電阻Ry1、Ry2、Ry3稱為第二電阻群140。又，第一電阻群130及第二電阻群140各自包括之電阻個數可為複數個。需要說明的是，第一開關110與控制部30之第一開關控制端子連接，第二開關120與控制部30之第二開關控制端子連接。
在本實施方式之觸控面板中，藉由切換第一開關110，可從電阻Rx1、Rx2、Rx3中選擇最適於第一電阻膜10之電阻。具體而言，從電阻Rx1、Rx2、Rx3中選擇與第一電阻膜10之XH電極11與XL電極12之間之電阻值之75%之值最接近的值。
第50圖表示電阻Rx1、Rx2、Rx3、第一開關110、第一電阻膜10、電位檢測部ADX1。如第50圖所示，當以第一電阻膜10之XH電極11與XL電極12之間之電阻值為RSx時，藉由切換第一開關110，與電阻Rx1、Rx2、Rx3之任意一個連接，並選擇與大約0.57V最接近之電 阻，該大約0.57V係由電位檢測部ADX1所得到之值為由(RSx/(RSx+0.75RSx))×Vcc而得到之值，透過切換第一開關110，將該電阻與第一電阻膜10連接。
同樣，藉由切換第二開關120，可從電阻Ry1、Ry2、Ry3中選擇最適於第一電阻膜20之電阻。具體而言，從電阻Ry1、Ry2、Ry3中選擇與第二電阻膜20之YH電極21與YL電極22之間之電阻值之75%之值最接近的值。
在本實施方式中，由於藉由切換第一開關110，可從電阻Rx1、Rx2、Rx3中選擇最適合之電阻值之電阻，並且藉由切換第二開關120，可從電阻Ry1、Ry2、Ry3中選擇最適合之電阻值之電阻，因此即使是在對於觸控面板之第一電阻膜10及第二電阻膜20由於製造誤差等而產生不均時，亦可選擇最適合之電阻。又，即使對於形狀不同之各種觸控面板，亦可選擇最適合之電阻。
(電阻之選擇方法)
接著，參照第51圖，對在本實施方式之觸控面板中，與第一電阻膜10及第二電阻膜20連接之電阻的選擇方法進行說明。需要說明的是，以下控制之一部分或全部基於控制部30之控制而進行。
首先，在步驟S602中，切換第一開關110，例如將電阻Rx1與第一電阻膜10串聯。
接著，在步驟S604中，在施加電源電壓Vcc之狀態下，由電位檢測部ADX1測定電位。
接著，在步驟S606中，對於與第一電阻膜10連接之X軸方向之電阻Rx1、Rx2、Rx3全部電阻，判斷在切換第一開關110之狀態下是否進行了電位檢測部ADX1之電位之測定。當對於全部之電阻進行了電位檢測部ADX1之電位之測定時，移動至步驟S608。當對於全部之電阻未進行電位檢測部ADX1之電位之測定時，移動至步驟S602。此 時，在步驟S602中，藉由切換第一開關110，進行將第一電阻膜10與下一個電阻Rx2或Rx3之連接。
接著，在步驟S608中，從X軸方向之電阻Rx1、Rx2、Rx3之中，選擇與由電位檢測部ADX1所檢測之電位為0.57Vcc最接近之電阻，利用第一開關110而與第一電阻膜10串聯。
首先，在步驟S610中，切換第二開關120，例如將電阻Ry1與第二電阻膜20串聯。
接著，在步驟S612中，在施加電源電壓Vcc之狀態下，由電位檢測部ADY1測定電位。
接著，在步驟S614中，對於與第一電阻膜20連接之Y軸方向之電阻Ry1、Ry2、Ry3全部電阻，判斷在切換第二開關120之狀態下是否進行了電位檢測部ADY1之電位之測定。當對於全部之電阻進行了電位檢測部ADY1之電位之測定時，移動至步驟S616。當對於全部之電阻未進行電位檢測部ADY1之電位之測定時，移動至步驟S610。此時，在步驟S610中，藉由切換第二開關120，進行將第二電阻膜20與下一個電阻Ry2或Ry3之連接。
接著，在步驟S616中，從Y軸方向之電阻Ry1、Ry2、Ry3之中，選擇與由電位檢測部ADY1所檢測之電位為0.57Vcc最接近之電阻，利用第二開關120而與第二電阻膜20串聯。
[第五實施方式]
接著，對第五實施方式進行說明。參照第52圖對本實施方式之觸控面板進行說明。
對於本實施方式之觸控面板，與第一電阻膜10串聯之電阻Rcx1及與第二電阻膜20串聯之Rcy1由可變電阻形成。
對於電阻Rcx1及電阻Rcy1之電阻值，以使其為最接近於第一電阻膜10之XH電阻11與XL電阻12之間之電阻值之75%值之值的方式調 節電阻Rcx1之值，同樣，以使其為最接近於第二電阻膜20之YH電阻21與YL電阻22之間之電阻值之75%值之值的方式調節電阻Rcy1之值。
具體而言，以使由電位檢測部ADX1所檢測出之電位之值為最接近大約0.57Vcc的方式，調節電阻Rcx1之值，同樣，以使由電位檢測部ADY1所檢測出之電位之值為最接近大約0.57Vcc的方式，調節電阻Rcx1之值。
在本實施方式中，即使是在對於觸控面板之第一電阻膜10及第二電阻膜20由於製造誤差等而產生不均時，亦可調節為最適合之電阻。又，即使對於形狀不同之各種觸控面板，亦可調節為最適合之電阻。
又，第53圖所示者係在本實施方式之觸控面板中，可在控制部230中透過Rcx1設定端子及Rcy1設定端子來設定電阻Rcx1及電阻Rcy1之電阻值。
(電阻值之設定方法)
接著，參照第54圖，對在本實施方式之觸控面板中，與第一電阻膜10及第二電阻膜20連接之電阻Rcx1及Rxy1之電阻值之設定方法進行說明。需要說明的是，以下控制之一部分或全部係基於控制部30之控制進行。
首先，在步驟S702中，在施加電源電壓Vcc之狀態下，由電位檢測部ADX1測定電位。
接著，在步驟S704中，判斷由電位檢測部ADX1所測定之電位是否為與0.57Vcc最接近之值。例如，判斷由電位檢測部ADX1所測定之電位是否為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下(當相對於第一電阻膜10之電阻值，設定電阻Rcx1之電阻值為25%以上、400%以下時)。當由電位檢測部ADX1所測定之電位為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下時，移動至步驟 S712。又，當由電位檢測部ADX1所測定之電位不為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下時，移動至步驟S706。
需要說明的是，在步驟S704中，當相對於第一電阻膜10之電阻值，設定電阻Rcx1之電阻值為50%以上、200%以下時，可根據由電位檢測部ADX1所測定之電位是否為0.33Vcc以上、0.67Vcc以下來進行判斷。又，當設定為50%以上、100%以下時，可根據由電位檢測部ADX1所測定之電位是否為0.5Vcc以上、0.67Vcc以下來進行判斷。
接著，在步驟S706中，判斷由電位檢測部ADX1所測定之電位是否高於或低於預定之電位之範圍(例如，0.2Vcc~0.8Vcc)。當高於預定之電位之範圍(例如，0.8Vcc)時，移動至步驟S708，當低於預定之電位之範圍(例如，0.2Vcc)時，移動至步驟S710。
接著，在步驟S708，將電阻Rcx1之電阻值調高。之後，移動至步驟S702。
接著，在步驟S710，將電阻Rcx1之電阻值調低。之後，移動至步驟S702。
首先，在步驟S712中，在施加電源電壓Vcc之狀態下，由電位檢測部ADY1測定電位。
接著，在步驟S714中，判斷由電位檢測部ADY1所測定之電位是否為與0.57Vcc最接近之值。例如，判斷由電位檢測部ADY1所測定之電位是否為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下(當相對於第二電阻膜20之電阻值，設定電阻Rcy1之電阻值為25%以上、400%以下時)。當由電位檢測部ADY1所測定之電位為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下時結束第54圖之電阻值之設定處理。又，當由電位檢測部ADY1所測定之電位不為0.2Vcc以上、0.8Vcc以下時，移動至步驟S716。
需要說明的是，在步驟S714中，當相對於第二電阻膜20之電阻值，設定電阻Rcy1之電阻值為50%以上、200%以下時，可根據由電 位檢測部ADY1所測定之電位是否為0.33Vcc以上、0.67Vcc以下來進行判斷。又，當設定為50%以上、100%以下時，可根據由電位檢測部ADY1所測定之電位是否為0.5Vcc以上、0.67Vcc以下來進行判斷。
接著，在步驟S716中，判斷由電位檢測部ADY1所測定之電位是否高於或低於預定之電位之範圍(例如，0.2Vcc~0.8Vcc)。當高於預定之電位之範圍(例如，0.8Vcc)時，移動至步驟S718，當低於預定之電位之範圍(例如，0.2Vcc)時，移動至步驟S720。
接著，在步驟S718，將電阻Rcy1之電阻值調高。之後，移動至步驟S712。
接著，在步驟S720，將電阻Rcy1之電阻值調低。之後，移動至步驟S712。
如上所述，在本實施方式之觸控面板中，可將電阻Rcx1及Rcy1之電阻值設定為預定之值。
需要說明的是，在第三實施方式至第五實施方式中，對電阻Rx1、Rx2、Rx3或Rcx1為一端連接XH電極11、另一端連接電源電壓，電阻Ry1、Ry2、Ry3或Rcy1為一端連接YH電極21、另一端連接電源電壓者進行了說明，但亦可代替此，電阻Rx1、Rx2、Rx3或Rcx1可為一端連接XL電極12、另一端接地，又，電阻Ry1、Ry2、Ry3或Rcy1可為一端連接YL電極22、另一端接地。
[第六實施方式]
接著，對第六實施方式進行說明。本實施方式之觸控面板係，在第一實施方式、第四實施方式、第五實施方式之觸控面板連接之電阻Rx1、電阻Ry1等連接於接地側的構造。
首先，第55圖所示構造之觸控面板係對應第1圖者，係在第一實施方式之觸控面板中，電阻Rx1及電阻Ry1連接接地側之構造者。具體而言，具有由ITO等透明導電膜構成之第一電阻膜10及第二電阻膜 20。在第一電阻膜10上，於X軸方向之兩端之一端沿Y軸方向形成有XH電極11，於另一端沿Y軸方向形成有XL電極12。又，在第二電阻膜20上，於Y軸方向之兩端之一端沿X軸方向形成有YH電極21，於另一端沿X軸方向形成有YL電極22。
XH電極11為第一電極，與由連接於電源電位Vcc之電晶體所構成之開關SW1、又，透過電阻R與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW7連接。再者，與設置於控制部30內的、用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADX1連接。
XL電極12為第二電極，與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW3連接，又，透過電阻Rx1與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW2連接，再有，與用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADX2連接。
YH電極21為第三電極，與由連接於電源電位Vcc之電晶體所構成之開關SW4，又，與設置於控制部30內的、用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADY1連接。
YL電極22為第四電極，與由連接於接地電位之電晶體所構成之開關SW6連接，又，透過電阻Ry1與由連接於接地電位所構成之開關SW5連接，再有，與用於在AD轉換器31中檢測電位之電位檢測部ADY2連接。
需要說明的是，電阻Rx1為第一電阻，具有與電阻膜10中XH電極11與XL電極12之間之電阻值大致相等值之電阻值。電阻Ry1為第二電阻，具有與電阻膜20中YH電極21與YL電極22之間之電阻值大致相等值之電阻值。
開關SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6及SW7與設置於控制部30中的SW1控制端子、SW2控制端子、SW3控制端子、SW4控制端子、SW5控制端子、SW6控制端子及SW7控制端子連接。
需要說明的是，第一實施方式之觸控面板係在第8圖至第10圖、第14圖、第15圖、第32圖中，隨著兩點間距離變寬而由AD轉換部31所檢測出之電位下降，但本實施方式之第55圖所示構造之觸控面板係隨著兩點間距離變寬而電位上升者。
第56圖所示構造之觸控面板對應於第49圖，在第四實施方式之觸控面板中，為電阻Rx1、Rx2、Rx3、Ry1、Ry2、Ry3連接於接地側之構造。具體而言，具有與第一電阻膜10之XL電極12側串聯之電阻Rx1、Rx2、Rx3，藉由切換第一開關110，可選擇電阻Rx1、Rx2、Rx3之中任意一個，而串聯於第一電阻膜10。又，同樣，具有與第二電阻膜20之YL電極22側串聯之電阻Ry1、Ry2、Ry3，藉由切換第二開關120，可選擇電阻Ry1、Ry2、Ry3之中任意一個，而串聯於第二電阻膜20。需要說明的是，第一開關110及第二開關120與接地電位連接。
第57圖所示構造之觸控面板對應於第52圖，在第五實施方式之觸控面板中，電阻Rcx1、Rcy1為連接接地側之構造。具體而言，由可變電阻形成之電阻Rcx1串聯於第一電阻膜10之XL電極12側，同樣，由可變電阻形成之電阻Rcy1串聯於第二電阻膜20之YL電極22側。需要說明的是，電阻Rcx1透過由電晶體構成之開關SW2與接地電位連接，電阻Rcy1透過由電晶體構成之開關SW5與接地電位連接。
第58圖所示構造之觸控面板對應於第53圖，在第五實施方式之觸控面板中，電阻Rcx1、Rcy1為連接接地側之構造。具體而言，電阻Rcx1串聯於第一電阻膜10之XL電極12側，同樣，電阻Rcy1串聯於第二電阻膜20之YL電極22側。需要說明的是，電阻Rcx1透過由電晶體構成之開關SW2與接地電位連接，電阻Rcy1透過由電晶體構成之開關SW5與接地電位連接。可在控制部230中透過Rcx1設定端子及Rxy1設定端子設定電阻Rcx1及電阻Rcy1之電阻值。
[第七實施方式]
接著，對第七實施方式進行說明。本實施方式係觸控面板等之初始化方法。具體而言，係用於當觸控面板上接觸點為兩點時更正確地進行位置檢測的初始化方法。
在本實施方式之初始化方法中，如第59圖所示，將第一實施方式之觸控面板1配置於與個人電腦(PC)60連接之顯示裝置40上的預定位置上。需要說明的是，顯示裝置40亦可不透過個人電腦60而與觸控面板1之控制部30直接連接。
在本實施方式中，如第60圖所示，在設置有觸控面板1之顯示裝置40的顯示畫面中，點A1、點A2、點A3、點A4配合按下時間而顯示，透過按下所顯示之點，可進行觸控面板1之初始化。點A1及點A4位於顯示裝置40之顯示畫面之對角，係較顯示裝置40之顯示畫面於X軸方向上Xedg之內側、於Y軸方向上Yedg內側之位置。點A2及點A3位於將點A1及點A4之間沿X軸方向三等分、沿Y軸方向三等分之坐標上。因此，點A1、點A2、點A3、點A4位於同一直線上。需要說明的是，點A1、點A2、點A3、點A4若為顯示裝置40之顯示畫面之四點，則亦可為上述三等分位置以外之位置。
(初始化方法)
接著，參照第61圖及第62圖，對本實施方式之初始化方法進行說明。需要說明的是，在第61圖及第62圖中，左側之流程圖表示在個人電腦60中進行之處理，右側之流程圖表示在觸控面板1之控制部30中進行之處理。以下，在本實施方式之說明中，將兩個流程圖關連地說明。
首先，將個人電腦60及觸控面板1之電源設為開。
接著，在步驟S802中，由個人電腦60向觸控面板1發送補正開始指令。該補正開始指令係意味著本實施方式之觸控面板之初始化開始 的指令。由此，在觸控面板1之控制部30中，如步驟S902所示，接收由個人電腦60發送之補正開始指令，移動至步驟S904，並且向個人電腦60發送ACK(Acknowledgement)信號。之後，在步驟S904中，於控制部30，觸控面板1被設定為用於開始初始化之、與通常之觸控面板輸入動作不同之補正模式。
接著，在步驟S804中，個人電腦60接收由控制部30發送之ACK信號，移動至進行用於進行從步驟S806到步驟S816所示之一點輸入之顯示的循環。需要說明的是，從步驟S906到步驟S914係對應於從步驟S806到步驟S816的控制部30中之循環。
在步驟S806至步驟S816的循環中，首先，在步驟S808中，將點A1顯示於顯示裝置40之顯示畫面。
接著，在步驟S810中，藉由按下點A1，進行一點輸入，一點輸入為開狀態。該資訊由個人電腦60被發送至控制部30。基於該資訊，在控制部30中，於步驟S908，測定點A1之X軸方向及Y軸方向上之電位。
接著，在步驟S812中，點A1之按下變為解除、亦即未按下點A1之狀態，檢測出輸入為OFF狀態。該資訊由個人電腦60被發送至控制部30。基於該資訊，在控制部30中，於步驟S910所示，點A1之一點輸入完畢，計算坐標位置。
接著，在步驟S814中，點A1之坐標之存儲命令由個人電腦60發送至控制部30。在控制部30中，如步驟S912所示，存儲點A1之坐標位置。
在步驟S806至步驟S816之循環中，對於同樣之動作，進行包括點A1以外、點A2、點A3、點A4共計四點。具體而言，在步驟S808中，藉由依次顯示點A1、點A2、點A3、點A4，並按下預定之位置，檢測並存儲點A1、點A2、點A3、點A4之坐標位置。換言之，對於該 些點，依次進行步驟S806至步驟S816、步驟S906至步驟S914。
接著，在步驟S916中，計算並保存各輸入點間之X軸方向之距離及Y軸方向之距離。具體而言，根據在步驟S806至步驟S816以及步驟S906至步驟S914中所得到之點A1、點A2、點A3、點A4之坐標位置、亦即點A1(XA1、YA1)、點A2(XA2、YA2)、點A3(XA3、YA3)、點A4(XA4、YA4)，而基於數學式7所示之式子來計算點A1到點A2之距離(LXA2A1、LYA2A1)、點A1到點A3之距離(LXA3A1、LYA3A1)、點A1到點A4之距離(LXA4A1、LYA4A1)。
[數學式7]A2(XA2,YA2)-A1(XA1,YA1)=(LXA2A1,LYA2A1) A3(XA3,YA3)-A1(XA1,YA1)=(LXA3A1,LYA3A1) A4(XA4,YA4)-A1(XA1,YA1)=(LXA4A1,LYA4A1)
接著，移動至進行用於進行從步驟S822到步驟S832所示之兩點輸入之顯示的循環。需要說明的是，從步驟S922到步驟S930係與其對應的控制部30中之循環。
在步驟S822至步驟S832的循環中，首先，在步驟S824中，將點A1與點A2兩點顯示於顯示裝置40之顯示畫面。
接著，在步驟S826中，藉由同時按下點A1及點A2兩點，進行兩點輸入，兩點輸入為開狀態。該資訊由個人電腦60被發送至控制部30。基於該資訊，在控制部30中，於步驟S924，平均值計算之子流程動作。需要說明的是，對於步驟S924中平均值計算之子流程後面將敘述。
接著，在步驟S828中，點A1及點A2之兩點按下變為解除、亦即未按下點A1及點A2之狀態，檢測出兩點輸入為OFF狀態。該資訊由個人電腦60被發送至控制部30。基於該資訊，在控制部30中，於步驟S926所示，點A1及點A2兩點輸入完畢，測定該狀態下之電壓下降 值。
接著，在步驟S830中，電壓下降值之存儲命令由個人電腦60發送至控制部30。在控制部30中，如步驟S928所示，存儲點A1及點A2兩點按下時之電壓下降值。
在步驟822至步驟S832之循環中，對於除了包括點A1及點A2兩點以外、點A1及點A3兩點、點A1及點A4兩點，進行同樣之動作共計3回。具體而言，在步驟S824中，藉由依次顯示點A1及點A2、點A1及點A3、點A1及點A4，並按下預定之兩點之位置，檢測並存儲按下點A1及點A2、點A1及點A3、點A1及點A4時的電壓下降值。換言之，對於該些點，依次進行步驟S822至步驟S832、步驟S922至步驟S930。
接著，在步驟S932中，計算近似式。具體而言，基於數學式7所示之X軸方向及Y軸方向上從點A1到點A2之距離、從點A1到點A3之距離、從點A1到點A4之距離、以及按下在步驟S822至步驟S832之循環及步驟S922至步驟S930之循環中所檢測出之X軸方向及Y軸方向之點A1及點A2、點A1及點A3、點A1及點A4時的電壓下降值，可求出數學式1所示斜方向近似式中α2、β2、γ2，又，可求出斜方向近似式中α4、β4、γ4。由此，可根據數學式1計算出近似式。具體而言，由於在點A1及點A2、點A1及點A3、點A1及點A4三個不同接觸點之組合中，可得到各個X軸方向及Y軸方向之位置坐標及電壓下降值，因此可計算出作為X軸方向及Y軸方向之各個三個未知數的α2、β2、γ2及α4、β4、γ4。又，藉由按下點不是斜方向，按下沿X軸方向及Y軸方向排列之點，同樣可求出數學式A所示之平行方向近似式中之α1、β1、γ1，又，可求出垂直方向近似式中之α3、β3、γ3。
接著，在步驟S934中，保存近似式。在本實施方式之觸控面板中，保存之近似式用於接觸點為兩點時的位置檢測。
接著，參照第63圖對步驟S924中平均值計算之子流程進行說明。
首先，在步驟S942中，進行是一點按下還是兩點按下之判定。
接著，在步驟S944中，判斷是否經過預定之時間為超時。具體而言，步驟S942至步驟S946為循環，若於其間經過了預定之時間則判斷超時。由此，當判斷為超時時，結束平均值計算之子流程。另一方面，當判斷為未超時時，移動至步驟S946。需要說明的是，預定時間預先確定。
接著，在步驟S946中，判斷是否進行了兩點輸入。當判斷為兩點輸入時，移動至步驟S948。另一方面，當判斷為不是兩點輸入時，移動至步驟S942。
接著，在步驟S948中，判斷測定次數是否未滿(小於)預定之次數n。當測定次數未滿預定之次數n時，移動至步驟S950。另一方面，當測定次數並非未滿預定次數n時(n次以上時)，移動至步驟S952。
接著，在步驟S950中，在合計值上加上新測定之測定值。需要說明的是，由於在本子流程中最先進行初始化，因此初始值為0。藉由重複步驟S950，新的測定值被依次加到合計值。
接著，在步驟S952中，以(合計值)之值為G1之值、以(合計值+最新之測定值-最老之測定值)之值為G2之值。由此，G1之值及G2之值均為n次測定之值的和。
接著，在步驟S954中，將G1之值除以n計算出G1之平均值，將G2之值除以n計算出G2之平均值。在此，G2之平均值為G1之平均值之後一個之移動平均。
接著，在步驟S956中，將G2之值置換為合計值。
接著，在步驟S958中，判斷| G1之平均值-G2之平均值|是否為預定之閾值以下。當| G1之平均值-G2之平均值|為預定之閾值以下 時，返回第62圖所示之主流程。另一方面，當| G1之平均值-G2之平均值|不為預定之閾值以下時，移動至步驟S942。需要說明的是，閾值係用於判斷所測定之電壓之值是否穩定而設定者，由此觀點來確定閾值之值。
如上所述，本子流程結束。
需要說明的是，在本實施方式中，兩點之接觸係對點A1及點A2、點A1及點A3、點A1及點A4之情形進行了說明，但亦可為點A1及點A4、點A2及點A4、點A3及點A4。由於如果兩點之中任意一方為作為兩端之點A1或點A4，則可得到正確之近似式，因此為佳。
又，對於A1及點A2，由於容易產生誤差，因此亦可如第64圖所示，進一步將點A1與點A2之間進行三等分，為點A5及點A6，對於點A1、點A5、點A6、點A2再次進行第61圖至第63圖所示之初始化之程序，而另行計算出點A1與點A2之間之近似式。此時，在第61圖至第63圖之流程圖中，以點A5相當於點A2、點A6相當於點A3、點A2相當於點A4，進行處理。
需要說明的是，於上述中，藉由使用點A1、點A2、點A3、點A4、點A5、點A6之中任意五點，可計算出數學式2所示之三次式中的L2及L4。又，透過按下沿X軸方向、Y軸方向排列之五點可計算出數學式2所示之L1及L3。
又，作為提高兩點間距離之精確度之方法，對兩點輸入之區間進行細分化，例如，將第33圖所示之由兩點輸入產生之電壓下降之電位差與距離之關係作為表格保存，求出通過該些輸入點之曲線、例如樣條(spline)曲線。該樣條曲線可如數學式1所示之二次式求出。由此，可由兩點輸入操作中測定之電位來更精確的計算出兩點間距離。
再者，作為簡化兩點坐標計算之近似式之計算的方法，有以下方法。具體而言，從複數個尺寸之觸控面板之中選定代表之觸控面 板，將所選定之一個觸控面板中由複數次兩點輸入所產生之電壓下降之電壓差作為表格保存於ROM(Read Only Memory)等中。之後，將所選定之觸控面板另外之觸控面板連接於包含控制部之電路基板，並計算出與該組合中最大距離之兩點輸入中所測定之電壓下降之電位差之比。藉由分別乘以保存於ROM等中之由最大距離之兩點輸入所產生之電壓下降之電壓差之比、與所選定之觸控面板另外之觸控面板連接而測定之最大距離之兩點輸入之電壓下降之電位差之比從而計算出係數，並基於所得到之係數來得到符合所連接之觸控面板之兩點坐標。
又，在本實施方式中，對於計算步驟S932中數學式1所示之二次近似式之情形進行了說明，但亦可計算直線連接點A1與點A2、點A2與點A3、點A3與點A4的一次近似式。具體而言，亦可基於測定之值等，計算出數學式8所示之一次近似式。此時，可基於直線連接之兩點之值來計算出ε1~ε6、η1~η6之值。
[數學式8]Lx=ε 1V+η 1(XA1≦Lx≦XA2) Lx=ε 2V+η 2(XA2≦Lx≦XA3) Lx=ε 3V+η 3(XA3≦Lx≦XA4) Ly=ε 4V+η 4(YA1≦Ly≦YA2) Ly=ε 5V+η 5(YA2≦Ly≦YA3) Ly=ε 6V+η 6(YA3≦Ly≦YA4)
進一步，在點A2至點A4之位置，亦可使用數學式1所示之二次近似式，在點A1至點A2之位置，亦可使用數學式8所示之一次近似式。
[第八實施方式]
接著，對第八實施方式進行說明。本實施方式係不使用顯示裝置49而進行之觸控面板之初始化之方法。具體而言，係如第65圖所示，代替顯示裝置40，使用在點A1、點A2、點A3、點A4之位置設有透過印刷而形成之印跡71的顯示規尺70的方法。在該顯示規尺70上設 置觸控面板1，利用與第七實施方式相同的方法進行初始化。需要說明的是，第65(a)圖為該方法全體構造之立體圖，第65(b)圖為顯示規尺70之上面圖。
又，如第66圖所示，亦可在觸控面板1a之周圍，設置表示點A1、點A2、點A3、點A4之位置的印跡73。該印跡73可透過導電塗層等形成。具體而言，以將設於X軸方向之相對位置之印跡73連接之直線與將設於Y軸方向之相對位置之印跡73連接之直線交叉的位置為點A1、點A2、點A3、點A4之位置的方式形成印跡73，並表示出利用由此成為接觸點的點。需要說明的是，第66(a)圖為該方法全體構造之立體圖，第66(b)圖為觸控面板1a之上面圖。
又，如第67圖所示，在觸控面板1b中，亦可藉由間隔出與點A1、點A2、點A3、點A4對應之位置之點空間75，而形成按下區域76。需要說明的是，按下區域76係成為接觸點的點。
[第9實施方式]
接著，對第九實施方式進行說明。對於本實施方式，係在觸控面板之接觸點為兩點時，可更正確地求出兩點接觸點之位置坐標的位置檢測方法及觸控面板。
對於上述第一實施方式至第八實施方式，當觸控面板之接觸點為兩點時，亦可檢測出接觸點之坐標位置。然而，若兩點之接觸位置的相對之位置關係不同，則有時無法正確地檢測出兩點之接觸位置。具體而言，如第68圖所示，觸控面板之接觸點為點68A和點68B兩點時、與接觸點為點68A和點68C兩點時，儘管對於接觸點之點68B與點68C其X坐標之位置(值)相同，但所檢測出之X坐標之位置(之)略有不同。
參照第69圖及第70圖對此進行詳細說明。當兩點接觸點為68A和點68B時，如第69圖所示，第一電阻膜10之電阻R11與第二電阻膜20 之電阻R12的合成電阻為點68A與點68B之間的電阻值。相對於此，當兩點接觸點為68A和點68C時，如第70圖所示，第一電阻膜10之電阻R21與第二電阻膜20之電阻R22的合成電阻為點68A與點68C之間的電阻值。在此，第一電阻膜10之電阻R21之電阻值比第一電阻膜10之電阻R11之電阻值大，第二電阻膜20之電阻R22之電阻值比第二電阻膜20之電阻R12之電阻值大。因此，電阻R21與電阻R22之合成電阻之電阻值比電阻R11與電阻R12之合成電阻之電阻值大。
因此，對於點68B和點68C，儘管接觸點之X坐標之位置(值)相同，但在電位檢測部ADX1中，檢測出不同之電壓值。換言之，如第69圖所示，當電阻R11與電阻R12之合成電阻之值較小時，對於由電位檢測部ADX1所檢測出之電壓，由於被電阻Rx1進行了電阻分割，因此檢測出較低之值、例如2.0V之電壓值。又，如第70圖所示，當電阻R21與電阻R22之合成電阻之值較高時，對於由電位檢測部ADX1所檢測出之電壓，由於被電阻Rx1進行了電阻分割，因此檢測出較大之值、例如2.2V之電壓值。由此，對於點68B和點68C，儘管X坐標之位置相同，但在電位檢測部ADX1中，檢測出不同之電壓值。如此一來，若在電位檢測部ADX1所檢測出之電壓值不同，則對於X坐標之位置亦檢測出不同值。需要說明的是，當對觸控面板未有任何接觸時，由電位檢測出ADX1所檢測出之電壓為2.5V。
如上所述，當兩點接觸點為點68A和點68B時，對於由電位檢測部ADX1所檢測出之電壓值2.0V，其電壓下降之值為0.5V。又，當兩點接觸點為點68A和點68C時，對於由電位檢測部ADX1所檢測出之電壓值2.2V，其電壓下降之值為0.3V。因此，若以兩點接觸點為點68A和點68B之情形為基準，則兩點接觸點為點68A和點68C之情形的電壓下降之值較小。
由此，對於第68圖所示之按下點圖像中之兩點接觸點之以下組 合(5、5)-(95、5)、(5、5)-(95、20)、(5、5)-(95、35)、(5、5)-(95、50)、(5、5)-(95、65)、(5、5)-(95、80)、(5、5)-(95、95)，針對接觸點之Y坐標之位置與電壓下降之值的關係進行了模擬。由該模擬而得到之結果如第71圖所示。需要說明的是，對於Y坐標之位置，表示出兩點接觸點之中移動之一個接觸點的Y坐標之位置。又，在第71圖中，對於電壓下降值，用接觸點兩點為(5、5)-(95、5)之組合時之電壓下降值進行正規化。如第71圖所示，在觸控面板上接觸之兩點間之Y坐標之距離越大，則電壓下降值越小。因此，觸控面板上接觸之兩點間之Y方向之間隔(距離)越長，則兩點間之X方向之距離被檢測出得較實際越短。
在本實施方式之觸控面板之位置檢測方法中，根據接觸之兩點間之Y方向之距離，對接觸之兩點間之X方向之距離進行補正，並根據所補正之X方向之距離來計算出兩點之X坐標之位置。
第72圖表示出第71圖所示之基於關係所得到之兩點之中一點之Y坐標與補正係數KRx的關係。需要說明的是，Ly表示兩點間之Y方向之距離(間個)。換言之，當作為接觸點之兩點為(5、5)和(95、5)時，Ly為95-5=90。該補正係數可與距離ly之二次多項式近似，數學式9中表示出該近似之式子。
[數學式9]KRx=α Ly2+β Ly+γ
若設基於由電位檢測部ADX1所檢測出之電壓值而得到的兩點間之X坐標之距離為Lxa，則使用補正係數KRx，兩點間之X坐標之距離Lxb如數學式所示之式子表示。
[數學式10]Lxb=KRx×Lxa
需要說明的是，在數學式10中，當觸控面板之長寬比不同時， 將X方向側或Y方向側乘上有關於預定之長寬比之係數。又，對於兩點間之Y坐標之距離，亦可利用與上述相同之方法計算。
如此一來，在本實施方式中，當觸控面板之接觸點為兩點時，可進一步正確地計算出兩點接觸點之位置坐標。
又，在本實施方式之觸控面板中，將數學式9表示之式子記憶於作為記憶部之記憶體32中，可在控制部30中根據數學式10所示之式子計算出X坐標或Y坐標之兩點之距離。
接著，參照第73圖，對本實施方式之觸控面板之位置檢測方法進行說明。在如第73圖所示之位置檢測方法中，預先於記憶體32中記憶X軸方向之補正係數KRx及Y軸方向之補正係數KRy。
首先，在步驟S1002中，使觸控面板兩點接觸，並根據由電位檢測部所檢測出之電壓來計算出兩點接觸點之X坐標及Y坐標之各個實際測定值。
接著，在步驟S1004中，進行兩點之X方向上之距離之補正。具體而言，根據在步驟S1002中所計算出之兩點接觸點之Y坐標來計算出兩點間之Y方向之距離之實際測定值，根據兩點間之Y方向之距離將兩點間之X方向之距離之實際測定乘以第72圖所示之補正係數KRx而進行補正。換言之，計算數學式10所示式子之Lxb。由此，可計算出所補正之兩點間之X方向之距離。
接著，在步驟S1006中，進行兩點之Y方向上之距離之補正。具體而言，根據在步驟S1002中所計算出之兩點接觸點之X坐標來計算出兩點間之X方向之距離之實際測定值，根據兩點間之X方向之距離將兩點間之Y方向之距離之實際測定乘以補正係數KRy而進行補正。換言之，對於Y方向之距離，亦可進行與步驟S1004同樣之補正。由此，可計算出所補正之兩點間之Y方向之距離。
接著，在步驟S1008中，根據所補正之兩點之X方向之距離、所 補正之兩點之Y方向之距離、兩點接觸點之X坐標及Y坐標之各個實際測定值等，來計算兩點接觸點之位置坐標。
由此，可計算出觸控面板上兩點接觸時的正確之位置坐標。需要說明的是，當上述中觸控面板之長寬之長度不同時，可藉由乘以基於長寬比之係數而計算出距離。
需要說明的是，當記憶體32等中未預先記憶補正係數KRx及KRy時，亦可利用第74圖所示之方法，計算出補正係數KRx及KRy，並記憶於記憶體32等中。
具體而言，首先，在步驟S1012中，於使觸控面板兩點接觸之狀態下，對於任意一個接觸點，不移動X坐標之位置，而沿Y軸方向移動，由電位檢測部ADX1檢測電壓值。由此，得到第71圖所示之Y坐標與電壓下降之相關關係。
接著，在步驟S1014中，根據在步驟S1012中得到之相關關係而計算補正係數KRx。
接著，在步驟S1016中，於使觸控面板兩點接觸之狀態下，對於任意一個接觸點，不移動Y坐標之位置，而沿X軸方向移動，由電位檢測部ADY1檢測電壓值。由此，對於X坐標，亦可得到第71圖所示之X坐標與電壓下降之相關關係。
接著，在步驟S1018中，根據在步驟S1016中得到之相關關係而計算補正係數KRy。
接著，在步驟S1020中，使記憶體32等記憶補正係數KRx及KRy。
需要說明的是，對於上述以外之內容，與第一至第八實施方式相同。
以上藉由實施例對本發明進行了說明，但本發明並不限定上述實施例，顯而易見於本發明之範圍內可進行各種變形及改良。

Claims (8)

  1. 一種觸控面板之位置檢測方法，該觸控面板包括：一第一電阻膜，於一第一方向之兩端設有一第一電極及一第二電極；一第二電阻膜，於與該第一方向正交之一第二方向之兩端設有一第三電極及一第四電極，其特徵在於，於對該第一電極施加電源電壓、並將該第二電極接地的狀態下，測定該第一電極之電位，求出該第一方向上兩點接觸點之距離；於對該第三電極施加電源電壓、並將該第四電極接地的狀態下，測定該第三電極之電位，求出該第二方向上兩點接觸點之距離；並且根據基於由該第三電極之電位所得到之該第二方向上之兩點接觸點之距離的補正係數，對由該第一電極之電位所得到之該第一方向上之兩點接觸點之距離進行補正。
  2. 根據申請專利範圍第1項之觸控面板之位置檢測方法，其中於該接觸點之距離之補正時，將該第一方向上之兩點接觸點之距離乘以一補正係數，該補正係數根據該第二方向上之兩點接觸點之間隔而確定。
  3. 根據申請專利範圍第1項之觸控面板之位置檢測方法，其中基於由該第一電極之電位所得到之該第一方向上之兩點接觸點之距離，對該第二方向上之兩點接觸點之距離進行補正。
  4. 根據申請專利範圍第3項之觸控面板之位置檢測方法，其中於該第二方向上之兩點接觸點之距離之補正時，將該第二方向上之兩點接觸點之距離乘以一補正係數，該補正係數根據該兩點接觸點之第一方向上之間隔而確定。
  5. 根據申請專利範圍第2項之觸控面板之位置檢測方法，其中該補正係數係該兩點接觸點之該第一方向上之距離或該第二方向上之距離的二次多項式。
  6. 一種觸控面板之位置檢測方法，該觸控面板包括：一第一電阻膜，於一第一方向之兩端設有一第一電極及一第二電極；一第二電阻膜，於與該第一方向正交之一第二方向之兩端設有一第三電極及一第四電極，其特徵在於，不對該第三電極施加電壓、對該第一電極施加電壓，對該觸控面板於兩點接觸時的該第一電極之電位進行測定；不對該第一電極施加電壓、對該第三電極施加電壓，對該觸控面板於兩點接觸時的該第三電極之電位進行測定；並且根據基於由該第一電極之電位所得到之該第一方向上之兩點接觸點之距離、與由該第三電極之電位所得到之該第二方向上之兩點接觸點之距離的補正係數，對該第一方向及/或該第二方向上之兩點接觸點間之距離進行補正。
  7. 一種觸控面板，其包括：一第一電阻膜，於一第一方向之兩端設有一第一電極及一第二電極；一第二電阻膜，於與該第一方向正交之一第二方向之兩端設有一第三電極及一第四電極；一控制部；以及一記憶部，當該觸控面板之接觸點為兩點時，該控制部進行以下步驟：於對該第一電極施加電源電壓、將該第二電極接地的狀態下，測定該第一電極之電位，基於該第一電極之電位計算該 第一方向上之兩點接觸點之距離；於對該第三電極施加電源電壓、將該第四電極接地的狀態下，測定該第三電極之電位，基於該第三電極之電位計算與該第一方向正交之該第二方向上之兩點接觸點之距離；並且根據基於該第二方向上之兩點接觸點之距離的補正係數，對該第一方向上之兩點接觸點之距離進行補正，該補正係數記憶於該記憶部中。
  8. 根據申請專利範圍第7項之觸控面板，其中該記憶部記憶該第二方向上之兩點接觸點之距離與該補正係數之相關關係。
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