KR101743334B1 - 터치패널에서의 위치검출방법 및 터치패널 - Google Patents

Abstract

제 1 방향의 양단에 제 1 전극 및 제 2 전극이 형성된 제 1 저항막과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 양단에 제 3 전극 및 제 4 전극이 형성된 제 2 저항막을 구비하는 터치패널의 위치검출방법에 있어서, 상기 제 1 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 1 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고, 상기 제 3 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 3 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고, 상기 제 1 전극의 전위로부터 얻어진 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를, 상기 제 3 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거하여 보정하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.

Description

터치패널에서의 위치검출방법 및 터치패널{POSITION DETECTION METHOD IN TOUCH PANEL AND TOUCH PANEL}

본발명은 터치패널에서의 위치검출방법 및 터치패널에 관한 것이다.

현재 보급되어 있는 전자기기에는 터치패널이 탑재되어 있는 것이 많다. 터치패널은 직접 터치패널에 손가락 등을 접촉시킴으로써 전자기기에 정보를 입력할 수 있고, 간단한 정보입력수단으로서 향후 보급이 더욱 기대되고 있다.

그런데, 일반적인 터치패널의 대부분은 접촉하고 있는 점이 1점인 경우에 접촉위치를 검출하는 것이다. 따라서, 터치패널에서의 접촉점이 2점 이상인 경우에는 정확한 접촉점의 위치정보를 검출할 수 없다. 이 때문에 접촉점이 2점인 경우에도 각각의 접촉점의 정확한 위치정보를 검출할 수 있는 방법이 요망되어 왔다.

터치패널에서의 접촉점이 2점인 경우에 접촉점을 검출하는 방법으로서는 아래의 특허문헌 1 내지 19에 여러가지 방법이 개시되어 있다. 구체적으로는, 1점째와 2점째가 접촉하는 아주 작은 시간차를 이용하는 방법, 터치패널의 도체막에 저항을 접속하는 방법, X측 전극과 Y측 전극과의 사이에 전압을 인가하는 방법 등이 개시되어 있다.

또한, 특허문헌 12에는 2점에서 압하한 경우에 2점간의 거리정보를 검출하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 14에는 저항막을 분할한 구성이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 17에는 2조의 저항막을 사용한 구성이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 18, 19에는 1점 입력시의 일그러짐을 보정하는 방법이 개시되어 있다.

[특허문헌 1] : 일본특허공보 제3402858호 [특허문헌 2] : 일본특허공개공보 제2009－289157호 [특허문헌 3] : 일본특허공보 제3397519호 [특허문헌 4] : 일본특허공개공보 평8－54976호 [특허문헌 5] : 일본특허공개공보 평3－77119호 [특허문헌 6] : 일본특허공개공보 평10－171581호 [특허문헌 7] : 일본특허공개공보 평11－95929호 [특허문헌 8] : 일본특허공개공보 평1－269120호 [특허문헌 9] : 일본특허공개공보 평8－241161호 [특허문헌 10] : 일본특허공개공보 평8－54977호 [특허문헌 11] : 일본특허공개공보 제2007－156875호 [특허문헌 12] : 일본특허공개공보 제2009－176114호 [특허문헌 13] : 일본특허공보 제3351080호 [특허문헌 14] : 일본특허공개공보 평9－45184호 [특허문헌 15] : 일본특허공개공보 제2005－49978호 [특허문헌 16] : 일본특허공개공보 제2010－102627호 [특허문헌 17] : 일본특허공개공보 평11－232023호 [특허문헌 18] : 일본특허공개공보 제2001－67186호 [특허문헌 19] : 일본특허공보 제2554577호 [특허문헌 20] : 일본공개특허공보 제2011－76591호 [특허문헌 21] : 일본공개특허공보 제2011－123815호 [특허문헌 22] : 일본공개특허공보 제2011－134316호

그런데, 상술한 터치패널에 접촉한 2점의 위치정보를 검출하는 방법에서는, 동시에 2점이 접촉한 경우에는 정확하게 2점의 위치좌표를 검출할 수 없다는 문제점이나, 2점의 위치정보를 검출하기 위하여 저항막을 분할한 구조나, 저항막을 2조로 형성한 구조와 같은 특수한 구조 등으로 할 필요가 있고, 이 경우 비용상승으로도 이어진다는 문제점이 있었다.

이 때문에 종래부터 사용되고 있는 4선식 터치패널에 있어서, 동시에 2점에서 접촉한 경우에도, 간단한 방법으로 그리고 저비용으로 각각의 좌표위치를 검출할 수 있는 위치검출방법이 요망되고 있다.

본발명의 일측면에 의하면, 제 1 방향의 양단에 제 1 전극 및 제 2 전극이 형성된 제 1 저항막과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 양단에 제 3 전극 및 제 4 전극이 형성된 제 2 저항막을 구비하는 터치패널의 위치검출방법에 있어서, 상기 제 1 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 1 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고, 상기 제 3 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 3 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고, 상기 제 1 전극의 전위로부터 얻어진 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를, 상기 제 3 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거하여 보정하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법이 제공된다.

본발명의 일실시예에 의하면, 4선식의 터치패널에서 동시에 2점에서 접촉한 경우에도, 간단한 방법이면서도 저비용으로 각각의 좌표위치를 보다 정확하게 검출할 수 있는 터치패널에서의 위치검출방법 및 터치패널을 제공할 수 있다.

도 1은 본발명에 사용되는 터치패널의 구성도이다.
도 2는 제 1 실시형태에 따른 위치검출방법의 플로우차트이다.
도 3은 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 1점 접촉의 설명도(1)이다.
도 4는 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 1점 접촉의 설명도(2)이다.
도 5는 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 2점 접촉의 설명도(1)이다.
도 6은 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 2점 접촉의 설명도(2)이다.
도 7은 터치패널의 압하점을 유한요소법에 의해 해석하기 위한 설명도이다.
도 8은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(1)이다.
도 9는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(2)이다.
도 10은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(3)이다.
도 11은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(4)이다.
도 12는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(5)이다.
도 13은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(6)이다.
도 14는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(7)이다.
도 15는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(8)이다.
도 16은 제 1 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(1)이다.
도 17은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(9)이다.
도 18은 제 1 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(2)이다.
도 19는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(10)이다.
도 20은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(11)이다.
도 21은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(12)이다.
도 22는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(13)이다.
도 23은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(14)이다.
도 24는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(15)이다.
도 25는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(16)이다.
도 26은 제 1 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(3)이다.
도 27은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(17)이다.
도 28은 제 1 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(4)이다.
도 29는 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(18)이다.
도 30은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(19)이다.
도 31은 터치패널을 유한요소법에 의해 해석한 설명도(20)이다.
도 32는 2점간의 축방향상의 거리와 XH전극에서의 전위의 상관관계도이다.
도 33은 2점간의 축방향상의 거리와 (기준전위-측정전위)의 상관관계도이다.
도 34는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 플로우차트이다.
도 35는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(1)을 나타내는 도면이다.
도 36은 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(2)을 나타내는 도면이다.
도 37은 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(3)을 나타내는 도면이다.
도 38은 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(4)을 나타내는 도면이다.
도 39는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(5)을 나타내는 도면이다.
도 40은 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(6)을 나타내는 도면이다.
도 41은 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(7)을 나타내는 도면이다.
도 42는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(8)을 나타내는 도면이다.
도 43는제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(9)을 나타내는 도면이다.
도 44는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(10)을 나타내는 도면이다.
도 45는 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법의 서브루틴(11)을 나타내는 도면이다.
도 46은 제 1 터치패널에서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 47은 제 2 터치패널에서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 48은 제 3 터치패널에서의 접속되는 저항치의 비율과 전위차를 나타내는 그래프이다.
도 49는 제 4 실시형태에 따른 터치패널의 구성도이다.
도 50은 제 4 실시형태에 따른 터치패널의 설명도이다.
도 51은 제 4 실시형태에 따른 터치패널의 저항치의 설정방법에 관한 플로우차트이다.
도 52는 제 5 실시형태에 따른 터치패널의 구성도이다.
도 53은 제 5 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 구성도이다.
도 54는 제 5 실시형태에 따른 터치패널의 저항치의 설정방법에 관한 플로우차트이다.
도 55는 제 6 실시형태에 따른 터치패널의 구성도이다.
도 56은 제 6 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 구성도(1)이다.
도 57은 제 6 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 구성도(2)이다.
도 58은 제 6 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 구성도(3)이다.
도 59는 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 설명도이다.
도 60은 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 초기화 방법의 설명도이다.
도 61은 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 초기화 방법의 플로우차트(1)이다.
도 62는 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 초기화 방법의 플로우차트(2)이다.
도 63은 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 초기화 방법의 플로우차트(3)이다.
도 64는 제 7 실시형태에 따른 터치패널의 다른 초기화 방법의 설명도이다.
도 65는 제 8 실시형태에 따른 터치패널의 설명도이다.
도 66은 제 8 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 설명도(1)이다.
도 67은 제 8 실시형태에 있어서의 다른 터치패널의 설명도(2)이다.
도 68은 제 9 실시형태에 따른 터치패널의 압하점의 설명도이다.
도 69는 제 9 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(1)이다.
도 70은 제 9 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 설명도(2)이다.
도 71은 2점중 1점의 Y좌표의 위치와 전압강하값의 상관관계도이다.
도 72는 2점중 1점의 Y좌표의 위치와 보정계수(KRx)의 상관관계도이다.
도 73은 제 9 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 플로우차트(1)이다.
도 74는 제 9 실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법의 플로우차트(2)이다.

이하, 본발명에 따른 실시형태에 대하여 설명한다. 한편, 동일한 부재 등에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 그 설명을 생략한다.

〔제 1 실시형태〕

(터치패널의 구조)

도 1에 근거하여 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 대하여 설명한다. 본실시형태에 따른 터치패널은 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투명 도전막으로 이루어지는 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)을 구비하고 있다. 또한, 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)은 유리 기판이나 투명 필름 등의 표면에 형성되어도 되고, 이 경우에는 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)이 대향하도록 배치된다. 제 1 저항막(10)에는 X축 방향의 양단의 한쪽에 XH전극(11), 다른쪽에 XL전극(12)이 Y축 방향을 따라 형성되어 있다. 또한, 제 2 저항막(20)에는 Y축 방향의 양단의 한쪽에 YH전극(21), 다른쪽에 YL전극(22)이 X축 방향을 따라 형성되어 있다.

XH전극(11)은 제 1 전극이 되는 것으로, 전원전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW1)와, Vcc에 저항(Rx1)를 통하여 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)에 접속되고, 또한, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW7)에 저항(R)을 통하여 접속되고, 나아가 제어부(30)내에 형성된 AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADX1)에 접속된다.

XL전극(12)은 제 2 전극이 되는 것으로, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW3)에 접속되고, 또한, AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADX2)에 접속된다.

YH전극(21)은 제 3 전극이 되는 것으로, 전원전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW4)와, Vcc에 저항(Ry1)를 통하여 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)에 접속되고, 또한, 제어부(30)내에 형성된 AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADY1)에 접속된다.

YL전극(22)은 제 4 전극이 되는 것으로, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW6)에 접속되고, 또한, AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADY2)에 접속된다.

또한, 저항(Rx1)은 제 1 저항이 되는 것으로, 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 갖고, 저항(Ry1)은 제 2 저항이 되는 것으로, 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 갖고 있다.

스위치(SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6 및 SW7)는 제어부(30)에 형성된 SW1제어단자, SW2제어단자, SW3제어단자, SW4제어단자, SW5제어단자, SW6제어단자 및 SW7제어단자에 각각 접속된다.

또한, 제어부(30)내에는 각종 정보를 기억할 수 있는 메모리(32)가 형성되고, 또한, 제어부(30)는 표시장치(40)에 접속된다.

(위치검출방법)

다음으로, 본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법에 대하여 설명한다. 본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법은 도 1에 나타낸 구성의 터치패널에서의 위치검출방법이며, 도 2를 근거로 설명한다. 한편, 본실시형태를 설명함에 있어서, 예를들어, 전원전압(Vcc)에 대해서는 5V라고 표현하고, 접지전위에 대해서는 0V라고 표현하는 경우가 있다.

먼저, 스텝 102(S102)에서, 제 1 의 X방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF상태로 하여, 전위검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH전극(11)에는 저항(Rx1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL전극(12)은 접지되므로, 제 1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 검출한 전위를 메모리(32) 등에 정보로서 저장한다. 또한, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 제 1 저항막(10)에서 XH전극(11)과 XL전극(12)간에 형성되는 저항성분과 저항(Rx1)에 의해 분압된 값이 된다. 또한, 스텝 102(S102)를 제 1 측정공정이라고 하는 경우가 있다.

다음으로, 스텝 104(S104)에서, 제 1 의 Y방향 전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치패널에서 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH전극(21)에는 저항(Ry1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL전극(22)은 접지되므로, 제 2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 저장한다. 또한, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 제 2 저항막(20)에서 YH전극(21)과 YL전극(22)의 사이에 형성되는 저항성분과 저항(Ry1)에 의해 분압된 값이 된다. 또한, 스텝 104(S104)를 제 2 측정공정이라고 하는 경우가 있다.

다음으로, 스텝 106(S106)에서, 접촉점이 1점인지 여부를 판단한다. 구체적으로는, 스텝 102에서 전위검출부(ADX1)에서 측정한 전위 및 스텝 104에서 전위검출부(ADY1)에서 측정한 전위가 모두 Vcc/2인지를 판단함으로써, 접촉점이 1점인지 2점인지를 판단한다.

보다 구체적으로 설명하면, 스텝 102(S102)에서, 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)의 접촉점이 A점인 1점만인 경우, 도 3에 나타낸 바와 같이, XH전극(11)과 XL전극(12)간에 있어서의 제 1 저항막(10)의 저항치는 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R1)과 저항성분(R2)이 직렬로 접속된 것으로 되어, 이 직렬로 접속된 것의 저항치는 저항(Rx1)의 값과 대략 동등하다. 따라서, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2가 된다.

또한, 스텝 104(S104)에서, 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)의 접촉점이 A점인 1점만인 경우, 도 4에 나타낸 바와 같이, YH전극(21)과 YL전극(22)간에 있어서의 제 2 저항막(20)의 저항치는 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R3)과 저항성분(R4)가 직렬로 접속된 것이 되고, 이 직렬로 접속된 것의 저항치는 저항(Ry1)의 값과 대략 동등하다. 따라서, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2가 된다.

한편, 스텝 102(S102)에서, 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)의 접촉점이 A점과 B점인 2점인 경우, 도 5에 나타낸 바와 같이, A점과 B점간의 저항성분은 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R12)과 제 2 저항막(20)에서의 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 것이 된다. 따라서, XL전극(12)과 B점간은 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R11), A점과 B점간은 저항성분(R12)과 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 저항성분, A점과 XH전극(11)간은 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R13)의 합성저항이 된다. 따라서, 저항성분(R12)과 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 저항성분을 포함하므로, 이 합성저항값은 저항(Rx1)보다 낮아진다. 따라서, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2보다 낮은 전위가 된다.

또한, 스텝 104(S104)에서, 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)의 접촉점이 A점과 B점의 2점인 경우, 도 6에 나타낸 바와 같이, A점과 B점간의 저항성분은 제 1 저항막(10)에서의 저항성분(R12)과 제 2 저항막(20)에서의 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 것이 된다. 따라서, YL전극(22)과 A점간은 제 2 저항막(20)에서의 저항성분(R21), A점과 B점간은 저항성분(R12)과 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 저항성분, B점과 YH전극(21)간은 제 2 저항막(20)에서의 저항성분(R23)의 합성저항이 된다. 따라서, 저항성분(R12)과 저항성분(R22)이 병렬로 접속된 저항성분을 포함하므로, 이 합성저항값은 저항(Ry1)보다 낮아진다. 따라서, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 Vcc/2보다 낮은 전위가 된다.

지금까지 설명한 바와 같이, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 측정한 전위 및 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에서 측정한 전위가 모두 Vcc/2인지의 여부를 판단함으로써, 접촉점이 1점인지 또는 2점인지를 판단할 수 있다.

스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 측정한 전위 및 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에서 측정한 전위가 모두 Vcc/2인지의 여부를 판단함으로써, 접촉점이 1점인지 또는 2점인지를 판단할 수 있는 것을 뒷받침하는 것으로서, 터치패널에 대하여 유한요소법으로 해석한 결과를 나타낸다. 구체적으로는, 도 7에 나타낸 바와 같이 정사각형상의 터치패널을 상정하고, X축 방향 및 Y축 방향으로 100분할한 것중에, 압하점이 X축 방향으로 5, 20, 35, 50, 65, 80, 95번째의 위치(이하, 이들의 위치를 5의 위치, 20인 위치, 35의 위치, 50인 위치, 65의 위치, 80인 위치, 95의 위치라고 하는 경우가 있다.) 및 Y축 방향으로 5, 20, 35, 50, 65, 80, 95번째의 위치(이하, 이들의 위치를 5의 위치, 20인 위치, 35의 위치, 50인 위치, 65의 위치, 80인 위치, 95의 위치라고 하는 경우가 있다.)인 경우에 대해 해석한 것이다. 또한, 간격 또는 거리 등에 대해서는, 각각의 위치에 있어서의 값의 차이를 이용하여 표현하는 경우가 있다.

도 8은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 Y좌표가 모두 같은 5의 위치로서, X축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 8(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 8(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 9는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 Y좌표가 모두 같은 50인 위치로서, X축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 9(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 9(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 10은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 Y좌표가 모두 같은 95의 위치로서, X축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 10(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 10(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 8 내지 도 10에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉위치의 Y좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가되는 전압의 5V의 절반 이하의 전위가 되고, 또한, 2점간의 거리가 멀어짐에 따라 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 저하한다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대해 평행방향에 있어서 접촉점인 2점간의 거리가 멀어지면, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 저하한다. 이는 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 마찬가지며, 이 경우 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 저하한다.

도 11은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 X좌표가 모두 같은 5의 위치로서, Y축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 11(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 11(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 12는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 X좌표가 모두 같은 50인 위치로서, Y축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 12(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 12(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 13은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 X좌표가 모두 같은 95의 위치로서, Y축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 13(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 13(b)는 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 11 내지 도 13에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉위치의 X좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가된 전압의 5V의 절반의 전위가 되어 2점간의 거리에 의존하지 않고 일정한 상태이다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대해 수직방향에 있어서 접촉점인 2점간의 거리가 멀어져도, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 변하지 않고 일정한 상태이다. 이는 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 동일하다. 이 경우 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위는 변하지 않고 일정한 상태이다.

도 14는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치를 경사방향, 즉, X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향으로서, 양의 기울기 방향(어느 하나의 접촉점이 다른 하나의 접촉점보다 XL전극(12) 및 YH전극(21)에 모두 가까운 위치가 되는 방향, 또는 다른 하나의 접촉점은 어느 하나의 접촉점보다 XH전극(11) 및 YL전극(22)에 모두 가까운 위치가 되는 방향)을 따라 2점간의 X축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 14(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 14(b)는 X축 방향상의 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 15는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 저항(Rx1)를 통하여 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치를 경사방향, 즉, X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향으로서, 음의 기울기의 방향(어느 하나의 접촉점은 다른 하나의 접촉점보다 XH전극(11)및 YH전극(21)에 모두 가까운 위치가 되는 방향, 또는 다른 하나의 접촉점은 어느 하나의 접촉점보다 XL전극(12) 및 YL전극(22)에 모두 가까운 위치가 되는 방향)을 따라, 2점간의 X축 방향상의 간격을 30, 60, 90으로 변화시킨 것이다. 도 15(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 15(b)는 X축 방향상의 2점간의 간격, 즉, 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 14 및 도 15에 나타낸 바와 같이, 2개의 접촉점이 X축 방향 및 Y축 방향이 아닌 방향인 경우, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위는 인가되는 전압의 5V의 절반 이하의 전위가 되고, 2점간의 거리가 멀어짐에 따라 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 저하한다. 즉, 전압이 인가되고 있는 방향에 대해 평행방향도 수직방향도 아닌 방향에 있어서, 2점간의 거리가 멀어지면, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 저하한다. 이는 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우도 마찬가지이며, 이 경우 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 저하한다.

구체적으로는, 터치패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 사전에 X축 방향으로 전계분포를 발생시켜 전위검출부(ADX1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 마찬가지로 Y축 방향으로 전계분포를 발생시켜 전위검출부(ADY1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 기억시켜 둔다. 즉, 터치패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 도 1에 나타낸 터치패널에서의 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF상태로 하여 전위검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH전극(11)에는 저항(Rx1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL전극(12)은 접지되므로, 제 1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 저장한다. 마찬가지로, 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH전극(21)에는 저항(Ry1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL전극(22)는 접지되므로, 제 2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 저장한다.

이 초기 전위값과 스텝 102(S102) 및 스텝 104(S104)에서 측정된 전위값을 비교함으로써, 접촉점이 1점인지 2점인지, 2점인 경우에는 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지, Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지, X축 방향에도 Y축 방향에도 평행하지 않은 방향인지를 판단할 수 있다.

구체적으로는, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는, 접촉점은 1점이라고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행(Y축 방향에 수직)이라고 판단한다. 또한, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)이라고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점은, X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단한다.

보다 구체적으로 설명하면, 전위검출부(ADX1 및 ADY1)에서 측정된 초기 전위가 모두 2.5V인 경우, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점은 1점이라고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행하다고 판단한다. 또한, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)이라고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사방향이라고 판단한다.

이로써, 접촉점이 1점인지 2점인지, 2점인 경우에는 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지, X축 방향에도 Y축 방향에도 평행하지 않은 방향인지를 판단할 수 있다.

또한, 초기 전위를 측정하지 않고 접촉점이 1점인지 2점인지지를 판단하는 다른 방법으로서는, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점이 1점이라고 판단할 수 있다. 또한, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하인 경우에는, 접촉점은 Y축 방향에 평행한 방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 또한, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점은 X축 방향에 평행한 방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 나아가, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하인 경우는, 접촉점은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다.

이상의 내용에 근거하여 스텝 106(S106)에서는, 본실시형태에 따른 터치패널의 접촉점이 1점인지 2점인지를 판단할 수 있다. 또한, 2.5V인지 2.5V 이하인지의 판단에 대해서는, 2.5V를 기준으로 하여 소정의 범위의 임계치를 설정하고, 측정된 전위가 소정의 범위내이면 전위가 2.5V이라고 판단하고, 소정의 범위를 초과하는 경우에는 전위는 2.5V 이하라고 판단한다. 또한, 이렇게 판단된 정보는 필요에 따라 제어부(30)의 메모리(32) 등에 저장한다.

스텝 106(S106)에서, 터치패널의 접촉점이 1점이라고 판단한 경우에는 스텝 108(S108)로 이행하고, 반면 접촉점이 2점이라고 판단한 경우에는 스텝 110(S110)으로 이행한다.

다음으로, 스텝 108(S108)에서, 터치패널의 접촉점이 1점인 경우의 접촉점의 위치좌표가 검출된다. 이 위치좌표의 검출은 접촉점이 1점이므로 통상적인 위치검출방법에 의해 접촉점의 좌표위치의 검출을 할 수 있다. 예를 들어, XH전극(11)에 5V의 전위를 인가하고 XL전극(12)을 접지한 상태에서, 전위검출부(ADX1) 등에 의해 X축 방향상의 전위를 검출하고, 이 전위에 기초하여 접촉점의 X좌표상의 위치를 검출한다. 또한, YH전극(21)에 5V의 전위를 인가하고 YL전극(22)를 접지한 상태에서, 전위검출부(ADY1) 등에 의해 Y축 방향상의 전위를 검출하고, 이 전위에 기초하여 접촉점의 Y좌표상의 위치를 검출한다.

다음으로, 스텝 110(S110)에서, 제 2 의 X축 방향전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치패널에서 스위치(SW1 및 SW3)를 ON으로 하고 그 외의 스위치를 OFF상태로 하여, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH전극(11)에 Vcc의 전압이 인가되고, XL전극(12)은 접지되므로, 제 1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 저장한다. 또한, 스텝 110(S110)을 제 3 측정공정이라고 하는 경우가 있다.

다음으로, 스텝 112(S112)에서, 제 2 의 Y축 방향전위를 검출한다. 구체적으로는, 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 스위치(SW4 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF상태로 하여 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH전극(21)에 Vcc의 전압이 인가되고, YL전극(22)이 접지되므로, 제 2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 정보로서 저장한다. 또한, 스텝 112(S112)를 제 4 측정공정이라고 하는 경우가 있다.

다음으로, 스텝 114(S114)에서, 터치패널에 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기를 검출한다. 구체적으로는, 터치패널에 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지의 여부, 또한, 평행이 아닌 경우에는 양의 기울기인지 음의 기울기인지를 판단한다. 즉, 전술한 바와 같이, 터치패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 사전에 X축 방향으로 전계분포를 발생시켜 전위검출부(ADX1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 마찬가지로, Y축 방향으로 전계분포를 발생시켜 전위검출부(ADY1)에서 초기 전위가 되는 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 기억시켜 둔다. 구체적으로는, 터치패널의 접촉점이 0인 경우 또는 1점인 경우에 있어서, 도 1에 나타낸 터치패널에서의 스위치(SW2 및 SW3)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF상태로 하여 전위검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, XH전극(11)에는 저항(Rx1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, XL전극(12)은 접지되므로, 제 1 저항막(10)에서 X축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADX1)에 의해 전위를 측정하고, 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 저장한다. 마찬가지로, 스위치(SW5 및 SW6)를 ON으로 하고, 그 외의 스위치를 OFF로 하여 전위검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다. 이 상태에서는, YH전극(21)에는 저항(Ry1)를 통하여 Vcc의 전압이 인가되고, YL전극(22)는 접지되므로, 제 2 저항막(20)에서 Y축 방향으로 전위분포가 생긴다. 이 상태에서 전위검출부(ADY1)에 의해 전위를 측정하고 메모리(32) 등에 검출한 전위를 초기 전위로서 저장한다.

이 초기 전위값과 스텝 102(S102) 및 스텝 104(S104)에서 측정된 전위값을 비교함으로써, 접촉점의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지, Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인지를 판단할 수 있다.

구체적으로는, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행(Y축 방향에 수직)이라고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위와 대략 같고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)이라고 판단할 수 있다. 이 경우, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADX1)에서 측정된 초기 전위보다 낮고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부ADY1)에 의해 측정된 전위가 전위검출부(ADY1)에서 측정된 초기 전위보다 낮은 경우에는, 접촉점은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수도 있다.

보다 구체적으로 설명하면, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향에 평행하다고 판단하고, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V이고, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분이 Y축 방향에 평행(X축 방향에 수직)인 것이라고 판단한다. 이 경우, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하로서, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에 의해 측정된 전위가 2.5V 이하인 경우에는, 접촉점인 2점을 연결하는 선분은 X축 방향도 Y축 방향도 아닌 경사방향이라고 판단할 수도 있다.

이로써, 접촉점인 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지 Y축 방향에 평행인지를 판단할 수 있다.

또한, 초기 전위를 측정하지 않고 동일한 판단을 하는 다른 방법으로서는, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하인 경우, 즉, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위보다 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 낮은 경우에는, 접촉점은 Y축 방향에 평행한 방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다. 또한, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위가 2.5V 이하이고, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 2.5V인 경우, 즉, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위보다 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위가 높은 경우에는, 접촉점은 X축 방향에 평행한 방향의 2점에서 접촉하고 있다고 판단할 수 있다.

선분이 평행하지 않은 경우에 대해서는, 구체적으로는, 스텝 110(S110)에서, 도 16에 나타낸 바와 같이 터치패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, B점이 A점보다 XL전극(12) 및 YH전극(21)에 모두 가까운 경우, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위에 대해서는, 도 17에 나타낸 바와 같이 전위검출부(ADY2)에서 얻어지는 전위가 전위검출부(ADY1)에서 얻어지는 전위보다 높아진다.

도 17은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 일정간격의 양의 기울기의 직선상에 있는 경우에 접촉위치를 변화시킨 것이다. 도 17(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 17(b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

이는 A점은 제 1 저항막(10)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 XH전극(11)에 가까우므로, 그 영향을 강하게 받아 A점에 가까운 제 2 저항막(20)에서의 YL전극(22)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY2)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제 1 저항막(10)에서 접지되어 있는 XL전극(12)에 가까우므로, 그 영향을 강하게 받아 B점에 가까운 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 추인된다.

한편, 스텝 110(S110)에서, 도 18에 나타낸 바와 같이 터치패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH전극(11) 및 YH전극(21)에 모두 가까운 경우, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 도 19에 나타낸 바와 같이 전위검출부(ADY2)에서 얻어지는 전위가 전위검출부(ADY1)에서 얻어지는 전위보다 낮아진다.

도 19는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 일정간격의 음의 기울기의 직선상에 있는 경우에 있어서 접촉위치를 변화시킨 것이다. 도 19(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 위치를 나타내고, 도 19(b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

이는 A점은 제 1 저항막(10)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 XH전극(11)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제 1 저항막(10)에서 접지되어 있는 XL전극(12)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제 2 저항막(20)에서의 YL전극(22)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY2)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 추인된다.

지금까지 설명한 바와 같이, 터치패널에 접촉되어 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지 음인지를 판단할 수 있다.

또한, 스텝 110(S110)에서 검출된 전위에 근거하여, 접촉하고 있는 2점이 X축 방향에 평행인 경우인지, Y축 방향에 평행인 경우인지에 대하여도 판단할 수 있다.

구체적으로는, 전압의 인가방향인 X축 방향에 평행한 위치에서 2점이 접촉하고 있는 경우 및 전압의 인가방향에 수직인 Y축 방향에 평행한 위치에서 2점이 접촉하고 있는 경우에는, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위값은 후술하는 바와 같이 동일해지므로, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위값이 동등한 경우에는, 터치패널에서의 2점의 접촉위치는 X축 방향에 평행 또는 Y축 방향에 평행하다고 판단할 수 있다.

도 20은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 Y좌표가 같은 좌표위치로서, 2점의 접촉위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 90이 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 X좌표가 5의 위치와 95의 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 20(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 20(b)는 접촉점의 Y좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 21은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 Y좌표가 같은 좌표위치로서, 2점의 접촉위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 X좌표가 20인 위치와 35의 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 21(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 21(b)는 접촉점의 Y좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 22는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 Y좌표가 같은 좌표위치로서, 2점의 접촉위치에 있어서의 X축 방향의 간격이 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 X좌표가 65의 위치와 80인 위치인 경우)에서, Y좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 22(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 22(b)는 접촉점의 Y좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 20 내지 도 22에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉위치의 Y좌표가 모두 같은 위치인 경우, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 모두 같은 값이며, 이 값은 A점과 B점과의 중점에 대응하는 전위가 된다. 예를 들어, 도 20의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 50인 위치이므로, 인가되는 전압의 5V의 전위의 절반인 2.5V의 값이 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다. 또한, 도 21의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 27.5에 상당하는 위치가 되고, 도 22의 경우에는 중점의 X좌표의 위치가 72.5에 상당하는 위치가 되어, 이들의 위치에 상당하는 전위가 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다.

또한, 도 23은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 X좌표가 같은 좌표위치로서, 2점의 접촉위치의 Y축 방향상의 간격을 90이 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 Y좌표가 5의 위치와 95의 위치인 경우)에서, X좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 23(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 23(b)는 접촉점의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 24는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 X좌표가 같은 좌표위치로서 2점의 접촉위치의 Y축 방향상의 간격을 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 Y좌표가 65의 위치와 80인 위치인 경우)에서, X좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 24(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 24(b)는 접촉점의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

또한, 도 25는 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우에 있어서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치의 X좌표가 같은 좌표위치로서, 2점의 접촉위치의 Y축 방향상의 간격을 15가 되도록 일정하게 한 경우(2점의 접촉위치의 Y좌표가 20인 위치와 35의 위치인 경우)에서 X좌표에 있어서의 좌표위치를 변화시킨 것이다. 도 25(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 25(b)는 접촉점의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

도 23 내지 도 25에 나타낸 바와 같이, 2점의 접촉위치의 Y좌표가 모두 같은 좌표위치인 경우, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위는 모두 같은 값이며, A점과 B점의 X좌표에 대응하는 전위가 검출된다. 즉, Y축 방향에 평행한 방향으로 2점이 접촉하고 있는 경우, A점과 B점의 간격에 의존하지 않고 A점과 B점과의 X좌표에 대응하는 전위가 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출된다.

지금까지 X축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도 동일한 방법으로 터치패널에 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향 및 Y축 방향에 평행인지의 여부를 판단할 수 있다.

이상으로 부터, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위가 같은 값인지 아닌지에 의해, 터치패널에서의 2점의 접촉점이 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위 및 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위에 근거하여 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지 여부를 판단할 수 있고, 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위의 대소관계에 의해 접촉하고 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 소위 양의 기울기인지 음의 기울기인지를 판단할 수 있다.

즉, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 낮은 전위인 경우, 2점을 연결하는 선분의 기울기는 양이라고 판단된다. 또한, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 높은 전위인 경우, 2점을 연결하는 선분의 기울기는 음이라고 판단된다. 또한, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위가 동등한 경우에는, 2점을 연결하는 선분은 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행하다고 판단된다.

또한, 터치패널에서의 2점의 접촉점이 X축 방향 또는 Y축 방향에 평행인지의 여부의 판단에 대해서는, 스텝 110(S110) 및 스탭 112(S112)에서 검출된 전위, 즉, 제 3 측정공정 및 제 4 측정공정에서 얻어지는 정보에 근거하여 판단하는 경우에 대하여 설명했지만, 스텝 102(S102) 및 스탭104(S104)에서 검출된 전위, 즉, 제 1 측정공정 및 제 2 측정공정에서 얻어지는 정보에 근거하여 판단하는 것도 가능하다.

또한, 터치패널에서의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 소위 양인지 음인지를 판단하는 경우에 있어, X축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에 대하여도 마찬가지로 행할 수 있다.

구체적으로는, 도 26에 나타낸 바와 같이, YH전극(21)에 Vcc(5V)의 전압을 인가하고 YL전극(22)를 접지(0V)한 경우에 있어서, 터치패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH전극(11) 및 YL전극(22)에 가까운 경우 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 검출되는 전위는, 도 27에 나타낸 바와 같이, 전위검출부(ADX2)에서 얻어지는 전위가 전위검출부(ADX1)에서 얻어지는 전위보다 높아진다.

또한, 도 27은 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL전극(22)를 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 일정간격의 양의 기울기의 직선상에 있는 경우에 있어서 접촉위치를 변화시킨 것이다. 도 27(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 27(b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표와 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

이는 A점은 제 2 저항막(20)에서 접지되어 있는 YL전극(22)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제 2 저항막(20)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 YH전극(21)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제 1 저항막(20)에서의 XL전극(12)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX2)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 추인된다.

또한, 도 28에 나타낸 바와 같이 YH전극(21)에 Vcc(5V)의 전압을 인가하고 YL전극(22)를 접지(0V)한 경우에 있어서, 터치패널에서의 접촉점의 2점인 A점과 B점에서는, A점이 B점보다 XH전극(11) 및 YH전극(21)에 가까운 경우 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 검출되는 전위는, 도 29에 나타낸 바와 같이, 전위검출부(ADX2)에서 얻어지는 전위가 전위검출부(ADX1)에서 얻어지는 전위보다 낮아진다.

또한, 도 29는 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL전극(22)을 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 일정간격의 음의 기울기의 직선상에 있는 경우에 있어서 접촉위치를 변화시킨 것이다. 도 29(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 29(b)는 2점의 중점에 있어서의 X좌표의 위치와 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸다.

이는 A점은 제 2 저항막(20)에서 5V의 전위가 인가되어 있는 YH전극(21)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, A점에 가까운 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에서는 비교적 높은 전위가 검출되기 쉽고, B점은 제 2 저항막(20)에서 접지되어 있는 YL전극(22)에 가까우므로 그 영향을 강하게 받아, B점에 가까운 제 1 저항막(10)에서의 XL전극(12)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX2)에서는 비교적 낮은 전위가 검출되기 쉬워지기 때문인 것으로 추인된다.

이와 같이 Y축 방향으로 전압을 인가한 경우에도, 마찬가지로 터치패널에서의 2점에서 접촉하고 있는 경우의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지 음인지를 판단할 수 있다.

다음으로, 스텝 116(S116)에 나타낸 바와 같이, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 중점을 산출한다. 구체적으로는, 스텝 110(S110) 및 스텝 112(S112)에서 측정한 전위(제 3 측정공정 및 제 4 측정공정에서 측정한 전위)에 근거하여 각각의 전위의 중점을 산출함으로써, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 좌표의 중점을 산출한다.

이러한 점을 도 30 및 도 31에 근거하여 설명한다.

도 30은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 양의 기울기의 직선상에 존재하고 있는 경우에 있어서, 2점의 접촉점의 중점이 50인 위치가 되도록 간격을 변화시킨 경우를 나타낸 것이다. 도 30(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 30(b)는 X좌표에 있어서의 2점간의 거리(또는 Y좌표에 있어서의 2점간의 거리)와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위 및 이들의 평균과의 관계를 나타낸다.

도 31은 X축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, XH전극(11)에 5V의 전압을 인가하고, XL전극(12)을 접지한 경우로서, 터치패널에서의 2점의 접촉위치가 음의 기울기의 직선상에 존재하고 있는 경우에 있어서, 2점의 접촉점의 중점이 50인 위치가 되도록 간격을 변화시킨 경우를 나타낸 것이다. 도 31(a)는 이 상태에서의 터치패널의 2점의 접촉점의 좌표위치를 나타내고, 도 31(b)는 X좌표에 있어서의 2점간의 거리(또는 Y좌표에 있어서의 2점간의 거리)와 전위검출부(ADY1 및 ADY2)에서 검출되는 전위 및 이들의 평균과의 관계를 나타낸다.

도 30 및 도 31에 나타낸 바와 같이, 2점간의 간격이 넓어짐에 따라, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위검출부(ADY2)에서 검출되는 전위의 차가 커지는 경향이 있다. 그러나, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위검출부(ADY2)에서 검출되는 전위의 평균은 일정한 값을 나타내고, 이 값은 터치패널의 2점의 접촉점의 중점의 값을 나타낸다.

따라서, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위와 전위검출부(ADY2)에서 검출되는 전위와의 평균치를 산출함으로써, 터치패널의 2점의 접촉점의 중점의 X좌표에 대응하는 전위를 얻을 수 있고, 이 전위에 근거하여 중점의 X좌표를 얻을 수 있다.

도 30 및 도 31에서는 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 X좌표를 산출하는 경우에 대하여 설명했지만, Y축 방향으로 전압을 인가한 경우, 즉, YH전극(21)에 5V의 전압을 인가하고 YL전극(22)를 접지한 경우에 있어서, 전위검출부(ADX1 및 ADX2)에서 전위를 검출함으로써, 이 전위에 근거하여 마찬가지로 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표를 얻을 수 있다.

이상에 의해, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 접촉점의 중점의 좌표를 얻을 수 있다.

다음으로, 스텝 118(S118)에서, 터치패널에 접촉하고 있는 2점간의 거리를 산출한다. 구체적으로는, 스텝 102(S102) 및 스텝 104(S104)에서 측정한 전위(제 1 측정공정 및 제 2 측정공정에서 측정된 전위)에 근거하여 터치패널에 접촉하고 있는 2점간의 거리를 산출한다.

이러한 점을 도 32에 근거하여 설명한다. 도 32는 스텝 102(S102)에서의 상태, 즉, 도 5에 나타낸 상태에서의 2점간의 X좌표상의 거리와 XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위의 관계를 나타낸 것이다. 도 32에 나타낸 바와 같이, 2점간의 거리가 넓어짐에 따라 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위값은 저하한다. 또한, 전압이 인가되고 있는 방향에 평행한 방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있는 경우와 X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있지 않은 경우, 즉, 양의 기울기 방향 또는 음의 기울기의 방향으로 2점이 존재하고 있는 경우와는 2점간의 거리와 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위와의 관계가 상이하다.

따라서, 스텝 114(S114)에서 검출한 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 위치관계, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 2점이 존재하고 있는지 아닌지에 대응하여, 도 32에 나타낸 2점간의 거리와 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 검출된 전위의 관계를 선택하고, 선택된 관계에 근거하여 X축 방향상의 2점간의 거리를 얻을 수 있다.

구체적으로는, 터치패널의 2점의 접촉점이 X축 방향에 평행한 방향의 직선상에 존재하고 있는 경우에는, 도 32의 선 32A로 나타낸 곡선을 이용하여 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 검출된 전위에 근거하여 2점에 있어서의 X축 방향상의 거리를 산출할 수 있다. 또한, 터치패널의 2점의 접촉점이 X축 방향에 평행한 방향이 되는 직선상에는 존재하고 있지 않은 경우, 즉, 터치패널의 2점의 접촉점이 양의 기울기 또는 음의 기울기의 직선상에 존재하고 있는 경우에는, 도 32에서 선 32B로 나타낸 곡선을 이용하여, 스텝 102(S102)에서 전위검출부(ADX1)에서 검출된 전위에 근거하여 2점간의 X축 방향상의 거리 등을 산출할 수 있다.

또한, 도 33은 2.5V와 전위검출부(ADX1) 등에서 검출되는 전위의 차이와 X축 방향상의 2점간의 거리의 관계를 나타내고, 마찬가지로 이러한 상관관계에 근거하여 2.5V와 전위검출부(ADX1) 등에서 검출되는 전위의 차이로부터 X축 방향상의 거리를 얻을 수 있다.

Y축 방향상의 거리에 대하여도, 상기와 동일한 방법에 의해, 스텝 104(S104)에서 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위에 근거하여 얻을 수 있다.

또한, 2.5V로부터의 전압의 차이(V)와 각각의 축방향상의 거리(L1~L4)(또한, 거리(L1~L4)는 X축 방향상의 거리(Lx), Y축 방향상의 거리(Ly)로 표현하는 경우가 있다.)와의 관계를 아래의 식 1에 나타낸다. 이 식 1을 이용하여 각각의 축방향상의 거리(L)를 산출하여도 된다. 또한, 아래의 α₁~α₈, β₁~β₈, γ₁~γ₈, δ₅~δ₈는 도 32 또는 도 33를 근거로 미리 산출되어 있어도 되고, 실험 등으로 정해도 된다. 나아가, 이들의 값은 제어부(30) 등에 기억시켜 두어도 된다.

또한, 아래의 식 2에 나타낸 3차식을 이용하여 산출할 수도 있다.

다음으로, 스텝 120(S120)에서, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 위치좌표를 산출한다.

구체적으로는, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 위치관계와, 2점의 중점의 위치와, 2점간의 각각의 축방향상의 거리에 근거하여 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 위치좌표를 산출한다.

구체적으로는, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 중점의 위치와 2점간의 각각의 축방향의 거리에 근거하여 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 위치좌표를 산출한다. 구체적으로는 X축 방향의 거리를 Lx, Y축 방향상의 거리를 Ly로서 산출하고, 터치패널에 접촉하고 있는 2점의 중점의 위치를 (Xc, Yc)로서 산출한 경우, 2점의 좌표는 아래의 식 3 또는 식 4에 나타낸 식으로 표현된다. 또한, 식 3은 2점이 양의 기울기상에 존재하고 있는 경우, 식 4는 2점이 음의 기울기상에 존재하고 있는 경우, 식 5는 X축 방향에 평행인 경우, 식 6은 Y축 방향에 평행인 경우를 각각 나타낸다.

이상에 의해, 본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법이 종료된다. 본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법에서는 터치패널에서의 접촉점이 2점인 경우에도 용이하고 정확하게 2점의 접촉점의 좌표위치를 산출할 수 있다.

〔제 2 실시형태〕

다음으로, 제 2 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 터치패널에서의 위치검출방법에 관한 것이며, 제 1 실시형태와는 일부 상이한 프로세스를 갖는다.

본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법에 대하여 도 34에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 202(S202)에서 초기화를 실시한다. 이 초기화의 구체적인 내용에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 204(S204)에서, 터치패널에 손가락 등에 의한 접촉이 있는지가 검출되어, 손가락 등에 의한 접촉이 있는 경우에는 스텝 206(S206)으로 이행하고, 손가락 등에 의한 접촉이 없는 경우에는 손가락 등에 의한 접촉이 있을 때까지 스텝 204(S204)를 반복한다. 구체적으로는, 제 1 저항막(10)에 전압이 인가되어 있는 상태에서 제 2 저항막(20)을 통하여 전위가 검출된 경우, 또는, 제 2 저항막(20)에 전압이 인가되어 있는 상태에서 제 1 저항막(10)을 통하여 전위가 검출된 경우에는, 손가락 등에 의한 접촉이 있는 것으로서 스텝 206(S206)으로 이행한다.

다음으로, 스텝 206(S206)에서, 1점 압하인지 2점 압하인지를 식별하는 프로세스를 실시한다. 이 공정의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 208(S208)에서, 2점 압하인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 206(S206)에서 1점 압하인지 2점 압하인지의 식별정보에 근거하여, 1점 압하인지 2점 압하인지가 판단된다. 1점 압하인 경우에는 스텝 210(S210)으로 이행하고, 2점 압하인 경우에는 스텝 212(S212)로 이행한다.

다음으로, 스텝 210(S210)에서, 위치좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 208(S208)에서 1점 압하인 것이라고 판단되었으므로, 통상적인 4선식 터치패널에서의 위치검출방법에 의해 1점 압하되어 있는 좌표위치가 산출된다. 이 후, 도 34의 위치검출방법은 종료한다.

스텝 212(S212)에서, 터치패널에 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 방향(기울기)을 식별한다. 스텝 212(S212)의 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 214(S214)에서, 터치패널에 압하되어 있는 2점간의 거리가 산출된다.

다음으로, 스텝 216(S216)에서, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 212(S212)에서 얻어진 정보에 근거하여 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인지의 여부가 판단된다. 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행인 것(평행방향)으로 판단된 경우에는 스텝 218(S218)으로 이행하고, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 평행이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 220(S220)으로 이행한다.

다음으로, 스텝 218(S218)에서, 압하되어 있는 평행방향상의 2점의 좌표위치가 산출되고, 그 후 도 34의 위치검출방법은 종료한다. 이 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

한편, 스텝 216(S216)에서 아니오인 경우, 스텝 220(S220)에서, 압하되어 있는 수직방향상의 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인지의 여부가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 212(S212)에서 얻어진 정보에 근거하여 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인지의 여부가 판단된다. 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직인 것(수직방향)으로 판단된 경우에는 스텝 222(S222)로 이행하고, 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분이 X축 방향에 수직이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 224(S224)로 이행한다.

다음으로, 스텝 222(S222)에서, 압하되어 있는 2점의 좌표위치가 산출되고, 그 후, 도 34의 위치검출방법은 종료한다. 이 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 224(S224)에서, 터치패널에 압하되어 있는 2점의 중점의 좌표가 검출된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 226(S226)에서, 터치패널에 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 기울기가 판정된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 228(S228)에서, 터치패널에 압하되어 있는 2점의 위치좌표가 산출된다. 이 프로세스의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

이상에 의해, 본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법은 종료한다.

다음으로, 스텝 202(S202)에서의 초기화 서브루틴에 대하여 도 35에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 302(S302)에서, 저항(Rx1)과, XH전극(11)과 XL전극(12)간의 제 1 저항막(10)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원전압을 인가한다. 즉, 도 3에 나타낸 바와 같이, 저항(Rx1)를 통하여 XH전극(11)에 전원전압(Vcc)를 인가하고 XL전극(12)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치패널은 접촉하고 있지 않거나 또는 1점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.

다음으로, 스텝 304(S304)에서, XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에 의해 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 306(S306)에서, 전위검출부(ADX1)에 의해 검출된 전위를 X축의 초기 전위로 하여 제어부(30)의 메모리(32) 등에 저장한다.

다음으로, 스텝 308(S308)에서, 저항(Ry1)과, YH전극(21)과 YL전극(22)간의 제 2 저항막(20)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원전압을 인가한다. 즉, 도 4에 나타낸 바와 같이, 저항(Ry1)를 통하여 YH전극(21)에 전원전압(Vcc)를 인가하고 YL전극(22)를 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치패널은 접촉하고 있지 않거나 또는 1점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.

다음으로, 스텝 310(S310)에서, YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에 의해 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 312(S312)에서, 전위검출부(ADY1)에 의해 검출된 전위를 Y축의 초기 전위로서 제어부(30)의 메모리(32) 등에 저장한다.

또한, 스텝 302(S302)에서 스텝 306(S306)까지와 스텝 308(S308)에서 312(S312)까지의 순서는 반대로 하여도 된다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 206(S206)에서의 1점 압하인지 2점 압하인지를 식별하는 서브루틴에 대하여 도 36에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 322(S322)에서, 저항(Rx1)과, XH전극(11)과 XL전극(12)간의 제 1 저항막(10)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원전압을 인가한다. 즉, 도 3 또는 도 5에 나타낸 바와 같이, 저항(Rx1)에서 XH전극(11)이 접속되어 있지 않은 측에 전원전압(Vcc)를 인가하고 XL전극(12)을 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치패널은 1점 또는 2점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.

다음으로, 스텝 324(S324)에서, XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에 의해 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 326(S326)에서, 저항(Ry1)과, YH전극(21)과 YL전극(22)간의 제 2 저항막(20)이 직렬로 접속되어 있는 상태에서 전원전압을 인가한다. 즉, 도 4 또는 도 6에 나타낸 바와 같이, 저항(Ry1)에서 YH전극(21)이 접속되어 있지 않은 측에 전원전압(Vcc)를 인가하고 YL전극(22)를 접지한다. 또한, 이 상태에서는 터치패널은 1점 또는 2점에서 접촉하고 있는 것으로 한다.

다음으로, 스텝 328(S328)에서, YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에 의해 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 330(S330)에서, 초기화에서 구해진 X축의 초기 전위와 스텝 324(S324)에서 검출된 전위차인 X전위차를 산출한다.

다음으로, 스텝 332(S332)에서, 초기화에서 구해진 Y축의 초기 전위와 스텝 328(S328)에서 검출된 전위차인 Y전위차를 산출한다.

다음으로, 스텝 334(S334)에서, 스텝 332(S332)에서 산출된 Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인지의 여부가 판단된다. Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인 경우에는 스텝 336(S336)으로 이행하고, Y전위차가 소정의 Y임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 338(S338)으로 이행한다. 또한, Y임계치는 터치패널에서의 접촉이 1점인지 2점인지를 식별하기 위하여 사전에 설정되어 있는 값이며, 오차 등을 고려한 값이다.

다음으로, 스텝 336(S336)에서, 스텝 330(S330)에서 산출된 X전위차가 소정의 X임계치 미만인지의 여부가 판단된다. X전위차가 소정의 X임계치 미만인 경우에는 스텝 340(S340)으로 이행하고, X전위차가 소정의 X임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 338(S338)로 이행한다. 또한, X임계치는 터치패널에서의 접촉이 1점인지 2점인지를 식별하기 위하여 사전에 설정되어 있는 값이며, 오차 등을 고려한 값이다.

다음으로, 터치패널에서의 손가락 등에 의한 접촉이 2점이라고 판단되면, 스텝 338(S338)에서, 2점 접촉을 나타내는 정보가 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억된다.

다음으로, 터치패널에서의 손가락 등에 의한 접촉이 1점이라고 판단되면, 스텝 340(S340)에서 1점 접촉을 나타내는 정보가 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억된다.

이상으로 도 36의 이 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 212(S212)에서 터치패널에 압하되어 있는 2점을 연결하는 선분의 방향(기울기)을 식별하기 위한 서브루틴에 대하여 도 37에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 362(S362)에서, 스텝 330(S330)에서 산출된 X전위차가 소정의 X임계치 미만인지의 여부가 판단된다. X전위차가 소정의 X임계치 미만인 경우에는 스텝 366(S366)으로 이행하고, X전위차가 소정의 X임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 364(S364)로 이행한다.

다음으로, 스텝 362(S362)스텝 364(S364)에서, 스텝 332(S332)에서 산출된 Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인지의 여부가 판단된다. Y전위차가 소정의 Y임계치 미만인 경우에는 스텝 368(S368)으로 이행하고, Y전위차가 소정의 Y임계치 미만이 아닌 경우에는 스텝 370(S370)으로 이행한다.

스텝 362(S362)가 예인 경우, 터치패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 수직인 Y축 방향에 평행한 직선상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 수직방향인 것으로 하여, 스텝 366(S366)에서, 제어부(30)의 메모리(32) 등에 2점이 수직방향인 것을 나타내는 정보가 기억된다.

다음으로, 스텝 368(S368)에서, 터치패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 대해 평행방향(Y축 방향에 대해 수직방향)이 되는 직선상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 평행방향인 것으로 하여, 제어부(30)의 메모리(32) 등에 2점이 평행방향인 것을 나타내는 정보가 기억된다.

다음으로, 스텝 370(S370)에서, 터치패널에서의 손가락 등에 의한 2점의 접촉점은 X축 방향에 대하여 평행도 수직도 아닌 경사방향의 직선상에 존재하고 있다고 판단되고, 2점은 경사방향인 것으로 하여, 제어부(30)의 메모리(32) 등에 2점이 경사방향인 것을 나타내는 정보가 기억된다.

이상으로 도 37의 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 214(S214)에서의 접촉점인 2점의 거리를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 38에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 382(S382)에서, 터치패널에서의 2점의 접촉점의 X좌표상의 거리, 즉, 2점의 접촉점의 X좌표의 차이를 산출한다. 구체적으로는, 도 32, 도 33 또는 식 1, 식 2에 나타낸 식에 근거하여, 스텝 330(S330)에서 산출된 X전위차에 대응하는 X좌표상의 거리(Lx)를 산출한다.

다음으로, 스텝 384(S384)에서, 터치패널에서의 2점의 접촉점의 Y좌표상의 거리, 즉, 2점의 접촉점의 Y좌표의 차이를 산출한다. 구체적으로는, 도 32, 도 33 또는 식 1, 식 2에 나타낸 식에 근거하여, 스텝 332(S332)에서 산출된 Y전위차에 대응하는 Y좌표상의 거리(Ly)를 산출한다.

이상으로 도 38의 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 218(S218)에서의 평행방향의 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 39에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 402(S402)에서, 통상적인 4선식 위치검출방법에 의해 좌표검출이 행해진다. 이로써, X좌표(Xa)와 Y좌표(Ya)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 수직방향, 즉, X축 방향에 수직인 방향으로 존재하므로, 2개의 압하점의 X좌표는 같은 값이 된다. 따라서, X좌표(Xa)는 2개의 압하점의 X좌표(X1, X2)가 된다. 또한, Y좌표(Ya)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.

다음으로, 스텝 404(S404)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표(X1)를 스텝 402(S402)에서 검출한 좌표(Xa)로 한다.

다음으로, 스텝 406(S406)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표(X2)를 스텝 402(S402)에서 검출한 좌표(Xa)로 한다.

다음으로, 스텝 408(S408)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여 어느 하나의 압하점의 Y좌표는 Y1=Ya＋Ly/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 410(S410)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 Y좌표는 Y2=Ya－Ly/2에 의해 산출된다.

이상에 의해, 도 39의 서브루틴은 종료한다.

다음으로, 스텝 222에서의 수직방향의 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 40에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 422(S422)에서, 통상의 4선식 위치검출방법에 의해 좌표검출이 행해진다. 이로써, X좌표(Xa)와 Y좌표(Ya)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 평행방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 존재하므로 Y좌표의 위치는 같은 값이 된다. 따라서, Y좌표(Ya)는 2개의 압하점의 Y좌표(Y1, Y2)가 된다. 또한, X좌표(Xa)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.

다음으로, 스텝 424(S424)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 X좌표는 X1=Xa－Lx/2에 의해 산출된다.

다음으로, 스텝 426(S426)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 X좌표는 X2=Xa＋Lx/2에 의해 산출된다.

다음으로, 스텝 428(S428)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표(Y1)를 스텝 422(S422)에서 검출한 좌표(Ya)로 한다.

다음으로, 스텝 430(S430)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표(Y2)를 스텝 422(S422)에서 검출한 좌표(Ya)로 한다.

이상으로 도 40의 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 224(S224)에서의 접촉점이 2점의 경우의 중점좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 41에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 442(S442)에서, XH전극(11)과 XL전극(12)간의 제 1 저항막(10)에 전원전압을 인가한다. 즉, 도 16 또는 도 18에 나타낸 바와 같이, XH전극(11)에 전원전압(Vcc)를 인가하고 XL전극(12)을 접지한다.

다음으로, 스텝 444(S444)에서, 제 2 저항막(20)의 YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 446(S446)에서, 제 2 저항막(20)의 YL전극(22)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY2)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 448(S448)에서, YH전극(21)과 YL전극(22)간의 제 2 저항막(20)에 전원전압을 인가한다. 즉, 도 26 또는 도 28에 나타낸 바와 같이, YH전극(21)에 전원전압(Vcc)를 인가하고 YL전극(22)를 접지한다.

다음으로, 스텝 450(S450)에서, 제 1 저항막(10)의 XH전극(11)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX1)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 452(S452)에서, 제 1 저항막(10)의 XL전극(12)에 접속되어 있는 전위검출부(ADX2)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 454(S454)에서, 스텝 450(S450)에서 전위검출부(ADX1)에서 검출된 전위와 스텝 452(S452)에서 전위검출부(ADX2)에서 검출된 전위의 평균치를 산출하고, 이 평균치에 근거하여 중점의 X좌표(Xc)를 산출한다.

다음으로, 스텝 456(S456)에서, 스텝 444(S444)에 있어서 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 스텝 446(S446)에 있어서 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위의 평균치를 산출하고, 이 평균치에 근거하여 중점의 Y좌표(Yc)를 산출한다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다.

다음으로, 스텝 226(S26)에서의 2점의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기의 방향을 조사하는 서브루틴에 대하여 도 42에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 462(S462)에서, XH전극(11)과 XL전극(12)간의 제 1 저항막(10)에 전원전압을 인가한다. 즉, 도 16 또는 도 18에 나타낸 바와 같이, XH전극(11)에 전원전압(Vcc)를 인가하고 XL전극(12)을 접지한다.

다음으로, 스텝 464(S464)에서, 제 2 저항막(20)의 YH전극(21)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY1)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 466(S466)에서, 제 2 저항막(20)의 YL전극(22)에 접속되어 있는 전위검출부(ADY2)에서 전위를 검출한다.

다음으로, 스텝 468(S468)에서, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위와 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위의 대소관계가 판단된다. 구체적으로는, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 큰 경우, 스텝 470(S470)으로 이행한다. 또한, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위보다 크지 않은 경우, 스텝 472(S472)로 이행한다.

다음으로, 스텝 470(S470)에서, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 양의 기울기로 판단되므로, 2개의 접촉점을 연결하는 선분이 양의 기울기라는 취지의 정보가 제어부(30)에서의 메모리(32)에 기억된다.

다음으로, 스텝 472(S472)에서, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 음의 기울기라고 판단되므로, 2개의 접촉점을 연결하는 선분은 음의 기울기라는 취지의 정보가 제어부(30)에서의 메모리(32)에 기억된다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다. 또한, 이 서브루틴의 스텝 462(S462)에서 스텝 466(S466)은 도 41에 나타낸 서브루틴과 중복되므로, 도 41에 나타낸 서브루틴에서 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위 및 전위검출부(ADY2)에서 검출된 전위를 제어부(30)의 메모리(32) 등에 기억해 두고, 이 정보에 근거하여 스텝 468(S468) 이후의 스텝을 실시하여도 된다.

다음으로, 스텝 228(S228)에서의 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출하는 서브루틴에 대하여 도 43에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 482(S482)에서, 메모리(32)에 기억된 정보에 근거하여, 2개의 접촉점을 연결하는 선분의 기울기가 양인지의 여부가 판단된다. 기울기가 양으로 판단된 경우에는 스텝 484(S484)로 이행하고, 기울기가 양이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 492(S492)로 이행한다.

다음으로, 스텝 484(S484)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454(S454)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382(S482)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 486(S486)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454(S454)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 488(S488)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456(S456)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 Y좌표는 Y1=Yc－Ly/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 490(S490)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456(S456)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 Y좌표는 Y2=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.

한편, 스텝 492(S492)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454(S454)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 494(S494)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 454(S454)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 X좌표(Xc)와 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 496(S496)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456(S456)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 Y좌표는 Y1=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 498(S498)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 456(S454)에서 얻어진 2점의 접촉점의 중점의 Y좌표(Yc)와 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 Y좌표는 Y2=Yc－Ly/2에 의해 산출한다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다.

또한, 스텝 218(S218) 및 스텝 222(S222)에서의 도 39 및 도 40에 나타낸 서브루틴을 대신하여 도 44 및 도 45에 나타낸 서브루틴을 행하여도 된다.

구체적으로, 스텝 218(S218)에서의 평행방향의 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출하는 다른 서브루틴에 대하여 도 44에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 502(S502)에서, 도 41에 나타낸 터치패널에서의 접촉점이 2점의 경우의 중점검출의 서브루틴을 실시한다. 이로써, X좌표(Xc)와 Y좌표(Yc)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 수직방향, 즉, X축 방향에 수직인 방향으로 존재하므로 X좌표는 같은 값이 된다. 따라서, X좌표(Xc)는 2개의 압하점의 X좌표(X1, X2)가 된다. 또한, Y좌표(Yc)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.

다음으로, 스텝 504(S504)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표(X1)를 스텝 502(S502)에서 검출한 좌표(Xc)로 한다.

다음으로, 스텝 506(S506)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표(X2)를 스텝 502(S502)에서 검출한 좌표(Xc)로 한다.

다음으로, 스텝 508(S508)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 Y좌표는 Y1=Yc＋Ly/2에 의해 산출한다.

다음으로, 스텝 510(S510)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 384(S384)에서 얻어진 Y좌표상의 거리(Ly)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 Y좌표는 Y2=Yc－Ly/2에 의해 산출된다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다.

스텝 222(S222)에서의 수직방향의 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출하는 다른 서브루틴에 대하여 도 45에 근거하여 설명한다.

먼저, 스텝 522(S522)에서, 도 41에 나타낸 터치패널에서의 접촉점이 2점의 경우의 중점검출의 서브루틴을 실시한다. 이로써, X좌표(Xc)와 Y좌표(Yc)가 얻어진다. 여기서, 2개의 압하점은 평행방향, 즉, X축 방향에 평행한 방향으로 존재하므로 Y좌표의 위치는 같은 값이 된다. 따라서, Y좌표(Yc)는 2개의 압하점의 Y좌표(Y1, Y2)가 된다. 또한, X좌표(Xc)는 2개의 압하점의 중점의 좌표가 된다.

다음으로, 스텝 524(S524)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 어느 하나의 압하점의 X좌표는 X1=Xc－Lx/2에 의해 산출된다.

다음으로, 스텝 526(S526)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 X좌표가 산출된다. 구체적으로는, 스텝 382(S382)에서 얻어진 X좌표상의 거리(Lx)에 근거하여, 다른 하나의 압하점의 X좌표는 X2=Xc＋Lx/2에 의해 산출된다.

다음으로, 스텝 528(S528)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 어느 하나의 압하점의 Y좌표(Y1)를 스텝 422(S422)에서 검출한 좌표(Yc)로 한다.

다음으로, 스텝 530(S530)에서, 터치패널에서의 2개의 압하점중 다른 하나의 압하점의 Y좌표(Y2)를 스텝 422(S422)에서 검출한 좌표(Yc)로 한다.

이상으로 이 서브루틴이 종료한다.

본실시형태에 따른 터치패널에서의 위치검출방법은, 제 1 실시형태와 마찬가지로, 터치패널에 접촉하고 있는 접촉점이 2점인 경우에도 정확하고 간단한 방법으로 위치를 검출할 수 있다.

또한, 상기 이외의 내용은 제 1 실시형태와 같다.

〔제 3 실시형태〕

다음으로, 제 3 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 제 1 실시형태 및 제 2 실시형태에 따른 위치검출방법을 이용할 수 있는 터치패널의 일예이다.

먼저, 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10), 제 2 저항막(20)과 저항(Rx1, Ry1)의 관계에 대하여 설명한다. 또한, 터치패널에서는 1점을 압하한 경우에 검출되는 전위와, 2점을 압하한 경우에 검출되는 전위의 차가 크면 클수록 터치패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지의 판단을 용이하게 할 수 있다.

(제 1 터치패널)

제 1 터치패널은, 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 91.0mm, Y축 방향의 길이가 75.0mm로 형성되어 있다. 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치는 351.4Ω이고, 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치는 210.0Ω이다. 이 제 1 터치패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 1점을 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대한 조사결과에 대하여 설명한다.

아래의 표 1은 제 1 터치패널에서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항값(Rx1 및 Ry1)의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.

도 46은 표 1의 결과에 근거하여 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과, 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는 저항(Rx1)의 저항치가 제 1 저항막(10)의 저항치에 대하여 75~100%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.6V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제 2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.4 V가 된다.

1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V이상이면, 터치패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지를 용이하게 판별할 수 있다. 따라서, 제 1 터치패널에 있어서는 터치패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 25%이상, 400%이하인 것이 바람직하다. 나아가, 보다 확실하게 1점 압하인지 2점 압하인지를 판별하기 위해서는 전위차가 0.3V이상인 것이 바람직하고, 이 경우에는 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50%이상, 200%이하인 것이 보다 바람직하다.

(제 2 터치패널)

다음으로, 제 2 터치패널은, 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 164.0mm, Y축 방향의 길이가 101.0mm로 형성되어 있다. 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치는 866.0Ω이고, 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치는 247.5Ω이다. 이 제 2 터치패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대한 조사결과에 대하여 설명한다.

아래의 표 2는 제 1 터치패널에 있어서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항(Rx1 및 Ry1)의 값의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.

도 47은 표 2의 결과에 근거하여 각각의 저항막에서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과, 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는 저항(Rx1)의 저항치가 제 1 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.7V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제 2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.34V가 된다.

1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V이상이면, 터치패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지를 용이하게 판별할 수 있다. 따라서, 제 1 터치패널은 터치패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 25%이상, 400%이하인 것이 바람직하다. 나아가, 보다 확실하게 1점 압하인지 2점 압하인지를 판별하기 위해서는 전위차가 0.3V이상인 것이 바람직하고, 이 경우에는 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50%이상, 100%이하인 것이 보다 바람직하다.

(제 3 터치패널)

다음으로, 제 3 터치패널은 도 1에 나타낸 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)이 X축 방향의 길이가 183.0mm, Y축 방향의 길이가 143.0mm로 형성되어 있다. 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치는 580.0Ω이며, 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치는 360.0Ω이다. 이 제 2 터치패널에 있어서, 저항(Rx1 및 Ry1)값과, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위에 대한 조사결과에 대하여 설명한다.

아래의 표 3 및 표 4는 제 1 터치패널에 있어서 저항(Rx1 및 Ry1)의 값과, 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 저항(Rx1 및 Ry1)의 값의 비율 및 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우에 있어서 검출되는 전위 및 이들의 전위차를 나타낸다. 또한, Vcc는 5V로 한다.

도 48은 표 3 및 표 4의 결과에 근거하여 각각의 저항막에 있어서의 전극간의 저항치를 기준으로 한 경우의 저항(Rx1 및 Ry1)의 비율과, 1점 압하된 경우와 2점 압하된 경우의 전위차의 관계를 나타낸다. X축 방향에서는, 저항(Rx1)의 저항치가 제 1 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.32V가 된다. 또한, Y축 방향에서는 저항(Ry1)의 저항치가 제 2 저항막(10)의 저항치에 대하여 약 75%인 경우에 있어서, 1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우에 검출되는 전위차가 가장 커지고, 그 차이는 약 0.24V가 된다.

1점 압하한 경우와 2점 압하한 경우의 전위차가 0.2V이상이면, 터치패널에서의 접촉점이 1점 압하인지 2점 압하인지를 용이하게 판별할 수 있다. 따라서, 제 1 터치패널에 있어서는, 터치패널에서의 저항막의 저항치에 대하여 저항(Rx1 및 Ry1)의 값이 50%이상, 200%이하인 것이 바람직하다.

이상으로부터, 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서는 저항(Rx1 및 Ry1)의 저항치는 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 25%이상, 400%이하의 값으로 설정되고, 나아가서는 50%이상, 200%이하인 것이 바람직하다. 또한, 보다 바람직하게는 50%이상, 100%이하이고, 더욱 바람직하게는 약 75%이다.

〔제 4 실시형태〕

다음으로, 제 4 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 터치패널이고, 도 49에 근거하여 설명한다.

본실시형태에 따른 터치패널은 제 1 저항막(10)에 직렬로 접속되는 저항(Rx1, Rx2, Rx3)을 복수개 갖고, 제 1 스위치(110)을 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3)중 어느 하나를 선택하여 제 1 저항막(10)에 직렬로 접속할 수 있다. 마찬가지로, 제 2 저항막(20)에 직렬로 접속되는 저항(Ry1, Ry2, Ry3)을 복수개 갖고, 제 2 스위치(120)을 전환함으로써 저항(Ry1, Ry2, Ry3)중 어느 하나를 선택하여 제 2 저항막(20)에 직렬로 접속할 수 있다. 또한, 본실시형태에서는, 저항(Rx1, Rx2, Rx3)를 제 1 저항군(130)이라고 칭하고, 저항(Ry1, Ry2, Ry3)를 제 2 저항군(140)이라고 칭한다. 또한, 제 1 저항군(130) 및 제 2 저항군(140)의 각각에 포함되는 저항의 수는 선택할 수 있도록 복수이면 된다. 또한, 제 1 스위치(110)는 제어부(30)의 제 1 스위치 제어단자에 접속되고, 제 2 스위치(120)는 제어부(30)의 제 2 스위치 제어단자에 접속된다.

본실시형태에 따른 터치패널에서는 제 1 스위치(110)을 전환함으로써 제 1 저항막(10)에 가장 적합한 저항을 저항(Rx1, Rx2, Rx3)에서 선택할 수 있다. 구체적으로는, 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되는 것을 저항(Rx1, Rx2, Rx3)에서 선택한다.

도 50은 저항(Rx1, Rx2, Rx3), 제 1 스위치(110), 제 1 저항막(10), 전위검출부(ADX1)를 나타낸다. 도 50에 나타낸 바와 같이, 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치를 RSx로 한 경우, 제 1 스위치(110)을 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3)의 어느 하나와 접속하고, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위값이 (RSx/(RSx＋0.75RSx))×Vcc에서 얻어지는 값인 약 0.57Vcc에 가장 가까운 저항을 선택하고, 제 1 스위치(110)을 전환함으로써 그 저항을 제 1 저항막(10)과 접속한다.

마찬가지로, 제 2 스위치(120)을 전환함으로써, 제 2 저항막(20)에 가장 적합한 저항을 저항(Ry1, Ry2, Ry3)에서 선택한다. 구체적으로는, 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되는 것을 저항(Ry1, Ry2, Ry3)에서 선택한다.

본실시형태에서는, 제 1 스위치(110)에 의해 저항(Rx1, Rx2, Rx3)에서 최적인 저항치의 저항을 선택할 수 있고, 제 2 스위치(120)에 의해 저항(Ry1, Ry2, Ry3)에서 최적인 저항치의 저항을 선택할 수 있으므로, 터치패널의 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)에서 제조오차 등에 의한 편차가 생긴 경우에도 최적인 저항을 선택할 수 있다. 또한, 형상이 상이한 여러가지 터치패널에 대하여도 최적인 저항을 선택할 수 있다.

(저항의 선택방법)

다음으로, 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)에 접속되는 저항의 선택방법에 대하여 도 51에 근거하여 설명한다. 또한, 이하의 제어의 일부 또한 전부는 제어부(30)의 제어에 근거하여 행해진다.

먼저, 스텝 602(S602)에서, 제 1 스위치(110)을 전환하여, 예를 들어, 저항(Rx1)와 제 1 저항막(10)을 직렬로 접속한다.

다음으로, 스텝 604(S604)에서, 전원전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다.

다음으로, 스텝 606(S606)에서, 제 1 저항막(10)에 접속되는 X축 방향의 저항(Rx1, Rx2, Rx3)의 모든 저항에 대하여, 전환된 상태에서 전위검출부(ADX1)에서의 전위가 측정되었는지 여부가 판단된다. 모든 저항에 대하여 전환된 상태에서 전위검출부(ADX1)에서의 전위가 측정된 경우에는 스텝 608(S608)로 이행한다. 한편, 모든 저항에 대해서 전환된 상태에서 전위검출부(ADX1)에서의 전위가 측정되지 않은 경우에는 스텝 602(S602)로 이행한다. 이 때, 스텝 602(S602)에서는, 제 1 스위치(110)을 전환함으로써, 제 1 저항막(10)과 그 다음의 저항(Rx2) 또는 저항(Rx3)와의 접속이 행해진다.

다음으로, 스텝 608(S608)에서, X축 방향의 저항(Rx1, Rx2, Rx3)중, 전위검출부(ADX1)에서 검출된 전위가 0.57Vcc에 가장 가까운 저항이 선택되고, 제 1 스위치(110)에 의해 제 1 저항막(10)과 직렬로 접속된다.

다음으로, 스텝 610(S610)에서, 제 2 스위치(120)을 전환하여, 예를 들어, 저항(Ry1)와 제 2 저항막(20)을 직렬로 접속한다.

다음으로, 스텝 612(S612)에서, 전원전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다.

다음으로, 스텝 614(S614)에서, 제 2 저항막(20)에 접속되는 Y축 방향의 저항(Ry1, Ry2, Ry3)의 모든 저항에 대하여, 전환된 상태에서 전위검출부(ADY1)에서의 전위가 측정되었는지 여부가 판단된다. 모든 저항에 대하여 전환된 상태에서 전위검출부(ADY1)에서의 전위가 측정된 경우에는 스텝 616(S616)으로 이행한다. 한편, 모든 저항에 대해서 전환된 상태에서 전위검출부(ADY1)에서의 전위가 측정되지 않은 경우에는 스텝 610(S610)으로 이행한다. 이 때, 스텝 610(S610)에서는, 제 2 스위치(120)을 전환함으로써 제 2 저항막(20)과 다음의 저항(Ry2) 또는 저항(Ry3)와의 접속이 행해진다.

다음으로, 스텝 616(S616)에서, Y축 방향의 저항(Ry1, Ry2, Ry3)중, 전위검출부(ADY1)에서 검출된 전위가 0.57Vcc에 가장 가까운 저항이 선택되고, 제 2 스위치(120)에 의해 제 2 저항막(20)과 직렬로 접속된다.

〔제 5 실시형태〕

다음으로, 제 5 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태에 의한 터치패널을 도 52에 근거하여 설명한다.

본실시형태에 따른 터치패널은 제 1 저항막(10)에 직렬로 접속되는 저항(Rcx1) 및 제 2 저항막(20)에 직렬로 접속되는 저항(Rcy1)가 가변저항으로 형성되어 있다.

저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)의 저항치는 제 1 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되도록 저항(Rcx1)의 값을 조절하고, 마찬가지로, 제 2 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치의 75%의 값에 가장 가까운 값이 되도록 저항(Rcy1)의 값을 조절한다.

구체적으로는, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전위값이 약 0.57Vcc에 가장 가까워지도록 저항(Rcx1)의 값을 조절하고, 마찬가지로, 전위검출부(ADY1)에서 검출되는 전위값이 약 0.57Vcc에 가장 가까워지도록 저항(Rcy1)의 값을 조절한다.

본실시형태에서는, 터치패널의 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)에서 제조오차 등에 의한 편차가 생긴 경우에도, 최적인 저항치로 조절할 수 있다. 또한, 형상이 상이한 여러가지 터치패널에 대하여도 최적인 저항치로 조절할 수 있다.

또한, 도 53에 나타낸 것은 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서, 저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)에서의 저항치를 제어부(230)에서 Rcx1설정단자 및 Rcy1설정단자를 통하여 설정할 수 있다.

(저항치의 설정방법)

다음으로, 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서, 제 1 저항막(10) 및 제 2 저항막(20)에 접속되는 저항(Rcx1) 및 저항(Rcy1)의 저항치의 설정방법에 대하여 도 54에 근거하여 설명한다. 또한, 이하의 제어의 일부 또한 전부는 제어부(30)의 제어에 근거하여 행해진다.

먼저, 스텝 702(S702)에서, 전원전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위검출부(ADX1)에서 전위를 측정한다.

다음으로, 스텝 704(S704)에서, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.57Vcc에 가까운 값 인지의 여부가 판단된다. 예를 들어, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하인지의 여부가 판단된다(저항(Rcx1)의 저항치가 제 1 저항막(10)에서의 저항치에 대하여 25%이상, 400%이하가 되도록 설정하는 경우). 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하인 경우에는 스텝 712(S712)로 이행한다. 또한, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하가 아닌 경우에는 스텝 706(S706)으로 이행한다.

또한, 스텝 704(S704)에 있어서, 저항(Rcx1)의 저항치가 제 1 저항막(10)에서의 저항치에 대하여 50%이상, 200%이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.33Vcc이상, 0.67Vcc이하인지의 여부로 판단할 수 있다. 또한, 50%이상, 100%이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 0.5Vcc이상, 0.67Vcc이하인지의 여부로 판단할 수 있다.

다음으로, 스텝 706(S706)에서, 전위검출부(ADX1)에서 측정된 전위가 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc~0.8Vcc)보다 높은지 또는 낮은지가 판단된다. 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.8Vcc)보다 높은 경우에는 스텝 708(S708)으로 이행하고, 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc)보다 낮은 경우에는 스텝 710(S710)으로 이행한다.

다음으로, 스텝 708(S708)에서, 저항(Rcx1)에서의 저항치가 높아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 702(S702)로 이행한다.

다음으로, 스텝 710(S710)에서, 저항(Rcx1)에서의 저항치가 낮아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 702(S702)로 이행한다.

다음으로, 스텝 712(S712)에서, 전원전위(Vcc)가 인가되어 있는 상태에서 전위검출부(ADY1)에서 전위를 측정한다.

다음으로, 스텝 714(S714)에서, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.57Vcc에 가까운 값 인지의 여부가 판단된다. 예를 들어, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하인지의 여부가 판단된다(저항(Rcy1)의 저항치가 제 2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 25%이상, 400%이하가 되도록 설정하는 경우). 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하인 경우에는 종료한다. 또한, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.2Vcc이상, 0.8Vcc이하가 아닌 경우에는 스텝 716(S716)으로 이행한다.

또한, 스텝 714(S714)에 있어서, 저항(Rcy1)의 저항치가 제 2 저항막(20)에서의 저항치에 대하여 50%이상, 200%이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.33Vcc이상, 0.67Vcc이하인지의 여부로 판단할 수 있다. 또한, 50%이상, 100%이하가 되도록 설정하는 경우에는, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 0.5Vcc이상, 0.67Vcc이하인지의 여부로 판단할 수 있다.

다음으로, 스텝 716(S716)에서, 전위검출부(ADY1)에서 측정된 전위가 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc~0.8Vcc)보다 높은지 또는 낮은지가 판단된다. 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.8Vcc)보다 높은 경우에는 스텝 718(S718)으로 이행하고, 소정의 전위의 범위(예를 들어, 0.2Vcc)보다 낮은 경우에는 스텝 720(S720)으로 이행한다.

다음으로, 스텝 718(S718)에서, 저항(Rcy1)에서의 저항치가 높아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 712(S712)로 이행한다.

다음으로, 스텝 720(S720)에서, 저항(Rcy1)에서의 저항치를 낮아지도록 조절한다. 이 후, 스텝 712(S712)로 이행한다.

이상에 의해, 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서 저항(Rcx1 및 Rcy1)에서의 저항치를 소정의 값으로 설정할 수 있다.

또한, 제 3 실시형태 내지 제 5 실시형태에서는, 저항(Rx1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcx1)의 한쪽을 XH전극(11)에 접속하고 다른쪽을 전원전압에 접속한 것으로서, 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcy1)의 한쪽을 YH전극(21)에 접속하고 다른쪽을 전원전압에 접속한 것에 대하여 설명했지만, 이들 대신에 저항(Rx1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcx1)의 한쪽을 XL전극(12)에 접속하고 다른쪽을 접지한 것으로 하여도 되고, 또는, 저항(Ry1, Ry2, Ry3) 또는 저항(Rcy1)의 한쪽을 YL전극(22)에 접속하고 다른쪽을 접지한 것으로 하여도 된다.

〔제 6 실시형태〕

다음으로, 제 6 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태에 따른 터치패널은 제 1 실시형태, 제 4 실시형태, 제 5 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 접속되는 저항(Rx1), 저항(Ry1) 등이 접지측에 접속되어 있는 구조이다.

먼저, 도 55에 나타낸 구조의 터치패널은 도 1에 대응하는 것이고, 제 1 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 저항(Rx1) 및 저항(Ry1)가 접지측에 접속되어 있는 구조이다. 구체적으로는, ITO 등의 투명 도전막으로 이루어지는 제 1 저항막(10)과 제 2 저항막(20)을 구비하고 있다. 제 1 저항막(10)에는 X축 방향의 양단의 한쪽에 XH전극(11), 다른쪽에 XL전극(12)이 Y축 방향을 따라 형성되어 있다. 또한, 제 2 저항막(20)에는 Y축 방향의 양단의 한쪽에 YH전극(21), 다른쪽에 YL전극(22)이 X축 방향을 따라 형성되어 있다.

XH전극(11)은 제 1 전극이 되는 것으로, 전원전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW1)와 접속되고, 또한, 접지전위에 접속되어 있는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW7)에 저항(R)를 통하여 접속되고, 나아가서는, 제어부(30)내에 형성된 AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADX1)에 접속된다.

XL전극(12)은 제 2 전극이 되는 것으로, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW3)와 접속되고, 또한, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)와 저항(Rx1)를 통하여 접속되고, 나아가서는, AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADX2)에 접속된다.

YH전극(21)은 제 3 전극이 되는 것으로, 전원전위(Vcc)에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW4)와 접속되어 있거나, 또는, 제어부(30)내에 형성된 AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADY1)에 접속된다.

YL전극(22)은 제 4 전극이 되는 것으로, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW6)와 접속되고, 또한, 접지전위에 접속된 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)와 저항(Ry1)를 통하여 접속되고, 나아가서는, AD변환기(31)에서 전위를 검출하기 위한 전위검출부(ADY2)에 접속된다.

또한, 저항(Rx1)은 제 1 저항이 되는 것으로, 저항막(10)에서의 XH전극(11)과 XL전극(12)간의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 갖고, 저항(Ry1)는 제 2 저항이 되는 것으로, 저항막(20)에서의 YH전극(21)과 YL전극(22)간의 저항치와 대략 동등한 값의 저항치를 갖고 있다.

스위치(SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6 및 SW7)는 제어부(30)에 형성된 SW1제어단자, SW2제어단자, SW3제어단자, SW4제어단자, SW5제어단자, SW6제어단자 및 SW7제어단자에 각각 접속된다.

또한, 제 1 실시형태에 따른 터치패널은 도 8 내지 도 10, 도 14, 도 15, 도 32에 있어서, 2점간 거리가 넓어짐에 따라 전위가 강하하지만, 본실시형태의 도 55에 나타낸 구조의 터치패널은 2점간 거리가 넒어짐에 따라 전위가 상승한다.

다음으로, 도 56에 나타낸 구조의 터치패널은 도 49에 대응하는 것이고, 제 4 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 저항(Rx1, Rx2, Rx3, Ry1, Ry2, Ry3)가 접지측에 접속되어 있는 구조이다. 구체적으로는, 제 1 저항막(10)의 XL전극(12)측에 직렬로 접속되는 저항(Rx1, Rx2, Rx3)를 복수개 갖고, 제 1 스위치(110)을 전환함으로써 저항(Rx1, Rx2, Rx3)중 어느 하나를 선택하여 제 1 저항막(10)에 직렬로 접속할 수 있다. 마찬가지로, 제 2 저항막(20)의 YL전극(22)측에 직렬로 접속되는 저항(Ry1, Ry2, Ry3)를 복수개 갖고, 제 2 스위치(120)을 전환함으로써 저항(Ry1, Ry2, Ry3)중 어느 하나를 선택하여 제 2 저항막(20)에 직렬로 접속할 수 있다. 또한, 제 1 스위치(110) 및 제 2 스위치(120)은 접지전위와 접속된다.

다음으로, 도 57에 나타낸 구조의 터치패널은 도 52에 대응하는 것이고, 제 5 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 저항(Rcx1, Rcy1)가 접지측에 접속되어 있는 구조이다. 구체적으로는, 가변저항에 의해 형성되어 있는 저항(Rcx1)는 제 1 저항막(10)의 XL전극(12)측에 직렬로 접속되고, 마찬가지로, 가변저항에 의해 형성되어 있는 저항(Rcy1)는 제 2 저항막(20)의 YL전극(22)측에 직렬로 접속된다. 또한, 저항(Rcx1)는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)를 통하여 접지전위와 접속되고, 저항(Rcy1)는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)를 통하여 접지전위와 접속된다.

다음으로, 도 58에 나타낸 구조의 터치패널은 도 53에 대응하는 것이고, 제 5 실시형태에 따른 터치패널에 있어서 저항(Rcx1, Rcy1)가 접지측에 접속되어 있는 구조이다. 구체적으로는, 저항(Rcx1)는 제 1 저항막(10)의 XL전극(12)측에 직렬로 접속되고, 마찬가지로, 저항(Rcy1)는 제 2 저항막(20)의 YL전극(22)측에 직렬로 접속된다. 또한, 저항(Rcx1)는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW2)를 통하여 접지전위와 접속되고, 저항(Rcy1)는 트랜지스터로 이루어지는 스위치(SW5)를 통하여 접지전위와 접속된다. 또한, 저항(Rcx1 및 저항Rcy1)에서의 저항치를 제어부(230)에서 Rcx1설정단자 및 Rcy1설정단자를 통하여 설정할 수 있다.

〔제 7 실시형태〕

다음으로, 제 7 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 제 1 실시형태에 따른 터치패널 등의 초기화 방법이다. 구체적으로는, 터치패널에 있어서 접촉점이 2점인 경우의 위치검출을 보다 정확하게 하기 위한 초기화 방법이다.

본실시형태에 있어서의 초기화 방법에서는, 도 59에 나타낸 바와 같이, 제 1 실시형태에 따른 터치패널(1)을 퍼스널컴퓨터(PC)(60)에 접속된 표시장치(40)상의 소정의 위치에 배치하여 실시한다. 또한, 표시장치(40)는 퍼스널컴퓨터(60)을 통하지 않고 터치패널(1)의 제어부(30)에 직접 접속된 것으로 하여도 된다.

본실시형태에서는, 도 60에 나타낸 바와 같이, 터치패널(1)이 설치되어 있는 표시장치(40)의 표시화면에는, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4가 압하 타이밍에 맞추어 표시되고, 표시된 점을 압하함으로써 터치패널(1)의 초기화를 행할 수 있다. 점A1 및 점A4는 표시장치(40)의 표시화면의 대각선상에 위치하고 있고, 표시장치(40)의 표시화면보다 X축 방향에 있어서 Xedg, Y축 방향에 있어서 Yedg만큼 내측에 위치하고 있다. 점A2 및 점A3는 점A1 및 점A4의 사이를 X축 방향으로 3등분, Y축 방향으로 3등분한 좌표에 위치하고 있다. 이 때문에, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4는 동일 직선상에 위치하고 있다. 또한, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4는 표시장치(40)의 표시화면상의 4점이면 상기 3등분한 위치 이외의 위치이어도 된다.

(초기화 방법)

다음으로, 본실시형태에 있어서의 초기화 방법에 대하여 도 61 및 도 62에 근거하여 설명한다. 또한, 도 61 및 도 62에 있어서, 좌측의 플로우차트는 퍼스널컴퓨터(60)에서 행해지는 처리를 나타내고, 우측의 플로우차트는 터치패널(1)의 제어부(30)에서 행해지는 처리를 나타낸다. 이하, 2개의 플로우차트를 관련지으면서 설명한다.

먼저, 퍼스널컴퓨터(60) 및 터치패널(1)의 전원을 온으로 한다.

다음으로, 스텝 802(S802)에서, 퍼스널컴퓨터(60)에서 터치패널(1)로 보정개시 커맨드가 송신된다. 이 보정개시 커맨드는 본실시형태에 따른 터치패널의 초기화의 개시를 의미하는 커맨드이다. 이로써, 터치패널(1)의 제어부(30)에서는, 스텝 902(S902)에 나타낸 바와 같이, 퍼스널컴퓨터(60)으로부터 송신된 보정개시 커맨드를 수신하고, 스텝 904(S904)로 이행함과 동시에 퍼스널컴퓨터(60)에 ACK(Acknowledgement) 신호를 송신한다. 이 후, 스텝 904(S904)에서, 제어부(30)에서는 터치패널(1)의 초기화를 개시하기 위하여 통상적인 터치패널 입력동작과는 상이한 보정모드로 설정된다.

다음으로, 스텝 804(S804)에서, 퍼스널컴퓨터(60)는 제어부(30)로부터 송신된 ACK신호를 수신하고, 스텝 806(S806)으로부터 스텝 816(S816)에 나타나는 1점 입력을 행하기 위한 표시를 행하는 루프로 이행한다. 또한, 스텝 906(S906) 내지 스텝 914(S914)는 스텝 806(S806) 내지 스텝 816(S816)에 대응하는 제어부(30)에서의 루프이다.

스텝 806(S806)으로부터 스텝 816(S816)의 루프에서는, 먼저, 스텝 808(S808)에서 점A1를 표시장치(40)의 표시화면에 표시한다.

다음으로, 스텝 810(S810)에서, 점A1를 압하함으로써 1점 입력이 되어 1점 입력이 온 상태가 된다. 이 정보는 퍼스널컴퓨터(60)로부터 제어부(30)에 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 908(S908)에서 점A1의 X축 방향 및 Y축 방향상의 전위가 측정된다.

다음으로, 스텝 812(S812)에서, 점A1의 압하가 해제, 즉, 점A1가 압하되지 않는 상태가 되어 입력이 OFF상태인 것이 검출된다. 이 정보는 퍼스널컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 910(S910)에 나타낸 바와 같이, 점A1의 1점 입력이 완료하고 좌표위치가 산출된다.

다음으로, 스텝 814(S814)에서, 점A1의 좌표의 보존명령이 퍼스널컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 제어부(30)에서는, 스텝 912(S912)에 나타낸 바와 같이, 점A1의 좌표위치가 보존된다.

스텝 806(S806)으로부터 스텝 816(S816)의 루프에서는, 동일한 동작에 대하여 점A1를 포함하여 점A2, 점A3 및 점A4의 합계 4점에 대하여 실시한다. 구체적으로는, 스텝 808(S808)에 있어서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4를 순차 표시하고, 소정의 위치를 압하함으로써, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 좌표위치를 검출하여 보존한다. 즉, 이들의 점에 대하여, 스텝 806(S806) 내지 스텝 816(S816), 스텝 906(S906) 내지 스텝 914(S914)를 순차적으로 실시한다.

다음으로, 스텝 916(S916)에서, 각 입력점간의 X축 방향의 거리 및 Y축 방향의 거리를 산출하여 보존한다. 구체적으로는, 스텝 806(S806)으로부터 스텝 816(S816)의 루프 및 스텝 906(S906)으로부터 스텝 914(S914)에서 얻어진 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 좌표위치, 즉, 점A1(XA1, YA1), 점A2(XA2, YA2), 점A3(XA3, YA3), 점A4(XA4, YA4)에 근거하여, 점A1로부터 점A2까지의 거리(LXA2A1, LYA2A1), 점A1로부터 점A3까지의 거리(LXA3A1, LYA3A1), 점A1로부터 점A4까지의 거리(LXA4A1, LYA4A1)를 아래의 식 7에 나타낸 식에 근거하여 산출한다.

다음으로, 스텝 822(S822)로부터 스텝 832(S832)에 나타내어지는 2점 입력을 행하기 위한 표시를 행하는 루프로 이행한다. 또한, 스텝 922(S922)로부터 스텝 930(S930)은 이것에 대응하는 제어부(30)에서의 루프이다.

스텝 822(S822)로부터 스텝 832(S832)의 루프에서는, 먼저, 스텝 824(S824)에서, 점A1과 점A2의 2점을 표시장치(40)의 표시화면에 표시한다.

다음으로, 스텝 826(S826)에서, 점A1 및 점A2의 2점을 동시에 압하함으로써, 2점 입력이 되고 2점 입력이 온 상태가 된다. 이 정보는 퍼스널컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 924(S924)에서 평균치산출의 서브루틴이 동작한다. 또한, 스텝 924(S924)의 평균치산출의 서브루틴에 대해서는 후술한다.

다음으로, 스텝 828(S828)에서, 점A1 및 점A2의 2점 압하가 해제, 즉, 점A1 및 점A2가 압하되지 않는 상태로 되고, 2점 입력이 OFF상태인 것이 검출된다. 이 정보는 퍼스널컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 이 정보에 근거하여, 제어부(30)에서는, 스텝 926(S926)에 나타낸 바와 같이, 점A1 및 점A2의 2점 입력이 완료하고, 이 상태에서의 전압강하치가 측정된다.

다음으로, 스텝 830(S830)에서, 전압강하치의 보존명령이 퍼스널컴퓨터(60)에서 제어부(30)로 송신된다. 제어부(30)에서는, 스텝 928(S928)에 나타낸 바와 같이, 점A1 및 점A2의 2점 압하한 경우의 전압강하치가 보존된다.

스텝 822(S822)에서 스텝 832(S832)의 루프에서는 동일한 동작을 점A1 및 점A2의 2점을 포함하여, 점A1 및 점A3의 2점, 점A1 및 점A4의 2점에 대하여 행하여 합계 3회 실시한다. 구체적으로는, 스텝 824(S824)에 있어서, 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 순차 표시하고, 소정의 2점의 위치를 압하함으로써 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 압하한 경우의 전압강하치를 검출하여 보존한다. 즉, 이들의 점에 대하여, 스텝 822(S822)에서 스텝 832(S832), 스텝 922(S922)에서 스텝 930(S930)을 순차적으로 실시한다.

다음으로, 스텝 932(S932)에서 근사식이 산출된다. 구체적으로는, 식 7에 나타낸 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 점A1로부터 점A2까지의 거리, 점A1로부터 점A3까지의 거리, 점A1로부터 점A4까지의 거리와, 스텝 822(S822)에서 스텝 832(S832)의 루프 및 스텝 922(S922)에서 스텝 930(S930)의 루프에서 검출된 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4를 압하한 경우의 전압강하치에 근거하여, 식 1에 나타낸 경사진 X축 방향 근사식의 α₂, β₂, γ₂를 구할 수 있고, 또한, 경사진 Y축 방향 근사식의 α₄, β₄, γ₄를 구할 수 있다. 따라서, 식 1에 나타낸 식에 근거하여 근사식을 산출할 수 있다. 구체적으로는, 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4의 3개의 상이한 접촉점의 조합에 있어서, 각각 X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 위치좌표와 전압강하치를 얻을 수 있으므로, X축 방향 및 Y축 방향에 있어서의 각각 3개의 미지수인 α₂, β₂, γ₂ 및 α₄, β₄, γ₄를 산출할 수 있다. 또한, 압하되는 점은 경사방향이 아닌 X축 방향 및 Y축 방향을 따라 배열된 압하되는 점을 압하함으로써, 마찬가지로, 식 1에 나타낸 평행방향 근사식의 α₁, β₁, γ₁을 구할 수 있고, 또한, 수직방향 근사식의 α₃, β₃, γ₃를 구할 수 있다.

다음으로, 스텝 934(S934)에서 근사식이 보존된다. 보존된 근사식은 본실시형태에 따른 터치패널에 있어서 접촉점이 2점의 경우의 위치검출에 사용된다.

다음으로, 도 63에 근거하여 스텝 924(S924)에서의 평균치산출의 서브루틴에 대하여 설명한다.

먼저, 스텝 942(S942)에서 1점 압하인지 2점 압하인지가 판정된다.

다음으로, 스텝 944(S944)에서, 소정의 시간이 경과하여 타임아웃으로 되어 있는지 아닌지가 판단된다. 구체적으로는, 스텝 942(S942)에서 스텝 946(S946)은 루프가 되고, 이 사이에서 소정 시간이 경과해 버리면 타임아웃이라고 판단된다. 따라서, 타임아웃으로 판단된 경우에는 종료한다. 한편, 타임아웃이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 946(S946)으로 이행한다. 또한, 이러한 소정의 시간은 사전에 정해져 있다.

다음으로, 스텝 946(S946)에서, 2점 입력되어 있는지 아닌지가 판단된다. 2점 입력인 것으로 판단된 경우에는 스텝 948(S948)으로 이행한다. 한편, 2점 입력이 아닌 것으로 판단된 경우에는 스텝 942(S942)로 이행한다.

다음으로, 스텝 948(S948)에서, 측정횟수가 소정횟수 n미만인지의 여부가 판단된다. 측정횟수가 소정횟수 n미만인 경우에는 스텝 950(S950)으로 이행한다. 한편, 측정횟수가 소정횟수 n미만이 아닌 경우(n회 이상인 경우)에는 스텝 952(S952)로 이행한다.

다음으로, 스텝 950(S950)에서, 합계치에 새롭게 측정된 측정치가 가산된다. 또한, 합계치는 본서브루틴에서 먼저 초기화되어 있으므로 0으로 되어 있다. 따라서, 스텝 950(S950)을 반복함으로써 새로운 측정치가 합계치에 순차적으로 가산된다.

다음으로, 스텝 952(S952)에서, (합계치)의 값을 G1의 값으로 하고, (합계치＋최신의 측정치-가장 오래된 측정치)의 값을 G2의 값으로 한다. 이로써, G1의 값 및 G2의 값은 모두 n회 측정한 값의 합이된다.

다음으로, 스텝 954(S954)에서, G1의 값을 n으로 나누어 G1의 평균치를 산출하고, G2의 값을 n으로 나누어 G2의 평균치를 산출한다. 여기서, G2의 평균치는 G1의 평균치의 하나 뒤의 이동평균이 된다.

다음으로, 스텝 956(S956)에서, G2의 값을 합계치로 하여 치환한다.

다음으로, 스텝 958(S958)에서,｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하인지의 여부가 판단된다. ｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하인 경우에는, 도 62에 나타낸 메인루틴으로 돌아온다. 한편,｜G1의 평균치-G2의 평균치｜가 소정의 임계치 이하가 아닌 경우에는 스텝 942(S942)로 이행한다. 또한, 임계치는 측정된 전압값이 안정적인지 아닌지를 판단하기 위해 설정되는 것이며, 이러한 관점에서 임계치가 정해진다.

이상에 의해, 본서브루틴이 종료한다.

또한, 본실시형태에서는, 2점에서의 접촉은 점A1 및 점A2, 점A1 및 점A3, 점A1 및 점A4의 경우에 대하여 설명했지만, 점A1 및 점A4, 점A2 및 점A4, 점A3 및 점A4이어도 된다. 2점 중 어느 하나가 양단인 점A1 또는 점A4이면 정확한 근사식을 얻을 수 있으므로 바람직하다.

또한, 점A1 및 점A2에서는 오차가 생기기 쉽다는 점에서, 도 64에 나타낸 바와 같이, 점A1과 점A2의 사이를 3등분하여 점A5 및 점A6로 하고, 점A1, 점A5, 점A6, 점A2에 대하여 도 61에서 도 63에 나타낸 초기화의 프로세스를 재차 실시하고, 점A1과 점A2의 사이의 근사식을 별도로 산출하여도 된다. 이 경우, 도 61에서 도 63의 플로우차트에는, 점A5가 점A2에 상당하고, 점A6가 점A3에 상당하고, 점A2가 점A4에 상당하는 것으로 하여 처리된다.

또한, 상기에 있어서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4, 점A5, 점A6중 어느 5점을 사용함으로써, 식 2에 나타낸 3차식에서의 L₂ 및 L₄를 산출할 수 있다. 또한, X축 방향, Y축 방향으로 배열된 5점을 압하함으로써 식 2에 나타나는 L₁ 및 L₃를 산출할 수도 있다.

또한, 2점간 거리의 정밀도를 높이는 방법으로서, 2점 입력의 구간을 세분화하고, 예를 들어, 도 33에 나타낸 2점 입력에 의한 전압강하의 전위차와 거리의 관계를 테이블로서 저장하고, 이들의 입력점을 통과하는 곡선, 예를 들어, 스플라인 곡선을 구한다. 이 스플라인 곡선은 식 1에 나타낸 2차식과 같이 구할 수도 있다. 이로써, 2점 입력조작중에 측정한 전위로부터 2점간 거리를 보다 정밀하게 산출할 수 있다.

나아가, 2점 좌표산출의 근사식의 산출을 간략화하는 방법으로서 다음과 같은 방법이 있다. 구체적으로는, 복수의 사이즈의 터치패널중 대표적인 터치패널을 선정하고, 선정된 1개의 터치패널에서의 복수회의 2점 입력에 의한 전압강하의 전위차를 ROM(Read Only Memory) 등에 테이블로서 저장한다. 그 후, 선정된 터치패널과 별도의 터치패널을 제어부를 포함하는 회로기판에 접속하고, 이러한 조합에 있어서 최대거리의 2점 입력에서 측정되는 전압강하의 전위차의 비를 산출한다. ROM 등에 저장된 최대거리의 2점 입력에 의한 전압강하의 전위차와의 비와, 선정된 터치패널과는 다른 터치패널을 접속하고 측정되는 최대거리의 2점 입력의 전압강하의 전위차의 비를 각각 곱함으로써 계수를 산출하고, 얻어진 계수를 근거로 접속된 터치패널에 맞춘 2점 좌표를 얻는다.

또한, 본실시형태에서는, 스텝 932(S932)에서 식 1에 나타낸 2차 근사식을 산출하는 경우에 대하여 설명했지만, 점A1과 점A2, 점A2와 점A3, 점A3과 점A4를 직선적으로 연결하는 1차 근사식을 산출하는 것이어도 된다. 구체적으로는, 측정치 등에 근거하여 식 8에 나타낸 바와 같은 1차 근사식을 산출하여도 된다. 이 경우, ε₁~ε₆, η₁~η₆의 값은 직선적으로 연결되는 2점에서의 값에 근거하여 산출할 수 있다.

나아가서는, 점A2로부터 점A4까지의 위치에서는 식 1에 나타낸 2차 근사식을 이용하고, 점A1로부터 점A2까지의 위치에서는 식 8에 나타낸 1차 근사식을 이용하여도 된다.

〔제 8 실시형태〕

다음으로, 제 8 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 표시장치(40)을 사용하지 않고 행하는 초기화 방법이다. 구체적으로는, 도 65에 나타낸 바와 같이, 표시장치(40)를 대신하여 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치에 인쇄용으로 형성된 표지(71)가 형성되어 있는 표시지그(70)을 사용하는 방법이다. 이 표시지그(70)상에 터치패널(1)을 설치하고, 제 7 실시형태와 동일한 방법에 의해 초기화를 행하는 것이다. 또한, 도 65(a)는 이 방법의 전체의 구조의 사시도이고, 도 65(b)는 표시지그(70)의 상면도이다.

또한, 도 66에 나타낸 바와 같이, 터치패널(1a)의 주위에 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치를 나타낸 표시(73)가 형성되어 있어도 된다. 이 표시(73)는 도전 페이스트 등에 의해 형성해도 된다. 구체적으로는, 표시(73)는 X축 방향의 대향하는 위치에 형성된 표시(73)를 연결하는 직선과 Y축 방향의 대향하는 위치에 형성된 표시(73)를 연결하는 직선이 교차하는 위치가 점A1, 점A2, 점A3, 점A4의 위치가 되도록 형성되고, 이로써 접촉점이 되는 점이 나타난다. 또한, 도 66(a)는 이 방법의 전체 구조의 사시도이고, 도 66(b)는 터치패널(1a)의 상면도이다.

또한, 도 67에 나타낸 바와 같이, 터치패널(1b)에서, 점A1, 점A2, 점A3, 점A4에 대응하는 위치의 도트스페이서(75)를 제거하여 압하 에이리어(76)을 형성한 것이어도 된다. 또한, 압하 에이리어(76)는 접촉점이 되는 점이다.

〔제 9 실시형태〕

다음으로, 제 9 실시형태에 대하여 설명한다. 본실시형태는 터치패널에서의 접촉점이 2점인 경우에 있어서, 2점의 접촉점의 위치좌표를 보다 정확하게 구할 수 있는 위치검출방법 및 터치패널이다.

상술한 제 1 실시형태 내지 제 8 실시형태에서는, 터치패널에서의 접촉점이 2점인 경우에도 접촉점에서의 좌표위치를 검출할 수 있다. 그러나, 2점에서의 접촉위치의 상대적인 위치관계가 상이하면, 2점의 접촉위치를 정확하게 검출할 수 없는 경우가 있다. 구체적으로는, 도 68에 나타낸 바와 같이, 터치패널에서의 접촉점이 점(68A)와 점(68B)의 2점인 경우와, 접촉점이 점(68A)와 점(68C)의 2점인 경우에는 접촉점인 점(68B)와 점(68C)는 X좌표상의 위치(값)가 같지만, 검출되는 X좌표상의 위치(값)는 약간 상이하다.

이 점을 도 69 및 도 70을 근거로 상세하게 설명한다. 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68B)인 경우에는, 도 69에 나타낸 바와 같이, 제 1 저항막(10)에서의 저항(R11)과 제 2 저항막(12)에서의 저항(R12)의 합성저항값이 점(68A)와 점(68B)간의 저항값이 된다. 한편, 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68C)인 경우에는, 도 70에 나타낸 바와 같이, 제 1 저항막(10)에서의 저항(R21)와 제 2 저항막(12)에서의 저항(R22)의 합성저항값이 점(68A)와 점(68C)간의 저항값이 된다. 여기서, 제 1 저항막(10)에서의 저항(R21)의 저항값은 제 1 저항막(10)에서의 저항(R11)의 저항값보다 크고, 제 1 저항막(10)에서의 저항(R22)의 저항값은 제 1 저항막(10)에서의 저항(R12)의 저항값보다 크다. 따라서, 저항(R21)와 저항(22)의 합성저항의 저항값은 저항(R11)와 저항(12)의 합성저항의 저항값보다 크다.

따라서, 점(68B)와 점(68C)은 접촉점의 X좌표상의 위치(값)가 같음에도 불구하고, 전위검출부(ADX1)에서는 상이한 전압치가 검출된다. 즉, 도 69에 나타낸 바와 같이, 저항(R11)와 저항(R12)의 합성저항값이 작은 경우에는, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전압은 저항(Rx1)에 의해 저항분할이 이루어지므로, 비교적 낮은 값, 예를 들어, 2.0V의 전압치가 검출된다. 또한, 도 70에 나타낸 바와 같이, 저항(R21)와 저항(R22)의 합성저항값이 높은 경우에는, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전압은 저항(Rx1)에 의해 저항분할이 이루어지므로, 비교적 큰 값, 예를 들어, 2.2V의 전압치가 검출된다. 따라서, 점(68B)와 점(68C)는 X좌표상의 위치가 같지만, 전위검출부(ADX1)에는 상이한 전압치가 검출된다. 이와 같이, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전압치가 상이하면, X좌표의 위치도 상이하게 검출된다. 또한, 터치패널에 아무것도 접촉하지 않은 경우에, 전위검출부(ADX1)에서 검출되는 전압값을 2.5V로 한다.

이상으로부터, 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68B)인 경우에는, 전위검출부(ADX1)에 의해 검출된 전압값 2.0V는 전압강하값이 0.5V가 된다. 또한, 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68C)의 2점인 경우에는, 전위검출부(ADX1)에 의해 검출된 전압값 2.2V는 전압강하값이 0.3V가 된다. 따라서, 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68B)인 경우를 기준으로 하면, 2점의 접촉점이 점(68A)와 점(68C)인 경우의 전압강하값은 작다.

이런 점에서, 도 68에 나타낸 압하점 이미지에 있어서의 2점의 접촉점의 다음과 같은 조합, 즉, (5, 5)－(95, 5), (5, 5)－(95, 20), (5, 5)－(95, 35), (5, 5)－(95, 50), (5, 5)－(95, 65), (5, 5)－(95, 80), (5, 5)－(95, 95) 에 대해, 접촉점의 Y좌표의 위치와 전압강하값의 관계를 시뮬레이션하였다. 이 시뮬레이션에 의해 얻어진 결과를 도 71에 나타낸다. 또한, Y좌표의 위치는 2점의 접촉점중 이동하고 있는 어느 하나의 접촉점의 Y좌표의 위치를 나타내는 것으로 한다. 또한, 도 71에서 전압강하값은 접촉점이 되는 2점이 (5, 5)－(95, 5)의 조합인 경우의 전압강하값으로 정규화되어 있다. 도 71에 나타낸 바와 같이, 터치패널에 접촉하고 있는 2점간의 Y좌표상의 거리가 커지면 커질수록 전압강하값이 작아진다. 이 때문에, 터치패널에 접촉하고 있는 2점간의 Y축 방향상의 간격(거리)이 길어지면, 2점간의 X축 방향상의 거리가 실제보다 짧게 검출된다.

본실시형태에 따른 터치패널의 위치검출방법에서는 접촉하고 있는 2점간의 Y축 방향상의 거리를 근거로 접촉하고 있는 2점간의 X축 방향상의 거리를 보정하고, 보정된 X축 방향상의 거리를 근거로 2점의 X좌표의 위치를 산출한다.

도 72는 도 71에 나타낸 관계를 근거로 얻어진 2점중 1점에서의 Y좌표와 보정계수(KRx)의 관계를 나타낸다. 또한, Ly는 2점간의 Y축 방향상의 거리(간격)를 나타내는 것으로 한다. 즉, 접촉점이 되는 2점이 (5, 5)와 (95, 5)인 경우에는, Ly는 95－5=90이 된다. 이 보정계수(KRx)는 거리(Ly)의 2차 다항식으로 근사할 수 있고, 아래의 식 9에 이 근사된 식을 나타낸다.

전위검출부(ADX1)에 의해 검출된 전압값에 근거하여 얻어지는 2점간의 X좌표상의 거리를 Lxa로 하면, 보정계수(KRx)를 이용하여 2점간의 X좌표상의 거리(Lxb)는 식 10에 나타낸 식으로 표현된다.

또한, 상기한 식 10에서는, 터치패널의 종횡비가 상이한 경우에는, X축 방향측 또는 Y축 방향측에 소정의 종횡비에 관한 계수를 곱한다. 또한, 2점간의 Y좌표상의 거리도 상기와 동일한 방법으로 산출할 수 있다.

이와 같이, 본실시형태에서는, 터치패널에서의 접촉점이 2점의 경우에 보다 정확하게 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출할 수 있다.

또한, 본실시형태에 따른 터치패널에서는, 식 9에 나타낸 식이 기억부가 되는 메모리(32)에 기억되고, 제어부(30)에서 상기한 식 10으로 나타낸 식에 근거하여 X좌표 또는 Y좌표상의 2점의 거리를 산출할 수 있다.

다음으로, 본실시형태에 따른 터치패널에서의 위치검출방법을 도 73을근거로 설명한다. 도 73에 나타낸 위치검출방법에서는, 메모리(32)에는 X축 방향상의 보정계수(KRx) 및 Y축 방향상의 보정계수(KRy)가 미리 기억되어 있는 것으로 한다.

먼저, 스텝 1002(S1002)에서, 터치패널에 2점을 접촉시키고 전위검출부에서 검출된 전압에 근거하여 2점의 접촉점의 X좌표 및 Y좌표의 각각의 실측치를 산출한다.

다음으로, 스텝 1004(S1004)에서, 2점에서의 X축 방향상의 거리를 보정한다. 구체적으로는, 스텝 1002(S1002)에서 산출된 2점의 접촉점의 Y좌표에 근거하여 2점간의 Y축 방향상의 거리의 실측치를 산출하고, 2점간의 Y축 방향상의 거리에 근거하여, 도 72에 나타낸 바와 같은 보정계수(KRx)를 2점간의 X축 방향상의 거리의 실측값에 곱하여 보정한다. 즉, 상기한 식 10에 나타낸 식의 Lxb를 산출한다. 이로써, 보정된 2점간의 X축 방향상의 거리를 산출할 수 있다.

다음으로, 스텝 1006(S1006)에서, 2점에서의 Y축 방향상의 거리를 보정한다. 구체적으로는, 스텝 1002(S1002)에서 산출된 2점의 접촉점의 X좌표에 근거하여 2점간의 X축 방향상의 거리의 실측치를 산출하고, 2점간의 X축 방향상의 거리에 근거하여 보정계수(KRy)를 2점간의 Y축 방향상의 거리의 실측값에 곱하여 보정한다. 즉, Y축 방향상의 거리에 대해서도 스텝 1004(S1004)와 동일한 보정을 한다. 이로써, 보정된 2점간의 Y축 방향상의 거리를 산출할 수 있다.

다음으로, 스텝 1008(S1008)에서, 보정된 2점의 X축 방향상의 거리, 보정된 2점의 Y축 방향상의 거리, 2점의 접촉점의 X좌표 및 Y좌표의 각각의 실측치 등을 근거로 2점의 접촉점의 위치좌표를 산출한다.

이로써, 터치패널에 2점이 접촉한 경우에 정확한 위치좌표를 산출할 수 있다. 또한, 상기한 예에서 터치패널의 종횡 길이가 상이한 경우에는, 종횡비에 따른 계수를 곱하여 거리를 산출할 수 있다.

또한, 메모리(32) 등에 미리 보정계수(KRx 및 KRy)가 기억되어 있지 않은 경우에는, 도 74에 나타낸 방법으로 보정계수(KRx 및 KRy)를 산출하고, 메모리(32) 등에 저장하여도 된다.

구체적으로는, 먼저, 단계 1012(S1012)에서, 터치패널에 2점 접촉한 상태에서 어느 하나의 접촉점에 대해 X좌표의 위치를 움직이지 않고, Y축 방향으로 이동시켜, 전위검출부(ADX1)에서 전압값을 검출한다. 이로써, 도 71에 나타낸 바와 같은 Y좌표와 전압강하의 상관관계를 얻는다.

다음으로, 단계 1014(S1014)에서, 단계 1012(S1012)에서 얻어진 상관관계에 근거하여 보정계수(KRx)를 산출한다.

다음으로, 단계 1016(S1016)에서, 터치패널에 2점 접촉한 상태에서 어느 하나의 접촉점에 대해 Y좌표의 위치를 움직이지 않고 X축 방향으로 이동시켜, 전위검출부(ADY1)에서의 전압값을 검출한다. 이로써, X좌표에 대해서도, 도 71과 동일한 X좌표와 전압강하의 상관관계를 얻는다.

다음으로, 단계 1018(S1018)에서, 단계 1016(S1016)에서 얻어진 상관관계에 근거하여 보정계수(KRy)를 산출한다.

다음으로, 단계 1020(S1020)에서, 메모리(32) 등에 보정계수(KRx 및 KRy)를 저장한다.

한편, 상기 이외의 내용은 제 1 실시형태 내지 제 8 실시형태와 같다.

지금까지 본발명을 실시예에 의해 설명하였지만, 본발명은 상술한 실시예로 한정되는 것은 아니며, 본발명의 범위내에서 여러 가지의 변형 및 개량이 가능하다.

10 제 1 저항막
11 XH전극
12 XL전극
20 제 2 저항막
21 YH전극
22 YL전극
30 제어부
31 AD변환부
32 메모리
40 표시장치
ADX1 전위검출부
ADX2 전위검출부
ADY1 전위검출부
ADY2 전위검출부
SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6, SW7 스위치
Rx1 저항
Rx2 저항

Claims (8)

1. 제 1 방향의 양단에 제 1 전극 및 제 2 전극이 형성된 제 1 저항막과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 양단에 제 3 전극 및 제 4 전극이 형성된 제 2 저항막을 구비하는 터치패널의 위치검출방법에 있어서,
   상기 제 1 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 1 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고,
   상기 제 3 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 3 전극에서의 전위를 측정하여 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고,
   상기 제 1 전극의 전위로부터 얻어진 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를, 상기 제 3 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거하여 보정하는 것
   을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
2. 청구항 1에 있어서,
   상기 접촉점의 거리의 보정시, 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리에, 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 간격에 따라 정해지는 보정계수를 곱하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
3. 청구항 1에 있어서,
   상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리를, 상기 제 1 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거하여 보정하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
4. 청구항 3에 있어서,
   상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리의 보정시, 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에, 상기 2점의 접촉점의 상기 제 1 방향상의 간격에 따라 정해지는 보정계수를 곱하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
5. 청구항 2에 있어서,
   상기 보정계수는 상기 2점의 접촉점의 제 1 방향상의 거리 또는 상기제 2 방향상의 거리의 2차 다항식인 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
6. 제 1 방향의 양단에 제 1 전극 및 제 2 전극이 형성된 제 1 저항막과, 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 양단에 제 3 전극 및 제 4 전극이 형성된 제 2 저항막을 구비하는 터치패널의 위치검출방법에 있어서,
   상기 제 3 전극에는 전압을 인가하지 않고, 상기 제 1 전극에 전압을 인가하고, 상기 터치패널의 2점에서 접촉한 때의 상기 제 1 전극에서의 전위를 측정하고,
   상기 제 1 전극에는 전압을 인가하지 않고, 상기 제 3 전극에 전압을 인가하고, 상기 터치패널의 2점에서 접촉한 때의 상기 제 3 전극에서의 전위를 측정하고,
   상기 제 1 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리와, 상기 제 3 전극에서의 전위로부터 얻어진 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거하여, 2점의 접촉점간의 거리를 보정하는 것을 특징으로 하는 터치패널에서의 위치검출방법.
7. 제 1 방향의 양단에 제 1 전극 및 제 2 전극이 형성된 제 1 저항막과,
   상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향으로 양단에 제 3 전극 및 제 4 전극이 형성된 제 2 저항막과,
   제어부와,
   기억부
   를 구비하는 터치패널에 있어서,
   상기 터치패널에서의 접촉점이 2점인 경우에는,
   상기 제어부는
   제 1 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 2 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 1 전극에서의 전위를 측정하고, 상기 제 1 전극에서의 전위에 근거하여 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고,
   상기 제 3 전극에 전원접압을 인가하고 상기 제 4 전극을 접지한 상태에서, 상기 제 3 전극에서의 전위를 측정하고, 상기 제 3 전극에서의 전위에 근거하여 상기 제 1 방향과 직교하는 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 구하고,
   상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리에 근거한 보정계수에 의해, 상기 제 1 방향상의 2점의 접촉점의 거리를 보정하는 것으로서,
   상기 보정계수는 상기 기억부에 기억되어 있는 것을 특징으로 하는 터치패널.
8. 청구항 7에 있어서,
   상기 기억부에는 상기 제 2 방향상의 2점의 접촉점의 거리와 상기 보정계수의 상관관계가 기억되어 있는 것을 특징으로 하는 터치패널.

Images