CN104094208B - 触控面板的位置检测方法及触控面板 - Google Patents

Abstract

一种触控面板的位置检测方法，所述触控面板包括：第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及第二电极；第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及第四电极，其特征在于，在对所述第一电极施加电源电压、并将所述第二电极接地的状态下，测定所述第一电极的电位，求出所述第一方向上两点接触点的距离；于对所述第三电极施加电源电压、并将所述第四电极接地的状态下，测定所述第三电极的电位，求出所述第二方向上两点接触点的距离；并且基于由所述第三电极的电位所得到的所述第二方向上的两点接触点的距离，对由所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离进行校正。

Description

触控面板的位置检测方法及触控面板

技术领域

本发明涉及一种触控面板的位置检测方法及触控面板。

背景技术

在现今普及的电子设备中，有很多是搭载有触控面板的电子设备。触控面板是可通过使手指等直接接触触控面板而对电子设备进行信息输入，作为简易的信息输入单元，今后将可期望进一步的普及。

然而，一般的触控面板大部分是在接触点为一点时进行接触位置的位置检测。因此，当触控面板的接触点为两点以上时，无法检测出正确的接触点的位置信息。因此，需要一种即便在接触点为两点时也可检测出各个接触点的正确的位置信息的方法。

作为对触控面板的接触点为两点时的接触点进行检测的方法，由下述专利文献1至17揭露了各种方法。具体而言，揭露了利用接触第一点及第二点的微小的时间差的方法、在触控面板的导体膜连接电阻的方法、在X侧电极与Y侧电极之间施加电压的方法等。

另外，在下述专利文献12中，揭露了检测在两点按下时的两点间的距离信息的方法。另外，在下述专利文献14中，揭露了将电阻膜分割的结构。另外，在下述专利文献17中，揭露了使用两组电阻膜的结构。另外，在下述专利文献18、19中，揭露了对一点输入中的歪斜进行校正的方法。

<现有技术文献>

<专利文献>

专利文献1：(日本)特许第3402858号公报

专利文献2：(日本)特开2009-289157号公报

专利文献3：(日本)特许第3397519号公报

专利文献4：(日本)特开平8-54976号公报

专利文献5：(日本)特开平3-77119号公报

专利文献6：(日本)特开平10-171581号公报

专利文献7：(日本)特开平11-95929号公报

专利文献8：(日本)特开平1-269120号公报

专利文献9：(日本)特开平8-241161号公报

专利文献10：(日本)特开平8-54977号公报

专利文献11：(日本)特开2007-156875号公报

专利文献12：(日本)特开2009-176114号公报

专利文献13：(日本)特许第3351080号公报

专利文献14：(日本)特开平9-45184号公报

专利文献15：(日本)特开2005-49978号公报

专利文献16：(日本)特开2010-102627号公报

专利文献17：(日本)特开平11-232023号公报

专利文献18：(日本)特开2001-67186号公报

专利文献19：(日本)特许第2554577号公报

专利文献20：(日本)特开2011-76591号公报

专利文献21：(日本)特开2011-123815号公报

专利文献22：(日本)特开2011-134316号公报

发明内容

<本发明所要解决的技术问题>

在上述对触控面板所接触的两点位置信息进行检测的方法中，当同时接触两点时，存在无法正确地检测出两点的位置坐标的问题，以及为了检测出两点的位置信息需要形成分割电阻膜的结构、或设置两组电阻膜的结构等特殊的构造，在此情况下存在成本上升的问题。

因此，在以往使用的四线式触控面板中，需要一种即便是在同时于两点接触时也可简单、低成本地检测出各个坐标位置的位置检测方法。

<用于解决技术问题的方案>

根据本发明之一个方面，提供一种触控面板的位置检测方法，所述触控面板包括：第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及一第二电极；第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及一第四电极，其特征在于，在对所述第一电极施加电源电压、并将所述第二电极接地的状态下，测定所述第一电极的电位，求出所述第一方向上两点接触点的距离；在对所述第三电极施加电源电压、并将所述第四电极接地的状态下，测定所述第三电极的电位，求出所述第二方向上两点接触点的距离；并且基于由所述第三电极的电位所得到的所述第二方向上的两点接触点的距离，对由所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离进行校正。

<发明的效果>

根据本发明的一个实施例，能够提供一种在四线式的触控面板中，即便是在同时于两点接触时也可简单、低成本地、更准确地检测出各个坐标位置的触控面板的位置检测方法及触控面板。

附图说明

图1是用于本发明的触控面板的结构图。

图2是第一实施方式中的位置检测方法的流程图。

图3是在第一实施方式中的触控面板中一点接触的说明图(1)。

图4是在第一实施方式中的触控面板中一点接触的说明图(2)。

图5是在第一实施方式中的触控面板中两点接触的说明图(1)。

图6是在第一实施方式中的触控面板中两点接触的说明图(2)。

图7是用于对利用有限要素法来解析触控面板的按下点的说明图。

图8(a)、8(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(1)。

图9(a)、9(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(2)。

图10(a)、10(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(3)。

图11(a)、11(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(4)。

图12(a)、12(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(5)。

图13(a)、13(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(6)。

图14(a)、14(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(7)。

图15(a)、15(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(8)。

图16是第一实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(1)。

图17(a)、17(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(9)。

图18是第一实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(2)。

图19(a)、19(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(10)。

图20(a)、20(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(11)。

图21(a)、21(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(12)。

图22(a)、22(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(13)。

图23(a)、23(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(14)。

图24(a)、24(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(15)。

图25(a)、25(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(16)。

图26是第一实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(3)。

图27(a)、27(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(17)。

图28是第一实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(4)。

图29(a)、29(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(18)。

图30(a)、30(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(19)。

图31(a)、31(b)是利用有限要素法来解析触控面板的说明图(20)。

图32是两点间的轴方向上的距离与XH电极上的电位的相关图。

图33是两点间的轴方向上的距离与(基准电位－测定电位)的相关图。

图34是第二实施方式中位置检测方法的流程图。

图35是第二实施方式中位置检测方法的子流程(1)。

图36是第二实施方式中位置检测方法的子流程(2)。

图37是第二实施方式中位置检测方法的子流程(3)。

图38是第二实施方式中位置检测方法的子流程(4)。

图39是第二实施方式中位置检测方法的子流程(5)。

图40是第二实施方式中位置检测方法的子流程(6)。

图41是第二实施方式中位置检测方法的子流程(7)。

图42是第二实施方式中位置检测方法的子流程(8)。

图43是第二实施方式中位置检测方法的子流程(9)。

图44是第二实施方式中位置检测方法的子流程(10)。

图45是第二实施方式中位置检测方法的子流程(11)。

图46是第一触控面板中连接的电阻值的比例与电位之差。

图47是第二触控面板中连接的电阻值的比例与电位之差。

图48是第三触控面板中连接的电阻值的比例与电位之差。

图49是第四实施方式中触控面板的结构图。

图50是第四实施方式中触控面板的说明图。

图51是第四实施方式中触控面板的电阻值的设定方法的流程图。

图52是第五实施方式中触控面板的结构图。

图53是第五实施方式中其他触控面板的结构图。

图54是第五实施方式中触控面板的电阻值的设定方法的流程图。

图55是第六实施方式中触控面板的结构图。

图56是第六实施方式中其他的触控面板的结构图(1)。

图57是第六实施方式中其他的触控面板的结构图(2)。

图58是第六实施方式中其他的触控面板的结构图(3)。

图59是第七实施方式中触控面板的说明图。

图60是第七实施方式中触控面板的初始化方法的说明图。

图61是第七实施方式中触控面板的初始化方法的流程图(1)。

图62是第七实施方式中触控面板的初始化方法的流程图(2)。

图63是第七实施方式中触控面板的初始化方法的流程图(3)。

图64是第七实施方式中触控面板的其他的初始化方法的说明图。

图65(a)、65(b)是第八实施方式中触控面板的说明图。

图66(a)、66(b)是第八实施方式中其他的触控面板的说明图(1)。

图67是第八实施方式中其他的触控面板的说明图(2)。

图68是第九实施方式中触控面板的按下点的说明图。

图69是第九实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(1)。

图70是第九实施方式中触控面板的位置检测方法的说明图(2)。

图71是两点之中一点的Y坐标的位置与电压下降的值的相关图。

图72是两点之中一点之Y坐标的位置与校正系数KRx的相关图。

图73是第九实施方式中触控面板的位置检测方法的流程图(1)。

图74是第九实施方式中触控面板的位置检测方法的流程图(2)。

具体实施方式

以下对本发明的实施方式进行说明。需要说明的是，对于相同部件等，付予相同符号并省略其说明。

[第一实施方式]

(触控面板的构造)

根据图1，对第一实施方式的触控面板进行说明。本实施方式的触控面板具有由ITO(Indium Tin Oxide：氧化铟锡)等透明导电膜构成之第一电阻膜10以及第二电阻膜20。需要说明的是，第一电阻膜10及第二电阻膜20可形成在玻璃基板或透明薄膜等的表面上，此时第一电阻膜10与第二电阻膜20相对地配置。在第一电阻膜10上，在X轴方向的两端的一个上沿Y轴方向形成XH电极11、在另一个上沿Y轴方向形成XL电极12。另外，在第二电阻膜20上，在Y轴方向的两端的一个上沿X轴方向形成YH电极21、在另一个上沿X轴方向形成YL电极22。

XH电极11为第一电极，与由连接于电源电位Vcc的电晶体所构成的开关SW1、以及由透过电阻Rx1连接于Vcc的电晶体所构成的开关SW2连接，另外，透过电阻R与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW7连接，再有，与设置在控制部30内的、用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADX1连接。

XL电极12为第二电极，与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW3连接，另外，与用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADX2连接。

YH电极21为第三电极，与由连接于电源电位Vcc的电晶体所构成的开关SW4、以及由透过电阻Ry1连接于Vcc的电晶体所构成的开关SW5连接，另外，与设置在控制部30内的、用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADY1连接。

YL电极22为第四电极，与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW6连接，另外，与用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADY2连接。

需要说明的是，电阻Rx1为第一电阻，具有与电阻膜10中XH电极11与XL电极12之间的电阻值大致相等值的电阻值，电阻Ry1为第二电阻，具有与电阻膜20中YH电极21与YL电极22之间之电阻值大致相等值的电阻值。

开关SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6及SW7与设置在控制部30中的SW1控制端子、SW2控制端子、SW3控制端子、SW4控制端子、SW5控制端子、SW6控制端子及SW7控制端子连接。

需要说明的是，在控制部30内，设有可存储各种信息的存储器32，另外，控制部30连接于显示装置40。

(位置检测方法)

接着，对本实施方式中的触控面板的位置检测方法进行说明。本实施方式的触控面板的位置检测方法是图1所示结构的触控面板中的位置检测方法，参照图2进行说明。需要说明的是，在对本实施方式进行说明时，作为例子，有时将电源电压表示为5V，将接地电位表示为0V。

首先，在步骤S102中，进行第一X方向电位检测。具体而言，在第1图所示的触控面板中，将开关SW2及SW3设为ON，将其余的开关设为OFF状态，在电位检测部ADX1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Rx1对XH电极11施加Vcc的电压、XL电极12接地，因此在第一电阻膜10上沿X轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADX1测定电位，将检测出的电位作为信息存储于存储器32等中。需要说明的是，在电位检测部ADX1中所检测出的电位为在第一电阻膜10上由XH电极11与XL电极12之间所形成的电阻成分与电阻Rx1所分压的值。另外，有时将步骤S102称为第一测定步骤。

接着，在步骤S104中，进行第一Y方向电位检测。具体而言，在图1所示的触控面板中，将开关SW5及SW6设为ON，将其余的开关设为OFF，在电位检测部ADY1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Ry1对YH电极21施加Vcc的电压、YL电极22接地，因此在第二电阻膜20上沿X轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADY1测定电位，将检测出的电位作为信息存储在存储器32等中。需要说明的是，在电位检测部ADY1中所检测出的电位为于第二电阻膜20上由YH电极21与YL电极22之间所形成的电阻成分与电阻Ry1所分压的值。另外，有时将步骤S104称为第二测定步骤。

接着，在步骤S106中，进行接触点是否为一点的判断。具体而言，通过判断在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位以及在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位是否均为Vcc/2，来进行接触点为一点还是两点的判断。

更具体来说，在步骤S102中，当第一电阻膜10与第二电阻膜20的接触点仅为A点一点时，如图3所示，XH电极11与XL电极12之间的第一电阻膜10的电阻值为第一电阻膜10的电阻成分R1与电阻成分R2串联之值，该串联电阻成分R1与电阻成分R2的电阻值与电阻Rx1之值大致相等。因此，在电位检测部ADX1所检测出的电位为Vcc/2。

在步骤S104中，当第一电阻膜10与第二电阻膜20的接触点仅为A点一点时，如图4所示，YH电极21与YL电极22之间的第二电阻膜20的电阻值为第一电阻膜10的电阻成分R3与电阻成分R4串联之值，该串联电阻成分R3与电阻成分R4的电阻值与电阻Ry1之值大致相等。因此，在电位检测部ADY1所检测出的电位为Vcc/2。

另一方面，在步骤S102中，当第一电阻膜10与第二电阻膜20的接触点为A点和B点两点时，如图5所示，A点与B点之间的电阻成分为第一电阻膜10的电阻成分R12与第二电阻膜20的电阻成分R22并联之值。由此，XL电极12与B点之间为第一电阻膜10的电阻成分R11，A点与B点之间为电阻成分R12与电阻成分R22并联之电阻成分，A点与XH电极11之间为第一电阻膜10的电阻成分R13的合成电阻。因此，由于包含电阻成分R12与电阻成分R22并联之电阻成分，因此该合成电阻之值低于电阻Rx1。由此，在电位检测部ADX1中所检测出的电位为较Vcc/2更低的电位。

另外，在步骤S104中，当第一电阻膜10与第二电阻膜20的接触点为A点和B点两点时，如图6所示，A点与B点之间的电阻成分为第一电阻膜10的电阻成分R12与第二电阻膜20的电阻成分R22并联之值。由此，YL电极22与A点之间为第二电阻膜20的电阻成分R21，A点与B点之间为电阻成分R12与电阻成分R22并联之电阻成分，B点与YH电极21之间为第二电阻膜20的电阻成分R23的合成电阻。因此，由于包含电阻成分R12与电阻成分R22并联的电阻成分，因此该合成电阻之值低于电阻Ry1。由此，在电位检测部ADY1中所检测出的电位为较Vcc/2更低的电位。

综上所述，通过判断在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位以及在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位是否均为Vcc/2，从而可进行接触点为一点或两点的判断。

作为通过判断在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位以及在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位是否均为Vcc/2，从而可进行接触点为一点或两点的判断的根据，表示出利用有限要素法对触控面板进行解析的结果。具体而言，如图7所示假定为正方形的形状的触控面板，对沿X方向及Y方向进行100分割之中、按下点为X方向上第5、20、35、50、65、80、95个的位置(以下有时将该些位置称为5的位置、20的位置、35的位置、50的位置、65的位置、80的位置、95的位置)、以及Y方向上第5、20、35、50、65、80、95个的位置(以下有时将该些位置称为5的位置、20的位置、35的位置、50的位置、65的位置、80的位置、95的位置)的情形进行解析。需要说明的是，对于间隔或距离等，有时使用各个位置值之差进行表示。

图8是表示沿当X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其Y坐标均同为5的位置，X轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图8(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图8(b)表示两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

另外，图9是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其Y坐标均同为50的位置，X轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图9(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图9(b)表示两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

另外，图10是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其Y坐标均同为95的位置，X轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图10(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图10(b)表示两点间的间隔、即两点间之距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

如图8至图10所示，当两点的接触位置的Y坐标均为相同位置时，在电位检测部ADX1中所检测出的电位为所施加电压的5V的一半以下的电位，另外，随着两点间距离远离，在电位检测部ADX1中所检测出电位降低。换言之，若相对于施加电压方向的平行方向上作为接触点的两点间的距离远离，则在电位检测部ADX1中所检测出的电位降低。对此，沿Y轴方向施加电压时也同样，在该情形下，在电位检测部ADY1中所检测出的电位降低。

图11是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其X坐标均同为5的位置，Y轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图11(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图11(b)表示两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

图12表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其X坐标均同为50的位置，Y轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图12(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图12(b)表示两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

图13是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，对于触控面板中的两点的接触位置，其X坐标均同为95的位置，Y轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图13(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图13(b)表示两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

如图11至图13所示，当两点的接触位置的X坐标均为相同位置时，在电位检测部ADX1中所检测出的电位为所施加电压的5V的一半的电位，并不依存两点间的距离而保持一定。换言之，即便相对于施加电压的方向的垂直方向上作为接触点的两点间的距离远离，在电位检测部ADX1中所检测出的电位也不发生变化而保持一定。对此，沿Y轴方向施加电压时也同样。此时，在电位检测部ADY1中所检测出的电位不发生变化而保持一定。

图14是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置沿斜方向、即非为X轴方向及Y轴方向的右上方向(一个接触点为较另一个接触点离XL电极12及YH电极21均靠近的位置、或另一个接触点为较一个接触点离XH电极11及YL电极22均靠近的位置的方向)，使两点间的X轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图14(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图14(b)表示X轴方向上的两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

图15是表示当沿X轴方向施加电压时，即透过电阻Rx1对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置沿斜方向、即非为X轴方向及Y轴方向的左上方向(一个接触点为较另一个接触点离XH电极11及YH电极21均靠近的位置、或另一个接触点为较一个接触点离XL电极12及YL电极22均靠近的位置的方向)，使两点间的X轴方向上的间隔变化为30、60、90的图。图15(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图15(b)表示X轴方向上的两点间的间隔、即两点间的距离与在电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。

如图14及图15所示，当两个接触点是非X轴方向及Y轴方向时，在电位检测部ADX1中所检测出的电位为所施加电压的5V的一半以下的电位，随着两点间距离远离，在电位检测部ADX1中所检测出电位降低。换言之，若在相对于施加电压方向的非平行方向非垂直方向上，两点间的距离远离，则在电位检测部ADX1中所检测出的电位降低。对此，沿Y轴方向施加电压时也同样，在该情形下，在电位检测部ADY1中所检测出的电位降低。

具体而言，当触控面板的接触点为零时、或为一点时，预先沿X轴方向产生电场分布并在电位检测部ADX1中对作为初始电位的电位进行测定，同样，沿Y轴方向产生电场分布并在电位检测部ADY1中对作为初始电位的电位进行测定，将其存储在存储器32中。换言之，当触控面板之接触点为零时、或为一点时，使图1所示的触控面板的开关SW2及SW3为ON、使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADX1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Rx1对XH电极11施加Vcc的电压，并将XL电极12接地，因此在第一电阻膜10上沿X轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADX1测定电位，将检测出的电位作为初始电位存储在存储器32等中。同样，使开关SW5及SW6为ON、使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADY1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Ry1对YH电极21施加Vcc的电压，并将YL电极22接地，因此在第二电阻膜20上沿Y轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADY1测定电位，将检测出的电位作为初始电位存储在存储器32等中。

通过将该初始电位的值与在步骤S102及S104中所测定的电位的值进行比较，可判断接触点为一点还是两点、当为两点时连接接触点两点的线段为平行于X轴方向还是平行于Y轴方向(垂直于X轴方向)、还是为既不平行于X轴方向也不平行于Y轴方向的方向。

具体而言，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位与在电位检测部ADX1中所测定的初始电位大致相同、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位与在电位检测部ADY1中所测定的初始电位大致相同时，判断接触点为一点；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位较在电位检测部ADX1中所测定的初始电位更低、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位与在电位检测部ADY1中所测定的初始电位大致相同时，判断连接作为接触点的两点的线段为与X轴方向平行(垂直于Y轴方向)；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位与在电位检测部ADX1中所测定的初始电位大致相同、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位较在电位检测部ADY1中所测定的初始电位更低时，判断连接作为接触点的两点的线段为与Y轴方向平行(垂直于X轴方向)；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位较在电位检测部ADX1中所测定的初始电位更低、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位较在电位检测部ADY1中所测定的初始电位更低时，判断接触点在既非X轴方向也非Y轴方向的斜方向上两点接触。

更具体而言，在由电位检测部ADX1及ADY1所测定的初始电位均为2.5V的情况下，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V时，判断接触点为一点；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V以下、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V时，判断连接作为接触点的两点的线段为与X轴方向平行；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V以下时，判断连接作为接触点的两点的线段为与Y轴方向平行(垂直于X轴方向)；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V以下、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V以下时，判断连接作为接触点的两点的线段为既非X轴方向也非Y轴方向的斜方向。

由此，可进行接触点为一点或两点、当为两点时连接接触点两点的线段为平行于X轴方向或平行于Y轴方向(垂直于X轴方向)亦或为既不平行于X轴方向也不平行于Y轴方向之方向的判断。

另外，作为不测定初始电位而进行接触点是一点还是两点之判断的别的方法，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V时，判断接触点为一点。另外，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V以下时，判断接触点在与Y轴方向平行的方向上两点接触。另外，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V以下、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V时，判断接触点在与X轴方向平行的方向上两点接触。再有，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V以下、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V以下时，判断接触点在既非X轴方向也非Y轴方向的斜方向上两点接触。

根据以上内容在步骤S106中，可判断本实施方式之触控面板的接触点为一点还是两点。需要说明的是，对于为2.5V还是为2.5V以下的判断，以2.5V为基准设定用于决定预定范围的阈值，若所测定的电位在预定范围内，则判断电位为2.5V，若超出预定范围，则判断电位为2.5V以下。需要说明的是，对于该些判断的信息，根据需要存储在控制部30的存储器32等中。

在步骤S106中，当判断触控面板的接触点为一点时，移动至步骤S108，另外，当判断接触点为两点时，移动至步骤S110。

接着，在步骤S108中，检测出触控面板的接触点为一点时的接触点的位置坐标。对于该位置坐标的检测，由于接触点为一点，因此可利用通常的位置检测方法来进行接触点的位置坐标的检测。例如，在对XH电极11施加5V的电位，将XL电极12接地的状态下，利用电位检测部ADY1等检测出X轴方向上的电位，基于该电位检测出接触点的X坐标的位置。另外，在对YH电极21施加5V的电位，将YL电极22接地的状态下，利用电位检测部ADX1等检测出Y轴方向上的电位，基于该电位检测出接触点的Y坐标的位置。

接着，在步骤S110中，进行第二X方向电位检测。具体而言，在图1所示的触控面板中，使开关SW1及SW3为ON，使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADY1及ADY2中测定电位。在此状态下，由于对XH电极11施加Vcc的电压，XL电极12接地，因此在第一电阻膜10上沿X轴方向产生电位分布。在此状态下于电位检测部ADY1及ADY2中测定电位，将检测出的电位作为信息存储在存储器32等中。需要说明的是，有时将步骤S110称为第三测定步骤。

接着，在步骤S112中，进行第二Y方向电位检测。具体而言，在图1所示的触控面板中，使开关SW4及SW6为ON，使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADX1及ADX2中测定电位。在此状态下，由于对YH电极21施加Vcc的电压，YL电极22接地，因此在第二电阻膜20上沿Y轴方向产生电位分布。在此状态下于电位检测部ADX1及ADX2中测定电位，将检测出的电位作为信息存储在存储器32等中。需要说明的是，有时将步骤S112称为第四测定步骤。

接着，在步骤S114中，对连接在触控面板中接触的两点的线段的倾斜进行检测。具体而言，对连接在触控面板中接触的两点的线段是否平行于X轴方向或Y轴方向、以及不平行时是右上倾斜还是左上倾斜进行判断。换言之，如上所述，当触控面板的接触点为零时、或为一点时，预先沿X轴方向产生电场分布并在电位检测部ADX1中对作为初始电位的电位进行测定，同样，沿Y轴方向产生电场分布并在电位检测部ADY1中对作为初始电位的电位进行测定，将其存储在存储器32中。具体而言，当触控面板之接触点为零时、或为一点时，使图1所示的触控面板的开关SW2及SW3为ON、使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADX1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Rx1对XH电极11施加Vcc的电压，并将XL电极12接地，因此在第一电阻膜10上沿X轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADX1测定电位，将检测出的电位作为初始电位存储在存储器32等中。同样，使开关SW5及SW6为ON、使其余的开关为OFF状态，在电位检测部ADY1中测定电位。在此状态下，由于透过电阻Ry1对YH电极21施加Vcc的电压，并将YL电极22接地，因此在第二电阻膜20上沿Y轴方向产生电位分布。在此状态下利用电位检测部ADY1测定电位，将检测出的电位作为初始电位存储在存储器32等中。

通过将初始电位的值与在步骤S102及S104中所测定的电位的值进行比较，可判断连接接触点两点的线段为平行于X轴方向还是平行于Y轴方向(垂直于X轴方向)。

具体而言，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位较在电位检测部ADX1中所测定的初始电位更低、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位与在电位检测部ADY1中所测定的初始电位大致相同时，可判断连接作为接触点的两点的线段为与X轴方向平行(垂直于Y轴方向)；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位与在电位检测部ADX1中所测定的初始电位大致相同、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位较在电位检测部ADY1中所测定的初始电位更低时，可判断连接作为接触点的两点的线段为与Y轴方向平行(垂直于X轴方向)。此时，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位较在电位检测部ADX1中所测定的初始电位更低、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位较在电位检测部ADY1中所测定的初始电位更低时，可判断接触点在既非X轴方向也非Y轴方向的斜方向上两点接触。

更具体而言，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V以下、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V时，判断连接作为接触点的两点的线段为与X轴方向平行；当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V以下时，判断连接作为接触点的两点的线段为与Y轴方向平行(垂直于X轴方向)。此时，当在步骤S102中由电位检测部ADX1所测定的电位为2.5V以下、在步骤S104中由电位检测部ADY1所测定的电位为2.5V以下时，可判断连接作为接触点的两点的线段为既非X轴方向也非Y轴方向的斜方向。

由此，可进行判断连接作为接触点的两点的线段为平行于X轴方向还是平行于Y轴方向。

另外，作为不测定初始电位而进行同样判断的别的方法，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V以下时，换言之，当电位检测部ADY1所检测出电位较电位检测部ADX1所检测出电位更低时，判断接触点在与Y轴方向平行的方向上两点接触。另外，可当在电位检测部ADX1中所检测出电位为2.5V以下、在电位检测部ADY1中所检测出电位为2.5V时，换言之，当电位检测部ADY1所检测出电位较电位检测部ADX1所检测出电位更高时，判断接触点在与X轴方向平行的方向上两点接触。

对于线段不平行的情况，具体而言，在步骤S110中，如图16所示，对于作为触控面板的接触点的两点的A点及B点，当B点较A点更靠近XL电极12及YH电极21时，对于电位检测部ADY1及ADY2中所检测出的电位，如图17所示，在电位检测部ADY2中所得到的电位较在电位检测部ADY1中所得到的电位更高。

图17是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，触控面板中的两点的接触位置在一定间隔的右上的直线上时，使接触位置变化的图。图17(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图17(b)表示两点的中点的X坐标位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

推测其原因是：由于A点靠近在第一电阻膜10上施加5V的电压的XH电极11，因此受其影响，与靠近A点的第二电阻膜20的YL电极22连接的电位检测部ADY2更易检测出较高的电位；由于B点靠近在第一电阻膜10上接地的XL电极12，因此受其影响，与靠近B点的第二电阻膜20的YH电极21连接的电位检测部ADY1更易检测出较低的电位。

在步骤S110中，如图18所示，对于作为触控面板的接触点的两点的A点及B点，当A点较B点更靠近XH电极11及YH电极21时，对于电位检测部ADY1及ADY2中所检测出的电位，如图19所示，在电位检测部ADY2中所得到的电位较在电位检测部ADY1中所得到的电位更低。

图19是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，触控面板中的两点的接触位置在一定间隔的左上的直线上时，使接触位置变化的图。图19(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图19(b)表示两点的中点的X坐标位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

推测其原因是：由于A点靠近在第一电阻膜10上施加5V的电压的XH电极11，因此强烈地受到XH电极11的影响，与靠近A点的第二电阻膜20的YH电极21连接的电位检测部ADY1更易检测出较高的电位；由于B点靠近在第一电阻膜10上接地的XL电极12，因此强烈地受到XL电极12的影响，与靠近B点的第二电阻膜20的YL电极22连接的电位检测部ADY2更易检测出较低的电位。

综上所述，可判断连接接触于触控面板的两点的线段的倾斜为右上还是左上。

另外，还可根据在步骤S110中检测出的电位，判断接触的两点为平行于X轴方向、还是平行于Y轴方向。

具体而言，由于当两点在与作为电压施加方向的X轴方向平行的位置接触时、以及当两点在与作为电压施加方向的X轴方向垂直的位置接触时，电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的值如下所述为相等，因此当电位检测部ADY1及ADY2所检测的电位的值相等时，可判断触控面板中两点的接触位置平行于X轴方向或平行于Y轴方向。

图20是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的Y坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的X轴方向的间隔为90的方式为一定时(两点的接触位置的X坐标为5的位置和95的位置时)，使Y坐标上坐标位置变化的图。图20(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图20(b)表示接触点的Y坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

图21是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的Y坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的X轴方向的间隔为15的方式为一定时(两点的接触位置的X坐标为20的位置和35的位置时)，使Y坐标上坐标位置变化的图。图21(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，第21(b)图表示接触点的Y坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

图22是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的Y坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的X轴方向的间隔为15的方式为一定时(两点的接触位置的X坐标为65的位置和80的位置时)，使Y坐标上坐标位置变化的图。图22(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图22(b)表示接触点的Y坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

如图20至图22所示，当两点的接触位置的Y坐标均为相同位置时，电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位均为相同值，该值为对应A点与B点的中点的电位。例如，图20的情况下，由于中点的X坐标的位置为50的位置，因此电位检测部ADY1及ADY2检测出所施加的电压的5V的电位的一半的2.5的值。另外，图21的情况下，中点的X坐标的位置为相当于27.5的位置，图21的情况下，中点的X坐标的位置为相当于72.5的位置，电位检测部ADY1及ADY2检测出与该些位置相当的电位。

另外，图23是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的X坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的Y轴方向的间隔为90的方式为一定时(两点的接触位置的Y坐标为5的位置和95的位置时)，使X坐标上坐标位置变化的图。图23(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图23(b)表示接触点的X坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

图24是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的X坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的Y轴方向的间隔为15的方式为一定时(两点的接触位置的X坐标为65的位置和80的位置时)，使X坐标上坐标位置变化的图。图24(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图24(b)表示接触点的X坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

图25是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，使触控面板中的两点的接触位置的坐标为相同坐标位置、使两点的接触位置的Y轴方向的间隔为15的方式为一定时(两点的接触位置的X坐标为20的位置和35的位置时)，使X坐标上坐标位置变化的图。图25(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图25(b)表示接触点的X坐标的位置与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位的关系。

如图23至图25所示，当两点的接触位置之Y坐标均为相同位置时，电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位均为相同值，检测出与A点和B点的X坐标对应的电位。换言之，当两点在与Y轴方向平行的方向上接触时，不依存于A点与B点的间隔，电位检测部ADY1及ADY2检测出与A点和B点的X坐标对应的电位。

以上，对沿X轴方向施加电压的情形进行了说明，对于沿Y轴方向施加电压的情形也可利用同样的方法来判断连接在触控面板上接触的两点的线段是否平行于X轴方向及Y轴方向。

如上所述，利用电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位是否为相同值，可根据在步骤S102中由电位检测部ADX1所检测出的电位及在步骤S104中由电位检测部ADY1所检测出的电位，来判断触控面板中的两点接触点是否平行于X轴方向或Y轴方向，并可利用电位检测部ADY1及ADY2所检测出之电位的大小关系，来判断连接所接触两点的线段之倾斜为右上的倾斜还是左上的倾斜。

换言之，当电位检测部ADY1所检测出的电位为较电位检测部ADY2所检测出的电位更低的电位时，判断连接两点的线段的倾斜为右上。另外，当电位检测部ADY1所检测出的电位为较电位检测部ADY2所检测出的电位更高的电位时，判断连接两点的线段的倾斜为左上。另外，当电位检测部ADY1所检测出的电位与电位检测部ADY2所检测出的电位相等时，判断连接两点的线段为平行于X轴方向或Y轴方向。

需要说明的是，对于触控面板的两点接触点是否为平行于X轴方向或Y轴方向的判断，对基于步骤S110及S112中所检测出的电位、即在第三测定步骤及第四测定步骤中所得到的信息进行判断的情形进行了说明，但也可基于步骤S102及S104中所检测出的电位、即在第一测定步骤及第二测定步骤中所得到的信息进行判断。

另外，当进行连接触控面板的两点接触点的线段的倾斜为右上还是左上的判断时，对沿X轴方向施加电压的情形进行了说明，但沿Y轴方向施加电压时也可同样地进行。

具体而言，如图26所示，当对YH电极21施加Vcc(5V)的电压、使YL电极22接地(0V)时，对于作为触控面板的接触点的两点的A点及B点，当A点较B点更靠近XH电极11及YL电极22时，对于电位检测部ADX1及ADX2中所检测出的电位，如图27所示，在电位检测部ADX2中所得到的电位较在电位检测部ADX1中所得到的电位更高。

需要说明的是，图27是表示当沿Y轴方向施加电压时，即对YH电极21施加5V的电压，将YL电极22接地时，触控面板中的两点的接触位置在一定间隔的右上的直线上时，使接触位置变化的图。图27(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图27(b)表示两点的中点的X坐标位置与在电位检测部ADX1及ADX2所检测出的电位的关系。

推测其原因是：由于A点靠近在第二电阻膜20上接地的YL电极22，因此强烈地受到YL电极22的影响，与靠近A点的第一电阻膜10的XH电极11连接的电位检测部ADX1更易检测出较低的电位；由于B点靠近在第二电阻膜20上施加5V的电位的YH电极21，因此受其影响，与靠近B点的第二电阻膜20的XL电极12连接的电位检测部ADX2更易检测出较高的电位。

另外，如图28所示，当对YH电极21施加Vcc(5V)的电压、使YL电极22接地(0V)时，对于作为触控面板的接触点的两点的A点及B点，当A点较B点更靠近XH电极11及YH电极21时，对于电位检测部ADX1及ADX2中所检测出的电位，如图29所示，在电位检测部ADX2中所得到的电位较在电位检测部ADX1中所得到的电位更低。

需要说明的是，图29是表示当沿Y轴方向施加电压时，即对YH电极21施加5V的电压，将YL电极22接地时，触控面板中的两点的接触位置在一定间隔的左上的直线上时，使接触位置变化的图。图29(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图29(b)表示两点的中点的X坐标位置与在电位检测部ADX1及ADX2所检测出的电位的关系。

推测其原因是：由于A点靠近在第二电阻膜20上接地的YH电极21，因此强烈地受到YH电极21影响，与靠近A点的第一电阻膜10的XH电极11连接的电位检测部ADX1更易检测出较高的电位；由于B点靠近在第二电阻膜20上的YL电极22，因此受其影响，与靠近B点的第一电阻膜10的XL电极12连接的电位检测部ADX2更易检测出较低的电位。

如此一来，即便是沿X轴方向施加电压时，也可同样地判断连接触控面板中两点接触时的两点接触点的线段为右上还是左上。

接着，如步骤S116所示，算出触控面板上接触的两点的中点。具体而言，通过基于在步骤S110及S112中测定的电位(在第三测定步骤及第四测定步骤中测定的电位)来计算出各个电位的中点，从而计算出触控面板中接触的两点的坐标的中点。

参照图30及图31对其进行说明。

图30是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，触控面板中的两点的接触位置存在于右上的直线上时，以两点接触点的中点为50的方式使间隔变化时的图。图30(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图30(b)表示X坐标的两点间的距离(或Y坐标的两点间的距离)与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位及其平均的关系。

图31是表示当沿X轴方向施加电压时，即对XH电极11施加5V的电压，将XL电极12接地时，触控面板中的两点的接触位置存在于左上的直线上时，以两点接触点的中点为50的方式使间隔变化时的图。图31(a)表示此状态下的触控面板的两点接触点的坐标位置，图31(b)表示X坐标的两点间的距离(或Y坐标的两点间的距离)与在电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位及其平均的关系。

如图30及图31所示，处于随着两点间之间隔变宽，电位检测部ADY1所检测出的电位与电位检测部ADY2所检测出的电位之差变宽的趋势。然而，电位检测部ADY1所检测出电位与电位检测部ADY2所检测出的电位的平均表示出一定的值，该值表示触控面板的两点接触点的中点的值。

由此，通过计算出电位检测部ADY1所检测出的电位与电位检测部ADY2所检测出的电位的平均值，可得到对应触控面板的两点接触点的中点的X坐标的电位，并可根据所得到的电位得到中点的X坐标。

图30及图31对计算触控面板上接触的两点接触点的中点的X坐标的情形进行了说明，但当沿Y方向施加电压时、即对YH电极21施加5V的电压、将YL电极22接地时，可通过检测出电位检测部ADY1及ADY2所检测出的电位，并可同样地根据检测出的电位，而得到触控面板中接触的两点接触点的中点的Y坐标。

综上所述，可得到触控面板上接触的两点接触点的中点的坐标。

接着，在步骤S118中，计算出触控面板中接触的两点间的距离。具体而言，根据在步骤S102及步骤S104中测定的电位(在第一测定步骤及第二测定步骤中所测定的电位)，来计算出触控面板中接触的两点间的距离。

参照图32对两点间距离的计算进行说明。图32表示出步骤S102的状态、即图5所示的状态下的两点间的X坐标的距离与连接于XH电极11的电位检测部ADX1所检测出的电位的关系。如图32所示，随着两点间的距离变宽，电位检测部ADX1所检测出的电位的值降低。另外，当两点存在于在与施加电压的方向平行的、即平行于X轴方向的方向上时，与两点不存在于平行于X轴方向的方向上、即两点存在于右上方向或左上方向的方向上时，两点间的距离与电位检测部ADX1所检测出的电位的关系不同。

由此，对应在步骤S114中检测出的触控面板中接触的两点的位置关系、即两点是否存在于与X轴方向平行的方向，选择图32所示的两点间的距离与在步骤S102中由电位检测部ADX1所检测出的电位的关系，并可基于所选择的关系而得到X轴方向上的两点间的距离。

具体而言，当触控面板的两点接触点存在于与X轴方向平行的方向的直线上时，可使用图32中线32A所示的曲线，根据在步骤S102中由电位检测部ADX1所检测出的电位而计算出两点的X轴方向的距离。另外，当触控面板的两点接触点未存在于与X轴方向平行的方向的直线上时、即触控面板的两点接触点存在于右上或左上的直线上时，可使用图32中线32B所示的曲线，根据在步骤S102中由电位检测部ADX1所检测出的电位而计算出两点的X轴方向的距离等。

需要说明的是，图33表示出2.5V与由电位检测部ADX1等所检测出电位之差、与X轴方向上两点间的距离的关系。同样，基于该相关关系，可利用2.5V与由电位检测部ADX1所检测出电位的差，来得到X轴方向的距离。

对于Y轴方向上的距离，也可利用与上述相同的方法，基于在步骤S104中由电位检测部ADY1所检测出电位来得到。

需要说明的是，与2.5V之电压的差V、与各个轴方向的距离L1～L4(需要说明的是，对于L1～L4，有时表示为X轴方向的距离Lx、Y轴方向之距离Ly)的关系如数学式1所示。也可使用该数学式1所示的式子计算出各个轴方向的距离L。需要说明的是，下述α₁～α₈、β₁～β₈、γ₁～γ₈、δ₅～δ₈可基于图32或图33预先计算出，也可由实验等而决定。再有，该些值可存储在控制部30等中。

[数学式1]

平行方向近似式：L₁＝α₁V²+β₁V+γ₁

斜X方向近似式：L₂＝α₂V²+β₂V+γ₂

垂直方向近似式：L₃＝α₃V²+β₃V+γ₃

斜Y方向近似式：L₄＝α₄V²+β₄V+γ₄

另外，也可使用如数学式2所示的三次式来计算。

[数学式2]

平行方向近似式：L₁＝δ₅V³+α₅V²+β₅V+γ₅

斜X方向近似式：L₂＝δ₆V³+α₆V²+β₆V+γ₆

垂直方向近似式：L₃＝δ₇V³+α₇V²+β₇V+γ₇

斜Y方向近似式：L₄＝δ₈V³+α₈V²+β₈V+γ₈

接着，在步骤S120中，计算出触控面板中接触的两点的位置坐标。

具体而言，根据触控面板中接触的两点的位置关系、两点的中点的位置、以及两点间的各个轴方向上的距离来计算出触控面板中接触的两点的位置坐标。

具体而言，根据触控面板中接触的两点的中点的位置、两点间的各个轴方向的距离来计算出触控面板中接触的两点的位置坐标。具体而言，当以X轴方向的距离为Lx、以Y轴方向的距离为Ly进行计算、以触控面板中接触的两点的中点位置为(Xc、Yc)进行计算时，两点的坐标由数学式3或数学式4所示的式子表示。需要说明的是，数学式3表示两点存在于右上的倾斜的情形，数学式4表示两点存在于左上的倾斜的情形，数学式5表示平行于X轴方向的情形，数学式6表示平行于Y轴方向的情形。

[数学式3]

(Xc+Lx/2,Yc+Ly/2),(Xc-Lx/2,Yc-Ly/2)

[数学式4]

(Xc+Lx/2,Yc-Ly/2),(Xc-Lx/2,Yc+Ly/2)

[数学式5]

(Xc+Lx/2,Yc),(Xc-Lx/2,Yc)

[数学式6]

(Xc,Yc+Ly/2),(Xc,Yc-Ly/2)

综上所述，本实施方式的触控面板的位置检测方法结束。在本实施方式的触控面板的位置检测方法中，即使是在触控面板的接触点为两点时，也可容易地正确地计算出两点接触点的坐标位置。

[第二实施方式]

接着，对第二实施方式进行说明。本实施方式是触控面板的位置检测方法，具有与第一实施方式一部分不同的步骤。

对于本实施方式的触控面板的位置检测方法，参照图34进行说明。

首先，在步骤S202中，进行触控面板的初始化。对于该初始化的具体内容下面将叙述。

接着，在步骤S204中，检测在触控面板上是否有由手指等的按下而进行的接触，当有由手指等进行的接触时，移动至步骤S206，当没有由手指等进行的接触时，直到有由手指等进行的接触为止，重复步骤S204。具体而言，当在对第一电阻膜10施加电压的状态下，透过第二电阻膜20检测出电位时，或者当在对第二电阻膜20施加电压的状态下，透过第一电阻膜10检测出电位时，作为有由手指等进行的接触，移动至步骤S206。

接着，在步骤S206中，进行识别为一点按下还是两点按下的步骤。

接着，在步骤S208中，进行是否为两点按下的判断。具体而言，根据在步骤S206中一点按下还是两点按下的识别信息，判断是一点按下还是两点按下。当为一点按下时，移动至步骤S210，当为两点按下时，移动至步骤S212。

接着，在步骤S210中，计算位置坐标。具体而言，由于在步骤S208中判断为一点按下，因此利用通常的4线式的触控面板的位置检测，来计算出一点按下的坐标位置。之后，图34的位置检测结束。

在步骤S212中，识别连接在触控面板上所按下两点的线段的方向(倾斜)。对于步骤S212的步骤的详细内容后面将叙述。

接着，在步骤S214中，计算在触控面板上所按下两点间的距离。

接着，在步骤S216中，进行连接所按下两点的线段是否平行于X轴方向的判断。具体而言，根据步骤S212中所得到的信息来判断连接所按下两点的线段是否平行于X轴方向。当判断为连接所按下两点的线段是平行于X轴方向(平行方向)时，移动至步骤S218，当判断为连接所按下两点的线段不平行于X轴方向时，移动至步骤S220。

接着，在步骤S218中，计算所按下的平行方向的两点的坐标位置，之后，图34的位置检测结束。对于该步骤的详细内容后面将叙述。

另一方面，当步骤S216为否时，在步骤S220中，连接进行所按下两点的线段是否垂直于X轴方向的判断。具体而言，根据步骤S212中所得到的信息来判断连接所按下两点的线段是否垂直于X轴方向。当判断为连接所按下两点的线段是垂直于X轴方向(垂直方向)时，移动至步骤S222，当判断为连接所按下两点的线段不垂直于X轴方向时，移动至步骤S224。

接着，在步骤S222中，计算所按下的两点的坐标位置，之后，第34图的位置检测结束。对于该步骤的详细内容后面将叙述。

接着，在步骤S224中，检测在触控面板上所按下两点的中点的坐标。对于该步骤的详细内容后面将叙述。

接着，在步骤S226中，计算连接在触控面板上所按下两点的线段的倾斜方向。对于该步骤之详细内容后面将叙述。

接着，在步骤S228中，计算在触控面板上所按下两点的位置坐标。对于该步骤的详细内容后面将叙述。

如上，本实施方式的触控面板的位置检测结束。

接着，根据图35对步骤S202中初始化的子流程进行说明。

首先，在步骤S302中，在电阻Rx1与、XH电极11与XL电极12之间的第一电阻膜10为串联之状态下对XH电极11施加电源电压。换言之，如图3所示，透过电阻Rx1对XH电极11施加电源电压Vcc，将XL电极12接地。需要说明的是，在此状态下，为触控面板未接触或于一点接触。

接着，在步骤S304中，利用与XH电极11连接的电位检测部ADX1检测电位。

接着，在步骤S306中，将利用电位检测部ADX1所检测出的电位作为X轴的初始电位存储在控制部30的存储器32等中。

接着，在步骤S308中，在电阻Ry1与、YH电极21与YL电极22之间的第二电阻膜20为串联的状态下施加电源电压。换言之，如图4所示，透过电阻Ry1对YH电极21施加电源电压Vcc，将YL电极22接地。需要说明的是，在此状态下，为触控面板未接触或于一点接触。

接着，在步骤S310中，利用与YH电极21连接的电位检测部ADY1检测电位。

接着，在步骤S312中，将利用电位检测部ADY1所检测出的电位作为Y轴的初始电位存储在控制部30的存储器32等中。

需要说明的是，步骤S302至S306与步骤S308至S312之顺序也可相反。

如下，图35的子流程结束。

接着，参照图36对步骤S206中之识别是一点按下还是两点按下的子流程进行说明。

首先，在步骤S322中，在电阻Rx1与、XH电极11与XL电极12之间的第一电阻膜10为串联的状态下对电阻Rx1施加电源电压。换言之，如图3或图5所示，在电阻Rx1上于未与XH电极11连接侧施加电源电压Vcc，将XL电极12接地。需要说明的是，在此状态下，触控面板为一点接触或两点接触。

接着，在步骤S324中，利用与XH电极11连接的电位检测部ADX1检测电位。

接着，在步骤S326中，在电阻Ry1与、YH电极21与YL电极22之间的第二电阻膜20为串联的状态下施加电源电压。换言之，如图4或图6所示，在电阻Ry1上于未与YH电极21连接侧施加电源电压Vcc，将YL电极22接地。需要说明的是，在此状态下，触控面板为一点接触或两点接触。

接着，在步骤S328中，利用与YH电极21连接的电位检测部ADY1检测电位。

接着，在步骤S330中，计算作为初始化中求得的X轴的初始电位与步骤S324中检测出的电位之差的X电位差。

接着，在步骤S332中，计算作为初始化中求得的Y轴的初始电位与步骤S328中检测出的电位之差的Y电位差。

接着，在步骤S334中，判断在步骤S332中所计算出的Y电位差是否小于预定的Y阈值。当Y电位差小于预定的Y阈值时，移动至步骤S336，当Y电位差不是小于(大于等于)预定的Y阈值时，移动至步骤S338。需要说明的是，Y阈值是用于识别触控面板的接触是否为一点还是两点的预先设定的值，是考虑误差等的值。

接着，在步骤S336中，判断在步骤S330中所计算出的X电位差是否小于预定的X阈值。当X电位差小于预定的X阈值时，移动至步骤S340，当X电位差不是小于(大于等于)预定的X阈值时，移动至步骤S338。需要说明的是，X阈值是用于识别触控面板的接触是否为一点还是两点的预先设定的值，是考虑误差等的值。

接着，在步骤S338中，当判断为触控面板中由手指等进行的接触为两点时，因此将表示两点接触的信息存储在控制部30的存储器32等中。

接着，在步骤S340中，当判断为触控面板中由手指等进行的接触为一点时，因此将表示一点接触的信息存储在控制部30的存储器32等中。

如上，图36的子流程结束。

接着，参照图37，对用于识别连接步骤212中触控面板上所按下两点的线段的方向(倾斜)的子流程进行说明。

首先，在步骤S362中，判断在步骤S330中所计算出的X电位差是否小于预定的X阈值。当X电位差小于预定的X阈值时，移动至步骤S366，当X电位差不是小于(大于等于)预定的X阈值时，移动至步骤S364。

接着，在步骤S364中，判断在步骤S332中所计算出的Y电位差是否小于预定的Y阈值。当Y电位差小于预定的Y阈值时，移动至步骤S368，当Y电位差不是小于(大于等于)预定的Y阈值时，移动至步骤370。

当步骤S362为是时，判断为触控面板上由手指等进行的两点接触点存在于平行于与X轴方向垂直的Y轴方向的直线上，并作为两点为垂直方向，在步骤S366中将表示两点为垂直方向的信息存储在控制部30的存储器32等中。

接着，在步骤S368中，判断为触控面板上由手指等进行的两点接触点存在于相对于X轴方向为垂直方向(相对于Y轴方向的平行方向)的直线上，并作为两点为平行方向，将表示两点为平行方向的信息存储在控制部30的存储器32等中。

接着，在步骤S370中，判断为触控面板上由手指等进行的两点接触点存在于相对于X轴方向既非平行也非垂直的斜方向的直线上，并作为两点为斜方向，将表示两点为斜方向的信息存储在控制部30的存储器32等中。

如上，识别连接两点的线段的方向的子流程结束。

接着，参照图38对步骤S214中计算作为接触点的两点的距离的子流程进行说明。

首先，在步骤S382中，计算触控面板上两点接触点的X坐标的距离、即两点接触点的X坐标之差。具体而言，根据图32、图33或数学式1、数学式2所示的式子，计算出与在步骤S330中所计算出的X电位差对应的X坐标的距离Lx。

接着，在步骤S384中，计算触控面板上两点接触点的Y坐标的距离、即两点接触点的Y坐标之差。具体而言，根据图32、图33或数学式1、数学式2所示的式子，计算出与在步骤S332中所计算出的Y电位差对应的Y坐标的距离Ly。

如上，计算两点距离的子流程结束。

接着，参照图39，对步骤S218中计算平行方向的两点接触点的位置坐标的子流程进行说明。

首先，在步骤S402中，利用通常的4线式的位置检测方法进行坐标检测。由此，得到X坐标Xa及Y坐标Ya。在此，由于两点按下点存在于垂直方向、即垂直于X轴方向的方向，因此两个按下点的X坐标为相同。由此，X坐标为X1、X2。另外，Y坐标为两个按下点的中点的坐标。

接着，在步骤S404中，将触控面板的两点按下点之中一个按下点的X坐标X1作为在步骤S402中检测出的坐标Xa。

接着，在步骤S406中，将触控面板的两点按下点之中另一个按下点的X坐标X2作为在步骤S402中检测出的坐标Xa。

接着，在步骤S408中，计算触控面板的两个按下点之中一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S384中得到的Y坐标的两点间的距离Ly，由Y1＝Ya+Ly/2计算出一个按下点的Y坐标。

接着，在步骤S410中，计算触控面板的两个按下点之中另一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y2＝Ya－Ly/2计算出另一个按下点的Y坐标。

如上，本子流程结束。

接着，参照图40，对步骤S222中计算垂直方向的两点接触点的位置坐标的子流程进行说明。

首先，在步骤S422中，利用通常的4线式的位置检测方法进行坐标检测。由此，得到X坐标Xa及Y坐标Ya。此时，由于两个按下点存在于平行方向、即平行于X轴方向的方向，因此Y坐标的位置为相同。由此，Y坐标Ya为两点按下点的Y坐标Y1、Y2。另外，X坐标Xa为两个按下点的中点的坐标。

接着，在步骤S424中，计算触控面板的两个按下点之中一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X1＝Xa－Lx/2计算出一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S426中，计算触控面板的两个按下点之中另一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X2＝Xa+Lx/2计算出另一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S428中，将触控面板的两点按下点之中一个按下点的Y坐标Y1作为在步骤S422中检测出的坐标Ya。

接着，在步骤S430中，将触控面板的两点按下点之中另一个按下点的Y坐标Y2作为在步骤S422中检测出的坐标Ya。

如上，本子流程结束。

接着，根据图41，对步骤S224中计算接触点为两点时的中点坐标的子流程进行说明。

首先，在步骤S442中，对XH电极11与XL电极12之间的第一电阻膜10施加电源电压。换言之，如图16或图18所示，对XH电极11施加电源电压Vcc，将XL电极12接地。

接着，在步骤S444中，由与第二电阻膜20的YH电极21连接的电位检测部ADY1检测电位。

接着，在步骤S446中，由与第二电阻膜20的YL电极22连接的电位检测部ADY2检测电位。

接着，在步骤S448中，对YH电极21与YL电极22之间的第二电阻膜20施加电源电压。换言之，如图26或图28所示，对YH电极21施加电源电压Vcc，将YL电极22接地。

接着，在步骤S450中，由与第一电阻膜10的XH电极11连接的电位检测部ADX1检测电位。

接着，在步骤S452中，由与第一电阻膜10的XL电极12连接的电位检测部ADX2检测电位。

接着，在步骤S454中，计算在步骤S450中由电位检测部ADX1所检测出电位与在步骤S452中由电位检测部ADX2所检测出电位的平均值，并根据电位的平均值之值来计算中点的X坐标Xc。

接着，在步骤S456中，计算在步骤S444中由电位检测部ADY1所检测出电位与在步骤S446中由电位检测部ADY2所检测出电位的平均值，并根据该平均值之值来计算中点的Y坐标Yc。

如上，本子流程接触。

接着，参照图42，对步骤S226中调查连接两点接触点的线段的倾斜的方向的子流程进行说明。

首先，在步骤S462中，对XH电极11与XL电极12之间的第一电阻膜10施加电源电压。换言之，如图16或图18所示，对XH电极施加电源电压Vcc，将XL电极12接地。

接着，在步骤S464中，由与第二电阻膜20的YH电极21连接的电位检测部ADY1检测电位。

接着，在步骤S466中，由与第二电阻膜20的YL电极22连接的电位检测部ADY2检测电位。

接着，在步骤S468中，判断由电位检测部ADY1所检测出的电位与由电位检测部ADY2所检测出的电位的大小关系。具体而言，当由电位检测部ADY1所检测出的电位大于由电位检测部ADY2所检测出的电位时，移动至步骤S470。另外，当由电位检测部ADY2所检测出的电位大于由电位检测部ADY1所检测出的电位时，移动至步骤S472。

接着，在步骤S470中，由于判断为连接两个接触点的线段为右上，因此将连接两个接触点的线段为右上的意思的信息存储在控制部30的存储器32等中。

接着，在步骤S472中，由于判断为连接两个接触点的线段为左上，因此将连接两个接触点的线段为左上的意思的信息存储在控制部30的存储器32等中。

如上，本子流程结束。需要说明的是，由于本子流程之步骤S462至步骤S466与图41所示的子流程重复，因此在图41所示的子流程中，可将由电位检测部ADY1所检测出的电位及由电位检测部ADY2所检测出的电位先存储在控制部30的存储器32等中，并根据该信息来进行步骤S468之后的步骤。

接着，参照图43，对步骤S228中计算两点接触点的位置坐标的子流程进行说明。

首先，在步骤S482中，根据存储在存储器部32中的信息，判断连接两点接触点的线段是否为右上。当判断为倾斜是右上时，移动至步骤S484，当判断为倾斜不是右上时，移动至步骤S492。

接着，在步骤S484中，计算控制面板上两点按下点之中一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S454中得到的两点按下点的中点的X坐标Xc、与在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X1＝Xc－Lx/2计算一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S486中，计算控制面板上两点按下点之中另一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S454中得到的两点按下点的中点的X坐标Xc、与在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx(即，在步骤S330中所计算出的与X电位差对应的X坐标的距离Lx)，由X2＝Xc+Lx/2计算另一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S488中，计算控制面板上两点按下点之中一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S456中得到的两点按下点的中点的Y坐标Yc、与在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y1＝Yc－L2/2计算一个按下点的Y坐标。

接着，在步骤S490中，计算控制面板上两点按下点之中另一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S456中得到的两点按下点的中点的Y坐标Yc、与在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y2＝Yc+L2/2计算一个按下点的Y坐标。

接着，在步骤S492中，计算控制面板上两点按下点之中一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S454中得到的两点按下点的中点的X坐标Xc、与在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X1＝Xc－Lx/2计算一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S494中，计算控制面板上两点按下点之中另一个按下点之X坐标。具体而言，根据在步骤S454中得到的两点按下点的中点的X坐标Xc、与在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X2＝Xc+Lx/2计算另一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S496中，计算控制面板上两点按下点之中一个按下点之Y坐标。具体而言，根据在步骤S456中得到的两点按下点的中点的Y坐标Yc、与在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y1＝Yc+L2/2计算一个按下点的Y坐标。

接着，在步骤S498中，计算控制面板上两点按下点之中另一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S456中得到的两点按下点的中点的Y坐标Yc、与在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y2＝Yc－L2/2计算一个按下点的Y坐标。

如上，本子流程结束。

需要说明的是，也可代替步骤S218及步骤S222中如图39及图40所示之子流程，而进行如图44及图45所示的子流程。

参照图44，对步骤S218中计算平行方向的两点接触点的位置坐标的其他的子流程进行说明。

在步骤S502中，进行图41所示的触控面板的接触点为两点时的中点检测的子流程。由此，得到X坐标Xc及Y坐标Yc。在此，由于认为两个按下点存在于垂直方向、即垂直于X轴方向的方向，因此X坐标为相同值。由此，X坐标Xc为两个按下点的X坐标X1、X2。另外，Y坐标Yc为两个按下点的中点的坐标。

接着，在步骤S504中，将触控面板中两个按下点之中一个按下点的X坐标X1作为在步骤S502中检测出的坐标Xc。

接着，在步骤S506中，将触控面板中两个按下点之中另一个按下点的X坐标X2作为在步骤S502中检测出的坐标Xc。

接着，在步骤S508中，计算出触控面板中两个按下点之中一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S384中得到的Y坐标的距离Ly，由Y1＝Yc+Ly/2计算出一个按下点的Y坐标。

接着，在步骤S510中，计算出触控面板中两个按下点之中另一个按下点的Y坐标。具体而言，根据在步骤S384中得到的Y坐标之距离Ly，由Y2＝Yc－Ly/2计算出另一个按下点的Y坐标。

如上，本子流程结束。

参照图45，对步骤S222中计算垂直方向的两点接触点的位置坐标的其他的子流程进行说明。

首先，在步骤S522中，进行第41图所示的触控面板的接触点为两点时的中点检测的子流程。由此，得到X坐标Xc及Y坐标Yc。在此，由于两个按下点存在于平行方向、即平行于X轴方向的方向，因此Y坐标为相同值。由此，Y坐标Yc为两个按下点的Y坐标Y1、Y2。另外，X坐标Xc为两个按下点的中点的坐标。

接着，在步骤S524中，计算出触控面板中两个按下点之中一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X1＝Xc－Lx/2计算出一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S526中，计算出触控面板中两个按下点之中另一个按下点的X坐标。具体而言，根据在步骤S382中得到的X坐标的距离Lx，由X2＝Xc+Lx/2计算出另一个按下点的X坐标。

接着，在步骤S528中，将触控面板中两个按下点之中一个按下点的Y坐标Y1作为在步骤S422中检测出的坐标Yc。

接着，在步骤S530中，将触控面板中两个按下点之中另一个按下点的Y坐标Y2作为在步骤S422中检测出的坐标Yc。

如上，本子流程结束。

本实施方式的触控面板的位置检测方法，与第一实施方式相同，即使于触控面板上接触的接触点为两点时，也能够正确地利用简单的方法进行位置检测。

需要说明的是，对于上述以外的内容，与第一实施方式相同。

[第三实施方式]

接着，对第三实施方式进行说明。本实施方式是可使用第一实施方式及第二实施方式的位置检测方法的触控面板的一例。

首先，对在图1所示的触控面板中，第一电阻膜10、第二电阻膜20与电阻Rx1、Ry1的关系进行说明。需要说明的是，在触控面板中，一点按下时所检测出的电位与两点按下时所检测出的电位之差越大，越能够容易地进行触控面板的接触点为一点按下还是两点按下的判断。

(第一触控面板)

对于第一触控面板，是在图1所示的触控面板上，以X轴方向的长度为91.0mm、Y轴方向为75.0mm的方式形成第一电阻膜10及第二电阻膜20。第一电阻膜10的XH电极11与XL电极12之间的电阻值为351.4Ω，第二电阻膜20的YH电极21与YL电极22之间的电阻值为210.0Ω。对于在该第一触控面板中，针对电阻Rx1及Ry1的值、一点按下时与两点按下时所检测出的电位进行调查的结果进行说明。

表1示出了在第一触控面板中，电阻Rx1及Ry1的值、以各个电阻膜的电极间的电阻值为基准的电阻Rx1及Ry1的值的比例、以及在一点按下时与两点按下时所检测出的电位及该些电位之差。需要说明的是，Vcc为5V。

[表1]

图46表示出根据表1的结果，以各个电阻膜的电极间的电阻值为基准时的电阻Rx1及Ry1的比例、与一点按下时及两点按下时的电位之差的关系。在X轴方向上，电阻Rx1的电阻值相对于第一电阻膜10的电阻值为75～100％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.6V。在Y轴方向上，电阻Ry1的电阻值相对于第二电阻膜20的电阻值大约为75％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.4V。

一点按下时与两点按下时的电位之差若为0.2V以上，则可容易地进行触控面板的接触点为一点按下还是两点按下的判别。由此，相对于触控面板的电阻膜的电阻值，电阻Rx1及Ry1的值为25％以上、40％以下为佳。再有，为了更确实地进行是一点按下还是两点按下的判别，电位之差为0.3V以上为佳，此时，电阻Rx1及Ry1的值为50％以上、200％以下为更佳。

(第二触控面板)

对于第二触控面板，是在图1所示的触控面板上，以X轴方向的长度为164.0mm、Y轴方向为101.0mm的方式形成第一电阻膜10及第二电阻膜20。第一电阻膜10的XH电极11与XL电极12之间的电阻值为866.0Ω，第二电阻膜20的YH电极21与YL电极22之间的电阻值为247.5Ω。对于在该第二触控面板中，针对电阻Rx1及Ry1的值、一点按下时与两点按下时所检测出的电位进行调查的结果进行说明。

表2示出了在第二触控面板中，电阻Rx1及Ry1的值、以各个电阻膜的电极间的电阻值为基准的电阻Rx1及Ry1的值的比例、以及在一点按下时与两点按下时所检测出的电位及该些电位之差。需要说明的是，Vcc为5V。

[表2]

图47表示出根据表2的结果，以各个电阻膜之电极间的电阻值为基准时的电阻Rx1及Ry1的比例、与一点按下时及两点按下时的电位之差的关系。在X轴方向上，电阻Rx1的电阻值相对于第一电阻膜10的电阻值为大约75％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.7V。在Y轴方向上，电阻Ry1的电阻值相对于第二电阻膜20的电阻值大约为75％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.34V。

一点按下时与两点按下时的电位之差若为0.2V以上，则可容易地进行触控面板的接触点为一点按下还是两点按下的判别。由此，在第二触控面板中，相对于触控面板的电阻膜的电阻值，电阻Rx1及Ry1的值为25％以上、40％以下为佳。再有，为了更确实地进行是一点按下还是两点按下的判别，电位之差为0.3V以上为佳，此时，电阻Rx1及Ry1的值为50％以上、100％以下为更佳。

(第三触控面板)

对于第三触控面板，是在图1所示的触控面板上，以X轴方向的长度为183.0mm、Y轴方向为143.0mm的方式形成第一电阻膜10及第二电阻膜20。第一电阻膜10的XH电极11与XL电极12之间的电阻值为580.0Ω，第二电阻膜20的YH电极21与YL电极22之间的电阻值为360.0Ω。对于在该第三触控面板中，针对电阻Rx1及Ry1的值、一点按下时与两点按下时所检测出的电位进行调查的结果进行说明。

表3及表4示出了在第三触控面板中，电阻Rx1及Ry1的值、以各个电阻膜的电极间的电阻值为基准的电阻Rx1及Ry1的值的比例、以及在一点按下时与两点按下时所检测出的电位及该些电位之差。需要说明的是，Vcc为5V。

[表3]

[表4]

图48表示出根据表3及表4的结果，以各个电阻膜的电极间的电阻值为基准时的电阻Rx1及Ry1的比例、与一点按下时及两点按下时的电位之差的关系。在X轴方向上，电阻Rx1的电阻值相对于第一电阻膜10的电阻值为大约75％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.32V。在Y轴方向上，电阻Ry1的电阻值相对于第二电阻膜20的电阻值大约为75％时，一点按下时与两点按下时所检测出的电位之差最大，其差大约为0.24V。

一点按下时与两点按下时的电位之差若为0.2V以上，则可容易地进行触控面板的接触点为一点按下还是两点按下的判别。由此，在第三触控面板中，相对于触控面板的电阻膜之电阻值，电阻Rx1及Ry1的值为50％以上、200％以下为佳。

如上所述，在本实施方式的触控面板中，相对于第一电阻膜10及第二电阻膜20的电阻值，电阻Rx1及Ry1的电阻值被设定为25％以上、400％以下的值，再有，50％以上、200％以下为佳。另外，更进一步50％以上、100％以下更佳，再进一步大约75％更佳。

[第四实施方式]

接着，对第四实施方式进行说明。参照图49对本实施方式的触控面板进行说明。

本实施方式的触控面板具有多个与第一电阻膜10串联的电阻Rx1、Rx2、Rx3，通过切换第一开关110，可选择电阻Rx1、Rx2、Rx3之中任意一个，而与第一电阻膜10串联。另外，同样地，本实施方式的触控面板具有多个与第二电阻膜20串联的电阻Ry1、Ry2、Ry3，通过切换第二开关120，可选择电阻Ry1、Ry2、Ry3之中任意一个，而与第二电阻膜20串联。需要说明的是，在本实施方式中，将电阻Rx1、Rx2、Rx3称为第一电阻群130，将电阻Ry1、Ry2、Ry3称为第二电阻群140。另外，第一电阻群130及第二电阻群140各自包括的电阻个数可为多个。需要说明的是，第一开关110与控制部30的第一开关控制端子连接，第二开关120与控制部30的第二开关控制端子连接。

在本实施方式的触控面板中，通过切换第一开关110，可从电阻Rx1、Rx2、Rx3中选择最适于第一电阻膜10的电阻。具体而言，从电阻Rx1、Rx2、Rx3中选择与第一电阻膜10的XH电极11与XL电极12之间的电阻值的75％的值最接近的值。

图50表示电阻Rx1、Rx2、Rx3、第一开关110、第一电阻膜10、电位检测部ADX1。如图50所示，当以第一电阻膜10的XH电极11与XL电极12之间的电阻值为RSx时，通过切换第一开关110，与电阻Rx1、Rx2、Rx3的任意一个连接，并选择与大约0.57V最接近的电阻，该大约0.57V是由电位检测部ADX1所得到的值为由(RSx/(RSx+0.75RSx))×Vcc而得到的值，透过切换第一开关110，将该电阻与第一电阻膜10连接。

同样，通过切换第二开关120，可从电阻Ry1、Ry2、Ry3中选择最适于第一电阻膜20的电阻。具体而言，从电阻Ry1、Ry2、Ry3中选择与第二电阻膜20的YH电极21与YL电极22之间的电阻值的75％的值最接近的值。

在本实施方式中，由于通过切换第一开关110，可从电阻Rx1、Rx2、Rx3中选择最适合的电阻值的电阻，并且通过切换第二开关120，可从电阻Ry1、Ry2、Ry3中选择最适合的电阻值的电阻，因此即使是在对于触控面板的第一电阻膜10及第二电阻膜20由于制造误差等而产生不均时，也可选择最适合的电阻。另外，即使对于形状不同的各种触控面板，也可选择最适合的电阻。

(电阻的选择方法)

接着，参照图51，对在本实施方式的触控面板中，与第一电阻膜10及第二电阻膜20连接之电阻的选择方法进行说明。需要说明的是，以下控制之一部分或全部基于控制部30之控制而进行。

首先，在步骤S602中，切换第一开关110，例如将电阻Rx1与第一电阻膜10串联。

接着，在步骤S604中，在施加电源电压Vcc的状态下，由电位检测部ADX1测定电位。

接着，在步骤S606中，对于与第一电阻膜10连接的X轴方向的电阻Rx1、Rx2、Rx3全部电阻，判断在切换第一开关110的状态下是否进行了电位检测部ADX1的电位的测定。当对于全部的电阻进行了电位检测部ADX1的电位的测定时，移动至步骤S608。当对于全部的电阻未进行电位检测部ADX1的电位之测定时，移动至步骤S602。此时，在步骤S602中，通过切换第一开关110，进行将第一电阻膜10与下一个电阻Rx2或Rx3的连接。

接着，在步骤S608中，从X轴方向的电阻Rx1、Rx2、Rx3之中，选择与由电位检测部ADX1所检测的电位为0.57Vcc最接近的电阻，利用第一开关110而与第一电阻膜10串联。

首先，在步骤S610中，切换第二开关120，例如将电阻Ry1与第二电阻膜20串联。

接着，在步骤S612中，在施加电源电压Vcc的状态下，由电位检测部ADY1测定电位。

接着，在步骤S614中，对于与第一电阻膜20连接的Y轴方向的电阻Ry1、Ry2、Ry3全部电阻，判断在切换第二开关120的状态下是否进行了电位检测部ADY1的电位的测定。当对于全部的电阻进行了电位检测部ADY1的电位的测定时，移动至步骤S616。当对于全部的电阻未进行电位检测部ADY1的电位的测定时，移动至步骤S610。此时，在步骤S610中，通过切换第二开关120，进行将第二电阻膜20与下一个电阻Ry2或Ry3的连接。

接着，在步骤S616中，从Y轴方向的电阻Ry1、Ry2、Ry3之中，选择与由电位检测部ADY1所检测的电位为0.57Vcc最接近的电阻，利用第二开关120而与第二电阻膜20串联。

[第五实施方式]

接着，对第五实施方式进行说明。参照图52对本实施方式的触控面板进行说明。

对于本实施方式的触控面板，与第一电阻膜10串联的电阻Rcx1及与第二电阻膜20串联的Rcy1由可变电阻形成。

对于电阻Rcx1及电阻Rcy1的电阻值，以使其为最接近于第一电阻膜10的XH电阻11与XL电阻12之间的电阻值的75％值的值的方式调节电阻Rcx1的值，同样，以使其为最接近于第二电阻膜20的YH电阻21与YL电阻22之间的电阻值的75％值的值的方式调节电阻Rcy1的值。

具体而言，以使由电位检测部ADX1所检测出的电位的值为最接近大约0.57Vcc的方式，调节电阻Rcx1的值，同样，以使由电位检测部ADY1所检测出的电位的值为最接近大约0.57Vcc的方式，调节电阻Rcx1的值。

在本实施方式中，即使是在对于触控面板的第一电阻膜10及第二电阻膜20由于制造误差等而产生不均时，也可调节为最适合的电阻。另外，即使对于形状不同的各种触控面板，也可调节为最适合的电阻。

另外，图53所示的是在本实施方式的触控面板中，可在控制部230中透过Rcx1设定端子及Rcy1设定端子来设定电阻Rcx1及电阻Rcy1的电阻值。

(电阻值的设定方法)

接着，参照图54，对在本实施方式的触控面板中，与第一电阻膜10及第二电阻膜20连接的电阻Rcx1及Rxy1的电阻值的设定方法进行说明。需要说明的是，以下控制的一部分或全部是基于控制部30的控制进行。

首先，在步骤S702中，在施加电源电压Vcc的状态下，由电位检测部ADX1测定电位。

接着，在步骤S704中，判断由电位检测部ADX1所测定的电位是否为与0.57Vcc最接近的值。例如，判断由电位检测部ADX1所测定的电位是否为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下(当相对于第一电阻膜10的电阻值，设定电阻Rcx1的电阻值为25％以上、400％以下时)。当由电位检测部ADX1所测定的电位为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下时，移动至步骤S712。另外，当由电位检测部ADX1所测定的电位不为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下时，移动至步骤S706。

需要说明的是，在步骤S704中，当相对于第一电阻膜10的电阻值，设定电阻Rcx1的电阻值为50％以上、200％以下时，可根据由电位检测部ADX1所测定的电位是否为0.33Vcc以上、0.67Vcc以下来进行判断。另外，当设定为50％以上、100％以下时，可根据由电位检测部ADX1所测定的电位是否为0.5Vcc以上、0.67Vcc以下来进行判断。

接着，在步骤S706中，判断由电位检测部ADX1所测定的电位是否高于或低于预定的电位的范围(例如，0.2Vcc～0.8Vcc)。当高于预定的电位的范围(例如，0.8Vcc)时，移动至步骤S708，当低于预定的电位的范围(例如，0.2Vcc)时，移动至步骤S710。

接着，在步骤S708，将电阻Rcx1的电阻值调高。之后，移动至步骤S702。

接着，在步骤S710，将电阻Rcx1的电阻值调低。之后，移动至步骤S702。

首先，在步骤S712中，在施加电源电压Vcc的状态下，由电位检测部ADY1测定电位。

接着，在步骤S714中，判断由电位检测部ADY1所测定的电位是否为与0.57Vcc最接近的值。例如，判断由电位检测部ADY1所测定的电位是否为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下(当相对于第二电阻膜20的电阻值，设定电阻Rcy1的电阻值为25％以上、400％以下时)。当由电位检测部ADY1所测定的电位为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下时结束图54的电阻值的设定处理。另外，当由电位检测部ADY1所测定的电位不为0.2Vcc以上、0.8Vcc以下时，移动至步骤S716。

需要说明的是，在步骤S714中，当相对于第二电阻膜20的电阻值，设定电阻Rcy1的电阻值为50％以上、200％以下时，可根据由电位检测部ADY1所测定的电位是否为0.33Vcc以上、0.67Vcc以下来进行判断。另外，当设定为50％以上、100％以下时，可根据由电位检测部ADY1所测定的电位是否为0.5Vcc以上、0.67Vcc以下来进行判断。

接着，在步骤S716中，判断由电位检测部ADY1所测定的电位是否高于或低于预定的电位的范围(例如，0.2Vcc～0.8Vcc)。当高于预定的电位的范围(例如，0.8Vcc)时，移动至步骤S718，当低于预定的电位的范围(例如，0.2Vcc)时，移动至步骤S720。

接着，在步骤S718，将电阻Rcy1的电阻值调高。之后，移动至步骤S712。

接着，在步骤S720，将电阻Rcy1的电阻值调低。之后，移动至步骤S712。

如上所述，在本实施方式的触控面板中，可将电阻Rcx1及Rcy1的电阻值设定为预定的值。

需要说明的是，在第三实施方式至第五实施方式中，对电阻Rx1、Rx2、Rx3或Rcx1为一端连接XH电极11、另一端连接电源电压，电阻Ry1、Ry2、Ry3或Rcy1为一端连接YH电极21、另一端连接电源电压者进行了说明，但也可代替其，电阻Rx1、Rx2、Rx3或Rcx1可为一端连接XL电极12、另一端接地，另外，电阻Ry1、Ry2、Ry3或Rcy1可为一端连接YL电极22、另一端接地。

[第六实施方式]

接着，对第六实施方式进行说明。本实施方式的触控面板是，在第一实施方式、第四实施方式、第五实施方式的触控面板连接的电阻Rx1、电阻Ry1等连接于接地侧的构造。

首先，图55所示构造的触控面板是对应图1，是在第一实施方式的触控面板中，电阻Rx1及电阻Ry1连接接地侧的构造。具体而言，具有由ITO等透明导电膜构成的第一电阻膜10及第二电阻膜20。在第一电阻膜10上，在X轴方向的两端之一端沿Y轴方向形成有XH电极11，在另一端沿Y轴方向形成有XL电极12。另外，在第二电阻膜20上，在Y轴方向的两端之一端沿X轴方向形成有YH电极21，在另一端沿X轴方向形成有YL电极22。

XH电极11为第一电极，与由连接于电源电位Vcc的电晶体所构成的开关SW1、另外，透过电阻R与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW7连接。再有，与设置在控制部30内的、用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADX1连接。

XL电极12为第二电极，与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW3连接，另外，透过电阻Rx1与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW2连接，再有，与用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADX2连接。

YH电极21为第三电极，与由连接于电源电位Vcc的电晶体所构成的开关SW4，另外，与设置在控制部30内的、用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADY1连接。

YL电极22为第四电极，与由连接于接地电位的电晶体所构成的开关SW6连接，另外，透过电阻Ry1与由连接于接地电位所构成的开关SW5连接，再有，与用于在AD转换器31中检测电位的电位检测部ADY2连接。

需要说明的是，电阻Rx1为第一电阻，具有与电阻膜10中XH电极11与XL电极12之间的电阻值大致相等值的电阻值。电阻Ry1为第二电阻，具有与电阻膜20中YH电极21与YL电极22之间的电阻值大致相等值的电阻值。

开关SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6及SW7与设置在控制部30中的SW1控制端子、SW2控制端子、SW3控制端子、SW4控制端子、SW5控制端子、SW6控制端子及SW7控制端子连接。

需要说明的是，第一实施方式的触控面板是在图8至图10、图14、图15、图32中，随着两点间距离变宽而由AD转换部31所检测出的电位下降，但本实施方式的图55所示构造的触控面板是随着两点间距离变宽而电位上升。

图56所示构造的触控面板对应于图49，在第四实施方式的触控面板中，为电阻Rx1、Rx2、Rx3、Ry1、Ry2、Ry3连接于接地侧的构造。具体而言，具有与第一电阻膜10的XL电极12侧串联的电阻Rx1、Rx2、Rx3，通过切换第一开关110，可选择电阻Rx1、Rx2、Rx3之中任意一个，而串联于第一电阻膜10。另外，同样，具有与第二电阻膜20的YL电极22侧串联的电阻Ry1、Ry2、Ry3，通过切换第二开关120，可选择电阻Ry1、Ry2、Ry3之中任意一个，而串联于第二电阻膜20。需要说明的是，第一开关110及第二开关120与接地电位连接。

图57所示构造的触控面板对应于图52，在第五实施方式的触控面板中，电阻Rcx1、Rcy1为连接接地侧的构造。具体而言，由可变电阻形成的电阻Rcx1串联于第一电阻膜10的XL电极12侧，同样，由可变电阻形成的电阻Rcy1串联于第二电阻膜20的YL电极22侧。需要说明的是，电阻Rcx1透过由电晶体构成的开关SW2与接地电位连接，电阻Rcy1透过由电晶体构成的开关SW5与接地电位连接。

图58所示构造的触控面板对应于图53，在第五实施方式的触控面板中，电阻Rcx1、Rcy1为连接接地侧的构造。具体而言，电阻Rcx1串联于第一电阻膜10的XL电极12侧，同样，电阻Rcy1串联于第二电阻膜20的YL电极22侧。需要说明的是，电阻Rcx1透过由电晶体构成的开关SW2与接地电位连接，电阻Rcy1透过由电晶体构成的开关SW5与接地电位连接。可在控制部230中透过Rcx1设定端子及Rxy1设定端子设定电阻Rcx1及电阻Rcy1的电阻值。

[第七实施方式]

接着，对第七实施方式进行说明。本实施方式是触控面板等的初始化方法。具体而言，是用于当触控面板上接触点为两点时更正确地进行位置检测的初始化方法。

在本实施方式的初始化方法中，如图59所示，将第一实施方式的触控面板1配置于与个人电脑(PC)60连接的显示装置40上的预定位置上。需要说明的是，显示装置40也可不透过个人电脑60而与触控面板1的控制部30直接连接。

在本实施方式中，如图60所示，在设置有触控面板1的显示装置40的显示画面中，点A1、点A2、点A3、点A4配合按下时间而显示，透过按下所显示的点，可进行触控面板1的初始化。点A1及点A4位于显示装置40的显示画面的对角，是较显示装置40的显示画面于X轴方向上Xedg的内侧、于Y轴方向上Yedg内侧的位置。点A2及点A3位于将点A1及点A4之间沿X轴方向三等分、沿Y轴方向三等分的坐标上。因此，点A1、点A2、点A3、点A4位于同一直线上。需要说明的是，点A1、点A2、点A3、点A4若为显示装置40的显示画面的四点，则也可为上述三等分位置以外的位置。

(初始化方法)

接着，参照图61及图62，对本实施方式的初始化方法进行说明。需要说明的是，在图61及图62中，左侧的流程图表示在个人电脑60中进行的处理，右侧的流程图表示在触控面板1的控制部30中进行的处理。以下，在本实施方式的说明中，将两个流程图关连地说明。

首先，将个人电脑60及触控面板1的电源设为开。

接着，在步骤S802中，由个人电脑60向触控面板1发送校正开始指令。该校正开始指令是意味着本实施方式的触控面板的初始化开始的指令。由此，在触控面板1的控制部30中，如步骤S902所示，接收由个人电脑60发送的校正开始指令，移动至步骤S904，并且向个人电脑60发送ACK(Acknowledgement)信号。之后，在步骤S904中，在控制部30中，触控面板1被设定为用于开始初始化的、与通常的触控面板输入动作不同的校正模式。

接着，在步骤S804中，个人电脑60接收由控制部30发送的ACK信号，移动至进行用于进行从步骤S806到步骤S816所示的之一点输入的显示的循环。需要说明的是，从步骤S906到步骤S914是对应于从步骤S806到步骤S816的控制部30中的循环。

在步骤S806至步骤S816的循环中，首先，在步骤S808中，将点A1显示于显示装置40的显示画面。

接着，在步骤S810中，通过按下点A1，进行一点输入，一点输入为开状态。该信息由个人电脑60被发送至控制部30。基于该信息，在控制部30中，于步骤S908，测定点A1的X轴方向及Y轴方向上的电位。

接着，在步骤S812中，点A1地按下变为解除、即未按下点A1的状态，检测出输入为OFF状态。该信息由个人电脑60被发送至控制部30。基于该信息，在控制部30中，于步骤S910所示，点A1的一点输入完成，计算坐标位置。

接着，在步骤S814中，点A1的坐标的存储命令由个人电脑60发送至控制部30。在控制部30中，如步骤S912所示，存储点A1的坐标位置。

在步骤S806至步骤S816的循环中，对于同样的动作，进行包括点A1以外、点A2、点A3、点A4共计四点。具体而言，在步骤S808中，通过依次显示点A1、点A2、点A3、点A4，并按下预定的位置，检测并存储点A1、点A2、点A3、点A4的坐标位置。换言之，对于该些点，依次进行步骤S806至步骤S816、步骤S906至步骤S914。

接着，在步骤S916中，计算并保存各输入点间的X轴方向的距离及Y轴方向的距离。具体而言，根据在步骤S806至步骤S816以及步骤S906至步骤S914中所得到的点A1、点A2、点A3、点A4的坐标位置、即点A1(XA1、YA1)、点A2(XA2、YA2)、点A3(XA3、YA3)、点A4(XA4、YA4)，而基于数学式7所示的式子来计算点A1到点A2的距离(LXA2A1、LYA2A1)、点A1到点A3的距离(LXA3A1、LYA3A1)、点A1到点A4的距离(LXA4A1、LYA4A1)。

[数学式7]

A2(XA2,YA2)-A1(XA1,YA1)＝(LXA2A1,LYA2A1)

A3(XA3,YA3)-A1(XA1,YA1)＝(LXA3A1,LYA3A1)

A4(XA4,YA4)-A1(XA1,YA1)＝(LXA4A1,LYA4A1)

接着，移动至进行用于进行从步骤S822到步骤S832所示的两点输入的显示的循环。需要说明的是，从步骤S922到步骤S930是与其对应的控制部30中的循环。

在步骤S822至步骤S832的循环中，首先，在步骤S824中，将点A1与点A2两点显示于显示装置40的显示画面。

接着，在步骤S826中，通过同时按下点A1及点A2两点，进行两点输入，两点输入为开状态。该信息由个人电脑60被发送至控制部30。基于该信息，在控制部30中，于步骤S924，平均值计算的子流程进行动作。需要说明的是，对于步骤S924中平均值计算的子流程后面将叙述。

接着，在步骤S828中，点A1及点A2的两点按下变为解除、即未按下点A1及点A2的状态，检测出两点输入为OFF状态。该信息由个人电脑60被发送至控制部30。基于该信息，在控制部30中，于步骤S926所示，点A1及点A2两点输入完成，测定该状态下的电压下降值。

接着，在步骤S830中，电压下降值的存储命令由个人电脑60发送至控制部30。在控制部30中，如步骤S928所示，存储点A1及点A2两点按下时的电压下降值。

在步骤822至步骤S832的循环中，对于除了包括点A1及点A2两点以外、点A1及点A3两点、点A1及点A4两点，进行同样的动作共计3回。具体而言，在步骤S824中，通过依次显示点A1及点A2、点A1及点A3、点A1及点A4，并按下预定的两点的位置，检测并存储按下点A1及点A2、点A1及点A3、点A1及点A4时的电压下降值。换言之，对于该些点，依次进行步骤S822至步骤S832、步骤S922至步骤S930。

接着，在步骤S932中，计算近似式。具体而言，基于数学式7所示的X轴方向及Y轴方向上从点A1到点A2的距离、从点A1到点A3的距离、从点A1到点A4的距离、以及按下在步骤S822至步骤S832之循环及步骤S922至步骤S930的循环中所检测出的X轴方向及Y轴方向的点A1及点A2、点A1及点A3、点A1及点A4时的电压下降值，可求出数学式1所示斜方向近似式中α₂、β₂、γ₂，又，可求出斜方向近似式中α₄、β₄、γ₄。由此，可根据数学式1计算出近似式。具体而言，由于在点A1及点A2、点A1及点A3、点A1及点A4三个不同接触点的组合中，可得到各个X轴方向及Y轴方向的位置坐标及电压下降值，因此可计算出作为X轴方向及Y轴方向的各个三个未知数的α₂、β₂、γ₂及α₄、β₄、γ₄。另外，通过按下点不是斜方向，按下沿X轴方向及Y轴方向排列的点，同样可求出数学式A所示的平行方向近似式中的α₁、β₁、γ₁，另外，可求出垂直方向近似式中的α₃、β₃、γ₃。

接着，在步骤S934中，保存近似式。在本实施方式的触控面板中，保存的近似式用于接触点为两点时的位置检测。

接着，参照图63对步骤S924中平均值计算的子流程进行说明。

首先，在步骤S942中，进行是一点按下还是两点按下的判定。

接着，在步骤S944中，判断是否经过预定的时间为超时。具体而言，步骤S942至步骤S946为循环，若于其间经过了预定的时间则判断超时。由此，当判断为超时时，结束平均值计算的子流程。另一方面，当判断为未超时时，移动至步骤S946。需要说明的是，预定时间预先确定。

接着，在步骤S946中，判断是否进行了两点输入。当判断为两点输入时，移动至步骤S948。另一方面，当判断为不是两点输入时，移动至步骤S942。

接着，在步骤S948中，判断测定次数是否小于预定的次数n。当测定次数小于预定的次数n时，移动至步骤S950。另一方面，当测定次数并非小于预定次数n时(n次以上时)，移动至步骤S952。

接着，在步骤S950中，在合计值上加上新测定的测定值。需要说明的是，由于在本子流程中最先进行初始化，因此初始值为0。通过重复步骤S950，新的测定值被依次加到合计值。

接着，在步骤S952中，以(合计值)之值为G1的值、以(合计值+最新之测定值－最老之测定值)之值为G2的值。由此，G1的值及G2的值均为n次测定的值的和。

接着，在步骤S954中，将G1的值除以n计算出G1的平均值，将G2的值除以n计算出G2的平均值。在此，G2的平均值为G1的平均值的一个之后的移动平均。

接着，在步骤S956中，将G2的值置换为合计值。

接着，在步骤S958中，判断︱G1的平均值－G2的平均值︱是否为预定的阈值以下。当︱G1的平均值－G2的平均值︱为预定的阈值以下时，返回图62所示的主流程。另一方面，当︱G1的平均值－G2的平均值︱不为预定的阈值以下时，移动至步骤S942。需要说明的是，阈值是用于判断所测定的电压的值是否稳定而设定的值，由此观点来确定阈值的值。

如上所述，本子流程结束。

需要说明的是，在本实施方式中，两点的接触是对点A1及点A2、点A1及点A3、点A1及点A4的情形进行了说明，但也可为点A1及点A4、点A2及点A4、点A3及点A4。由于如果两点之中任意一方为作为两端的点A1或点A4，则可得到正确的近似式，因此为佳。

另外，对于A1及点A2，由于容易产生误差，因此也可如图64所示，进一步将点A1与点A2之间进行三等分，为点A5及点A6，对于点A1、点A5、点A6、点A2再次进行图61至图63所示的初始化的步骤，而另行计算出点A1与点A2之间的近似式。此时，在图61至图63的流程图中，以点A5相当于点A2、点A6相当于点A3、点A2相当于点A4，进行处理。

需要说明的是，在上述中，通过使用点A1、点A2、点A3、点A4、点A5、点A6之中任意五点，可计算出数学式2所示的三次式中的L2及L4。另外，透过按下沿X轴方向、Y轴方向排列的五点可计算出数学式2所示的L1及L3。

另外，作为提高两点间距离的精确度的方法，对两点输入的区间进行细分化，例如，将图33所示的由两点输入产生的电压下降的电位差与距离的关系作为表格保存，求出通过该些输入点的曲线、例如样条(spline)曲线。该样条曲线可如数学式1所示的二次式求出。由此，可由两点输入操作中测定的电位来更精确的计算出两点间距离。

再有，作为简化两点坐标计算的近似式的计算的方法，有以下方法。具体而言，从多个尺寸的触控面板之中选定代表的触控面板，将所选定的一个触控面板中由多次两点输入所产生的电压下降的电压差作为表格保存于ROM(Read Only Memory)等中。之后，将所选定的触控面板另外的触控面板连接于包含控制部的电路基板，并计算出与该组合中最大距离的两点输入中所测定的电压下降的电位差之比。通过分别乘以保存于ROM等中的由最大距离的两点输入所产生的电压下降的电压差之比、与所选定的触控面板另外的触控面板连接而测定的最大距离的两点输入的电压下降的电位差之比从而计算出系数，并基于所得到的系数来得到符合所连接的触控面板的两点坐标。

另外，在本实施方式中，对于计算步骤S932中数学式1所示的二次近似式的情形进行了说明，但也可计算直线连接点A1与点A2、点A2与点A3、点A3与点A4的一次近似式。具体而言，也可基于测定的值等，计算出数学式8所示的一次近似式。此时，可基于直线连接的两点的值来计算出ε₁～ε₆、η₁～η₆之值。

[数学式8]

Lx＝ε₁V+η₁ (XA1≦Lx≦XA2)

Lx＝ε₂V+η₂ (XA2≦Lx≦XA3)

Lx＝ε₃V+η₃ (XA3≦Lx≦XA4)

Ly＝ε₄V+η₄ (YA1≦Ly≦YA2)

Ly＝ε₅V+η₅ (YA2≦Ly≦YA3)

Ly＝ε₆V+η₆ (YA3≦Ly≦YA4)

进一步，在点A2至点A4的位置上，也可使用数学式1所示的二次近似式，在点A1至点A2的位置上，也可使用数学式8所示的一次近似式。

[第八实施方式]

接着，对第八实施方式进行说明。本实施方式是不使用显示装置49而进行的触控面板的初始化的方法。具体而言，是如图65所示，代替显示装置40，使用在点A1、点A2、点A3、点A4的位置上设有透过印刷而形成的印迹71的显示规尺70的方法。在该显示规尺70上设置触控面板1，利用与第七实施方式相同的方法进行初始化。需要说明的是，图65(a)为该方法全体构造的立体图，图65(b)为显示规尺70的上视图。

另外，如图66所示，也可在触控面板1a的周围，设置表示点A1、点A2、点A3、点A4的位置的印迹73。该印迹73可透过导电涂层等形成。具体而言，以将设于X轴方向的相对位置的印迹73连接的直线与将设于Y轴方向的相对位置的印迹73连接的直线交叉的位置为点A1、点A2、点A3、点A4之位置的方式形成印迹73，并表示出利用由此成为接触点的点。需要说明的是，图66(a)为该方法全体构造的立体图，图66(b)为触控面板1a的上视图。

另外，如图67所示，在触控面板1b中，也可通过间隔出与点A1、点A2、点A3、点A4对应的位置的点空间75，而形成按下区域76。需要说明的是，按下区域76是成为接触点的点。

[第9实施方式]

接着，对第九实施方式进行说明。对于本实施方式，是在触控面板的接触点为两点时，可更正确地求出两点接触点的位置坐标的位置检测方法及触控面板。

对于上述第一实施方式至第八实施方式，当触控面板的接触点为两点时，也可检测出接触点的坐标位置。然而，若两点的接触位置的相对的位置关系不同，则有时无法正确地检测出两点之接触位置。具体而言，如图68所示，触控面板的接触点为点68A和点68B两点时、与接触点为点68A和点68C两点时，尽管对于接触点的点68B与点68C其X坐标的位置(值)相同，但所检测出的X坐标的位置(值)略有不同。

参照图69及图70对此进行详细说明。当两点接触点为68A和点68B时，如图69所示，第一电阻膜10的电阻R11与第二电阻膜20的电阻R12的合成电阻为点68A与点68B之间的电阻值。相对于此，当两点接触点为68A和点68C时，如图70所示，第一电阻膜10的电阻R21与第二电阻膜20的电阻R22的合成电阻为点68A与点68C之间的电阻值。在此，第一电阻膜10的电阻R21的电阻值比第一电阻膜10的电阻R11的电阻值大，第二电阻膜20的电阻R22的电阻值比第二电阻膜20的电阻R12的电阻值大。因此，电阻R21与电阻R22的合成电阻的电阻值比电阻R11与电阻R12的合成电阻的电阻值大。

因此，对于点68B和点68C，尽管接触点的X坐标的位置(值)相同，但在电位检测部ADX1中，检测出不同之电压值。换言之，如图69所示，当电阻R11与电阻R12的合成电阻的值较小时，对于由电位检测部ADX1所检测出的电压，由于被电阻Rx1进行了电阻分割，因此检测出较低的值、例如2.0V的电压值。另外，如图70所示，当电阻R21与电阻R22的合成电阻的值较高时，对于由电位检测部ADX1所检测出的电压，由于被电阻Rx1进行了电阻分割，因此检测出较大的值、例如2.2V的电压值。由此，对于点68B和点68C，尽管X坐标之位置相同，但在电位检测部ADX1中，检测出不同的电压值。如此一来，若在电位检测部ADX1所检测出的电压值不同，则对于X坐标的位置也检测出不同值。需要说明的是，当对触控面板未有任何接触时，由电位检测出ADX1所检测出的电压为2.5V。

如上所述，当两点接触点为点68A和点68B时，对于由电位检测部ADX1所检测出的电压值2.0V，其电压下降的值为0.5V。另外，当两点接触点为点68A和点68C时，对于由电位检测部ADX1所检测出的电压值2.2V，其电压下降的值为0.3V。因此，若以两点接触点为点68A和点68B的情形为基准，则两点接触点为点68A和点68C的情形的电压下降的值较小。

由此，对于图68所示的按下点图像中的两点接触点的以下组合(5、5)－(95、5)、(5、5)－(95、20)、(5、5)－(95、35)、(5、5)－(95、50)、(5、5)－(95、65)、(5、5)－(95、80)、(5、5)－(95、95)，针对接触点的Y坐标的位置与电压下降的值的关系进行了模拟。由该模拟而得到的结果如图71所示。需要说明的是，对于Y坐标的位置，表示出两点接触点之中移动的一个接触点的Y坐标的位置。另外，在图71中，对于电压下降值，用接触点两点为(5、5)－(95、5)的组合时的电压下降值进行正规化。如图71所示，在触控面板上接触的两点间的Y坐标的距离越大，则电压下降值越小。因此，触控面板上接触的两点间的Y方向的间隔(距离)越长，则两点间的X方向的距离被检测出得较实际越短。

在本实施方式的触控面板的位置检测方法中，根据接触的两点间的Y方向之距离，对接触的两点间的X方向的距离进行校正，并根据所校正的X方向的距离来计算出两点的X坐标的位置。

图72表示出图71所示的基于关系所得到的两点之中一点的Y坐标与校正系数KRx的关系。需要说明的是，Ly表示两点间的Y方向的距离(间隔)。换言之，当作为接触点的两点为(5、5)和(95、5)时，Ly为95－5＝90。该校正系数可与距离ly的二次多项式近似，数学式9中表示出该近似的式子。

[数学式9]

KRx＝αLy²+βLy+γ

若设基于由电位检测部ADX1所检测出的电压值而得到的两点间的X坐标的距离为Lxa，则使用校正系数KRx，两点间的X坐标的距离Lxb如数学式所示的式子表示。

[数学式10]

Lxb＝KRx×Lxa

需要说明的是，在数学式10中，当触控面板的长宽比不同时，将X方向侧或Y方向侧乘上有关于预定的长宽比的系数。另外，对于两点间的Y坐标的距离，也可利用与上述相同的方法计算。

如此一来，在本实施方式中，当触控面板的接触点为两点时，可进一步正确地计算出两点接触点的位置坐标。

另外，在本实施方式的触控面板中，将数学式9表示的式子存储在作为存储部的存储器32中，可在控制部30中根据数学式10所示的式子计算出X坐标或Y坐标的两点的距离。

接着，参照图73，对本实施方式的触控面板的位置检测方法进行说明。在如图73所示的位置检测方法中，预先在存储器32中存储X轴方向的校正系数KRx及Y轴方向的校正系数KRy。

首先，在步骤S1002中，使触控面板两点接触，并根据由电位检测部所检测出的电压来计算出两点接触点的X坐标及Y坐标的各个实际测定值。

接着，在步骤S1004中，进行两点的X方向上的距离的校正。具体而言，根据在步骤S1002中所计算出的两点接触点的Y坐标来计算出两点间的Y方向的距离的实际测定值，根据两点间的Y方向的距离将两点间的X方向的距离的实际测定乘以图72所示的校正系数KRx而进行校正。换言之，计算数学式10所示式子的Lxb。由此，可计算出所校正的两点间的X方向的距离。

接着，在步骤S1006中，进行两点的Y方向上的距离的校正。具体而言，根据在步骤S1002中所计算出的两点接触点的X坐标来计算出两点间的X方向的距离的实际测定值，根据两点间的X方向的距离将两点间的Y方向的距离的实际测定乘以校正系数KRy而进行校正。换言之，对于Y方向的距离，也可进行与步骤S1004同样的校正。由此，可计算出所校正的两点间的Y方向的距离。

接着，在步骤S1008中，根据所校正的两点的X方向的距离、所校正的两点的Y方向的距离、两点接触点的X坐标及Y坐标的各个实际测定值等，来计算两点接触点的位置坐标。

由此，可计算出触控面板上两点接触时的正确的位置坐标。需要说明的是，当上述中触控面板的长宽的长度不同时，可通过乘以基于长宽比的系数而计算出距离。

需要说明的是，当存储器32等中未预先存储校正系数KRx及KRy时，也可利用图74所示的方法，计算出校正系数KRx及KRy，并存储在存储器32等中。

具体而言，首先，在步骤S1012中，在使触控面板两点接触的状态下，对于任意一个接触点，不移动X坐标的位置，而沿Y轴方向移动，由电位检测部ADX1检测电压值。由此，得到图71所示的Y坐标与电压下降的相关关系。

接着，在步骤S1014中，根据在步骤S1012中得到的相关关系而计算校正系数KRx。

接着，在步骤S1016中，在使触控面板两点接触的状态下，对于任意一个接触点，不移动Y坐标之位置，而沿X轴方向移动，由电位检测部ADY1检测电压值。由此，对于X坐标，也可得到图71所示的X坐标与电压下降的相关关系。

接着，在步骤S1018中，根据在步骤S1016中得到的相关关系而计算校正系数KRy。

接着，在步骤S1020中，使存储器32等存储校正系数KRx及KRy。

需要说明的是，对于上述以外之内容，与第一至第八实施方式相同。

以上通过实施例对本发明进行了说明，但本发明并不限定上述实施例，显而易见于本发明之范围内可进行各种变形及改良。

符号说明

10 第一电阻膜

11 XH电极

12 XL电极

20 第二电阻膜

21 YH电极

22 YL电极

30 控制部

31 AD转换部

32 存储器

40 显示装置

ADX1 电位检测部

ADX2 电位检测部

ADY1 电位检测部

ADY2 电位检测部

SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6、SW7 开关

Rx1 电阻

Rx2 电阻

Claims (8)

1.一种触控面板的位置检测方法，所述触控面板包括：第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及第二电极；第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及第四电极，其特征在于，

在对所述第一电极施加电源电压、并将所述第二电极接地的状态下，测定所述第一电极的电位，求出所述第一方向上两点接触点的距离；

在对所述第三电极施加电源电压、并将所述第四电极接地的状态下，测定所述第三电极的电位，求出所述第二方向上两点接触点的距离；并且

根据基于由所述第三电极的电位所得到的所述第二方向上的两点接触点的距离的校正系数，对由所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离进行校正。

2.根据权利要求1所述的触控面板的位置检测方法，其中，在所述接触点的距离的校正时，将所述第一方向上的两点接触点的距离乘以校正系数，所述校正系数根据所述第二方向上的两点接触点的距离而确定。

3.根据权利要求1所述的触控面板的位置检测方法，其中，基于所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离，对所述第二方向上的两点接触点的距离进行校正。

4.根据权利要求3所述的触控面板的位置检测方法，其中，在所述第二方向上的两点接触点的距离的校正时，将所述第二方向上的两点接触点的距离乘以校正系数，所述校正系数根据所述两点接触点的第一方向上的距离而确定。

5.根据权利要求2所述的触控面板的位置检测方法，其中，所述校正系数是所述两点接触点的所述第一方向上的距离或所述第二方向上的距离的二次多项式。

6.一种触控面板的位置检测方法，所述触控面板包括：第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及第二电极；第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及第四电极，其特征在于，

不对所述第三电极施加电压、对所述第一电极施加电压，对所述触控面板在两点接触时的所述第一电极的电位进行测定；

不对所述第一电极施加电压、对所述第三电极施加电压，对所述触控面板在两点接触时的所述第三电极的电位进行测定；并且

根据基于由所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离的校正系数，对所述第二方向上的两点接触点间的距离进行校正，根据基于由所述第三电极的电位所得到的所述第二方向上的两点接触点的距离的校正系数，对所述第一方向上的两点接触点间的距离进行校正。

7.一种触控面板，其包括：

第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及第二电极；

第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及第四电极；

控制部；以及

存储部，其特征在于，

当所述触控面板的接触点为两点时，所述控制部进行以下步骤：

在对所述第一电极施加电源电压、将所述第二电极接地的状态下，测定所述第一电极的电位，基于所述第一电极的电位计算所述第一方向上的两点接触点的距离；

在对所述第三电极施加电源电压、将所述第四电极接地的状态下，测定所述第三电极的电位，基于所述第三电极的电位计算与所述第一方向正交的所述第二方向上的两点接触点的距离；并且

根据基于所述第二方向上的两点接触点的距离的校正系数，对所述第一方向上的两点接触点的距离进行校正，

所述校正系数存储在所述存储部中。

8.根据权利要求7所述的触控面板，其中所述存储部存储所述第二方向上的两点接触点的距离与所述校正系数的相关关系。