CN103455231B - 触摸屏的触摸位置获得方法、装置以及接触电压获得方法 - Google Patents

触摸屏的触摸位置获得方法、装置以及接触电压获得方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法、装置、触摸屏和终端以及获得接触电压的方法。对触摸位置进行检测的方法方法包括:对于第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触和未接触的情况,进行电压采样,并根据多个电压采样值获得接触电阻与采样输入阻抗的比值;利用该比值和电压采样值,可获得接触位置的电压,进而计算出接触位置的相应坐标。本发明的技术方案考虑了实际接触点电压与采样电压的差值,在无须获知接触电阻和输入阻抗的情况下,就能获得接触位置的电压,进而准确计算出接触位置。

Description

触摸屏的触摸位置获得方法、装置以及接触电压获得方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种获得触摸屏的触摸位置的方法、装置以及接触电压的获得方法。
背景技术
目前,触摸屏技术已经广泛应用于人机交互方式中。相对于电容式触摸屏,电阻式触摸屏由于具有结构简单、成本低廉、稳定性好等特性,广泛应用于各种类型的设备中。
电阻式触摸屏的屏体部分是在玻璃或者丙烯酸基板上覆盖有两层均匀导电的导电玻璃ITO层。其中,下层的ITO层与玻璃基板附着,上层的ITO附着在PET薄膜(Polyethylene terephthalate,聚对苯二甲酸)上。
为表述方便,可将上下两层ITO层分别称为第一导电层面板和第二导电层面板。在第一导电层面板和第二导电层面板之间,设有许多细小的透明隔离点,以将两面板隔开绝缘。
如图1所示,XL和XR为该电阻式触摸屏的第一导电层面板的两个电连接端,YU和YD为该电阻式触摸屏的第二导电层面板的两个电连接端。XL和XR形成触摸屏的屏体表面坐标系的X轴,YU和YD形成该坐标系的Y轴。从XL、XR、YU和YD共引出四条线,这就是四线式触摸屏的名称由来。图中的点P代表一个触摸点。
用户以手指触摸该触摸屏的屏幕(例如,触摸点P),当电阻式触摸屏的屏幕表面受到的压力足够大时,第一导电层面板发生形变,与第二导电层面板在触摸点产生接触,从而导电。
图2是图1所示电阻式触摸屏的等效电路图。如图2所示,R1与R2表示第一导电层面板被触摸点拆分成两部分的等效电阻,R3与R4表示第二导电层面板被触摸点拆分成两部分的等效电阻,Rz表示第一导电层面板和第二导电层面板在触摸点的接触电阻。
利用模数转换器ADC可以根据需要采集电压ADC0或ADC1。在具体应用中,第一导电层面板与第二导电层面板的总电阻已知(例如,第一导电层面板的总电阻可以是300欧姆左右,第二导电层面板的总电阻可以是700欧姆左右),根据电压与电阻成正比的关系,如果YU端接电压正极作为参考电压,YD端接地,则通过模数转换器ADC在XL端的一个测试点进行电压值采样,并进行模数转换得到该测试点电压值的数字信号,从而可以获取触摸点在第一导电层面板上的电压值。利用触摸点在第一导电层面板上的电压值和参考电压,可以获得触摸点的Y轴坐标。
类似地,如果XL端接电压正极作为参考电压,XR端接地,则通过ADC在YD端的一个测试点进行电压值采样,并进行模数转换,得到该测试点电压值的数字信号,从而可以获得触摸点在第二导电层面板上的电压值,进而计算出该触摸点的X轴坐标。
本发明的发明人对以上方法进行了深入研究,发现存在以下问题:
利用上述方法所获得的接触点位置并不准确。这是由于,利用模数转换器所获得的采样电压与接触点的实际电压存在偏差,该偏差约为Rz/Rin%。因此,接触电阻Rz越大,电压偏差也就越大,而且在整个采样过程中Rz还可能不断变化,从而导致诸如飞笔、抖动等一系列问题。
发明内容
本发明针对接触电阻对电阻屏的触摸位置的检测造成影响这一问题,提出了一种新的技术方案,能够去除接触电阻所带来的偏差,获得更为准确的接触位置电压。
根据本发明的一个方面,公开了一种对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法。其中,电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板。第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触,将第三电极连接端接入系统输入电压,将第四电极连接端接地,将第一电极连接端和所述第二电极连接端设为输入高阻,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3。获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin。利用上述比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式获得所述第二导电层面板上与第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:V2=V3*(1+Rz/Rin)。利用所述电压V2的近似值,计算接触位置。
优选地,获得接触电阻Rz与输入阻抗Rin的比值Rz/Rin的步骤包括:当电阻式触摸屏未被触摸时,将第一电极连接端设为输出高电平,将第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD。将第一电极连接端设为输入上拉,将第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1。当电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触时,将第一电极连接端设为输入上拉,将第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻,对第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4。利用电压采样值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得比值Rz/Rin:Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
优选地,对第一电极连接端的电压值进行采样的步骤和对第四电极连接端的电压值进行采样的步骤均是利用模数转换器以预先设置的电压采样频率进行的,并进行模数转换。Rin为模数转换器的输入阻抗。
优选地,在采样过程中,接触电阻保持恒定。
根据本发明的另一方面,还公开了一种对电阻式触摸屏的接触电压进行检测的方法。
在该方法中,电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板,第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。该方法可包括:响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触,将第三电极连接端接入系统输入电压,将第四电极连接端接地,将第一电极连接端和第二电极连接端设为输入高阻,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3;获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin;利用比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式获得第二导电层面板上与第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:V2=V3*(1+Rz/Rin)。
根据本发明的又一方面,还公开了一种对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置。电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板。第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。该装置包括:第一电压采样单元、比值获得单元、接触位置电压计算单元和接触位置获得单元。其中,第一电压采样单元用于响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触。当第三电极连接端接入系统输入电压,第四电极连接端接地,第一电极连接端和第二电极连接端设为输入高阻时,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3。比值获得单元用于获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin。接触位置电压计算单元用于利用比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式获得第二导电层面板上与第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:V2=V3*(1+Rz/Rin)。接触位置获得单元用于利用电压V2的近似值,计算该接触位置。
优选地,比值获得单元可包括三个电压采样单元。其中,第二电压采样单元用于当电阻式触摸屏未被触摸,且第一电极连接端设为输出高电平,第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻时,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD。第三电压采样单元用于当电阻式触摸屏未被触摸,且第一电极连接端设为输入上拉,第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻时,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1。第四电压采样单元用于当电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触,且第一电极连接端设为输入上拉,将第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻时,对第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4。比值计算单元用于利用电压采集值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得所述比值Rz/Rin:Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
优选地,第一电压采样单元、第二电压采样单元、第三电压采样单元和第四电压采样单元为模数转换器,以预先设置的电压采样频率进行电压采样,并进行模数转换。Rin为模数转换器的输入阻抗。
优选地,在采样过程中,接触电阻保持恒定。
根据本发明的再一方面,公开了一种电阻式触摸屏。该电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板。第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。电阻式触摸屏还包括上述的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置。
采用本发明的技术方案,当第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触,且将第三电极连接端接入系统输入电压,将第四电极连接端接地,将第一电极连接端和第二电极连接端设为输入高阻时,对第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3;然后,获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin。根据以上数值,可以获得第二导电层面板的与第一导电层面板的接触位置的实际电压。这样,根据所获得的接触位置的电压得到的接触位置更为准确。
附图说明
构成说明书的一部分的附图描述了本发明的实施例,并且连同说明书一起用于解释本发明的原理。
参照附图,根据下面的详细描述,可以更加清楚地理解本发明,其中:
图1是现有技术中电阻式触摸屏的触摸示意图。
图2是图1所示电阻式触摸屏的等效电路图。
图3是根据本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法的一个实施例的流程图。
图4是图3中获得比值Rz/Rin的流程示意图。
图5~图8是在图3所示步骤中对获得电压采样值的电路图。
图9是根据本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置的一个实施例的结构示意图。
图10是图9中的比值获得单元的结构示意图。
图11是根据本发明的电阻式触摸屏的一个实施例的结构示意图。
图12是根据本发明的一种移动终端的一个实施例的结构示意图。
图13是根据本发明的一种对电阻式触摸屏的接触电压进行检测的方法。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
同时,应当明白,为了便于描述,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
在本发明的实施例中,电阻式触摸屏的屏体部分可包括第一导电层面板和第二导电层面板。其中,第一导电层面板上的两个电连接端形成电阻式触摸屏的屏体表面坐标系的一个坐标轴;第二导电层面板上的两个电连接端形成坐标系的另一个坐标轴。
下面结合图3~图8,以测量触摸位置的纵坐标为例进行示例性说明。图3示出了根据本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法的一个实施例的流程图。图4示出了获得比值Rz/Rin的流程示意图。图5~图8示出了对电极连接端的电压值进行采样的电路图。
在步骤S11中,响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触,对一个电极连接端的电压值进行采样。
在本实施例中,第一导电层面板可以包括XL和XR两个电连接端;第二导电层面板可以包括YU和YD两个电连接端。XL与XR形成触摸屏的屏体表面坐标系的X轴,YU和YD两个电连接端可以形成该坐标系的Y轴。XL、XR、YU和YD分别称作第一电极连接端、第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端。
请参见图5,在进行电压采样时,可以将YU电极连接端接入系统输入电压,将YD电极连接端接地,将XL电极连接端和XR电极连接端设为输入高阻。然后,对XL电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3。图中所示的C1为模数转换器的内部采样电容。
接触点的实际电压为V2,而所读取的采样电压为V3。从电路图中可以看出,V3=V2*Rin/(Rin+Rz),相应地,V2=V3(1+Rz/Rin),即公式1。
在进行电压采样时,可以利用模数转换器以预先设置的电压采样频率进行采样,然后进行模数转换。
在步骤S12中,获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin
在利用模数转换器进行电压采样时,Rin为模数转换器的输入阻抗。
其中,获得比值Rz/Rin的过程可包括:
请参见图6,在步骤S121中,当电阻式触摸屏未被触摸时,获得电压采样值VDD。
具体地,可以将XL电极连接端设为输出高电平,将XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻,对XL电极连接端的电压值进行采样。读取到的ADC0值与系统电压VDDIO相等,因此,将所读取的电压采样值记为VDD。
请参见图7,在步骤S122中,当电阻式触摸屏未被触摸时,获得电压采样值V1
具体地,可以将XL电极连接端设为输入上拉,将XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻,对XL电极连接端的电压值进行采样,从而得到电压采样值V1
从电路图可知,V1=VDDIO*Rin/(Rin+Rpu)=VDD*Rin/(Rin+Rpu),即公式2。
优选地,在上述整个电压采样过程中,应当保证接触电阻保持恒定,这就要求对一个接触点的采样过程越短越好。一般地,采样时间可以为100us-50ms。由于在整个采样时间内,接触电阻保持不变,则根据该接触电阻准确确定接触位置,从而避免诸如飞笔、抖动等问题。
请参见图8,在步骤S123中,对于第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触的情况,获得电压采样值V4
为了计算出V2,还需要在XY采样后再做一次电压采样。具体而言,当电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和所述第二导电层面板形成点接触时,将XL电极连接端设为输入上拉,将XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻,对YD电极连接端的电压值进行采样,从而获得电压采样值V4,其中,V4=VDD*Rin/(Rin+Rz+Rpu)。
在步骤S124中,利用上述步骤所获得的电压采样值,获得比值Rz/Rin
根据公式2和公式3可推导出公式4:
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
在步骤S13中,利用比值Rz/Rin和电压采样值V3,获得接触位置的电压V2
可以公式1和公式4可知:
V2=V3*(1+Rz/Rin)=V3*(1+VDD/V4-VDD/V1)。
该电压V2为在第二导电层面板上与第一导电层面板相接触的位置的电压。由于R1、R2、R3和R4比Rin、Rup和Rz小很多,在计算中忽略了R1、R2、R3和R4,因此所获得的V2为接触位置的实际电压的近似值。
在步骤S14中,计算接触位置的坐标。
在本实施例中,可以计算接触位置的纵坐标。其中,
其中,Lscreen为触摸屏幕的高度。
类似地,也可以采用该方法获得第一导电层面板上与第二导电层面板相接触位置的电压V2′。然后,利用下式计算获得接触位置的横坐标:其中,Wscreen为触摸屏幕的宽度。
需要说明的是,本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法不限于图5-图8所示。例如,对电阻屏而言,X轴和Y轴是完全等效的,因此上述每步测试中都可以将XL与YU替换,将XR与YD互换,从而获得另一种测试途径。
此外,测试途径电路框图也可以直接在图5-图8的电路框图中直接将XL改为YU,将YU改为XL,将XR改为YD,将YD改为XR。
采用本实施例的技术方案,通过若干次的电压采样值,可以获得接触电阻与采样时的输入阻抗的比值Rz/Rin。根据该比值Rz/Rin,并利用相接触时的电压采样值,可以获得接触位置的实际电压。利用接触位置的实际电压,可以准确获得该接触位置。
图9示出了根据本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置的一个实施例的结构示意图。
如图9所示,该装置包括第一电压采样单元11、比值获得单元12、接触位置电压计算单元13和接触位置获得单元14。
第一电压采样单元11响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触,获得电压采样值V3
在该采样过程中,可将YU电极连接端接入系统输入电压,YD电极连接端接地,XL电极连接端和XR电极连接端设为输入高阻。这样,对XL电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V3
比值获得单元12用于获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin
请参见图10,比值获得单元12可包括第二电压采样单元121、第三电压采样单元122、第四电压采样单元123和比值计算单元124。
其中,当电阻式触摸屏未被触摸,且XL电极连接端设为输出高电平,XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻时,利用第二电压采样单元121可以对XL电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD。
当电阻式触摸屏未被触摸,且XL电极连接端设为输入上拉,XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻时,可以利用第三电压采样单元122对XL电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1
当电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触,且XL电极连接端设为输入上拉,将XR电极连接端、YU电极连接端和YD电极连接端设为输入高阻时,可以利用第四电压采样单元123对YD电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4
比值计算单元124可以利用电压采集值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得所述比值Rz/Rin
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
其中,第一电压采样单元11、第二电压采样单元121、第三电压采样单元122和第四电压采样单元123可以为模数转换器,以预先设置的电压采样频率进行电压采样,并进行模数转换。Rin为模数转换器的输入阻抗。
接触位置电压计算单元13用于利用比值Rz/Rin和电压采样值V3,可根据如下公式获得第二导电层面板的与第一导电层面板的接触位置的电压V2的近似值:
V2=V3*(1+Rz/Rin)。
接触位置获得单元14利用电压V2的近似值,计算接触位置的相应。
例如,可以利用下式计算接触位置的纵坐标,
其中,Lscreen为触摸屏幕的高度;
类似地,也可以采用该装置获得第一导电层面板上与第二导电层面板相接触位置的电压V2′。然后,利用下式计算获得接触位置的横坐标:其中,Wscreen为触摸屏幕的宽度。
图11示出了根据本发明的一种电阻式触摸屏的一个实施例的结构示意图。
电阻式触摸屏2包括触摸位置检测装置21和屏体部分22。其中,屏体部分22可包括第一导电层面板和第二导电层面板(图中未示出)。第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。
触摸位置检测装置可包括第一电压采样单元211、比值获得单元212、接触位置电压计算单元213和接触位置获得单元214。其中,第一电压采样单元211、比值获得单元212、接触位置电压计算单元213和接触位置获得单元214可以与图9示出的第一电压采样单元11、比值获得单元12、接触位置电压计算单元13和接触位置获得单元14的结构和功能分别相同,在此不再赘述。
利用该电阻式触摸屏,针对触摸屏中的两导电层面板相接触和未接触的情况,进行多次电压采样,可以获得接触电阻与采样输入阻抗的比值,进而获得接触位置的真实电压。整个过程不必获知接触电阻的具体阻值,能够准确方便地确定接触位置的相应坐标。
图12示出了根据本发明的一种移动终端的一个实施例的结构示意图。
移动终端3设有电阻式触摸屏31。电阻式触摸屏31包括触摸位置检测装置311和屏体部分312。其中,屏体部分312可包括第一导电层面板和第二导电层面板(图中未示出)。第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端。
触摸位置检测装置可包括第一电压采样单元3111、比值获得单元3112、接触位置电压计算单元3113和接触位置获得单元3114。其中,第一电压采样单元3111和比值获得单元3112用于采集屏体部分的电极连接端的电压信号,接触位置电压计算单元3113通过第一电压采样单元3111和比值获得单元3112所获得的电压采集信号,计算得到接触位置的电压。接触位置获得单元3114利用接触位置的电压计算得到该接触位置相应的坐标。第一电压采样单元3111、比值获得单元3112、接触位置电压计算单元3113和接触位置获得单元3114可以与图9示出的第一电压采样单元11、比值获得单元12、接触位置电压计算单元13和接触位置获得单元14的结构和功能分别相同,在此不再赘述。
需要说明的是,本发明的电阻式触摸屏和移动终端不局限于图11和图12所示的装置,根据功能需要,可以增加、减少或替换相应的装置,或者调整各个单元的连接关系。例如,可以设置接触位置电压获得单元,该单元包括第一电压采样单元、比值获得单元和接触位置电压计算单元,用于获得接触位置的电压。然后,根据实际需要,可利用所获得的接触位置电压获得接触位置、接触电阻以及触摸压力。
图13还示出了一种对电阻式触摸屏的接触电压进行检测的方法。
如图13所示,在步骤S21中,响应于第一导电层面板和第二导电层面板的点接触,对一个电极连接端的电压值进行采样。
在进行电压采样时,可以将YU电极连接端接入系统输入电压,将YD电极连接端接地,将XL电极连接端和XR电极连接端设为输入高阻。然后,对XL电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3。其中,V3=V2*Rin/(Rin+Rz),相应地,V2=V3*(1+Rz/Rin)。
在步骤S22中,获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin
在该步骤中,需要在电阻式触摸屏未被触摸时,获得电压采样值VDD;在电阻式触摸屏未被触摸时,获得电压采样值V1;在第一导电层面板和第二导电层面板形成点接触的情况,获得电压采样值V4
上述获得电压采样值VDD、V1和V4的步骤可以与图4中的步骤S121、步骤S122和步骤S123分别相同,在此不再赘述。
然后,根据公式Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1,获得比值Rz/Rin
在步骤S23中,可以利用比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式,获得接触位置的电压V2
V2=V3*(1+Rz/Rin)=V3*(1+VDD/V4-VDD/V1)。
该电压V2为在第二导电层面板上与第一导电层面板相接触的位置的电压。由于R1、R2、R3和R4比Rin、Rup和Rz小很多,在计算中忽略了R1、R2、R3和R4,因此所获得的V2为接触位置的实际电压的近似值。
采用该方法能够方便快速地获得接触位置的电压V2。由于电压V2能够排除接触阻抗的影响,利用所获得接触电压可以获得更为精确的位置坐标。
此外,通过将接触电压V2与采样电压V3进行比较,可以估算出接触阻抗的大小。
需要说明的是,关于接触位置的电压V2的应用不限于上述描述,可以根据实际需要,还可以进行其他方面的应用。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有示例中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
至此,已经详细描述了根据本发明的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法和装置。为了避免遮蔽本发明的构思,没有描述本领域所公知的一些细节。本领域技术人员根据上面的描述,完全可以明白如何实施这里公开的技术方案。
虽然已经通过示例对本发明的一些特定实施例进行了详细说明,但是本领域的技术人员应该理解,以上示例仅是为了进行说明,而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解,可在不脱离本发明的范围和精神的情况下,对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的方法,所述电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板,所述第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,所述第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端,其特征在于,所述方法包括:
响应于所述第一导电层面板和所述第二导电层面板的点接触,将所述第三电极连接端接入系统输入电压,将所述第四电极连接端接地,将所述第一电极连接端和所述第二电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3
获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin,包括:
当所述电阻式触摸屏未被触摸时,
将所述第一电极连接端设为输出高电平,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD;
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1
当所述电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和所述第二导电层面板形成点接触时,
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4
利用所述电压采样值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得比值Rz/Rin:
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
利用所述比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式获得所述第二导电层面板上与所述第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:
V2=V3*(1+Rz/Rin);
利用所述电压V2的近似值,计算所述相接触的位置。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述对第一电极连接端的电压值进行采样的步骤和所述对第四电极连接端的电压值进行采样的步骤均是利用模数转换器以预先设置的电压采样频率进行的,并进行模数转换;
所述Rin为所述模数转换器的输入阻抗。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述采样过程中,接触电阻保持恒定。
4.一种对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置,所述电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板,所述第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,所述第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端,其特征在于,所述装置包括:
第一电压采样单元,用于响应于所述第一导电层面板和所述第二导电层面板的点接触,当所述第三电极连接端接入系统输入电压,所述第四电极连接端接地,所述第一电极连接端和第二电极连接端设为输入高阻时,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3
比值获得单元,用于获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin,包括:
当所述电阻式触摸屏未被触摸时,
将所述第一电极连接端设为输出高电平,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD;
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1
当所述电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和所述第二导电层面板形成点接触时,
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4
利用所述电压采样值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得比值Rz/Rin
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
接触位置电压计算单元,用于利用所述比值Rz/Rin和所述电压采样值V3,根据如下公式获得所述第二导电层面板上与所述第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:
V2=V3*(1+Rz/Rin);
接触位置获得单元,用于利用所述电压V2的近似值,计算所述相接触的位置。
5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述比值获得单元包括:
第二电压采样单元,用于当所述电阻式触摸屏未被触摸,且所述第一电极连接端设为输出高电平,所述第二电极连接端、第三电极连接端和第四电极连接端设为输入高阻时,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD;
第三电压采样单元,用于当所述电阻式触摸屏未被触摸,且所述第一电极连接端设为输入上拉,所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻时,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1
第四电压采样单元,用于当所述电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和所述第二导电层面板形成点接触,且所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻时,对所述第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4
比值计算单元,用于利用所述电压采样值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得所述比值Rz/Rin
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
6.如权利要求4或权利要求5所述的装置,其特征在于,
所述第一电压采样单元、第二电压采样单元、第三电压采样单元和第四电压采样单元为模数转换器,以预先设置的电压采样频率进行电压采样,并进行模数转换;
所述Rin为模数转换器的输入阻抗。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,在所述采样过程中,接触电阻保持恒定。
8.一种对电阻式触摸屏的接触电压进行检测的方法,所述电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板,所述第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,所述第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端,其特征在于,所述方法包括:
响应于所述第一导电层面板和所述第二导电层面板的点接触,将所述第三电极连接端接入系统输入电压,将所述第四电极连接端接地,将所述第一电极连接端和所述第二电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V3
获得接触电阻Rz与采样时的输入阻抗Rin的比值Rz/Rin,包括:
当所述电阻式触摸屏未被触摸时,
将所述第一电极连接端设为输出高电平,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值VDD;
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第一电极连接端的电压值进行采样,得到电压采样值V1
当所述电阻式触摸屏被触摸,以使第一导电层面板和所述第二导电层面板形成点接触时,
将所述第一电极连接端设为输入上拉,将所述第二电极连接端、所述第三电极连接端和所述第四电极连接端设为输入高阻,对所述第四电极连接端的电压值进行采样,获得电压采样值V4
利用所述电压采样值VDD、V1和V4,并根据如下公式,获得比值Rz/Rin
Rz/Rin=VDD/V4-VDD/V1
利用所述比值Rz/Rin和电压采样值V3,根据如下公式获得所述第二导电层面板上与所述第一导电层面板相接触的位置的电压V2的近似值:
V2=V3*(1+Rz/Rin)。
9.一种电阻式触摸屏,所述电阻式触摸屏的屏体部分包括第一导电层面板和第二导电层面板,所述第一导电层面板设有第一电极连接端和第二电极连接端,第二导电层面板设有第三电极连接端和第四电极连接端,其特征在于,所述电阻式触摸屏还包括权利要求4至7任意一项所述的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置。
10.一种移动终端,其特征在于,所述移动终端包括电阻式触摸屏,所述电阻式触摸屏包括权利要求4至权利要求7任意一项所述的对电阻式触摸屏的触摸位置进行检测的装置。
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