KR100673138B1 - 태양전지 시험장비 - Google Patents

태양전지 시험장비 Download PDF

Info

Publication number
KR100673138B1
KR100673138B1 KR1020050097253A KR20050097253A KR100673138B1 KR 100673138 B1 KR100673138 B1 KR 100673138B1 KR 1020050097253 A KR1020050097253 A KR 1020050097253A KR 20050097253 A KR20050097253 A KR 20050097253A KR 100673138 B1 KR100673138 B1 KR 100673138B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
solar cell
test equipment
belt system
electrical
belt
Prior art date
Application number
KR1020050097253A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20060054028A (ko
Inventor
디터 만쯔
Original Assignee
만쯔 아우토마티온 아게
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 만쯔 아우토마티온 아게 filed Critical 만쯔 아우토마티온 아게
Publication of KR20060054028A publication Critical patent/KR20060054028A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100673138B1 publication Critical patent/KR100673138B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S50/00Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
    • H02S50/10Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803Visual inspection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S40/00Components or accessories in combination with PV modules, not provided for in groups H02S10/00 - H02S30/00
    • H02S40/30Electrical components
    • H02S40/38Energy storage means, e.g. batteries, structurally associated with PV modules
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

태양전지의 제품 품질을 광학 및 전기 모니터링을 하고 그리고/또는 광학적 및 전기적 성질을 판단하는 시험장비는, 태양전지를 시험구역으로 이송하는 제1이송장치와, 태양전지를 시험구역을 통과 이동시키는 제2이송장치와, 태양전지를 시험구역 밖으로 이송하는 제3이송장치와, 태양전지를 시각적으로 점검하기 위해 시험구역에 배치된 광학 점검장치 및, 태양전지의 전기적 기능을 점검하기 위해 시험구역에도 위치한 전기 점검장치를 포함하며, 상기 전기 점검장치는 태양전지의 감광면에 빛을 빛나게 하는 조명장치(illumination device)를 구비하고 또한 태양전지 접촉부에서의 전압 및/또는 전류를 포착하는 전기 접촉장치를 구비하며, 제1, 제2, 제3이송장치는 시험구역을 지나가며 이송벨트 시스템의 표면에 태양전지를 유지시키는 진공흡인기를 가진, 공동 선형 이송벨트 시스템을 구비한다.
태양전지, 전기 점검장치, 이송장치, 광학 점검장치, 이송벨트, 진공흡인기.

Description

태양전지 시험장비{TESTING SYSTEM FOR SOLAR CELLS}
도1a는 위에서 보았을 때의 본 발명의 태양전지 시험장비를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도1b는 도1a의 실시예를 측면으로 보고 도시한 도면이다.
도2는 종래기술의 시험장비를 나타낸 도면이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1: 시험장비 2: 태양전지 3: 광학 점검장치
4: 전기 점검장치 5: 조명장치 6: 전기 접촉장치
7: 선형 이송벨트 시스템 9: 구역 스캐닝 카메라 10: 로보트 아암
11: 이송장치 12: 인덱싱 턴테이블 13: 이동 벨트
14: 분류기
본 발명은 태양전지의 제품 품질을 광학 및 전기 모니터링하고 및/또는 광학적 및 전기적 성능을 판단하는 시험장비에 관한 것이다.
특히, 본 발명은 태양전지를 시험구역으로 이송하는 제1이송장치와, 태양전 지가 시험구역을 통과하도록 이동시키는 제2이송장치와, 태양전지를 시험구역 밖으로 이송하는 제3이송장치를 구비하며, 태양전지를 시각적으로 점검하기 위해 시험구역에 배치된 광학 점검장치 및, 태양전지의 전기적 기능을 점검하기 위해 시험구역에도 위치한 전기 점검장치를 포함하며, 상기 전기 점검장치는 태양전지의 감광면에 빛을 빛나게(shining) 하는 조명장치(illumination device)를 구비하고 또한 태양전지의 전기 접촉부에서의 전압 및/또는 전류를 포착하는 전기 접촉장치를 구비하는 태양전지 시험장비에 관한 것이다.
상기 시험장비에는 일반적으로 이송벨트 형태로 이루어진 제1이송장치에 의해 시험을 받게되는 태양전지가 장착된다. 시험구역에서, 태양전지는 로보트에 의해 제1이송장치에서 포획되어 인덱싱 턴테이블에 놓여지고, 여기서 태양전지는 시간 흐름에 맞추어서 시각 점검을 하는 광학 점검장치와 기능 시험을 하는 전기 점검장치로 전달된다. 종래 시험장비에서는 일반적으로, 광학 점검장치가, 사이클 정지 시간대에서 시험을 받는 태양전지의 표면을 탐지하는 면 스캐닝 카메라를 구비한다.
다음, 불규칙함(irregularities)이 조작자 또는 평가 컴퓨터에 의해 인식되고, 그리고 적절한 태양전지가 인덱싱 턴테이블의 사이클링에서 수용불가 또는 제한적 수용 가능한 것으로 분류되고, 그리고 시험을 받는 태양전지와의 전기 접촉이 시험구역에 다른 지점에서 행하여져 전기적 기능을 점검 받는다. 공정 중에, 빛은 태양전지의 감광면에서 빛나고 그리고 태양전지의 대응 접촉부에서, 발생된 전류 및/또는 전압을 측정한다. 상기 전기적 점검은 일반적으로 인덱싱 턴테이블의 정 지 시간 중에도 행하여 진다.
점검 작업을 마친 후, 상기 점검된 태양전지는 동일 로보트 아암 또는 다른 로보트 아암에 의해 다시 인덱싱 턴테이블로부터 취해져서, 제3이송장치로 보내지고, 여기서 점검 결과에 따라 정확한 품질 등급을 부여받아 일반적으로 선형 벨트장치에 전해진다. 시험 사이클에 소요된 총 사이클 시간은 현재 알고 있는 시험장비에서 3초 내지 5초 사이이다.
그러나, 상당히 서행인 사이클 시간에 더하여, 종래 시험장비에는 다음과 같은 결함이 여전히 있다.
로보트 아암과 인덱싱 턴테이블을 사용하기 때문에, 상기 장치는 상당히 고가이며 상당한 공간을 필요로 한다. 시험을 받는 태양전지가 제1이송장치에서 제2이송장치로 이동되고 그리고 점검을 마친 후에 제2이송장치에서 제3이송장치로 이동될 때에, 흔히 공급 또는 이미 점검된 태양전지에서 손상이 발생하여, 한 편에서는 폐기되고 그리고 다른 한 편에서는 품질 등급에 의한 분류를 전적으로 신뢰할 수 없다.
시험을 받는 태양전지가 인덱싱 턴테이블의 홀더장치에 고정될 때, 태양전지는 일반적으로, 차례로 광학 점검작업의 정밀성과 결과물에 손상을 줄 수 있는 임의적인 파형을 가진다.
본 발명은 현재 시험장비를 개량하여, 태양전지의 제품 품질을 광학 및 전기 모니터링 하여 광학적 및 전기적 성질을 판단하는 시험장비를 제공하는 것이다.
특히, 본 발명의 목적은, 한 편에서 태양전지를 점검하는 사이클 시간을 상당히 짧게하고 그리고 다른 한 편에서 각종 이송장치 사이에서 태양전지를 이동시키기 위한 고가의 로보트와 인덱싱 턴테이블에 의해 점유되는 상당한 공간을 필요없게 하면서, 동시에 태양전지를 이동시킬 때에 손상이 방지되고 매우 정밀한 광학 점검작업이 이루어지는, 매우 간단한 기술수단을 가지고 새롭게 형성된 타입의 시험장비를 제공하는 것이다.
본 발명에 의거, 본 발명의 목적은 매우 간단하고 상당한 효과를 발휘하는, 시험구역을 통과하고 그리고 이송벨트 시스템의 면에 태양전지를 유지시키는 진공흡인기를 가진 공동 선형 이송벨트 시스템을 구비한 제1, 제2, 및 제3이송장치로 이루어진다. 개별적으로 선형 이송하는 이송벨트가 서로 임의 각도로 배치된 일 공동 선형 이송벨트 시스템에 이송장치를 결합하여, 고가의 로보트와 상당량의 공간을 점유하는 인덱싱 턴테이블이 필요없게 하였다. 시험구역을 통과하기 전후에 태양전지가 이동할 필요가 더 이상 없어서, 이곳에서는 고품질 등급으로 잘못 분류되거나 손상을 당하는 일이 발생하지 않는다. 태양전지를 유지하는 진공흡인기로 인하여, 태양전지는 광학 점검장치의 시험구역에서 서로 마주보고 완만한 평면으로 놓여져서, 기구적 흐름(mechanical flaws)을 시각적으로 점검하는 작업이 보다 정확하게 행해진다. 끝으로, 선형 안내로 인해서, 점검장치에서의 사이클이 또한 2초 미만의 사이클 시간으로 상당히 짧게 되고, 1초 크기 정도에 점검 시간에서도 연속 조작할 수 있다.
특징적으로, 양호하게, 태양전지가 이송벨트 시스템에서 상방향으로 대면한 감광면을 갖고 배치되고, 전기 점검장치의 조명장치가 시험구역에 이송벨트 시스템 위에 장착되고, 그리고 전기 접촉기구가 이송벨트 시스템 하부 및/또는 상부에 장착되는 본 발명의 시험장비의 실시예를 실시한다. 이러한 방식에서는, 시험장비가 시험구역에서 매우 콤팩트하고 공간을 절감하는 방식으로 구성된다.
본 발명의 양호한 실시예에서, 본원은 적어도 한 개가 벨트 면을 향하는 방향으로 개방되고 진공흡인기와 소통하는 트인구멍을 가진, 이송방향과 평행하게 연장된 적어도 2개의 병렬 벨트를 이송벨트 시스템을 구비하는 것이다. 이송벨트를 복수의 병렬 벨트로 분할하여 한 편에서는 이동을 하게되는 벨트의 중량을 감소하고; 다른 한 편에서는 적절한 형상의 설계로, 이송되는 태양전지용으로 충분한 크기의 고정 베어링 면을 갖추게 된다.
본 발명의 양호한 실시예에서, 병렬 벨트는 이송벨트 시스템의 이송방향과 교차하는 방향으로 서로 이격 분리된다. 이러한 방식에서는, 이송되는 태양전지로의 접근이 밑으로부터 가능하다.
본 발명의 양호한 실시예에서는, 시험구역에 전기 점검장치의 접촉장치의 적어도 일부분이 이송벨트 시스템 밑에 병렬 벨트 사이에 틈에 배치 된다. 시험을 받게 되는 태양전지의 전기 접촉부가 벨트 내의 틈을 통하여 밑으로부터 전기 접촉장치로 접근할 수 있다.
본원의 양호한 일 실시예의 이송벨트 시스템은, 적어도 그 중간의 하나는 벨트 면을 향하는 방향으로 개방되고 진공흡인기와 소통하는 트인구멍을 가지는, 정밀한 3개 병렬 벨트를 구비한다.
시험을 받는 태양전지의 완전한 평면 구역을 이루기 위해서, 모든 병렬 벨트(적어도 시험구역에)는 진공흡인기와 소통하고 벨트 면을 향하는 방향으로 개방된 트인구멍을 구비한다.
본 발명의 양호한 실시예에서, 정밀한 광학적 측정이, 진공흡인기와 소통하는 트인구멍이 그 전체표면 영역에 걸쳐 태양전지의 특정한 균일한 흡기를 보장하며, 각각의 병렬 벨트의 표면에 걸쳐 균일하게 분포되어 있다.
본 발명의 양호한 실시예는 이송벨트 시스템의 병렬 벨트가 함께 공동으로 구동되지만 조정을 목적으로 이송방향으로 서로 독립적으로 이동하는 것이다. 결과적으로, 이송되는 태양전지의 비스듬한 위치가 보정되거나 피해지게 된다.
본 발명의 시험장비의 부가적인 양호한 실시예는, 이송벨트 시스템이 이송방향으로 상호 추종하는 복수의 벨트 세그먼트를 구비하며, 그 각각의 길이는 1개 태양전지 길이의 배수이며, 운전 중에, 벨트 세그먼트의 끝에 도달하는 태양전지는 순차적으로 이어진 벨트 세그먼트의 개시부로 이동되고 그리고 최종 벨트 세그먼트로부터 부가 장치로, 특히 분류기(sorter)로 이동된다. 따라서, 각각의 벨트 세그먼트는 1개 연속 이송벨트에 비해 상당히 짧게 설계된다. 또한, 이송벨트는 각각의 적용 시에 3차원적 요건에 맞추어 채택할 수 있게 제조된다.
양호한 실시예에서, 벨트 세그먼트는 이송된 태양전지의 시험구역을 통하는 통로가 균일한 통로로 이루어지도록 동기적으로 구동된다.
양호한 실시예에서, 연속 벨트 세그먼트는 1개 태양전지의 길이보다 작게 이송방향으로 서로 3차원적으로 이격 분리된다. 이러한 방식에서는, 분리장치가 일 벨트에서 다음 벨트로 이송되는 태양전지의 전달동작이 필요하지 않다.
종래기술의 시험장비에서, 지금까지는 일 사이클에 정지 시간에서 적절한 태양전지의 표면을 검사하는 구역 스캐닝 카메라가 광학 점검작업에 사용되어진 반면에, 본 발명의 시험장비의 양호한 실시예에서는 광학 점검장치가, 위로부터 이송벨트 시스템 위에 태양전지를 통과하는, 양호하게 태양전지를 스캔하는 적어도 1개 라인 스캐닝 카메라를 구비한 것이다. 이러한 방식에서는, 상기 광학 점검작업이 이송장치의 정지 시간 없이 연속적으로 균일하게 행해진다.
양호하게, 이송벨트 시스템의 이동속도와 동조하여 라인 스캐닝 카메라를 작동하여, 점검을 받는 태양전지의 전체 시각 표면의 광학 모니터링을 보장한다.
양호하게, 라인 스캐닝 카메라는 연속 벨트 세그먼트 사이에 틈에 위치한다. 이러한 구조로, 광학 점검장치는 매우 콤팩트하고 공간을 절감하는 방식으로 설계가 된다.
태양전지를 점검하는데 소비하는 사이클 시간은, 만일 광학 점검장치가 태양전지의 시각적 점검작업이 이송벨트 시스템을 작동하여 운전되고, 특히 연속적으로 행해지도록 설계된다면, 본 발명의 실시예에 의해 상당히 감소된다.
본 발명의 시험장비의 다른 실시예에서, 전기 점검장치는, 태양전지의 전기적 기능의 점검작업이, 각 경우에 이송장치의 2개 이송기간 사이에 정지 기간에서, 시계 모양으로 행해지도록 설계된다. 따라서, 2초 미만의 범위에 사이클 시간으로 태양전지 점검작업을 할 수 있다.
본원의 시험장비의 양호한 실시예에서, 전기 접촉장치는, 통과하는 태양전지 와 함께 단속적으로 이동하는 접촉부를 구비하며, 해당 부분을 통과한 후에 자동적으로 처음 위치로 복귀하고 그리고, 전기 점검장치는 태양전지의 전기적 기능의 점검작업이 이송벨트 시스템을 작동하여 운전 중에 행해질 수 있도록 설계된다. 이러한 연속 운전 중에는, 대략 1초 이하의 사이클 시간이 태양전지를 점검하는데 사용된다.
본 발명의 다른 특징 및 잇점은 본 발명을 근본적으로 상세하게 나타낸 첨부 도면과 관련하여 설명되는 본 발명의 예를 든 실시예와 첨부 청구범위를 통해 명확하게 나타나며, 각각의 특징적인 기술구성은 본 발명의 구성과 함께 또는 그 자체로 개별적으로 또는 조합되어 실현된다.
첨부 청구범위에 기재된 본 발명의 특징적인 기술구성 및 운영방법은 첨부 도면과 관련하여 보았을 때에 그 실시 및 이해가 용이한 것이다.
태양전지(2)의 제품 품질을 광학 및 전기 모니터링하고 및/또는 광학적 및 전기적 성질을 판단하는 본 발명 실시예(도1a 및 도1b)의 시험장비(1)는, 시험장비(1)의 시험구역에 위치한 태양전지(2)를 검사하는 광학 점검장치(3, 3', 3")를 구비하고, 그리고 그외로, 본원의 예를 든 실시예에서는, 태양전지(2)의 표면에 인쇄 전도체 요소의 보정 및 완전성을 광학 모니터링하고, 태양전지(2)의 색상과 형상을 보정하기 위해 점검하고, 그리고 인쇄 전도체 요소에 위치한 예를 들어 분할기 또는 다른 외부 몸체를 3차원적 광학 모니터링하는 작업을 갖는다. 또한, 시험장비(1)의 시험구역에는 태양전지(2)의 전기적 기능을 모니터링하는 전기 점검장치(4)가 배치된다. 시험장비는, 태양전지(2)의 감광면에 빛을 빛나게 하는 조명장치(5)와, 태양전지(2)의 전기 접촉부에 전압 및/또는 전류를 포착하는 전기 접촉장치(6)를 구비한다. 상기 조명장치(5)는 시험구역을 통과하면서 점검을 받는 태양전지 위에 위치하고 그리고 전기 접촉장치(6)는 태양전지 아래 및/또는 위에 위치한다.
조사를 받는 태양전지(2)는 제1이송장치에 의해 시험구역으로 전달되고, 제2이송장치에 의해 시험구역 내에서 이동하며, 그리고 끝으로 제3이송장치에 의해 시험구역 밖으로 이송된다. 본 발명에 의거, 상기 3개 이송장치는 공동 선형 이송벨트 시스템(7)을 구비하며, 상기 이송벨트 시스템은 예를 든 실시예에서, 1개 태양전지의 길이보다 짧게 3차원적으로 서로 이격분리되고 이송방향으로 연속적으로 복수의 동기 구동식 벨트 세그먼트(7a...7c)로 구성되고; 상기 벨트 세그먼트의 각각의 길이는 1개 태양전지(2)의 길이의 배수가 되며 그리고, 운전 중에, 1개 벨트 세그먼트의 끝에 도달하는 태양전지(2)는 후속하는 벨트 세그먼트의 개시부로 전달되고 그리고 최종 벨트 세그먼트(7c)에서 분류기(8)로 전달되어, 점검 측정결과에 기본하여 다양한 품질의 등급으로 태양전지를 배치한다.
이송벨트 시스템(7)은 도면에 상세하게 도시하지 않은 진공 흡인기를 구비하여 태양전지(2)를 이송벨트 시스템의 표면에 유지한다. 따라서, 이송되는 태양전지(2)가 어긋나는 것을 방지하는 고정방식으로 유지함에 더하여 생성되는 파형 또는 불규칙함을 완만하게 하여, 특히 광학 모니터링 작업이 광학 점검장치(3, 3', 3")에서의 문제를 갖지 않고 행하여지게 된다.
이송벨트 시스템(7)의 이송벨트 구조를 명료한 설명을 위해 도면에 상세하게 나타내지 않고 개략적으로 도시하였다. 양호하게, 이송벨트는 이송방향에 대해 평행하게 연장하는 3개의 병렬 벨트를 구비하며, 그 중에서 적어도 중간의 1개 벨트는 벨트 면 쪽으로 개방되고 진공 흡인기와 소통하는 트인구멍을 가진다. 벨트에 있는 틈을 통해서, 특히 전기 접촉장치(6)가, 점검을 받으며 그 밑으로부터 지나가는 태양전지(2)를 파지한다. 조정을 하기 위해서, 이송벨트 시스템(7)의 병렬 벨트가 이송방향으로 서로 독립적으로 동작할 수도 있다
광학 점검장치(3)는 구역 스캐닝 카메라(9)를 구비한다. 상기 카메라는 연속 벨트 세그먼트(7a, 7b)사이 틈에 배치되고, 일 위치에서, 표시기(indicator)가 상세하게 나타내지 않은 방출장치(discharge device)와 상호 작용하여 적층부에 공급되는 태양전지(2)를 분리 한다.
또한, 광학 점검장치(3')도, 라인 스캐닝 카메라(9')를 가진 부분(및 다른 실시예에서도 벨트에 있는 틈에 위치)을 구비한다. 또한, 광학적 점검장치(3")의 다음 부분에서, 라인 스캐닝 카메라(9")가 카메라를 지나가는 특정 태양전지(2)의 면을 광학적으로 스캐닝하기 위해 제공된다.
태양전지(2)의 광학 및 전기 점검작업은 태양전지의 이송동작을 연속적으로 멈추지 않고 실시하는 벨트동작으로 행해진다. 끝(end)으로(도면에 상세히 도시 않음), 전기 점검장치(4)와 특정 접촉장치(6)는, 통과하는 태양전지(2)의 전기적 기능을 점검하는 작업이, 임의 부분에서, 태양전지와 함께 이동하며 그리고 상기 부분을 통과한 후에 자동적으로 그 처음 위치로 복귀하는 접촉에 의해 행해지도록 설계된다. 선택적으로, 전기 점검작업은 각각의 경우에서 이송장치의 2개 이송 기간 사이에 정지 기간에서 시계 모양(clocked fashion)으로 행해진다,
도2에 개략적으로 도시된 종래기술의 시험장비는, 공급된 태양전지(2)가 이송벨트로 설계된 제1이송장치(11)로부터 취해지고 인덱싱 턴테이블(12)로서 설계된 제2이송장치로 전달하는 로보트 아암(10)을 구비한다. 인덱싱 턴테이블(12)은 시계 모양으로 점검을 받게 되는 태양전지(2)를 각각 개략적으로 도시한 광학 및 전기 측정역(measurement stations)으로 전달한다. 측정을 끝낸 후, 점검 태양전지(2)가 인덱싱 턴테이블(12)에 적용역(applicable station)으로부터 로보트 아암(10)에 의해 취해져서, 태양전지를 분류기(14)로 이동하는 전달 벨트(13)로 설계된 제3이송장치로 전달되며, 점검 후에 태양전지에 부여된 품질등급에 따라서 부가 공정으로 또는 선적용으로 보내진다.
본 발명은 상술된 요소의 각각 또는 2개 이상을 함께하여 상술된 타입과는 다른 구조의 다른 타입에 유용하게 적용할 수 있는 것이다.
따라서, 상술된 내용은 본 발명의 포괄적인 면 또는 특정한 면의 기본 특징들로 구성된, 종래기술의 면과는 다른 특징들을 가진 적용물에 예를 들어 실시하여 이루어진 것을 기술한 것이다. 그러므로, 상기 설명은 본 발명이 태양전지용 시험장비에서 실시되는 것으로 기술되었지만, 본 발명이 상술된 기술에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 정신으로부터 이탈하지 않는 범위 내에서 이루어지는 다양한 변경 및 구조 변경으로 만들어진 것을 포함하는 것이다.

Claims (18)

  1. 태양전지(2)의 제품 품질을 광학 및 전기 모니터링하여 광학적 및 전기적 성질을 판단하는 시험장비(1)에 있어서, 상기 시험장비는:
    시험구역으로 태양전지(2)를 이송하는 제1이송장치와; 시험구역을 통해 태양전지(2)를 이동시키는 제2이송장치와; 시험구역 밖으로 태양전지(2)를 이송하는 제3이송장치와; 태양전지의 점검을 시각적으로 하는 시험구역에 위치한 광학 점검장치(3, 3', 3") 및; 태양전지(2)의 전기적 기능을 점검하기 위해 시험구역에 위치한 전기 점검장치(4)를 포함하며;
    상기 전기 점검장치(4)는 태양전지의 감광면에 빛을 반짝이게 하는 조명장치(5)를 구비하며 그리고 태양전지(2)의 전기적 접촉부에 전압 및 전류를 포착하는 전기 접촉장치(6)도 구비하고; 상기 제1, 제2, 제3이송장치는, 시험구역을 통해 지나가며 이송벨트 시스템(7)의 표면 상에 태양전지(2)를 유지하는 진공 흡인기를 가진 공동 선형 이송벨트 시스템(7)을 구비하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  2. 제1항에 있어서, 상기 이송벨트 시스템은 태양전지(2)에 상기 이송벨트 시스템(7)에서 상방향으로 대면한 감광면이 놓여지게 배열 설치되고, 상기 전기 점검장치(4)의 조명장치(5)는 시험구역에 이송벨트 시스템(7) 위에 장착되고, 상기 전기 접촉장치(6)는 상기 이송벨트 시스템(7) 위와 아래에 장착되는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  3. 제1항에 있어서, 상기 이송벨트 시스템(7)은 이송방향에 대해 평행하게 연장하는 2개 이상의 병렬 벨트를 구비하고, 상기 벨트 중의 적어도 1개는 벨트 면을 향하는 방향으로 개방되고 상기 진공흡인기와 소통하는 트인구멍을 갖는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  4. 제3항에 있어서, 상기 병렬벨트는 상기 이송벨트 시스템(7)의 이송방향에 대해 교차하는 방향으로 서로 이격 분리된 것을 특징으로 하는 시험장비.
  5. 제4항에 있어서, 시험구역에 있는 상기 전기 점검장치(4)의 접촉장치(6)의 적어도 일부분은 상기 이송벨트 시스템(7) 밑에 병렬 벨트 사이 틈에 위치하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  6. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이송벨트 시스템(7)은, 상기 이송벨트 시스템이 3개 병렬 벨트를 가지도록 제3병렬 벨트를 구비하고, 상기 3개 병렬 벨트 중의 적어도 중간것 하나는 벨트 면을 향하는 방향으로 개방되고 상기 진공흡인기와 소통하는 트인구멍을 구비하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  7. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 병렬 벨트는 벨트 면을 향하는 방향으로 개방되고 상기 진공흡인기와 소통하는 트인구멍을 구비하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  8. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 진공흡인기와 소통하는 트인구멍은 상기 벨트의 각각의 하나의 면에 걸쳐 균일하게 분포되는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  9. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이송벨트 시스템(7)의 병렬 벨트는 공동 구동되지만, 조정을 목적으로 이송방향으로 서로 독립적으로 동작 가능한 것을 특징으로 하는 시험장비.
  10. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이송벨트 시스템(7)은 이송방향으로 연속적으로 있는 복수의 벨트 세그먼트(7a,...,7c)를 구비하고, 각각의 벨트 세그먼트는 1개 태양전지(2)의 길이의 배수인 길이를 가지고, 운전 중에, 벨트 세그먼트의 각각의 하나의 끝에 도달하는 태양전지(2)는 상기 벨트 세그먼트의 연속한 1개의 개시부로 전달되고 그리고 상기 벨트 세그먼트의 최종 1개로부터, 부가 장치로 전달되고, 상기 부가 장치는 분류기(8)로서 형성된 것을 특징으로 하는 시험장비.
  11. 제10항에 있어서, 상기 벨트 세그먼트(7a,...,7c)는 동기적으로 구동되는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  12. 제10항에 있어서, 상기 연속 벨트 세그먼트(7a,...,7c)는 1개 태양전지의 길이보다 작게 이송방향으로 서로 3차원적으로 이격 분리된 것을 특징으로 하는 시험장비.
  13. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학 점검장치(3)는 1개 이상의 라인 스캐닝 카메라(9', 9")를 구비하고, 상기 1개 이상의 라인 스캐닝 카메라는 위로부터 상기 이송벨트 시스템(7)을 통과하는 태양전지(2)를 스캔하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  14. 제13항에 있어서, 상기 라인 스캐닝 카메라(9', 9")는 상기 이송벨트 시스템(7)의 이동속도와 동기하여 동작하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  15. 제13항에 있어서, 상기 라인 스캐닝 카메라(9', 9")는 이송벨트 시스템의 연속 벨트 세그먼트(7a,...,7c) 사이 틈에 위치하는 것을 특징으로 하는 시험장비.
  16. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학 점검장치(3, 3', 3")는 태양전지(2)의 시각 점검작업이 상기 이송벨트 시스템(7)을 작동하여 운전되도록 구조된 것을 특징으로 하는 시험장비.
  17. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전기 점검장치(4)는 태양전지(2)의 전기적 기능을 점검하는 작업이, 각각의 경우에서 상기 이송장치의 2개 이송기간 사이에 정지기간에서, 시계 모양으로 행해질 수 있도록 구조된 것을 특징으로 하는 시험장비.
  18. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전기 접촉장치(6)는 이동 태양전지(2)와 단속적으로 이동하는 접촉부를 가지고, 상기 접촉부는 일 부분을 통과한 후에 자동적으로 처음 위치로 복귀하며, 상기 전기 점검장치(4)는 태양전지(2)의 전기적 기능을 점검하는 작업이 이송벨트 시스템(7)을 작동하여 운전할 수 있도록 구조된 것을 특징으로 하는 시험장비.
KR1020050097253A 2004-10-16 2005-10-15 태양전지 시험장비 KR100673138B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004050463.6 2004-10-16
DE102004050463A DE102004050463B3 (de) 2004-10-16 2004-10-16 Testsystem für Solarzellen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060054028A KR20060054028A (ko) 2006-05-22
KR100673138B1 true KR100673138B1 (ko) 2007-01-22

Family

ID=35510988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050097253A KR100673138B1 (ko) 2004-10-16 2005-10-15 태양전지 시험장비

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7671620B2 (ko)
EP (1) EP1647827A1 (ko)
KR (1) KR100673138B1 (ko)
CN (1) CN100504422C (ko)
DE (1) DE102004050463B3 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101020908B1 (ko) 2009-09-30 2011-03-09 엘지이노텍 주식회사 태양전지 모듈 및 이의 오류를 검출하는 방법
US9595913B2 (en) 2009-09-30 2017-03-14 Lg Innotek Co., Ltd. Solar cell apparatus

Families Citing this family (107)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8664030B2 (en) 1999-03-30 2014-03-04 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
DE10239845C1 (de) * 2002-08-29 2003-12-24 Day4 Energy Inc Elektrode für fotovoltaische Zellen, fotovoltaische Zelle und fotovoltaischer Modul
EP1710589A1 (en) * 2005-03-30 2006-10-11 VA TECH Transmission & Distribution SA Optical sensor arrangement for electrical switchgear
US20070068567A1 (en) * 2005-09-23 2007-03-29 Rubin Leonid B Testing apparatus and method for solar cells
US9236512B2 (en) 2006-04-13 2016-01-12 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8884155B2 (en) 2006-04-13 2014-11-11 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8822810B2 (en) 2006-04-13 2014-09-02 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8729385B2 (en) 2006-04-13 2014-05-20 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US9865758B2 (en) 2006-04-13 2018-01-09 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US9006563B2 (en) 2006-04-13 2015-04-14 Solannex, Inc. Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
DE102006037586A1 (de) * 2006-08-11 2008-02-28 Solarwatt Ag Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung der Stromflussverteilung in Solarzellen und Solarmodulen
US20080092944A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-24 Leonid Rubin Semiconductor structure and process for forming ohmic connections to a semiconductor structure
US20080290368A1 (en) * 2007-05-21 2008-11-27 Day4 Energy, Inc. Photovoltaic cell with shallow emitter
ITUD20070196A1 (it) * 2007-10-24 2009-04-25 Baccini S P A Magazzino automatico e procedimento per lo stoccaggio di piastre di circuiti elettronici
US7667479B2 (en) * 2007-10-31 2010-02-23 Atomic Energy Council Apparatus for testing concentration-type solar cells
US20100275976A1 (en) * 2007-12-18 2010-11-04 Day4 Energy Inc. Photovoltaic module with edge access to pv strings, interconnection method, apparatus, and system
US8138782B2 (en) * 2008-01-10 2012-03-20 Applied Materials, Inc. Photovoltaic cell solar simulator
CN101990481A (zh) * 2008-04-10 2011-03-23 应用材料股份有限公司 激光切割平台
CN101990480A (zh) * 2008-04-10 2011-03-23 应用材料股份有限公司 激光刻划平台与杂合书写策略
TW201006598A (en) * 2008-04-11 2010-02-16 Applied Materials Inc Laser scribe inspection methods and systems
TW201000243A (en) * 2008-04-11 2010-01-01 Applied Materials Inc Dynamic scribe alignment for laser scribing, welding or any patterning system
US8049521B2 (en) * 2008-04-14 2011-11-01 Applied Materials, Inc. Solar parametric testing module and processes
US20090314752A1 (en) * 2008-05-14 2009-12-24 Applied Materials, Inc. In-situ monitoring for laser ablation
DE102008024000A1 (de) 2008-05-18 2009-12-17 Jonas & Redmann Automationstechnik Gmbh Verfahren zum Festhalten von flachem Transportgut an der Transportfläche eines Bandriemens eines Transportbandes
US20090308426A1 (en) * 2008-06-11 2009-12-17 Kent Kernahan Method and apparatus for installing, testing, monitoring and activating power generation equipment
US7981778B2 (en) * 2009-07-22 2011-07-19 Applied Materials, Inc. Directional solid phase crystallization of thin amorphous silicon for solar cell applications
US8293568B2 (en) * 2008-07-28 2012-10-23 Day4 Energy Inc. Crystalline silicon PV cell with selective emitter produced with low temperature precision etch back and passivation process
GB0814406D0 (en) * 2008-08-06 2008-09-10 G24 Innovations Ltd Testing photovoltaic transducers
CN103537811A (zh) 2008-08-26 2014-01-29 应用材料公司 激光材料移除方法和设备
US20100073011A1 (en) * 2008-09-23 2010-03-25 Applied Materials, Inc. Light soaking system and test method for solar cells
DE102008048834A1 (de) * 2008-09-25 2010-04-08 Schulz Systemtechnik Gmbh Vorrichtung zum Prüfen von Solarzellen
WO2010059595A2 (en) * 2008-11-19 2010-05-27 Applied Materials, Inc. Laser-scribing tool architecture
GB0821146D0 (en) 2008-11-19 2008-12-24 Univ Denmark Tech Dtu Method of testing solar cells
DE102008059793A1 (de) 2008-12-01 2010-06-10 Grenzebach Maschinenbau Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum vollautomatischen Selektieren und Verpacken von photovoltaischen Modulen
US20100212358A1 (en) * 2009-02-26 2010-08-26 Applied Materials, Inc. Glass substrate orientation inspection methods and systems for photo voltaics production
DE102009012021B4 (de) * 2009-03-10 2011-02-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messvorrichtung zur elektrischen Vermessung einer einseitig an einer Messseite elektrisch kontaktierbaren Messstruktur
US8333843B2 (en) * 2009-04-16 2012-12-18 Applied Materials, Inc. Process to remove metal contamination on a glass substrate
US20100269853A1 (en) * 2009-04-27 2010-10-28 Applied Materials, Inc. Debris-extraction exhaust system
KR101011493B1 (ko) * 2009-06-09 2011-01-31 (유)에스엔티 태양전지 제조 공정시스템
WO2010144778A2 (en) * 2009-06-12 2010-12-16 Applied Materials, Inc. Methods and systems for laser-scribed line alignment
US20100330711A1 (en) * 2009-06-26 2010-12-30 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for inspecting scribes in solar modules
EP2284520A1 (en) * 2009-07-28 2011-02-16 David Marcos Muntal Assembly for the inspection in a continuous manner of cells, strings and photovoltaic modules and inspection method thereof
US20110132884A1 (en) * 2009-08-06 2011-06-09 Applied Materials, Inc. Laser modules and processes for thin film solar panel laser scribing
DE112010003736T5 (de) * 2009-08-06 2013-02-28 Applied Materials, Inc. Ritzen von quer verlaufenden ISO-Linien, verknüpfen, und vereinfachte Laser- und Scannersteuerungen
KR20120061865A (ko) * 2009-08-06 2012-06-13 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 향상된 수율을 갖는 박막 레이저 스크라이빙을 위한 방법들 및 관련 시스템들
WO2011017570A2 (en) * 2009-08-06 2011-02-10 Applied Materials, Inc. In-line metrology methods and systems for solar cell fabrication
US8228088B1 (en) 2009-08-07 2012-07-24 Brett Hinze Automated solar module testing
IT1395561B1 (it) * 2009-09-03 2012-09-28 Applied Materials Inc Apparato di collaudo e relativo procedimento
US20110065227A1 (en) * 2009-09-15 2011-03-17 Applied Materials, Inc. Common laser module for a photovoltaic production line
DE102009049705B3 (de) * 2009-10-18 2011-05-12 Harrexco Ag Prüfvorrichtung für eine Photovoltaikmodulplatte, Prüfmittel sowie Verfahren zur Prüfung
CN101976698B (zh) * 2009-10-30 2012-04-04 浙江正泰太阳能科技有限公司 I-v曲线异常太阳能电池组件中问题电池片的定位方法和修复方法
US20110139755A1 (en) * 2009-11-03 2011-06-16 Applied Materials, Inc. Multi-wavelength laser-scribing tool
US20110140726A1 (en) * 2009-11-23 2011-06-16 Applied Materials, Inc. Apparatus and Methods for Measuring Solar Cell Module Performance
NL2003936C2 (nl) * 2009-12-10 2011-06-14 Eurotron B V Werkwijze en inrichting voor het vervaardigen van zonnepaneel onder gebruikmaking van een drager.
US9525381B2 (en) * 2011-09-26 2016-12-20 First Solar, Inc. Method and apparatus for electrically accessing photovoltaic modules
DE202010000325U1 (de) * 2010-03-05 2011-08-26 Kuka Systems Gmbh Serviceeinrichtung
DE202010000365U1 (de) 2010-03-12 2011-08-30 Kuka Systems Gmbh Prüfeinrichtung
CN102201499A (zh) * 2010-03-25 2011-09-28 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 电气处理装置及方法、以及探测单元
CN102384913A (zh) * 2010-09-02 2012-03-21 致茂电子(苏州)有限公司 太阳能晶圆位置校准装置及具有该检测装置的检测机台
WO2012051695A1 (en) * 2010-10-18 2012-04-26 Day4 Energy Inc. Testing apparatus for photovoltaic cells
US8677929B2 (en) * 2010-12-29 2014-03-25 Intevac, Inc. Method and apparatus for masking solar cell substrates for deposition
KR101053065B1 (ko) * 2011-03-30 2011-08-01 한명전기주식회사 정션박스가 형성된 태양전지판
US9863890B2 (en) * 2011-06-10 2018-01-09 The Boeing Company Solar cell testing apparatus and method
JP5983606B2 (ja) * 2011-06-14 2016-08-31 コニカミノルタ株式会社 電子デバイス検査装置及び電子デバイスの検査方法
WO2013028196A1 (en) 2011-08-25 2013-02-28 Alliance For Sustainable Energy, Llc On-line, continuous monitoring in solar cell and fuel cell manufacturing using spectral reflectance imaging
CN102788938A (zh) * 2012-06-29 2012-11-21 苏州晟成新能源科技有限公司 显示屏可转动的绝缘测试机
CN102721908A (zh) * 2012-06-29 2012-10-10 苏州晟成新能源科技有限公司 具有识别功能的绝缘测试机
CN102788941A (zh) * 2012-06-29 2012-11-21 苏州晟成新能源科技有限公司 具有对中装置的绝缘测试机
CN102788940A (zh) * 2012-06-29 2012-11-21 苏州晟成新能源科技有限公司 输送宽度可调的绝缘测试机
CN102788939B (zh) * 2012-06-29 2015-07-08 苏州晟成新能源科技有限公司 输送长度可调的绝缘测试机
DE102012017564B4 (de) * 2012-09-05 2018-10-11 Universität Konstanz Vorrichtung zur nicht-permanenten elektrischen Kontaktierung von Solarzellen zur Messung elektrischer Eigenschaften
WO2014050069A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 三洋電機株式会社 太陽電池モジュールの製造方法、及び太陽電池モジュールの製造システム
US10090430B2 (en) 2014-05-27 2018-10-02 Sunpower Corporation System for manufacturing a shingled solar cell module
US8952715B2 (en) * 2012-11-14 2015-02-10 Stratasense LLC Wireless current-voltage tracer with uninterrupted bypass system and method
CN103344900B (zh) * 2013-07-03 2016-09-07 英利能源(中国)有限公司 光伏电池板电性能测试、数据处理及放置分选方法及设备
CN103399246B (zh) * 2013-08-29 2015-12-23 烟台市牟平海联联合有限责任公司 一种电池片电性能自动检测及分类控制系统
CN103675679B (zh) * 2013-12-05 2016-08-31 上海电机系统节能工程技术研究中心有限公司 一种用于电机全自动出厂试验系统的输送辊道
US11942561B2 (en) 2014-05-27 2024-03-26 Maxeon Solar Pte. Ltd. Shingled solar cell module
CN108091705B (zh) * 2014-05-27 2019-07-02 太阳能公司 叠盖式太阳能电池模块
CN109346538B (zh) * 2014-05-27 2022-11-29 迈可晟太阳能有限公司 叠盖式太阳能电池模块
US11482639B2 (en) 2014-05-27 2022-10-25 Sunpower Corporation Shingled solar cell module
CN104085656A (zh) * 2014-06-30 2014-10-08 昆山爱都思电子科技有限公司 同时搬送复数测试循环式自动检查系统
TWI702732B (zh) 2014-10-20 2020-08-21 加拿大商奧羅拉太陽能技術(加拿大)有限公司 量測資料對生產工具位置及處理批次或時間的映射
US10861999B2 (en) 2015-04-21 2020-12-08 Sunpower Corporation Shingled solar cell module comprising hidden tap interconnects
CN104914379B (zh) * 2015-05-07 2017-08-25 浙江工商大学 一种基于动态优化的回流式全自动电池配组系统
CN104880674B (zh) * 2015-05-14 2018-01-19 苏州大源自动化科技股份有限公司 一种电池在线检测装置
CN106340563B (zh) * 2015-07-09 2017-10-10 英稳达科技股份有限公司 太阳能电池的制作方法
CN105259499B (zh) * 2015-10-30 2018-08-14 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 直线式循环往复的自动化测试设备
CN105632957A (zh) * 2015-12-22 2016-06-01 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种电池片的测试方法及装置
CN105719984A (zh) * 2016-02-22 2016-06-29 成都振中电气有限公司 太阳能电池性能检测系统
CN105632966A (zh) * 2016-03-28 2016-06-01 成都振中电气有限公司 太阳能电池片表面缺陷检测系统
CN108010983A (zh) * 2016-10-31 2018-05-08 无锡市瑞能科技有限公司 基于线扫描的电池片集成检测模块
US10480935B2 (en) 2016-12-02 2019-11-19 Alliance For Sustainable Energy, Llc Thickness mapping using multispectral imaging
DE102016224767B4 (de) * 2016-12-13 2019-08-08 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts
CN108263848B (zh) * 2016-12-30 2019-07-16 中国科学院沈阳自动化研究所 一种电芯自动上料装置
CN109088597A (zh) * 2018-08-02 2018-12-25 海宁奇瑞特光电有限公司 一种可回收利用热量的光伏组件及其制造方法
KR102626124B1 (ko) * 2018-11-13 2024-01-18 한국전력공사 태양전지 평가 장치
CN109828545B (zh) * 2019-02-28 2020-09-11 武汉三工智能装备制造有限公司 Ai智能过程异常识别闭环控制方法、主机及装备系统
CN109926341A (zh) * 2019-03-26 2019-06-25 武汉大学 硅光伏电池扫描涡流热成像检测平台及缺陷分类方法
CN111865215A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 一种太阳能电池片的检测装置及方法
CN110665853A (zh) * 2019-09-20 2020-01-10 珠海冠宇电源有限公司 全自动笔电上料测试分选储存一体机
DE102020102494A1 (de) 2020-01-31 2021-08-05 Heliatek Gmbh Verfahren zum Überprüfen eines photovoltaischen Elements, sowie ein photovoltaisches Element,überprüft nach einem solchen Verfahren
CN112444695B (zh) * 2020-11-11 2022-06-28 安徽锦希自动化科技有限公司 一种电气自动化设备的检测装置
CN112466768B (zh) * 2020-11-12 2022-05-24 东营大海科林光电有限公司 一种光伏电池板的检测装置及检测方法
DE102022116102A1 (de) 2022-06-28 2023-12-28 Wavelabs Solar Metrology Systems Gmbh Solarzellentestvorgang, solarzellenproduktionsvorgang, solarzellentestanlage und solarzellenproduktionsanlage
DE102022116064A1 (de) 2022-06-28 2023-12-28 Wavelabs Solar Metrology Systems Gmbh Solarzellenproduktionsvorgang und solarzellenproduktionsanlage
CN115931060B (zh) * 2023-03-13 2023-06-13 国网山西省电力公司晋中供电公司 一种具有报警功能的蓄电池监控装置

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3812947A (en) * 1969-07-29 1974-05-28 Texas Instruments Inc Automatic slice processing
CA931024A (en) * 1970-12-19 1973-07-31 H. Prange Bernard Method and apparatus for silk screening a pattern on an underlying substrate
AU2095083A (en) * 1982-11-09 1984-05-17 Energy Conversion Devices Inc. Laminated strip of large area solar cells
US4561541A (en) * 1983-09-26 1985-12-31 Spectrolab, Incorporated Carrier system for photovoltaic cells
US5460659A (en) * 1993-12-10 1995-10-24 Spectrolab, Inc. Concentrating photovoltaic module and fabrication method
JP2788604B2 (ja) * 1994-06-20 1998-08-20 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 2次元情報パターンを有する情報表示タグ、それを用いた画像処理方法及び画像処理装置
KR100217006B1 (ko) * 1995-10-17 1999-09-01 미따라이 하지메 에칭 방법, 이 에칭 방법을 사용한 반도체 소자의 제조 방법 및 이 에칭 방법의 실시에 적합한 장치
JPH09289241A (ja) * 1996-04-22 1997-11-04 Shinkawa Ltd ウェーハ搬送装置
US6183186B1 (en) * 1997-08-29 2001-02-06 Daitron, Inc. Wafer handling system and method
US6362020B1 (en) * 1998-01-30 2002-03-26 Canon Kabushiki Kaisha Process of forming deposited film, process of producing semiconductor element substrate, and process of producing photovoltaic element
JPH11238897A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Canon Inc 太陽電池モジュール製造方法および太陽電池モジュール
US6154034A (en) * 1998-10-20 2000-11-28 Lovelady; James N. Method and apparatus for testing photovoltaic solar cells using multiple pulsed light sources
JP2001091567A (ja) * 1999-09-21 2001-04-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 太陽電池評価装置
US6944324B2 (en) * 2000-01-24 2005-09-13 Robotic Vision Systems, Inc. Machine vision-based singulation verification system and method
US6359212B1 (en) * 2000-07-13 2002-03-19 Trw Inc. Method for testing solar cell assemblies and second surface mirrors by ultraviolet reflectometry for susceptibility to ultraviolet degradation
JP4461625B2 (ja) * 2001-03-13 2010-05-12 富士電機ホールディングス株式会社 太陽電池セル特性の連続自動測定方法および装置
US6657447B1 (en) * 2001-07-31 2003-12-02 Xilnx, Inc. Liquid crystal method to localize metal short on multi-layer metal CMOS process
JP3809353B2 (ja) * 2001-08-02 2006-08-16 キヤノン株式会社 Id付き加工物の製造方法
JP2003065727A (ja) * 2001-08-28 2003-03-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 透過膜厚計測装置及びそれを備えた製膜装置
US6798515B1 (en) * 2001-11-29 2004-09-28 Cognex Technology And Investment Corporation Method for calculating a scale relationship for an imaging system
US6731127B2 (en) * 2001-12-21 2004-05-04 Texas Instruments Incorporated Parallel integrated circuit test apparatus and test method
US6590408B1 (en) * 2002-05-29 2003-07-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Microelectronic fabrication electrical test apparatus and method providing enhanced electrical test accuracy
JP2004134748A (ja) * 2002-07-26 2004-04-30 Canon Inc 光電変換素子の測定方法および装置、光電変換素子の製造方法及び製造装置
US6841725B2 (en) * 2002-08-13 2005-01-11 David F. Fortuna Measure minder

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101020908B1 (ko) 2009-09-30 2011-03-09 엘지이노텍 주식회사 태양전지 모듈 및 이의 오류를 검출하는 방법
US9595913B2 (en) 2009-09-30 2017-03-14 Lg Innotek Co., Ltd. Solar cell apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR20060054028A (ko) 2006-05-22
CN100504422C (zh) 2009-06-24
DE102004050463B3 (de) 2006-04-20
CN1769920A (zh) 2006-05-10
US20060103371A1 (en) 2006-05-18
EP1647827A1 (de) 2006-04-19
US7671620B2 (en) 2010-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100673138B1 (ko) 태양전지 시험장비
US10168234B2 (en) Intelligent test device for floor panels
KR101707220B1 (ko) 배터리 검사용 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 배터리 검사 방법
KR100745586B1 (ko) 전지 검사장치
KR20150110327A (ko) 가요성 기판 검사 장치
KR101866942B1 (ko) 배터리 셀 검사장치
KR101454823B1 (ko) 외관 검사 장치
KR102312730B1 (ko) 배터리 외관 검사 시스템
CN108445263A (zh) 自动检测装置
TWI712807B (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
CN209859197U (zh) 印刷图像检测设备和图像印刷流水线设备
CN112620137A (zh) 一种工件的精度检测设备
CN209279820U (zh) 汽车零部件孔位置度自动检测装置
US20120249172A1 (en) Alignment system for electronic device testing
KR100970765B1 (ko) 와이어링하네스의 자동검사기
CN112740388A (zh) 将电子元件从第一载体转移到第二载体
KR101496994B1 (ko) 휴대폰 부품의 후면 검사장치
CN100459086C (zh) 一种测试电子元件的装置和方法
WO2018051366A1 (en) System and method for inspecting manufactured products.
KR101855885B1 (ko) 전자부품 분류장치 및 전자부품 분류장치의 프로브유닛
CN206293457U (zh) 用于处理太阳能电池的设备和用于制造太阳能电池的系统
CN112517442B (zh) 一种检测设备
CN111495768A (zh) 一种全自动变压器特性检测分拣一体机
EP3316318A1 (en) Apparatus for processing of solar cells, system for the manufacture of solar cells, and method for testing solar cells
CN221063612U (zh) 一种smt贴片用质量检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121211

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131129

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150112

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151210

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161222

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee