JPS62136885A - 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置 - Google Patents
光起電力素子、その製造方法及びその製造装置Info
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- JPS62136885A JPS62136885A JP60277004A JP27700485A JPS62136885A JP S62136885 A JPS62136885 A JP S62136885A JP 60277004 A JP60277004 A JP 60277004A JP 27700485 A JP27700485 A JP 27700485A JP S62136885 A JPS62136885 A JP S62136885A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、太陽電池等の光起電力素子、その製造方法及
びその製造方法を実施するのに適した製造装置に関する
。
びその製造方法を実施するのに適した製造装置に関する
。
従来、光起電力素子として、基体上に、シリフン原子を
母体とする非晶質材料、いわゆるアモルファスシリコン
(以後、「a SiJ と表記する。)で構成された
光電変換層を有するものが知られている。
母体とする非晶質材料、いわゆるアモルファスシリコン
(以後、「a SiJ と表記する。)で構成された
光電変換層を有するものが知られている。
こうした光起電力素子の光電変換層Tt構成するa−8
1膜の形成方法についてもいくつか提案されており、真
空蒸着法、イオンブレーティング法、反応性スバ、タリ
ング法、熱OVD法、プラズマ反応法、光OVD法等が
あり、中でもプラズマOVD法は至適なものとして実用
に付され、一般に広く知られている。
1膜の形成方法についてもいくつか提案されており、真
空蒸着法、イオンブレーティング法、反応性スバ、タリ
ング法、熱OVD法、プラズマ反応法、光OVD法等が
あり、中でもプラズマOVD法は至適なものとして実用
に付され、一般に広く知られている。
ところで、従来のa −81で構成される光電変換層は
、例えばプラズマ反応法により得られるものは特性発現
性に富み一応満足のゆくものとされてはいるものの、そ
れであっても、確固たる当該製品の成立に要求される、
電気的、光学的、光導電特性、繰返し使用についての耐
疲労特性、使用環境特性の点、経時的安定性および耐久
性の点、そして更に均質性の点の全ての点を総じて満足
せしめる、という課題を解決Tるには未だ問題のある状
態のものである。その原因は、目的とする光電変換層が
、使用する材料もさることながら、単純な層堆積操作で
得られるという類のものではなく、就中の工程操作に熟
練的工夫が必要とされるところが大きい。
、例えばプラズマ反応法により得られるものは特性発現
性に富み一応満足のゆくものとされてはいるものの、そ
れであっても、確固たる当該製品の成立に要求される、
電気的、光学的、光導電特性、繰返し使用についての耐
疲労特性、使用環境特性の点、経時的安定性および耐久
性の点、そして更に均質性の点の全ての点を総じて満足
せしめる、という課題を解決Tるには未だ問題のある状
態のものである。その原因は、目的とする光電変換層が
、使用する材料もさることながら、単純な層堆積操作で
得られるという類のものではなく、就中の工程操作に熟
練的工夫が必要とされるところが大きい。
因みに、例えば、いわゆる熱(:!Vl)法の場合、硅
素系気体材料を希釈した後いわゆる不純物2混入し、つ
いで500〜650℃といった高温で熱分解することか
ら、所望のa−81膜を形成するについては緻密な工程
操作と制御が要求され、ために装置も複雑となって可成
りコスト高のものとなるが、そうしたところで均質にし
て前述したような所望の特性を具有するa −31で構
成される光電変換@を定常的に得ることは極めてむずか
しく、シたがって工業的規模には採用し難いものである
。
素系気体材料を希釈した後いわゆる不純物2混入し、つ
いで500〜650℃といった高温で熱分解することか
ら、所望のa−81膜を形成するについては緻密な工程
操作と制御が要求され、ために装置も複雑となって可成
りコスト高のものとなるが、そうしたところで均質にし
て前述したような所望の特性を具有するa −31で構
成される光電変換@を定常的に得ることは極めてむずか
しく、シたがって工業的規模には採用し難いものである
。
また、前述したところの、至適な方法として一般に広く
用いられているプラズマの法であっても、工程操作上の
いくつかの間層、そしてまた設備投資上の問題が存在す
る。工程操作については、その条件は前述の熱OVD法
よりも更に接離であり、−膜化するには至難のものであ
る。部ち、例えば、基体温度、導入ガスの流量並びに流
量比、層形成時の圧力、高周波電力、電極構造、反応容
器の構造、排気速度、プラズマ発生方式の相互関係のパ
ラメーターをとってみても既に多くのパラメーターが存
在し、この他にもパラメーターが存在するわけであって
、所望の製品な得るについては厳密なパラメーターの選
択が必要とされ、そして厳密に選択されたパラメーター
であるが故に、その中の13)の構成因子、とりわけそ
れがプラズマであって、不安定な状態になったりでもす
ると形成される膜は著しい悪影響を受けて製品として成
立し得ないものとなる。そして装置については、上述し
たように厳密なパラメーターの選択が必要とされること
から、構造はおのずと複雑なものとなり、装置規模、種
類が変れば個々に厳選されたパラメーターに対応し得る
ように設計しなければならない・こつしたことから、プ
ラズマOVD法については、それが今のところ至適な方
法とされてはいるものの、上述したことから、所望のa
−81膜を量産するとなれば装置に多大の設備投資が必
要となり、そうしたところで尚量産のための工程管理項
目は多く且つ複雑であり、工程管理許容幅は狭く、そし
てまた装置調整が微妙であることから、結局は製品をか
なりコスト高のものにしてしまう等の問題がある0また
一方には、光起電力素子は多様化してきており、前述の
各種特性等の要件を総じて満足するとともに、適用対象
、重速に相応し、そして場合によってはそれが大面積化
されたものである、安定なa−81@で構成された光電
変換層を有する光起電力素子を、低コストで定常的に供
給されることが社会的要求としてあり、この要求を満た
す方法、装置の開発が切望されている状況がある。
用いられているプラズマの法であっても、工程操作上の
いくつかの間層、そしてまた設備投資上の問題が存在す
る。工程操作については、その条件は前述の熱OVD法
よりも更に接離であり、−膜化するには至難のものであ
る。部ち、例えば、基体温度、導入ガスの流量並びに流
量比、層形成時の圧力、高周波電力、電極構造、反応容
器の構造、排気速度、プラズマ発生方式の相互関係のパ
ラメーターをとってみても既に多くのパラメーターが存
在し、この他にもパラメーターが存在するわけであって
、所望の製品な得るについては厳密なパラメーターの選
択が必要とされ、そして厳密に選択されたパラメーター
であるが故に、その中の13)の構成因子、とりわけそ
れがプラズマであって、不安定な状態になったりでもす
ると形成される膜は著しい悪影響を受けて製品として成
立し得ないものとなる。そして装置については、上述し
たように厳密なパラメーターの選択が必要とされること
から、構造はおのずと複雑なものとなり、装置規模、種
類が変れば個々に厳選されたパラメーターに対応し得る
ように設計しなければならない・こつしたことから、プ
ラズマOVD法については、それが今のところ至適な方
法とされてはいるものの、上述したことから、所望のa
−81膜を量産するとなれば装置に多大の設備投資が必
要となり、そうしたところで尚量産のための工程管理項
目は多く且つ複雑であり、工程管理許容幅は狭く、そし
てまた装置調整が微妙であることから、結局は製品をか
なりコスト高のものにしてしまう等の問題がある0また
一方には、光起電力素子は多様化してきており、前述の
各種特性等の要件を総じて満足するとともに、適用対象
、重速に相応し、そして場合によってはそれが大面積化
されたものである、安定なa−81@で構成された光電
変換層を有する光起電力素子を、低コストで定常的に供
給されることが社会的要求としてあり、この要求を満た
す方法、装置の開発が切望されている状況がある。
これ等のことは、他の層、例えば酸素原子、炭素原子及
び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種を含有する
a−8i膜等からなる層においてちまた然りである。
び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種を含有する
a−8i膜等からなる層においてちまた然りである。
本発明は、上述した従来の熱C■法及びプラズマOVD
法1こよる光色変換層の問題点?排除した新規な光起電
力素子を提供することを主たる目的とする。
法1こよる光色変換層の問題点?排除した新規な光起電
力素子を提供することを主たる目的とする。
本発明の他の目的は、プラズマ反応を介することなくし
て成膜壁間において形成したものであって、優れた光電
変換機能を奏する光電変換層を有する新規な光起電力素
子と提供することにある。
て成膜壁間において形成したものであって、優れた光電
変換機能を奏する光電変換層を有する新規な光起電力素
子と提供することにある。
不発明の更に他の目的は、成膜空間においてプラズマ反
応を介することなくして、形成される膜の特性を保持し
、堆積速度の向上2図りながら、嘆形成条件の管理の簡
素化、膜の量産化を容易に達成できるようにした、優れ
た光電変換機能を奏する光電変換層ビ有する新規な元部
−電力素子を製造する方法を提供することにある。
応を介することなくして、形成される膜の特性を保持し
、堆積速度の向上2図りながら、嘆形成条件の管理の簡
素化、膜の量産化を容易に達成できるようにした、優れ
た光電変換機能を奏する光電変換層ビ有する新規な元部
−電力素子を製造する方法を提供することにある。
本発明の別の目的は、光電変換層を形成するための前駆
体生成用の気体状原料物質用流路と、該気体状原料物質
に酸化作用する気体状酸化剤用流路とが終端で開放して
いて、該開放部が成膜室を形成している、前記方法を実
施するための装置ご提供することにある。
体生成用の気体状原料物質用流路と、該気体状原料物質
に酸化作用する気体状酸化剤用流路とが終端で開放して
いて、該開放部が成膜室を形成している、前記方法を実
施するための装置ご提供することにある。
不発明者らに、従来の光起電力素子についての諸問題企
克服して上述の目的を達成すべく鋭意研究2重ねた結果
、光起電力素子の光電変換層の形成に寄与する物質であ
って、そのi\のエネルギー状態ではほとんど乃至全く
堆積膜形成するところとはならない物質と、該物質と反
応してそれを電子論的に酸化(原子の酸化数を増加する
)する物質号選んで、両者を200〜300°C程度の
品温に維持されている基体の存在する単純反応域に気体
状で各別の径路で導入し、基体面の上部空間で接触せし
めたとこ°ろ、両者間に化学的相互作用が生起して基体
表面に堆積膜が、何らの固形粒子の形成をみることなく
、優れた光電変換効率のものであること′5:確認し、
ついで上記手法′5:lTIいて元起電力六子の契遣ご
試みたところ、電気的、光学的特性、耐疲労特性、使m
環境特性等の諸特性tこ優れ、且つ優れた光電変換効率
を有する光起電力素子が得ら°れ、この方法は再現性を
有するものであることを確認し、これらの確認した事実
関係に基いて更なる研究2行い本発明を完成するI・こ
至った。
克服して上述の目的を達成すべく鋭意研究2重ねた結果
、光起電力素子の光電変換層の形成に寄与する物質であ
って、そのi\のエネルギー状態ではほとんど乃至全く
堆積膜形成するところとはならない物質と、該物質と反
応してそれを電子論的に酸化(原子の酸化数を増加する
)する物質号選んで、両者を200〜300°C程度の
品温に維持されている基体の存在する単純反応域に気体
状で各別の径路で導入し、基体面の上部空間で接触せし
めたとこ°ろ、両者間に化学的相互作用が生起して基体
表面に堆積膜が、何らの固形粒子の形成をみることなく
、優れた光電変換効率のものであること′5:確認し、
ついで上記手法′5:lTIいて元起電力六子の契遣ご
試みたところ、電気的、光学的特性、耐疲労特性、使m
環境特性等の諸特性tこ優れ、且つ優れた光電変換効率
を有する光起電力素子が得ら°れ、この方法は再現性を
有するものであることを確認し、これらの確認した事実
関係に基いて更なる研究2行い本発明を完成するI・こ
至った。
本発明は、斯規な光起電力素子と、その製造方法及び該
方法を実施するための装置ご包含するものである。
方法を実施するための装置ご包含するものである。
ところで本発明により提供される元起エカ素子は、第1
図の(5)乃至(Qに図示の典型例により代表されるも
のである。
図の(5)乃至(Qに図示の典型例により代表されるも
のである。
即ち第1(4)図に図示の例は、光照射な支持体側から
行う形式の光起電力素子であって、太陽電池に適用する
ことのできるものである0第1(5)図において、10
1は支持体、102は半導体層(p利またはn型) 、
103は1刑半導体層、104は半導体l@(mまたは
P型) 、 105は導電層をそれぞれ示す。
行う形式の光起電力素子であって、太陽電池に適用する
ことのできるものである0第1(5)図において、10
1は支持体、102は半導体層(p利またはn型) 、
103は1刑半導体層、104は半導体l@(mまたは
P型) 、 105は導電層をそれぞれ示す。
第1a3)図に図示の例は、・第1(4)図に図示の例
ど構成は同様であるが、光照射を導電層側から行う形式
の光起電力素子であって、これもまた太陽電池に適用す
ることのできるものである。
ど構成は同様であるが、光照射を導電層側から行う形式
の光起電力素子であって、これもまた太陽電池に適用す
ることのできるものである。
第1 (0)図に図示の例は、支持体上に光導電層(1
型半導体層)、絶縁層そして金属層を有していて、光照
射を金属φ側から行う形式の光起電力素子であり、これ
も太陽電池に適用することのできるものである。第1(
0図において、101は支持体、103は1型半導体層
、106は絶縁層、107は金M層をそれぞれ示す。
型半導体層)、絶縁層そして金属層を有していて、光照
射を金属φ側から行う形式の光起電力素子であり、これ
も太陽電池に適用することのできるものである。第1(
0図において、101は支持体、103は1型半導体層
、106は絶縁層、107は金M層をそれぞれ示す。
第1(5)乃至(0図に図示のいずれの形式についても
、支持体101の形状は、fIF、成するツC起電力素
子を如何なる形状のものにする力1によって適宜決定さ
れ、それら形状には例えば円筒状、ベルト状、板状等の
ものがある。また支持体101は、光学的に透明であっ
ても或いは不透明であって・5よいが、第1(A)図に
図示の光照射を゛支持体IMnzら行う形式のものの場
合、支持体101は光学的に透明なものにされる。
、支持体101の形状は、fIF、成するツC起電力素
子を如何なる形状のものにする力1によって適宜決定さ
れ、それら形状には例えば円筒状、ベルト状、板状等の
ものがある。また支持体101は、光学的に透明であっ
ても或いは不透明であって・5よいが、第1(A)図に
図示の光照射を゛支持体IMnzら行う形式のものの場
合、支持体101は光学的に透明なものにされる。
支持体101の材質は、導電性であっても或いは電気絶
縁性であってもよい。導電性材質のものについては、例
えば、kl % Or % Mo % Au %Irq
Nl)% Ta、i V、 T1、pt % Pa等
Q〕金属、又はこれらのNi Or1ステンレスとい
つe Q金が挙げられる。また、電気絶縁性のものにつ
いては、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネー
ト、セルローズアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化
ビニル、ポリ塩化ビニリデン、lリスチレン、ポリアミ
ド等の合成樹脂のフィルム又はシート、ガラス、セラミ
ック、等が通常使用される。これ等の電気絶縁性支持体
は、好適には少なくともその一方の表面が導電処理され
、該導電処理され7こ表面側に他の層が設けられるのが
望ましい0 例えばガラスであれば、その表面がNiOr−、λ11
0r % Mo、Au N Ir N h’Mb %
Ta % V −s Ti、pt 。
縁性であってもよい。導電性材質のものについては、例
えば、kl % Or % Mo % Au %Irq
Nl)% Ta、i V、 T1、pt % Pa等
Q〕金属、又はこれらのNi Or1ステンレスとい
つe Q金が挙げられる。また、電気絶縁性のものにつ
いては、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネー
ト、セルローズアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化
ビニル、ポリ塩化ビニリデン、lリスチレン、ポリアミ
ド等の合成樹脂のフィルム又はシート、ガラス、セラミ
ック、等が通常使用される。これ等の電気絶縁性支持体
は、好適には少なくともその一方の表面が導電処理され
、該導電処理され7こ表面側に他の層が設けられるのが
望ましい0 例えばガラスであれば、その表面がNiOr−、λ11
0r % Mo、Au N Ir N h’Mb %
Ta % V −s Ti、pt 。
Pd−5In2O3,5no2、ITO(In2O3+
5nO2)等ct>l、tj膜を設けることによって
導電処理され、或はボリエステルフイルム等の合成樹脂
フィルムであれば、NiCIr、 A/N Ag1Pb
−、Znq Ni、Au10r −、Mo −、Ir
% Nb % Ta、V、Tt、Pt等の金属で真空蒸
着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等で処理し、又は
前記金属でラミネート処理して、その表面が導電処理さ
れる。そして基体の厚さは、所望する光起電力素子が得
られるように適宜決定されるが、基体の製造上、取り扱
い上、そして機械的強度等の点から通常は10r以上と
される。
5nO2)等ct>l、tj膜を設けることによって
導電処理され、或はボリエステルフイルム等の合成樹脂
フィルムであれば、NiCIr、 A/N Ag1Pb
−、Znq Ni、Au10r −、Mo −、Ir
% Nb % Ta、V、Tt、Pt等の金属で真空蒸
着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等で処理し、又は
前記金属でラミネート処理して、その表面が導電処理さ
れる。そして基体の厚さは、所望する光起電力素子が得
られるように適宜決定されるが、基体の製造上、取り扱
い上、そして機械的強度等の点から通常は10r以上と
される。
@1(8)図または第1 [8)図に図示の形式の光起
電力素子における半導体層102は、シリコン原子(S
l)と、水素原子(H)及びハロゲン原子(X)のいず
れか一方を含むアモルファスシリコン〔以下、& −8
t(Hq X )という。〕ご主体材料として構成され
る。そして、該半導体層がp型伝導性を与えるp型のも
のである場合、半導体分野に於ていうpFJi不純物(
以下単に、「p型不純物」という。)を就中に含有する
Oさらに、第1(A)図に図示されるように、光照射を
支持体側から行う形式の光起電力素子である場合、半導
体111102は、いわゆる窓効果をもたらすものであ
ることが望ましく、そのためにa −5i(H,X)中
に炭素(C)、酸素(0)、窒素(N)等のバンドギャ
ップ調整元素の一種またはそれ以上を含んでワイド・バ
ンドギャップ化されたアモルファスシリコン〔以下、&
−81(H,X)(CI、01N)という。〕を主体材
料として構成されていてp型不純物を含有するものであ
る。
電力素子における半導体層102は、シリコン原子(S
l)と、水素原子(H)及びハロゲン原子(X)のいず
れか一方を含むアモルファスシリコン〔以下、& −8
t(Hq X )という。〕ご主体材料として構成され
る。そして、該半導体層がp型伝導性を与えるp型のも
のである場合、半導体分野に於ていうpFJi不純物(
以下単に、「p型不純物」という。)を就中に含有する
Oさらに、第1(A)図に図示されるように、光照射を
支持体側から行う形式の光起電力素子である場合、半導
体111102は、いわゆる窓効果をもたらすものであ
ることが望ましく、そのためにa −5i(H,X)中
に炭素(C)、酸素(0)、窒素(N)等のバンドギャ
ップ調整元素の一種またはそれ以上を含んでワイド・バ
ンドギャップ化されたアモルファスシリコン〔以下、&
−81(H,X)(CI、01N)という。〕を主体材
料として構成されていてp型不純物を含有するものであ
る。
一方、光起電力素子がfa1■図に図示されるように、
光照射が導電層側から行われる形式のものである場合、
半導体@ 102はn型伝導性を与えるn型のものであ
り、したがって該半導体層は、半導体分野に於ていうn
型不純物(以下単に、「n型不純物」という。)を就中
に含有するO 上述のいずれの場合にあっても半導体層1020層厚は
、一般には30〜s X 10!□λ、好ましくは50
〜5X1♂A、そしてより好ましくは50〜1X10”
Aである。
光照射が導電層側から行われる形式のものである場合、
半導体@ 102はn型伝導性を与えるn型のものであ
り、したがって該半導体層は、半導体分野に於ていうn
型不純物(以下単に、「n型不純物」という。)を就中
に含有するO 上述のいずれの場合にあっても半導体層1020層厚は
、一般には30〜s X 10!□λ、好ましくは50
〜5X1♂A、そしてより好ましくは50〜1X10”
Aである。
また1上述したように半導体層102がp型のものであ
る場合に含有するp型不純物は、好適な例として周期律
表第■族Aの元素(以下単に、「第■族元素」という。
る場合に含有するp型不純物は、好適な例として周期律
表第■族Aの元素(以下単に、「第■族元素」という。
)の、B % A−I N Ga −。
In、T/等であり、中でもB、Gaが至適である。
半導体層102がn型のものである場合に含有するn型
不純物は、好適な例として周期律表VtMAの元素(以
下単に、「第V族元素」という。)の、N1P1AB、
181)SB1等であり、中でもA8、pssbが至適
である。
不純物は、好適な例として周期律表VtMAの元素(以
下単に、「第V族元素」という。)の、N1P1AB、
181)SB1等であり、中でもA8、pssbが至適
である。
これらp型不純物またはn型不純物は、半導体層102
中に、該層の作成過程でドーピングされて含有するもの
であり、その量は所望される電気的特性、光学的特性等
の要因を考慮して適宜決定されるものであるが、p型不
純物については一般には3 X 10 atomic
% 以下であり、n型不純物については一般には5 X
10 atomic%以下である。
中に、該層の作成過程でドーピングされて含有するもの
であり、その量は所望される電気的特性、光学的特性等
の要因を考慮して適宜決定されるものであるが、p型不
純物については一般には3 X 10 atomic
% 以下であり、n型不純物については一般には5 X
10 atomic%以下である。
第1囚乃至CB)図に図示の形式の光起電力素子におけ
る1型半導体層103及び第1 (C)図に図示の形式
の光起電力素子における光導電1i;i 103 kl
、光起電力素子機能を十分に発揮する光導電特性を奏す
るマルチ−バンドギャップ化された多層構成のものであ
り、シリコン原子及びノくンドギャップ調整元素として
の窒素(N)と、水素原子(’H)及びハロゲン原子(
X)のいずれか一方を含むアモルファスシリコン窒素〔
以下、a −8tN (H1X )という。)の層領域
と、a81(H,X)の層領域及び/又はシリコン原子
及びゲルマニウム原子(Gs)と、水素原子(]()及
びハロゲン原子(X)のいずれ力)一方を含むアモルフ
ァスシリコンゲルマニウム〔以下、a SiG・([
% X)という。〕の層層領域塩らなるものである0 こうした1型半導体層103の層厚は、該1型半導体層
の機能及びp型半導体層及びn型半導体層の機能がそれ
ぞれ十分且つ有効に発揮されるべく、゛p型半導体層及
、びn型半導体層の相互の層厚関係、前記側i9におけ
るドーピング量σ〕関係等からして適宜法められるもの
であるが、通常の場合、p型半導体1、n型半導体層の
膜厚に対して数倍乃至撒十倍にされる。
る1型半導体層103及び第1 (C)図に図示の形式
の光起電力素子における光導電1i;i 103 kl
、光起電力素子機能を十分に発揮する光導電特性を奏す
るマルチ−バンドギャップ化された多層構成のものであ
り、シリコン原子及びノくンドギャップ調整元素として
の窒素(N)と、水素原子(’H)及びハロゲン原子(
X)のいずれか一方を含むアモルファスシリコン窒素〔
以下、a −8tN (H1X )という。)の層領域
と、a81(H,X)の層領域及び/又はシリコン原子
及びゲルマニウム原子(Gs)と、水素原子(]()及
びハロゲン原子(X)のいずれ力)一方を含むアモルフ
ァスシリコンゲルマニウム〔以下、a SiG・([
% X)という。〕の層層領域塩らなるものである0 こうした1型半導体層103の層厚は、該1型半導体層
の機能及びp型半導体層及びn型半導体層の機能がそれ
ぞれ十分且つ有効に発揮されるべく、゛p型半導体層及
、びn型半導体層の相互の層厚関係、前記側i9におけ
るドーピング量σ〕関係等からして適宜法められるもの
であるが、通常の場合、p型半導体1、n型半導体層の
膜厚に対して数倍乃至撒十倍にされる。
このところの具体的な値としては、好ましくは100A
〜10μ、より好適には0.1〜1μ の範四である。
〜10μ、より好適には0.1〜1μ の範四である。
半導体層104は、第1囚図に図示の光起電力素子にあ
ってはn型半導体層であり、第1 CB)図に図示の光
起電力素子にあってはp型半導体層である。いずれの場
合もその層構成主体はa−8i(HSX)であるが、第
1@図に図示の形式にあっては、いわゆる窓効果をもた
らすものであることからワイド・バンドギャップ化され
た&−81(H,X)(0,01N)で構成されている
。そして前述と同様で、前者の場合n型不純物が、後者
の場合p型不純物が、それぞれ層中にその作成過程でド
ーピングされて含有している。
ってはn型半導体層であり、第1 CB)図に図示の光
起電力素子にあってはp型半導体層である。いずれの場
合もその層構成主体はa−8i(HSX)であるが、第
1@図に図示の形式にあっては、いわゆる窓効果をもた
らすものであることからワイド・バンドギャップ化され
た&−81(H,X)(0,01N)で構成されている
。そして前述と同様で、前者の場合n型不純物が、後者
の場合p型不純物が、それぞれ層中にその作成過程でド
ーピングされて含有している。
なお、半導体層の層構成のワイド・バンドギャップ化に
ついては、通常にはp型半導体層をワイド−バンドギャ
ップ化したものにするが1p型でなくn型の半導体層を
そのようにしたものにすることも勿鵠可能である。そし
てそのワイドψバンドギャップ度合は、前述した1型半
導体層のそれよりtであることが望ましい。
ついては、通常にはp型半導体層をワイド−バンドギャ
ップ化したものにするが1p型でなくn型の半導体層を
そのようにしたものにすることも勿鵠可能である。そし
てそのワイドψバンドギャップ度合は、前述した1型半
導体層のそれよりtであることが望ましい。
第1(4)乃至@図に図示の光起電力素子にあって、導
を層105は、透明あるいは不透明の導電材料より形成
されている。特に支持体101が不透明のときは一般に
は第1■図に示すように導電層105側より光照射を行
なうため、該導iE層は光学的に透明、あるいはそれに
近いことが十分な光電変換効率を得るために必要である
。
を層105は、透明あるいは不透明の導電材料より形成
されている。特に支持体101が不透明のときは一般に
は第1■図に示すように導電層105側より光照射を行
なうため、該導iE層は光学的に透明、あるいはそれに
近いことが十分な光電変換効率を得るために必要である
。
そうした透明な導電材料としては、In2O3、Snu
!、ITO(In2O3+ 8nOz )あるいはpa
、 Pt 、 Ou、Ag SAu 1A/ 等の薄
い金属膜が挙げられる。不透明な導電材料としては、は
とんどの金属膜例えばNi0r −、kl % Or
SMO、Au % Ir %N1) % Ta %V
%T1、at SPa tZn %Ag等が挙げられる
。
!、ITO(In2O3+ 8nOz )あるいはpa
、 Pt 、 Ou、Ag SAu 1A/ 等の薄
い金属膜が挙げられる。不透明な導電材料としては、は
とんどの金属膜例えばNi0r −、kl % Or
SMO、Au % Ir %N1) % Ta %V
%T1、at SPa tZn %Ag等が挙げられる
。
第1(a)図に図示の光起電力素子にあって、支持体1
01と光導電層103は前述したとおりのものであると
ころ、金g fiJ i 07は、光導電層103とシ
ョトキ−接合ご形成するためAu 1Pt 、pa等の
仕事関数の大さい全開が用いられる。この様な金J!1
florは真空抵抗加熱蒸着あるいは電子ビーム加熱蒸
着により、光導¥Ii層103の上に形成される。金属
R1107を通してツC導1i!府103に光を照射す
るため、該金を層107の膜厚は500A以下であるこ
とが好ましい。
01と光導電層103は前述したとおりのものであると
ころ、金g fiJ i 07は、光導電層103とシ
ョトキ−接合ご形成するためAu 1Pt 、pa等の
仕事関数の大さい全開が用いられる。この様な金J!1
florは真空抵抗加熱蒸着あるいは電子ビーム加熱蒸
着により、光導¥Ii層103の上に形成される。金属
R1107を通してツC導1i!府103に光を照射す
るため、該金を層107の膜厚は500A以下であるこ
とが好ましい。
106は絶縁層で光導電層IQ3と金属層107どの両
壁を樒強するために極めて薄く (通常は2000 A
以下)形成される。絶縁層106は必ずしも必要ではな
い。絶縁層106はN2 、NI(31さ10、Not
等のNを含んだガス、あるいは02、CO2等のOを
含んだガス、OFa 、O!P6 、OH4等のCを含
んだガスを前駆体生成用のガスあるいは気体状ハロゲン
酸化剤に添加することにより形成されるワイド・バンド
ギャップ化された層として形成される。
壁を樒強するために極めて薄く (通常は2000 A
以下)形成される。絶縁層106は必ずしも必要ではな
い。絶縁層106はN2 、NI(31さ10、Not
等のNを含んだガス、あるいは02、CO2等のOを
含んだガス、OFa 、O!P6 、OH4等のCを含
んだガスを前駆体生成用のガスあるいは気体状ハロゲン
酸化剤に添加することにより形成されるワイド・バンド
ギャップ化された層として形成される。
以上の例示で説明した本発明の光起電力素子は、優れた
電気的及び光学的特性を有すると共に優れた疲労特性及
び使用環境特性を有していて、光電変換効率が従来のも
のよりかなり高いものであり、特に太陽電池への使用に
適するものである。
電気的及び光学的特性を有すると共に優れた疲労特性及
び使用環境特性を有していて、光電変換効率が従来のも
のよりかなり高いものであり、特に太陽電池への使用に
適するものである。
次に本発明の、前述した特定の光電変換MIを有するこ
とで特徴づけられる光起電力素子な製造する方法は、前
記光電変換層の形成に寄与する物質であって、そのま−
のエネルギー状態では、はとんど乃至全く堆積膜形成す
るところとはならないが励起状態にされると堆積膜の形
成ごもたらす所謂前駆体を生成する物質(以下、「原料
物質囚」という。)と、該原料物質(4)と相互作用し
てそれを電子論的に酸化(原子の酸化数を増加する)す
る物質(以下、「酸化剤」という。)とを、光起電力素
子用基体の設置されている無電界状態の反応域にそれぞ
れ気体状態で各別の経路で導入し、前記基体表面の上部
空間で両者を接触せしめて両者間に化学的相互作用ご生
起せしめ、それにより前記基体表面上に所望の光電変換
層たる堆積膜を形成せしめることを特徴とするものであ
る。
とで特徴づけられる光起電力素子な製造する方法は、前
記光電変換層の形成に寄与する物質であって、そのま−
のエネルギー状態では、はとんど乃至全く堆積膜形成す
るところとはならないが励起状態にされると堆積膜の形
成ごもたらす所謂前駆体を生成する物質(以下、「原料
物質囚」という。)と、該原料物質(4)と相互作用し
てそれを電子論的に酸化(原子の酸化数を増加する)す
る物質(以下、「酸化剤」という。)とを、光起電力素
子用基体の設置されている無電界状態の反応域にそれぞ
れ気体状態で各別の経路で導入し、前記基体表面の上部
空間で両者を接触せしめて両者間に化学的相互作用ご生
起せしめ、それにより前記基体表面上に所望の光電変換
層たる堆積膜を形成せしめることを特徴とするものであ
る。
然るに本発明の光起電力素子の製造法は、プラズマ等の
放電エネルギーを作用させることはしなく、シたがって
プラズマ反応を介さないことから、形成される堆積膜即
ち光電変換層は、成膜操作中にエツチング或いはその他
の例えば異常放i作月などによる悪影響を受けることが
ないので構造緻密にして高品質であり、優れた該特性を
有すると共に光電変換効率の高いものとなり、それによ
り製造される光起電力素子は高品質のものとなる。そし
てまた本発明の光起電力素子の製造法は、原料物質(4
)と酸化剤を又応域に導入して両物質を接触せしめるだ
けで膜厚が均一であって全体が均質の所望の堆積膜(光
電変換層)の形成を可能にするものであることから、操
作工程管理が容易であることに加えて使用エネルギー量
は少くてすみ、使用装置への設備投資は従来のものより
はるかに少くてすみ、そして量産化を可能にするもので
ある。
放電エネルギーを作用させることはしなく、シたがって
プラズマ反応を介さないことから、形成される堆積膜即
ち光電変換層は、成膜操作中にエツチング或いはその他
の例えば異常放i作月などによる悪影響を受けることが
ないので構造緻密にして高品質であり、優れた該特性を
有すると共に光電変換効率の高いものとなり、それによ
り製造される光起電力素子は高品質のものとなる。そし
てまた本発明の光起電力素子の製造法は、原料物質(4
)と酸化剤を又応域に導入して両物質を接触せしめるだ
けで膜厚が均一であって全体が均質の所望の堆積膜(光
電変換層)の形成を可能にするものであることから、操
作工程管理が容易であることに加えて使用エネルギー量
は少くてすみ、使用装置への設備投資は従来のものより
はるかに少くてすみ、そして量産化を可能にするもので
ある。
本発明の方法における気体状の原料物質(4)は、気体
状の酸化剤と化学接触してそれによる酸化作用な受けて
活性化し、堆積膜(光電変換層)構成要素の供給源たる
励起状態物質即ち前駆体を生成するものであるところ、
それらは気体状の酸化剤と接触する際に気体状に保たれ
ていればよい。したがってそれらは施用前に気体状のも
のである必要は必ずしもなく液体であっても或いは固体
であってもよい。原料物質(4)が施用前に液体又は固
体である場合、Ar、 H1ISN2、N2等のキャリ
アーガスを用い、必要に応じて熱を加えなからバブリン
グを行って系中に気体状にして導入する。
状の酸化剤と化学接触してそれによる酸化作用な受けて
活性化し、堆積膜(光電変換層)構成要素の供給源たる
励起状態物質即ち前駆体を生成するものであるところ、
それらは気体状の酸化剤と接触する際に気体状に保たれ
ていればよい。したがってそれらは施用前に気体状のも
のである必要は必ずしもなく液体であっても或いは固体
であってもよい。原料物質(4)が施用前に液体又は固
体である場合、Ar、 H1ISN2、N2等のキャリ
アーガスを用い、必要に応じて熱を加えなからバブリン
グを行って系中に気体状にして導入する。
一方酸化剤は、前記の気体状の原料物質(4)と接触す
るだけでそれによる酸化作用で、該原料物質(4)を活
性化して励起状態物質即ち成膜前駆体にする性質を有す
るものであり、それらの具体例として、空気、酸素、オ
ゾン等の酸素類、NzO4、NzOs 、N20 等
の酸素又は窒素の化合物、HlO,等の過酸化物、F2
、Cj雪、Br!、工2等のへ〇ゲンガス、発生期状態
の弗素、塩素、臭素等を挙げることができる。
るだけでそれによる酸化作用で、該原料物質(4)を活
性化して励起状態物質即ち成膜前駆体にする性質を有す
るものであり、それらの具体例として、空気、酸素、オ
ゾン等の酸素類、NzO4、NzOs 、N20 等
の酸素又は窒素の化合物、HlO,等の過酸化物、F2
、Cj雪、Br!、工2等のへ〇ゲンガス、発生期状態
の弗素、塩素、臭素等を挙げることができる。
この酸化剤についても、気体状の前駆体原料物質と接触
する際に気体状に保たれていればよい。したがってそれ
らは施用前に気体状のものである必要は必ずしもなく、
液体であっても或。
する際に気体状に保たれていればよい。したがってそれ
らは施用前に気体状のものである必要は必ずしもなく、
液体であっても或。
いは固体であってもよい。酸化剤が施用前に液体又は固
体である場合、前駆体原料物質と同様で、Ar SHe
、Nz 、N2等のキャリアーガスを用い、必要に応
じて熱を加えなからバブリングを行って系中に気体状に
して導入する。
体である場合、前駆体原料物質と同様で、Ar SHe
、Nz 、N2等のキャリアーガスを用い、必要に応
じて熱を加えなからバブリングを行って系中に気体状に
して導入する。
前述の原料物質(4)(気体状)と前述の酸化剤(気体
状)とは、それぞれ各別の流路を介し、両者が基体の設
置されている反応域であって基 。
状)とは、それぞれ各別の流路を介し、両者が基体の設
置されている反応域であって基 。
体表面の上部の成膜空間に流入して混合・衝突すること
で接触し、そこにあって原料物質(4)が酸化剤による
酸化作用を受けて活性化して励起状態の前駆体が生成さ
れて基体表面上に堆積膜が形成されるように、供給圧と
流量を調節して系中に導入される。
で接触し、そこにあって原料物質(4)が酸化剤による
酸化作用を受けて活性化して励起状態の前駆体が生成さ
れて基体表面上に堆積膜が形成されるように、供給圧と
流量を調節して系中に導入される。
また、前述の原料物質(4)と前述の酸化剤の種類と組
み合わせは、光起電力素子用の基体上に形成される光電
変換層を構成する層の種類に応じて適宜選択して用いら
れる。
み合わせは、光起電力素子用の基体上に形成される光電
変換層を構成する層の種類に応じて適宜選択して用いら
れる。
即ち、例えばp型a−81(0、O,N) (E[、X
)層を形成するについては、前述の原料物質(4)とし
て、81馬、81fE6.81aHs 、81aH幻等
のシランや5iHsO/ 、 SiH!IF 58iH
sBr等のハロゲン化シラ/等のケイ素を構成成分とす
る化合物に加えて、N2、皿3 、HEN顕2、皿s
、NH4N5等の窒素化合物あるいはOHa 、0tH
4、o3Ha 、C2H4、OJs、Ω晶等の炭・化水
素化合物を甫い、さらにp型不純物導入用原料物質であ
るB2Hs 、’B4H10% BsHs、BsHl、
、BaHw −1’ EIH12、AJ(CH3)3
、AJ(OzHs )s 、Ga(0&)3、In((
B[s)s等の第1族原子を構成要素として含む化合物
を用いればよい。また、前述の酸化剤としては、ハロゲ
ン化ガス、発生期等のハロゲン(以上を「ハロゲン系酸
化剤」と称す。)及び、0□、Os 、Nx0a
、N2O3,1’hO(以上ヲrMi系、窒素系酸化剤
」と称す。)等の中から選ばれる少なくとも一種を用い
ればよい。
)層を形成するについては、前述の原料物質(4)とし
て、81馬、81fE6.81aHs 、81aH幻等
のシランや5iHsO/ 、 SiH!IF 58iH
sBr等のハロゲン化シラ/等のケイ素を構成成分とす
る化合物に加えて、N2、皿3 、HEN顕2、皿s
、NH4N5等の窒素化合物あるいはOHa 、0tH
4、o3Ha 、C2H4、OJs、Ω晶等の炭・化水
素化合物を甫い、さらにp型不純物導入用原料物質であ
るB2Hs 、’B4H10% BsHs、BsHl、
、BaHw −1’ EIH12、AJ(CH3)3
、AJ(OzHs )s 、Ga(0&)3、In((
B[s)s等の第1族原子を構成要素として含む化合物
を用いればよい。また、前述の酸化剤としては、ハロゲ
ン化ガス、発生期等のハロゲン(以上を「ハロゲン系酸
化剤」と称す。)及び、0□、Os 、Nx0a
、N2O3,1’hO(以上ヲrMi系、窒素系酸化剤
」と称す。)等の中から選ばれる少なくとも一種を用い
ればよい。
また、a−8i(0,0,N)(H,X)で構成される
1型半導体層を形成せしめるについては、前述の原料物
質(2)として、シラン、ハロゲン化シラン等のケイ素
を構成成分とする化合物、前述の窒素化合物、及び前述
の炭素化合物の中から選ばれる少なくとも一種を用い、
前述の酸化剤として、ハロゲン系酸化剤及び/又は酸素
系、窒素系酸化剤を用いればよい。
1型半導体層を形成せしめるについては、前述の原料物
質(2)として、シラン、ハロゲン化シラン等のケイ素
を構成成分とする化合物、前述の窒素化合物、及び前述
の炭素化合物の中から選ばれる少なくとも一種を用い、
前述の酸化剤として、ハロゲン系酸化剤及び/又は酸素
系、窒素系酸化剤を用いればよい。
さらに、ユ型a sl< III N X)層を形成
するについては、前述の原料物質(4)としてシラン、
ハロゲン化シラン等のケイ素化合物を用い、これにn型
不純物導入用原料物質であるPIII3、P但4、AB
山、8’bH,、BiH3等の第V族原子を構成要素と
して含む化合物を含有せしめればよい。又、前述の酸化
剤としては、ハロゲンガス、発生期のハロゲン等のハロ
ゲン系酸化剤を用いればよい0 また更に、p型、1型あるいはnMの半導体層Tta
−5iGeで構成される膜で構成する場合であれば、各
々の半導体層を形成するのに用いる原料物質(5)に加
えて、ゲルマニウム原子導入用の原料物質(4)を用い
ればよく、このような原料物質(4)としては、GeH
4、GeH4、Ge3Ha z GeJEto NGe
5Htz等の直鎖状ゲルマニウム化合物を用いることが
できる。
するについては、前述の原料物質(4)としてシラン、
ハロゲン化シラン等のケイ素化合物を用い、これにn型
不純物導入用原料物質であるPIII3、P但4、AB
山、8’bH,、BiH3等の第V族原子を構成要素と
して含む化合物を含有せしめればよい。又、前述の酸化
剤としては、ハロゲンガス、発生期のハロゲン等のハロ
ゲン系酸化剤を用いればよい0 また更に、p型、1型あるいはnMの半導体層Tta
−5iGeで構成される膜で構成する場合であれば、各
々の半導体層を形成するのに用いる原料物質(5)に加
えて、ゲルマニウム原子導入用の原料物質(4)を用い
ればよく、このような原料物質(4)としては、GeH
4、GeH4、Ge3Ha z GeJEto NGe
5Htz等の直鎖状ゲルマニウム化合物を用いることが
できる。
ところで、本発明の光起電力素子の製造方法においては
、成膜工程が円滑に進行し、高品質で、所望の電気的、
光学的特性を有し、かつ、光電変換効率の高いものを得
るべく、気体状原料物質囚と気体状酸化剤の種類と組み
合わ−せ、これ等の混合比、混合時の圧力、流量、成膜
空間内の圧力、キャリアーガスの流量、成膜温度、ガス
の流量等を所望に応じて適宜選択する必要がある。そし
て、これらの成膜における種々の因子は、有機的に関連
するものであって、単独で決定されるものではなく、相
互関係ご考慮して決定される必要があるが、例えば、気
体状原料物質(4)と気体状酸化剤の割合は、導入流量
比で、好ましくは1/100〜100/1、より好まし
くは1150〜50/1とするのが望ましい。又、p型
不純物又はn型不純物導入用気体状原料物質と気体状原
料物質囚の量の割合は、導入流量比で、好ましくは1/
] (J’〜I/10.より好ましくは1/105〜1
/20 、最適には1/10’〜1150とするのが望
ましい。更に気体状原料物質(8)と気体状酸化剤の混
合時の圧力は、化学的接触の確立を高めるためにはより
高くする方が好ましいが、反応性を考慮して決定するの
が好ましく、好ましくはlXl0’〜10気圧、より好
ましくはlX10〜3気圧とするのが望ましい。
、成膜工程が円滑に進行し、高品質で、所望の電気的、
光学的特性を有し、かつ、光電変換効率の高いものを得
るべく、気体状原料物質囚と気体状酸化剤の種類と組み
合わ−せ、これ等の混合比、混合時の圧力、流量、成膜
空間内の圧力、キャリアーガスの流量、成膜温度、ガス
の流量等を所望に応じて適宜選択する必要がある。そし
て、これらの成膜における種々の因子は、有機的に関連
するものであって、単独で決定されるものではなく、相
互関係ご考慮して決定される必要があるが、例えば、気
体状原料物質(4)と気体状酸化剤の割合は、導入流量
比で、好ましくは1/100〜100/1、より好まし
くは1150〜50/1とするのが望ましい。又、p型
不純物又はn型不純物導入用気体状原料物質と気体状原
料物質囚の量の割合は、導入流量比で、好ましくは1/
] (J’〜I/10.より好ましくは1/105〜1
/20 、最適には1/10’〜1150とするのが望
ましい。更に気体状原料物質(8)と気体状酸化剤の混
合時の圧力は、化学的接触の確立を高めるためにはより
高くする方が好ましいが、反応性を考慮して決定するの
が好ましく、好ましくはlXl0’〜10気圧、より好
ましくはlX10〜3気圧とするのが望ましい。
成膜空間内の圧力、即ち、その表面に成膜される基体が
配設されている空間内の圧力は、反応空間に於いて生成
される励起状態の前駆体及び場合によって該前駆体より
派生的に生ずる前駆体が成膜プロセスに効果的に寄与す
る様に適宜所望に応じて設定される。
配設されている空間内の圧力は、反応空間に於いて生成
される励起状態の前駆体及び場合によって該前駆体より
派生的に生ずる前駆体が成膜プロセスに効果的に寄与す
る様に適宜所望に応じて設定される。
成膜空間の内圧力は、成膜空間が反応空間と開放的に連
続している場合には、気体状原料物質(4)とp型不純
物又はn型不純物導入用気体状物質と気体状酸化剤との
反応空間での導入圧及び流量との関連に於いて、例えば
差動排気或し)は、大型の排気装置の使用等の工夫?加
えて調整することができる0 或いは、反応空間と成膜空間の連結部のフンダクタンス
が小さい場合には、成膜空間に適当な排気装置ご設け、
該装置の排気ffiを制御することで成膜空間の圧力を
調整することができる。
続している場合には、気体状原料物質(4)とp型不純
物又はn型不純物導入用気体状物質と気体状酸化剤との
反応空間での導入圧及び流量との関連に於いて、例えば
差動排気或し)は、大型の排気装置の使用等の工夫?加
えて調整することができる0 或いは、反応空間と成膜空間の連結部のフンダクタンス
が小さい場合には、成膜空間に適当な排気装置ご設け、
該装置の排気ffiを制御することで成膜空間の圧力を
調整することができる。
又、反応空間と成膜空間が一体的になってし)で、反応
位置と成膜位置が空間的に異なるだけの場合には、前述
の様に差動排気するか或いは、排気能力の充分ある大型
の排気装置を設けてやればよい。
位置と成膜位置が空間的に異なるだけの場合には、前述
の様に差動排気するか或いは、排気能力の充分ある大型
の排気装置を設けてやればよい。
上記のようにして成膜空間内の圧力は、反応空間に導入
される気体状原料物質囚とP型不純物又はn型不純物導
入用気体状物質と気体状酸化剤の導入圧力との関係に於
いて決められるが、好ましくは、0.001 Torr
〜100 Torr 、より好ましくは、0.01
Torr 〜30 Torr 、最適には、0.05T
orr〜10 Torr とするのが望ましい。
される気体状原料物質囚とP型不純物又はn型不純物導
入用気体状物質と気体状酸化剤の導入圧力との関係に於
いて決められるが、好ましくは、0.001 Torr
〜100 Torr 、より好ましくは、0.01
Torr 〜30 Torr 、最適には、0.05T
orr〜10 Torr とするのが望ましい。
ガスの流量に就いては、反応空間への気体状原料物JJ
ICA)、p型不純物又はn型不純物導入用気体状物質
及び気体状酸化剤の導入の際にこれ等が均一に効率良く
混合され、前記前駆体が効率的に生成され且つ成膜が支
障なく適切になされる様に、ガス導入口と基体とガス排
気口との幾何学的配置を考慮して設計される必要がある
。
ICA)、p型不純物又はn型不純物導入用気体状物質
及び気体状酸化剤の導入の際にこれ等が均一に効率良く
混合され、前記前駆体が効率的に生成され且つ成膜が支
障なく適切になされる様に、ガス導入口と基体とガス排
気口との幾何学的配置を考慮して設計される必要がある
。
成膜時の基体温度としては、使用されるガス種及び形成
される堆積膜の種類と要求される特性に応じて、個々に
適宜所望に従って設定されるが、非晶質の膜2得る場合
には好ましくは室温から450°C1より好ましくは5
0〜400°C1最適には70〜350℃とするのが望
ましい。
される堆積膜の種類と要求される特性に応じて、個々に
適宜所望に従って設定されるが、非晶質の膜2得る場合
には好ましくは室温から450°C1より好ましくは5
0〜400°C1最適には70〜350℃とするのが望
ましい。
成膜空間の雰囲気温度としては、生成される前記前駆体
及び前記前駆体より派生的に生ずる前駆体が成膜に不適
当なものに変化せず、且つ効率良く前駆体が生成される
べく、基体温度との関連で適宜所望に応じて決められる
。
及び前記前駆体より派生的に生ずる前駆体が成膜に不適
当なものに変化せず、且つ効率良く前駆体が生成される
べく、基体温度との関連で適宜所望に応じて決められる
。
次に、本発明の光起電力素子の製造方法ご実施するため
の製造装置について、図面により説明するが、本発明は
これによって限定されるものではない。
の製造装置について、図面により説明するが、本発明は
これによって限定されるものではない。
第2図は、本発明の光起電力素子を製造するのに適した
製造装置の1例を模式的に示す断面略図である6 第2図に示す装置は、上壁、側壁及び底撫で包囲形成さ
れた成膜室を備えた真空容器と、該成膜室への原料ガス
の供給系と、成膜室内のガスを排気するための排気系と
yl)らなっている。
製造装置の1例を模式的に示す断面略図である6 第2図に示す装置は、上壁、側壁及び底撫で包囲形成さ
れた成膜室を備えた真空容器と、該成膜室への原料ガス
の供給系と、成膜室内のガスを排気するための排気系と
yl)らなっている。
図中、201〜208は夫々、光電変換層を成膜する際
に用いるガスが充填されているボンベ、201&〜20
8&は夫々のガス供給パイプ、201b〜208 bは
夫々、各ボンベからのガスの流1ffi調整用のマス7
0−コントローラー、2010〜208Cは夫々のガス
圧力計、201 d 〜208 d及び201 e〜2
08 eはパルプ、201 f 〜208 f G2夫
々のガスボンベ内の圧力を示す圧力計である。
に用いるガスが充填されているボンベ、201&〜20
8&は夫々のガス供給パイプ、201b〜208 bは
夫々、各ボンベからのガスの流1ffi調整用のマス7
0−コントローラー、2010〜208Cは夫々のガス
圧力計、201 d 〜208 d及び201 e〜2
08 eはパルプ、201 f 〜208 f G2夫
々のガスボンベ内の圧力を示す圧力計である。
220は真空容器であって、上壁にガス導入用の配管が
設けられており、該ガス導入用の配管の構造は、該ガス
導入用配管の下流に反応空間が形成されるようにNl成
されている。該ガス導入用の配管は、同心円の三重管構
造となっており、内側から1に、ガスボンベ201.2
02からのガスを導入する第1のガス導入管209、ガ
スボンベ203〜205からのガスを導入する第2のガ
ス導入管2】01及びガスボンベ206〜208からの
ガスを導入する第3のガス導入管211を有している。
設けられており、該ガス導入用の配管の構造は、該ガス
導入用配管の下流に反応空間が形成されるようにNl成
されている。該ガス導入用の配管は、同心円の三重管構
造となっており、内側から1に、ガスボンベ201.2
02からのガスを導入する第1のガス導入管209、ガ
スボンベ203〜205からのガスを導入する第2のガ
ス導入管2】01及びガスボンベ206〜208からの
ガスを導入する第3のガス導入管211を有している。
真空容器220の中には、該ガス導入用の配管のガス排
出口に対向して、光起電力素子泪の基体218が配置さ
れるように基体ホルダー2】2が設けられている。各ガ
ス導入管209〜211のガス排出口の位置は、内側の
ガス導入管になるほど基体の表面位置から遠くなるよう
に配される。即ち、外側のガス導入管はど、その内側に
あるガス導入管を包囲するように夫々のガス導入管20
9〜211が配設されている。
出口に対向して、光起電力素子泪の基体218が配置さ
れるように基体ホルダー2】2が設けられている。各ガ
ス導入管209〜211のガス排出口の位置は、内側の
ガス導入管になるほど基体の表面位置から遠くなるよう
に配される。即ち、外側のガス導入管はど、その内側に
あるガス導入管を包囲するように夫々のガス導入管20
9〜211が配設されている。
各ガス導入管209〜211には、各々ボンベ201〜
208からのガスが、ガス供給パイプライン223〜2
25を介して供給される。
208からのガスが、ガス供給パイプライン223〜2
25を介して供給される。
各ガス導入管209〜211、各ガス供給パイプライン
223〜225、及び真空容器220の中のガスは、真
空容器220の側壁下部に設けられた排気口D)ら、メ
イン真空パルプ219を介して真空排気装置(図示せず
)によって真空排気される。
223〜225、及び真空容器220の中のガスは、真
空容器220の側壁下部に設けられた排気口D)ら、メ
イン真空パルプ219を介して真空排気装置(図示せず
)によって真空排気される。
基体218の位置は、基体ホルダー212を上下に駆動
させることによって、各ガス導入管209〜211のガ
ス排出口の位置から適宜所望の距離に基体表面が配置さ
れるべく調整される。本発明において、ガス導入管のガ
ス排出口と基体表面との距離は、形成される堆積膜の種
類、及びその所望される特性2、あるいはガス流量、真
空容器の内圧等ご考慮して決められるが、好ましくは、
数量〜20備、より好ましくは5鴎〜15儂とするのが
望ましい。
させることによって、各ガス導入管209〜211のガ
ス排出口の位置から適宜所望の距離に基体表面が配置さ
れるべく調整される。本発明において、ガス導入管のガ
ス排出口と基体表面との距離は、形成される堆積膜の種
類、及びその所望される特性2、あるいはガス流量、真
空容器の内圧等ご考慮して決められるが、好ましくは、
数量〜20備、より好ましくは5鴎〜15儂とするのが
望ましい。
213は基体加熱ヒーターであり、基体218を成膜時
に適当な温度に加熱したり、あるいは、成膜前に基体2
18を予備加熱したり、さらには、成膜後、膜をアニー
ル処理するためのものである。該基体加熱ヒーターには
、導線214を介して電源215より電力が供給される
0216は基体温度な測定する為に設けられた熱電対で
あり、温度表水袋f217に電気的に接続されているら
〔実施例〕 第2図に示した装置を用いて本発明の光起電力素子を製
造する方法を、実施例1〜3により具体的に説明する。
に適当な温度に加熱したり、あるいは、成膜前に基体2
18を予備加熱したり、さらには、成膜後、膜をアニー
ル処理するためのものである。該基体加熱ヒーターには
、導線214を介して電源215より電力が供給される
0216は基体温度な測定する為に設けられた熱電対で
あり、温度表水袋f217に電気的に接続されているら
〔実施例〕 第2図に示した装置を用いて本発明の光起電力素子を製
造する方法を、実施例1〜3により具体的に説明する。
且l且工
第1囚図に示したp −i −n型太陽電池用光起箪力
素子を作製した。
素子を作製した。
本例に2いては、ガス導入用の配管の先端の位置と基体
表面との距離は31になるようにした。
表面との距離は31になるようにした。
まず、1000 A (7,) 5no2膜を熱CYI
)法ニよす形成したガラス板を基体として用い、該基体
を真空容器220内の基体ホルダー212上に載置し、
メイン真空パルプを開いて、真空容器220内を十分に
排気した。次に加熱ヒーター213により基体温度が2
50℃となるまで加熱し、該温度に保持した。
)法ニよす形成したガラス板を基体として用い、該基体
を真空容器220内の基体ホルダー212上に載置し、
メイン真空パルプを開いて、真空容器220内を十分に
排気した。次に加熱ヒーター213により基体温度が2
50℃となるまで加熱し、該温度に保持した。
こうしたところで、まず第1に、p型a −8iO:H
:F:B半導体層を形成するため、気体状原料物質囚と
して81H4ガスと(JLガスを、p型不純物導入用原
料物質としてHeで希釈されたB2H,ガス(B2H1
/H2−3000ppm )を、気体状酸化剤としてF
2ガスを用いて、次のようにして成膜した。
:F:B半導体層を形成するため、気体状原料物質囚と
して81H4ガスと(JLガスを、p型不純物導入用原
料物質としてHeで希釈されたB2H,ガス(B2H1
/H2−3000ppm )を、気体状酸化剤としてF
2ガスを用いて、次のようにして成膜した。
まず、ボンベ201に充填されているSiH<ガス20
800Mとボンベ202に充填されているOH4ガス3
5C(B(Ti: 、ガス導入管209を介して真空容
器に導入した。また、ボンベ203に充填されているH
eガスで3000 ppmに希釈されているBzHsガ
ス(以下、rBzH@/Heガス」と称す。)108(
XWをガス導入管210を介して真空容器に導入した。
800Mとボンベ202に充填されているOH4ガス3
5C(B(Ti: 、ガス導入管209を介して真空容
器に導入した。また、ボンベ203に充填されているH
eガスで3000 ppmに希釈されているBzHsガ
ス(以下、rBzH@/Heガス」と称す。)108(
XWをガス導入管210を介して真空容器に導入した。
更に、これと同時にボンベ207に充填されているHe
ガス30500Mをガス導入管211を介して真空容器
に導入した。夫々のガスの流量が安定したところで真空
容器220内の圧力を、メイン真空パルプ219コ調整
して、0.8 Torrに設定した。この状態でボンベ
206に充填されているF2ガス2500Mをガス導入
管211を介して真空容器内に導入した。8 iH4ガ
スとF2ガスの混合域で、青色の強い発光が観察された
。このままの状態で4分間保持し、StO,膜上に約3
0OAの膜厚を有するp型a−810: H: F :
B半導体層ご形成した。
ガス30500Mをガス導入管211を介して真空容器
に導入した。夫々のガスの流量が安定したところで真空
容器220内の圧力を、メイン真空パルプ219コ調整
して、0.8 Torrに設定した。この状態でボンベ
206に充填されているF2ガス2500Mをガス導入
管211を介して真空容器内に導入した。8 iH4ガ
スとF2ガスの混合域で、青色の強い発光が観察された
。このままの状態で4分間保持し、StO,膜上に約3
0OAの膜厚を有するp型a−810: H: F :
B半導体層ご形成した。
次に、該p型& −810= H: F : B半導体
層上に、1型a−81:H:F半導体層ご形成するため
、気体状原料物質(4)として51H4ガスのみを泪い
、気体状酸化剤としてF2ガスを用い、以下のようにし
て成膜した。
層上に、1型a−81:H:F半導体層ご形成するため
、気体状原料物質(4)として51H4ガスのみを泪い
、気体状酸化剤としてF2ガスを用い、以下のようにし
て成膜した。
即ち、四4ガス供給パイプ202a上にあるパルプ20
2 (L N 202 eと、B2H6/Haガス供給
バイブ203a上にあるパルプ206 & 、 202
eを閉じ、Si&ガス、F2ガスおよびHeガスの流
量は変化させずに、真空容器220内の圧力を0.8T
orrに設定し、そのまま1時間保持した。その結果、
すでに形成されているp型a−8iO:H:F半導体層
上に1型a−81:H:F半導体層な約500OAの膜
厚に成膜した。
2 (L N 202 eと、B2H6/Haガス供給
バイブ203a上にあるパルプ206 & 、 202
eを閉じ、Si&ガス、F2ガスおよびHeガスの流
量は変化させずに、真空容器220内の圧力を0.8T
orrに設定し、そのまま1時間保持した。その結果、
すでに形成されているp型a−8iO:H:F半導体層
上に1型a−81:H:F半導体層な約500OAの膜
厚に成膜した。
最後に、該1型a −Si : H: F層上にnla
−Sign:FOP半導体層を設けるため、気体状原料
物質(4)として、SiH4ガス、n型不純物導入用原
料物質としてPIi3ガス、気体状酸化剤としてF2ガ
スを用い1.以下のようにし成膜した。
−Sign:FOP半導体層を設けるため、気体状原料
物質(4)として、SiH4ガス、n型不純物導入用原
料物質としてPIi3ガス、気体状酸化剤としてF2ガ
スを用い1.以下のようにし成膜した。
即ち、ボンベ204に充填されているHeガスで500
0 ppm に希釈されているPH3ガス(以下、r
PH3/Heガス」と称す。) 10 SC0Mを
ガス導入管210を介して真空容器に導入しその他のガ
スは変更させず、真空容器の中の圧力を0.8 Tor
rに設定し、そあまま6分間保持した。その結果、前記
1型a −Si : H’ F If上に、1型a −
Si :H:F:P半導体層f、IeF50G AノM
厚C成HI。
0 ppm に希釈されているPH3ガス(以下、r
PH3/Heガス」と称す。) 10 SC0Mを
ガス導入管210を介して真空容器に導入しその他のガ
スは変更させず、真空容器の中の圧力を0.8 Tor
rに設定し、そあまま6分間保持した。その結果、前記
1型a −Si : H’ F If上に、1型a −
Si :H:F:P半導体層f、IeF50G AノM
厚C成HI。
たO
こうして基体上に3層の半導体層からなる光電変換層を
形成したのち、すべてのガス7〕導入を中止し、加熱ヒ
ーターも止め、真空パルプな開けて、真空容器内を大気
圧に戻し、基本な放冷したのち、真空容器から光を変換
層の形成された基体をとり出した。これ2更に別の真空
容器に入れ、n型半導体層上に真空蒸着法により膜厚5
00AのA/電極を形成し、第1(4)図に示す層構成
のp −i −n型太陽電池を得た。
形成したのち、すべてのガス7〕導入を中止し、加熱ヒ
ーターも止め、真空パルプな開けて、真空容器内を大気
圧に戻し、基本な放冷したのち、真空容器から光を変換
層の形成された基体をとり出した。これ2更に別の真空
容器に入れ、n型半導体層上に真空蒸着法により膜厚5
00AのA/電極を形成し、第1(4)図に示す層構成
のp −i −n型太陽電池を得た。
こうして得られた太陽電池について検討したところ、基
体上に形成された各層はいずれも膜質、膜厚ともに均一
で、すぐれた品質を有するものであった。
体上に形成された各層はいずれも膜質、膜厚ともに均一
で、すぐれた品質を有するものであった。
次にこの太陽電池に、ガラス基体側よりAM−1100
mW/cfflの光を照射したところ、開放電圧0.8
0v1短絡電流18 mJv’c:d %変換効率8%
の太陽電池特性が得られた0 11旦ユ 本例においては第3図に示す多層構造のp−1−n−p
−i −n型太陽電池を作製した。第3図において、
301はガラス板、302は透明電極、303.306
はp型半導体層、304.307は1型半導体層、30
5.308はn型半導体層、309はAll!極を各々
示している。
mW/cfflの光を照射したところ、開放電圧0.8
0v1短絡電流18 mJv’c:d %変換効率8%
の太陽電池特性が得られた0 11旦ユ 本例においては第3図に示す多層構造のp−1−n−p
−i −n型太陽電池を作製した。第3図において、
301はガラス板、302は透明電極、303.306
はp型半導体層、304.307は1型半導体層、30
5.308はn型半導体層、309はAll!極を各々
示している。
まず、ガラス板301に100OAの5n02膜302
を熱CVD法により形成し、基板とした。該基板を真空
容器220内の基体ホルダー212上に載置し、メイン
真空パルプ219 ’!2開いて、真空容器220内を
十分に排気した。次に加熱ヒーター213により基体2
18を250℃に加熱し、該温度に保持した。
を熱CVD法により形成し、基板とした。該基板を真空
容器220内の基体ホルダー212上に載置し、メイン
真空パルプ219 ’!2開いて、真空容器220内を
十分に排気した。次に加熱ヒーター213により基体2
18を250℃に加熱し、該温度に保持した。
こうしたところで、ボンベ201に充填されているSi
H4ガス20 So(mとボンベ202に充填されてい
るOH4ガス3 SOaMをガス導入管209ヲ介して
真空容器内に導入し、ボンベ203に充填されているH
eガスで3000 ppmに希釈された]hHsHeガ
ス下、「B2H@/Heガス」と称す。)10SCIC
M をガス導入管210を介して真空容器内に導入した
。これと同時に、ボンベ207に充填されているHeガ
ス30500M をガス導入管211を介して真空容器
内に導入した。夫々のガスの流量が安定したところで、
メイン真空パルプ219Tr:調整し、真空容器の内圧
を0.8 Torrに設定した。この状態でボンベ20
6に充填されているF2ガス28CICM Ttガス導
入管211を介して導入した。
H4ガス20 So(mとボンベ202に充填されてい
るOH4ガス3 SOaMをガス導入管209ヲ介して
真空容器内に導入し、ボンベ203に充填されているH
eガスで3000 ppmに希釈された]hHsHeガ
ス下、「B2H@/Heガス」と称す。)10SCIC
M をガス導入管210を介して真空容器内に導入した
。これと同時に、ボンベ207に充填されているHeガ
ス30500M をガス導入管211を介して真空容器
内に導入した。夫々のガスの流量が安定したところで、
メイン真空パルプ219Tr:調整し、真空容器の内圧
を0.8 Torrに設定した。この状態でボンベ20
6に充填されているF2ガス28CICM Ttガス導
入管211を介して導入した。
この際、51H4ガスとF2ガスの混合域で青色に強く
発光するのが観察された。この状態に4分間保持し、5
n02膜302上に約300Aの膜厚を有するp型a−
8in: H: F : B層303ヲ形成した。
発光するのが観察された。この状態に4分間保持し、5
n02膜302上に約300Aの膜厚を有するp型a−
8in: H: F : B層303ヲ形成した。
次いで、CH4ガス供給パイプ202ル上にあるハA/
フ202 d、 202 e及びBzH@/Heガス
供給パイプ203a上にあるパルプ203 d1203
e k閉じ、一方、SiH4ガス、F2ガス、及びH
eガスの流度は変化させずに12分間、夫々のガスを導
入した。
フ202 d、 202 e及びBzH@/Heガス
供給パイプ203a上にあるパルプ203 d1203
e k閉じ、一方、SiH4ガス、F2ガス、及びH
eガスの流度は変化させずに12分間、夫々のガスを導
入した。
その結果、前記p型a−8iO: H: F i BI
G303の上に、約100OAの1型a−8i+H:F
府304を形成した。
G303の上に、約100OAの1型a−8i+H:F
府304を形成した。
更に、ボンベ204に充填されているHeガスで500
0 ppmに希釈されているPH3ガス(以下、r P
Ha/Heガス」と称す。) 10 BOOMをガス導
入管210を介して真空容器内に導入し、一方、SiH
4ガス、F2ガス、Heガスの流量は変化させずに6分
間、夫々のガスを導入した。その結果、上記1型a−8
ijH:F層304の上に約soo Xのn型a−81
:H: F : PItlJ305e形成した。
0 ppmに希釈されているPH3ガス(以下、r P
Ha/Heガス」と称す。) 10 BOOMをガス導
入管210を介して真空容器内に導入し、一方、SiH
4ガス、F2ガス、Heガスの流量は変化させずに6分
間、夫々のガスを導入した。その結果、上記1型a−8
ijH:F層304の上に約soo Xのn型a−81
:H: F : PItlJ305e形成した。
次に、真空容器内に導入されるすべてのガスの供給パイ
プ上にあるボンベを閉じてガスの供@乙中止し、メイン
真空パルプ219コ開いて、真空容器内の残留ガスを十
分に排気した0こうしたところに、ボンベ201に充填
されているSiH4ガス20500Mをガス導入管20
9を介し、ボンベ203に充填されているB2H6/H
f3ガス(3000ppm ) 10500Mをガス導
入管210を介し、夫々、真空容器に導入した。これと
同時に1ボンベ207に充填されているHeガス30
SC0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入
した。夫々のガスの流量が安定したところで、メイン真
空パルプ219を調整して、真空容器内の圧力を0.8
Torrに設定した。この状態のまま4分間保持した結
果、すでにp −i −n型の層が積腎された基体上に
、約300Xの膜厚P育するp型a−8i: H! F
: B 306層を形成した。
プ上にあるボンベを閉じてガスの供@乙中止し、メイン
真空パルプ219コ開いて、真空容器内の残留ガスを十
分に排気した0こうしたところに、ボンベ201に充填
されているSiH4ガス20500Mをガス導入管20
9を介し、ボンベ203に充填されているB2H6/H
f3ガス(3000ppm ) 10500Mをガス導
入管210を介し、夫々、真空容器に導入した。これと
同時に1ボンベ207に充填されているHeガス30
SC0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入
した。夫々のガスの流量が安定したところで、メイン真
空パルプ219を調整して、真空容器内の圧力を0.8
Torrに設定した。この状態のまま4分間保持した結
果、すでにp −i −n型の層が積腎された基体上に
、約300Xの膜厚P育するp型a−8i: H! F
: B 306層を形成した。
次いで、B2H6/Heガス供給パイプ203aの上の
ボンベ203 a 、、203 eを閉じ、一方、Si
H4ガス、F2ガス及びHeガスを夫々、20SCOM
13SCCM130 Seyの流量で導入し、さらに、
ボン、べ205に充填されているGθH4ガス3500
Mをガス導入管210 i介して真空容器内に導入した
。この状態のまま45分間保ったところ、前記p型a
−Si:H:F:B層306の上に、約500OAの膜
淳を有する1型a −5iGe : H: F 層30
7 ’i堆積したO 更5こ、83−H4ガス、F2ガス1.Heガス及びG
eH4のガスごそのままの流量で導入しつづけるととも
に、ガスボンベ204に充填されているPH3/Heガ
ス(5000ppm ) 105CG7R(f N 7
.導入9210 ’E−介して真空容器内に導入した。
ボンベ203 a 、、203 eを閉じ、一方、Si
H4ガス、F2ガス及びHeガスを夫々、20SCOM
13SCCM130 Seyの流量で導入し、さらに、
ボン、べ205に充填されているGθH4ガス3500
Mをガス導入管210 i介して真空容器内に導入した
。この状態のまま45分間保ったところ、前記p型a
−Si:H:F:B層306の上に、約500OAの膜
淳を有する1型a −5iGe : H: F 層30
7 ’i堆積したO 更5こ、83−H4ガス、F2ガス1.Heガス及びG
eH4のガスごそのままの流量で導入しつづけるととも
に、ガスボンベ204に充填されているPH3/Heガ
ス(5000ppm ) 105CG7R(f N 7
.導入9210 ’E−介して真空容器内に導入した。
このままの状態で5分間保ったところ、1型a −81
Ge : H: F@ 307の上に、膜厚的50OA
のn型a −5iGe :H:F:PIl1308を堆
積した。
Ge : H: F@ 307の上に、膜厚的50OA
のn型a −5iGe :H:F:PIl1308を堆
積した。
こうして、基板上にpM303〜306 $らなる多層
R戊の光電変換層の形成を終了したのち、すべてのガス
の導入を中止し、加熱ヒーターも止め、真空バルブ21
9を開いて、真空容器内を大気圧に戻し1、基体が冷め
てから、真空容器の外に該基体をとり出した。これを更
に別の真空容器(図示せず)にV置し、真空蒸着法によ
り、光電変換肩上に約50OAのAlt極309(1c
iX1−の形状)をつけた。その結果、第3図に示すご
とさ、SnO2膜ご被覆したガラス板上にp −1−n
−p −i −nの多層構造の太陽を池が形成された
〇 該太陽電池に、ガラス板301側より、AM−1100
mW/G−の光ご照射したところ、開放電圧1.4V1
短絡電流10 m〜包、変換効率8.5%の太陽′α池
特性が得られた。
R戊の光電変換層の形成を終了したのち、すべてのガス
の導入を中止し、加熱ヒーターも止め、真空バルブ21
9を開いて、真空容器内を大気圧に戻し1、基体が冷め
てから、真空容器の外に該基体をとり出した。これを更
に別の真空容器(図示せず)にV置し、真空蒸着法によ
り、光電変換肩上に約50OAのAlt極309(1c
iX1−の形状)をつけた。その結果、第3図に示すご
とさ、SnO2膜ご被覆したガラス板上にp −1−n
−p −i −nの多層構造の太陽を池が形成された
〇 該太陽電池に、ガラス板301側より、AM−1100
mW/G−の光ご照射したところ、開放電圧1.4V1
短絡電流10 m〜包、変換効率8.5%の太陽′α池
特性が得られた。
実施例3
本例においては、第4図に示すごとき、傾斜型バンドギ
ャップの太陽電池を作製した。第4図において、401
はガラス基板、402は透明電極、403は傾斜型バン
ドギャップを有する半4体層、404はAl電極を夫々
示している。
ャップの太陽電池を作製した。第4図において、401
はガラス基板、402は透明電極、403は傾斜型バン
ドギャップを有する半4体層、404はAl電極を夫々
示している。
ガラス基板401上に、約zooo Xの5n02膜4
02を熱C■法により形成して基体とした。該基体ご第
2図に示す装置の真空容器201内に設置されている基
体ホルダー212上に載置し、真空バルブ219を開い
て真空容器内を真空排気装置(図示せず)LA−より十
分に真空排気した後、加熱用ヒーター213により基体
を加熱し、250℃に保持した。
02を熱C■法により形成して基体とした。該基体ご第
2図に示す装置の真空容器201内に設置されている基
体ホルダー212上に載置し、真空バルブ219を開い
て真空容器内を真空排気装置(図示せず)LA−より十
分に真空排気した後、加熱用ヒーター213により基体
を加熱し、250℃に保持した。
こうしたところへ、ボンベ201に充填されているS
iH4ガス205acbtとボンベ202に充填されて
いるOH4ガス3 SCICMをガス導入管209 i
介して、また、ボンベ203に充填されているHeで3
000 ppm に希釈したBtusガス(以下、r
Bma/I(eガスjと称す。 ) io 8aOM
ごガス導入管210ご介して、夫々真空容器内に導入し
た。更にボンベ207に充填されているHeガス30
SC0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入
した。夫々のガスの流量が安定したところで、真空バル
ブ219の開閉度を調整して、真空容器内を0,8To
rrに設定した。
iH4ガス205acbtとボンベ202に充填されて
いるOH4ガス3 SCICMをガス導入管209 i
介して、また、ボンベ203に充填されているHeで3
000 ppm に希釈したBtusガス(以下、r
Bma/I(eガスjと称す。 ) io 8aOM
ごガス導入管210ご介して、夫々真空容器内に導入し
た。更にボンベ207に充填されているHeガス30
SC0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入
した。夫々のガスの流量が安定したところで、真空バル
ブ219の開閉度を調整して、真空容器内を0,8To
rrに設定した。
その後、ボンベ206に充填されているF2ガス250
0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入する
と、ガス導入管209.2]0 、δよび血の排気口付
近の夫々のガスが混合する領域で青色の発光が観察され
た。
0Mをガス導入管211を介して真空容器内に導入する
と、ガス導入管209.2]0 、δよび血の排気口付
近の夫々のガスが混合する領域で青色の発光が観察され
た。
F2ガスを流しはじめると同時に、cH4ガス用マス7
0−コントローラー202b及びB正62イEieガス
用マスフローコントローラー2o3bl*wして、時間
経搗とともに、OH4ガスの流量を約0.1scCM/
−の割合で直線的に減少させ、B2H6/l(・(−3
000ppm )ガスの流量を約0.3 SCcMz=
の割合で直線的に減少させ、F2ガスを導入しはじめて
から35分で、CH4ガス及びB zHs/Hθガスの
流量がゼロになるようにした。その後、ざらにF2ガス
を導入しつづけるとともに、ボンベ205に充填させた
GeH4ガスを、ガスの流量が約0.ISOUM/酬の
割合で0から増加させ、ま二PH3/I九(−5000
ppm )力スを、ガス流量が約0.38CG%j、4
の割合でOfpら増大させた。これらのGeH4ガス及
びP)(a/)IOガスは夫々ガス導入管を介して35
分間導入し、35分後にGeHaガスの流量が380(
−”M 、PHs /Heガスの流lが10 SCCM
になるj: ウCシフ;Co 第6図にz 、CHaH
eガス 2 EI6 AleHeガスeHtガス、PH
3//IIeガスの夫々のガス流量の変化ご示す図であ
り、図中、線:−−m−−はOH4ガスの流量、線二一
一一一一はB2HO,/)fθガスの流量、線:−一−
一はG3H4ガスの流量、線:−一一一はPHv’He
ガスの流量を夫々示している。
0−コントローラー202b及びB正62イEieガス
用マスフローコントローラー2o3bl*wして、時間
経搗とともに、OH4ガスの流量を約0.1scCM/
−の割合で直線的に減少させ、B2H6/l(・(−3
000ppm )ガスの流量を約0.3 SCcMz=
の割合で直線的に減少させ、F2ガスを導入しはじめて
から35分で、CH4ガス及びB zHs/Hθガスの
流量がゼロになるようにした。その後、ざらにF2ガス
を導入しつづけるとともに、ボンベ205に充填させた
GeH4ガスを、ガスの流量が約0.ISOUM/酬の
割合で0から増加させ、ま二PH3/I九(−5000
ppm )力スを、ガス流量が約0.38CG%j、4
の割合でOfpら増大させた。これらのGeH4ガス及
びP)(a/)IOガスは夫々ガス導入管を介して35
分間導入し、35分後にGeHaガスの流量が380(
−”M 、PHs /Heガスの流lが10 SCCM
になるj: ウCシフ;Co 第6図にz 、CHaH
eガス 2 EI6 AleHeガスeHtガス、PH
3//IIeガスの夫々のガス流量の変化ご示す図であ
り、図中、線:−−m−−はOH4ガスの流量、線二一
一一一一はB2HO,/)fθガスの流量、線:−一−
一はG3H4ガスの流量、線:−一一一はPHv’He
ガスの流量を夫々示している。
F2ガスを真空容器内に導入しはじめてから70分経過
後、すべてのガスの導入を中止し、加熱ヒーターを止め
るとともに、真空パルプを開いて真空容器内を大気圧に
戻した。この結果、ガラス基板401上に形成した5n
02膜402上に、傾let/<ントキ’ryプを有す
るa −8i(OSGe):H’F:(BSP)膜40
3を堆積した。第5図は、該&−81(CsGe)”
H: F :(B、P)膜403のバンド構造を示す略
図である。
後、すべてのガスの導入を中止し、加熱ヒーターを止め
るとともに、真空パルプを開いて真空容器内を大気圧に
戻した。この結果、ガラス基板401上に形成した5n
02膜402上に、傾let/<ントキ’ryプを有す
るa −8i(OSGe):H’F:(BSP)膜40
3を堆積した。第5図は、該&−81(CsGe)”
H: F :(B、P)膜403のバンド構造を示す略
図である。
真空容器より堆積膜が形成された基体218をとり出し
、別の真空容器(図示せず)を用いて、約50OAのA
/電極(1csX 1 cm) k真空蒸着した。この
結果、第4図に示す層構成を有し、傾斜バンドギャップ
のa Si (OSGo ) ’ H: F ’ (
B%P)層403を基体上に有する太@電池が得られた
0 得られた太陽電池に、ガラス基板401何よりAM−1
100mW/cglの元を照射したところ1開放電圧o
、sov、短絡電流16 mA/cj 、変換効率8%
の太陽電池特性が得られた。
、別の真空容器(図示せず)を用いて、約50OAのA
/電極(1csX 1 cm) k真空蒸着した。この
結果、第4図に示す層構成を有し、傾斜バンドギャップ
のa Si (OSGo ) ’ H: F ’ (
B%P)層403を基体上に有する太@電池が得られた
0 得られた太陽電池に、ガラス基板401何よりAM−1
100mW/cglの元を照射したところ1開放電圧o
、sov、短絡電流16 mA/cj 、変換効率8%
の太陽電池特性が得られた。
本発明の光起電力素子は、気体状原料物質(8)と、該
気体状原料物質(4)に酸化作用する性質を有する気体
状酸化剤と2、各々別の経路より成膜空間に導入して両
者を化学的に接触させることにより、プラズマ反応を介
することなく光電変換層を形成せしめたものであるため
、すぐれた光電変換効率を有するとともに、該光電変換
層の膜厚および膜質が均一で、すぐれた品質を有してい
る。また、本発明の光起電力素子の製造方法及びそのた
めの装置は、形成される光電変換層の特性を保持し、か
つ、層形成速度の向上を図りながら、N形成条件の管理
の簡素化及び量産化を達成しうるちのである0
気体状原料物質(4)に酸化作用する性質を有する気体
状酸化剤と2、各々別の経路より成膜空間に導入して両
者を化学的に接触させることにより、プラズマ反応を介
することなく光電変換層を形成せしめたものであるため
、すぐれた光電変換効率を有するとともに、該光電変換
層の膜厚および膜質が均一で、すぐれた品質を有してい
る。また、本発明の光起電力素子の製造方法及びそのた
めの装置は、形成される光電変換層の特性を保持し、か
つ、層形成速度の向上を図りながら、N形成条件の管理
の簡素化及び量産化を達成しうるちのである0
第1(4)乃至Ω図は、本発明の光起電力素子の構成の
典型例を示す模式図である。第2図は、本発明の光起電
力素子を製造する装置の1例を模式的に示す断面略図で
ある。第3.4図は本発明の′実施例2.3において作
製された太陽電池の層構成を模式的に示す断面略図であ
る。第5図は、第4図に示す太陽電池の光電変換層が有
するバンド構造を示す略図である。第6図は、第4図に
示す太陽電池の光電変換層形成時における、前駆体原料
物質の真空容器内への流量変化を示す図であり、縦軸は
ガス流量、横軸は時間を表わす。 第1図について、 101は支持体、102〜104は光電変換層を構成す
る半導体層、105は導電層、106は絶縁層、107
は金属層である。 第2図について、 201〜208・・−・・・・・・・ガスボンベ、20
1a〜208a・・・・・・・・・ ガス供給パイプ\
201b〜208b・・・・・・・・・マスフローコ
ントローラー、201c〜208c・旧・・・・・ガス
圧力計、201d〜208 (1、201θ〜208
e・・・・・・・・・パルプ、201f〜208f・・
・叩・・カス圧力計、209.21o1211・・・・
・・・・・ガス導入管、212・・・・・・・・・基体
ホルダー、213・・・・・・・・・基体加熱ヒーター
、214・・・・・・・・・導線、215・・・・・・
・・・電源、216・・・・・・・・・熱電対、217
・・・・・・・・・温度表示装量、218・・・・旧・
・基体 219・・・・・・・・・メイン真空パルプ、
22o・・・・・・・・・真空容器、223〜225・
・・・・・・・・ガス供給パイプライン第3図について
1 301・・・・・・・・・ガラス基板、3o2・・・・
・・・・・透明電極、303.306・・・・・・・・
・p型半導体層、3o4.3o7・・・・旧・・生型半
導体層、305.3o8・・・・・・・・・n型半導体
層、309・・・・・・・・・A/電極 第4図について、 401・・・・・・・・・ガラス基板、4o2・・・・
・川・透明電極、403・・・・・・・・・光電変換層
、4o4・・・・・・・・・A/電極図面の浄書(内容
に変更なし) 第1図 第2図 手 続 補 J:、 書 (方 式)昭和6
1年3月4日 特徴?′[庁長官 宇 賀 道 部 殿■、事件の表示 昭和60年特許願第277004 号 2発明の名称 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置3、補正
をする者 事件との関係 特許出題人 任 所 東京都太田区下丸子3丁目30番2号名称
(ioo+キャノン株式会社 4、代理人 住 所 東京都千代田区麹町3丁目12番地6麹町グ
リーノビル
典型例を示す模式図である。第2図は、本発明の光起電
力素子を製造する装置の1例を模式的に示す断面略図で
ある。第3.4図は本発明の′実施例2.3において作
製された太陽電池の層構成を模式的に示す断面略図であ
る。第5図は、第4図に示す太陽電池の光電変換層が有
するバンド構造を示す略図である。第6図は、第4図に
示す太陽電池の光電変換層形成時における、前駆体原料
物質の真空容器内への流量変化を示す図であり、縦軸は
ガス流量、横軸は時間を表わす。 第1図について、 101は支持体、102〜104は光電変換層を構成す
る半導体層、105は導電層、106は絶縁層、107
は金属層である。 第2図について、 201〜208・・−・・・・・・・ガスボンベ、20
1a〜208a・・・・・・・・・ ガス供給パイプ\
201b〜208b・・・・・・・・・マスフローコ
ントローラー、201c〜208c・旧・・・・・ガス
圧力計、201d〜208 (1、201θ〜208
e・・・・・・・・・パルプ、201f〜208f・・
・叩・・カス圧力計、209.21o1211・・・・
・・・・・ガス導入管、212・・・・・・・・・基体
ホルダー、213・・・・・・・・・基体加熱ヒーター
、214・・・・・・・・・導線、215・・・・・・
・・・電源、216・・・・・・・・・熱電対、217
・・・・・・・・・温度表示装量、218・・・・旧・
・基体 219・・・・・・・・・メイン真空パルプ、
22o・・・・・・・・・真空容器、223〜225・
・・・・・・・・ガス供給パイプライン第3図について
1 301・・・・・・・・・ガラス基板、3o2・・・・
・・・・・透明電極、303.306・・・・・・・・
・p型半導体層、3o4.3o7・・・・旧・・生型半
導体層、305.3o8・・・・・・・・・n型半導体
層、309・・・・・・・・・A/電極 第4図について、 401・・・・・・・・・ガラス基板、4o2・・・・
・川・透明電極、403・・・・・・・・・光電変換層
、4o4・・・・・・・・・A/電極図面の浄書(内容
に変更なし) 第1図 第2図 手 続 補 J:、 書 (方 式)昭和6
1年3月4日 特徴?′[庁長官 宇 賀 道 部 殿■、事件の表示 昭和60年特許願第277004 号 2発明の名称 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置3、補正
をする者 事件との関係 特許出題人 任 所 東京都太田区下丸子3丁目30番2号名称
(ioo+キャノン株式会社 4、代理人 住 所 東京都千代田区麹町3丁目12番地6麹町グ
リーノビル
Claims (16)
- (1)光起電力素子用の基体と、該基体の導電面上に設
けられた光電変換層と、該光電変換層上に設けられた導
電層とからなる光起電力素子であって、前記光電変換層
が、該光電変換層形成用の気体状原料物質と該気体状原
料物質と化学的に相互作用してそれを酸化する性質を有
する気体状酸化剤とを、各々別の経路より成膜空間に導
入し、両者をプラズマ反応を介することなく化学的に接
触せしめて励起状態の前駆体を含む複数種の前駆体を生
成し、これ等の前駆体のうち少なくとも一種の前駆体を
前記光電変換層の構成要素の供給源として形成されたも
のであることを特徴とする光起電力素子。 - (2)前記気体状原料物質が、p型不純物導入用原料物
質又はn型不純物導入用原料物質を含有している特許請
求の範囲第(1)項に記載された光起電力素子。 - (3)前記光電変換層が、シリコン原子と、水素原子又
はハロゲン原子の少なくともいずれか一方とを含有する
非単結晶質材料で構成された複数の半導体層からなる特
許請求の範囲第(1)項に記載された光起電力素子。 - (4)前記光電変換層が、p型半導体層、i型半導体層
およびn型半導体層とからなる特許請求の範囲第(3)
項に記載された光起電力素子。 - (5)前記p型半導体層又は前記n型半導体層の光入射
側の層が、酸素原子、炭素原子及び窒素原子の中から選
ばれる少なくとも一種を含有するワイドバンドギャップ
化された層である特許請求の範囲第(4)項に記載され
た光起電力素子。 - (6)前記i型半導体層が、マルチバンドギャップ化さ
れた層である特許請求の範囲第(4)項に記載された光
起電力素子。 - (7)光電変換層形成用の気体状原料物質と、該気体状
原料物質に酸化作用をする性質を有する気体状酸化剤と
を、各々別の経路より成膜空間に導入し、両者をプラズ
マ反応を介することなく化学的に接触せしめて励起状態
の前駆体を含む複数種の前駆体を生成せしめ、これらの
前駆体のうち少なくとも一種の前駆体を前記光電変換層
の構成要素の供給源として、前記成膜空間内に配置され
ている光起電力素子用の基体の導電層上に光電変換層を
形成せしめることを特徴とする光起電力素子の製造方法
。 - (8)前記気体状原料物質に、p型不純物導入用原料物
質又はn型不純物導入用原料物質を含有せしめた特許請
求の範囲第(7)項に記載された光起電力素子の製造方
法。 - (9)層形成時に発光を伴う特許請求の範囲第(7)項
又は第(8)項に記載された光起電力素子の製造方法。 - (10)前記気体状酸化剤が、ハロゲンガス又は発生期
のハロゲンから選ばれるハロゲン系酸化剤である特許請
求の範囲第(7)項に記載された光起電力素子の製造方
法。 - (11)前記気体状酸化剤が、酸素化合物である特許請
求の範囲第(7)項に記載された光起電力素子の製造方
法。 - (12)前記気体状酸化剤が、窒素化合物である特許請
求の範囲第(7)項に記載された光起電力素子の製造方
法。 - (13)上壁、側壁及び底壁で包囲密封形成されてなる
成膜室を備えた反応容器と、該反応容器の上壁に設けら
れたガス導入用の配管と、該反応容壁の側壁下部に設け
られたガス排気手段とを備えた光起電力素子製造装置で
あって、前記反応容器内の反応空間に導入される光電変
換層形成用の気体状原料物質と該気体状原料物質に酸化
作用する性質を有する気体状酸化剤とが、各々別の経路
より前記成膜空間に導入されると同時にプラズマ反応を
介することなく化学的に接触するようにしてなることを
特徴とする光起電力素子製造装置。 - (14)前記ガス導入用の配管が、同心円の多重管構造
を有している特許請求の範囲第(13)項に記載された
光起電力素子製造装置。 - (15)前記ガス導入用の配管のガス排出口が、成膜室
に配置された基体の表面と対向する位置に設けられてい
る特許請求の範囲第(13)項に記載された光起電力素
子製造装置。 - (16)前記ガス導入用の配管が、同心円の多重管構造
を有しており、かつ、内側のガス導入管になるほどガス
排出口の位置が基体の表面位置から遠くなるようにされ
ている特許請求の範囲第(13)項に記載された光起電
力素子製造装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60277004A JPS62136885A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置 |
US06/938,996 US4798809A (en) | 1985-12-11 | 1986-12-08 | Process for preparing photoelectromotive force member |
AU66323/86A AU593191B2 (en) | 1985-12-11 | 1986-12-09 | Process for preparing photoelectromotive force member, process and apparatus for the preparation thereof |
CA000524947A CA1298174C (en) | 1985-12-11 | 1986-12-10 | Photoelectromotive force member, process and apparatus for the preparation thereof |
DE3650350T DE3650350T2 (de) | 1985-12-11 | 1986-12-11 | Verfahren zur Herstellung eines photovoltaischen Elements. |
EP86309680A EP0226462B1 (en) | 1985-12-11 | 1986-12-11 | Process for the preparation of a photoelectromotive force member |
CN86108412A CN1007104B (zh) | 1985-12-11 | 1986-12-11 | 光电动势元件的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60277004A JPS62136885A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62136885A true JPS62136885A (ja) | 1987-06-19 |
Family
ID=17577418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60277004A Pending JPS62136885A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 光起電力素子、その製造方法及びその製造装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4798809A (ja) |
EP (1) | EP0226462B1 (ja) |
JP (1) | JPS62136885A (ja) |
CN (1) | CN1007104B (ja) |
AU (1) | AU593191B2 (ja) |
CA (1) | CA1298174C (ja) |
DE (1) | DE3650350T2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JPS62136871A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-19 | Canon Inc | 光センサ−、その製造方法及びその製造装置 |
JPH0746729B2 (ja) * | 1985-12-26 | 1995-05-17 | キヤノン株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
KR100332313B1 (ko) * | 2000-06-24 | 2002-04-12 | 서성기 | Ald 박막증착장치 및 증착방법 |
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US6677250B2 (en) * | 2001-08-17 | 2004-01-13 | Micron Technology, Inc. | CVD apparatuses and methods of forming a layer over a semiconductor substrate |
US6787185B2 (en) | 2002-02-25 | 2004-09-07 | Micron Technology, Inc. | Deposition methods for improved delivery of metastable species |
US6887521B2 (en) | 2002-08-15 | 2005-05-03 | Micron Technology, Inc. | Gas delivery system for pulsed-type deposition processes used in the manufacturing of micro-devices |
US20090236447A1 (en) * | 2008-03-21 | 2009-09-24 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for controlling gas injection in process chamber |
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1985
- 1985-12-11 JP JP60277004A patent/JPS62136885A/ja active Pending
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1986
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