JPS6155797B2 - - Google Patents
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- JPS6155797B2 JPS6155797B2 JP2016480A JP2016480A JPS6155797B2 JP S6155797 B2 JPS6155797 B2 JP S6155797B2 JP 2016480 A JP2016480 A JP 2016480A JP 2016480 A JP2016480 A JP 2016480A JP S6155797 B2 JPS6155797 B2 JP S6155797B2
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- Japan
- Prior art keywords
- photoresist
- thin film
- metal thin
- wiring layer
- wiring
- Prior art date
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- Expired
Links
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 22
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- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 18
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高密度多層配線基板の製造方法に関
し、特に基板上の導体層の形成方法に関する。
し、特に基板上の導体層の形成方法に関する。
多層配線基板の高密度化のためには、パターン
寸法の微細化が必要であり、この微細化達成のた
めにフオト・レジストを用いた選択めつき法が製
造方法に採用されている。
寸法の微細化が必要であり、この微細化達成のた
めにフオト・レジストを用いた選択めつき法が製
造方法に採用されている。
選択めつき法を用いた従来の多層配線基板の製
造方法においては、まず第1図に示すように、セ
ラミツク基板10の上に金属薄膜12が蒸着され
該金属薄膜12の所要部分がフオト・レジスト1
4で被覆される。このあと、金属薄膜12を一方
の電極として、電解金めつきが行なわれ、第1の
配線層16が形成されたあとで、フオト・レジス
ト14が除去され、金属薄膜12の金めつきで覆
われていない部分がエツチング除去される。次
に、第2図に示すように、絶縁層18が形成さ
れ、その上に金属薄膜22が蒸着され、金属薄膜
22の所要部分がフオトレジスト24で被覆され
たあと、電解金めつきにより第1の配線層16と
このあとで形成される第2の配線層とを接続する
ための導体26が形成され、フオト・レジスト2
4で除去される。次に、金属薄膜22の金めつき
で覆われていない部分がエツチング除去され、絶
縁層28が形成され、この上に第2の配線層36
が第1の配線層の場合と同一の工程で金属薄膜3
2の上に形成されている。
造方法においては、まず第1図に示すように、セ
ラミツク基板10の上に金属薄膜12が蒸着され
該金属薄膜12の所要部分がフオト・レジスト1
4で被覆される。このあと、金属薄膜12を一方
の電極として、電解金めつきが行なわれ、第1の
配線層16が形成されたあとで、フオト・レジス
ト14が除去され、金属薄膜12の金めつきで覆
われていない部分がエツチング除去される。次
に、第2図に示すように、絶縁層18が形成さ
れ、その上に金属薄膜22が蒸着され、金属薄膜
22の所要部分がフオトレジスト24で被覆され
たあと、電解金めつきにより第1の配線層16と
このあとで形成される第2の配線層とを接続する
ための導体26が形成され、フオト・レジスト2
4で除去される。次に、金属薄膜22の金めつき
で覆われていない部分がエツチング除去され、絶
縁層28が形成され、この上に第2の配線層36
が第1の配線層の場合と同一の工程で金属薄膜3
2の上に形成されている。
このような従来の製造方法では、配線層の形成
時とその上の層間接続用の導体の形成時にそれぞ
れ金属薄膜の蒸着および除去およびフオト・レジ
ストの除去が必要なため工程が煩雑になるという
欠点がある。
時とその上の層間接続用の導体の形成時にそれぞ
れ金属薄膜の蒸着および除去およびフオト・レジ
ストの除去が必要なため工程が煩雑になるという
欠点がある。
本発明の目的は工程数を削減し製造時間を短縮
するようにした多層配線基板の導体層の形成方法
を提供することにある。
するようにした多層配線基板の導体層の形成方法
を提供することにある。
本発明の形成方法は、配線基板の上面全面に金
属薄膜を被覆する第1の工程と、 第1の配線パターンを形成すべき領域を除いた
前記金属薄膜上に第1のフオトレジストで被覆す
る第2の工程と、 前記金属薄膜上の前記第1のフオトレジストで
被覆されていない領域に電解金めつきを施して第
1の配線層を形成する第3の工程と、 前記第1のフオトレジストと第2の配線パター
ンを形成すべき領域を除いた前記第1の配線層と
の上に第2の形成する第4の工程と、 前記金属薄膜を一方の電極として電解金めつき
により前記第2のフオトレジストで被覆されてい
ない領域に前記第1の配線層に接着されるように
前記第2の配線層を形成する第5の工程と、 前記第1のフオトレジストと前記第2のフオト
レジストとを同時に除去する第6の工程と、 前記金属薄膜の金めつきで覆われていない部分
をエツチングにより除去する第7の工程とを含む
ことを特徴とする多層配線基板の導体層の形成方
法。
属薄膜を被覆する第1の工程と、 第1の配線パターンを形成すべき領域を除いた
前記金属薄膜上に第1のフオトレジストで被覆す
る第2の工程と、 前記金属薄膜上の前記第1のフオトレジストで
被覆されていない領域に電解金めつきを施して第
1の配線層を形成する第3の工程と、 前記第1のフオトレジストと第2の配線パター
ンを形成すべき領域を除いた前記第1の配線層と
の上に第2の形成する第4の工程と、 前記金属薄膜を一方の電極として電解金めつき
により前記第2のフオトレジストで被覆されてい
ない領域に前記第1の配線層に接着されるように
前記第2の配線層を形成する第5の工程と、 前記第1のフオトレジストと前記第2のフオト
レジストとを同時に除去する第6の工程と、 前記金属薄膜の金めつきで覆われていない部分
をエツチングにより除去する第7の工程とを含む
ことを特徴とする多層配線基板の導体層の形成方
法。
本発明の特徴は、配線層と層間接続導体の電解
金めつきを同一のめつき下地により行なうことと
およびこの時に用いる2層フオト・レジストを同
時に除去することにより工程数の削減を達成する
ことにある。
金めつきを同一のめつき下地により行なうことと
およびこの時に用いる2層フオト・レジストを同
時に除去することにより工程数の削減を達成する
ことにある。
次に本発明について図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第4図から第7図は本発明の一実施例を示す図
である。第4図において、96%のアルミナを主成
分とするセラミツク基板40の表面を直流(D.
C)マグネトロン・スパツタリングにより厚さ
1000オングストローム(Å)のチタン膜と厚さ
1000Åのパラジウム膜の2層からなる薄膜42で
被覆し、次に、薄膜42を膜厚10ミクロン程度の
フオトレジスト44で被覆したあと、露光現像処
理により薄膜42を選択的に露出させ、この露出
した領域の膜厚を電解金めつきによりフオトレジ
スト44にほぼ等しい値に増加させ第1の配線層
46を形成する。
である。第4図において、96%のアルミナを主成
分とするセラミツク基板40の表面を直流(D.
C)マグネトロン・スパツタリングにより厚さ
1000オングストローム(Å)のチタン膜と厚さ
1000Åのパラジウム膜の2層からなる薄膜42で
被覆し、次に、薄膜42を膜厚10ミクロン程度の
フオトレジスト44で被覆したあと、露光現像処
理により薄膜42を選択的に露出させ、この露出
した領域の膜厚を電解金めつきによりフオトレジ
スト44にほぼ等しい値に増加させ第1の配線層
46を形成する。
次に、第5図に示すように、フオト・レジスト
44と第1の配線層46とフオトレジスト48で
被覆したあとで、露光現像処理により第1の配線
層46を選択的に露出させ、薄膜42を一方の電
極として電解金めつきにより第1の配線層46の
一部の膜厚を約40ミクロンに増加させる層間接続
導体50を形成する。
44と第1の配線層46とフオトレジスト48で
被覆したあとで、露光現像処理により第1の配線
層46を選択的に露出させ、薄膜42を一方の電
極として電解金めつきにより第1の配線層46の
一部の膜厚を約40ミクロンに増加させる層間接続
導体50を形成する。
次に、第6図に示すように、2層のフオト・レ
ジスト44および48を除去したあとで薄膜42
の不要部分をエツチング除去する。
ジスト44および48を除去したあとで薄膜42
の不要部分をエツチング除去する。
さらに、第7図に示すように、第1の配線層4
6と層間接続導体50とを含む基板表面をスクリ
ーン印刷による絶縁ペースト52で被覆し、この
絶縁ペースト52を焼成固化したあとで表面を平
面研磨して層間接続導体50を表面に露出させ、
この上に第1の配線層と同様の工程で、薄膜54
上に第2の配線層56および層間接続導体58を
形成する。
6と層間接続導体50とを含む基板表面をスクリ
ーン印刷による絶縁ペースト52で被覆し、この
絶縁ペースト52を焼成固化したあとで表面を平
面研磨して層間接続導体50を表面に露出させ、
この上に第1の配線層と同様の工程で、薄膜54
上に第2の配線層56および層間接続導体58を
形成する。
本発明には、めつき下地層の蒸着およびエツチ
ング工程数の削減やフオト・レジストの除去工程
数の削減による製造時間の短縮が達成できるとい
う効果がある。
ング工程数の削減やフオト・レジストの除去工程
数の削減による製造時間の短縮が達成できるとい
う効果がある。
第1図から第3図は従来の多層配線基板の一例
を示す断面図および第4図から第7図は本発明の
一実施例を示す断面図である。 第1図から第7図において、10,40…セラ
ミツク基板、12,22,32,42,54…金
属薄膜、14,24,44,48…フオト・レジ
スト、16,36,46,56…配線層、26,
50,58…層間接続導体、18,28,52…
絶縁層。
を示す断面図および第4図から第7図は本発明の
一実施例を示す断面図である。 第1図から第7図において、10,40…セラ
ミツク基板、12,22,32,42,54…金
属薄膜、14,24,44,48…フオト・レジ
スト、16,36,46,56…配線層、26,
50,58…層間接続導体、18,28,52…
絶縁層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 配線基板の上面全面に金属薄膜を被覆する第
1の工程と、 第1の配線パターンを形成すべき領域を除いた
前記金属薄膜上に第1のフオトレジストで被覆す
る第2の工程と、前記金属薄膜上の前記第1のフ
オトレジストで被覆されていない領域に電解金め
つきを施して第1の配線層を形成する第3の工程
と、 前記第1のフオトレジストと第2の配線パター
ンを形成すべき領域を除いた前記第1の配線層と
の上に第2のフオトレジストを形成する第4の工
程と、 前記金属薄膜を一方の電極として電解金めつき
により前記第2のフオトレジストで被覆されてい
ない領域に前記第1の配線層に接着されるように
前記第2の配線層を形成する第5の工程と、 前記第1のフオトレジストと前記第2のフオト
レジストとを同時に除去する第6の工程と、 前記金属薄膜の金めつきで覆われていない部分
をエツチングにより除去する第7の工程とを含む
ことを特徴とする多層配線基板の導体層の形成方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016480A JPS56116697A (en) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Method of forming conductor layer on multilayer circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016480A JPS56116697A (en) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Method of forming conductor layer on multilayer circuit board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56116697A JPS56116697A (en) | 1981-09-12 |
JPS6155797B2 true JPS6155797B2 (ja) | 1986-11-29 |
Family
ID=12019509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016480A Granted JPS56116697A (en) | 1980-02-19 | 1980-02-19 | Method of forming conductor layer on multilayer circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56116697A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58119694A (ja) * | 1982-01-12 | 1983-07-16 | 株式会社日立製作所 | 配線基板の製造方法 |
JPS58121698A (ja) * | 1982-01-12 | 1983-07-20 | 株式会社日立製作所 | 多層配線基板 |
JPS58128797A (ja) * | 1982-01-27 | 1983-08-01 | 日本電気株式会社 | 多層セラミツク基板の製造方法 |
US6882045B2 (en) | 1999-10-28 | 2005-04-19 | Thomas J. Massingill | Multi-chip module and method for forming and method for deplating defective capacitors |
US6869750B2 (en) | 1999-10-28 | 2005-03-22 | Fujitsu Limited | Structure and method for forming a multilayered structure |
US6428942B1 (en) | 1999-10-28 | 2002-08-06 | Fujitsu Limited | Multilayer circuit structure build up method |
-
1980
- 1980-02-19 JP JP2016480A patent/JPS56116697A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56116697A (en) | 1981-09-12 |
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