JPS6110519A - 1,4−ジアルキルベンゼンの製造法 - Google Patents

1,4−ジアルキルベンゼンの製造法

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JPS6110519A
JPS6110519A JP59129169A JP12916984A JPS6110519A JP S6110519 A JPS6110519 A JP S6110519A JP 59129169 A JP59129169 A JP 59129169A JP 12916984 A JP12916984 A JP 12916984A JP S6110519 A JPS6110519 A JP S6110519A
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    • Y02P20/52Improvements relating to the production of bulk chemicals using catalysts, e.g. selective catalysts

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、各種機能性ポリマーの出発原料として有用な
1.4−ジアルキルベンゼンを選択的KW造する方法に
関するものである。
(従来の技術) 結晶性アルミノシリケートに種々の処理を行った触媒を
用いる1、4−ジアルキルベンゼンの選択的製造法に関
しては、近年、モーピルオイル社が開発した結晶性アル
ミノシリケー)ZSM−5を各種金属酸化物で処理した
触媒を用いる方法(特開昭56−145227号公報、
特開昭56−135225号公報参照)や、モルデナイ
トをケイ酸エステルで処理した触媒を用いる方法(JC
8Chem Commun、 819  (1982)
 、 Chem Lett。
υ、7  (1983)Eなどが知られている。
(発明が解決しようとする問題点) ZSM−5i金属酸化物で処理する方法は、確かに1.
4一体の選択率は90チ以上と高いが、金属溶液への含
浸過程を含むため、結晶性アルミノシリケートの細孔を
も閉塞してしまうため、活性を著しく低下させるという
欠点を有していた。また、1,4一体の選択率もせいぜ
い95%であり、それ以上の非常に高い選択率の実現は
困難であった。一方、モルデナイトをケイ酸エステルで
処理する方法は、1,4一体の選択率がせいぜい70%
どまシであり、決して満足できる選択率ではなかった。
(問題点を解決するための手段) 本発明者らは、高活性でしかも高選択率の触媒を開発す
べく鋭意検討を重ねた結果、シリカ/アルミナモル比が
10以上、制御指数が1〜15の結晶性アルミノシリケ
ートをケイ酸エステルで処理した触媒を用いると、モノ
アルキルベンゼンから95%以上という非常に高い選択
率で、しかも高収率で1,4−ジアルキルベンゼンが得
られることを見い出し、本発明を完成するに至った。
すfzbち、本発明は、モノアルキルベンゼンを気相に
おいて1.4−ジアルキルベンゼンに転化する際に、シ
リカ/アルミナモル比が10以上、制御指数が1〜15
の結晶性アルミノシリケートをケイ酸エステル含有ガス
で処理した後、酸素含有ガス中で焼成した触媒を用いる
ことを特徴とする1、4−ジアルキルベンゼンの製造法
を提供するものである。
本発明に用〆られる結晶性アルミノシリケートは、シリ
カ/アルミナモル比が10以上、制御指数が1〜15の
範囲のものである。ここで用いられる制御指数とは、J
、Catal 67.218(1981)に記載されて
いるn−ヘキサンと3−メチルペンタンのタラツキング
速度の比を表わす指数である。
この制御指数の決定は、n−へキサンと6−メチルペン
タンの等量混合物金ヘリウムで5倍希釈して、260〜
510cの温度範囲で触媒上を流した時の残存n−ヘキ
サン、3−メチルペンタンの葉から、次の式によって決
定される。
廟(残存3−メチルペンタン) 測定の際、全体の転化率が10〜60チになるよりに、
LH8Vを適当に選ぶ必要があシ、通常0.05〜1.
Ohr−”の範囲で行われる。
この制御指数は、結晶性アルミノシリケートの空孔の大
きさと関連があり、例えば、12員壌構造を有する空孔
の大きいものは、n−ヘキサンと3−メチルペンタンの
両者が空孔に入シ得るため、制御指数#′i1以下とな
る。また、8員環構造を有する空孔の小さいものは、n
−ヘキサンが優先的に空孔に人りクラツキングされるた
め、制御指数は50以上の大きな値となる。
本発明における結晶性アルミノシリケートは、制御指数
が1〜15の値を有する中程度の大きさの空孔を有する
ものである。
本発明圧用いられるシリカ/アルミナモル比が10以上
、制御指数が1〜15の結晶性アルミノシリケートとは
、X線回折図において下表のX線回折パターンを有する
結晶性アルミノシリケート(この製法は特願昭57−2
28283号に開示されている。以下このアルミノシリ
ケートi AZ−1という。)、モーピルオイル社が開
発したZSM−5(米国特許第5702886号明細書
参照)、ZSM−11(特開昭54−52699号公報
参照)などが挙げられるが、特に好ましいのはAZ−1
である。
X線回折分析は、CuKa線を用いて測定する。
ただし、8.7±0.2と8.9±0.2の回折線のど
ちらかを相対強度100とする。
本発1[K用いられるケイ酸エステルとしては、ケイ酸
メチル、ケイ酸エチル、ケイ酸n−グロピル、ケイ酸1
so−プロピル、ケイ酸n−ブチル、ケイ酸tert−
ブチルなどが挙げられるが、特に好ましいのは、ケイ酸
メチル、ケイ酸エチルである。
これらのケイ酸エステルは、そのまま単独で、または適
当な希釈剤を用いてガス状で用いられるが、その際のケ
イ酸エステルの濃度は1〜100容量チ、好ましくは5
〜100容量チである。また、希釈剤としては、窒素、
ヘリウム、アルゴン、空気、水蒸気等を用いることがで
きるが、好ましいのは窒素である。
これらのケイ酸エステル含有ガスで結晶性アルミノシリ
ケートを処理する温度は、ケイ酸エステルを気相に保持
できる温度であれば特に制限はないが、通常100〜5
oaC,好ましくは200〜400Cの範囲で行なわれ
る。さらに、これらのケイ酸エステル含有ガスで処理す
る際の圧力も、ケイ酸エステルを気相に保持できる圧力
であれば特に制限はなく、減圧、常圧、加圧いずれでも
よい。
さらに、ケイ酸エステル含有ガスで処理した結晶性アル
ミノシリケートは、酸素含有ガス中で焼成する必要があ
るが、その際のガス中の酸素濃度は5〜100容量チ、
好ましくは10〜30容量チであり、通常は空気が用い
られる。また、この焼成時の温度は500〜7ooC,
好ましくは350〜600Cの範囲である。
このようにして結晶性アルミノシリケートをケイ酸エス
テルで処理することによシ担持されるシリカの量は、好
ましくは本との結晶性アルミノシリケートに対して少な
くとも0.1重量%で17、よ勺好ましくは0.5〜1
0重量%である。担持量が非常に少ない場合には、1,
4一体の選択率を向上させる効果が小さく、逆に多過ぎ
ると1,4一体の選択率は極めて高くなるが、活性が著
しく低下する。
本発明に用いられるモノアルキルベンゼンとは、炭素数
が1〜3のアルキル基を有するモノアルキルベンゼンで
ラシ、具体的には、トルエン、エチルベンゼン、イソプ
ロピルベンゼン等が挙ケられる。
本発明における1、4−ジアルキルベンゼンとしてハ、
パラキシレン、パラエチルトルエン、パラジエチルベン
ゼン、パラジイソプロピルベンゼン、パラシメン等が挙
げられる。
このモノアルキルベンゼンからの1.4−、)アルキル
ベンゼンの製造には、アルコールやオレフィンを用いる
アルキル化反応と、モノアルキルベンゼ/単独からの不
均化反応がある。アルキル化反応の場合に用いられるア
ルコールとしては、メタノール、エタノール、n−まf
Cは1so−プロパツールが、オレフィンとしては、エ
チレン、プロピレン等が挙げられる。
本発明を実施するに当り、反応m度は反応原料と反応の
揮類によって異なるが、反応系を気相に保つために、少
なくとも200Cの温度が必要であp1゛また。700
C以上の温度では選択性が極めて低くなるので、好まし
い温度として通常500〜600Cの範囲が用いられる
。さらに、反応圧力は減圧、常圧、加圧の込ずれでもよ
く、反応方式としては、固定床や流動床などの流通方式
が好廿しい。
(発明の効果) 本発明の方法によれば、従来の金属酸化物で結晶性プル
ミノシリケートを処理する方法に比べて活性が高く、し
かも1.4一体の選択率I+、951以上と極めて高く
なる。Cのことは、工業的に実施する場合に極めて有利
になる。
(実施例) 実施例1 1.8−ジアミノ−4−アミノメチルオクタン1002
、硫酸アルミニウム(Aム(SO4)3・18I(、Q
)51、水酸化ナトリウム51を水1502にとかし、
さらにシリカゾル(50チSin、 ) 2009を加
えて均質な溶液を得た。この溶液に、かきまぜながら2
0%硫酸30yを滴下して均質なゲルを得た。さらに1
.このゲルをホモジナイザーに入れ、110000rp
で10分間混合した。このゲルをテフロン内張シスチン
レス製耐圧容器中で、180C545時間静置して結晶
化を行った。
得られた生成物を濾過、洗浄したのち、120Cで6時
間乾燥して、さらに500Cで6時間焼成した。
この生成物のX線回折パターンを図面に示す。
この回折パターンよル、この生成物は、AZ−1と同定
された。また、螢光X線分析から求めたシリカ/アルミ
ナモル比は80であJ、315Cで測定した制御指数F
i13.0であった。
このAZ−110S+を10〜20メツシユに成型した
ものをガラス製反応管に充填して、20宕量俤のケイ酸
エチルを含む窒素ガスを300C。
SV 1000 hr−’で20分間流した。その後、
温度?500Cに上げて空気を流しながら2時間焼成を
行った。
得られた触媒の重量分析より求めたシリカ担持量は2.
5重量%であった。
この触媒ヲ用いて、エチルベンゼンとエチレンからのジ
エチルベンゼンの合成皮Ck行った。実験条件は、エチ
ルベンゼン/エチレン/当モル比= 5 / i / 
4、WH8V jOhr ’ 、反応温度350C1圧
力3に2 / crlて行った。
反応開始後、2〜5時間、20〜21時間の成績を表1
に示す。
表  1 実施例2 実施例1で得られた触媒を用いて、トルエンとエチレン
からのエチルトルエンの合成反応を行った。91=Wk
’に件ハ、)ルエン/エチレン/H!モル比−4/ 1
 / 4、WH8V 4.Ohr−’、圧力3.0 k
g7cut、反応温度400Cで行つ几。
反応開始後、2〜3時間、10〜11時間、20〜21
時間の成績を表2に示す。
表  2 実施例6 実施例1で得られた触媒を用いて、トルエンの不拘fヒ
反応金行った。実験条件は、ル/トルエンモル比2.5
、WH8V 2.Ohr”、反応温度500C5圧力1
0ky/cIiで行つL0 反応開始後、2〜3時間、20〜21時間の成績を表3
に示す。
表   3 実施例4 実施例1で得られた触媒を用いて、エチルベンゼンの不
均化反応を行った。実験条件は、H!/エチルベンゼン
モル比2.5、WIISV 2.Ohr−’、反応温度
350C1圧力3,0kg7cmで行った。
反応開始後、2〜3時間、20〜21時間の成績ケ表4
に示す。
表  4 実施例5 実施例1で得られfAZ−11Off 10〜20メツ
シユに成型したものをガラス製反応管に充填して、25
容量チのケイ酸メチルを含む窒素ガス1520[、SV
l 500hr−’で20分間流シタ。
その後、温度を500Cに上げ、空気を流しながら2時
間焼成を行った。
得られた触媒の重量分析から求めたシリカ担持量は3.
0重量%であった。
この触媒を用いてエチルベンゼンとエチレンからのジエ
チルベンゼンの合成反応を行った。実験条件は、エチル
ベンゼン/エチレンモル比3.0、WH8V 4.Oh
r−’、反応温度560 G、常圧で行つた。
反応しI]始後、2〜3時間の成績は、エチルベンゼン
転化率20%、ジエチルベンゼン選択率9゜チ、ジエチ
ルベンゼン中のパラ体の割合99%であった。
実施例6 実施例5で得られた触媒を用いて、トルエンとメタノー
ルからのキシレン合成反応を行った。実験条件u、)ル
エン/メタノールモル比2、WH8V4、Ohr−’、
反応温度4soUb常圧で行ッ7’(。
反応開始後、2〜3時間の成績は、トルエン転化率55
%、キシレン選択率94%、キシレン中のパラ体の割合
97%であった。
実施例7 実施例5で得られた触媒を用いて、トルエンの不均化反
応を行った。実験条件は、馬/トルエンモル比3,0、
WH8V 3.Ohr−+、反応温度460c圧力B、
Okg/cr/!で行った。
反応開始後、2〜3時間、20〜21時間の成績を表5
に示す。
表   5 実施例8 1.8−ジアミノ−4−7ミノメチルオクタン2000
1F、硫酸アルミニウム1502、水酸化ナトリウム1
501ff:水5000rVCとかし、さらにシリカゾ
ル(30%5int) 40001を加えて均質な溶液
を得た。この溶液に、かきまぜなから20チ硫酸5 Q
 Of′t−加えて均質なゲルを得た。
さらに、このゲルをホモジナイザーに入れ、10.00
Orpmで20分間混合した。このゲルをテフロン内張
りステンレス製耐圧容器中で、165C560時間靜装
して結晶化を行った。
得られた生成物tPA、洗浄したのち、120Cで6時
間乾燥して、さら[500Cで6時間焼成した。
この生成物のX線回折パターンより、この生成物は、A
z−1と同定された。また、螢光X線分析から求めたシ
リカ/アルミナモル比は45.315Cで測定した制御
指数は13であった。
このAZ−150p((10〜20メツシュに成型した
ものをガラス製反応管に充填して、30容量チのケイ酸
エチルを含む窒素ガスi、520c。
SV2000 hr”−’で25分間流し友。その後、
温度を550Cに上げ、空気を流しながら4時間焼成を
行った。
得られた触媒の重量分析から求めたシリカ担持量は2.
5重量%であった。
この触媒を用いてトルエンとエチレンからのエチルトル
エンの合成反応全行っfc。実験条件は、トルエン/エ
チレン/ iitモル比= 4 / 1 / 4、WH
8V 4.Ohr−’ 、反応温度420C,圧力5k
liI/dで行った。
反応開始後、2〜6時間、20〜21時間の成績を表6
に示す。
表  6 実施例9 実施例8で得られた触媒を用いて、トルエンとプロピレ
ンからのシメンの合成反if行った。
実験条件ハ、トルエン/プロピレン/H2モル比= 5
 / 1 / 4、WH8V 8.Ohr−’ 、反応
温度320C1圧力2.Okg/ctiで行った。
反応開始後、2〜5時間、10〜11時間の成績を表7
に示す。
表   7 実施例10 実施例8で得られ7’vAZ−120f’i10〜20
メツシュに成型してガラス製反応管に充填し、8容i%
のケイ酸メチルを含む窒素ガスを200C。
SV 3000 hr−’で10分間流した。その後、
500Cで6時間空気を流しながら焼成した。
得られた触媒の重量分析から求めたシリカ担持量は0.
5重数チであった。
この触媒を用いてエチルベンゼンとエチレンからのジエ
チルベンゼンの合成反応を行った。実験 ・条件は、エ
チルベンゼン/エチレンモル比4,0、WH8V 3.
Ohr−’、反応温度550C,常圧で行った。
反応開始後、3〜4時間の成績は、エチルベンゼン転化
率10襲、ジエチルベンゼン選択率92チ、エチルベン
ゼン中のパラ体の割合96チでおった。
実施例11 水350りに硫酸アルミニウム52とテトラプロピルア
ンモニウムプロミド102を溶かし、さらにQ bra
ndケイ酸塩水溶液(Na、Q = 8.9重量%、S
in、 = 28.9重量%、H,O= 62.2重量
%)1502を加え、かきまぜて均質なゲルを得た。こ
のゲルに、20%H1S0.5 Ofをかきまぜながら
滴下しテケル化を促進させた。このゲルをテフロン内張
シオートクレープに入れ、150cで2o時間攪拌しな
がら結晶化させた。
得られた生成物ft濾過洗浄後、120cで3時間乾燥
し、5oacで4時間空気中で焼成を行った。
この生成物のX線回折パターンは、ZSM−5の回折パ
ターンと一致した。また、螢光X線分析ヨ多求めたシリ
カ/アルミナモル比は50%320Cで測定した制御指
数は10.5であった。
このZSM−51oylto 〜20メツシュ[成型し
てガラス與反応管に充填し、2o容量チのケイ酸エチル
を含む窒素ガスを、5oac% svl 000 hr
−’で40分間流した。その後、温度を500Cまで上
げ、空気を流しながら6時間焼成を行った。
得られた触媒の重量分析から求めたシリカ担持量は6.
2重量%であった。
この触媒を用いて、エチルベンゼンの不均化反応を行っ
た。実験条件は、H1/エチルベンゼンモル比3.0、
WH8V 2.Ohr−’ 、反応温度540c。
圧力2.0kg/mで行った。
反応開始後、2〜3時間、10〜11時間の成績を表8
に示す。
表   8 実施例12 オクタメチレンジアミン100f、硫酸アルミニウム5
2、水酸化ナトリウム52を水15o2に均一に溶かし
、この溶液に、シリカゾル(30%SiO,)2009
’i加え、さらに20 % HtSO*202を滴下し
て均質なゲルを得た。このゲルをテフロン内張シスチン
レス製耐圧容器に仕込み、150C,40時間かきまぜ
て結晶化させた。
得られた生成物を濾過洗浄後、120Cで3時間乾燥し
たのち、500Cで4時間空気焼成した。
この生成物のX線回折パターンは、ZSM−11の回折
パターンと一致した。また、この生成物のシリカ/アル
ミナモル比は30.320Cで測定した制御指数は9.
0であった。
こ(7)ZSM−112Off 10〜20 メツシュ
に成型してガラス與反応管に充填し、15容量−のケイ
酸メチルを含有する窒素を300C,3V1300 h
r””で30分流した。その後、温度を520Cまで上
げて、空気を流しながら2時間焼成を行った。
得られた触媒の重量分析から求めたシリカ担持量は6.
5重量%であった。
この触媒ヲ用いて、エチルベンゼンとエチレンからのジ
エチルベンゼンの合成反応を行った。実験条件は、エチ
ルベンゼン/エチレンモル比2.8、WH8V 4.O
hr −’ 、反応温度550C,常圧で行った。
反応開始後、2〜6時間の成績は、エチルベンゼン転化
率50%、ジエチルベンゼン選択率92チ、ジエチルベ
ンゼン中のバラ体の組成95%であった。
【図面の簡単な説明】
図面は実施例1において得られたAZ−1のX線回折パ
ターンを示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)モノアルキルベンゼンを気相において1,4−ジ
    アルキルベンゼンに転化する際に、シリカ/アルミナモ
    ル比が10以上、制御指数が1〜15の結晶性アルミノ
    シリケートをケイ酸エステル含有ガスで処理した後、酸
    素含有ガス中で焼成した触媒を用いることを特徴とする
    1,4−ジアルキルベンゼンの製造法。
  2. (2)結晶性アルミノシリケートがX線回折図において
    下表の回折パターンを有するものである特許請求の範囲
    第1項記載の方法。 X線回折分析はCuKα線を用いて測定する。ただし、
    8.7±0.2と8.9±0.2の回折線のどちらかを
    相対強度100とする。
  3. (3)モノアルキルベンゼンが炭素数1〜3のアルキル
    基を有するモノアルキルベンゼンである特許請求の範囲
    第1項または第2項記載の方法。
  4. (4)1,4−ジアルキルベンゼンがパラキシレン、パ
    ラエチルトルエンまたはパラジエチルベンゼンである特
    許請求の範囲第1項または第2項記載の方法。
JP59129169A 1984-06-25 1984-06-25 1,4−ジアルキルベンゼンの製造法 Granted JPS6110519A (ja)

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GB08515692A GB2163176B (en) 1984-06-25 1985-06-20 A process for producing a 1,4-dialkylbenzene
FR8509578A FR2566389B1 (fr) 1984-06-25 1985-06-24 Procede de production d'un 1,4-dialkylbenzene
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DE19853522727 DE3522727A1 (de) 1984-06-25 1985-06-25 Verfahren zur herstellung eines 1,4-dialkylbenzols

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