JPH11326515A - 光波測距定装置 - Google Patents

光波測距定装置

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JPH11326515A
JPH11326515A JP10132915A JP13291598A JPH11326515A JP H11326515 A JPH11326515 A JP H11326515A JP 10132915 A JP10132915 A JP 10132915A JP 13291598 A JP13291598 A JP 13291598A JP H11326515 A JPH11326515 A JP H11326515A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 送受光同軸型の光学系であっても迷光等
による測定誤差をなくした光波測距装置を提供するこ
と。 【解決手段】 パルス光を対象物に向けて送光する送光
手段と、該対象物で反射された反射パルス光を受光する
受光手段と、前記パルス光の送光時から受光時までの時
間を計測する時間計測部とを有し、該計測した時間から
対象物までの距離を求める光波測距定装置において、さ
らに、受光した反射パルス光の数が一つか複数かを検出
するパルス数検出部を設け、該パルス数検出部が、前記
パルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を検出し
た時の値を除外する光波測距装置とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルス光を用いて
測定対象物までの距離を測定する光波測距装置に係り、
特にパルス光を送光することに伴い発生する迷光等によ
る誤測定を防止した光波測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から光波を用いた測距装置の光学系
の構造は、送光光路及び受光光路の相対的な配置の観点
から、２軸型と同軸型とが知られている。これらのう
ち、装置の小型化、パララックスの回避及び送光光路を
測定対象物に照準するための視準光路を設置するために
は、同軸型の光学系が有利である。即ち、距離測定に用
いる光波の送光軸と、測定対象物からの反射光を受光す
る受光軸が一致する送受光同軸型の光学系である。
【０００３】一方、光波を用いた測距装置の測距方式に
は、大別して光源にＬＥＤまたは半導体レーザを用いた
連続変調波方式と、大きなピークパワーを持つパルス光
を出力するパルス駆動可能な半導体レーザを光源に用い
たパルス方式とがある。これらの測距装置では、従来か
らその最大測距範囲の増大化の要求があり、また省力化
・作業の効率化のために測定点に例えばコーナーキュー
ブのような反射器を使用しないノンプリズムでの測定能
力の要求も多くなっている。このような要求に応えるた
めには、大きなピークパワーを用いることのできるパル
ス方式が断然有利である。
【０００４】ところが、同軸型の光学系を採用して、大
きなピークパワーをもつパルス光を送光路に投光する
と、対物レンズの内側面や鏡筒内面などにより反射する
光が迷光として受光光路で受光され、測定値に大きな誤
差を生じる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明の目的
は、送受光同軸型の光学系であっても迷光等による測定
誤差をなくした光波測距装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する本
発明は、パルス光を対象物に向けて送光する送光手段
と、該対象物で反射された反射パルス光を受光する受光
手段と、前記パルス光の送光時から受光時までの時間を
計測する時間計測部とを有し、該計測した時間から対象
物までの距離を求める光波測距定装置において、さら
に、受光した反射パルス光の数が一つか複数かを検出す
るパルス数検出部を設け、該パルス数検出部が、前記パ
ルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を検出した
時の値を除外するようにした光波測距装置である。
【０００７】この発明によれば、迷光等による反射パル
ス光が発生したときの計測値を除外するので、迷光等に
よる測定誤差が防止できる。この場合、前記受光手段と
前記時間計測部との間に、前記受光手段からの受光信号
が所定の値Ａ以上の時、時間計測終了信号を前記時間計
測部に出力する信号選択手段を設けると共に、前記パル
ス数検出部は前記受光手段からの受光信号が所定の値Ｂ
以上の反射パルスの数が一つか複数かを検出するパルス
数検出部とし、前記所定の値Ｂを前記所定の値Ａよりも
わずかに小さく設定することが好ましい。
【０００８】このようにすれば、迷光等による反射パル
ス光に基づく時間計測終了信号が時間計測部に入力され
た時、必ずパルス数検出部でも反射パルスに基づく信号
が検出され、反射パルス数がチェックされるので、迷光
等による測定誤差がより確実に防止できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例に
ついて図面に従って説明する。しかしながら、かかる実
施の形態例が本発明の技術的範囲を限定するものではな
い。図１は、本発明の実施の形態例の光波測距装置の回
路ブロック図である。ＣＰＵなどで構成される演算制御
手段１は、オペレータ等からの測距指令にしたがい時間
計測手段２に測距指令信号Ｓ１０１を与える。時間計測
手段２は、例えばカウンタを有し、送光手段３にパルス
発光指令Ｓ１０２を与えると共にそのカウンタによる時
間計測を開始する。送光手段３は、例えば半導体レーザ
駆動回路３１、それにより駆動される半導体レーザ３
２、そして発光されたパルス光１０３を送光する送光光
学系３３を有する。
【００１０】送光光学系３３中には、パルス光１０３を
測距光路１１０と基準光路１１１とに分割する、例えば
パルス光１０３の入射光路に４５度に斜設された半透過
鏡で構成された光路分割手段３４が設けられている。従
って、パルス光１０３は、測距光路１１０に測距パルス
光１０４として測定対象物に向けて投光されると共に、
基準光路１１１に基準パルス光１０５として送られる。
基準光路１１１は光波測距装置の内部に設けられてい
る。
【００１１】測距光路１１０に投光され測定対象物で反
射され測距光路１１０を戻った反射パルス光１０６及び
基準光路１１１を経由した基準パルス光１０５は、受光
手段４内にある受光光学系４１を経由して高感度の受光
素子であるＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）４
２に受光され光電変換される。受光光学系４１は各入射
光軸に対して４５度に斜設された半透過鏡４３と、該半
透過鏡４３にパルス光が入射する測距光路１１０及び基
準光路１１１を演算制御手段１からの指令に応じて一方
を遮光すると共に他方を開放する光路切替手段４４を備
える。従って、ＡＰＤ４２で光電変換された受信パルス
信号Ｓ１０４は、光路切替手段４４で遮光されていない
側（開放側）の光路、測距光路１１０又は基準光路１１
１からのパルス光に応じた信号となる。受光光学系４１
とＡＰＤ４２との間には演算制御手段１からの指令によ
り駆動される駆動手段４６によって駆動され透過光量を
調節する調光フィルタ４５が配置されている。
【００１２】受信パルス信号Ｓ１０４は、信号増幅手段
５により増幅され、増幅された受信パルス信号Ｓ１０５
が信号処理手段６に供給される。そして、信号処理手段
６の信号選択手段６１では、ピーク値が所定のスレッシ
ョルド以上の受信パルス信号Ｓ１０５を検出して受信タ
イミング信号Ｓ１０６を時間計測手段２に出力する。時
間計測手段２では、受信タイミング信号Ｓ１０６を受信
したタイミングで時間計測を終了して、計測結果Ｓ１１
２を演算制御手段１に転送する。そして、演算制御手段
１では、計測時間Ｓ１１２と光速等から被測定物までの
距離を演算する。
【００１３】図２は、図１の装置による測距方法の説明
の図である。同図の（１）と（２）は、基準光路１１１
を通過した場合のパルス発光指令Ｓ１０２と受信タイミ
ング信号Ｓ１０６との関係を示す。また、（３）と
（４）は、測距光路１１０を通過した場合のパルス発光
指令Ｓ１０２と受信タイミング信号Ｓ１０６との関係を
示す。
【００１４】図１に戻り、光路切替手段４４が測距光路
１１０を遮光（基準光路１１１を開放）した時、基準パ
ルス光１０５が基準光路１１１に送光され、減光フィル
タ３５でそのパワーを大きく減衰されて受光手段４に至
る。そして、信号処理手段６は、受信パルス信号Ｓ１０
４に基づいて受信タイミング信号Ｓ１０６を時間計測手
段２に出力する。時間計測手段２は、上記した通り、パ
ルス発光指令Ｓ１０２から受信タイミング信号Ｓ１０６
までの時間Ｓ１１２を計測し、演算制御手段１はその計
測時間Ｓ１１２と光速をもとに基準光路１１１での測定
距離Ｌｒｅｆを求める。
【００１５】一方、光路切替手段４４が基準光路１１１
を遮光（測距光路１１０を開放）した時、測距パルス光
１０４が測距光路１１０に送光され、被測定物で反射さ
れ反射パルス光１０６として測距光路１１０を戻り、受
光手段４で検出される。そして、上記した通り、受信パ
ルス信号Ｓ１０４に基づく受信タイミング信号Ｓ１０６
が生成され、上記と同様にして測距光路での測定距離Ｌ
ｓが演算により求められる。
【００１６】そして、演算制御手段１は測距光路での測
定距離Ｌｓから基準光路での測定距離Ｌｒｅｆを減じて
被測定物までの距離Ｌを求める。一般に、図１に示した
電子回路は、ＡＰＤが受光して光電変換されたパルス信
号のパワーによってその遅延特性が異なる。そこで、Ａ
ＰＤ４２が受光する、基準パルス光１０５及び反射パル
ス光１０６のパワーが同等になる様に減光フィルタ３５
及び調光フィルタ４５で調整する。
【００１７】即ち、増幅信号Ｓ１０５は光量検出手段７
にも入力され、該光量検出手段７はＡＰＤ４２が受光し
たパルス光の光量を示す受信光量信号Ｓ１０８を演算制
御手段１に出力する。演算制御手段１は基準光路を開放
した時の受信光量信号と測距光路を開放したときの受信
光量信号とを比較して両者が同等になるように調光フィ
ルタ４５を制御する。
【００１８】更に詳述すると、基準パルス光１０５は、
その光量が反射パルス光１０６の最大光量の約１／１０
＊Ｅ６になるように半透過鏡３４や減光フィルタ３５で
減光されている。演算制御手段１は、光路切替手段４４
で基準光路１１１を開放し、駆動信号Ｓ１０９を駆動手
段４６に出力し光量調整フィルタ４５の透過率を最大と
する。そして、演算制御手段１はその時の受信光量信号
Ｓ１０８を記憶する。次に、演算制御手段１は、光路切
替手段４４で測距光路１１０を開放し、得られた受信光
量信号Ｓ１０８と前記記憶した受信光量信号Ｓ１０８と
を比較し、得られた受信光量信号Ｓ１０８が前記記憶し
た受信光量信号Ｓ１０８と等しくなるような光量調整フ
ィルタ４５の透過率が得られるように駆動信号Ｓ１０９
によって駆動手段４６を駆動して調整する。
【００１９】なお、反射パルス光１０６による受光光量
が前記反射パルス光の最大光量の約１／１０＊Ｅ６以下
である場合、演算制御手段１は反射パルス光１０６を減
光せず、基準パルス光１０５を減光させるように光量調
整フィルタ４５を調整する。これによって、最大測定距
離を拡大することができる。この場合、基準パルス光１
０５に対する信号増幅手段５からの増幅信号Ｓ１０５の
大きさが、減光されない基準パルス光に対する増幅信号
Ｓ１０５と同じになるように信号増幅手段５の増幅率を
変化させる。
【００２０】しかしながら、高い測定精度を要する場合
には最大測定距離を犠牲にして前記処理を行わない。高
い測定精度を得るためには送光パルス光のパルス幅が狭
いことが望まれるので、狭いパルス幅のパルス信号を増
幅するには信号増幅手段５に広い対応帯域幅が要求され
るが、現時点では十分な帯域幅で信号増幅手段５の増幅
率を変化させることが困難だからである。
【００２１】かくして、反射パルス光１０６は、その光
量が測定対象物までの距離や測定対象物の反射率などに
よって変化しても、基準光路からのパルス光の光量と等
しくされてＡＰＤ４２で受光される。更に、電子回路は
温度に依存してその遅延特性が異なる。一般的に温度が
高くなると回路素子の動作が活発になることがその原因
と考えられる。しかしながら、基準光路での測定距離Ｌ
ｒｅｆを測距光路での測定距離Ｌｓから減じることによ
り、上記の温度による遅延誤差はキャンセルされる。
【００２２】図３は、図１に示した本発明の実施の形態
例の測距光路１１０、基準光路１１１、及び送光手段
３、受光手段４の構成の詳細を示す図である。図１と同
じ構成には同一の符号を付すと共に、必ずしも同一では
ないが図１の構成と対応する構成には符号の後の（）内
に図１の対応する構成の符号を新出の時のみ示す。半導
体レーザ３２で発光されたパルス光は、コリメータレン
ズ３０１で平行光束となり、半透過プリズム３０２（３
４）に入射する。半透過プリズム３０２は、例えば透過
Ｔ対反射Ｒの比がＴ：Ｒ＝１：９９の特性を有し、基準
光路１１１側へ送光されるパルス光は大きく減衰され
る。そして、ミラー３１２で反射し、減光フィルタ３１
３（３５）を通過する。更に、最大透過率とされた光量
調整フィルタ３１４（４５）を透過し、ミラー３１４で
反射する。光路切り替えシャッタ３２１（４４）は、基
準光路１１１の測定を行っている時には、ミラー３１４
側の光路を開放し、基準光路１１１からのパルス光は半
透過プリズム３１０（４３）、コリメータレンズ３１１
を通過して受光素子４２で受光される。
【００２３】一方、半透過プリズム３０２で反射されて
測距光路１１０側に送光されたパルス光は、コリメータ
レンズ３０３を通過し、ダイクロイックミラー３０４に
より対物レンズ３０５を介して測定対象物に向けて測距
パルス光１０４として送光される。従って、ダイクロイ
ックミラー３０４と対物レンズ３０５とで図１の送光光
学系３３が構成される。
【００２４】測定対象物で反射して戻ってきた反射パル
ス光１０６は、対物レンズ３０５で受光され、合焦レン
ズ３０６とダイクロイックミラー３０７を介して光ファ
イバ３０８に入射する。上記のダイクロイックミラー３
０４と３０７は、赤外光を反射し、可視光を透過する特
性を有する。光ファイバ３０８に入射した反射パルス光
１０６は、光ファイバ３０８の他端部に配設されたコリ
メータレンズ３０９で平行光とされた後、光量調整フィ
ルタ３１４により、基準光路からの基準パルス光１０５
と同等の光量に減衰されて半透過プリズム３１０で反射
され、受光素子４２に受光される。測距光路側が選択さ
れている時は、光路切り替えシャッタ３２１により基準
光路側が閉じられ、光ファイバ３０８側が開放される。
以上の様に、対物レンズ３０５、合焦レンズ３０６及び
ダイクロイックミラー３０７で図１の受光光学系４１が
構成される。
【００２５】なお、反射パルス光１０６の光量が基準パ
ルス光１０５の光量よりも小さい場合には、光量調節フ
ィルタ３１４は、反射パルス光１０６を減衰させること
なく基準パルス光を減衰させる。即ち、最大測定距離を
できるだけ長くする為に、反射パルス光の光量が基準パ
ルス光のそれよりも大きい時のみ、反射パルス光の光量
を光量調整フィルタ３１４で減衰させ、反射パルス光の
光量が小さい時は、その反射パルス光を減衰させること
なく基準パルス光を減衰させて、両者の光量を同等に調
整する。
【００２６】光量調整フィルタ３１４は、基準パルス光
及び測距パルス光の通過位置において、その透過率が円
周方向で夫々に変化する円盤状フィルタであり、その中
心を駆動モータ３２２（４６）で回転駆動される。基準
パルス光の通過位置における前記フィルタの透過率は、
基準パルス光の光量よりも大きい反射パルス光の光量を
得られる範囲では最大透過率で変化せず、基準パルス光
の光量よりも大きい反射パルス光の光量が得られない範
囲のみ円周方向で変化する。
【００２７】図３には、更に測定対象物方向に送光、受
光光学系の光軸を一致させる為の視準光学系が示されて
いる。即ち、オペレータ３１９に対して、接眼レンズ３
１８、レチクル３１７、正立プリズム３１６、合焦レン
ズ３０６及び対物レンズ３０５により視準光学系が構成
される。ダイクロイックミラー３０４、３０７は共に可
視光を透過する特性を有する。この様に、図３に示した
実施の形態例では、視準光学系も、送光光学系及び受光
光学系と同一の光軸に構成される。
【００２８】従って、確実に測定対象物までの距離を測
定できると共に、測距装置を小型化することができる。
さて、上記したハイパワーのパルス光が送光光学系に送
られると、例えば送光光学系の対物レンズ３０５の内面
側で反射されてダイクロイックミラー３０７を介して光
ファイバ３０８に入射する。かかる光は、迷光と呼ば
れ、測距光路の測定誤差の原因となる。
【００２９】即ち、従来装置では、図２に示した通り、
測距光路の測定は、パルス発光指令Ｓ１０２から、信号
選択手段６１がある所定の値以上の受信パルス信号Ｓ１
０５を受信したことを示す受信タイミング信号Ｓ１０６
のうち最初の信号までの時間と光速をもとに演算され
る。従って、図２（４）に破線で示したように、迷光が
比較的強いパルス光として受光素子４２に入射される
と、その迷光によるパルス光が正規の反射パルス光と誤
認され、誤った受信タイミング信号が発生され、誤った
測距光路での測定距離が求められる。迷光によるパルス
光の後に検出された正規の反射パルス光による信号は無
視される。
【００３０】しかも、この迷光によるパルス光は、常に
信号選択手段６１が検出するほどのパルス信号になると
は限られない。即ち、上記した通り、弱い反射パルス光
の光量を減らすことなく、反射パルス光と基準パルス光
との光量を同等レベルにするように光量調整フィルタ３
１４で測距光路１１０の光量が調整される。従って、反
射パルス光の光量が小さい時は、迷光によるパルス光は
減衰されることなく受光素子４２に受光される。また、
反射パルス光の光量が大きい時は、光量調整フィルタ３
１４で大幅に減衰されるので、迷光によるパルス光も同
様に大幅に減衰されて検出されない場合もある。
【００３１】送光光学系による迷光以外にも、該迷光と
同様の正規の反射パルス光以外の反射パルス光が多重反
射光として検出される場合がある。例えば、測定対象物
としてコーナーキュウブプリズムを用いた場合、該コー
ナーキュウブプリズムで反射された反射パルス光の一部
が受光光学系の対物レンズ３０５で反射され、再びコー
ナーキューブプリズムに向けて投光され、第２の反射パ
ルス光として検出されることがある。このような多重反
射光はコーナーキューブプリズムの中心以外の部分が視
準されたときに発生し易く、コーナーキューブプリズム
の中心部が視準されたときには発生し難い。
【００３２】更には、測定対象物と距離測定装置との間
の送光光路内に例えば木の枝などの物体が存在する場合
や、測定対象物までの距離が長く送光パルス光が測定対
象物の大きさ以上に拡大し且つ測定対象物の後方の前記
拡大した送光パルス光内に物体が存在した場合、複数タ
ーゲットとなり正規の反射パルスと共に前記物体による
反射パルス光が検出される。
【００３３】以下、これら正規反射パルス光以外の反射
パルス光を迷光等と総称する。前記迷光等に起因する問
題点は、比較的精度を要求しない測距装置のように基準
光路を利用しない場合でも、例えば電子回路のダイナミ
ッックレンジ内に反射パルス光の光量を納める為に行わ
れる光量調整によって同様の問題を引き起こす。
【００３４】受光光学系の測定対象物側に送光方向以外
を不透明体で囲った送光光学系を配置することによりこ
の迷光等自体をなくす方法もあるが、それは受光光量を
減少させ、最大測定距離の増大の目的に反する結果とな
る。そこで、本発明では、光学系による迷光等が発生し
ても、その迷光等による測定誤差を信号処理側で解決し
た。
【００３５】本発明の実施の形態例では、測距に先立っ
て測距光路側に予備発光して測距光路からの光量を光量
調整フィルタ３１４で調整した後に、測距光路に測距パ
ルス光を送光し被測定物までの距離を求める。この時、
パルス数検出手段６２によって受光側が迷光等によるパ
ルス光と反射パルス光の２つ以上のパルス光を検出する
か、或いは反射パルス光のみの１つのパルス光を検出す
るかを検出する。
【００３６】そして、前者の場合は、求めた測定結果を
無効なものとして棄却する。後者の場合は、求めた測定
結果を有効なものとして演算制御手段１のメモリに記憶
する。そして、測距を所定数の有効測定値が得られるま
で繰り返し、演算制御手段１はメモリに記憶した測定結
果の平均値を算出し、表示・出力する。無効な測定結果
の割合が多く所定数の測定結果を得る間での時間が所定
の時間を超える場合は、視準状態、測距光路或いはその
周囲の環境に問題がある可能性が高いのでエラーとし、
点検を促す。
【００３７】なお、反射パルス光が一つも検出できない
程小さい場合は、最初の段階で測定不能としておく。図
４（１）は、パルス数検出手段６２の回路構成であり、
図４（２）はそのタイミングチャートである。以下、こ
の回路の動作を図４（１）、（２）によって説明する。
【００３８】信号増幅手段５の出力Ｓ１０５は、コンパ
レータ２０１に入力される。コンパレータ２０１のもう
一方の入力端子には所定に直流電圧が入力され、入力信
号Ｓ１０５のスレッショルドとなっている。このスレッ
ショルドは前述のように信号選択手段６１のスレッショ
ルドよりもやや低く設定されている。Ｄフリップフロッ
プ２０２の出力Ｓ２２及びＤフリップフロップ２０３の
出力Ｓ１０７は、オペレータからの測距指令に基づく演
算制御手段からのリセット信号によりＬレベルとされて
いる。
【００３９】コンパレータ２０１に前記所定のスレッシ
ョルドよりも大きい信号（図４（２）ののＳ１、Ｓ
２）が入力されると、コンパレータ２０１の出力Ｓ２１
にパルス信号（図４（２）ののＰ１、Ｐ２）が生成さ
れる。コンパレータ２０１の出力信号Ｓ２１はＤフリッ
プフロップ２０２、２０３の clk端子に入力されてい
る。Ｄフリップフロップ２０２のＱ出力Ｓ２２は前記リ
セット時にＬになっている。
【００４０】コンパレータ２０１に１つ目のパルス信号
入力Ｓ１があると、Ｄフリップフロップ２０２のＱ出力
Ｓ２２はパルス信号Ｐ１の立ち上がりエッジによりＬ→
Ｈとなる（図４（２）の）。このときＤフリップフロ
ップ２０３のＱ出力Ｓ１０７はＬのままである（図４
（２）ののＡ部）。即ち、コンパレータ２０１に入力
されるパルス信号が一つだけならばＳ１０７はＬレベル
を維持する。
【００４１】一方、コンパレータ２０１に２つ目のパル
ス信号入力Ｓ２があると、Ｄフリップフロップ２０２の
clk端子にパルス信号Ｐ２が更に入力されると、パルス
信号Ｐ２の立ち上がりエッジによりＤフリップフロップ
２０３のＱ出力Ｓ１０７はＬ→Ｈとなる（図４（２）の
のＢ部）。コンパレータ２０１に３つ目以降のパルス
信号入力があっても、Ｄフリップフロップ２０３のＱ出
力Ｓ１０７はＨレベルを維持する。
【００４２】演算制御手段１はＤフリップフロップ２０
３のＱ出力Ｓ１０７を参照し、出力信号Ｓ１０７がＬの
時は、求めた測距値を有効と判断し平均値の計算に用
い、出力信号Ｓ１０７がＨの時は、求めた測距値を無効
と判断し平均値の計算に用いるデータから除外する。図
５は、本発明の実施の形態例の測定のフローチャートで
ある。
【００４３】本実施の形態例では、まず、光量調整フィ
ルタ３１４を透過率最大の状態として測距光路側の反射
パルス光のレベルを検出する（ステップ８１）。そこ
で、被測定物までの距離が最大測定距離より遠い場合や
被測定物の反射率が低い場合は、反射パルス光の光量が
弱く、検出不能として測定エラーとする。ある程度の光
量の反射パルス光が検出されると、上記した方法に従
い、制御演算手段からの駆動信号によって駆動モータ３
２２を駆動することにより光量調整フィルタ３１４が駆
動されその減衰量が調整される（ステップ８２）。その
後、調整された光量調整フィルタ３１４の状態で、再度
測距光路にパルス光が送光され測定対象物までの距離が
測定される（ステップ８３）。
【００４４】そして、その送光されたパルス光に対して
パルス数検出手段が１個のパルス光を検出するか２個以
上のパルス光を検出するかの迷光等パルス光検出工程が
実施される（ステップ８４）。２個以上のパルス光が検
出された時は、迷光等ありと判定されステップ８６へ進
む。１個のパルス光しか検出されない場合は、迷光等な
しで反射光のみと判定されステップ８５へ進む。
【００４５】迷光等なしと判定したステップ８５では、
ステップ８３で求めた測定値が演算制御部のメモリに記
憶されてステップ８７へ進む。迷光等ありと判定された
ステップ８６では、ステップ８３で求めた測定値が棄却
されステップ８７へ進む。そして、前記メモリに記憶さ
れ測定値の数が所定の数になったか否かが判定され（ス
ップ８７）、所定数の測定値が得られたならば平均値が
算出され測定結果として表示され（ステップ８８）、処
理が終了する。所定数に満たなければステップ８３で測
距を開始してからの時間が所定値以内か否かを判定し
（ステップ８９）処置値以内であればステップ８３に戻
り、再度距離を測定する。ステップ８９において所定値
を超えているならば、受信光量が小さいために光量調整
フィルタの透過率が高く設定され、その結果、迷光等が
受光されているか、あるいは、送光光路内に被測定物以
外の障害物が入っている可能性が高いので、その旨を示
す表示をして（ステップ９０）処理が終了する。
【００４６】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、迷
光等による測定距離の誤差をなくすことができる。ま
た、送光光学系と受光光学系を同軸構成にしたパルス光
測距方式でも、発生する迷光等による測定誤差をなくす
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態例の測距装置の回路ブロッ
ク図である。
【図２】パルス光を利用した測距方法を説明するための
図である。
【図３】本発明の実施の形態例の測距光路と基準光路及
び発光、受光光学系の構成を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態例のパルス数検出手段６２
の詳細な回路図、及びタイミングチャートである。
【図５】本発明の実施の形態例の測定のフローチャート
である。
【符号の説明】
１………………演算制御手段 ６………………号
処理手段 ２………………時間計測手段 ７………………光
量検出手段 ３………………送光手段 ６１………………号
選択手段 ４………………受光手段 ６２………………ル
ス数検出手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 パルス光を対象物に向けて送光する送光
    手段と、 該対象物で反射された反射パルス光を受光する受光手段
    と、 前記パルス光の送光時から受光時までの時間を計測する
    時間計測部とを有し、 該計測した時間から対象物までの距離を求める光波測距
    定装置において、 さらに、受光した反射パルス光の数が一つか複数かを検
    出するパルス数検出部を設け、 該パルス数検出部が、前記パルス光の送光に応答して複
    数の反射パルス光を検出した時の値を除外することを特
    徴とする光波測距装置。
  2. 【請求項２】 請求項１において、 前記受光手段と前記時間計測部との間に、前記受光手段
    からの受光信号が所定の値Ａ以上の時、時間計測終了信
    号を前記時間計測部に出力する信号選択手段を設けると
    共に、 前記パルス数検出部は前記受光手段からの受光信号が所
    定の値Ｂ以上の反射パルスの数が一つか複数かを検出す
    るパルス数検出部とし、 且つ、前記所定の値Ｂを前記所定の値Ａよりもわずかに
    小さく設定したことを特徴とする光波測距装置。
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