JP3940806B2 - 光波測距装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、パルス光を用いて測定対象物までの距離を測定する光波測距装置に係り、特にパルス光を送光することに伴い発生する迷光等による誤測定を防止した光波測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から光波を用いた測距装置の光学系の構造は、送光光路及び受光光路の相対的な配置の観点から、２軸型と同軸型とが知られている。これらのうち、装置の小型化、パララックスの回避及び送光光路を測定対象物に照準するための視準光路を設置するためには、同軸型の光学系が有利である。即ち、距離測定に用いる光波の送光軸と、測定対象物からの反射光を受光する受光軸が一致する送受光同軸型の光学系である。
【０００３】
一方、光波を用いた測距装置の測距方式には、大別して光源にＬＥＤまたは半導体レーザを用いた連続変調波方式と、大きなピークパワーを持つパルス光を出力するパルス駆動可能な半導体レーザを光源に用いたパルス方式とがある。これらの測距装置では、従来からその最大測距範囲の増大化の要求があり、また省力化・作業の効率化のために測定点に例えばコーナーキューブのような反射器を使用しないノンプリズムでの測定能力の要求も多くなっている。このような要求に応えるためには、大きなピークパワーを用いることのできるパルス方式が断然有利である。
【０００４】
ところが、同軸型の光学系を採用して、大きなピークパワーをもつパルス光を送光路に投光すると、対物レンズの内側面や鏡筒内面などにより反射する光が迷光として受光光路で受光され、測定値に大きな誤差を生じる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明の目的は、送受光同軸型の光学系であっても迷光等による測定誤差をなくした光波測距装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成する本発明は、パルス光を対象物に 向けて送光する送光手段と、前記対象物で反射された反射パルス光を受光する受光手段 と、前記パルス光の送光時から受光時までの時間を計測する時間計測部とを有し、前記 時間計測部により計測された時間から対象物までの距離を求める光波測距装置において 、さらに、前記受光手段により受光した反射パルスの数が一つか複数かを検出するパル ス数検出部と、前記受光手段と前記時間計測部との間に信号選択手段と、を設けた光波 測距装置である。
【０００７】
そして、前記信号選択手段は、前記受光手段からの受光信号が所定の 値 A 以上の時に時間計測終了信号を前記時間計測部に出力し、前記パルス数検出部は 、前記所定の値 A よりもわずかに小さい値に設定された所定の値 B 以上の反射パルス の数が一つか複数かを検出し、前記パルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を 検出した時の前記対象物までの距離の値を除外する。
【０００８】
このようにすれば、迷光等による反射パルス光に基づく時間計測終了信 号が時間計測部に入力された時、必ずパルス数検出部でも反射パルスに基づく信号が 検出されて反射パルス数がチェックされ、迷光等による反射パルス光が発生したとき の計測値を除外するので、迷光等による測定誤差が確実に防止できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態の例について図面に従って説明する。しかしながら、かかる実施の形態例が本発明の技術的範囲を限定するものではない。
図１は、本発明の実施の形態例の光波測距装置の回路ブロック図である。
ＣＰＵなどで構成される演算制御手段１は、オペレータ等からの測距指令にしたがい時間計測手段２に測距指令信号Ｓ１０１を与える。時間計測手段２は、例えばカウンタを有し、送光手段３にパルス発光指令Ｓ１０２を与えると共にそのカウンタによる時間計測を開始する。送光手段３は、例えば半導体レーザ駆動回路３１、それにより駆動される半導体レーザ３２、そして発光されたパルス光１０３を送光する送光光学系３３を有する。
【００１０】
送光光学系３３中には、パルス光１０３を測距光路１１０と基準光路１１１とに分割する、例えばパルス光１０３の入射光路に４５度に斜設された半透過鏡で構成された光路分割手段３４が設けられている。従って、パルス光１０３は、測距光路１１０に測距パルス光１０４として測定対象物に向けて投光されると共に、基準光路１１１に基準パルス光１０５として送られる。基準光路１１１は光波測距装置の内部に設けられている。
【００１１】
測距光路１１０に投光され測定対象物で反射され測距光路１１０を戻った反射パルス光１０６及び基準光路１１１を経由した基準パルス光１０５は、受光手段４内にある受光光学系４１を経由して高感度の受光素子であるＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）４２に受光され光電変換される。受光光学系４１は各入射光軸に対して４５度に斜設された半透過鏡４３と、該半透過鏡４３にパルス光が入射する測距光路１１０及び基準光路１１１を演算制御手段１からの指令に応じて一方を遮光すると共に他方を開放する光路切替手段４４を備える。従って、ＡＰＤ４２で光電変換された受信パルス信号Ｓ１０４は、光路切替手段４４で遮光されていない側（開放側）の光路、測距光路１１０又は基準光路１１１からのパルス光に応じた信号となる。受光光学系４１とＡＰＤ４２との間には演算制御手段１からの指令により駆動される駆動手段４６によって駆動され透過光量を調節する調光フィルタ４５が配置されている。
【００１２】
受信パルス信号Ｓ１０４は、信号増幅手段５により増幅され、増幅された受信パルス信号Ｓ１０５が信号処理手段６に供給される。そして、信号処理手段６の信号選択手段６１では、ピーク値が所定のスレッショルド以上の受信パルス信号Ｓ１０５を検出して受信タイミング信号Ｓ１０６を時間計測手段２に出力する。時間計測手段２では、受信タイミング信号Ｓ１０６を受信したタイミングで時間計測を終了して、計測結果Ｓ１１２を演算制御手段１に転送する。そして、演算制御手段１では、計測時間Ｓ１１２と光速等から被測定物までの距離を演算する。
【００１３】
図２は、図１の装置による測距方法の説明の図である。同図の（１）と（２）は、基準光路１１１を通過した場合のパルス発光指令Ｓ１０２と受信タイミング信号Ｓ１０６との関係を示す。また、（３）と（４）は、測距光路１１０を通過した場合のパルス発光指令Ｓ１０２と受信タイミング信号Ｓ１０６との関係を示す。
【００１４】
図１に戻り、光路切替手段４４が測距光路１１０を遮光（基準光路１１１を開放）した時、基準パルス光１０５が基準光路１１１に送光され、減光フィルタ３５でそのパワーを大きく減衰されて受光手段４に至る。そして、信号処理手段６は、受信パルス信号Ｓ１０４に基づいて受信タイミング信号Ｓ１０６を時間計測手段２に出力する。時間計測手段２は、上記した通り、パルス発光指令Ｓ１０２から受信タイミング信号Ｓ１０６までの時間Ｓ１１２を計測し、演算制御手段１はその計測時間Ｓ１１２と光速をもとに基準光路１１１での測定距離Ｌｒｅｆを求める。
【００１５】
一方、光路切替手段４４が基準光路１１１を遮光（測距光路１１０を開放）した時、測距パルス光１０４が測距光路１１０に送光され、被測定物で反射され反射パルス光１０６として測距光路１１０を戻り、受光手段４で検出される。そして、上記した通り、受信パルス信号Ｓ１０４に基づく受信タイミング信号Ｓ１０６が生成され、上記と同様にして測距光路での測定距離Ｌｓが演算により求められる。
【００１６】
そして、演算制御手段１は測距光路での測定距離Ｌｓから基準光路での測定距離Ｌｒｅｆを減じて被測定物までの距離Ｌを求める。
一般に、図１に示した電子回路は、ＡＰＤが受光して光電変換されたパルス信号のパワーによってその遅延特性が異なる。そこで、ＡＰＤ４２が受光する、基準パルス光１０５及び反射パルス光１０６のパワーが同等になる様に減光フィルタ３５及び調光フィルタ４５で調整する。
【００１７】
即ち、増幅信号Ｓ１０５は光量検出手段７にも入力され、該光量検出手段７はＡＰＤ４２が受光したパルス光の光量を示す受信光量信号Ｓ１０８を演算制御手段１に出力する。演算制御手段１は基準光路を開放した時の受信光量信号と測距光路を開放したときの受信光量信号とを比較して両者が同等になるように調光フィルタ４５を制御する。
【００１８】
更に詳述すると、基準パルス光１０５は、その光量が反射パルス光１０６の最大光量の約１／１０＊Ｅ６になるように半透過鏡３４や減光フィルタ３５で減光されている。
演算制御手段１は、光路切替手段４４で基準光路１１１を開放し、駆動信号Ｓ１０９を駆動手段４６に出力し光量調整フィルタ４５の透過率を最大とする。そして、演算制御手段１はその時の受信光量信号Ｓ１０８を記憶する。次に、演算制御手段１は、光路切替手段４４で測距光路１１０を開放し、得られた受信光量信号Ｓ１０８と前記記憶した受信光量信号Ｓ１０８とを比較し、得られた受信光量信号Ｓ１０８が前記記憶した受信光量信号Ｓ１０８と等しくなるような光量調整フィルタ４５の透過率が得られるように駆動信号Ｓ１０９によって駆動手段４６を駆動して調整する。
【００１９】
なお、反射パルス光１０６による受光光量が前記反射パルス光の最大光量の約１／１０＊Ｅ６以下である場合、演算制御手段１は反射パルス光１０６を減光せず、基準パルス光１０５を減光させるように光量調整フィルタ４５を調整する。これによって、最大測定距離を拡大することができる。この場合、基準パルス光１０５に対する信号増幅手段５からの増幅信号Ｓ１０５の大きさが、減光されない基準パルス光に対する増幅信号Ｓ１０５と同じになるように信号増幅手段５の増幅率を変化させる。
【００２０】
しかしながら、高い測定精度を要する場合には最大測定距離を犠牲にして前記処理を行わない。高い測定精度を得るためには送光パルス光のパルス幅が狭いことが望まれるので、狭いパルス幅のパルス信号を増幅するには信号増幅手段５に広い対応帯域幅が要求されるが、現時点では十分な帯域幅で信号増幅手段５の増幅率を変化させることが困難だからである。
【００２１】
かくして、反射パルス光１０６は、その光量が測定対象物までの距離や測定対象物の反射率などによって変化しても、基準光路からのパルス光の光量と等しくされてＡＰＤ４２で受光される。
更に、電子回路は温度に依存してその遅延特性が異なる。一般的に温度が高くなると回路素子の動作が活発になることがその原因と考えられる。しかしながら、基準光路での測定距離Ｌｒｅｆを測距光路での測定距離Ｌｓから減じることにより、上記の温度による遅延誤差はキャンセルされる。
【００２２】
図３は、図１に示した本発明の実施の形態例の測距光路１１０、基準光路１１１、及び送光手段３、受光手段４の構成の詳細を示す図である。図１と同じ構成には同一の符号を付すと共に、必ずしも同一ではないが図１の構成と対応する構成には符号の後の（）内に図１の対応する構成の符号を新出の時のみ示す。
半導体レーザ３２で発光されたパルス光は、コリメータレンズ３０１で平行光束となり、半透過プリズム３０２（３４）に入射する。半透過プリズム３０２は、例えば透過Ｔ対反射Ｒの比がＴ：Ｒ＝１：９９の特性を有し、基準光路１１１側へ送光されるパルス光は大きく減衰される。
そして、ミラー３１２で反射し、減光フィルタ３１３（３５）を通過する。更に、最大透過率とされた光量調整フィルタ３１４（４５）を透過し、ミラー３１４で反射する。光路切り替えシャッタ３２１（４４）は、基準光路１１１の測定を行っている時には、ミラー３１４側の光路を開放し、基準光路１１１からのパルス光は半透過プリズム３１０（４３）、コリメータレンズ３１１を通過して受光素子４２で受光される。
【００２３】
一方、半透過プリズム３０２で反射されて測距光路１１０側に送光されたパルス光は、コリメータレンズ３０３を通過し、ダイクロイックミラー３０４により対物レンズ３０５を介して測定対象物に向けて測距パルス光１０４として送光される。従って、ダイクロイックミラー３０４と対物レンズ３０５とで図１の送光光学系３３が構成される。
【００２４】
測定対象物で反射して戻ってきた反射パルス光１０６は、対物レンズ３０５で受光され、合焦レンズ３０６とダイクロイックミラー３０７を介して光ファイバ３０８に入射する。上記のダイクロイックミラー３０４と３０７は、赤外光を反射し、可視光を透過する特性を有する。
光ファイバ３０８に入射した反射パルス光１０６は、光ファイバ３０８の他端部に配設されたコリメータレンズ３０９で平行光とされた後、光量調整フィルタ３１４により、基準光路からの基準パルス光１０５と同等の光量に減衰されて半透過プリズム３１０で反射され、受光素子４２に受光される。測距光路側が選択されている時は、光路切り替えシャッタ３２１により基準光路側が閉じられ、光ファイバ３０８側が開放される。以上の様に、対物レンズ３０５、合焦レンズ３０６及びダイクロイックミラー３０７で図１の受光光学系４１が構成される。
【００２５】
なお、反射パルス光１０６の光量が基準パルス光１０５の光量よりも小さい場合には、光量調節フィルタ３１４は、反射パルス光１０６を減衰させることなく基準パルス光を減衰させる。即ち、最大測定距離をできるだけ長くする為に、反射パルス光の光量が基準パルス光のそれよりも大きい時のみ、反射パルス光の光量を光量調整フィルタ３１４で減衰させ、反射パルス光の光量が小さい時は、その反射パルス光を減衰させることなく基準パルス光を減衰させて、両者の光量を同等に調整する。
【００２６】
光量調整フィルタ３１４は、基準パルス光及び測距パルス光の通過位置において、その透過率が円周方向で夫々に変化する円盤状フィルタであり、その中心を駆動モータ３２２（４６）で回転駆動される。基準パルス光の通過位置における前記フィルタの透過率は、基準パルス光の光量よりも大きい反射パルス光の光量を得られる範囲では最大透過率で変化せず、基準パルス光の光量よりも大きい反射パルス光の光量が得られない範囲のみ円周方向で変化する。
【００２７】
図３には、更に測定対象物方向に送光、受光光学系の光軸を一致させる為の視準光学系が示されている。即ち、オペレータ３１９に対して、接眼レンズ３１８、レチクル３１７、正立プリズム３１６、合焦レンズ３０６及び対物レンズ３０５により視準光学系が構成される。ダイクロイックミラー３０４、３０７は共に可視光を透過する特性を有する。この様に、図３に示した実施の形態例では、視準光学系も、送光光学系及び受光光学系と同一の光軸に構成される。
【００２８】
従って、確実に測定対象物までの距離を測定できると共に、測距装置を小型化することができる。
さて、上記したハイパワーのパルス光が送光光学系に送られると、例えば送光光学系の対物レンズ３０５の内面側で反射されてダイクロイックミラー３０７を介して光ファイバ３０８に入射する。かかる光は、迷光と呼ばれ、測距光路の測定誤差の原因となる。
【００２９】
即ち、従来装置では、図２に示した通り、測距光路の測定は、パルス発光指令Ｓ１０２から、信号選択手段６１がある所定の値以上の受信パルス信号Ｓ１０５を受信したことを示す受信タイミング信号Ｓ１０６のうち最初の信号までの時間と光速をもとに演算される。従って、図２（４）に破線で示したように、迷光が比較的強いパルス光として受光素子４２に入射されると、その迷光によるパルス光が正規の反射パルス光と誤認され、誤った受信タイミング信号が発生され、誤った測距光路での測定距離が求められる。迷光によるパルス光の後に検出された正規の反射パルス光による信号は無視される。
【００３０】
しかも、この迷光によるパルス光は、常に信号選択手段６１が検出するほどのパルス信号になるとは限られない。即ち、上記した通り、弱い反射パルス光の光量を減らすことなく、反射パルス光と基準パルス光との光量を同等レベルにするように光量調整フィルタ３１４で測距光路１１０の光量が調整される。従って、反射パルス光の光量が小さい時は、迷光によるパルス光は減衰されることなく受光素子４２に受光される。また、反射パルス光の光量が大きい時は、光量調整フィルタ３１４で大幅に減衰されるので、迷光によるパルス光も同様に大幅に減衰されて検出されない場合もある。
【００３１】
送光光学系による迷光以外にも、該迷光と同様の正規の反射パルス光以外の反射パルス光が多重反射光として検出される場合がある。例えば、測定対象物としてコーナーキュウブプリズムを用いた場合、該コーナーキュウブプリズムで反射された反射パルス光の一部が受光光学系の対物レンズ３０５で反射され、再びコーナーキューブプリズムに向けて投光され、第２の反射パルス光として検出されることがある。このような多重反射光はコーナーキューブプリズムの中心以外の部分が視準されたときに発生し易く、コーナーキューブプリズムの中心部が視準されたときには発生し難い。
【００３２】
更には、測定対象物と距離測定装置との間の送光光路内に例えば木の枝などの物体が存在する場合や、測定対象物までの距離が長く送光パルス光が測定対象物の大きさ以上に拡大し且つ測定対象物の後方の前記拡大した送光パルス光内に物体が存在した場合、複数ターゲットとなり正規の反射パルスと共に前記物体による反射パルス光が検出される。
【００３３】
以下、これら正規反射パルス光以外の反射パルス光を迷光等と総称する。
前記迷光等に起因する問題点は、比較的精度を要求しない測距装置のように基準光路を利用しない場合でも、例えば電子回路のダイナミッックレンジ内に反射パルス光の光量を納める為に行われる光量調整によって同様の問題を引き起こす。
【００３４】
受光光学系の測定対象物側に送光方向以外を不透明体で囲った送光光学系を配置することによりこの迷光等自体をなくす方法もあるが、それは受光光量を減少させ、最大測定距離の増大の目的に反する結果となる。
そこで、本発明では、光学系による迷光等が発生しても、その迷光等による測定誤差を信号処理側で解決した。
【００３５】
本発明の実施の形態例では、測距に先立って測距光路側に予備発光して測距光路からの光量を光量調整フィルタ３１４で調整した後に、測距光路に測距パルス光を送光し被測定物までの距離を求める。この時、パルス数検出手段６２によって受光側が迷光等によるパルス光と反射パルス光の２つ以上のパルス光を検出するか、或いは反射パルス光のみの１つのパルス光を検出するかを検出する。
【００３６】
そして、前者の場合は、求めた測定結果を無効なものとして棄却する。後者の場合は、求めた測定結果を有効なものとして演算制御手段１のメモリに記憶する。そして、測距を所定数の有効測定値が得られるまで繰り返し、演算制御手段１はメモリに記憶した測定結果の平均値を算出し、表示・出力する。無効な測定結果の割合が多く所定数の測定結果を得る間での時間が所定の時間を超える場合は、視準状態、測距光路或いはその周囲の環境に問題がある可能性が高いのでエラーとし、点検を促す。
【００３７】
なお、反射パルス光が一つも検出できない程小さい場合は、最初の段階で測定不能としておく。
図４（１）は、パルス数検出手段６２の回路構成であり、図４（２）はそのタイミングチャートである。以下、この回路の動作を図４（１）、（２）によって説明する。
【００３８】
信号増幅手段５の出力Ｓ１０５は、コンパレータ２０１に入力される。コンパレータ２０１のもう一方の入力端子には所定に直流電圧が入力され、入力信号Ｓ１０５のスレッショルドとなっている。このスレッショルドは前述のように信号選択手段６１のスレッショルドよりもやや低く設定されている。Ｄフリップフロップ２０２の出力Ｓ２２及びＤフリップフロップ２０３の出力Ｓ１０７は、オペレータからの測距指令に基づく演算制御手段からのリセット信号によりＬレベルとされている。
【００３９】
コンパレータ２０１に前記所定のスレッショルドよりも大きい信号（図４（２）の▲１▼のＳ１、Ｓ２）が入力されると、コンパレータ２０１の出力Ｓ２１にパルス信号（図４（２）の▲２▼のＰ１、Ｐ２）が生成される。コンパレータ２０１の出力信号Ｓ２１はＤフリップフロップ２０２、２０３の clk端子に入力されている。Ｄフリップフロップ２０２のＱ出力Ｓ２２は前記リセット時にＬになっている。
【００４０】
コンパレータ２０１に１つ目のパルス信号入力Ｓ１があると、Ｄフリップフロップ２０２のＱ出力Ｓ２２はパルス信号Ｐ１の立ち上がりエッジによりＬ→Ｈとなる（図４（２）の▲３▼）。このときＤフリップフロップ２０３のＱ出力Ｓ１０７はＬのままである（図４（２）の▲４▼のＡ部）。即ち、コンパレータ２０１に入力されるパルス信号が一つだけならばＳ１０７はＬレベルを維持する。
【００４１】
一方、コンパレータ２０１に２つ目のパルス信号入力Ｓ２があると、Ｄフリップフロップ２０２の clk端子にパルス信号Ｐ２が更に入力されると、パルス信号Ｐ２の立ち上がりエッジによりＤフリップフロップ２０３のＱ出力Ｓ１０７はＬ→Ｈとなる（図４（２）の▲４▼のＢ部）。コンパレータ２０１に３つ目以降のパルス信号入力があっても、Ｄフリップフロップ２０３のＱ出力Ｓ１０７はＨレベルを維持する。
【００４２】
演算制御手段１はＤフリップフロップ２０３のＱ出力Ｓ１０７を参照し、出力信号Ｓ１０７がＬの時は、求めた測距値を有効と判断し平均値の計算に用い、出力信号Ｓ１０７がＨの時は、求めた測距値を無効と判断し平均値の計算に用いるデータから除外する。
図５は、本発明の実施の形態例の測定のフローチャートである。
【００４３】
本実施の形態例では、まず、光量調整フィルタ３１４を透過率最大の状態として測距光路側の反射パルス光のレベルを検出する（ステップ８１）。そこで、被測定物までの距離が最大測定距離より遠い場合や被測定物の反射率が低い場合は、反射パルス光の光量が弱く、検出不能として測定エラーとする。ある程度の光量の反射パルス光が検出されると、上記した方法に従い、制御演算手段からの駆動信号によって駆動モータ３２２を駆動することにより光量調整フィルタ３１４が駆動されその減衰量が調整される（ステップ８２）。その後、調整された光量調整フィルタ３１４の状態で、再度測距光路にパルス光が送光され測定対象物までの距離が測定される（ステップ８３）。
【００４４】
そして、その送光されたパルス光に対してパルス数検出手段が１個のパルス光を検出するか２個以上のパルス光を検出するかの迷光等パルス光検出工程が実施される（ステップ８４）。２個以上のパルス光が検出された時は、迷光等ありと判定されステップ８６へ進む。１個のパルス光しか検出されない場合は、迷光等なしで反射光のみと判定されステップ８５へ進む。
【００４５】
迷光等なしと判定したステップ８５では、ステップ８３で求めた測定値が演算制御部のメモリに記憶されてステップ８７へ進む。迷光等ありと判定されたステップ８６では、ステップ８３で求めた測定値が棄却されステップ８７へ進む。そして、前記メモリに記憶され測定値の数が所定の数になったか否かが判定され（スップ８７）、所定数の測定値が得られたならば平均値が算出され測定結果として表示され（ステップ８８）、処理が終了する。所定数に満たなければステップ８３で測距を開始してからの時間が所定値以内か否かを判定し（ステップ８９）処置値以内であればステップ８３に戻り、再度距離を測定する。ステップ８９において所定値を超えているならば、受信光量が小さいために光量調整フィルタの透過率が高く設定され、その結果、迷光等が受光されているか、あるいは、送光光路内に被測定物以外の障害物が入っている可能性が高いので、その旨を示す表示をして（ステップ９０）処理が終了する。
【００４６】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によれば、迷光等による測定距離の誤差をなくすことができる。また、送光光学系と受光光学系を同軸構成にしたパルス光測距方式でも、発生する迷光等による測定誤差をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態例の測距装置の回路ブロック図である。
【図２】パルス光を利用した測距方法を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態例の測距光路と基準光路及び発光、受光光学系の構成を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態例のパルス数検出手段６２の詳細な回路図、及びタイミングチャートである。
【図５】本発明の実施の形態例の測定のフローチャートである。
【符号の説明】
１………………演算制御手段 ６………………号処理手段
２………………時間計測手段 ７………………光量検出手段
３………………送光手段 ６１………………号選択手段
４………………受光手段 ６２………………ルス数検出手段

Claims (1)

1. パルス光を対象物に向けて送光する送光手段と、
   前記対象物で反射された反射パルス光を受光する受光手段と、
   前記パルス光の送光時から受光時までの時間を計測する時間計測部とを有し、
   前記時間計測部により計測された時間から対象物までの距離を求める光波測距装置において、
   さらに、前記受光手段により受光した反射パルスの数が一つか複数かを検出するパルス数検出部と、前記受光手段と前記時間計測部との間に、前記受光手段からの受光信号が所定の値 A 以上の時に時間計測終了信号を前記時間計測部に出力する信号選択手段と、を設け、
   前記パルス数検出部は、前記所定の値 A よりもわずかに小さい値に設定された所定の値 B 以上の反射パルスの数が一つか複数かを検出し、前記パルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を検出した時の前記対象物までの距離の値を除外することを特徴とする光波測距装置。

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