JPH1184003A - 光波測距装置 - Google Patents

光波測距装置

Info

Publication number
JPH1184003A
JPH1184003A JP9239873A JP23987397A JPH1184003A JP H1184003 A JPH1184003 A JP H1184003A JP 9239873 A JP9239873 A JP 9239873A JP 23987397 A JP23987397 A JP 23987397A JP H1184003 A JPH1184003 A JP H1184003A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
distance
signal
stray light
pulse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9239873A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Yoshida
久 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP9239873A priority Critical patent/JPH1184003A/ja
Priority to EP98940647A priority patent/EP1012621B1/en
Priority to DE69804468T priority patent/DE69804468T2/de
Priority to PCT/JP1998/003890 priority patent/WO1999012052A1/en
Publication of JPH1184003A publication Critical patent/JPH1184003A/ja
Priority to US09/518,245 priority patent/US6226076B1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/10Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4811Constructional features, e.g. arrangements of optical elements common to transmitter and receiver
    • G01S7/4813Housing arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/51Display arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】最大測距範囲を増大し、ノンプリズム測距能力
を向上させ、かつ迷光の影響を受けない高精度な光波測
距装置を提供する。 【解決手段】パルス光を対象物に送光する送光手段と、
前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段と、
前記受光手段による受光時を検出する信号検出手段とを
有し、前記送光手段による送光時から前記受光時までの
時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する光波測
距装置において、前記測距により求めた距離が所定の値
未満の場合、前記信号検出手段は、前記受光時の検出を
前記送光後所定時間以降の受光時のみを検出可能とし
て、再度前記測距を行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルス光を用いて
対象物までの距離を測定する光波測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光を用いた測距装置の光学系には、送光
光路及び受光光路の配置により、大別して2軸型及び同
軸型の二つの光学系が知られている。これら二つの光学
系のうち、装置の小型化、パララックスの回避及び送光
光路を対象物へ照準するための視準光路と一致させる観
点からは、同軸型光学系が有利である。なぜならば、同
軸型光学系は、対象物に送光する光の送光軸と、対象物
からの反射光を受光する受光軸が一致する構成となって
いるからである。
【0003】また、この種の測距装置には、光源にLE
D又は半導体レーザを用いて光源を連続変調させ、送信
光と受信光との位相差から対象物までの距離を求める連
続変調方式のものと、半導体レーザを光源に用い、パル
ス光を送信してから対象物で反射して戻ってくるまでの
時間から対象物までの距離を求めるパルス方式のものと
がある。
【0004】最大測距範囲の増大化の要求と、省力化・
作業の効率化のために、測定点に例えばコーナーキュー
ブのような反射器を使用しないノンプリズム測定能力の
要求に応えるためには、大きなピークパワーを用いるこ
とのできるパルス方式が断然有利である。
【0005】ところで、送受光同軸型光学系を用いた光
波測距装置では、最大測距範囲の増大化やノンプリズム
測定能力の要求のために光源の出力を強化すると、対物
レンズ内側面や鏡筒内面などの機械内反射が受光素子に
迷光として受光され、測定値に大きな誤差が生じてしま
う。最大測距範囲の増大化等の要求のためには、パルス
方式が断然有利であるが、パルス方式では光のピークが
大きくなるので、迷光の大きさも大きくなり、測定値の
誤差も大きくなる。
【0006】この迷光による測定値の誤差を除去するた
めの方法には、例えば特公昭59−24397号公報、
実公平3−21502号公報に開示されているものがあ
る。これらは、送光光学系と受光光学系とを光学的に分
離した構造として迷光を除去しようするものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の公報に開示されている光学系は、受光系を収納する大
口径の鏡筒の前方に、発光系を納めた小径の鏡筒を配置
して同軸支持する構造である。そのため、対象物を視準
する視準光学系を測距光学系の光軸と同軸に設けること
は、前方に配置した小径の鏡筒によって視準光路が遮ら
れるので不可能である。このことは、特にノンプリズム
測定の場合、測定者が測点を認識することが困難となっ
て、測距装置にとって大きな欠点となる。また、受光レ
ンズである大口径レンズの前方に光源を配置しているた
め、光源に供給する電源の配線等が受光レンズを遮って
しまい、受光光量の低下を及ぼす問題点があることは明
らかである。
【0008】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、最大測距範囲を増大し、ノンプリズ
ム測距能力を向上させ、かつ迷光の影響を受けない高精
度な光波測距装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する為
に、本発明は、パルス光を対象物に送光する送光手段
と、前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段
と、前記受光手段による受光時を検出する信号検出手段
とを有し、前記送光手段による送光時から前記受光時ま
での時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する光
波測距装置において、前記測距により求めた距離が所定
の値未満の場合、前記信号検出手段は、前記受光時の検
出を前記送光後所定時間以降の受光時のみを検出可能と
して、再度前記測距を行うことを特徴とする。
【0010】この発明の光波測距装置は、最初の測距に
より求めた距離が所定の値未満の場合、迷光による受信
信号を検出していると判断する。そして、信号検出手段
は、受光時の検出を送光後所定時間以降の受光時のみを
検出可能として再度測距を行い、迷光の影響を排除す
る。
【0011】上記の目的を達成する為の別の発明は、パ
ルス光を対象物に送光する送光手段と、前記対象物から
の反射パルス光を受光する受光手段と、前記受光手段に
よる前記受光時を検出する信号検出手段とを有し、前記
送光時から前記信号検出手段が検出した前記受光時まで
の時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する光波
測距装置において、前記対象物の像を所定の位置に合焦
させる光学系を有する視準装置を有し、該視準装置の光
学系の合焦位置に対応する前記対象物までの距離が所定
の値以上の場合、前記信号検出手段による受光時の検出
を前記送光後所定時間検出不能として、前記測距を行う
ことを特徴とする。
【0012】即ち、対象物までの距離が所定の値以上の
場合は、対象物からの反射パルスは小さくなり、迷光に
よる誤った測距が発生する場合が多くなる。そこで本発
明においては、視準装置の光学系の合焦位置に対応する
対象物までの距離が所定の値以上の場合は、信号検出手
段による受光時の検出を送光後所定時間検出不能として
測距を行い、迷光による誤った測距を排除する。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態によ
る光波測距装置のブロック図を示す。まず、基本測距動
作について説明する。演算制御部1は、例えばCPUお
よびその周辺回路等で構成され、信号処理部2へ測距指
令信号S101を出力する。信号処理部2はカウンタ等
で構成され、測距指令信号S101に応答して、送光手
段3へ発光指令信号S102を出力すると共に時間計測
を開始する。また発光指令信号S102は、受信信号検
出手段6へも出力される。受信信号検出手段6は、発光
指令信号S102を受信すると内部に設けられたコンパ
レータを活性化し信号検出可能状態(活性状態)とな
る。
【0014】送光手段3は、半導体レーザ駆動回路3
1、光源である半導体レーザ32及び送光光学系33で
構成される。送光光学系33は、半導体レーザ32で発
光したパルス光103を測距光路110経由で対象物へ
向けて送光するか、あるいは基準光路111経由で送光
するかを選択し、それぞれの光路にパルス光を送光す
る。
【0015】送光光学系33により測距光路110に送
光され対象物で反射されたパルス光、あるいは基準光路
111経由で送光されたパルス光は、受光手段4で受光
される。受光手段4は、受光光学系41、高感度受光素
子であるAPD(アバランシェフォトダイオード)4
2、APD駆動回路43で構成される。受光光学系41
で受光されたパルス光104は、APD42で光電変換
され、APD出力信号S109として、受信信号増幅手
段5へ出力される。
【0016】APD出力信号S109は、受信信号増幅
手段5で増幅され、APD出力信号S109の大きさに
応じたパルス高の受信パルス信号S105として、受信
信号検出手段6へ出力される。受信信号検出手段6は、
所定のしきい値以上の受信パルス信号S105を受けた
時、受信パルス信号S105から時間計測終了の受信タ
イミング信号S106を生成し、信号処理部2へ出力す
る。
【0017】尚、演算制御部1は、受信信号検出手段6
にパルス選択信号S107を出力し、受信信号検出手段
6内に設けられるコンパレータの活性化を遅延させるか
否かを指令する。即ち、パルス選択信号S107が論理
Hの時は、活性化の遅延を行わず、発光指令信号S10
2の出力(論理H)と同時に、受信信号検出手段6は活
性状態となる。一方、パルス選択信号S107が論理L
の時は、活性化は所定時間遅延され、発光指令信号S1
02の出力(論理H)から所定時間後に、受信信号検出
手段6は活性状態となる。
【0018】受信タイミング信号S106を受けた信号
処理部2は時間計測を終了し、発光指令信号S102か
ら受信タイミング信号S106までの時間データを取得
する。この時間データは演算制御部1へ信号S112と
して転送され、光速度を基に距離データに変換される。
【0019】また、リミットスイッチ330は、対象物
が所定の値よりも遠距離にあるか否かを検出するために
設けられている。即ち、所定の値よりも遠距離にある測
距対象物に合焦するために、後述する合焦レンズ306
を遠距離側へ移動させると、合焦レンズ306が所定の
位置よりも遠距離側にあることを検出し演算制御部1に
検出信号S108を出力する。
【0020】図2は、本発明の実施の形態による光波測
距装置の光学系の構成ブロック図を示す。光源である半
導体レーザ32で発光されたパルス光は、コリメータレ
ンズ301でその放射角度が平行光束となり、プリズム
302へ入射される。プリズム302は、例えば透過対
反射の比がT:R=1:99なる特性を有し、基準光路
350側へ送光されるパルス光は大きく減衰される。
【0021】ここで、演算制御部1(図1参照)によっ
て、基準光路を選択した場合を説明する。演算制御部1
は、光路選択手段である光路切り替えシャッター321
によって、基準光路開放状態、測距光路閉鎖状態に設定
する。
【0022】プリズム302を透過したパルス光は、ミ
ラー312で反射され、予め組み立て調整時に設定され
たフィルタ313で所定のレベルに減衰されて透過し、
光量調整フィルタ314を透過する。ここでは、基準光
路の光量は通常減衰されない。光量調整フィルタ314
は、測距光路の信号レベルが基準光路の信号レベルより
小さくなった時のみ、基準光路の信号レベルを小さくす
るように設定される。
【0023】光量調整フィルタ314を透過したパルス
光は、ミラー315で反射され、基準光路開放状態に設
定された光路切り替えシャッター321を透過して、プ
リズム310へ入射する。プリズム310は、プリズム
302と同等の特性を有しており、プリズム310を透
過したパルス光は、コリメータレンズ311によって受
光素子であるAPD42へ入射する。
【0024】なお、装置内部のみを経由する基準光路
は、受信信号増幅手段5、受信信号検出手段6などの温
度変動による遅延時間の変動を補正して測距を高精度に
する目的と、測距の基準点を、光波測距装置の測定点上
に設置した時、該測定点を通る鉛直線上に位置する機械
中心点に一致させる目的で設置されている。
【0025】次に演算制御部1によって、測距光路を選
択した場合を説明する。演算制御部1は、光路選択手段
である光路切り替えシャッター321によって、測距光
路開放状態、基準光路閉鎖状態に設定する。
【0026】プリズム302で反射されたパルス光は、
コリメータレンズ303を透過し、ダイクロイックミラ
ー304で反射される。ダイクロイックミラー304
は、赤外光を反射し、可視光を透過する特性を有する。
ダイクロイックミラー304で反射されたパルス光は、
対物レンズ305を透過し、対象物へ向けて送光され
る。
【0027】対象物で反射されたパルス光352は、対
物レンズ305で集光される。対物レンズ305で集光
されたパルス光は、合焦レンズ306を透過し、ダイク
ロイックミラー307で反射され、光ファイバ308へ
入射する。
【0028】光ファイバ308で放射されたパルス光
は、コリメータレンズ309によって平行光束となり、
光量調整フィルタ駆動モータ322により駆動される光
量調整フィルタ314によって所定量に減衰され、プリ
ズム310へ入射する。光路切り替えシャッター321
は、光路選択時に測距光路開放状態に設定されているの
で、プリズム310で反射したパルス光は、コリメータ
レンズ311によって受光素子であるAPD42へ入射
する。
【0029】上記したハイパワーのパルス光が測距光路
に送られると、例えば対物レンズ305の内面側で反射
されてダイクロイックミラー307を介して光ファイバ
308に入射する光が存在する。かかる光が迷光であ
り、上記した様に測距光路の測定誤差の原因となる。
【0030】光ファイバ308から出射された迷光およ
び反射パルス光は、送光された光パルスに対して、対物
レンズ305までの距離、又は対象物までの距離に比例
した時間差をもって受光素子であるAPD42へ入射す
る。
【0031】なお、測距開始前に、視準光学系を通して
測定者の眼319で対象物を見ながら合焦レンズ306
を前後に移動することにより、対象物に焦点が合わされ
ている。視準光学系は、接眼レンズ318、レチクル
(焦点板)317、正立プリズム(ポロプリズム)31
6、合焦レンズ(アナラクレンズ)306、対物レンズ
305によって構成される。また、リミットスイッチ3
30は、合焦レンズ306が所定の位置の遠距離側へ移
動することを検出することにより、対象物が所定の値よ
り遠方にあるか否かを検出するものである。
【0032】図3は、パルス光を利用した測距方法の説
明図である。図3(1)(2)は、パルス光が基準光路
111を通過した場合の発光指令信号S102と受信タ
イミング信号S106との関係を示す。また、図3
(3)(4)は、パルス光が測距光路110を通過した
場合の発光指令信号S102と受信タイミング信号S1
06との関係を示す。
【0033】基準光路111は、測距装置内に設けられ
ており、パルス光は、図1に示す送光手段3から送光さ
れ、基準光路111を経由して受光手段4で受光され
る。信号処理部2は、上述した通り、図3(1)に示す
発光指令信号S102から図3(2)に示す受信タイミ
ング信号S106までの時間を計測し、演算制御部1は
その計測時間と光速とによって基準光路111での測定
距離Lrefを求める。
【0034】一方、測距光路110では、送光手段3か
ら対象物に向けてパルス光が送光され、対象物で反射し
たパルス光が、受光手段4で検出される。そして、図3
(3)に示す発光指令信号S102と図3(4)に示す
受信タイミング信号S106とから、上記と同様にして
測距光路での測定距離Lsを求める。そして、測定距離
Lsと測定距離Lrefとの差から対象物までの距離を
求める。
【0035】電子回路は一般に温度等に依存した遅延特
性を有する。そこで、既知の長さの基準光路111での
測定距離Lrefを測距光路110での測定距離Lsか
ら減じることにより、温度等による遅延誤差をキャンセ
ルする。
【0036】測距光路110における時間計測は、図3
(3)に示す発光指令信号S102から、受信信号検出
手段6がしきい値以上のパルス信号を受信したことを示
す図3(4)に示す受信タイミング信号S106までの
時間を計測する。
【0037】ところで、迷光が比較的強いパルス光とし
て受光素子42に入射すると、その迷光による図3
(4)に破線で示した受信タイミング信号S106が発
生し、誤った測定距離Lsが求められる。
【0038】しかも、この迷光によるパルス信号は、常
に受信信号検出手段6が検出するしきい値以上の大きさ
になるとは限らない。即ち、距離測定に先立ち、測距光
路110における反射パルスの受光光量と、基準光路1
11のパルス光の受光光量とを同等レベルにする光量調
整が行われる。対象物までの距離が大きい等により反射
パルス光の光量が小さい時は、光量調整が行われても反
射パルス光は減衰されない。従って、迷光も減衰され
ず、迷光によるパルス信号は受信信号検出手段6に検出
される。
【0039】一方、対象物までの距離が小さい等により
反射パルス光の光量が大きい時は、光量調整により反射
パルス光は減衰される。この時、迷光も同様に減衰され
て、迷光によるパルス信号は受信信号検出手段6に検出
されない場合もある。
【0040】尚、距離測定に先立ち光量調整を行うの
は、一般に電子回路は、入力された信号のパワーによっ
てその遅延特性が異なるからである。光量調整は、基準
光路111を経由して受光されたパルス光と測距光路1
10を経由して受光されたパルス光とのパワーが同等に
なる様に、光量調整フィルタにより調整される。
【0041】前述した従来例では、光学系の構造を改良
することによりこの迷光自体をなくす努力をしている。
しかし、その結果、受光光量が少なくなり最大測定距離
の増大の目的に反することになっている。
【0042】そこで、本発明の実施の形態では、迷光に
よる測定誤差を信号処理によって解決する。即ち、大き
なピークパワーを出力可能なパルス光源を用いて、測距
範囲の増大やノンプリズム測定能力の向上を実現し、そ
れに付随して発生し大きな測定誤差をもたらす迷光の影
響を、以下に記述するようにして排除している。尚、送
光手段からのパルス光が基準光路111経由で受光手段
へ入射した場合には、対物レンズ等からの反射による迷
光は存在しない。
【0043】送光手段からのパルス光が測距光路110
経由で受光手段へ入射した場合には、対物レンズ等から
の反射による迷光も受光される。対象物が近距離にある
場合と、対象物が遠距離にある場合との2つの場合につ
いて迷光の影響を説明する。
【0044】(1)対象物が近距離にある場合 第一の場合は、対象物からの反射により測距光路110
経由で受光された光量が、基準光路111経由で受光さ
れた光量に比べ大きい場合である。すなわち、対象物が
比較的近距離にある場合に該当する。
【0045】この場合は、測距光路110経由で受光さ
れた光量を基準光路111経由で受光された光量に合致
させるため、光量調整手段により測距光路110経由で
受光された光量を減衰させるが、同時に迷光も減衰さ
れ、迷光によるパルス信号は受信信号検出手段で検出さ
れないレベルとなる。
【0046】図4は、対象物が近距離にある場合のタイ
ミングチャートを示す。図4(1)は、光量調整前の受
信パルス信号S105である。対象物が近距離にあるた
め、対象物による反射パルス信号S81は、迷光による
迷光パルス信号S80よりピークレベルが高い。
【0047】図4(2)は、光量調整後の受信パルス信
号S105を示す。光量調整は、受信パルス信号S10
5の最大ピークレベルに対応する、対象物からの反射パ
ルス光の光量を、基準光路111を通ったパルス光の光
量と同等になるように調整する。しかも、基準光路から
のパルス光は、遠距離にある対象物からの反射パルス光
の光量と同程度になるようにフィルタで減衰されてい
る。従って、反射パルス信号S81は、図4(2)の反
射パルス信号S83のレベルまで小さくなる。この時、
迷光パルス信号S80も同様に迷光パルス信号S82の
レベルまで小さくなる。
【0048】図4(3)は、受信信号検出手段6が活性
状態にあるか否かを示す活性状態信号を示す。活性状態
信号は、図1で説明した通り発光指令信号S102に応
答して論理Hにされ、受信信号検出手段6が活性化され
る。活性化された受信信号検出手段6は、しきい値レベ
ルを越える受信パルス信号S105が入力されたとき、
受信タイミング信号S106を生成する。
【0049】図4の場合、受信パルス信号S105とし
て迷光パルス信号S82も存在するが、迷光パルス信号
S82は上記の通り小さくなり前述のしきい値に達せ
ず、図4(4)の様に反射パルス信号S83に対してだ
け受信タイミング信号S106が生成される。
【0050】したがって、演算制御部1で演算された距
離は、対象物までの距離となり、迷光は受光されるが迷
光による測距誤差の発生は無い。
【0051】(2)対象物が遠距離にある場合 第二の場合は、対象物からの反射により測距光路110
経由で受光された光量が、基準光路111経由で受光さ
れた光量と、同等又はそれ以下の場合である。すなわ
ち、対象物が遠距離に存在する場合に該当する。この場
合は、光量調整手段で測距光路110経由で受光された
光量を、基準光路111経由で受光された光量に合致さ
せた場合でも、迷光によるパルス信号が受信信号検出手
段6で検出される。
【0052】図5は、対象物が遠距離にある場合のタイ
ミングチャートを示す。図5(1)は、図4(1)と同
様に光量調整前の受信パルス信号S105を示す。対象
物が遠距離にあるので、対象物からの反射パルス信号S
86の信号レベルが低く、迷光パルス信号S85と同じ
くらいのレベルである。
【0053】図5(2)は、光量調整後の受信パルス信
号S105を示す。図5(1)の反射パルス信号S86
はもともと低レベルで、半導体レーザ32からのパルス
光を減衰させるプリズム302、フィルタ313を含む
基準光路から受光した受光信号のレベルに近いので、光
量調整による受光光量の調節はわずかである。従って、
迷光パルス信号S87の大きさもほとんど変化せず、反
射パルス信号S88と同程度のレベルのまま残ってしま
う。
【0054】図5(4)は、受信タイミング信号S10
6を示す。この場合は、迷光パルス信号S87は反射パ
ルス信号S88と同程度の大きさなので、受信タイミン
グ信号S106は、迷光パルス信号S87のタイミング
でも受信タイミング信号S89を発生してしまう。
【0055】このため演算制御部1は、最初に検出され
る受信タイミング信号S89による時間計測を行う。そ
の結果、測距光路110で計測された時間は、基準光路
111で計測された時間とほぼ等しくなり、この計測時
間を基に演算された測距値Lは例えば1m未満と極端に
短い距離になる。迷光は装置内の対物レンズ等で発生
し、装置内部の光路長は通常1m未満であるからであ
る。この測距値1mを基準値と称する。
【0056】そこで、本発明の実施の形態によれば、演
算結果により測距値Lが基準値1m未満、又は計測時間
が測距値Lが1mに相当する値以下となった場合、演算
制御部1は、受信信号検出手段6を活性化するタイミン
グを所定時間遅延させる。
【0057】また、本発明の他の実施の形態では、合焦
光学系で合焦すべき対象物が所定の値よりも遠距離にあ
ることをリミットスイッチ330が検出することによ
り、演算制御部1は、受信信号検出手段6を活性化する
タイミングを所定時間遅延させる。
【0058】図6は、対象物が遠距離にある場合に、受
信信号検出手段6を活性化するタイミングを所定時間t
1遅延させた時のタイミングチャートを示す。即ち、迷
光によって発生した受信タイミング信号を無視するよう
にした場合である。
【0059】図6(1)(2)は、図5(1)(2)の
場合と同様で、図6(2)の迷光パルス信号S97が減
衰されず存在している。但し、図6(3)の受信信号検
出手段6の活性状態信号は、所定時間t1遅延して論理
Hにされる。従って、迷光パルス信号S97に対して
は、受信タイミング信号S106は発生せず、対象物か
らの反射パルス信号S98のタイミングの時だけ、受信
タイミング信号S106がパルス信号S99として発生
する。
【0060】以上の本発明の実施の形態における動作を
概略フローチャート図で説明する。図7は、予備的な測
距であるプレ測距により得られた測距値により、迷光に
よる信号を無視するようにするか否かを判断する場合の
概略フローチャートを示す。
【0061】測距が開始されると、まず基準光路におい
て測距が行われる(ステップ210)。これにより基準
光路の光路長Lrefが求まる。Lrefは通常1m未
満である。
【0062】次に光路を測距光路に切替え、対象物まで
の距離を予備的に測定するプレ測距が行われる(ステッ
プ220)。そして、求められた測距値Lが所定の基準
値、例えば1mより短いか否かにより迷光を無視するよ
うにするか否かを判断する(ステップ230)。そし
て、プレ測距により求められた測距値Lが1m未満であ
れば迷光による信号を無視するようにし(ステップ24
0)、測距値Lが1m以上であればステップ240の処
理は行わない。迷光による信号の無視は、上記した通
り、受信信号検出手段6の活性状態信号をt1だけ遅延
することにより行われる。
【0063】迷光による信号を無視するようにするか否
かを判断した後、測距光路のメイン測距を行う(ステッ
プ250)。従って、メイン測距は、迷光が存在する場
合でも、迷光による信号が無視されているので、対象物
からの反射パルスに基いた測距が行われる。
【0064】図8は、リミットスイッチ330を用いて
対象物が遠距離にあるか近距離にあるかを判断し、測距
を行う場合の概略フローチャートを示す。図7の場合と
ほぼ同様であるが、基準光路の測距(ステップ210)
に先立ち後述する視準を行い(ステップ270)、対象
物が遠距離にあるか近距離にあるかを判断する点が相違
する。尚、視準は、合焦レンズの位置を光軸方向に調節
して対象物の像をレチクル317上に結像させるもので
ある。合焦レンズの近くには図2に示した様にリミット
スイッチ330があり、合焦レンズの位置により対象物
が遠距離にあるか近距離にあるかを判断する(ステップ
280)。
【0065】対象物が遠距離にある場合は光量調整によ
っても迷光は減衰されないので、迷光による信号を無視
できるように受信信号検出手段6の活性状態信号を遅延
する(ステップ240)。対象物が近距離にある場合は
光量調整により迷光は減衰されるので、迷光による信号
の無視は行わない。その後に測距光路において測距(ス
テップ250)するのは図7の場合と同様である。
【0066】このように、迷光が減衰されない場合で
も、迷光が受光されるタイミングの後に受信信号検出回
路6が活性化されるので、迷光の影響を受けることなく
対象物までの距離を算出することができる。すなわち、
測距値に迷光による誤差が発生することは無い。
【0067】図9は、本発明の実施の形態による受信信
号検出手段6の構成ブロックを示す。また図10は、基
準光路、及び迷光の影響が無い測距光路における測距の
タイミングチャートを示す。また図11は、本実施の形
態によるプレ測距による測定フローチャート図を示す。
これらの図を用いて、迷光に影響を受けない本発明の実
施の形態における動作を詳述する。
【0068】まず最初に、基準光路が選択される。図1
1の測定フローチャートでは、ステップ211からステ
ップ213がこれに該当する。ステップ211により設
定される基準光路では、パルス光は対物レンズ305を
経由しないので、迷光の発生は無い。基準光路を選択す
る場合、演算制御部1のCPUは、パルス選択信号S1
07を論理Hに設定する(ステップ212)。このとき
信号処理部2の発光指令信号S102が論理Hとなれ
ば、AND回路66の出力信号S601、続いてOR回
路65の出力信号信号S603が論理Hとなり、コンパ
レータ62が動作可能状態となる。この動作のタイミン
グチャートは、図10(1)から図10(7)に示され
ている。
【0069】尚、図10(7)のOR回路65の出力S
603が、前述した受信信号検出手段6の活性状態信号
である。図10(1)のパルス選択信号S107が論理
Hの時は、図10(7)の活性状態信号S603は、図
10(3)の発光指令信号S102と同時に論理Hとな
る。
【0070】ステップ213における測距において、基
準光路経由で受光されたパルス光104は、APD42
で光電変換され受信信号増幅手段5に入力される。受信
信号増幅手段5から出力される受信パルス信号S105
は、コンパレータ62の非反転入力端子へ入力する。コ
ンパレータ62の反転入力端子は、予め所定のレベルに
設定されている。これは、回路ノイズ等による誤動作を
防止するためである。
【0071】コンパレータ62は、上記所定のレベル以
上の受信パルス信号S105の入力により、パルス信号
S604を出力する。パルス信号S604の立ち上がり
エッジによりラッチ回路70がラッチされ、ラッチ回路
70の出力S605によって、受信タイミング決定手段
であるコンパレータ61が動作可能となる。コンパレー
タ61は、その非反転入力端子には受信パルス信号S1
05が入力され、反転入力端子には、受信パルス信号S
105が予め設定された遅延量を有する遅延手段64に
よって遅延された信号S105Aが入力される。
【0072】したがって、コンパレータ61の出力は、
受信パルス信号S105の立上りでHレベルとなり、受
信パルス信号S105と遅延された信号S105Aがク
ロスするポイントでLレベルとなるようなパルス信号S
106となり、信号処理部2へ伝達される。信号処理部
2ではその立下りエッジが検出される。その結果、基準
光路における測距値Lrefが求まる(ステップ21
3)。以上の動作のタイミングチャートは、図10
(8)から図10(13)に示されている。
【0073】また、演算制御部1のCPUは、受信信号
検出手段6内のピーク検出回路63によって、受信パル
ス信号S105のピークレベルを検出する。これは、光
量調整フィルタ314を駆動する光量調整フィルタ駆動
モータ322を制御するために必要となる。
【0074】次に、測距光路が選択される。この場合、
演算制御部1のCPUは、パルス選択信号S107を論
理Hのまま、測距光路を設定する(図11のステップ2
21)。次に光量調整の動作を行い(ステップ22
2)、プレ測距を行う(ステップ223、224)。
【0075】(1)対象物が近距離にある場合 対象物が近距離にある場合には、対象物からの反射受光
光量が大きいため、上記ピーク検出回路63の出力は、
対象物からの反射パルスのレベルになる。したがって、
光量調整時に光量調整フィルタ314が濃い方へ動き、
信号光の減衰と共に迷光も減衰する。よって、実質的に
は迷光の影響は受けない。
【0076】従って、プレ測距(ステップ223)によ
る測距値演算(ステップ224)の結果Lは、対象物ま
での距離となり測距値Lは1m以上となる。従って、活
性状態信号を遅延させて迷光による信号を無視すること
は行わず、メイン測距(ステップ252)に移行する。
【0077】(2)対象物が遠距離にある場合 対象物が遠距離にある場合には、対象物からの反射光量
が小さいため、上記ピーク検出回路63の出力は、迷光
による信号のレベルになる。したがって、光量調整時に
も光量調整フィルタ314の位置はほとんど動かず、迷
光による信号で時間計測を行うことになる。
【0078】プレ測距(ステップ223)の結果、算出
された距離Lが1m未満であれば、測距光路で計測され
た距離が基準光路で計測された距離とほぼ等しいことか
ら、迷光によって測距しているものと判断し(ステップ
230)、パルス選択信号S107を論理L(ステップ
240)として光量調整の動作を行い(ステップ25
1)、さらにメイン測距動作に移る(ステップ25
2)。尚、距離Lが1m以上の場合には(ステップ23
0)、前述のように直接測距動作へ移行する(ステップ
252)。
【0079】一方、本発明の他の実施の形態では、迷光
による信号を無視するか否かの判断をプレ測距の計測結
果によらず、視準装置による合焦動作に応じて得られる
リミットスイッチ330からの検出信号により行う。
【0080】図12は、視準装置に連動したリミットス
イッチ330を用いた場合の測定フローチャート図を示
す。図11のプレ測距による測定フローチャートとほぼ
同様であるので、対応するステップには同じ符号を付し
説明を省略する。但し、この例は、リミットスイッチ3
30により対象物が遠距離にあるか近距離にあるかを判
断する点で異なる。
【0081】即ち、基準光路による測距(ステップ21
1からステップ213)に先立つ視準工程(ステップ2
70)において、合焦光学系の合焦レンズ306が遠距
離側へ移動することにより、リミットスイッチ330は
対象物が遠距離にあることを検出し(ステップ28
0)、パルス選択信号S107を論理Lとする(ステッ
プ240)。そして、光量調整を行い(ステップ25
1)、さらに測距動作に移る(ステップ252)。もち
ろん、リミットスイッチ330からの信号が無い場合に
は、直接測距動作へ移行するのは、言うまでもない。
【0082】図13は、測距光路で迷光が検出される場
合の受信信号検出手段6の主要部分のタイミングチャー
トを示す。プレ測距による測距値Lが1m未満の場合に
ついて、図9及び図13を参照して詳述する。演算制御
部1内のCPUが、パルス選択信号S107を論理Lに
設定する。これにより、パルス選択信号S107を入力
とした反転回路68の出力信号S107Aは、論理Hと
なる。したがって、AND回路66の出力信号S601
は、その入力信号S107が論理Lであることから、発
光指令信号S102にかかわらず論理Lである。このタ
イミングチャートは、図13(1)から図13(4)に
示されている。
【0083】また、信号S107Aが論理Hであるの
で、AND回路67の出力信号S602は、他方の入力
信号である発光指令信号S102に依存する。さらに、
OR回路65の出力信号S603は、その入力信号S6
01は論理Lであるから、もう一方の入力信号S602
Aに依存する。信号S602Aは、信号S602を所定
の量t1だけ遅延させた信号である。この遅延量は、遅
延手段69によってもたらされる。この信号S603A
がOR回路65を通過し、活性状態信号S603とな
る。
【0084】このように図13(1)のパルス選択信号
S107が論理Lの場合は、図13(3)の発光指令信
号S102が論理Hとなっても、それと同時に活性状態
信号S603は論理Hとならず、遅延手段69による遅
延時間t1後に論理Hとなる。これにより遅延時間t1
中に発生する迷光による信号を無視することができる。
【0085】遅延手段69による遅延量は、測距値Lが
数10mの時に、信号S602Aが、論理Lから論理H
となるタイミングに設定されている。以上のタイミング
チャートは、図13(5)から図13(7)に示されて
いる。
【0086】尚、上記いずれの場合も上記遅延量は、遅
延手段69の構成によっては、CPUによりプログラマ
ブルに設定可能である。これによって設定した遅延量に
応じた距離以内に存在する物体からの反射光が迷光とし
て受光される場合、その影響を排除することができる。
【0087】従って、図13(8)に示すように、迷光
による受信パルス信号S105Xは存在しても、遅延手
段69による遅延により受信信号検出手段6の活性化が
遅れ、受信タイミング信号S106としては検出されな
い。そして、遅延手段69による遅延時間t1後にコン
パレータ62及びコンパレータ61が活性化され、図1
3(13)に示すように、対象物からの反射パルス光に
よる受信パルス信号S105Yに対する受信タイミング
信号S106が検出される。
【0088】このことから、迷光による受信パルス信号
S105Xは時間計測には使用されない。よって、測距
の時間計測において迷光の影響を受けないことになる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、迷光によ
る迷光パルス信号に影響されることなく高精度な測距装
置を提供することができる。
【0089】なお、以上の説明は迷光を受光し易い同軸
型光学系の測距装置を例として説明した。2軸型光学系
の測距装置では、装置自身で発生する迷光を受光するこ
とはないが、対象物以下からの反射光を迷光として受光
することがある。本発明を2軸型光学系の測距装置に適
用すればそのような迷光の影響をなくすことができる。
【0090】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、演算され
た測距値により迷光による受信信号か否かを判断して、
迷光による受信信号であれば、迷光受信時に受信信号検
出手段が非活性の状態になる様に活性化を遅延させてそ
の影響を排除し、再度測距を行う。したがって、迷光の
影響を受けずに高い測定精度を実現しつつ、測距範囲を
増大し、ノンプリズム測定能力の向上を実現できる。
【0091】また、視準光学系を合焦位置に設定すると
同時に対象物が遠距離にある場合を検出し、受信信号検
出手段を活性化するタイミングを遅延させることで、簡
易な構成により迷光による誤測定のない測距を迅速に行
うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態による光波測距装置のブロ
ック図である。
【図2】本発明の実施の形態による光波測距装置の光学
系の構成ブロック図である。
【図3】パルス光を利用した測距方法の説明図である。
【図4】対象物が近距離の場合のタイミングチャート図
である。
【図5】対象物が遠距離の場合のタイミングチャート図
である。
【図6】対象物が遠距離の場合に迷光をマスクした時の
タイミングチャート図である。
【図7】本発明の実施の形態によるプレ測距による概略
フローチャート図である。
【図8】本発明の実施の形態によるリミットスイッチを
用いた概略フローチャート図である。
【図9】本発明の実施の形態による受信信号検出手段の
構成ブロック図である。
【図10】基準光路および測距光路(迷光無し)の場合
のタイミングチャート図である。
【図11】本発明の実施の形態によるプレ測距による測
定フローチャート図である。
【図12】本発明の実施の形態によるリミットスイッチ
を用いた測定フローチャート図である。
【図13】測距光路(迷光有り)の場合のタイミングチ
ャート図である。
【符号の説明】
1 演算制御部 2 信号処理部 3 送光手段 4 受光手段 5 受信信号増幅手段 6 受信信号検出手段 31 半導体レーザ駆動回路 32 半導体レーザ 33 送光光学系 41 受光光学系 42 APD 43 APD駆動回路 330 リミットスイッチ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パルス光を対象物に送光する送光手段と、 前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段と、 前記受光手段による受光時を検出する信号検出手段とを
    有し、 前記送光手段による送光時から前記受光時までの時間を
    計測し、前記対象物までの距離を測距する光波測距装置
    において、 前記測距により求めた距離が所定の値未満の場合、前記
    信号検出手段は、前記受光時の検出を前記送光後所定時
    間以降の受光時のみを検出可能として、再度前記測距を
    行うことを特徴とする光波測距装置。
  2. 【請求項2】パルス光を対象物に送光する送光手段と、 前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段と、 前記受光手段による前記受光時を検出する信号検出手段
    とを有し、 前記送光時から前記信号検出手段が検出した前記受光時
    までの時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する
    光波測距装置において、 前記対象物の像を所定の位置に合焦させる光学系を有す
    る視準装置を有し、 該視準装置の光学系の合焦位置に対応する前記対象物ま
    での距離が所定の値以上の場合、前記信号検出手段によ
    る受光時の検出を前記送光後所定時間検出不能として、
    前記測距を行うことを特徴とする光波測距装置。
JP9239873A 1997-09-04 1997-09-04 光波測距装置 Pending JPH1184003A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9239873A JPH1184003A (ja) 1997-09-04 1997-09-04 光波測距装置
EP98940647A EP1012621B1 (en) 1997-09-04 1998-09-01 Distance measuring apparatus using pulse light
DE69804468T DE69804468T2 (de) 1997-09-04 1998-09-01 Puls-licht-entfernungsmessgerät
PCT/JP1998/003890 WO1999012052A1 (en) 1997-09-04 1998-09-01 Distance measuring apparatus using pulse light
US09/518,245 US6226076B1 (en) 1997-09-04 2000-03-03 Distance measuring apparatus using pulse light

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9239873A JPH1184003A (ja) 1997-09-04 1997-09-04 光波測距装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1184003A true JPH1184003A (ja) 1999-03-26

Family

ID=17051158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9239873A Pending JPH1184003A (ja) 1997-09-04 1997-09-04 光波測距装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6226076B1 (ja)
EP (1) EP1012621B1 (ja)
JP (1) JPH1184003A (ja)
DE (1) DE69804468T2 (ja)
WO (1) WO1999012052A1 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326515A (ja) * 1998-05-15 1999-11-26 Nikon Corp 光波測距定装置
JP2002328166A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328168A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328167A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328169A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2005024536A (ja) * 2003-07-01 2005-01-27 Ashu Kogaku Kofun Yugenkoshi 光信号受信方法および装置
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
JP2006105802A (ja) * 2004-10-06 2006-04-20 Topcon Corp 距離測定装置
JP5332103B2 (ja) * 2004-09-15 2013-11-06 三菱電機株式会社 光波レーダ装置
JP2015152485A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 株式会社デンソー 距離測定装置
WO2016076328A1 (ja) * 2014-11-10 2016-05-19 株式会社ニコン 光検出装置、撮像装置、および撮像素子
WO2018101293A1 (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 パイオニア株式会社 計測装置、設定装置、設定方法、修正方法、及びプログラム
WO2023162888A1 (ja) * 2022-02-25 2023-08-31 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光学装置及び測距装置

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19840049C5 (de) 1998-09-02 2007-11-08 Leica Geosystems Ag Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
US7713279B2 (en) * 2000-12-20 2010-05-11 Fox Hollow Technologies, Inc. Method and devices for cutting tissue
JP3752126B2 (ja) * 2000-03-10 2006-03-08 ペンタックス株式会社 Af測距光学系
JP3723721B2 (ja) * 2000-05-09 2005-12-07 ペンタックス株式会社 光波測距儀及びaf機能を有する光波測距儀
JP2001324327A (ja) * 2000-05-12 2001-11-22 Asahi Optical Co Ltd 分岐光学系を用いたaf測量機
JP3881498B2 (ja) * 2000-05-25 2007-02-14 ペンタックス株式会社 光波測距儀
JP3718411B2 (ja) * 2000-05-30 2005-11-24 ペンタックス株式会社 Af測量機
US6469777B2 (en) * 2000-06-12 2002-10-22 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Surveying instrument having an optical distance meter
US6734410B2 (en) * 2000-08-30 2004-05-11 Pentax Precision Co., Ltd. Surveying instrument having an optical distance meter and an autofocus system, and a surveying instrument having a detachable autofocus system
EP1382979B1 (en) * 2001-04-25 2008-03-05 Nikon Corporation Range finder, range finding method, and photoelectric transducing circuit
DE10130763A1 (de) 2001-06-26 2003-01-02 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur optischen Distanzmessung über einen grossen Messbereich
DE10143061A1 (de) * 2001-09-03 2003-03-20 Sick Ag Optoelektronische Entfernungsmeßeinrichtung
DE10149144C1 (de) * 2001-10-05 2003-04-03 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Entfernungsmessung
ITBO20010759A1 (it) * 2001-12-14 2003-06-16 Datasensor Spa Dispositivo misuratore di distanza
DE10239435B4 (de) * 2002-08-28 2005-03-10 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung und Verfahren zur optischen Distanzmessung
HUP0203993A2 (hu) * 2002-11-19 2004-08-30 László Domján Binokuláris videoszemüveg optikai rendszere
US20040231220A1 (en) * 2003-05-23 2004-11-25 Mccormick Patrick Trajectory compensating riflescope
JP5137104B2 (ja) 2007-03-22 2013-02-06 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
US7894044B1 (en) * 2008-03-11 2011-02-22 Oceanit Laboratories, Inc. Laser for coherent LIDAR
WO2010020267A1 (en) 2008-08-20 2010-02-25 Trimble Jena Gmbh Distance-measuring system
JP5690541B2 (ja) * 2010-09-30 2015-03-25 株式会社トプコン 距離測定装置
US10557965B2 (en) * 2016-12-02 2020-02-11 Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas Device, system, and method for detecting human presence
JP7416647B2 (ja) * 2020-03-12 2024-01-17 株式会社トプコン 測量装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4113381A (en) * 1976-11-18 1978-09-12 Hewlett-Packard Company Surveying instrument and method
CH649633A5 (en) * 1979-11-20 1985-05-31 Kern & Co Ag Electro-optical distance measuring instrument
JPS614889Y2 (ja) * 1980-01-09 1986-02-15
CH662187A5 (de) * 1981-09-29 1987-09-15 Kern & Co Ag Verfahren zur elektrooptischen distanzmessung, sowie distanzmessgeraet zur durchfuehrung des verfahrens.
JPS58211677A (ja) * 1982-06-02 1983-12-09 Nissan Motor Co Ltd 光レ−ダ装置
JPS5924397A (ja) 1982-07-31 1984-02-08 松下電工株式会社 赤外線式炎感知器
EP0100387B1 (fr) * 1982-08-04 1986-10-22 SEAT BOURGES Société Anonyme Perfectionnements aux dispositifs optiques de détection de proximité
JPH0321502A (ja) 1989-06-19 1991-01-30 Iseki & Co Ltd 農用車輌の輪間距離調節装置
DE4316348A1 (de) 1993-05-15 1994-11-17 Wild Heerbrugg Ag Vorrichtung zur Distanzmessung

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326515A (ja) * 1998-05-15 1999-11-26 Nikon Corp 光波測距定装置
JP2002328166A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328168A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328167A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2002328169A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Nikon Corp 測距装置および方法
JP2005024536A (ja) * 2003-07-01 2005-01-27 Ashu Kogaku Kofun Yugenkoshi 光信号受信方法および装置
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
JP5332103B2 (ja) * 2004-09-15 2013-11-06 三菱電機株式会社 光波レーダ装置
JP2006105802A (ja) * 2004-10-06 2006-04-20 Topcon Corp 距離測定装置
JP2015152485A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 株式会社デンソー 距離測定装置
WO2016076328A1 (ja) * 2014-11-10 2016-05-19 株式会社ニコン 光検出装置、撮像装置、および撮像素子
JPWO2016076328A1 (ja) * 2014-11-10 2017-07-13 株式会社ニコン 光検出装置、撮像装置、および撮像素子
US10182190B2 (en) 2014-11-10 2019-01-15 Nikon Corporation Light detecting apparatus, image capturing apparatus and image sensor
WO2018101293A1 (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 パイオニア株式会社 計測装置、設定装置、設定方法、修正方法、及びプログラム
JPWO2018101293A1 (ja) * 2016-11-30 2019-10-24 パイオニア株式会社 計測装置、設定装置、設定方法、修正方法、及びプログラム
WO2023162888A1 (ja) * 2022-02-25 2023-08-31 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光学装置及び測距装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO1999012052A1 (en) 1999-03-11
US6226076B1 (en) 2001-05-01
EP1012621B1 (en) 2002-03-27
DE69804468D1 (de) 2002-05-02
EP1012621A1 (en) 2000-06-28
DE69804468T2 (de) 2002-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1184003A (ja) 光波測距装置
JP3940806B2 (ja) 光波測距装置
RU2442107C2 (ru) Устройство для оптического измерения расстояний
US6229598B1 (en) Electro-optic distance measuring apparatus
EP3812700B1 (en) Surveying instrument
JP2022000659A (ja) 計測装置
JP2006105802A (ja) 距離測定装置
US6556283B2 (en) Electronic distance meter
EP3945283B1 (en) Surveying instrument
US6753951B2 (en) Focusing type distance measurement apparatus
JP2007536537A (ja) 目標捕捉装置
JP5154028B2 (ja) 光波距離計
US6501540B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter
EP3957951B1 (en) Surveying instrument
JP2003270346A (ja) パルス信号生成回路および距離測定装置
EP4053588A1 (en) Optical sensing system
RU2246710C1 (ru) Устройство для контроля лазерного дальномера
JPH09297261A (ja) 撮像装置
JP2001159681A (ja) 光波距離計
RU2620767C1 (ru) Лазерный дальномер с сумматором зондирующих пучков излучения
RU2620768C1 (ru) Лазерный дальномер с оптическим сумматором излучения
RU2187072C2 (ru) Оптическая система фазового дальномера
JP3532986B2 (ja) 光波測距装置
JP2000221035A (ja) Af測量機用反射鏡
JPH0735860A (ja) レーザ測遠機

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040722

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060516

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061003