JP2001159681A - 光波距離計 - Google Patents
光波距離計Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光処理が容易で、測定距離精度を落とすこと
無く、また近距離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化
出来、安価で小型軽量の光波距離計を提供する。 【解決手段】 光波距離計において、送光光学系３１と
それに平行に配置した受光光学系３２は非球面レンズで
構成し、送光光学系３１の強度変調した光を平行光線２
にしてターゲットに送光し、この送光光学系３１の平行
光線２より光を取り出して受光光学系３２に送り、上記
送光光学系３１の平行光線２より光を取り出す内部光の
光学系は送光光学系３１において回転する反射板６であ
り、この反射板６を出た内部光は受光光学系３２に配置
したハーフミラー１３を介して受光素子ＡＰＤに入力さ
せ、内部光として基準距離Ｄ0と基準レベルＬ0とを測定
する。
無く、また近距離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化
出来、安価で小型軽量の光波距離計を提供する。 【解決手段】 光波距離計において、送光光学系３１と
それに平行に配置した受光光学系３２は非球面レンズで
構成し、送光光学系３１の強度変調した光を平行光線２
にしてターゲットに送光し、この送光光学系３１の平行
光線２より光を取り出して受光光学系３２に送り、上記
送光光学系３１の平行光線２より光を取り出す内部光の
光学系は送光光学系３１において回転する反射板６であ
り、この反射板６を出た内部光は受光光学系３２に配置
したハーフミラー１３を介して受光素子ＡＰＤに入力さ
せ、内部光として基準距離Ｄ0と基準レベルＬ0とを測定
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光波距離計、更に詳
細には発光素子を特定の周波数で強度変調してターゲッ
トに送光し、ターゲットから反射された受光信号の位相
とターゲットへの送光を遮断して内部光を発生させ、同
一の受光素子で受光下時の位相差を測定して、距離を測
定する光波距離計に関する。
細には発光素子を特定の周波数で強度変調してターゲッ
トに送光し、ターゲットから反射された受光信号の位相
とターゲットへの送光を遮断して内部光を発生させ、同
一の受光素子で受光下時の位相差を測定して、距離を測
定する光波距離計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の装置は図９に概略説明図するよう
に、送光光学系４１と受光光学系４２とは送受光素子４
３，４４，集光レンズ４５，４６およびそれらの光を導
く光ファイバー４７，４８よりなる。送光光学系４１の
光は内部光としてリレー集光レンズ４９，反射ミラー５
０を介して受光光学系４２に送ると共に外部光として反
射プリズム５１，対物レンズ５２でターゲットすなわち
距離を測定する目的物に向かって送られ、その反射光は
同じ対物レンズ５２で集光し、連続的に濃度が変わる可
変型ＮＤフィルター５３でレベルを調整して、受光光学
系４２に送り、両者の位相差で目的物の距離を測定する
ものである。
に、送光光学系４１と受光光学系４２とは送受光素子４
３，４４，集光レンズ４５，４６およびそれらの光を導
く光ファイバー４７，４８よりなる。送光光学系４１の
光は内部光としてリレー集光レンズ４９，反射ミラー５
０を介して受光光学系４２に送ると共に外部光として反
射プリズム５１，対物レンズ５２でターゲットすなわち
距離を測定する目的物に向かって送られ、その反射光は
同じ対物レンズ５２で集光し、連続的に濃度が変わる可
変型ＮＤフィルター５３でレベルを調整して、受光光学
系４２に送り、両者の位相差で目的物の距離を測定する
ものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の技
術は上記送光光学系４１の送信回路と受光光学系４２の
受信回路とは電磁波の誘導を防止するため、離さねばな
らず、また近距離測定時には焦点が大きくずれるので、
それに受光位置を合わせるため光ファイバーを要するの
で、高価になる共に両送光光学系４１と受光光学系４２
の光処理、特にその内部光の角度の調整が面倒で、光フ
ァイバー４７，４８やリレー集光レンズ４９，反射ミラ
ー５０の調整誤差による光量伝達損失は免れず、測定距
離の精度の低下を招く恐れがあった。このため本願発明
者は特願平８−４３１６９号を発明した。
術は上記送光光学系４１の送信回路と受光光学系４２の
受信回路とは電磁波の誘導を防止するため、離さねばな
らず、また近距離測定時には焦点が大きくずれるので、
それに受光位置を合わせるため光ファイバーを要するの
で、高価になる共に両送光光学系４１と受光光学系４２
の光処理、特にその内部光の角度の調整が面倒で、光フ
ァイバー４７，４８やリレー集光レンズ４９，反射ミラ
ー５０の調整誤差による光量伝達損失は免れず、測定距
離の精度の低下を招く恐れがあった。このため本願発明
者は特願平８−４３１６９号を発明した。
【０００４】本発明は、光処理が容易で、測定距離精度
を落とすこと無く、また送光光学系３１とそれに平行に
配置した受光光学系３２は非球面レンズで構成して近距
離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化出来、安価で小
型軽量の光波距離計を提供するものである。
を落とすこと無く、また送光光学系３１とそれに平行に
配置した受光光学系３２は非球面レンズで構成して近距
離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化出来、安価で小
型軽量の光波距離計を提供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は発光素子を特定
の周波数で強度変調してターゲットに送光し、ターゲッ
トから反射された受光信号の位相とターゲットへの送光
を遮断して内部光を発生させ、同一の受光素子で受光し
た時の位相差を測定して、距離を測定する光波距離計に
おいて、送光光学系３１とそれに平行に配置した受光光
学系３２は非球面レンズで構成し、送光光学系３１の強
度変調した光を平行光線２にしてターゲットに送光し、
この送光光学系３１の平行光線２より光を取り出して受
光光学系３２に送り、上記送光光学系３１の平行光線２
より光を取り出す内部光の光学系は送光光学系３１にお
いて回転する反射板６であり、この反射板６を出た内部
光は受光光学系３２に配置したハーフミラー１３を介し
て受光素子ＡＰＤに入力させ、内部光として基準距離Ｄ
0と基準レベルＬ0とを測定することを特徴とする光波距
離計である。
の周波数で強度変調してターゲットに送光し、ターゲッ
トから反射された受光信号の位相とターゲットへの送光
を遮断して内部光を発生させ、同一の受光素子で受光し
た時の位相差を測定して、距離を測定する光波距離計に
おいて、送光光学系３１とそれに平行に配置した受光光
学系３２は非球面レンズで構成し、送光光学系３１の強
度変調した光を平行光線２にしてターゲットに送光し、
この送光光学系３１の平行光線２より光を取り出して受
光光学系３２に送り、上記送光光学系３１の平行光線２
より光を取り出す内部光の光学系は送光光学系３１にお
いて回転する反射板６であり、この反射板６を出た内部
光は受光光学系３２に配置したハーフミラー１３を介し
て受光素子ＡＰＤに入力させ、内部光として基準距離Ｄ
0と基準レベルＬ0とを測定することを特徴とする光波距
離計である。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下図面につき本発明の実施の形
態を詳細に説明する。図１，２は本発明の第１の実施の
形態を示す概略説明図及びブロック図を示すものであ
る。図１（イ）に示すように送光光学系３１の可視光半
導体のレーザーダイオードＬＤより出た光は送光側対物
レンズ１により平行光線２となり、外部光として図示し
ないターゲットすなわち距離を測定する目的物に向かっ
て送られ、その反射光３は受光光学系３２の受光側対物
レンズ４で受光素子ＡＰＤに集光し、電気信号５に変換
される。上記レーザーダイオードＬＤの発光径を小さく
すれば対物レンズ１の径と焦点距離を小さく出来る。対
物レンズ４の径は対物レンズ１の径に比べて出来る限り
大きくする。
態を詳細に説明する。図１，２は本発明の第１の実施の
形態を示す概略説明図及びブロック図を示すものであ
る。図１（イ）に示すように送光光学系３１の可視光半
導体のレーザーダイオードＬＤより出た光は送光側対物
レンズ１により平行光線２となり、外部光として図示し
ないターゲットすなわち距離を測定する目的物に向かっ
て送られ、その反射光３は受光光学系３２の受光側対物
レンズ４で受光素子ＡＰＤに集光し、電気信号５に変換
される。上記レーザーダイオードＬＤの発光径を小さく
すれば対物レンズ１の径と焦点距離を小さく出来る。対
物レンズ４の径は対物レンズ１の径に比べて出来る限り
大きくする。
【０００７】上記送光光学系３１と受光光学系３２とは
平行に配置され、かつ対物レンズ４は図１（ロ）示の非
球面レンズで構成し、この非球面レンズの球面は一部横
方向に延びる平らな面４ａ，４ｂとする。これによって
焦点は横方向に延び、受光素子５は動かすことなく確実
に受光することが出来る。送光光学系３１は受光光学系
３２より後方に配置して両光学系における電気回路の電
波の混入を防止する。送光光学系３１の平行光線２の光
路の一側には内部光を取り出すためシャッター兼用の反
射板６を支点７により光路内に回動すべく設け、この反
射板６はバネ８により光路より外方に弾撥すると共にプ
ランジャー９により光路内に回動する。この反射板６は
拡散板でよい。１０は反射板６の回動を平行光線２の光
路に対し４５°の角度で停止するストッパーである。そ
の反射板６に対向する位置にＮＤフィルター１１，絞り
１２を設け、これらのＮＤフィルター１１，絞り１２に
より上記内部光を基準光量に調整する。上記ＮＤフィル
ター１１，絞り１２に対向する位置に反射光３の光路１
６内の透過率９０％のハーフミラー１３を設け、また反
射光３の光路１６内には受光光量を調整減光させるフィ
ルター１４をモーター１５により回動すべく設け、受光
光量を調整減光させる。この受光光量を調整減光させる
フィルター１４はたとえば連続的に濃度が変わる可変型
ＮＤフィルターである。
平行に配置され、かつ対物レンズ４は図１（ロ）示の非
球面レンズで構成し、この非球面レンズの球面は一部横
方向に延びる平らな面４ａ，４ｂとする。これによって
焦点は横方向に延び、受光素子５は動かすことなく確実
に受光することが出来る。送光光学系３１は受光光学系
３２より後方に配置して両光学系における電気回路の電
波の混入を防止する。送光光学系３１の平行光線２の光
路の一側には内部光を取り出すためシャッター兼用の反
射板６を支点７により光路内に回動すべく設け、この反
射板６はバネ８により光路より外方に弾撥すると共にプ
ランジャー９により光路内に回動する。この反射板６は
拡散板でよい。１０は反射板６の回動を平行光線２の光
路に対し４５°の角度で停止するストッパーである。そ
の反射板６に対向する位置にＮＤフィルター１１，絞り
１２を設け、これらのＮＤフィルター１１，絞り１２に
より上記内部光を基準光量に調整する。上記ＮＤフィル
ター１１，絞り１２に対向する位置に反射光３の光路１
６内の透過率９０％のハーフミラー１３を設け、また反
射光３の光路１６内には受光光量を調整減光させるフィ
ルター１４をモーター１５により回動すべく設け、受光
光量を調整減光させる。この受光光量を調整減光させる
フィルター１４はたとえば連続的に濃度が変わる可変型
ＮＤフィルターである。
【０００８】次に図２示のブロック図につき本発明の動
作を詳細に説明する。発振回路２０の特定の周波数ｆm
でＬＤ変調回路２１はレーザーダイオードＬＤより出る
光を強度変調する。先ず基準距離Ｄ0を測定するため、
プランジャー９により反射板６を平行光線２の光路内に
回動すると、平行光線２は全て反射板６で直角方向に反
射し、内部光２ａとしてＮＤフィルター１１，絞り１２
を通ってハーフミラー１３で更に直角方向に反射して受
光素子ＡＰＤに入射し、電気信号５に変換される。この
入射光量はＮＤフィルター１１と絞り１２ーで基準光量
に調整する。この基準光量は測定距離の精度を決定する
信号光量と雑音光量との比で決定する。この電気信号５
は受信回路２２で、発振回路２０より送られた周波数ｆ
mを整数Ｎで分周した周波数ｆiscで中間周波数ｆifに落
され、位相差測定回路２３で発振回路２０より送られた
同じ周波数の周波数ｆrefと比較され、カウンター２４
で反射光の位相値と内部光の位相値との位相差が測定さ
れ、マイクロコンピュター２５で基準距離Ｄ0と内部光
の基準レベルＬ0が測定される。
作を詳細に説明する。発振回路２０の特定の周波数ｆm
でＬＤ変調回路２１はレーザーダイオードＬＤより出る
光を強度変調する。先ず基準距離Ｄ0を測定するため、
プランジャー９により反射板６を平行光線２の光路内に
回動すると、平行光線２は全て反射板６で直角方向に反
射し、内部光２ａとしてＮＤフィルター１１，絞り１２
を通ってハーフミラー１３で更に直角方向に反射して受
光素子ＡＰＤに入射し、電気信号５に変換される。この
入射光量はＮＤフィルター１１と絞り１２ーで基準光量
に調整する。この基準光量は測定距離の精度を決定する
信号光量と雑音光量との比で決定する。この電気信号５
は受信回路２２で、発振回路２０より送られた周波数ｆ
mを整数Ｎで分周した周波数ｆiscで中間周波数ｆifに落
され、位相差測定回路２３で発振回路２０より送られた
同じ周波数の周波数ｆrefと比較され、カウンター２４
で反射光の位相値と内部光の位相値との位相差が測定さ
れ、マイクロコンピュター２５で基準距離Ｄ0と内部光
の基準レベルＬ0が測定される。
【０００９】次に距離Ｄを測定する。先ずプランジャー
９により反射板６を平行光線２の光路外に回動する。こ
れにより、平行光線２は外部光として図示しない距離を
測定する目的物に向かって送られ、その反射光３は受光
側対物レンズ４で受光素子ＡＰＤに集光する。この電気
信号５は上記の場合と同様にしてマイクロコンピュター
２５に送られ、その電気信号５のレベルＬが上記の基準
距離Ｄ0を測定する場合の電気信号５の基準レベルＬ0と
比較され、その偏差が零になるまでマイクロコンピュタ
ー２５はパルス信号２６をモータードライバー２７に送
り、モーター１５により可変型ＮＤフィルター１４を回
動し、上記の内部光の場合と同じレベルで距離Ｄを測定
する。かくしてＤ−Ｄ0を２で割って実際の目的物との
距離が測定される。これにより信号光量と電子回路で変
化しかつ温度依存性のある信号の位相の狂いは補償され
る。
９により反射板６を平行光線２の光路外に回動する。こ
れにより、平行光線２は外部光として図示しない距離を
測定する目的物に向かって送られ、その反射光３は受光
側対物レンズ４で受光素子ＡＰＤに集光する。この電気
信号５は上記の場合と同様にしてマイクロコンピュター
２５に送られ、その電気信号５のレベルＬが上記の基準
距離Ｄ0を測定する場合の電気信号５の基準レベルＬ0と
比較され、その偏差が零になるまでマイクロコンピュタ
ー２５はパルス信号２６をモータードライバー２７に送
り、モーター１５により可変型ＮＤフィルター１４を回
動し、上記の内部光の場合と同じレベルで距離Ｄを測定
する。かくしてＤ−Ｄ0を２で割って実際の目的物との
距離が測定される。これにより信号光量と電子回路で変
化しかつ温度依存性のある信号の位相の狂いは補償され
る。
【００１０】上記本発明の第１の実施の形態では送光光
学系３１の平行光線２より光を取り出して受光光学系３
２に送っているので、送光光学系３１のレーザーダイオ
ードＬＤと受光光学系３２の受光素子ＡＰＤ間との距離
は自由に設定出来、雑音電波の混入が少ない配置を得る
ことが出来ると共に、従来のような高価な光ファイバー
４７，４８、リレー集光レンズ４９，反射ミラー５０等
が不要となる。
学系３１の平行光線２より光を取り出して受光光学系３
２に送っているので、送光光学系３１のレーザーダイオ
ードＬＤと受光光学系３２の受光素子ＡＰＤ間との距離
は自由に設定出来、雑音電波の混入が少ない配置を得る
ことが出来ると共に、従来のような高価な光ファイバー
４７，４８、リレー集光レンズ４９，反射ミラー５０等
が不要となる。
【００１１】図３，４，５，６，７は本発明の更に具体
的な第２の実施の形態を示すもので第１の実施の形態と
同じ部分は同じ符号を用いて説明する。器体３０の一側
には前記送光側対物レンズ１よりなる送光光学系３１
を、他側には前記受光側対物レンズ４よりなる受光光学
系３２を縦方向で互いに平行に設ける。図５，６示のよ
うに前記器体３０の中央部両側に突設した支柱３３の上
部にはモーター１５の軸３４を横方向に設け、この軸３
４の中央部に設けたウオーム歯３５は縦方向に軸架した
ウオームホイール３６に噛合し、このウオームホイール
３６の軸３７は上記送光光学系３１と受光光学系３２と
の間の位置で、縦方向に設けられる。この軸３７には前
記反射板６を４５°の傾斜角度で支持するアーム３８及
び前記フィルター１４を一体に固定して設ける。図７示
のようにこの反射板６の周方向位置は可変型ＮＤフィル
ター１４の濃い位置より先にあるようにする。この装置
においては支点７，バネ８，プランジャー９は不要であ
る。
的な第２の実施の形態を示すもので第１の実施の形態と
同じ部分は同じ符号を用いて説明する。器体３０の一側
には前記送光側対物レンズ１よりなる送光光学系３１
を、他側には前記受光側対物レンズ４よりなる受光光学
系３２を縦方向で互いに平行に設ける。図５，６示のよ
うに前記器体３０の中央部両側に突設した支柱３３の上
部にはモーター１５の軸３４を横方向に設け、この軸３
４の中央部に設けたウオーム歯３５は縦方向に軸架した
ウオームホイール３６に噛合し、このウオームホイール
３６の軸３７は上記送光光学系３１と受光光学系３２と
の間の位置で、縦方向に設けられる。この軸３７には前
記反射板６を４５°の傾斜角度で支持するアーム３８及
び前記フィルター１４を一体に固定して設ける。図７示
のようにこの反射板６の周方向位置は可変型ＮＤフィル
ター１４の濃い位置より先にあるようにする。この装置
においては支点７，バネ８，プランジャー９は不要であ
る。
【００１２】次に図８示のフローに付き本発明の動作を
詳細に説明する。始めは反射板６は平行光線２の光路内
にあり、ステップＰ1で送光光学系３１のみで電気信号
５のレベルＬ0を内部測定する。次にステップＰ2で送光
光学系３１のみで基準距離Ｄ 0を内部測定する。 次にス
テップＰ3で基準レベルＬ0と基準距離Ｄ0を記憶する。
次にステップＰ4でモーター１５を回動する。これによ
って反射板６は平行光線２の光路内より脱出し、自動的
に受光光学系３２による外部測定に切り替わる。次にス
テップＰ5で基準レベルＬ0とレベルＬとが比較され、ス
テップＰ6で両者は一致し、モーター１５を停止し、ス
テップＰ7で距離Ｄを測定する。次にステップＰ8でＤ−
Ｄ0を２で割って実際の目的物との距離が測定される。
詳細に説明する。始めは反射板６は平行光線２の光路内
にあり、ステップＰ1で送光光学系３１のみで電気信号
５のレベルＬ0を内部測定する。次にステップＰ2で送光
光学系３１のみで基準距離Ｄ 0を内部測定する。 次にス
テップＰ3で基準レベルＬ0と基準距離Ｄ0を記憶する。
次にステップＰ4でモーター１５を回動する。これによ
って反射板６は平行光線２の光路内より脱出し、自動的
に受光光学系３２による外部測定に切り替わる。次にス
テップＰ5で基準レベルＬ0とレベルＬとが比較され、ス
テップＰ6で両者は一致し、モーター１５を停止し、ス
テップＰ7で距離Ｄを測定する。次にステップＰ8でＤ−
Ｄ0を２で割って実際の目的物との距離が測定される。
【００１３】
【発明の効果】以上のように本発明によれば光ファイバ
ーを要しないので、安価であると共に送光光学系３１は
平行光の光路より光を取り出しているので、光処理が容
易となり、測定距離精度を落とすこと無く、また送光光
学系３１とそれに平行に配置した受光光学系３２は非球
面レンズで構成して光ファイバーを用いることなく近距
離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化出来、安価で小
型，軽量の光波距離計を提供できるものである。
ーを要しないので、安価であると共に送光光学系３１は
平行光の光路より光を取り出しているので、光処理が容
易となり、測定距離精度を落とすこと無く、また送光光
学系３１とそれに平行に配置した受光光学系３２は非球
面レンズで構成して光ファイバーを用いることなく近距
離測定を可能ならしめ、光学系を簡素化出来、安価で小
型，軽量の光波距離計を提供できるものである。
【図１】（イ）は本発明の第１の実施の形態を示す概略
説明図及びブロック図、（ロ）は非球面レンズを示すも
のである。
説明図及びブロック図、（ロ）は非球面レンズを示すも
のである。
【図２】その第１の実施の形態のブロック図を示すもの
である。
である。
【図３】本発明の第２の実施の形態の概略を示す一部断
面を示す平面図である。
面を示す平面図である。
【図４】図３のＡ−Ａ線に沿った半断面縦面図である。
【図５】図３のＢ−Ｂ線に沿った横断面図である。
【図６】図３のＣ−Ｃ線に沿った拡大縦断面図である。
【図７】図３のＤ−Ｄ線に沿った断面図である。
【図８】本発明の動作のフロー図である。
【図９】従来の装置の概略説明図である。
３１ 送光光学系 ３２ 受光光学系 ２ 平行光線 Ｄ0 基準距離 Ｌ0 基準レベル ６ 反射板 ＡＰＤ 受光素子 ５ 電気信号 １３ ハーフミラー １４ 受光光量を調整減光させるフィルター
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA06 FF31 GG04 JJ01 QQ51 2F112 AD01 5J084 AA05 AD02 BA04 BA32 BB02 BB20 BB24 BB35 CA03 CA31 CA53 EA31
Claims (1)
- 【請求項１】 発光素子を特定の周波数で強度変調して
ターゲットに送光し、ターゲットから反射された受光信
号の位相とターゲットへの送光を遮断して内部光を発生
させ、同一の受光素子で受光した時の位相差を測定し
て、距離を測定する光波距離計において、送光光学系
（３１）と、それに平行に配置した受光光学系（３２）
は非球面レンズで構成し、送光光学系（３１）の強度変
調した光を平行光線（２）にしてターゲットに送光し、
この送光光学系（３１）の平行光線（２）より光を取り
出して受光光学系（３２）に送り、上記送光光学系（３
１）の平行光線（２）より光を取り出す内部光の光学系
は送光光学系（３１）において回転する反射板（６）で
あり、この反射板（６）を出た内部光は受光光学系（３
２）に配置したハーフミラー（１３）を介して受光素子
（ＡＰＤ）に入力させ、内部光として基準距離（Ｄ0）
と基準レベル（Ｌ0）とを測定することを特徴とする光
波距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34250699A JP2001159681A (ja) | 1999-12-01 | 1999-12-01 | 光波距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34250699A JP2001159681A (ja) | 1999-12-01 | 1999-12-01 | 光波距離計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001159681A true JP2001159681A (ja) | 2001-06-12 |
Family
ID=18354282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34250699A Withdrawn JP2001159681A (ja) | 1999-12-01 | 1999-12-01 | 光波距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001159681A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101382476B1 (ko) | 2012-02-20 | 2014-04-08 | (주)마이크로인피니티 | 거리 측정 장치 |
| EP2963441A1 (en) | 2014-07-02 | 2016-01-06 | Funai Electric Co., Ltd. | Laser rangefinder and method of measuring distance and direction |
| JP2017015730A (ja) * | 2016-09-20 | 2017-01-19 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
| WO2018151226A1 (ja) * | 2017-02-15 | 2018-08-23 | パイオニア株式会社 | 光走査装置及び制御方法 |
-
1999
- 1999-12-01 JP JP34250699A patent/JP2001159681A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101382476B1 (ko) | 2012-02-20 | 2014-04-08 | (주)마이크로인피니티 | 거리 측정 장치 |
| EP2963441A1 (en) | 2014-07-02 | 2016-01-06 | Funai Electric Co., Ltd. | Laser rangefinder and method of measuring distance and direction |
| US9958546B2 (en) | 2014-07-02 | 2018-05-01 | Funai Electric Co., Ltd. | Laser rangefinder and method of measuring distance and direction |
| JP2017015730A (ja) * | 2016-09-20 | 2017-01-19 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
| WO2018151226A1 (ja) * | 2017-02-15 | 2018-08-23 | パイオニア株式会社 | 光走査装置及び制御方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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