JP2006105802A - 距離測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
機械的な光路切替えを無くし、測距光の受光信号と内部参照光の受光信号との電気的な分別を可能とし、高速での測距を可能としドリフトの影響を無くして測定精度を向上させ、又測距光の受光信号と内部参照光の受光信号との分別の態様を変更可能とすることで、測定の一層の高速化、更に不要対象物による誤測定の防止等を可能とする。
【解決手段】
測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光回路に於ける受光素子９によって受光検出し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、前記受光回路４０が非検出状態を形成し、該非検出状態が内部光の受光タイミングの前又は後に形成される。
【選択図】 図４

Description

本発明は光波測距部を具備する距離測定装置に関するものである。

距離測定装置に具備される光波測距部として、例えば特許文献１に示されるものがある。

図８中、１は光波測距部を示し、該光波測距部１は光学系２、測距演算部３を具備している。

前記光学系２は、測距光路４と内部参照光路５とを有し、前記測距光路４上にはレーザ光源６、直角反射鏡７、対物レンズ８、受光素子９が配設され、前記レーザ光源６は、例えばパルスレーザダイオード（ＰＬＤ）であり、該レーザ光源６からはパルスレーザ光線である測距光が発せられ、測距光は前記直角反射鏡７で偏向され、前記対物レンズ８を透して前記光波測距部１から射出される。射出された測距光は、測定対象物１１であるプリズムで反射され、反射測距光は前記対物レンズ８を介して入射され、前記直角反射鏡７で偏向されて前記受光素子９で受光される。

又、前記測距光路４にはハーフミラー１２が配設され、該ハーフミラー１２によって測距光の一部が内部参照光として反射され、該内部参照光は反射鏡１３によって偏向され、前記内部参照光路５が形成される。該内部参照光路５にはリレーレンズ１４，１５が設けられ、該リレーレンズ１５を透過した内部参照光５は反射鏡１６によって偏向され、前記測距光路４上に設けられたハーフミラー１７によって前記測距光路４上に反射され、前記受光素子９に受光される様になっている。

前記測距光路４の往路部分と前記内部参照光路５とに掛渡って光路切替え装置１８が設けられ、前記測距光路４の復路部分と前記内部参照光路５に掛渡って光量調整装置１９が設けられている。

前記光路切替え装置１８は、前記測距光路４、前記内部参照光路５の一方光路が透過する場合は、他方の光路を遮る回転遮光板２１を具備し、該回転遮光板２１はモータ等のアクチュエータ２２によって回転される様になっている。又、前記光量調整装置１９は光量減衰フィルタ２３を具備し、該光量減衰フィルタ２３はモータ等のアクチュエータ２４によって回転され、前記受光素子９に入射する測距光と内部参照光との光強度が同等となる様光量が調整される様になっている。

前記受光素子９により受光された測距光、内部参照光は受光信号として前記測距演算部３に送出される。

前記光路切替え装置１８によって光路が切替えられることで、前記受光素子９には時系列に分割された測距光と内部参照光とが交互に入射し、前記受光素子９からは測距光の受光信号と内部参照光の受光信号が交互に前記測距演算部３に送出される。該測距演算部３では、測距光のパルスと内部参照光のパルスとを比較してずれを演算し、得られたずれを基に前記測定対象物１１迄の距離を演算する様になっている。

上記した従来の距離測定装置の光波測距部１では、測距光と内部参照光との切替えを前記回転遮光板２１によって機械的に切替えており、例えば１秒間毎に光路を切替え、１秒間測距光を受光し、次の１秒間を内部参照光を受光していた。機械的に光路を切替える場合は、モータの応答性等限度があり、高速での切替えが難しく、前記測距演算部３の回路部が持つドリフトの影響を無視できないという問題があり、ドリフトは測距精度に影響を及すという問題があった。

更に、切替え途中では測距光、内部参照光共に受光しないデッドタイムも存在し、有効測定時間が短くなり、高速で切替えた全体の測定時間を短くすると、測定データの取得が少なくなるという問題も有していた。

特開２００４−１４４６８１号公報

本発明は斯かる実情に鑑み、機械的な光路切替えを無くし、測距光の受光信号と内部参照光の受光信号との電気的な分別を可能とし、高速での測距を可能としドリフトの影響を無くして測定精度を向上させ、又測距光の受光信号と内部参照光の受光信号との分別の態様を変更可能とすることで、測定の一層の高速化、更に不要対象物による誤測定の防止等を可能とする距離測定装置を提供するものである。

本発明は、測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光回路に於ける受光素子によって受光検出し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、前記受光回路が非検出状態を形成し、該非検出状態が内部光の受光タイミングの前又は後に形成される距離測定装置に係るものである。

又本発明は、測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、発光命令に基づきパルスレーザ光線を射出するレーザ光源と、外部光と内部光を受光可能な受光素子と、外部光と内部光とが同時に該受光素子に入射する様にした光学系と、前記受光素子の受光状態を制御する受光制御部と、前記発光命令に基づきレディ信号を発する発光受光タイミング制御部とを具備し、前記受光制御部はレディ信号に基づき前記受光素子がレディ信号以降に入射する最初のパルスレーザ光線を受光可能とし、前記発光受光タイミング制御部は前記受光素子が内部光を受光する時間の前又は後にレディ信号を発生する様構成された距離測定装置に係り、又前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前と後に交互に発せられる距離測定装置に係り、更に又前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前に発せられるレディ信号に対して後に発せられるレディ信号を多くした距離測定装置に係るものである。

本発明によれば、測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光回路に於ける受光素子によって受光検出し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、前記受光回路が非検出状態を形成し、該非検出状態が内部光の受光タイミングの前又は後に形成されるので、内部光の受光と外部光の受光が電気的に高速で切替えられ、切替え途中でのデッドタイムが無くなり、測定効率が向上し、短時間で高精度の測定が可能となり、測定時間の短縮で測距部のドリフトの影響を排除でき、測定精度、信頼性を向上させることができる。

又、本発明によれば、測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、発光命令に基づきパルスレーザ光線を射出するレーザ光源と、外部光と内部光を受光可能な受光素子と、外部光と内部光とが同時に該受光素子に入射する様にした光学系と、前記受光素子の受光状態を制御する受光制御部と、前記発光命令に基づきレディ信号を発する発光受光タイミング制御部とを具備し、前記受光制御部はレディ信号に基づき前記受光素子がレディ信号以降に入射する最初のパルスレーザ光線を受光可能とし、前記発光受光タイミング制御部は前記受光素子が内部光を受光する時間の前又は後にレディ信号を発生する様構成されたので、内部光の受光と外部光の受光が電気的に高速で切替えられ、切替え途中でのデッドタイムが無くなり、測定効率が向上し、短時間で高精度の測定が可能となり、測定時間の短縮で測距部のドリフトの影響を排除でき、測定精度、信頼性を向上させることができる。

本発明によれば、前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前と後に交互に発せられ、或は前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前に発せられるレディ信号に対して後に発せられるレディ信号を多くしたので、測定状況に応じた外部光の受光回数の調整で所定時間での測定精度の向上、測定時間の短縮等効率のよい測定作業が実現できる。

以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。

図１は本発明が実施される距離測定装置の一例を示している。

三脚（図示せず）に取付けられる基台部２５に架台２６が設けられ、該架台２６には光学系を含む望遠鏡部２７が支持されている。前記基台部２５は整準螺子３０を有し、前記架台２６が水平となる様に整準可能となっている。又、該架台２６は鉛直軸心を中心に回転可能であり、前記望遠鏡部２７は水平軸心を中心に回転可能となっている。又、前記架台２６には表示部２８を有する操作入力部２９が設けられ、前記表示部２８には測定対象物迄の距離の測定値等が表示される。

次に、図２に於いて、距離測定装置の概略の構成について説明する。

距離測定装置は制御演算部３１、測距部３２、測角部３３、合焦部３４を具備し、前記制御演算部３１には記憶部３５、データ入出力部３６、前記操作入力部２９、前記表示部２８が接続されている。

前記測距部３２はレーザ光源６を駆動制御し、該レーザ光源６から射出された測距光は光学系３７を介してプリズム即ち測定対象物１１に照射され、該測定対象物１１により反射された反射測距光は光学系３７を介して受光素子９に受光され、受光信号が前記測距部３２に入力され、該測距部３２に於いて前記測定対象物１１迄の距離が演算され、演算結果は前記制御演算部３１に入力される。

前記測角部３３には前記望遠鏡部２７の傾斜角を検出する鉛直角エンコーダ３８からの検出信号が入力されると共に前記架台２６の回転角を検出する水平角エンコーダ３９からの検出信号が入力され、前記望遠鏡部２７で前記測定対象物１１を視準した状態での視準方向の角度が測定され、測定結果は前記制御演算部３１に入力される。

又、前記合焦部３４は前記望遠鏡部２７の自動焦点合わせを行うが、合焦作動は前記制御演算部３１により制御され、合焦状態は該制御演算部３１にフィードバックされる。前記記憶部３５には測距作業に必要なシーケンスプログラム、距離演算プログラム等が格納されている。

前記制御演算部３１は距離測定装置全体の制御を行うと共に、前記測距部３２からの測距結果、前記測角部３３からの鉛直角、水平角の測角の結果を前記表示部２８に表示する。

図３は本実施の形態に於ける光学系３７を示している。図３中、図８中で示したものと同等のものには同符号を付してある。

本実施の形態の光学系３７と、図８で説明した光学系２とは略同等な構成を有し、前記光学系３７では光路切替え装置１８が省略されている。従って、受光素子９には測距光、内部参照光が同時に入射しているが、該受光素子９は前記測距部３２が有する受光回路４０によって電気的に検出状態が制限され、測距光、内部参照光とを分別して検出する様に制御され、前記受光素子９からは測距光の受光信号、内部参照光の受光信号が分別されて出力される様になっている。

前記受光回路４０について、図４により説明する。

発信器４１からのクロック信号は、シンセサイザ４２によって所定周波数、例えば８０００Ｈｚ〜９０００Ｈｚのパルス列信号に変換して出力され、パルス信号はＬＤドライバ４３に送出される。該ＬＤドライバ４３には後述する発光受光タイミング制御部４７からの発光タイミング制御信号５３が入力される様になっており、前記ＬＤドライバ４３は前記発光タイミング制御信号５３が入力されると前記パルス信号に同期して前記レーザ光源６を駆動し、該レーザ光源６からはパルスレーザ光線が発せられる様になっている。

又、前記発信器４１からのクロック信号はサンプルホールド回路４５に送出されている。該サンプルホールド回路４５に於いてサンプリングされたデータはＡ／Ｄ変換器４６でデジタルデータに変換された後、前記発光受光タイミング制御部４７に送出される様になっている。

該発光受光タイミング制御部４７からは前記発光タイミング制御信号５３と共にリセット信号５５、レディ信号５６（後述）が送出され、該リセット信号５５、レディ信号５６は受光制御回路４８に入力される。該受光制御回路４８は前記リセット信号５５、レディ信号５６に基づき、前記受光素子９の受光状態を制御する。

該受光素子９としては、例えばＡＰＤ（アバランシェ・フォト・ダイオード）が用いられ、前記受光制御回路４８は前記受光素子９からの受光信号の検出を制御するものであり、前記受光制御回路４８は受光制御信号５４を発し、前記レディ信号５６が入力された後の、最初のパルスレーザ光線を受光する様に前記受光素子９からの受光信号の検出を制御している。又、前記リセット信号５５に対して前記レディ信号５６は２種類の時間差Ｔ1 ，Ｔ2 （Ｔ2 ＞Ｔ1 ）（図６参照）で入力され、時間差Ｔ1 で前記レディ信号５６が入力されると、内部参照光が受光され、時間差Ｔ2 で前記レディ信号５６が入力されると測距光が受光される様になっている。

前記受光素子９からの受光信号は増幅器４９により増幅され、受信信号発生器５１に入力される。該受信信号発生器５１は増幅された信号の強度が所定レベルを越えているかどうか、即ち前記測定対象物１１からの反射測距光であるかどうかが判断され、反射測距光であると判断すると、受信信号を前記サンプルホールド回路４５及びカウンタ５２に発する。

前記サンプルホールド回路４５は、前記受信信号発生器５１からの受信信号と同期してデータをサンプリングする。又、前記カウンタ５２は受信信号をカウントし、カウント数が所定値となった場合に、前記制御演算部３１にカウント信号を出力する。該制御演算部３１はカウント信号を検知すると、前記発光受光タイミング制御部４７にパルスカウント信号５７を発する。

前記発光受光タイミング制御部４７は前記パルスカウント信号５７の入力によって、前記発光タイミング制御信号５３、リセット信号５５、レディ信号５６を選別して出力する。

前記制御演算部３１には前記発光受光タイミング制御部４７を介して、受光信号のサンプリングデータが入力され、サンプリングデータを基に前記測定対象物１１迄の距離を演算し測距結果として前記表示部２８に表示する。

前記発光受光タイミング制御部４７について、図５により更に説明する。

該発光受光タイミング制御部４７は発光タイミング回路６０を有し、該発光タイミング回路６０は前記発信器４１から発せられるクロック信号に同期したタイミング信号を発し、前記発光タイミング回路６０からのタイミング信号はリセット信号発生器６４、第１タイマ６２、第２タイマ６３に発せられる。

前記リセット信号発生器６４はタイミング信号が入力されると前記リセット信号５５を発し、前記第１タイマ６２はタイミング信号が入力されるとｔ1 の時間差（図６参照）で第１時差信号をレディ信号発生器６５に入力し、又前記第２タイマ６３はタイミング信号が入力されるとｔ2 （ｔ2 ＞ＴR ）の時間差（図６参照）で第２時差信号を前記レディ信号発生器６５に入力する。該レディ信号発生器６５は、制御回路６７からの指令により第１時差信号又は第２時差信号に同期して前記レディ信号５６を発する様になっている。

前記発光タイミング回路６０からのタイミング信号は、受光モード設定器６６にも入力される。該受光モード設定器６６は、前記レディ信号５６の切替えモードを設定するものであり、例えば第１時差信号と第２時差信号に交互に同期して前記レディ信号５６が発せられる様に設定する。或は、１回の第１時差信号に同期した前記レディ信号５６が発せられると次には１００回分の第２時差信号に同期した前記レディ信号５６が発せられる等に設定する。

前記制御回路６７は前記受光モード設定器６６に設定されたモードに従って前記レディ信号発生器６５の前記レディ信号５６の出力を制御する。

図６を参照して作用を説明する。

前記発信器４１からのクロック信号を基に、前記ＬＤドライバ４３から前記レーザ光源６に対して発光命令が発せられ、該レーザ光源６が発光する。前記クロック信号は例えば８．５ｋＨｚ（略１２０μｓ）の周期で発せられ、距離測定装置の測距距離はクロック信号の周期内に反射測距光を受光する範囲と設定される。

前記レーザ光源６からはパルスレーザ光線が８．５ｋＨｚで射出され、射出されるパルスレーザ光線は、例えば発光命令からｄｔの遅れでピークを有する。

パルスレーザ光線が射出されると、先ず前記内部参照光路５を経て前記受光素子９には内部参照光（以下内部光）がパルスレーザ光線のピークよりＴR の遅れで入射し、次に前記測定対象物１１からの反射測距光（以下外部光）がパルスレーザ光線のピークよりＴS の遅れで入射し、前記受光素子９からは、図６（Ｂ）で示される様に内部光と外部光の受光信号が発せられる。

前記発信器４１からのクロック信号は、前記発光受光タイミング制御部４７にも入力されており、前記発光タイミング回路６０からは前記クロック信号に基づきタイミング信号が発せられる。前記リセット信号発生器６４はタイミング信号が入力されると、前記クロック信号の周期の、例えば３／４時点で前記リセット信号５５を発し、該リセット信号５５は前記受光制御回路４８に送出される。

又、前記第１タイマ６２はタイミング信号が入力されると、発光命令からｔ1 だけ遅れた第１時差信号を前記レディ信号発生器６５に発し、前記第２タイマ６３は発光命令からｔ2 だけ遅れた第２時差信号を前記レディ信号発生器６５に発する。

前記受光モード設定器６６には予め受光信号の検出モードが設定されており、即ち前記受光素子９からの内部光受光信号と外部光受光信号とをどの様な状態で検出するかが設定されており、例えば受光回路４０に於いて、前記受光素子９からの内部光受光信号と外部光受光信号とを交互に検出する様に設定された場合、前記受光モード設定器６６は前記発光タイミング回路６０から送出されるタイミング信号毎に前記制御回路６７に切替え信号を発する。該制御回路６７は切替え信号毎に前記レディ信号発生器６５から発せられる前記レディ信号５６の発せられるタイミングが、第１時差信号又は第２時差信号に基づくものであるかを制御する。

例えば、第１時差信号に基づくレディ信号５６inが前記受光制御回路４８に入力されると、該受光制御回路４８は前記レディ信号５６in以降（発光命令からｔ1 の時間経過以降）で前記受光素子９からの検出を可能とする。尚、前記ｔ1 の値は、ｔ1 ＜ｄｔに設定されている（図６（Ｃ）参照）。又、前記受光制御回路４８は前記受光素子９からの受光信号を前記レディ信号５６in以降最初の信号のみを検出できる様に制御している。従って、前記受光素子９は１つのパルスレーザ光線に対して１つの内部光のみを受光可能である。１つの内部光のみを受光した後は、前記リセット信号５５に基づき、前記受光素子９の状態がリセットされ、更に前記レディ信号５６inに基づきレディ状態とされることで、前記受光素子９は再び受光可能となる（図６（Ｃ）参照）。

而して、前記リセット信号５５が前記受光制御回路４８に入力された時点から前記レディ信号５６が前記受光制御回路４８に入力される迄の間は、前記受光素子９の受光について電気的なマスクが掛けられた状態と同等となり、内部光と外部光の分別が可能となる。又、電気的なマスクが掛けられる時間は後述する様に、前記レディ信号５６を発する時間を変更することで調整が可能である。

次に、第２時差信号に基づくレディ信号５６out が前記受光制御回路４８に入力されると、該受光制御回路４８は前記レディ信号５６out 以降（発光命令からｔ2 の時間経過以降）で前記受光素子９の受光信号の検出を可能とする。尚、前記ｔ2 の値は、ＴR ＜ｔ2 に設定されている（図６（Ｄ）参照）。尚、前記内部参照光路５の光路長は物理的構成に既知であり、前記ＴR の値は既知であり、前記ｔ2 は事前に設定可能である。前記受光素子９は発光命令からレディ信号５６out 迄はリセット状態であり、受光することはできない。従って、該レディ信号５６out より前に前記受光素子９に入射する内部光は検出されず、検出信号も発せられない。前記レディ信号５６out より後に入射する外部光のみが受光され、外部光についての受光信号が検出される（図６（Ｄ）参照）。

前記発光受光タイミング制御部４７から前記レディ信号５６in、レディ信号５６out が交互に、又併せて前記リセット信号５５が出力された場合の受光検出状態が、（図６（Ｅ）参照）に示される。前記レディ信号５６in、レディ信号５６out が交互に前記受光制御回路４８に入力されることで、前記受光素子９は内部光と外部光とを交互に分別して受光することが可能となる。

内部光の検出信号と外部光の検出信号との時間差を求めることで、前記測定対象物１１迄の距離を測定することができる。

上記した様に、内部光の受光と外部光の受光状態の切替えを電気的に行うので、１パルスレーザ光線毎の高速切替えが可能となり、切替え途中でのデッドタイムが無くなり、有効測定時間が長くなり、測定時間を短縮することができる。このことから、測距演算部の回路部が持つドリフトの影響を排除することが可能となり、測距精度を向上させることができる。

又、外部光のＳ／Ｎ比、内部光のＳ／Ｎ比を考慮すると、内部光は外乱の影響が少なく、内部光のＳ／Ｎ比は充分大きい。一方、外部光は外乱を受け易く、外部光のＳ／Ｎ比は内部光のＳ／Ｎ比に比べて小さい。従って、同一の測定時間では、内部光のデータより外部光のデータをより多く取得する方が測定の平均効果が大きく、測定精度が向上する。

上記した様に、例えば、前記受光モード設定器６６で、１回の第１時差信号に同期したレディ信号５６inが発せられると次には１００回分の第２時差信号に同期したレディ信号５６out が発せられる等に設定すると、従来と同一の測定時間とすると、データ取得量が大幅に増大し、測距精度が向上する。又、短時間で同等のデータ量が取得できるので、測距精度を低下させることなく、短時間で測定が可能となる。

測定時間が短縮される結果、従来不適当とされていた高速移動体の測距が可能となる。

図７は第２の実施の形態を示すものである。

該第２の実施の形態では、前記第２タイマ６３の時間差ｔ2 の値を前記制御演算部３１で可変とし、又前記制御回路６７による前記第１タイマ６２、前記第２タイマ６３からの時差信号に基づくレディ信号５６in、レディ信号５６out の切替えを可変としたものである。

前記第２タイマ６３の時間差ｔ2 の値を前記制御演算部３１で可変とする場合について説明する。

図２で示される様に、前記制御演算部３１には前記合焦部３４からの合焦状態のフィードバック信号が入力されている。合焦状態のフィードバック信号としては、例えば合焦レンズの位置をリニアセンサ等で検出し、フィードバック信号とする。フィードバック信号に基づき視準している測定対象物１１迄の距離の概算が前記制御演算部３１により演算され、更に演算された距離に基づき前記時間差ｔ2 が演算される。前記制御演算部３１は前記時間差ｔ2 に基づく制御信号を前記制御回路６７に発し、該制御回路６７は前記時間差ｔ2 となる様なレディ信号５６out を発する。前記時間差ｔ2 のレディ信号５６out で前記受光素子９からの受光信号の検出が制限されることで、前記時間差ｔ2 に入射する外部光が検出されなくなる。即ち、前記測定対象物１１より前に存在する不要反射体からの反射光をカットすることが可能となる。

例えば、前記測定対象物１１と距離測定装置との間に金網、木立が存在したり、或は透明ガラスを透して該測定対象物１１迄の距離を測定しなければならない様な場合に、測定が安定すると共に測定精度が向上する。

勿論、合焦状態のフィードバック信号によらず、前記操作入力部２９から前記制御演算部３１を介して手動でレディ信号５６out の時間差ｔ2 を変更してもよい。

又、前記制御演算部３１により受光モードの設定、変更を行う様にしてもよい。例えば、外気の状態が不安定な場合、内部光の受光回数は変えないで、外部光の受光回数を多くし、平均効果を上げる。或は、精度を要求されない場合の測定ではデータの取得量を減少させる等である。

本発明が実施される距離測定装置の一例を示す正面図である。 本発明の実施の形態の概略を示すブロック図である。 該実施の形態に於ける光学系の概略構成図である。 該実施の形態の受光回路のブロック図である。 該実施の形態の測距部が有する発光受光タイミング制御部のブロック図である。 （Ａ）はレーザ光源の発光状態を示す図、（Ｂ）は受光素子の受光状態を示す図、（Ｃ）（Ｄ）は受光素子での内部光、外部光の受光タイミングを示す図、（Ｅ）は測定時の受光素子の受光タイミングを示す図である。 第２の実施の形態に於ける発光受光タイミング制御部のブロック図である。 従来の光学系を示す概略構成図である。

符号の説明

４ 測距光路
５ 内部参照光路
６ レーザ光源
９ 受光素子
１１ 測定対象物
３１ 制御演算部
３２ 測距部
４１ 発信器
４７ 発光受光タイミング制御部
５１ 受信信号発生器
５５ リセット信号
５６ レディ信号
６０ 発光タイミング回路
６４ リセット信号発生器
６５ レディ信号発生器
６６ 受光モード設定器

Claims (4)

1. 測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光回路に於ける受光素子によって受光検出し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、前記受光回路が非検出状態を形成し、該非検出状態が内部光の受光タイミングの前又は後に形成されることを特徴とする距離測定装置。
2. 測定対象物にパルスレーザ光線を照射し、測定対象物で反射された外部光と内部光とを受光し、外部光と内部光との受光に基づき測距を行う距離測定装置に於いて、発光命令に基づきパルスレーザ光線を射出するレーザ光源と、外部光と内部光を受光可能な受光素子と、外部光と内部光とが同時に該受光素子に入射する様にした光学系と、前記受光素子の受光状態を制御する受光制御部と、前記発光命令に基づきレディ信号を発する発光受光タイミング制御部とを具備し、前記受光制御部はレディ信号に基づき前記受光素子がレディ信号以降に入射する最初のパルスレーザ光線を受光可能とし、前記発光受光タイミング制御部は前記受光素子が内部光を受光する時間の前又は後にレディ信号を発生する様構成されたことを特徴とする距離測定装置。
3. 前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前と後に交互に発せられる請求項２の距離測定装置。
4. 前記レディ信号は前記受光素子が内部光を受光する時間の前に発せられるレディ信号に対して後に発せられるレディ信号を多くした請求項２の距離測定装置。

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