JP5150329B2 - 測量装置及び測量システム - Google Patents

測量装置及び測量システム Download PDF

Info

Publication number
JP5150329B2
JP5150329B2 JP2008081312A JP2008081312A JP5150329B2 JP 5150329 B2 JP5150329 B2 JP 5150329B2 JP 2008081312 A JP2008081312 A JP 2008081312A JP 2008081312 A JP2008081312 A JP 2008081312A JP 5150329 B2 JP5150329 B2 JP 5150329B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
distance measuring
mirror
unit
measuring light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008081312A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009236601A (ja
JP2009236601A5 (ja
Inventor
邦広 林
文夫 大友
薫 熊谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2008081312A priority Critical patent/JP5150329B2/ja
Priority to US12/383,129 priority patent/US7965383B2/en
Priority to EP09155682.9A priority patent/EP2105706A3/en
Priority to CN2009101283242A priority patent/CN101566473B/zh
Publication of JP2009236601A publication Critical patent/JP2009236601A/ja
Publication of JP2009236601A5 publication Critical patent/JP2009236601A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5150329B2 publication Critical patent/JP5150329B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means
    • G01C15/004Reference lines, planes or sectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/42Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4817Constructional features, e.g. arrangements of optical elements relating to scanning

Description

本発明は、1人又は複数の測量作業者の共同作業により測量を行う場合の測量装置及び測量システムに関するものである。
土木工事、例えば道路工事等に伴う測量では、道路両側位置測定、高低差の測定、道路幅の測定等があり、複数の測定点を並行して測定する為、測量作業は複数人の測量作業者による共同作業となる。
複数の測定点を同時に測定可能とした測量装置として特許文献1に示されるものがある。
特許文献1(特開2006−337302号公報)の測量装置は、少なくとも1つが傾斜した3以上の扇状レーザ光線から成る基準面形成用レーザ光線を回転照射し、基準面を形成すると共に測定対象物側の受光部が複数の扇状レーザ光線を受光する時間差で、仰角を測定し、又測定対象物からの反射レーザ光線を受光し、その時の扇状レーザ光線の照射方向から水平角を測定する。又、前記測量装置は、上下に広がる測距光を回転照射し、測定対象物からの反射測距光を受光して測定対象物迄の光波距離測定を行う。又、測定対象物の高低方向の位置は、仰角と測距距離に基づき演算され、測定対象物の3次元の位置測定が行われる。
前記測量装置は、上下に広がりを有する扇状レーザ光線、測距光を回転照射することで扇状レーザ光線、測距光の照射範囲内に存在する測定対象物、即ち水平方向では全周、高低方向では両レーザ光線の上下の広がりの範囲にある複数の測定対象物を同時に測定(マルチ測定)することができる。
前記測量装置では、上下に広がりを有する測距光を回転照射し、測定対象物からの反射光を受光して光波距離測定を行っているので、測距光の光強度が小さくなり、ノイズ光の影響を受け易くなり、測定精度が低下し易い。更に、測距光を高速で回転しているので、1回の測定時間が短く、平均化する測距データも少ないので、測定精度が高められない。更に、測定精度を高めるには多数回の回転照射が必要となり、測定時間が長くなり、作業性が低下する。
更に、測距光が上下に広がっているので、測距距離が大きくなると、受光強度の低下が大きく、測距可能距離を拡大することができない等の問題を有していた。
尚、高精度で測定点の測定が可能なものとしてトータルステーションがあり、トータルステーションでは追尾機能を有し、例えば測設作業の様に測量作業者が測定対象物(プリズム)を測定点毎に移動し、トータルステーションは測定対象物を追尾して測定点毎に測定を行っている。
追尾機能を有するトータルステーションでは、1人作業(ワンマン測定)が可能であり、高精度の測定が可能であり、又測定作業性も優れているが、多点を同時に測定することができないので、多点を並行して測定することが必要な場合では、著しく作業性が低下する。
尚、少なくとも1つが傾斜した2以上の扇状レーザ光線を回転照射して水平基準面を形成し、前記傾斜した扇状レーザ光線の傾斜角より前記水平基準面に対する仰角を求めることについては、特許文献2に示されている。
特開2006−337302号公報
特開2004−212058号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、多点を同時に測定するマルチ測定が可能であると共に、ワンマン作業を可能にし、更に高精度の測定を可能とする測量装置及び測量システムを提供するものである。
本発明は、測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーと、前記測距光を照射する測距光照射部と、前記高速偏向ミラー及び前記高低回動ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備する測量装置に係るものである。
又本発明は、前記高速偏向ミラーは、前記測距光に高低方向の振幅を与える測量装置に係り、又前記高速偏向ミラーは前記高低回動ミラーの光軸通過部分に設けられ、前記測距光は前記高速偏向ミラーを介して照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される測量装置に係り、又前記高低回動ミラーの一面に、前記高速偏向ミラーを設け、前記高低回動ミラーの他方の面を反射鏡とした測量装置に係り、又前記高低回動ミラーは、該高低回動ミラーに於けるミラー面は前記高速偏向ミラーのミラー面を利用して構成され、該高速偏向ミラーを保持する保持部を駆動する駆動部により前記測距光を測定対象物の方向に偏向する測量装置に係り、又前記測距光照射部は、測距光を回転照射する回動部、イメージローテータ及び該イメージローテータを回動させるイメージローテータ回動部とを有し、前記回動部は前記高速偏向ミラーで反射された前記測距光の偏向方向を測定対象物の方向に向ける様、前記イメージローテータ回動部により調整可能に構成される測量装置に係り、又前記測距光照射部は、測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーを有し、前記高速偏向ミラーは相対向して2つ設けられ、該2つの高速偏向ミラーは反射面の可動方向が異なり、該2つの高速偏向ミラーを経て射出される測距光の偏向方向が前記測定対象物の方向に向く様に調整可能な様に構成された測量装置に係り、又前記測距光は偏向範囲拡大部材を通して高低方向の偏向範囲が拡大されて照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される測量装置に係り、又少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、測定対象物から反射された反射扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、前記扇状ビーム照射部の扇状ビーム照射方向を検出する扇状ビーム照射方向検出部とを更に有し、前記演算制御部は前記扇状ビーム受光部と前記扇状ビーム照射方向検出部からの信号に基づき測定対象物の方向を演算する測量装置に係り、又前記演算制御部は、得られた測定対象物の方向に基づき照射される測距光が前記測定対象物を照射する様、前記高速偏向ミラー、前記回動部を制御する測量装置に係り、更に又前記高速偏向ミラーはMEMSミラーである測量装置に係るものである。
又本発明は、測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーを有し、前記測距光を照射する測距光照射部と、該測距光照射部からの測距光の照射方向を検出する照射方向検出部と、測定対象物からの反射光に基づき測距を行う測距部と、少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、第1通信部と、前記高低回動ミラーと前記高速偏向ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備する測量装置と、前記測距光を反射する反射体と、扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、該扇状ビーム受光部からの信号を前記第1通信部に送信する第2通信部とを有する測量システムに係るものである。
又本発明は、前記高速偏向ミラーは前記高低回動ミラーの光軸通過部分に設けられ、前記測距光は前記高速偏向ミラーを介して照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される測量システムに係り、又前記高低回動ミラーの一面に、前記高速偏向ミラーを設け、前記高低回動ミラーの他方の面を反射鏡とした測量システムに係り、又前記測距光照射部は、測距光を回転照射する回動部、イメージローテータ及び該イメージローテータを回動させるイメージローテータ回動部とを有し、前記高速偏向ミラーで反射された測距光を測定対象物の方向に向ける様前記イメージローテータ回動部により調整可能に構成された測量システムに係り、又前記測距光照射部は、測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーを有し、前記高速偏向ミラーは相対向して2つ設けられ、該2つの高速偏向ミラーは反射面の可動方向が異なり、該2つの高速偏向ミラーを経て射出される測距光の偏向方向が調整可能な様に構成された測量システムに係り、更に又前記測距光は偏向範囲拡大部材を通して高低方向の偏向範囲が拡大されて照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される測量システムに係るものである。
本発明によれば、測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーと、前記測距光を照射する測距光照射部と、前記高速偏向ミラー及び前記高低回動ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備するので、広範囲に複数の測定対象物がある場合は、扇状測距光を回転照射することで複数の測定対象物について同時に測定が可能であり、又測定対象物が1つの場合はスポット光を照射して測定できるので、高精度の測定が可能であり、1台の測量装置により複数の測定対象物に対して広範囲の測定と、高精度の測定が可能であり、更に、扇状測距光はスポット光を振幅して形成する為、光強度の低下はなく遠距離の測定が可能である。
又本発明によれば、少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、測定対象物から反射された反射扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、前記扇状ビーム照射部の扇状ビーム照射方向を検出する扇状ビーム照射方向検出部とを更に有し、前記演算制御部は前記扇状ビーム受光部と前記扇状ビーム照射方向検出部からの信号に基づき測定対象物の方向を演算するので、測定対象物からの反射光が迅速に又確実に得られ、測定作業の能率が向上する。
更に又本発明によれば、測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーを有し、前記測距光を照射する測距光照射部と、該測距光照射部からの測距光の照射方向を検出する照射方向検出部と、測定対象物からの反射光に基づき測距を行う測距部と、少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、第1通信部と、前記高低回動ミラーと前記高速偏向ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備する測量装置と、前記測距光を反射する反射体と、扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、該扇状ビーム受光部からの信号を前記第1通信部に送信する第2通信部とを有するので、前記測量装置と測定対象物間でのデータの授受、測定情報の授受が行え、広範囲での測定が効率よく行えるという優れた効果を発揮する。
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
先ず、図1、図2により本発明の実施の形態に於ける測量システムの概要を説明する。
該測量システムは、測量装置1と少なくとも1つの受光装置7とを具備しており、前記測量装置1と前記受光装置7は通信手段により、相互にデータの授受が可能となっている。
図1は、前記測量装置1と複数の測定対象物2により、マルチ測定を行う場合を示している。
前記測量装置1は、三脚8を介して既知点に設置され、基準面形成用レーザ光線5を定速で回転照射すると共に、測距光6を回転照射可能である。前記測定対象物2は、反射プリズムを含む前記受光装置7、ポール10を有し、前記受光装置7は前記ポール10の既知の高さに設けられている。前記受光装置7は、前記測量装置1から照射されるレーザ光線を受光すると共に前記測量装置1に対してレーザ光線を反射する。
前記測量装置1は、前記受光装置7から反射される前記測距光6を受光することで複数箇所の前記受光装置7迄の距離を測定可能としている。
基準面形成部3は、少なくとも1つが傾斜した2以上の扇状レーザ光線から成る前記基準面形成用レーザ光線5(図中では3つの扇状レーザ光線で構成され光束断面がN字状となっている(以下省略する場合は、N字状扇状ビームと称す))を定速で回転照射して水平基準面を形成する。
前記基準面形成用レーザ光線5を回転照射し、前記受光装置7が2以上の扇状レーザ光線を受光した場合の受光時の時間差を求めることで、該時間差と前記傾斜した扇状レーザ光線の傾斜角より前記測量装置1を中心とした前記水平基準面に対する仰角を求めることができる。又、仰角を基に傾斜基準面の設定が可能である。
測距光照射部4は前記測距光6を回転照射する。該測距光6は小径の略平行光束であるスポット光測距光6bであり、後述の高速偏向ミラー62により高速に高低方向に駆動可能とされる。又、高速に振動されることによって、振幅を与え、実質的に扇状測距光6aを形成することも可能である。
前記扇状測距光6aは、光学的に光束断面を高低方向に拡大する場合と、小径のスポット光を高低方向に所要角度で往復走査した場合が含まれる。
前記扇状測距光6aが照射される場合は、広がりの範囲内にある前記測定対象物2からの反射測距光を受光して、前記測定対象物2迄の距離測定を行う。前記扇状測距光6aが回転照射されることで、複数の前記測定対象物2についての距離測定を同時に行うことができる。又、前記基準面形成用レーザ光線5によって測定された仰角と、前記扇状測距光6aによって測定された距離とで各前記測定対象物2について高さ方向の位置が測定できる。
図2は、ワンマン測定を行う場合を示している。ワンマン測定を行う場合は、前記測距光照射部4からは前記スポット光測距光6bが照射される。
先ず、前記測量装置1から前記基準面形成用レーザ光線5を回転照射する。前記受光装置7は2以上の扇状レーザ光線の受光時間差により仰角を測定し、測定結果が前記測量装置1に送信される。該測量装置1は仰角を受信すると共に前記測定対象物2からの反射光を受光し、受光した時点での角度検出器の値により水平角度を検出する。尚、仰角については、前記測量装置1の前記測定対象物2からの反射光の受光時間差により仰角を演算してもよい。
水平角と、仰角により、前記測量装置1から前記受光装置7の方向が分り、その方向にスポット光測距光6bを射出する。この時の測距光はビーム径が小さく、略平行なレーザ光線となっている。前記スポット光測距光6bが前記受光装置7を照射し、該受光装置7からの反射測距光が前記測量装置1に受光されると、前記基準面形成用レーザ光線5の回転照射は停止され、追尾による測定が開始される。
尚、前記基準面形成用レーザ光線5により前記測定対象物2が検出できなかった場合は、前記扇状測距光6a、又は前記追尾光25を連続発光させ、高低方向に動かしながら回転照射し、前記測定対象物2の探索を行ってもよい。
ワンマン測定では、前記測距光6の径は小さく、光強度は大きいので、ノイズ光の影響は小さく、遠距離迄の距離測定が可能である。又、前記受光装置7を追尾しながらの測定であるので測定時間は充分とれ、測定精度は高い。
上記した様に、本発明では、マルチ測定の場合とワンマン測定の場合で、異なるビーム形状の前記測距光6を選択して照射可能であり、マルチ測定の場合は上下に広がり角を有する前記扇状測距光6aが照射され、ワンマン測定の場合はビーム径が小さく広がりの少ない前記スポット光測距光6bが照射される。
図3〜図7に於いて、本発明の第1の実施の形態を説明する。
前記測量装置1は、整準部11及び該整準部11を介して三脚8(図2参照)に取付けられる本体部12、該本体部12に回転自在に設けられた回動部13から主に構成されている。
前記整準部11は前記測量装置1の整準を行うと共に、垂直下方に射出するポイントレーザ射出部14を有し、ポイントレーザ光線が照射する地表のポイントによって前記測量装置1の設置位置が分る様になっている。
前記本体部12には測距部15、測距光学部16、高低回転軸傾斜検出部17、チルトセンサ18、演算制御部19、通信部21、電源部22等が収納されている。
前記測距部15は、測距光光源(図示せず)、追尾光光源(図示せず)を有し、前記測距光6を第1グラスファイバ24を介し前記測距光学部16より射出し、又追尾光25を第2グラスファイバ26を介し前記測距光学部16より射出する様になっており、又測定対象物2から反射された反射測距光6′は前記測距光学部16を介して受光され、第3グラスファイバ27によって前記測距部15に導かれる様になっている。
該測距部15は、前記反射測距光6′と前記測距光6を分割して得られた内部参照光(図示せず)との比較により距離測定を行う。
前記チルトセンサ18によって前記本体部12の傾斜が検出される。前記回動部13の下端には反射鏡である回転リング28が設けられ、前記高低回転軸傾斜検出部17は前記回転リング28に対向して設けられている。
前記高低回転軸傾斜検出部17は、前記回転リング28に検出光を照射すると共に前記回転リング28で反射された検出光を受光センサ29によって受光し、該受光センサ29上での検出光の受光位置のずれによって前記回転リング28の傾き、即ち前記回動部13の回転軸心の傾きを検出する様になっている。
前記回転リング28は水平角検出エンコーダ31のパターンリングを兼ねており、パターン検出部32からの信号により、水平角が検出される。尚、前記水平角検出エンコーダ31は基準点を有しており、該基準点からの角度が検出可能なアブソリュートエンコーダとなっている。
前記測距光学部16について、図5を参照して説明する。
図5中、30は測距光軸であり、前記回動部13の回転軸心と合致している。前記測距光軸30上に集光レンズ36、ミラー35、ビームスプリッタ37が配設され、該ビームスプリッタ37からの反射光軸47上には集光レンズ43、追尾光受光センサ44が配設され、前記ビームスプリッタ37の透過光軸48上には集光レンズ45、画像受光センサ46が配設される。
前記測距光6はミラー33aにより反射され、又前記追尾光25はミラー33bにより前記測距光6と同一光路上に反射される。前記測距光6と前記追尾光25とは波長が異なっており、前記ミラー33bは前記測距光6を透過し、前記追尾光25を反射する様に反射膜が形成されている。
前記測距光6、前記追尾光25はミラー34とミラー35によって偏向され、前記測距光軸30に照射される。前記測距光6、前記追尾光25は集光レンズ36によって、平行光束にされ、前記回動部13を介して水平方向に偏向され、照射される。
測定対象物2で反射された反射測距光6′は、前記回動部13を介して前記測距光学部16に入射し、前記集光レンズ36により集光され、前記ビームスプリッタ37の上面反射面38で反射され、更に前記ミラー35、ミラー39によって反射され、前記第3グラスファイバ27に入射する。
反射追尾光25′は内部反射面41で反射され、集光レンズ43により集光され、追尾光受光センサ44に受光される。可視光42は、前記内部反射面41を透過し、前記集光レンズ45によって集光され、前記画像受光センサ46により受光される。
前記上面反射面38には、前記反射測距光6′を反射し、前記反射追尾光25′及び前記可視光42を透過する様反射膜が形成され、前記内部反射面41には前記反射追尾光25′を反射し、前記可視光42を透過する様反射面が形成されている。
前記追尾光受光センサ44及び前記画像受光センサ46は、例えばCCD、CMOSセンサ等の多数の画素(ピクセル)の集合体から成るものが用いられ、各ピクセルの番地(受光素子上の位置)が特定可能であり、各ピクセルの画角が分る様になっている。
前記測距光学部16により、前記測距光6と前記追尾光25が前記測距光軸30に照射され、又、入射される前記反射測距光6′、前記反射追尾光25′、前記可視光42を分離して受光可能となっている。
而して、前記第1グラスファイバ24、前記ミラー33a、前記ミラー35、高低回動ミラー56(後述)、前記回動部13等は測距光照射光学部を構成し、又該回動部13、前記高低回動ミラー56、前記ビームスプリッタ37、前記ミラー35、前記ミラー39、第3グラスファイバ27等は受光光学部を構成する。
前記演算制御部19は、前記測距部15の制御、後述する水平回動モータ52、高低回動モータ57等駆動部の制御等を行う。又、測距に前記扇状測距光6aが選択された場合は、該扇状測距光6aと共に前記基準面形成用レーザ光線5も同時に照射される様に前記測距部15を制御し、前記測定対象物2からの反射測距光6′を受光して測距を行い、前記基準面形成用レーザ光線5が前記測定対象物2を通過する際の扇状光の時間差より仰角を演算し、又水平角を測定して前記測定対象物2の3次元位置を演算する。
又、測距に前記スポット光測距光6bが選択された場合は、前記測定対象物2からの反射光の受光、前記水平角検出エンコーダ31、後述する高低角検出エンコーダ58による照射方向の水平角の検出、高低角の検出に基づき前記測定対象物2の3次元位置を演算する。
図3、図4により前記回動部13を説明する。
該回動部13は、軸受51,51を介して前記本体部12に回転自在に設けられ、水平回動モータ52によって水平方向に回転される様になっている。
又前記回動部13は、回転フレーム53と、該回転フレーム53の上側に設けられた前記基準面形成部3と、水平回転軸傾斜検出部54とを有し、該水平回転軸傾斜検出部54、前記基準面形成部3及び前記回転フレーム53を覆い該回転フレーム53と一体化された回動部カバー50とを有している。尚、図中49は、給電リング49であり、該給電リング49を介して前記本体部12側から前記回動部13側に電力が供給される。
前記回転フレーム53に水平回転軸55を中心に高低回動ミラー56が回転自在に設けられ、前記水平回転軸55の一端には高低回動モータ57が設けられ、前記水平回転軸55の他端には高低角検出エンコーダ58が設けられている。
該高低角検出エンコーダ58のパターンリング59は前記回転リング28と同様に反射鏡となっており、前記パターンリング59と前記水平回転軸傾斜検出部54とは対向した配置となっており、該水平回転軸傾斜検出部54から射出された検出光が前記パターンリング59で反射され、前記水平回転軸傾斜検出部54で受光され、受光位置のずれで前記水平回転軸55の傾斜を検出する。尚、前記高低角検出エンコーダ58は、基準点を有しており、基準点からの高低角が検出可能なアブソリュートエンコーダとなっている。
図4を参照して前記高低回動ミラー56及び該高低回動ミラー56に設けられたビーム拡張手段について説明する。
前記高低回動ミラー56は、両面が反射面となっており、ミラーホルダ61に保持され、該ミラーホルダ61が前記水平回転軸55を介して前記回転フレーム53に回転自在に設けられている。前記高低回動ミラー56の基準位置は、鉛直な前記測距光軸30に対して45°傾斜した位置であり、該測距光軸30を高低方向から水平方向の水平測距光軸30aに偏向する。
又、前記ミラーホルダ61の下端には、光束形状調整部材81が水平に、即ち前記測距光軸30と直交する姿勢で保持されており、前記光束形状調整部材81の中央部は孔82が穿設されており、前記測距光学部16から射出される前記測距光6が前記孔82を通過する様になっている。前記光束形状調整部材81は透過する光束を一方向に収縮させる光学作用を有しており、例えばレンチキュラー或は受発光グレイティングである。
前記高低回動ミラー56の反射面に高速偏向ミラー62が貼設され、該高速偏向ミラー62は前記測距光軸30に合致した位置となっている。
前記高速偏向ミラー62としては、MEMS(Micro Electric Mechanical System)ミラーが用いられ、高周波電圧を印加することで、高速度で振動し、反射面が微小角度で往復回転するものである。例えば図4中、紙面に対して垂直な中心線を中心に高低方向に微小往復回転する。従って、前記測距光学部16より射出された前記測距光6が前記孔82を通って前記高速偏向ミラー62で反射され、該高速偏向ミラー62が振動すると、前記測距光6は高低方向にAの位置からBの位置間を高速で往復走査する。
又、振動する前記高速偏向ミラー62を介して射出された測距光6が測定対象物2で反射された反射測距光6′は広がりを持って前記回動部13から入射する。前記光束形状調整部材81は、前記反射測距光6′の光束断面を一方向に収縮し、前記測距光学部16に入射させる。
前記高低回動ミラー56の基準位置から前記高低回動モータ57により前記水平回転軸55を介して前記高低回動ミラー56を高低方向に回動することで照射する前記測距光6の高低角を変更でき、又この時の高低角は前記高低角検出エンコーダ58によって検出される(図3参照)。
図6を参照して基準面形成部3について説明する。
該基準面形成部3は、扇状レーザ光線発光部63と該扇状レーザ光線発光部63を回転可能に支持する機構部によって構成される。該機構部は回転自在に支持された前記回転フレーム53及び前記水平回動モータ52を含む。又、前記基準面形成用レーザ光線5の照射方向(水平角)は前記水平角検出エンコーダ31によって検出される。又、前記基準面形成用レーザ光線5が前記測定対象物2で反射された反射光は、前記測距光学部16を介して受光センサによって受光される。受光センサとしては、例えば前記追尾光受光センサ44が用いられる。該追尾光受光センサ44が前記基準面形成用レーザ光線5の反射光を受光した時点での前記水平角検出エンコーダ31の水平角を検出することで、前記測量装置1を基準とした前記測定対象物2の水平角を測定することができる。
前記扇状レーザ光線発光部63は、基準面形成用レーザ光線発光源64、例えばLD、分割プリズム65,66,67、及び該分割プリズム65,66,67の射出面に設けられた集光部材68,69,70(例えばシリンドリカルレンズ、回析格子)を具備しており、前記扇状レーザ光線発光部63から発せられるレーザ光線が前記分割プリズム65,66,67によって3分割され、更に前記集光部材68,69,70によって高低方向に断面長軸を有する楕円の光束断面に整形され、又3本の断面長軸は互いに既知の角度で傾斜している。
次に、図4を参照して前記受光装置7を説明する。
該受光装置7はポール10上の既知の位置に設置され、前記基準面形成用レーザ光線5を受光する為の受光部72と前記測距光6を反射する為のプリズム73等の反射体、前記測量装置1の前記通信部21と通信する為の受光側通信部74、受光側制御演算部75、受光側操作部(図示せず)、受光側表示部(図示せず)を主に具備している。
尚、前記通信部21、前記受光側通信部74の通信方法としては、無線通信、光通信等が用いられる。
前記受光側制御演算部75は、前記受光部72が前記基準面形成用レーザ光線5を受光した場合の扇状レーザ光線個々の受光時間差に基づき仰角を演算する。又、前記受光側通信部74は、演算結果を前記測量装置1に送信可能である。
以下、作動について説明する。
図4は、マルチ測定を行う場合を示しており、前記ミラーホルダ61の姿勢は、前記光束形状調整部材81が前記水平測距光軸30aに対して垂直な状態となっている。
従って、前記測距光学部16から射出された前記測距光6は前記孔82を通過し、前記高速偏向ミラー62によって水平方向に偏向される。又、該高速偏向ミラー62に高周波電圧が印加されることで、高低方向に微小角度で高速に往復回転し、前記測距光6が高低方向に所定角度の範囲で高速に振られ、扇状測距光6aとして、前記回動部カバー50の投光窓60から射出される。尚、マルチ測定を行う場合、大きく高低角を偏向する場合を除き、前記高低回動ミラー56の高低角は固定とする。
又、同時に前記扇状レーザ光線発光部63から基準面形成用レーザ光線5が射出された状態で、前記水平回動モータ52が駆動されて、前記基準面形成用レーザ光線5、前記測距光6が回転照射される。
前記基準面形成用レーザ光線5、前記測距光6が上下に広がりを有し、全周回転することで、広範囲の測定が可能となり、照射範囲に位置する複数の測定対象物2の測定が可能となる(図1参照)。又、前記扇状測距光6aは見かけ上、高低方向に広がりを有する扇状測距光6aとなっているが、実際にはスポット光が高低方向に往復走査しているので、光強度の低下はなく、スポット光と同じであり、遠距離測定が可能である。
前記プリズム73からの反射測距光6′を受光し、前記測距部15で測距が行われ、又前記反射測距光6′を受光した時点の前記水平角検出エンコーダ31の角度を検出することで水平角の測定が行われ、更に前記受光装置7で測定された仰角が前記受光側通信部74から送信されることで、前記測量装置1に対する仰角が得られ、又測距結果と仰角で前記測定対象物2の高さが分る。従って、各測定対象物2の3次元データが測定できる。
図7は、ワンマン測定を行う場合を示している。
マルチ測定からワンマン測定に移行する場合、前記高低回動モータ57を駆動して前記ミラーホルダ61を前記水平回転軸55を中心に180°回転する。
前記光束形状調整部材81が前記測距光軸30から外れ、前記高速偏向ミラー62が貼設されていない前記高低回動ミラー56の反射面が前記測距光学部16に対向する。この為、前記測距光学部16から射出された前記測距光6は、細いビーム径を有したスポット光のまま射出される。尚、前記高速偏向ミラー62を前記測距光6の光路から外すには、前記ミラーホルダ61を図4中反時計方向に90°回転してもよい。
先ず、準備として、前記扇状レーザ光線発光部63より前記基準面形成用レーザ光線5を射出して前記水平回動モータ52を駆動して、前記基準面形成用レーザ光線5を回転照射する。
測定対象物2からの反射光が得られると、該測定対象物2についての水平角が測定でき、又前記受光装置7で得られる仰角が前記受光側通信部74から送信され、前記通信部21で受信した仰角に基づき前記測定対象物2の方向が取得できる。尚、仰角について前記測定対象物2からの前記基準面形成用レーザ光線5の反射光を受光し、受光時間差より前記測量装置1で仰角を演算してもよい。
前記測距部15より前記測距光6、追尾光25が射出され、前記水平回動モータ52により前記回動部13が回転され、前記高低回動モータ57により前記ミラーホルダ61が回転され、射出方向が前記測定対象物2に向けられる。
前記追尾光25が前記測定対象物2を捉え、前記測距光6が前記プリズム73によって反射されることで、ワンマンによる距離測定が実行される。又、前記測定対象物2が移動した場合も、前記反射追尾光25′を検出することで追尾される。
前記反射測距光6′を受光した時点の前記水平角検出エンコーダ31、前記高低角検出エンコーダ58によって水平角、高低角が測定され、測距結果に基づき前記測定対象物2の高さが求められ、該測定対象物2の3次元データ測定が行われる。
尚、高低角については、前記受光装置7で得られる仰角を利用してもよい。
ワンマン測定の場合、前記測距光6は光強度が大きく、反射光の受光時間も長いので、遠距離迄の距離測定が可能であると共に測定回数を充分にとれるので、測定精度は高い。
図8、図9により、第2の実施の形態について説明する。尚、図8中、図4中で示したものと同等のものには同符号を付してある。又、本体部12等の構成は第1の実施の形態と同様であるので、図示を省略している。
第2の実施の形態では、第1の実施の形態の高低回動ミラー56の反射面の一方を高速偏向ミラー62、例えばMEMSミラーに置換したものである。尚、他の反射面は通常の平面ミラーであり、反射する際に測距光6に光学作用を及さないものである。
前記高速偏向ミラー62は、測距光学部16から射出される測距光6を高低方向に微小角の範囲で往復走査するものであり、測量装置1は走査範囲に存在する測定対象物2の測定を行う。
先ず、基準面形成用レーザ光線(N字状扇状ビーム)5を回転照射し、測定対象物2(受光装置7)からの反射光を受光して、該受光装置7の水平角を求め、更に該受光装置7が前記基準面形成用レーザ光線5を受光して、前記測量装置1に対する仰角を求め、該測量装置1に仰角のデータを通信する。
前記測量装置1は、得られた水平角と仰角により、前記測定対象物2の方向を演算する。演算結果を基に、高低回動モータ57を駆動して前記高速偏向ミラー62の高低角を決定する(図3参照)。
次に、該高速偏向ミラー62の高低角を固定とし、該高速偏向ミラー62自体を駆動し(振動させ)、高低方向に微小角往復回転する。前記高速偏向ミラー62の振動により、前記測距光学部16から射出されるスポット光が、見かけ上小さな広がりを有する測距用扇状レーザ光線として照射される。
図9は、第2の実施の形態で照射される前記測距光6の軌跡を説明するものであり、図9中、Cは水平測距光軸30aの軌跡、即ち、前記高速偏向ミラー62を振動させなかった場合の、該高速偏向ミラー62の傾きだけにより反射された場合の前記測距光6の軌跡を示す。又Dは、前記高速偏向ミラー62を振動させ、更に該高速偏向ミラー62の高低角を変更した場合の実際の前記測距光6の軌跡を示している。又、図9中、73は測定対象物2のプリズムであり、前記Dが前記プリズム73を通過することで反射測距光6′が得られる。
第2の実施の形態では、予め取得した測定対象物2の水平角、高低角に基づき、前記高速偏向ミラー62の高低角を制御するので、前記測距光6の見かけ上の広がり角を大きくする必要はない。該測距光6の広がり角は、前記高低回動モータ57により前記高速偏向ミラー62の高低角を調整した場合の、誤差を吸収する程度でよい。
又、前記測距光6が前記プリズム73を通過する範囲だけ、前記測距光6を照射する様にし、省電力化を図ってもよい。
第2の実施の形態で、ワンマン測定を行う場合、前記高速偏向ミラー62の振動を静止させ、測距光6を単に反射させるだけの高低回動ミラー56として使用してもよいし、或は前記高速偏向ミラー62の裏面を反射面とし、前記ミラーホルダ61を90°、又は180°回転させ前記測距光6を反射させる様にしてもよい。
又、前記高速偏向ミラー62を振動を用いた駆動として取扱わずに高速で前記測距光6の偏向方向を変える様、小ミラーとし、前記高低回動ミラー56に組合わせることにより高速に前記測距光6を測定対象物2に向けることが可能となり、マルチ測定の際に基準面形成用レーザ光線5を用いて得られた高低角、水平角を用いて、測距光6を測定対象物の方向に向けてマルチ測定を行ったり、ワンマン測定の際にも高速で視準を行うことに利用することができる。
図10、図11により、第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態では、測距光学部16に入射する測距光6を高速偏向ミラー62により、振幅させる様にしたものである。
図10、図11中、図3、図4中で示したものと同等のものには同符号を付しその説明を省略する。
第3の実施の形態では、高速偏向ミラー62を第1の実施の形態で示したミラー33a(図5参照)に適用したものである。
先ず、前記測距部15の光学系の概略を説明する。
レーザダイオード85は測距光6を射出する発光源であり、前記レーザダイオード85の光軸上にハーフミラー86が配設され、該ハーフミラー86によって前記測距光6の一部が内部参照光87として反射されハーフミラー88を通して受光器89によって受光される。又、前記ハーフミラー86を透過した測距光6は、更に可変濃度フィルタ91、ハーフミラー92を通して第1グラスファイバ24の入射端に入射される。
前記可変濃度フィルタ91は円周方向に濃度が変化しており、前記可変濃度フィルタ91が濃度可変モータ93によって回転されることで、射出される前記測距光6の光強度数が変更される。又、前記濃度可変モータ93は演算制御部19によって回転が制御される。
前記測距光学部16に入射した反射測距光6′は第3グラスファイバ27を介して前記測距部15に入射され、前記ハーフミラー88によって前記受光器89に入射する様に反射される。
該受光器89に入射される前記内部参照光87と前記反射測距光6′に基づき測定対象物2迄の測距が測定される。前記可変濃度フィルタ91は前記反射測距光6′の光強度が前記内部参照光87と同等となる様に射出される測距光6の光強度を調整する。尚、図10中90は追尾光25を発する追尾用LDである。
次に、前記測距光学部16について説明する。
前記第1グラスファイバ24によって導かれた前記測距光6は、前記第1グラスファイバ24の射出端から射出され、前記高速偏向ミラー62で反射されて前記測距光学部16に入射する。
前記高速偏向ミラー62はMEMSミラーであり、前記演算制御部19によって制御され、反射面を所定方向に往復傾動する。又、前記高速偏向ミラー62は、図5で示したミラー33aと同等の機能を有し、前記測距光6をミラー94により反射された追尾光25の光軸上に反射する様になっている。該ミラー94は前記ミラー33bと同等の機能を有すると共に後述するMEMS制御光95を前記測距光6から分離して反射し、イメージセンサ96に入射させている。好ましくは、前記MEMS制御光95と前記測距光6の波長を異ならせ、前記ミラー94は前記測距光6を透過して前記MEMS制御光95を反射するダイクロイックミラーとする。
前記イメージセンサ96は所定の面積を有する2次元センサであり、前記MEMS制御光95の光束断面の形状を検出し、又該MEMS制御光95の振幅方向を検出する。検出結果は前記演算制御部19に出力され、該演算制御部19は前記イメージセンサ96からの検出結果及びエンコーダ101からの検出結果を基にイメージローテータモータ99の回転速度、回転の位相を制御する。
前記高速偏向ミラー62と前記ミラー94との間にイメージローテータ97が配設される。
該イメージローテータ97は、イメージローテートプリズム98と、該イメージローテートプリズム98を回転させるイメージローテータモータ99、及び前記イメージローテートプリズム98の回転角を検出するエンコーダ101等から構成されている。
イメージローテータとは、反射又は屈折及びその組合わせによる合計奇数回の反射又は屈折を利用し、その光学部材の回転によって像を回転する為の光学部材(部品又はその組合わせ)であって、通常は前記イメージローテータ97が半回転すると、像は一回転する。よって、本実施の形態に於いては、前記測距光6を回転照射する前記回動部13の回転の1/2の速度で同期して回転される。これにより、前記高速偏向ミラー62による前記測距光6の振幅方向(偏向方向)が、回転部に対して一定の方向になる様に調整される。
回動部13は、前記測距光学部16から射出される前記測距光6を水平方向に偏向し、回転照射し、又測定対象物2からの反射光を偏向して前記測距光学部16に入射する。以下、前記回動部13について説明する。
ミラーホルダ61が水平回転軸55を介して回転フレーム53に回転自在に支持され、高低回動モータ57によって前記水平回転軸55を中心に高低方向に回転される様になっている(図3参照)。
前記ミラーホルダ61は両面が反射面となっている高低回動ミラー56及び偏向範囲拡大部材として第1シリンドリカルレンズ102、光束整形部材103を保持し、前記高低回動ミラー56は前記測距光軸30に対して45°の位置(基準位置)に保持され、この基準位置で前記測距光軸30上に位置する様に第1シリンドリカルレンズ102が保持され、更に前記水平測距光軸30aと垂直となる様に前記光束整形部材103が保持されている。尚、前記第1シリンドリカルレンズ102は前記高速偏向ミラー62と共役の位置に配置されている。
前記光束整形部材103は、例えばレンチキュラー、受発光グレイティングであり、高低方向に光束断面を拡張、又は収縮し、光束断面を整形するものである。又、前記光束整形部材103の中心部、即ち前記水平測距光軸30a上に偏向範囲拡大部材として第2シリンドリカルレンズ104が設けられている。
尚、偏向範囲拡大部材は、射出光の回転方向に対して、角倍率が異なる光学系であり、例えばシリンダレンズ、アナモルフィックエキスパンダ等がある。又、通常のビームエキスパンダを用いることもできる。
以下、第3の実施の形態の作用について説明する。
図10、図11はマルチ測定を行う場合の構成を示しており、前記第1シリンドリカルレンズ102が前記測距光軸30上に、又前記第2シリンドリカルレンズ104が水平測距光軸30a上に位置している。
前記高速偏向ミラー62が前記演算制御部19により駆動され、反射面が一方向に振動され、前記高速偏向ミラー62によって前記測距光6、前記MEMS制御光95が高速で所定の一方向に振られながら反射する。
前記イメージローテータ97は、前記高低回動ミラー56に対して常に一定の関係で前記測距光6が入射する様に該測距光6を光軸を中心に回転させるものであり、前記イメージローテータ97は前記演算制御部19によって、前記高低回動ミラー56で反射された前記測距光6が常に高低方向に振幅する様に制御される。
前記MEMS制御光95は、前記高速偏向ミラー62によって前記測距光6と一体に振幅され、又前記イメージローテータ97によって一体に回転される。従って、前記イメージセンサ96で前記MEMS制御光95の光束断面の形状、振幅方向を検出することで、前記測距光6の光束断面の形状、振幅方向を検出することができる。前記イメージセンサ96の検出結果を基に、前記ミラーホルダ61の回転と前記イメージローテートプリズム98の回転とが同期制御される。
尚、前記MEMS制御光95としては、前記測距光6の一部を前記ミラー94で分割したものであってもよい。
前記測距光学部16から射出された測距光6は、前記第1シリンドリカルレンズ102、前記第2シリンドリカルレンズ104によって振幅角度が拡大され扇状測距光6aとされ、前記回動部13の回転によって回転照射される。尚、前記扇状測距光6aは、スポット光が振幅されて形成されるので、光強度は大きく、遠距離の測定が可能である。
測定対象物2から反射され、広がり角を有する反射扇状測距光6a′は前記光束整形部材103によって平行となる様に集光され、前記測距光学部16に入射され、更に前記測距部15で距離測定される。
尚、同時に前記扇状レーザ光線発光部63から基準面形成用レーザ光線5が照射されることは上記した他の実施の形態と同様である。
次に、ワンマン測定を行う場合を説明する。
ワンマン測定の場合は、前記ミラーホルダ61を90°又は180°回転させ、前記第1シリンドリカルレンズ102、前記光束整形部材103、第2シリンドリカルレンズ104を前記測距光軸30、前記水平測距光軸30aから外れた状態とする。前記高速偏向ミラー62、前記イメージローテータ97は、駆動を停止する。
前記基準面形成用レーザ光線5を回転照射して、測定対象物2の水平角、高低角を予め測定する。
前記イメージローテータ97を経て前記ミラー34、前記ミラー35で反射され、更に前記高低回動ミラー56でスポット光の状態で反射され、前記水平測距光軸30a上に照射される。又、前記追尾光25も前記ミラー34、前記ミラー35で反射され、更に前記高低回動ミラー56で反射され、前記水平測距光軸30a上に照射される。
前記追尾光25が前記追尾光受光センサ44で検出されることで追尾が開始され、更に反射スポット光測距光6b′が前記測距光学部16を経て前記測距部15に入射されることで、測距が行われる。
図12は、第4の実施の形態を示すものである。該第4の実施の形態は、上記第3の実施の形態の発展形であり、イメージローテータ97が省略され、測距光学部16に入射する測距光6を2つのMEMSミラーによって振幅させ、又振幅方向の制御を行う様にしたものである。尚、図12中で図10、図11中で示したものと同等のものには同符号を付し、その説明を省略する。
第4の実施の形態では、2つのMEMSミラー106,107が相対向して設けられ、第1グラスファイバ24により導かれた測距光6が前記MEMSミラー106,107によって反射され、測距光学部16に入射する様になっている。
前記MEMSミラー106は、前記MEMSミラー107に入射する前記測距光6が例えば紙面に対して垂直な方向に振幅する様に、反射面が振動され、前記MEMSミラー107は、反射光が紙面に対して平行振幅する様に反射面が振動される。又、前記MEMSミラー106と前記MEMSミラー107は、前記演算制御部19(図10参照)により振動の位相が制御され、前記ミラー94から反射される前記測距光6は振幅方向が前記高低回動ミラー56に対して一定の方向にされる。
例えば、図12が示す状態では、前記MEMSミラー107で反射される前記測距光6は、紙面に対して平行となる様に振幅し、前記高低回動ミラー56によって前記測距光6が紙面に対して垂直な方向に反射される状態では、前記MEMSミラー107によって反射される前記測距光6は紙面に対して垂直な方向に振幅される。
振幅する前記測距光6が前記測距光学部16を経て、前記第1シリンドリカルレンズ102、前記第2シリンドリカルレンズ104に入射し、振幅角が拡大され、扇状測距光6aとして回動部13より回転照射され、マルチ測定が行われる。
ワンマン測定を行う場合は、前記高低回動ミラー56を90°又は180°回転させ、前記第1シリンドリカルレンズ102、前記第2シリンドリカルレンズ104を光軸より退避させ、前記MEMSミラー106、前記MEMSミラー107を停止させることで、前記測距部15、前記回動部13を介してスポット光測距光6bが照射される。
マルチ測定、ワンマン測定の作用については、第3の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
第4の実施の形態では、前記MEMSミラー106、前記MEMSミラー107が高速偏向ミラー62として機能すると共に第3の実施の形態に於けるイメージローテータ97としての機能も果している。
又本実施例では、2つの前記MEMSミラー106,107を利用して測距光6の振幅方向が一定となる様に構成したが、2軸に駆動可能な前記MEMSミラーを適用することにより1つのMEMSミラーにより、同様の作動を得ることができる。
本発明の第1の実施の形態を示し、マルチ測定が行われている場合の概略図である。 本発明の第1の実施の形態を示し、ワンマン測定が行われている場合の概略図である。 本発明の第1の実施の形態に係る測量装置を示す概略構成図である。 該測量装置の回動部分を示す部分図である。 該測量装置の測距光学部の概略構成図である。 図3のA矢視図であり、前記測量装置の基準面形成部の概略構成図である。 前記測量装置でワンマン測定が行われる状態の回動部分を示す部分図である。 本発明の第2の実施の形態を示し、マルチ測定が行われる場合の回動部分を示す部分図である。 本発明の第2の実施の形態に於ける、測距光の軌跡を示す説明図である。 本発明の第3の実施の形態に係る測量装置を示す概略構成図である。 本発明の第3の実施の形態に於ける、測距光学部の概略構成図である。 本発明の第4の実施の形態に於ける、測距光学部の概略構成図である。
符号の説明
1 測量装置
2 測定対象物
3 基準面形成部
4 測距光照射部
5 基準面形成用レーザ光線
6 測距光
7 受光装置
11 整準部
12 本体部
13 回動部
15 測距部
16 測距光学部
17 高低回転軸傾斜検出部
18 チルトセンサ
19 本体制御部
21 通信部
22 電源部
25 追尾光
29 受光センサ
30 測距光軸
31 水平角検出エンコーダ
37 ビームスプリッタ
44 追尾光受光センサ
46 画像受光センサ
50 回動部カバー
52 水平回動モータ
53 回転フレーム
54 水平回転軸傾斜検出部
56 高低回動ミラー
57 高低回動モータ
58 高低角検出エンコーダ
62 高速偏向ミラー
63 扇状レーザ光線発光部
73 プリズム
74 受光側通信部
75 受光側制御演算部
95 MEMS制御光
96 イメージセンサ
97 イメージローテータ
98 イメージローテートプリズム
102 第1シリンドリカルレンズ
104 第2シリンドリカルレンズ
106 MEMSミラー
107 MEMSミラー

Claims (18)

  1. 測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向し、前記測距光に高低方向の振幅を与える高速偏向ミラーと、前記測距光を照射する測距光照射部と、前記高速偏向ミラー及び前記高低回動ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備し、前記高速偏向ミラーは前記高低回動ミラーの光軸通過部分に設けられ、前記測距光は前記高速偏向ミラーを介して照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光されることを特徴とする測量装置。
  2. 前記高速偏向ミラーは、前記高低回動ミラーの一面に設けられ、前記高低回動ミラーの他方の面を反射鏡とした請求項1の測量装置。
  3. 前記高低回動ミラーは、該高低回動ミラーに於けるミラー面は前記高速偏向ミラーのミラー面を利用して構成され、該高速偏向ミラーを保持する保持部を駆動する駆動部により前記測距光を測定対象物の方向に偏向する請求項1の測量装置。
  4. 測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向し、前記測距光に高低方向の振幅を与える高速偏向ミラーと、前記測距光を照射する測距光照射部と、前記高速偏向ミラー及び前記高低回動ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備し、前記高速偏向ミラーは前記光源と前記高低回動ミラー間の測距光光路上に設けられ、前記測距光は前記高速偏向ミラーに反射されて前記高低回動ミラーに入射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光されることを特徴とする測量装置。
  5. 前記測距光照射部は、測距光を回転照射する回動部、前記高速偏向ミラーで反射された光路上に設けられたイメージローテータ及び該イメージローテータを回動させるイメージローテータ回動部とを有し、前記回動部は前記高速偏向ミラーで反射された前記測距光の偏向方向を測定対象物の方向に向ける様、前記イメージローテータ回動部により調整可能に構成される請求項の測量装置。
  6. 前記測距光照射部は、測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーを有し、前記高速偏向ミラーは相対向して2つ設けられ、該2つの高速偏向ミラーは反射面の可動方向が異なり、該2つの高速偏向ミラーを経て射出される測距光の偏向方向が前記測定対象物の方向に向く様に調整可能な様に構成された請求項の測量装置。
  7. 前記測距光は偏向範囲拡大部材を通して高低方向の偏向範囲が拡大されて照射される請求項又は請求項の測量装置。
  8. 少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、測定対象物から反射された反射扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、前記扇状ビーム照射部の扇状ビーム照射方向を検出する扇状ビーム照射方向検出部とを更に有し、前記演算制御部は前記扇状ビーム受光部と前記扇状ビーム照射方向検出部からの信号に基づき測定対象物の方向を演算する請求項1又は請求項4の測量装置。
  9. 前記演算制御部は、照射される測距光が前記測定対象物を照射する様、前記高速偏向ミラー、前記回動部を制御する請求項の測量装置。
  10. 前記演算制御部は、得られた測定対象物の方向に基づき照射される測距光が前記測定対象物を照射する様、前記高速偏向ミラーを制御する請求項8の測量装置。
  11. 前記高速偏向ミラーはMEMSミラーである請求項1〜請求項のいずれかの測量装置。
  12. 測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記高低回動ミラーの光軸通過部分に設けられ、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーを有し、前記測距光を照射する測距光照射部と、該測距光照射部からの測距光の照射方向を検出する照射方向検出部と、測定対象物からの反射光に基づき測距を行う測距部と、少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、第1通信部と、前記高低回動ミラーと前記高速偏向ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備する測量装置と、
    前記測距光を反射する反射体と、扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、該扇状ビーム受光部からの信号を前記第1通信部に送信する第2通信部を具備する受光装置とを有することを特徴とする測量システム。
  13. 前記高低回動ミラーの一面に、前記高速偏向ミラーが設けられ、前記高低回動ミラーの他方の面を反射鏡とした請求項12の測量システム。
  14. 測距光を発する光源と、前記測距光を測定対象物の方向に偏向する高低回動ミラーと、前記光源と前記高低回動ミラー間の測距光光路上に設けられ、前記測距光を偏向して前記高低回動ミラーに入射させ、前記測距光を前記高低回動ミラーよりも高速で偏向する高速偏向ミラーを有し、前記測距光を照射する測距光照射部と、該測距光照射部からの測距光の照射方向を検出する照射方向検出部と、測定対象物からの反射光に基づき測距を行う測距部と、少なくとも1が傾斜した2以上の扇状ビームを回転照射する扇状ビーム照射部と、第1通信部と、前記高低回動ミラーと前記高速偏向ミラーの駆動を制御する演算制御部とを具備する測量装置と、
    前記測距光を反射する反射体と、扇状ビームを受光する扇状ビーム受光部と、該扇状ビーム受光部からの信号を前記第1通信部に送信する第2通信部を具備する受光装置とを有することを特徴とする測量システム。
  15. 記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される請求項12又は請求項14の測量システム。
  16. 前記測距光照射部は、測距光を回転照射する回動部、前記高速偏向ミラーで反射された光路上に設けられたイメージローテータ及び該イメージローテータを回動させるイメージローテータ回動部とを有し、前記高速偏向ミラーで反射された測距光を測定対象物の方向に向ける様前記イメージローテータ回動部により調整可能に構成された請求項14の測量システム。
  17. 記高速偏向ミラーは相対向して2つ設けられ、該2つの高速偏向ミラーは反射面の可動方向が異なり、該2つの高速偏向ミラーを経て射出される測距光の偏向方向が調整可能な様に構成された請求項14の測量システム。
  18. 前記測距光は偏向範囲拡大部材を通して高低方向の偏向範囲が拡大されて照射され、前記測定対象物で反射された反射測距光は集光部材を介して受光される請求項12又は請求項14又は請求項16又は請求項17の測量システム。
JP2008081312A 2008-03-26 2008-03-26 測量装置及び測量システム Active JP5150329B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008081312A JP5150329B2 (ja) 2008-03-26 2008-03-26 測量装置及び測量システム
US12/383,129 US7965383B2 (en) 2008-03-26 2009-03-20 Surveying device and surveying system
EP09155682.9A EP2105706A3 (en) 2008-03-26 2009-03-20 Surveying device and surveying system
CN2009101283242A CN101566473B (zh) 2008-03-26 2009-03-26 测量装置和测量系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008081312A JP5150329B2 (ja) 2008-03-26 2008-03-26 測量装置及び測量システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009236601A JP2009236601A (ja) 2009-10-15
JP2009236601A5 JP2009236601A5 (ja) 2011-04-14
JP5150329B2 true JP5150329B2 (ja) 2013-02-20

Family

ID=40790773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008081312A Active JP5150329B2 (ja) 2008-03-26 2008-03-26 測量装置及び測量システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7965383B2 (ja)
EP (1) EP2105706A3 (ja)
JP (1) JP5150329B2 (ja)
CN (1) CN101566473B (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5550855B2 (ja) * 2009-06-12 2014-07-16 株式会社トプコン 回転レーザ出射装置
JP5568363B2 (ja) * 2010-04-22 2014-08-06 株式会社トプコン レーザスキャナ
JP5738005B2 (ja) * 2011-03-01 2015-06-17 株式会社トプコン 光波距離測定装置
JP5725922B2 (ja) * 2011-03-25 2015-05-27 株式会社トプコン 測量システム及びこの測量システムに用いる測量用ポール及びこの測量システムに用いる携帯型無線送受信装置
US9541382B2 (en) * 2011-12-19 2017-01-10 Kabushiki Kaisha Topcon Rotation angle detecting apparatus and surveying instrument
JP2013242413A (ja) * 2012-05-21 2013-12-05 Suwa Optronics:Kk 撮像光学系、および撮像装置
US9404792B2 (en) * 2013-07-01 2016-08-02 Raytheon Company Auto-alignment system for high precision masted head mirror
JP6253973B2 (ja) * 2013-12-27 2017-12-27 株式会社トプコン 測量装置
JP6401542B2 (ja) * 2014-08-07 2018-10-10 株式会社トプコン アブソリュートエンコーダ、測量装置
CN104155657B (zh) * 2014-08-07 2016-08-24 国网安徽省电力公司淮南供电公司 用于电缆铺设测距的测距系统
EP3035076B1 (de) 2014-12-17 2020-08-19 Leica Geosystems AG Vermessungsgerät mit Positioniereinrichtung
US20160356889A1 (en) * 2015-06-05 2016-12-08 Magenium Solutions LLC Laser Measuring System and Method
JP6670127B2 (ja) * 2016-02-24 2020-03-18 株式会社トプコン 建設機械の制御システム
JP6713847B2 (ja) * 2016-06-14 2020-06-24 株式会社トプコン 測量システム
DE102016213996B4 (de) * 2016-07-29 2021-08-05 Robert Bosch Gmbh Nivelliervorrichtung
CN106527502A (zh) * 2016-12-09 2017-03-22 中国电子科技集团公司第三十四研究所 一种无线光天线自动跟踪系统
US10976413B2 (en) 2017-02-14 2021-04-13 Baidu Usa Llc LIDAR system with synchronized MEMS mirrors
US11536845B2 (en) * 2018-10-31 2022-12-27 Waymo Llc LIDAR systems with multi-faceted mirrors
JP7178311B2 (ja) * 2019-03-29 2022-11-25 株式会社トプコン ガイド光照射装置
CN111398513B (zh) * 2020-04-02 2021-11-05 中国矿业大学 一种高图像分辨率的检测单颗粒燃烧过程的装置及方法
JP2022110635A (ja) * 2021-01-19 2022-07-29 株式会社トプコン 測量装置
CN113093149B (zh) * 2021-03-15 2024-02-20 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司 一种转镜装置以及激光雷达
EP4074492B1 (de) * 2021-04-13 2023-09-20 Leister Technologies AG System zum fügen von werkstücken aus thermoplastischem kunststoff mittels laserdurchstrahlschweissen
JP2024011167A (ja) * 2022-07-14 2024-01-25 株式会社トプコン レーザースキャンの制御装置、レーザースキャン装置、レーザースキャンの制御方法およびプログラム

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5988862A (en) * 1996-04-24 1999-11-23 Cyra Technologies, Inc. Integrated system for quickly and accurately imaging and modeling three dimensional objects
JP4416925B2 (ja) 2000-07-19 2010-02-17 株式会社トプコン 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置
JP2004212058A (ja) * 2002-12-26 2004-07-29 Topcon Corp 作業位置測定装置
JP4263549B2 (ja) 2003-07-23 2009-05-13 株式会社トプコン 測量誘導装置
US7079228B2 (en) * 2004-04-15 2006-07-18 Rosemount Aerospace Inc. Combined laser altimeter and ground velocity measurement apparatus
JP4383308B2 (ja) * 2004-10-06 2009-12-16 有限会社コンチェルト 自動測量装置
JP4761751B2 (ja) * 2004-10-06 2011-08-31 株式会社トプコン 距離測定装置
JP4639812B2 (ja) * 2005-01-19 2011-02-23 株式会社デンソー スキャニング装置
WO2006078802A1 (en) * 2005-01-21 2006-07-27 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for optical coherence tomography scanning
EP1851588B1 (en) * 2005-02-01 2019-08-07 Laser Projection Technologies, Inc. Laser projection with object feature detection
JP4819403B2 (ja) * 2005-06-06 2011-11-24 株式会社トプコン 距離測定装置
JP2007279017A (ja) * 2006-03-15 2007-10-25 Omron Corp レーダ装置
JP2007248225A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Omron Corp レーザビーム照射装置及び測距装置
JP5020585B2 (ja) 2006-09-27 2012-09-05 株式会社トプコン 測定システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP2105706A2 (en) 2009-09-30
CN101566473B (zh) 2012-11-14
JP2009236601A (ja) 2009-10-15
US20090241359A1 (en) 2009-10-01
US7965383B2 (en) 2011-06-21
CN101566473A (zh) 2009-10-28
EP2105706A3 (en) 2013-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5150329B2 (ja) 測量装置及び測量システム
JP5166087B2 (ja) 測量装置及び測量システム
JP7039388B2 (ja) 測量装置
US10767991B2 (en) Laser scanner
JP4819403B2 (ja) 距離測定装置
JP5124319B2 (ja) 測量機、測量システム、測定対象の検出方法、および測定対象の検出プログラム
US11536568B2 (en) Target instrument and surveying system
JP4970211B2 (ja) 3次元形状測定器
JP7066322B2 (ja) 測量システム
JP7009198B2 (ja) 測量装置
CN108723583A (zh) 具有测量功能的激光加工系统
US11598854B2 (en) Surveying system
JP7138525B2 (ja) 測量装置及び測量装置システム
JP2019039863A (ja) 測量システム
KR20190105889A (ko) 라이다 스캐닝 장치
JP2012215496A (ja) 形状測定装置
JP6682371B2 (ja) 建設機械の制御システム
JP2021032818A (ja) ガイド光照射部を備えた測量機
JP6749192B2 (ja) スキャナ装置および測量装置
EP3623754B1 (en) Surveying instrument
JP6913422B2 (ja) 測量システム
JP2019117141A (ja) 非接触座標測定装置
JP6884529B2 (ja) 測定装置
JP2019174229A (ja) 測量装置
JP2021063678A (ja) 測量装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110225

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120802

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120807

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120912

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5150329

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151207

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250