JP2019035690A - 物体検出装置、センシング装置、移動体装置及び物体検出方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1には、物体検出装置100の概略的構成がブロック図にて示されている。
ショットノイズは、さまざまなパルス幅を持っているが、時間計測用PD42で受光され、二値化回路44で処理された情報(二値化信号)は、信号がVthを超える立ち上がり時刻trと立下り時刻tfの組み合わせ(tr、tf)である。
この組み合わせから信号のパルス幅ω=tf−trを算出し、ωとωobjとの差異があるレベル以上の信号はすべてショットノイズとして排除する。
残った信号は、物体からの信号か、物体からの信号と紛らわしいショットノイズである。しかし、ショットノイズの出現はランダムであるため、回転ミラー26が1周まわって同じ角度になったときに、同じ位置にショットノイズが発生することは極めて稀である。よって、回転ミラー26の同一角度(同一の投光方向)において光検出器43から出力された複数の受光信号(アナログ信号)に対して平均化処理することで、ショットノイズと物体の信号の分離が可能になる。
なお、信号処理の時間は多少長くなるが、出現確率がnを自然数として(n−1)/nの場合に、ハイレベル信号を出力する回数を(n+1)回以上としても良い。
目標とする出現確率は、上述のように、概ね、nを自然数として(n−1)/nで表すことができる。
なお、出現確率を例えば4/5から3/5や2/5や1/5へ下げるべくVthをより高く設定しても良いが、Vthを高くするほど物体からの信号(特に弱い信号)のピークがVthを超えなくなる可能性が高まるので、Vthを高くしすぎる(出現確率を下げすぎる)のは得策ではない。
なお、「受光素子におけるピーク強度が閾値Vthを超えるショットノイズの出現確率」は、ショットノイズの強度分布(図4参照)と閾値Vthにより決まるため、「当該出現確率に基づいてMの値が設定されている」ことは、「閾値Vth及びショットノイズの強度分布に基づいてMの値が設定されている」ことと同義である。
この場合、物体検出装置100が検出可能な物体までの最大距離をL、物体で反射された光による信号のパルス幅をωobj、ショットノイズの標準偏差をσsn、光速をc、標準正規累積分布関数をF(Vth、0、σsn)としたとき、M≧F(−Vth/N、0、σsn)×(2L/c)×(1/ωobj)+1を満足することが好ましい。この結果、物体からの信号を確実に検出できる。
これらの信号(ショットノイズを含む)のうち、閾値Vthを超えた信号が、演算部で処理される信号(距離演算に用いられる信号)の候補となる。図14では、M=8個の信号が演算部で処理される信号の候補となり、物体からの信号は5番目と8番目となっている。
一つ目の問題は、測距可能な最大距離が低減することである。一般に、レーザレーダから物体までの距離が長くなれば、反射もしくは散乱された光のピーク強度は低下し、Vthを超えなくなってくる。
二つ目の問題は、そもそもショットノイズの物理的な性質から、Vthをどれだけ高く設定しても、確率論的にVthを超えるショットノイズは存在することである。
このことから、Vthを徒に高く設定することは好ましくなく、適切な高さに設定し、ピーク強度がVthを超える信号すべてを演算部で処理される信号の候補とし、その候補を物体からの信号とショットノイズとに分離することが望ましい。
Mを多くすれば、物体からの信号を確実にキャッチできるが、処理部における処理時間が増え、フレームレートが遅くなる。一方で、Mを少なくする場合には、ショットノイズの数をMよりも充分に少なくする必要がある。このことは、測距可能な最大距離を低減することに他ならない。
Claims (18)
- 光源からの光を投光し物体で反射された光を受光素子で受光することで物体検出を行う物体検出装置であって、
前記受光素子からの信号を閾値Vthで二値化する二値化回路を備え、
前記二値化回路で二値化された信号のうちハイレベル信号がM回出力されるまで、同一方向について物体検出動作を行い、
Mの値は、前記受光素子におけるピーク強度が閾値Vthを超えるショットノイズの出現確率に基づいて設定されていることを特徴とする物体検出装置。 - 光源からの光を投光し物体で反射された光を受光素子で受光することで物体検出を行う物体検出装置であって、
前記受光素子からの信号を閾値Vthで二値化する二値化回路を備え、
前記二値化回路で二値化された信号のうちハイレベル信号がM回出力されるまで、同一方向について物体検出動作を行い、
Mの値に基づいて、閾値Vthが設定されていることを特徴とする物体検出装置。 - 当該物体検出装置が検出可能な物体までの最大距離をL、前記物体で反射された光による信号のパルス幅をωobj、前記ショットノイズの標準偏差をσsn、光速をc、標準正規累積分布関数をF(Vth、0、σsn)としたとき、
M≧F(−Vth、0、σsn)×(2L/c)×(1/ωobj)+1
を満足することを特徴とする請求項1又は2に記載の物体検出装置。 - 同一方向へN回投光したときに入力される、複数の信号をそれぞれが含むN個の信号群を平均化するための平均化回路を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の物体検出装置。
- 当該物体検出装置が検出可能な物体までの最大距離をL、前記物体で反射された光による信号のパルス幅をωobj、前記ショットノイズの標準偏差をσsn、光速をc、標準正規累積分布関数をF(Vth、0、σsn)としたとき、
M≧F(−Vth/N、0、σsn)×(2L/c)×(1/ωobj)+1
を満足することを特徴とする請求項4に記載の物体検出装置。 - M個の前記ハイレベル信号のパルス幅に基づいて、前記M個のハイレベル信号から、前記物体で反射された光によるハイレベル信号を抽出することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の物体検出装置。
- 前記物体で反射された光によるハイレベル信号に基づいて前記受光素子での受光タイミングを算出し、
投光時における前記光源の発光タイミング及び前記受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離を算出することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の物体検出装置。 - 前記光源からの光を投光する方向は、複数の方向であり、
前記複数の方向における前記物体までの距離に基づいて、該物体の形状を推定することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の物体検出装置。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の物体検出装置と、
前記物体検出装置の出力に基づいて、物体の移動の有無、移動方向及び移動速度の少なくとも1つを含む移動情報を求める監視制御装置と、を備えるセンシング装置。 - 前記物体の位置情報及び移動情報の少なくとも一方を表示する表示装置を更に備えることを特徴とする請求項9に記載のセンシング装置。
- 移動体に搭載され、
前記監視制御装置は、前記物体の位置情報及び移動情報の少なくとも一方に基づいて危険の有無を判断することを特徴とする請求項9又は10に記載のセンシング装置。 - 請求項9〜11のいずれか一項に記載のセンシング装置と、
前記センシング装置が搭載される移動体と、を備える移動体装置。 - 少なくとも1つの投光方向へ投光し物体で反射された光を受光素子で受光して、前記物体に関する情報を検出する物体検出方法であって、
前記投光方向へ投光する工程と、
前記投光時に前記受光素子からの信号に対して閾値Vthで二値化する二値化処理を含む処理を行う工程と、を含み、
前記二値化処理で二値化された信号のうちハイレベル信号をM回出力するまで、同一方向について前記物体に関する情報を検出する動作を行い、
Mの値は、前記受光素子におけるピーク強度が閾値Vthを超えるショットノイズの出現確率に基づいて設定されていることを特徴とする物体検出方法。 - 少なくとも1つの投光方向へ投光し物体で反射された光を受光素子で受光して、前記物体に関する情報を検出する物体検出方法であって、
前記投光方向へ投光する工程と、
前記投光時に前記受光素子からの信号に対して、閾値Vthで二値化する二値化処理を含む処理を行う工程と、を含み、
前記二値化処理で二値化された信号のうちハイレベル信号をM回出力するまで、同一方向について前記物体に関する情報を検出する動作を行い、
Mの値に基づいて、閾値Vthが設定されていることを特徴とする物体検出方法。 - 当該物体検出方法における検出可能な物体までの最大距離をL、前記物体で反射された光による信号のパルス幅をωobj、前記ショットノイズの標準偏差をσsn、光速をc、標準正規累積分布関数をF(Vth、0、σsn)としたとき、
M≧F(−Vth、0、σsn)×(2L/c)×(1/ωobj)+1
を満足することを特徴とする請求項13又は14に記載の物体検出方法。 - 前記投光する工程がN回行われ、
各回の投光時に前記受光素子から出力された電流に基づく複数の信号を含む信号群を蓄積する工程と、
蓄積されたN個の信号群を平均化する工程と、を更に含むことを特徴とする請求項13〜15のいずれか一項に記載の物体検出方法。 - 当該物体検出方法における検出可能な物体までの最大距離をL、前記物体で反射された光による信号のパルス幅をωobj、前記ショットノイズの標準偏差をσsn、光速をc、標準正規累積分布関数をF(Vth、0、σsn)としたとき、
M≧F(−Vth/N、0、σsn)×(2L/c)×(1/ωobj)+1
を満足することを特徴とする請求項16に記載の物体検出方法。 - 前記処理を行う工程で得られたM個のハイレベル信号のパルス幅に基づいて、前記M個のハイレベル信号から、前記物体で反射された光によるハイレベル信号を抽出する工程を更に含むことを特徴とする請求項13〜17のいずれか一項に記載の物体検出方法。
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