JPH10273390A - 半導体単結晶製造装置 - Google Patents

半導体単結晶製造装置

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JPH10273390A
JPH10273390A JP9095247A JP9524797A JPH10273390A JP H10273390 A JPH10273390 A JP H10273390A JP 9095247 A JP9095247 A JP 9095247A JP 9524797 A JP9524797 A JP 9524797A JP H10273390 A JPH10273390 A JP H10273390A
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single crystal
storage container
lowering
manufacturing apparatus
semiconductor single
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Yutaka Shiraishi
裕 白石
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    • C30B15/30Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 減圧されたチャンバ内において大径、大重量
の単結晶を確実に且つ安全に引き上げる。 【解決手段】 種結晶を保持して上下方向に昇降させる
種結晶昇降機構と、形成される単結晶のくびれを把持す
る単結晶把持機構とを有する半導体製造装置であって、
種結晶昇降機構の少なくとも駆動部分14及び単結晶把
持機構の少なくとも駆動部分15を収納する収納容器1
0aと、収納容器を上下方向に昇降させる収納容器昇降
機構3、4とを設けた。収納容器を耐熱構造としたり、
収納容器の内部を冷却する冷却手段を更に設けることが
でき、収納容器を吊り下げるワイヤ3を巻き取る機構4
の動作に同期して、種結晶昇降機構や単結晶把持機構の
駆動用電源ケーブルや制御信号用ケーブル7の巻き取り
を行うよう構成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、引上げCZ(Czoc
hralski)法によりSi(シリコン)の無転位の単結晶
を製造するための半導体単結晶製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、引上げCZ法による単結晶製造
装置では、グラファイトにより構成された高耐圧気密チ
ャンバ内を10torr程度に減圧して新鮮なAr(アルゴ
ン)ガスを流すとともに、チャンバ内の下方に設けられ
た石英るつぼ内の多結晶を加熱して溶融し、この融液の
表面に種結晶を上から浸漬し、種結晶と石英るつぼを回
転、上下移動させながら種結晶を引き上げることによ
り、種結晶の下に上端が突出した円錐形の上部コーン部
と、円筒形のボディ部と下端が突出した円錐形の下部コ
ーン部より成る単結晶(いわゆるインゴット)を成長さ
せるように構成されている。
【0003】また、この成長方法として、種結晶を融液
の表面に浸漬したときの熱衝撃により種結晶に発生する
転位を除去(無転位化)するために、種結晶を融液の表
面に浸漬した後、引上げ速度を比較的速くすることによ
り種結晶より小径の、例えば直径が3〜4mmのネック
部を形成した後に、上記の上部コーン部の引上げを開始
するダッシュ(Dash)法が知られている。
【0004】さらに、この小径のネック部を介しては、
大径、大重量(150〜200kg以上)の単結晶を引
き上げることができないので、例えば特公平5−654
77号公報に示されるようにDash法により小径のネック
部を形成した後、引上げ速度を比較的遅くして大径を形
成し、次いで引上げ速度を比較的速くして小径を形成す
ることにより「球状のくびれ」を形成し、このくびれを
把持具で把持することにより大径、高重量の単結晶を引
き上げる方法が提案されている。また、くびれを把持す
る従来の装置としては、上記公報の他に、例えば特公平
7−103000号公報、特公平7−515号公報に示
されているものがある。
【0005】また、他の従来例としては、例えば特開平
5−270974号公報、特開平7−172981号公
報に示されるように上記「くびれ」を形成しないでボデ
ィ部をそのまま把持する方法や、特開昭63−2529
91号公報、特開平5−270975号公報に示される
ように上記「球状のくびれ」の代わりに、上部コーン部
とボディ部の間にボディ部より径が大きい「環状のくび
れ」を形成し、この「環状のくびれ」を把持する方法が
提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の把持装置ではいずれも、真空ポンプにより
10torr程度に減圧されたチャンバ内において、大径、
大重量(例えばボディ部の直径が400mm、重量が4
00kg)の単結晶を吊り下げる把持具と駆動源の伝達
機構が現実的ではなく、実際的でないという問題点があ
る。なお、もし単結晶と把持具の係止が外れて単結晶が
落下すると、転位が発生して単結晶が商品とならないば
かりか、石英るつぼが破損して最悪の場合には石英るつ
ぼを回転、上下移動させるためのるつぼ軸の内部の冷却
水と、高温の融液が反応して水蒸気爆発が発生すること
もあり得る。
【0007】本発明は上記従来の問題点に鑑み、減圧さ
れたチャンバ内において大径、大重量の単結晶を確実に
かつ安全に引き上げることができる半導体単結晶製造装
置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、種結晶を保持して上下方向に昇降させる種
結晶昇降機構の少なくとも駆動部と、種結晶の下に形成
される単結晶のくびれを把持する単結晶把持機構の少な
くとも駆動部を1つの容器に収納し、この収納容器を上
下方向に昇降させるようにしたものである。すなわち本
発明によれば、引上げCZ法により半導体単結晶を製造
するための半導体単結晶製造装置であって、種結晶を保
持して上下方向に昇降させる種結晶昇降機構と、前記種
結晶の下に形成される単結晶のくびれを把持する単結晶
把持機構とを有するものにおいて、前記種結晶昇降機構
の少なくとも駆動部分及び前記単結晶把持機構の少なく
とも駆動部分を収納する収納容器と、前記収納容器を上
下方向に昇降させる収納容器昇降機構とを、設けたこと
を特徴とする半導体単結晶製造装置が提供される。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明に係る半導体単結晶
製造装置の一実施形態の要部を示す側断面図、図2は図
1の単結晶保持装置を詳細に示す正面拡大断面図、図3
は図2の単結晶保持装置を示す側面図、図4は図2の単
結晶保持装置に冷却ガス取り込み機能を持たせた変形例
を示す外観図である。
【0010】図1は、単結晶1をチャンバ2内において
引き上げる製造装置の要部を模式的側断面図により示し
ている。単結晶保持装置10はチャンバ2内の上部にお
いてワイヤ3により吊り下げられ、ワイヤ3はワイヤ巻
取りドラム4と図示省略のワイヤ巻取りモータにより巻
き取られる。また、ワイヤ巻取りドラム4などはチャン
バ2の上方のドラム収納部2a内に配置され、ドラム収
納部2aはチャンバ2に対して回転可能に取り付けら
れ、したがって、単結晶保持装置10はドラム収納部2
aが回転すると回転し、ワイヤ3、ワイヤ巻取りドラム
4などにより昇降する。
【0011】単結晶保持装置10にはまた、チャンバ2
の外側に設けられたモータ電源5とモータ制御装置6か
らそれぞれ電力・制御用ケーブル7を介して電源・モー
タ制御信号が印加され、電力・制御用ケーブル7は図1
に回転方向を矢印で示すように単結晶保持装置10が回
転しても捩じれないように、ドラム収納部2aに形成さ
れたスリップリング8を介してモータ電源5とモータ制
御装置6に接続される。なお、チャンバ2の下方には、
図示が省略されているが、石英るつぼやその回転・昇降
機構、石英るつぼを加熱するヒータなどが配置される。
【0012】次に、図2及び図3を参照して単結晶保持
装置10の構成を詳細に説明する。この単結晶保持装置
10は円筒形の断熱容器10aと、単結晶1を把持する
ために断熱容器10aの下方に設けられた一対の把持具
20を有し、また、断熱容器10aの下方には熱遮蔽板
11が取り付けられている。これらの部材はグラファイ
ト、セラミック、モリブデン、カーボンなどのいずれか
により形成される。
【0013】また、断熱容器10aの内部を冷却するた
めに、断熱容器10aの壁部の外側に図示省略の冷却フ
ィンを設けたり、断熱容器10aの内部にペルチェ素子
などの固体冷却素子を配したり、断熱容器10aの外部
のガスを断熱容器10aの内部に導く手段を設けること
は好ましい態様である。図4は断熱容器10aの上部に
Arガス収集用コーン10bを取り付けられ、断熱容器
10aの上端にはガス導入口10cが、下端にはガス排
出口10dが形成されている変形例を示している。ま
た、断熱容器10aの断熱効果を高めるため、断熱容器
10aの壁部の内側に熱伝導率が低い、例えばセラミッ
ク材料を貼付するようにしてもよい。
【0014】断熱容器10aの内部には種結晶(シー
ド)12を保持する種結晶ホルダ13を上下に移動させ
るためのシード昇降機構14と、把持具20の下端部2
0C、20Dを開閉・揺動させるための把持具開閉機構
15とバランスウエイト16などが配置されている。こ
れらは、断熱容器10aの内部に取り付けられた基板9
上に設けられ、基板9からは下方へ伸長するガイドレー
ル24が取り付けられている。シード昇降機構14と把
持具開閉機構15の内部構造は図示省略されているが、
それぞれシード昇降モータと把持具開閉モータ及びギヤ
機構を有する。種結晶ホルダ13は連結シャフト17の
下端に取り付けられ、また、連結シャフト17の上端に
形成されたギヤ部がシード昇降機構14内のギヤ機構に
歯合している。したがって、シード昇降機構14内のシ
ード昇降モータが回転すると連結シャフト17と種結晶
ホルダ13が上下方向に移動する。
【0015】一対の把持具20の上端は、断熱容器10
aの上方の位置に設けられた軸21の回りを回動可能で
あるように取り付けられ、把持具20の下端部20C、
20Dには単結晶1のくびれを把持するための開口22
が設けられている。また、把持具20の中央部にはスリ
ット23が形成されている。また、把持具開閉機構15
内のギヤ機構がロッド26の上端に形成されたギヤ部に
歯合し、ロッド26の下端に取り付けられた可動板27
がガイドレール24に沿って上下する。図3において、
一対の把持具20は後述するように、可動板27の上下
動に応じて開閉するが、閉じた状態が実線で、開いた状
態が点線で示されている。
【0016】図5は可動板27の平面図である。可動板
27には連結シャフト17を通すための中央口27a、
ガイドレール24を通すための4つの穴27bが設けら
れ、さらに外部へ伸長するボス25が4個設けられてい
て、このボス25が把持具20の4つのスリット23に
それぞれ係合している。したがって、把持具開閉機構1
5内の把持具開閉モータが回転してロッド26が上方向
に移動すると可動板27が上昇し、よってそのボス25
がスリット23に沿って上昇し、スリット23の上端と
係合すると把持具20の下端部20C、20Dが開くこ
ととなる。他方、ロッド26が下方向に移動すると可動
板27が下降し、よってボス25がスリット23に沿っ
て下降し、スリット23の下端と係合して把持具20の
下端部20C、20Dが閉じる。
【0017】図6は把持具20の下端部20C、20D
の開閉状態を説明するための平面図である。図3に示す
ように、この実施形態では一対の把持具20は単結晶の
引上げ方向に実質的に垂直な方向(図6中の矢印方向)
に移動可能な2つのアーム20A、20Bとなってお
り、その下端部20C、20Dには、単結晶のくびれの
径大部を下から保持するように開口22へ向って厚さが
薄くなるよう傾斜したベベル部20E、20Fを有して
いて、2つのベベル部20E、20Fは、2つのアーム
20A、20Bの下端部20C、20Dが閉じたとき、
円形の開口22を形成する形状となっている。なお、図
6は側面Wが2つのアーム20A、20Bのの下端部2
0C、20Dが完全に閉じる少し前の状態を示してい
る。なお、アーム20A、20Bは、くびれを保持する
に十分な力を加えることができるよう、下端部20C、
20Dを除く部分は幅が40mm程度、厚さが10mm
程度、長さが600mm程度であり、また、下端部20
C、20Dは厚さが20〜30mmである。
【0018】このような構成において、単結晶1を製造
する場合、チャンバ2内を10torr程度に減圧して新鮮
なAr(アルゴン)ガスを流すとともに、チャンバ2内
の下方に設けられた石英るつぼ内の多結晶を加熱して溶
融し、また、単結晶保持装置10と石英るつぼを回転さ
せる。そして、チャンバ2の下方の石英るつぼ内のSi
融液の表面に対して把持具20の下端は接触せず、種結
晶12が浸漬するように、把持具20が開いた状態でワ
イヤ巻取りドラム4により結晶保持装置10を下降させ
るとともにシード昇降機構14により種結晶12を下降
させる。次いで所定時間の経過後に種結晶12を比較的
速い速度で引き上げることにより、種結晶12の下に直
径が3〜4mmの小径のネック部1aを形成させ、次い
で引上げ速度を比較的遅くして大径を形成した後に引上
げ速度を比較的速くしてネック部1aの下に球状のくび
れ1bを形成させる。
【0019】次いでくびれ1bの下に、単結晶1の重量
に耐えることができる直径の第2のネック部1cを形成
させるとともに、結晶保持装置10の高さ位置と種結晶
12の高さ位置を制御することにより把持具開閉機構1
5により把持具20の下端を閉じてくびれ1bの下を把
持させる。そして、把持具20がくびれ1bの下を把持
すると、結晶保持装置10の上昇を行ってその速度を徐
々に遅くすることにより上部コーン部1dを形成させ、
次いで一定の速度で引き上げることにより円筒形のボデ
ィ部1eを形成させる。なお、引き上げ時には、石英る
つぼはSi融液の表面の高さ位置は常に一定になるよう
に上昇させる。
【0020】なお、同期して、シード昇降機構14や単
結晶把持具開閉機構15の駆動用電源ケーブル及び/又
は制御信号用ケーブルの巻き取りを行う機構を設け、結
晶保持装置10を吊り下げているワイヤ3を巻き取るワ
イヤ巻取ドラム4の回転に同期して駆動用電源ケーブル
や制御信号用ケーブル7の巻き取りを行うようにするこ
とは好ましい態様である。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、種
結晶を保持して上下方向に昇降させる種結晶昇降機構の
少なくとも駆動部と、種結晶の下に形成される単結晶の
くびれを把持する単結晶把持機構の少なくとも駆動部を
1つの容器に収納し、この収納容器を上下方向に昇降さ
せるようにしたので、減圧されたチャンバ内において大
径、大重量の単結晶を確実に且つ安全に引き上げること
ができる。また、容器を断熱構造とし、冷却機能を持た
せることにより、内部の駆動部に悪影響を及ぼすことを
防止することができ、収納容器を吊り下げるワイヤを巻
き取る機構の動作に同期して、種結晶昇降機構や単結晶
把持機構の駆動用電源ケーブルや制御信号用ケーブルの
巻き取りを行うよう構成すれば、これらのケーブルが邪
魔になったりせず便利である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体単結晶製造装置の一実施形
態の要部を示す側断面図である。
【図2】図1の単結晶保持装置を詳細に示す正面拡大断
面図、である。
【図3】図2の単結晶保持装置を示す側面図である。
【図4】図2の単結晶保持装置の変形例を示す外観図で
ある。
【図5】図2中の可動板の平面図である。
【図6】図3中の一対の把持具としての2つのアームの
下端を示す平面図である。
【符号の説明】
1 単結晶 2 チャンバ 2a ドラム収納部 3 ワイヤ 4 ワイヤ巻取りドラム 5 モータ電源 6 モータ制御装置 7 ケーブル 8 スリップリング 10 単結晶保持装置 10a 円筒形の断熱容器(収納容器) 10b ガス収集用コーン 10c ガス導入口 10d ガス排出口 11 熱遮蔽板 12 種結晶 13 種結晶ホルダ 14 シード昇降機構 15 把持具開閉機構 17 シャフト 20 把持具 20A、20B 把持具を構成するアーム 20C、20D アームの下端部 20E、20F アームの下端部のベベル部 21 軸 22 開口 23 スリット 24 ガイドレール 25 ボス 26 ロッド 27 可動板

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 引上げCZ法により半導体単結晶を製造
    するための半導体単結晶製造装置であって、 種結晶を保持して上下方向に昇降させる種結晶昇降機構
    と、 前記種結晶の下に形成される単結晶のくびれを把持する
    単結晶把持機構とを有するものにおいて、 前記種結晶昇降機構の少なくとも駆動部分及び前記単結
    晶把持機構の少なくとも駆動部分を収納する収納容器
    と、 前記収納容器を上下方向に昇降させる収納容器昇降機構
    とを、 設けたことを特徴とする半導体単結晶製造装置。
  2. 【請求項2】 前記収納容器が耐熱構造である請求項1
    記載の半導体単結晶製造装置。
  3. 【請求項3】 前記収納容器の内部を冷却する冷却手段
    を更に設けた請求項1又は2記載の半導体単結晶製造装
    置。
  4. 【請求項4】 前記冷却手段が前記収納容器の外部に設
    けた冷却フィン、前記収納容器の内部に設けた固体冷却
    素子、前記収納容器の外部のガスを前記収納容器内に導
    く手段のいずれか1つ以上を有する請求項3記載の半導
    体単結晶製造装置。
  5. 【請求項5】 前記単結晶把持機構が前記収納容器の下
    方にあって前記単結晶の引上げ方向に対して実質的に垂
    直方向に移動して開閉し、単結晶のくびれの径大部を下
    方から把持する2以上の部材を有する請求項1記載の半
    導体単結晶製造装置。
  6. 【請求項6】 前記単結晶把持機構が前記収納容器のい
    ずれかの点を中心に回動する複数のアームと、前記アー
    ムに設けられたスリットに沿って移動可能な部材とを有
    する請求項1記載の半導体単結晶製造装置。
  7. 【請求項7】 前記収納容器昇降機構が前記収納容器を
    吊り下げるワイヤを巻き取る機構を有している請求項1
    記載の半導体単結晶製造装置。
  8. 【請求項8】 前記ワイヤを巻き取る機構の動作に同期
    して、前記種結晶昇降機構及び/又は前記単結晶把持機
    構の駆動用電源ケーブル及び/又は制御信号用ケーブル
    の巻き取りを行う同期巻き取り機構を更に有する請求項
    7記載の半導体単結晶製造装置。
JP9095247A 1997-03-28 1997-03-28 半導体単結晶製造装置 Withdrawn JPH10273390A (ja)

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KR1019980007119A KR19980079893A (ko) 1997-03-28 1998-03-04 반도체 단결정 제조장치
TW087103352A TW408199B (en) 1997-03-28 1998-03-07 Semiconductor single crystal manufacturing apparatus
EP98104231A EP0867534A3 (en) 1997-03-28 1998-03-10 Semiconductor single crystal manufacturing apparatus
US09/037,515 US6033472A (en) 1997-03-28 1998-03-10 Semiconductor single crystal manufacturing apparatus

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