JPH095988A - 感放射線性塗布組成物 - Google Patents

感放射線性塗布組成物

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JPH095988A
JPH095988A JP15494495A JP15494495A JPH095988A JP H095988 A JPH095988 A JP H095988A JP 15494495 A JP15494495 A JP 15494495A JP 15494495 A JP15494495 A JP 15494495A JP H095988 A JPH095988 A JP H095988A
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methyl
ethyl
radiation
solvent
sensitive
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JP15494495A
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Mineo Nishi
峰雄 西
Koji Nakano
浩二 中野
Tadashi Kusumoto
匡 楠本
Yasuhiro Kawase
康弘 河瀬
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Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 塗布性が良好で、発泡が起こりにくい感放射
線性塗布組成物を提供する。 【構成】 ベース樹脂、感放射線化合物、及び溶媒を含
有する感放射線性塗布組成物において、溶媒として下記
一般式で表わされる化合物を含有する溶媒を用い、且つ
ノニオン素含フッ素界面活性剤を含有することを特徴と
する感放射線性塗布組成物。 【化1】 (式中、R1 、R2 及びR3 はハロゲン原子で置換され
ていても良いメチル基又はエチル基を表し、相互に同じ
でも異なっていても良い。R4 は水素原子、ハロゲン原
子で置換されていても良いメチル基又はエチル基を表
す。)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に放射線に感応する
感放射線性塗布組成物に関するものであり、詳しくはベ
ース樹脂、感放射線化合物、及び溶媒からなる感放射線
性塗布組成物の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】集積回路は年を追うごとに高集積度化さ
れ、ダイナミックランダムアクセスメモリー(DRA
M)を例にとれば、現在では、4Mビットの記憶容量を
持つものの本格生産が開始されている。それに伴い集積
回路の生産に不可欠のフォトリソグラフィー技術に対す
る要求も年々厳しくなってきており、例えば、1Mビッ
トDRAMの生産には、1μmレベルのリソグラフィー
技術が必要とされ、4M、16MDRAMにおいては、
それぞれ、0.8μm、0.5μmレベルのリソグラフ
ィー技術が必要とされるといわれている。
【0003】この要求を満たすために、高性能の感放射
線性塗布組成物の開発が鋭意行われているが使用するプ
ロセス側からは本質的な高解像等の性能に加え感度、塗
布膜厚の均一性、基板との密着性、耐熱性、組成物の保
存安定性等種々の観点より高性能な組成物が要求されて
いる。一方、従来感放射線性塗布組成物に使用されてい
た溶媒であるエチルセロソルブアセテートは近年安全性
の問題が指摘されており、これにかわる溶媒が求められ
ている。
【0004】即ち、エチルセロソルブアセテートは生体
内にてエトキシ酢酸が生成し、このアルコキシ酢酸が毒
性を示すとされている(化学経済、1988年8月号7
2頁、及び、European Chemical I
ndustry Ecology and Toxic
ology Center Technical Re
port No.4 July 30,1982、及び
同No.17 April 19,1985)。
【0005】エチルセロソルブアセテートに代わる溶媒
として、例えば、特開昭61−6648号公報には、プ
ロピレングリコールメチルエーテル等のプロピレングリ
コールアルキルエーテル類が、特開昭61−7837号
公報には、プロピレングリコールメチルエーテルアセテ
ート等のプロピレングリコールアルキルエーテルアセテ
ート類が、特開昭62−123444号公報には、メト
キシ酢酸メチル、エトキシ酢酸エチル、2−オキシ−2
−メチルプロピオン酸メチル(2−ヒドロキシ−2−メ
チルプロピオン酸メチルに同じ)、2−オキシプロピオ
ン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸エチル等のモノ
オキシモノカルボン酸エステル類が溶媒として提案され
ている。
【0006】一方、米国では乳酸エチル(2−オキシプ
ロピオン酸エチル)、3−エトキシプロピオン酸エチル
等が安全溶媒として使用されている(SEMICOND
UCTOR INTERNATIONAL 1988年
4月号132頁)。しかし、2−オキシプロピオン酸エ
チルは、近年、安全性の高い溶媒として評価されている
ものの、感放射線性塗布組成物の粘性が高くなり、近年
LSI製造用に使用され始めた8インチ等の大口径ウェ
ハーでは、ウェハー面内の塗布均一性が悪くなり、工業
的な価値が低減されるという問題点が提起されている。
それを改善するため、プロピレングリコールメチルエー
テルアセテート、酢酸ブチル、3−エトキシプロピオン
酸エチル等との混合溶媒も提案されている(特開平6−
51506号公報、特開平6−214383号公報、特
開平6−273929号公報)。
【0007】感放射線性組成物塗布膜の塗布均一性が良
好であることが要求されることは当然であるが、ウェハ
ー面内の塗布均一性については、激しい場合には目視に
て観察できるストリエーションと呼ぶ現象が生じる。ス
トリエーションとは、ウェハー中心より放射状に筋状の
模様が現れる現象を言い、塗布膜厚の薄い所と厚い所が
この放射状の筋に交互に分布している現象である。通
常、界面活性剤を塗布性改良剤として添加しストリエー
ションを改善しているが、溶媒の種類、界面活性剤の種
類によっては改善が十分ではないこともあり、ストリエ
ーションを起こしにくい感放射線性塗布組成物が求めら
れている。
【0008】これを解決するため、特開昭62−366
57号公報にはモノオキシモノカルボン酸エステル類に
フッ素系界面活性剤を添加した系が提案されている。し
かし、ストリエーションは解決されたもののウェハー全
面への塗布均一性や、露光時の発泡問題の解決が不十分
であり解決が求められていた。即ち、塗布性改良剤の種
類によっては、或いは、塗布性改良剤と溶媒の組み合わ
せが不良であると、ストリエーションの発生のみなら
ず、それ以外の塗布均一性不良が発生する場合があり、
例えば、ウェハーに滴下する量を少なくするとウェハー
端部まで良好に塗布できない現象が発生するので、滴下
する量が少なくてもウェハー端部まで良好に塗布できる
塗布均一性の良好な感放射線性塗布組成物が求められて
いた。この現象は近年の大口径(8インチ以上)のウェ
ハーを用いる工程にて顕著に発生し、製造コストにも関
係し改善が求められている。
【0009】一方、近年の高性能感放射線性塗布組成物
では露光時の発泡現象が問題となってきている。発泡現
象とは、感放射線性塗布組成物をウェハーに塗布した段
階では膜内に何ら気泡は存在しないが、露光により、キ
ノンジアジド基等が分解し発生する窒素ガス等が膜外へ
速やかに拡散放出されないで膜内にて気泡を生成する現
象をいう。生成した気泡が大きければ本来現像後に残存
しなければならない部分がえぐれた転写パターン形状と
なったり、又、発泡が更に激しい場合は塗布膜と基板界
面にて気泡が生成し、塗布膜が浮き上がることにより現
像後に残るべきパターンが剥がれて消失してしまう等の
問題が発生する。
【0010】かかる発生した気泡は光学顕微鏡にて観察
して確認することもできるし、ウェハー上のパーティク
ルを測定する、レーザー表面検査装置にて気泡数を測定
することもできる。特に、近年の高性能の感放射線性塗
布組成物は、キノンジアジド基等を含有する感放射線性
化合物を多く配合しており、相対的に発泡現象が起きや
すい(窒素ガス等が多く発生しやすい)組成物となって
おり、改善が要望されている。
【0011】この発泡現象の起きる程度の差が何に起因
するのかは定かではないが、塗布膜中に残存する溶媒の
種類、ストリエーションを防止するための界面活性剤の
種類、その双方の組合せのマッチング等が原因と推定さ
れており、即ち、界面活性剤の種類、溶媒との組み合わ
せ等が不良であると塗布膜と基板界面の接着性が弱くな
り、発泡等が惹起されるので、溶媒のみならず良好な界
面活性剤、及びその組合せも又、要望されていた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
の背景に鑑み、エチルセロソルブアセテート、乳酸エチ
ル等にかわる溶媒と特定の界面活性剤の組み合せにて塗
布性等が従来と同等以上であり、上記発泡現象の少ない
感放射線性塗布組成物を提供することにある。
【0013】
【課題を解決する手段】本発明者等は、かかる目的を達
成するべく検討の結果、モノオキシモノカルボン酸エス
テル類のなかでも従来感放射線性塗布組成物用の溶媒と
して知られていなかった特別の構造式を有する化合物を
含有する溶媒と特定の界面活性剤の組み合せだけが選択
的に特異な効果を発揮し、感放射線性塗布組成物の溶媒
として最適であることを見出した。即ち、本発明の要旨
は、ベース樹脂、感放射線化合物、及び溶媒を含有する
感放射線性塗布組成物において、溶媒として下記の一般
式(I)で表わされる化合物を含有する溶媒を用い、且
つノニオン系含フッ素界面活性剤を含有することを特徴
とする感放射線性塗布組成物に存する。
【0014】
【化2】
【0015】(式中、R1 ,R2 及びR3 はハロゲン原
子で置換されていても良いメチル基、又は、エチル基を
表し、相互に同じでも異なっていても良い。R4 は水素
原子、ハロゲン原子で置換されていても良いメチル基、
又は、エチル基を表す。)
【0016】以下に本発明を詳細に説明する。本発明に
て用いられるベース樹脂は一般的にはアルカリ可溶性樹
脂であり、より具体的には、ノボラック樹脂、ポリヒド
ロキシスチレンもしくはその誘導体、スチレン−無水マ
レイン酸共重合体等が挙げられ、好ましくはノボラック
樹脂、ポリヒドロキシスチレンもしくはその誘導体であ
る。
【0017】ノボラック樹脂としては、フェノール、o
−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、3−
エチルフェノール、2,5−キシレノール、3,5−キ
シレノール、フェニルフェノール等のアルキル基又はア
リール基で置換されていてもよいフェノール類;2−メ
トキシフェノール、4−メトキシフェノール、4−フェ
ノキシフェノール等のアルコキシ又はアリ−ルオキシフ
ェノール類;α−ナフトール、β−ナフトール、3−メ
チル−α−ナフトール等のアルキル基で置換されていて
もよいナフトール類;1,3−ジヒドロキシベンゼン、
1,3−ジヒドロキシ−2−メチルベンゼン、1,2,
3−トリヒドロキシベンゼン、1,2,3−トリヒドロ
キシ−5−メチルベンゼン、1,3,5−トリヒドロキ
シベンゼン等のアルキル基で置換されていてもよいポリ
ヒドロキシベンゼン類等のヒドロキシ芳香族化合物とホ
ルムアルデヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒド等の脂肪族アルデヒド類、ベンズアルデヒド、ヒド
ロキシベンズアルデヒド等の芳香族アルデヒド類、アセ
トン等のアルキルケトン類等のカルボニル化合物とを、
例えば塩酸、硫酸、しゅう酸等の酸性触媒の存在下、加
熱し、重縮合させることにより製造されたものが挙げら
れる。
【0018】尚、上記ヒドロキシ芳香族化合物は本発明
に悪影響を与えないかぎりハロゲン原子、ニトロ基、エ
ステル基等の置換基を有していても良い。又、これらの
樹脂は必要に応じ、更に、水素等により還元し、短波長
領域の吸光を低くしたものを用いても良い。ポリヒドロ
キシスチレンもしくはその誘導体としては、例えば、4
−ヒドロキシスチレン、3−メチル−4−ヒドロキシス
チレン、3−クロロ−4−ヒドロキシスチレン等の重合
物が挙げられる。尚、これらの樹脂は必要に応じ更に、
水素等により還元し、短波長領域の吸光を低くしたもの
を用いても良く、又、芳香族化合物モノマー中に本発明
に悪影響を与えないかぎりハロゲン原子、ニトロ基、エ
ステル基等の置換基を有していても良い。又、フェノー
ル性の水酸基はt−ブチルオキシカルボニル基等のエス
テル化物として置換して使用しても良い。
【0019】ベース樹脂の最適な重量平均分子量は、通
常2,000〜30,000、好ましくは、3,000
〜20,000である。又、感放射線性塗布組成物の性
能上、低分子量成分を除いた樹脂、或いは、分子量の異
なる樹脂を2種類以上混合した(分子量分布をひろげ
た)樹脂をもちいてもよい。又、分別結晶等の手法にて
上記樹脂中の低分子量成分を除いたベース樹脂を用いる
こともできる。
【0020】本発明に用いられる感放射線化合物として
は、通常オルトキノンジアジド基を含む感光剤、アジド
化合物、又はポリハロゲン化炭化水素基を含む光酸発生
剤等を挙げることができる。オルトキノンジアジド基を
含む感光剤としては、通常、1,2−ベンゾキノンジア
ジド−4−スルホン酸、1,2−ナフトキノンジアジド
−4−スルホン酸、1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸等のエステルもしくはアミド等のオルトキ
ノンジアジド系感光剤であり、具体的にはグリセリン、
ペンタエリスリトール等のポリヒドロキシアルキル化合
物又はノボラック樹脂、ビスフェノールA、4,4′,
4”−トリヒドロキシフェニルメタン、没食子酸エステ
ル、ケルセチン、モリン、ポリヒドロキシベンゾフェノ
ン等のポリヒドロキシ芳香族化合物と1,2−ベンゾキ
ノンジアジド−4−スルホン酸、1,2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホン酸、1,2−ナフトキノンジア
ジド−5−スルホン酸等のエステル類が好ましく用いら
れる。このなかでも、フェノール性水酸基含有化合物の
エステル化物が好ましく、特にポリヒドロキシベンゾフ
ェノン又はノボラック樹脂のエステル化物が特に好まし
い。又、1分子中に2個以上、好ましくは3個以上のオ
ルトキノンジアジド基を含む感光剤が好ましい。
【0021】アジド化合物としては、例えば、4,4′
−ジアジドスチルベン、p−フェニレンビスアジド、
4,4′−ジアジドベンゾフェノン、4,4′−ジアジ
ドカルコン、4,4′−ジアジドジフェニル、4,4′
−ジアジドジフェニルメタン、4,4′−ジアジド−
3,3′−ジメチルジフェニル、2,7−ジアジドフル
オレン、4,4′−ジアジドジベンジル、4,4′−ジ
アジドフェニルエーテル、3,3′−ジクロロ−4,
4′−ジアジドジフェニルメタン、3,3′−ジアジド
フェニルスルホン、4,4′−ジアジドフェニルスルホ
ン、4,4′−ジアジドフェニルスルフィド、4,4′
−ジアジドフェニルジスルフィド、2,6−ビス(4′
−アジドベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス
(4′−アジドベンザル)−4−メチルシクロヘキサノ
ンなどを挙げることができる。
【0022】ポリハロゲン化炭化水素基を含む光酸発生
剤としては、通常、ヘキサクロロエタン、ヘキサクロロ
アセトン、1,2,3,4,5,6−ヘキサクロロシク
ロヘキサン、四臭化炭素、ヨードホルム、1,1,2,
2−テトラブロモエタン等のポリハロゲン化炭化水素基
を含む光酸発生剤等が挙げられる。これらのポリハロゲ
ン化炭化水素基は、例えば、トリス(トリクロロメチ
ル)−s−トリアジン、ビス(トリブロモメチル)ベン
ゼン、トリブロモメチルフェニルスルホン等のように、
トリアジン、ベンゼン等の置換基として、あるいはスル
ホン化合物の構成基として含有されていてもよい。又、
ジフェニールヨードニウムヘキサフルオロホスホネー
ト、ジフェニールヨードニウムクロライド等のヨードニ
ウム塩、トリフェニールスルホニウムヘキサフルオロホ
スホネート、トリフェニールスルホニウムブロマイド等
のスルホニウム塩等のオニウム塩を光酸発生剤として用
いることもできる。
【0023】又、必要に応じ、酸性条件下で作用する、
アルカリ可溶性樹脂の架橋剤を添加することもできる。
この架橋剤の具体例としてはヘキサメトキシメチル化メ
ラミン、N,N,N′,N′−テトラヒドロキシメチル
サクシナミド、テトラメトキシメチル化尿素、2,4,
6−トリヒドロキシメチル化フェノール等のヒドロキシ
メチル基、メトキシメチル基、エトキシメチル基等の架
橋剤基を一分子中に2個以上含有する化合物が挙げられ
る。
【0024】上記の感放射線化合物のなかでもオルトキ
ノンジアジド基を含む感放射線化合物が特に好ましい。
本発明では、溶媒として公知のモノオキシモノカルボン
酸エステル類のなかでも特に前記一般式(I)で表わさ
れる化合物を含有する溶媒を用いることを特徴とする。
前記一般式(I)に於て、R1 〜R4 で表わされるハロ
ゲン原子で置換されていても良いメチル基又はエチル基
の置換基であるハロゲン原子としては塩素原子等が挙げ
られる。
【0025】これらの溶媒の具体例としては、2−メチ
ル−3−メトキシプロピオン酸メチル、2−メチル−3
−メトキシプロピオン酸エチル、2−エチル−3−メト
キシプロピオン酸メチル、2−エチル−3−メトキシプ
ロピオン酸エチル、2−メチル−3−エトキシプロピオ
ン酸メチル、2−メチル−3−エトキシプロピオン酸エ
チル、2−エチル−3−エトキシプロピオン酸メチル、
2−エチル−3−エトキシプロピオン酸エチル、2−メ
チル−3−メチル−3−メトキシプロピオン酸メチル、
2−メチル−3−メチル−3−エトキシプロピオン酸メ
チル、2−エチル−3−メチル−3−メトキシプロピオ
ン酸メチル、2−エチル−3−メチル−3−エトキシプ
ロピオン酸メチル、2−メチル−3−エチル−3−メト
キシプロピオン酸メチル、2−メチル−3−エチル−3
−エトキシプロピオン酸メチル、2−エチル−3−エチ
ル−3−メトキシプロピオン酸メチル、2−エチル−3
−エチル−3−エトキシプロピオン酸メチル、2−メチ
ル−3−メチル−3−メトキシプロピオン酸エチル、2
−メチル−3−メチル−3−エトキシプロピオン酸エチ
ル、2−エチル−3−メチル−3−メトキシプロピオン
酸エチル、2−エチル−3−メチル−3−エトキシプロ
ピオン酸エチル、2−メチル−3−エチル−3−メトキ
シプロピオン酸エチル、2−メチル−3−エチル−3−
エトキシプロピオン酸エチル、2−エチル−3−エチル
−3−メトキシプロピオン酸エチル、2−エチル−3−
エチル−3−エトキシプロピオン酸エチル、2−クロロ
メチル−3−メトキシプロピオン酸メチル、2−クロロ
メチル−3−クロロメチル−3−メトキシプロピオン酸
メチル等が挙げられる。
【0026】このなかでも上記R4 が水素原子の化合物
が好ましく、更に具体的には、2−メチル−3−メトキ
シプロピオン酸メチル、2−メチル−3−メトキシプロ
ピオン酸エチル、2−メチル−3−エトキシプロピオン
酸メチル、2−メチル−3−エトキシプロピオン酸エチ
ルが好ましく、特に、2−メチル−3−メトキシプロピ
オン酸メチル、2−メチル−3−エトキシプロピオン酸
エチルが好ましい。
【0027】本発明では、発明の効果を損なわない範囲
内にて酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコール
モノメチルエーテルアセテート、乳酸エチル、ピンビン
酸エチル、シュウ酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、シ
クロヘキサノン、メチルアミルケトン、キシレン等を混
合した溶媒を用いることもできる。この場合の好ましい
混合範囲は通常本発明の溶媒が60重量%以上、好まし
くは70重量%以上、更に好ましくは80重量%以上と
して用いるのが良い。本発明では、更に、塗布性改良剤
として添加する界面活性剤としてノニオン系含フッ素系
界面活性剤を用いることを特徴とする。具体的には、次
のフッ素原子を含有する構造単位のいずれかを分子内に
有する、いわゆる、ノニオン系フッ素系界面活性剤が挙
げられる。
【0028】
【化3】 Rf−Om −(Rd−0)n − (a) Rf−SO2 −N(Rr)−(Rd−O)n − (b) Rf−CO−N(Rr)−(Rd−O)n − (c)
【0029】
【表1】 Rf:水素原子を含有してもよいパーフルオロアルキル
基を表す。 Rd:アルキレン基を表し、nが複数の場合同じでも異
なっていても良い。 Rr:水素原子又はアルキル基を表し、同じでも異なっ
ていても良い。 m :0又は1の整数を表す。 n :0又は1以上の整数を表す。
【0030】又、これらのフッ素原子を含有する構造単
位は、末端が水素原子、アルキル基の形でもよいし、ア
クリル酸及び/又は、メタクリル酸のエステルの形であ
っても良い。市販品の具体例としては、三菱マテリアル
社製のEF−121,EF−122A,EF−122
B,EF−122C,EF−351,EF−352,E
F−801,EF−802,住友スリーエム社製のFC
−170C,FC−430,FC−431,旭硝子社製
のS−145,S−381,KC−30,KC−40,
KC−50,ダイキン工業社製のDS−401,DS−
403,DS−406,DS−451,大日本インキ化
学工業社製のF−142D,F−144D,F−17
1,F−172,F−173,F−177,F−179
等を挙げることができる。これらのなかでも、アクリル
酸及び/又はメタクリル酸のエステル化物の重合物が好
ましい。又、これらの重合物は、他の、例えば、フッ素
原子を含有してもよいエチレン誘導体、アクリル酸誘導
体、メタクリル酸誘導体等との共重合物でもよい。フッ
素系界面活性剤のなかでも、例えば、
【0031】
【化4】C8 17SO3 - + 、C8 17SO3 - NH
4 + 、C7 15CO2 - + 、C7 15CO2 - NH4
+ 、C8 17SO2 −NH−C3 6 + (CH3 3
・I-8 17SO2 −NH−C3 6 + (CH3 2 2
4 COO-
【0032】のようなイオン性の化合物では本発明の効
果が十分ではなく好ましくない。分子内のイオン性密度
が高すぎると(例えば、1分子中のイオン対の数が1分
子の総原子数に対し、0.01以上)本発明の効果が得
られず好ましくない。上記、ノニオン系含フッ素系界面
活性剤のなかでも、分子内にイオン対を含有するものも
あるが、イオン対の数が総原子数に対し、0.01未満
であれば、本発明の効果を妨害せず良好である。添加す
るフッ素系界面活性剤は1種類で又は2種類以上組み合
わせ使用しても良く、添加量は合計にて通常、感放射線
性塗布組成物に対し、5〜2000ppm、好ましくは
10〜1000ppmである。
【0033】本発明の感放射線性塗布組成物におけるベ
ース樹脂の濃度は通常、1〜30重量%であり、感放射
線化合物の濃度は通常、0.01〜15重量%である。
そしてベース樹脂に対する感放射線化合物の割合は、通
常、0.001〜1.0重量倍である。更に、本発明で
は、例えば、塗布性を向上させるため塗布性改良剤を、
基板よりの乱反射光の影響を少なくするために吸光性材
料、又、感度向上のための増感剤等の添加剤を添加する
こともできる。
【0034】
【実施例】次に、実施例を挙げて本発明を更に詳しく説
明するが、本発明はその要旨を越えない限り以下の実施
例によりなんら制限を受けない。尚、特に説明のないか
ぎり、精密盧過後の感放射線性組成物の取扱は500n
m以下の光をカットした所謂イェロールームのクラス1
00のクリーンルーム内で行った。又、実施例、比較
例、及び参考例に用いた感放射線性化合物、及び樹脂と
しては、下記のものを使用した。
【0035】
【表2】感放射線性化合物A:m−クレゾールとアセト
アルデヒドとを重縮合させて得られた樹脂(重量平均分
子量1000)の1,2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸エステル化物(フェノール性水酸基に対し4
0%のエステル化率) 樹脂A:m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キ
シレノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒドより
製造されたノボラック樹脂(重量平均分子量3500)
【0036】又、各表中の溶媒の略号は、下記の溶媒を
示す。
【0037】
【表3】 MMMP :2−メチル−3−メトキシプロピオ
ン酸メチル EL :2−ヒドロキシプロピオン酸エチル MHMP :2−ヒドロキシ−2−メチルプロピ
オン酸メチル
【0038】実施例1〜8、比較例1〜9、参考例1〜
2 感放射線性化合物A21.6g、樹脂A74.4g、及
び表−1に示す各溶媒300gの混合物に、更に、塗布
性改良剤として表−1に示す各界面活性剤を夫々150
ppmになるよう添加し、良好攪拌混合下溶解した。更
に、0.2μmのテフロン製フィルターにて精密濾過
し、感放射線性組成物を調製した。
【0039】これらの感放射線性組成物を、大日本スク
リーン社製のスピンコーターにて、4000rpmに
て、5インチのシリコンウェハーに塗布し、ホットプレ
ート上にて90℃で60秒間プリベーキングし、塗布膜
のストリエーション発生の有無を観察した。結果を表−
1に示す。評価は、ストリエーションの発生がなく良好
に塗布できた場合を○、ストリエーションの発生が激し
く良好に塗布できなかった場合を×とした。
【0040】
【表4】
【0041】
【表5】 *1〜*2:非フッ素系界面活性剤 *3〜*8:非ノニオン系フッ素系界面活性剤 *1 日本乳化剤社製 ポリオキシエチレンナフトール *2 花王(株)社製 エマルゲン903 ポリオキシ
エチレンノニルフェニルエーテル *3 住友スリーエム(株)社製 RfSO3 - ・NH
4 + (Rf:パーフルオロアルキル基) *4 住友スリーエム(株)社製 RfSO2 - ・NH
4 + *5 三菱マテリアル(株)社製 C8 17SO3 -
+ *6 三菱マテリアル(株)社製 RfSO2 NHC3
6 + (CH3 3 ・I- *7 三菱マテリアル(株)社製 C7 15CO2 -
+ *8 三菱マテリアル(株)社製 RfSO2 NHC3
6 + (CH3 22 4 CO2 -
【0042】実施例9、比較例10〜11 感放射線性化合物A18.9g、感放射線性化合物A2
3.1g、及び、表−2に示す各溶媒133gの混合物
に、更に、塗布性改良剤としてメガファックF−179
(大日本インキ化学工業(株)社製)を150ppmに
なるよう添加し、良好攪拌混合下溶解した。更に、0.
2μmのテフロン製フィルターにて精密濾過し、感放射
線性組成物を調製した。これらの感放射線性組成物を、
大日本スクリーン社製のスピンコーターにて、5インチ
のシリコンウェハーに塗布し、ホットプレート上にて9
0℃で60秒間プリベーキングし、1.035μmの塗
布膜厚の塗布組成物を得た。
【0043】この塗布組成物を日立電子エンジニアリン
グ社製のレーザー表面検査装置(LS−5000)にて
各感放射線性塗布膜厚中の気泡を測定した。気泡は0.
3μm以上の粒径のものをカウントした。測定後のウェ
ハーをGCA社製g線ステッパー(DSW6700B)
にて、表−2に示すように露光時間をかえ全面露光(露
光場所を移動させながら、各場所を表−2に示す時間露
光し、実質的に全面を露光)した。露光後の各ウェハー
の塗布膜中の気泡数を上記塗布後と同様に測定した。結
果を表−2に示す。結果は露光前後の測定値の差(露光
により増加した気泡数)として表示した。
【0044】
【表6】
【0045】実施例10、比較例12〜13 実施例9及び比較例10〜11に用いた各感放射線性組
成物を用い、大日本スクリーン社製のスピンコーターに
て、5インチのシリコンウェハーに各感放射線性組成物
の滴下量を1.8mlと減じ、1000rpmにて4秒
間、更に4000rpmにて25秒間振り切り塗布を行
った。(尚、実施例1〜9、比較例1〜11、参考例1
〜2は2mlと多かった。) 実施例10ではウェハー端部まで良好に塗布できたが、
比較例12〜13ではウェハー端部に数カ所、くさび状
に感放射線性組成物が全く塗布されていない場所が発生
した。又、実施例10では滴下量を更に1.2mlと減
じても良好に塗布できた。
【0046】
【発明の効果】本発明によれば特定の溶媒と特定の界面
活性剤を用いることにより、塗布性良好で、発泡現象の
少ない感放射線性塗布組成物が得られ実用上極めて有用
である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/027 H01L 21/30 502R (72)発明者 河瀬 康弘 北九州市八幡西区黒崎城石1番1号 三菱 化学株式会社黒崎開発研究所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベース樹脂、感放射線化合物、及び溶媒
    を含有する感放射線性塗布組成物において、溶媒として
    下記一般式で表わされる化合物を含有する溶媒を用い、
    且つノニオン系含フッ素界面活性剤を含有することを特
    徴とする感放射線性塗布組成物。 【化1】 (式中、R1 ,R2 及びR3 はハロゲン原子で置換され
    ていても良いメチル基又はエチル基を表し、相互に同じ
    でも異なっていても良い。R4 は水素原子、ハロゲン原
    子で置換されていても良いメチル基又はエチル基を表
    す。)
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