JPH09172196A - アルミニウム合金接合自己整合裏面電極型シリコン太陽電池の構造および製造 - Google Patents
アルミニウム合金接合自己整合裏面電極型シリコン太陽電池の構造および製造Info
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- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 83
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 83
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title abstract description 80
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 14
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 title description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 60
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 60
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 18
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 18
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims abstract description 9
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims description 98
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 39
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 210000001787 dendrite Anatomy 0.000 claims description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 5
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000374 eutectic mixture Substances 0.000 abstract description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 5
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 abstract description 3
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 description 43
- 238000013461 design Methods 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 8
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 7
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 7
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 7
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 5
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 4
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 4
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 4
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 4
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 4
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 4
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 description 3
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 3
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- 238000001017 electron-beam sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000002803 fossil fuel Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- SDTHIDMOBRXVOQ-UHFFFAOYSA-N 5-[bis(2-chloroethyl)amino]-6-methyl-1h-pyrimidine-2,4-dione Chemical compound CC=1NC(=O)NC(=O)C=1N(CCCl)CCCl SDTHIDMOBRXVOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BTBUEUYNUDRHOZ-UHFFFAOYSA-N Borate Chemical compound [O-]B([O-])[O-] BTBUEUYNUDRHOZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical group [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000002939 deleterious effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N hydron Chemical compound [H+] GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000010329 laser etching Methods 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010587 phase diagram Methods 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
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- H01L31/0224—Electrodes
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- H01L31/022441—Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
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- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/044—PV modules or arrays of single PV cells including bypass diodes
- H01L31/0443—PV modules or arrays of single PV cells including bypass diodes comprising bypass diodes integrated or directly associated with the devices, e.g. bypass diodes integrated or formed in or on the same substrate as the photovoltaic cells
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Abstract
供給に対抗できるように、太陽電池のユニット・コスト
を下げる。 【解決手段】 アルミニウム合金接合をセルの裏面(不
照射面)上に配置し、それによってアルミニウムの(ド
ーパント、電極金属および光反射器としての)所望の特
徴を裏面電極セルの利点と結合させる。セルの設計およ
び製造方法は、表面テクスチャリング、表面/裏面電界
少数キャリヤ・ミラー、酸化層を使用する表面不動態
化、光反射器としてのアルミニウム電極の使用、隣接す
るn+領域とp+領域による逆バイアスに対する本質的保
護、および面実装技術を使用してセルを相互接続するの
に適した改善された母線電極設計などの特徴を含む。オ
ーミック電極形成の改善された方法では、オーミック電
極を形成するための自己整合技法を使用する。
Description
池の改善された設計および方法に関する。
因、特に新しい設計、新しい材料および新しい製造技法
によって決まる。歴史上、太陽エネルギー変換効率を高
めようとする試みに公正に多くの努力が注がれた。進行
は劇的であった。照度AM1(地球の大気のある厚さを
透過する日光)に対して、1914年のセレン太陽電池
では1%の効率が得られた。1954年までにシリコン
単結晶セルに関して6%の効率が達成された。一方、1
980年代までに太陽電池に関して22%〜25%の効
率が報告された。レンズまたはミラーを使用して日光を
通常の強度よりもかなり大きい強度まで増大させる集光
セルに関して、代表的な化石燃料発電所の38%〜40
%の熱効率および軽水炉発電所の32%〜34%の効率
と比較して勝る27.5%の効率が報告された。
池が、住宅に電力を提供する場合など大規模用途にとっ
て経済的となるためには、高い効率以外の他の考慮事項
も重要となる。1つの要因はセルの製造コストである。
たいていの一戸建ての家庭は、平均的な家庭に十分な毎
年8500kW時の電気を提供する従来の設計の太陽電
池に十分な屋根面積を有するが、商業化への1つのネッ
クは、効率ではなく、太陽電池の単位面積当たりのコス
トを下げることである。この仕事の有望な候補は、シリ
コン太陽電池、特に高品質シリコンを有効に利用した薄
い(〜100μm)シリコン基板から製造したシリコン
太陽電池である。現在の課題は、現在のエネルギー価格
で従来の化石燃料による電力供給に対抗できるように、
これらの太陽電池のユニット・コストを下げることであ
る。これを行う1つの方法は改善された製造技法であ
る。
の設計に勝る利点を有する。そのような優れた設計の1
つは、特に薄いシリコン基板を使用した裏面電極型太陽
電池であろう。
た電子を光で発生した正孔から分離するpn接合を有す
る。太陽電池が適切に機能するためには、n型材料では
電子が電極の方に導かれる必要があり、p型材料では正
孔が電極の方に導かれる必要がある。半導体内の光強度
は深さとともに単調に減少し、したがってpn接合によ
って分離される前の正孔と電子の再結合を減らすため
に、pn接合は照射面に近いことが好ましい。薄いシリ
コン太陽電池では、セルの厚さが従来のシリコン太陽電
池の場合よりも薄く(〜300μm)、またフォトンが
電子正孔対または電荷担体対に変換される可能性が小さ
いが、光で発生した電子正孔対の平均寿命は、電子正孔
対がそれぞれ電極へ引かれるまである。すなわち、薄い
シリコン太陽電池では、少数キャリヤ拡散長がセルの厚
さに比較して相対的に大きくなり、したがってセルの性
能が過度に低下することがない。本発明では、少数キャ
リヤ拡散長はセルの厚さに等しいかまたはそれよりも長
い。
電池は、広いpn接合がセルの照射面で基板全体にわた
って形成された構造を有する。この従来の設計には、エ
ミッタ(一般にpn接合セルのp型層)が表面全体を覆
うので、エミッタをパターニングする必要がないため簡
単であるという長所がある。しかしながら、このタイプ
の配置では、表面とエミッタ層に対して同時に矛盾する
要件が課せられる。一方では、エミッタ拡散層は、浅い
必要があり、高いドーパント濃度で発生する再結合を減
らすために低いドーパント濃度(1×1019cm-3以
下)を有する必要がある。他方では、そのような浅い軽
くドープされたエミッタは、一般に100オーム/平方
以上の大きい層抵抗を有し(電流は従来のセルの上面層
中および電極グリッド配線間を横方向に流れ、層抵抗は
ドープ層の厚さに逆比例する)、したがって過度の抵抗
電力損を回避するためにグリッド電極配線の間隔を密に
する必要がある。
間隔を密にすると、電極材料による下地のシリコンのシ
ャドーイングのためにセルからの電力が低下した。さら
に、ドーパント濃度が低い場合、電極とドーパント層の
境界面がオーム性ではなく(ショットキー・ダイオード
のように)整流性となり、ダイオードのターンオン電圧
と関連する対応する電力損が生じる。しかし、ドーパン
ト濃度が高ければ高いほど、有害な、一般に入射光が当
たる面の近くで最も多く発生するエミッタ層中の電子と
正孔の再結合が増える。最後に、光トラッピング手段を
増すために表面にテクスチャリングを施す場合、電極配
線は、連続性を失うことなく粗い面上を通らなければな
らず、これは達成することが困難である。さらに、多孔
シリコン方法などいくつかのテクスチャリング方法で
は、容認できる均一さのエミッタ拡散層を作成すること
が一層困難になる。
ーミック接触形成を促進しかつシャドーイングを減らす
ために表面のドーパント濃度を高くしたい要望と、キャ
リヤ再結合を減らしかつ有効な表面不動態化を得るため
に表面のドーパント濃度を低くしたい要望とのバランス
を考える必要がある。テクスチャリングおよびシャドー
イングによる制約も問題である。他の方法は、セルの裏
面(不照射面)にpn接合を配置することである。その
ような裏面電極型太陽電池では、表面のテクスチャリン
グおよび不動態化に対する要件が、pn接合の形成およ
びエミッタとベースとの接触に対する要件から分離され
る。これは、pn接合を深くでき、極端な結果を伴うこ
となくエミッタに強くドープできることを意味する。表
面上に電極がないので照射面のシャドーイングはもはや
問題ではなく、また金属電極配線の離間も問題ではな
い。一般に、このタイプのセルでは、交互嵌合電極を使
用し、裏面面積のほぼ半分を正電極金属によって覆い、
他方の半分を負電極金属によって覆う。しかしながら、
pn接合がセルの裏面にあるので、充分なエネルギー変
換効率を得るために、開始材料中の少数キャリヤ拡散長
がセルの厚さを越える必要がある。スタンフォード大学
グループがこの方法に関して最良の結果を得ており、厚
さ180μm、面積35cm2 のフロートゾーン裏面電
極シリコン・セルに関してある太陽照度(100mW/
cm2 )で21.3%の効率、およびあるAM1の太陽
照度に対し、24℃で22%の効率を報告している。
(どちらも参照により本明細書の一部となる、R.A.
Sinton他、「Large−Area 21% E
fficient Si Solar Cells」、
Conf.Record 23rD IEEE Pho
tovoltaic Specialists Con
ference,p.157(1993);R.A.S
inton他、IEEE Electron Devi
ce Lett.,EDL−7,no.7,p.567
(1986))。
陽電池設計では、一般に集積回路の製造に関連して、製
造が比較的複雑かつ費用がかかる。これらのプロセス
は、(それぞれマスキングを必要とする)p型拡散層と
n型拡散層を分離するステップと、フォトリソグラフィ
を使用して負電極金属を正電極金属に対して整合するス
テップと、真空システムを必要とする多層電極金属シス
テムを蒸発またはスパッタリングによって付着するステ
ップとを含む。したがって、裏面電極構造は従来の表面
電極構造に勝る大きい利点を有するが、その実施には費
用がかかる。
ンド材料ならびにn型シリコン(Si)のバルク層中の
オーミック電極材料として単一の材料、好ましくはアル
ミニウム(Al)を使用する裏面電極シリコン太陽電池
を使用して、シリコン太陽電池の製造コストを下げ、同
時に比較的高い太陽エネルギー変換効率を維持する。さ
らに、好ましい実施形態では、比較的安価なスクリーン
・プリンティング自己整合電極システムを使用する裏面
電極グリッド配線の新規の構成を使用する。この電極シ
ステムの新規の特徴は、一組の電極にアノード酸化を適
用して、この組を他の組の電極から絶縁することによっ
て自己整合し、したがってグリッド配線パターンを達成
するために連続的なマスクの組を正確に整合させる必要
がないことである。
ング(結晶成長時にも化学的にも形成する)、表面およ
び裏面のフィールド少数キャリヤ・ミラー、酸化ケイ素
層を使用する表面の不動態化、反射防止コーティングの
使用、裏面光反射器としてのオーミック電極の使用、強
くドープされた隣接するn+領域とp+領域による逆バイ
アスによる損傷に対する本質的保護、およびセルを直列
に接続した場合に「面実装技術」設計を可能にする改善
された負および正電極母線を含む、他のいくつかの有利
な特徴が、本発明のシリコン裏面電極型太陽電池中に設
計されている。ただし、これらに限定されない。
発明の好ましい製造技法および設計が開示されている。
dritic web) ・シリコンが示されているが、本発明は、
動作セル条件のもとでの少数キャリヤ拡散長がセルの厚
さを越えるのであれば、フロート・ゾーン・シリコン、
チョクラルスキー・シリコン(Czocharalski silicon)、
磁気チョクラルスキー・シリコン、鋳造シリコン、およ
びシート・シリコンを含む、任意の形態のシリコンに適
用されるものであることが理解される。
池用の開始材料は、層10として示されるn型シリコン
開始材料である。通常のSi用n型ドーパンドは、周期
表のV族からの原子を含み、Li、Sb、PおよびAs
などの元素を含む。しかしながら、開示したセル構造
は、層10が主として光の吸収材の役目をするので、p
型の開始シリコン材料の役目もすることも理解された
い。
始材料(図1のバルク層10用)はアンチモン(Sb)
によってn型にドープされたデンドライト・ウェブ・シ
リコンである。デンドライト・ウェブ・シリコン・リボ
ンは、チョクラルスキー(Cz)シリコンを製造するの
に使用されるプロセスと同じプロセスを使用して成長さ
せる。ただし、デンドライト・ウェブ・シリコンの他
に、フロート・ゾーン・シリコン、Czシリコン、鋳造
シリコン、およびシート・シリコンなど、他の方法によ
って成長させたシリコンも使用できる。一般に、シリコ
ン・デンドライト・ウェブは、厚さ100ミクロンのと
ころに成長させるが、他の厚さも使用できる。この厚さ
では、少数キャリヤ拡散長がセルの厚さよりも長く、セ
ルの厚さの2倍または3倍になることが多い。ウェブが
成長炉内にある間に、アンチモンをドープしたシリコン
・リボンの上面ならびに底面に両方の面中に拡散した浅
いn+ 層20を形成させる。n+ 表面層20をウェブ成
長中に導入しない場合、急速熱処理を使用して液体ドー
パント源から表面と裏面に同時に拡散させる方法を含む
当分野で周知の実証された任意の方法によって、n+ 表
面層20をプロセスの初めに組み込むことができる。n
+ 層は、表面から正孔を追いやり、そこでの表面再結合
を減らし、ならびに表面層中に発生した正孔をpn接合
へ加速させる「表面電界」を形成し、また短絡回路電流
および開回路電圧を増大させて太陽エネルギー変換効率
を高める働きをする他の有利な効果を生み出す。さら
に、以下に説明するように、裏面n+層は、そこでの負
電極金属へのオーミック接触を促進する。
ために、上面ならびに底面の表面テクスチャリングを行
う。鋸歯パターン30の形で示されるそのような表面テ
クスチャリングを内部成長させ、アノード・エッチング
によって導入して多孔シリコン層を形成する(参照によ
り本明細書の一部となる、Y.S.Tsuo他、「Po
tential Applications of P
orous Silicon in Photovol
taics」,Conf.Record 23rd I
EEE Photovoiltaic Special
ists Conf.(Louisville,KY)
(1993)による概説どおり)か、またはソーイング
によって機械的に、またはレーザ・エッチングなどによ
って光学的に導入する。好ましい実施形態では、テクス
チャリング面およびドープ面が示されているが、それら
の使用は一般的な場合任意選択である。さらに、図2な
いし図6には、図が見やすいようにセルの底面のテクス
チャリングが示されていない。
ーミック電極としてアルミニウムを使用するステップ、
ならびに自己整合アノード酸化技法を使用してそれをマ
スキングするステップを含む、太陽電池を製造する際の
重要なステップを示す。本願では、アルミニウムまたは
アルミニウム材料を、シリコン濃度が共融混合物よりも
低い(アルミニウム88.7重量%およびシリコン1
1.3重量%)純アルミニウムかまたはアルミニウムと
シリコンの合金と定義する。このアルミニウムを、図2
の間隔40に示すように、全裏面面積の約1/2にわた
ってエッジ間隔約100μm(ミクロン)、それぞれ幅
100μmのストライプの形で付着する。ストライプ5
0の間隔40は、効率的なキャリヤ収集が可能なように
少数キャリヤ(正孔)拡散長よりも小さくする必要があ
る。したがって、何らかの効果が得られるように、配線
の幅および間隔を100μm以下に縮小することができ
る。配線幅の値の有用な上限は約2000μmである。
一方、エッジ間隔40の有用な範囲は約50μm〜約3
00μmである。したがって、アルミニウムの平行スト
ライプはそれぞれ、pn接合太陽電池用のドーパント源
材料の別個の領域を形成し、また本願でさらに説明する
ように、それらのベースに(隣接して)結合されて、正
電極母線用の母線領域を形成する。
は、それ自体当分野で周知のプロセスであるアルミニウ
ムをスクリーン・プリンティングすることによってアル
ミニウム・ペーストの形で付着する。紙面内を通るスト
ライプ50としてアルミニウムを付着したアルミニウム
のストライプを図2に示す。しかしながら、電子ビーム
蒸発またはスパッタリングなど、アルミニウムを付着す
るスクリーン・プリンティング以外の方法も本発明の範
囲内に入る。ただし、これらの方法は、より費用のかか
るフォトリソグラフィによるパターニングを必要とし、
したがってあまり望ましくない。
層は、n型バルク層と比較した場合相対的に薄く、約1
00μmの厚さを有するバルク層に対して厚さ約2μm
〜20μmである。
ウムの選択は少なくとも3つの目的に同時に満足する。
すなわち、アルミニウムは、p型ドーパント源の役目を
する、正電極金属の役目をする、そして、裏面面積の約
50%であるそれが覆う部分裏面面積にわたってその裏
面光反射器の役目をする。
と、約850℃富酸素環境内で付着したアルミニウム層
の熱処理の効果を示す図が示されている。このステップ
では、スクリーン・プリンティングによって付着したア
ルミニウムにシリコンを混ぜて合金にすることによって
pn接合を形成する。さらに、満足な合金を形成するの
には、850℃の温度を長時間、例えば30分以上維持
することが有利であると考えられる。温度の範囲は、ア
ルミニウムとシリコンの共融温度577℃から、シリコ
ンの融点1420℃までである。加熱は、急速熱処理ユ
ニット、ベルト炉、管炉、または他の手段によって行う
ことができる。周囲雰囲気は、アルゴンや窒素など不活
性ガスか、または酸素や水素などを有する化学的に活性
なガスが可能である。周囲ガスの混合物も可能である。
高い温度の時間は、30秒から数時間までが可能であ
る。好ましい実施形態では、この温度で富酸素環境を使
用すると、酸化物(SiO2 )が任意の露出したシリコ
ン上に成長でき、したがって表面が不動態化し、有害な
再結合の影響が小さくなることが予想される。
を下げると、シリコンは共融温度(577℃)に達する
まで液相エピタキシによって再成長する。その結果、再
生長したシリコンは、図3のp+ 層混合物60によって
示されるように、アルミニウム(約1018cm-3)によ
ってp型にドープされた状態になる。アルミニウム濃度
が開始シリコン中のドナー濃度を越えると、所要のpn
接合が形成され、p型シリコンへの電極の役目をする共
融合金(アルミニウム約88.7重量%およびシリコン
約11.3重量%)が表面上に残る。pn接合は非常に
深い(表面から1ミクロン〜20ミクロン)が、接合が
ごくわずかな光しか吸収されないセルの裏面にあるの
で、接合深さは従来の表面電極太陽電池と比較して二次
的に重要なものにすぎないことに留意されたい。合金接
合の深さは、純アルミニウムの代わりに付着するスクリ
ーン・プリンティング材料としてアルミニウムシリコン
混合物を使用することによって制御できる。これは、シ
リコン濃度が共融混合物に向かって増大すると、プリン
ト金属が溶解できるシリコンの量が少なくなり、したが
って接合深さが小さくなるためである。必要であれば、
付着するアルミニウムの厚さを増すことによって、また
アルミニウムシリコン状態図に従って合金温度を上げる
ことによって、接合深さを大きくすることができる。
(本発明で使用する好ましいタイプのシリコン)のシリ
コン空位や自己格子間原子など焼入れの際に生じた欠陥
がアニールによって除去される特性のために、少数キャ
リヤのバルク寿命が約850℃の温度で増加するであろ
う。より急速な冷却に対比して毎分10℃の制御された
速度で冷却すると、焼入れの際に生じたシリコン欠陥が
アニールにより除去され、有害な再結合サイトが減る。
ベルトを炉内の安定高温領域をゆっく通過させるベルト
炉プロセスを使用しても実施できる。シリコンアルミニ
ウム混合物をそのような炉内で850℃で約30分間加
熱する方法の別法では、例として石英ランプを使用する
急速熱処理ユニットを使用してシリコンを1000℃ま
で加熱し、その温度を30秒間維持する(この場合商用
設定のスループットが向上する)か、または従来の石英
管炉によるなど、他の様々な技法を使用してシリコンア
ルミニウム共融混合物を形成することができる。
0)を裏面層(図1の裏面層20)のn+ 領域のすぐ近
くに設けると、例えばモジュール内のシャドーイングに
よって太陽電池に逆バイアスがかかった場合に太陽電池
が過熱から保護される予想外の利点が得られる。「モジ
ュール」とは、ガラスまたは他の被覆材料によって保護
された相互接続されたセルのグループであり、これは照
射時にかなりの量の電力、一般に10ワット〜100ワ
ットの電力を発生する。このp+n+設計では、逆バイア
スからの保護が得られ、逆バイアスがかからないように
する通常「バイパス・ダイオード」と呼ばれる保護ダイ
オードを設ける必要がない。このp+n+接合は、適度の
逆バイアスのもとでごくわずかな電圧によって降伏し、
したがってごくわずかな電力がセル内で消散し、したが
ってセルが保護されるツェナー・ダイオードの役目をす
る。
と、本発明の好ましい実施形態の他のステップが示され
ている。このステップは、(n型領域への)負電極を
(p型領域への)正電極に対して整合させる独特の「自
己整合」特徴を与える。p型層電極(正電極)をn型電
極(負電極)から絶縁するために、本発明では、過去に
おいて使用されていた複雑なマスキング技法は不要であ
る。第1の(正の)組のアルミニウム電極を被覆し、こ
の組を第2の(負の)組の電極から電気的に絶縁する酸
化層を形成することによって絶縁を施す。これは、図4
Aおよび図4Bに示すように、酸素が存在する場合に、
露出したシリコン材料、シリコンアルミニウム材料およ
びアルミニウム材料の上にAl2O3、SiO2 またはそ
の変形の形で自然に形成される酸化物層80(絶縁材)
によって、アルミニウムシリコンp+ 層混合物と、ウェ
ブ・ブランク10の外側にある露出したアルミニウム・
ストライプ70とを絶縁することによって行う。酸化物
層は、アルミニウム・ストライプ70を約0.1μm〜
1μmの厚さまで覆うように成長する必要がある。図4
Aおよび図4Bに示すように、この段階では、酸化物層
80はアルミニウム・ストライプ70の間のn型層表面
領域90をも覆う。以下により完全に説明するように、
次いで、太陽電池ダイオードのカソード(n型シリコ
ン)とのオーミック接触が可能となるように、表面領域
90上の酸化物層を除去する(下の図5Bに示されるス
テップを参照せよ)。
ましい方法はアノード酸化である。アノード酸化では、
セルの層表面を弱電解質(ホウ酸塩、リン酸塩または炭
酸塩など)に浸し、印加電圧にあてる。不活性電極と電
極金属(アルミニウムシリコン共融混合物)の間に電圧
を印加した結果として電流が流れる。アノード酸化物の
厚さは、陽極処理電流を駆動する電圧が700V(14
Å/Vまたは1.4nm/V)に達する場合、1ミクロ
ンに達する。そのような酸化物は、コンパクトであり、
ピンホールがないことが必要である。太陽電池が完成し
た場合に露出したアルミニウム・ストライプ70と接触
するように、(図7に示される領域110における)正
電極母線へオーミック接触する必要があるので、母線領
域でアノード酸化物の成長を抑止する必要がある(ま
た、プロセスを通じてこの母線領域を遮蔽する必要があ
る)。これを行う1つの方法は、母線によって占有され
る面積に接触する、含炭素独立気泡スポンジなど圧縮性
だが導電性の媒体を使用することである。独立気泡スポ
ンジは、電解質を吸収しないので好ましい。
有プラズマ中でアルミニウムを酸化させるなど、アルミ
ニウム層またはアルミニウムシリコン共融混合物層を絶
縁する他の方法も考えられる。
によって酸化層80を付加した後、アルミニウムの負電
極金属層がその上に付着できるように、格子間表面領域
90内の酸化層によって覆われたn型シリコン表面を露
出させる必要がある。したがって、図5Aおよび図5B
を参照すると、どのようにして裏面上のシリコン層から
酸化層を除去するかが示されている。ただし、アルミニ
ウム・ストライプ70を覆う酸化層は除去されない。こ
れを行う好ましい方法では、フッ酸はAl2O3(酸化ア
ルミニウム)と反応せず、それを除去しないので、フッ
酸を使用して格子間SiO2 (二酸化ケイ素)20を選
択的にエッチングし除去する。したがって、格子間Si
O2 は除去され、Al2O3絶縁層はストライプ電極70
を覆ったままである(図5B参照)。同じ効果を有する
他の化学薬品も使用でき、または二酸化ケイ素層を軽い
サンドブラストにあてるなど、他の酸化物除去技術も使
用できる。軽いサンドブラストの場合にも、露出したシ
リコン表面がわずかに損傷し、n型ベースへのオーミッ
ク接触が促進される有利な効果が得られる。サンドブラ
ストを使用した場合、通常主としてオーミック接触を促
進するために設けられるセルの裏面上のn+ 拡散層は不
要となる。また、反応性イオン・エッチング(RIE)
を使用してSiO2 を除去し、Al2O3をそのまま残す
こともできる。また、イオン・ミリングを使用してサン
ドブラストと同様の方法で表面をわずかに損傷させ、オ
ーミック接触を促進することもできる。
を製造するプロセスの次のステップ、すなわち、第2の
金属層を加えて自己整合負オーミック電極金属(n型シ
リコン層電極の場合)を形成するステップを示す。この
第2の金属は、アルミニウムや銀を含む、適切な電極金
属でよい。さらに、スクリーン・プリンティングはこの
第2の金属を付着する好ましい方法であるが、電子ビー
ム蒸発やスパッタリングなど他の方法も容認できる。金
属層100として示されるこの第2の金属層はセルの裏
面のほぼ全体を覆う。この層は、アノード酸化物80に
よって第1の金属電極ストライプ70から絶縁される
が、付着した第1のアルミニウム層から形成された金属
ストライプ70の間にあるn+ 領域90にオーミック接
触する。また、第2の金属層は、シリコン材料中へ戻る
第1のパスの際にシリコン材料によって吸収されない光
を反射するのを助ける裏面光反射器を形成するのに役立
つ。
す。太陽電池は、第2の金属(アルミニウムまたは他の
オーミック金属)またはアルミニウムシリコン共融混合
物によって覆われている。本発明の太陽電池は、従来の
太陽電池に勝る大きな利点である無妨害表面を有する。
裏面において、両方の金属電極(オーミック金属電極7
0および100)は、オーミック電極であることの他に
部分光反射器の役目をする。さらに、本発明の設計で
は、面倒な外部表裏セル間電極を製造する必要がない
が、そのような電極を必要としない「面実装」技術設計
をより多く使用するので、母線設計によって本発明の設
計の太陽電池を簡単に直列に相互接続できるようにして
いる。
うに、第1の正金属ストライプ70に到る母線電極があ
る未酸化領域である母線領域110が示されている。図
から分かるように、母線領域110は、負電極金属によ
って覆われた領域、層100よりも面積が小さいが、正
金属電極も負金属電極もモジュール面実装設計にうまく
適合する。アルミニウム・シリコン共融フィンガ70
は、図7の母線110から垂直方向上向きに出ている
が、上を覆っている第2の金属層100のためにフィン
ガ内では見えない。
のオーミック電極金属を付着して、例として、チタン/
パラジウム/銅のサンドイッチ構造またはスクリーン・
プリンティングした銀を電極として使用して、本願で説
明した正オーミック電極および負オーミック電極を形成
することもできる。
して、コーティング層または複数のコーティング層は、
通常最も外側の照射面上にあるが、図が見やすいように
図1ないし図7から省いてある。上述のように、テクス
チャリングあるいは不動態化酸化物と組み合せたテクス
チャリングは、ARコーティングが不要なほど十分効果
的であるので、ARコーティングは本発明の設計では任
意選択にすることができる。しかしながら、プラズマ増
速気相成長法(PECVD)によって形成した窒化シリ
コン、または常圧気相成長法(APCVD)によって形
成した二酸化チタンなどのARコーティングも使用でき
る。また、表面酸化物がないあるいは非常に薄い場合、
ARコーティング付着の前に(少数キャリヤ拡散長を改
善する)水素イオン注入を導入することもできる。
エハを開始基板として使用して、完全なアルミニウム合
金接合相互嵌合裏面電極(IBC)太陽電池120を製
造した。これらの太陽電池は、裏面電極構成でのアルミ
ニウム合金接合の使用を説明するのに役立つ。アルミニ
ウムは、スクリーン・プリンティングではなく、電子ビ
ーム蒸発を使用して付着した。負電極は、アノード酸化
技法または他の何らかの技法を使用して自己整合するの
ではなく、集積回路の製造に使用されるような電極アラ
イナを使用してアルミニウムシリコン共融混合物正電極
に対して手動で整合させた。
直径3インチ、厚さ13〜17ミル、3〜20Ω−c
mまでリンがドープされ、(111)面を有する。研磨
面上にテスト構造および太陽電池を有する2つのウエハ
(指定されたCZ−7およびCZ−8)を加工した。図
8に1つのそのようなウエハの裏面を示す。ラッピング
された面(図8では隠れて見えない)は、リン拡散層お
よび反射防止(AR)コーティング95を有する(図1
0および図12参照)。8つの太陽電池はそれぞれ1.
00cm平方であり、負電極用の幅2mmの母線112
は無視する。以下、表2および表3では、負電極を形成
するn+ フィンガの数(4、8、16および25)およ
びそれらの位置(内部(I)か周囲(P))によってそ
れらの太陽電池を参照する。4つの内部セルはp+ 領域
に接触する共融合金のみを有するが、周囲セルは共融混
合物上にさらに付着した第2の金属を有する。ウエハC
Z−8に関してよりよい結果が得られたので、このウエ
ハのプロセスおよびテスト結果のみについて説明する。
する際に使用するプロセスを以下の表にまとめる。この
プロセスの注目すべき特徴は、表面上およびアルミニウ
ム電極間の露出した裏面に形成した裏面アルミニウム合
金接合およびリンをドープしたn+ 層を単一の高温ステ
ップにおいて生成したことである。フォトリソグラフィ
を使用して蒸発したアルミニウムをパターニングし、負
電極の役目をする第2の金属を画定した。アルミニウム
合金接合IBC太陽電池の背面図を図9に示し、断面図
を図10ないし図12に示す。頭の数字はステップを示
す。
ット内での段階的低速冷却(1000℃から825℃ま
で約50℃/分)を含む。
00℃RTPプロセスの前に、アルミニウム上に液体リ
ンドーパントをペイントする際に目立った損傷はなかっ
た。
査法によって1000℃、30秒RTPプロセスに関し
て5μmであることが分かった。
秒RTP拡散の後、25Ω/□と測定された。
にのみ必要であり、IBCセルには不要であるので飛ば
した。
は、リフトオフ・プロセスによって厚さ0.55μmに
制限される。
アルミニウム)の間のn+ シリコンをエッチングしない
場合は、pn接合に大きく分路した。
れ、したがって開示した構造の実施可能性が実証された
ことに留意されたい。最大9.0%の光電気エネルギー
変換効率が測定された。現在まで実証されている効率の
2倍まで効率が上がる基板材料および処理技法の改良が
期待される。
開示したが、様々な修正、他の構造および同等物も使用
できる。例えば、好ましい実施形態について、p型拡散
層およびオーミック電極を形成するアルミニウムに関連
して説明したが、ガリウムやインジウムなど他のIII
族金属もこの用途に使用できる。適切なIII族元素
は、シリコンを溶解でき、シリコンが固化した際にドー
パントの役目をする少量が後に残るものである。さら
に、好ましい実施形態について、n型バルク・シリコン
層10に関連して説明したが、p型バルク・シリコンを
使用して裏面電極型太陽電池を製造することもできる。
p型バルク・シリコンを使用した場合、薄いp+層は上
面上に層20として形成されるが、n+層はバルク層1
0の底面に形成される。当業者なら理解できるように、
p型実施形態では、少数キャリヤは電子である。したが
って、上記の説明および図面は、添付の請求の範囲によ
って画定される本発明の範囲を限定するものと解釈すべ
きではない。
ウェブ・シリコン・ブランクの断面図である。
ある。
ウムを形成する際のウェブの断面図である。
断面図である。
図である。
る。
大図である。
る。
示す拡大詳細図である。
図である。
C)太陽電池
Claims (10)
- 【請求項1】 表面と裏面を有する第1の導電型の半導
体バルク層と、 前記バルク層内の前記裏面の近くに形成され、それと共
に複数の半導体接合を形成する、反対の導電型の複数の
離間ドープ半導体領域と、 前記複数の離間ドープ半導体領域に接続されかつ前記裏
面に沿って配置された第1の組の離間オーミック電極
と、 前記第1の組の離間オーミック電極間の空間内で前記バ
ルク層の前記裏面に接続された第2の組のオーミック電
極と、 前記第1の組の離間オーミック電極を第2の組のオーミ
ック電極から電気的に絶縁する絶縁手段とを含む裏面電
極型太陽電池。 - 【請求項2】 前記第1の組のオーミック電極が実質上
相互に平行な導電ストライプの形をしていることを特徴
とする請求項1に記載の太陽電池。 - 【請求項3】 前記導電ストライプが一端で結合して母
線電極を形成することを特徴とする請求項2に記載の太
陽電池。 - 【請求項4】 前記半導体バルク層が、前記第1の導電
型の少数キャリヤの拡散長よりも大きい厚さを有するこ
とを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。 - 【請求項5】 前記バルク層がn型シリコンから形成さ
れることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。 - 【請求項6】 前記n型シリコンがデンドライト・ウェ
ブ・シリコンであることを特徴とする請求項5に記載の
太陽電池。 - 【請求項7】 前記第1の組の離間オーミック電極が、
前記バルク層半導体材料と、前記複数の離間ドープ半導
体領域用のアクセプタ・ドーパントを含むIII族金属
との合金を含むことを特徴とする請求項1に記載の太陽
電池。 - 【請求項8】 前記III族金属が、アルミニウム、ガ
リウムおよびインジウムからなるグループから選択され
ることを特徴とする請求項7に記載の太陽電池。 - 【請求項9】 前記絶縁手段が、前記第1の組のオーミ
ック電極を覆う絶縁層を含むことを特徴とする請求項1
に記載の太陽電池。 - 【請求項10】 前記第2の組のオーミック電極が、
銀、アルミニウム、銅、チタンおよびパラジウムからな
るグループから選択したオーミック金属からなることを
特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
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JPH09172196A true JPH09172196A (ja) | 1997-06-30 |
Family
ID=24243342
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Country | Link |
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US (1) | US5641362A (ja) |
EP (1) | EP0776051B1 (ja) |
JP (1) | JPH09172196A (ja) |
KR (1) | KR970030942A (ja) |
CN (1) | CN1155106C (ja) |
AU (1) | AU717476B2 (ja) |
BR (1) | BR9605346A (ja) |
CA (1) | CA2181281C (ja) |
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JP2014160843A (ja) * | 2008-06-12 | 2014-09-04 | Sunpower Corp | 太陽電池の製造方法及び太陽電池 |
US9231132B2 (en) | 2009-03-18 | 2016-01-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Process for manufacturing solar cell equipped with electrode having mesh structure |
JP2013513964A (ja) * | 2009-12-14 | 2013-04-22 | トタル ソシエテ アノニム | 裏面接点・ヘテロ接合太陽電池 |
JP2013089757A (ja) * | 2011-10-18 | 2013-05-13 | Sharp Corp | ソーラーモジュールおよびこのソーラーモジュールの製造方法、並びに、裏面電極型太陽電池セル |
JP2015506582A (ja) * | 2011-12-26 | 2015-03-02 | ソレクセル、インコーポレイテッド | 太陽電池の光捕獲性を改善するシステム及び方法 |
JP2016006841A (ja) * | 2014-05-30 | 2016-01-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池 |
JPWO2018168785A1 (ja) * | 2017-03-13 | 2019-11-07 | 国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学 | ヘテロ接合型太陽電池の製造方法、ヘテロ接合型太陽電池およびヘテロ接合型結晶シリコン電子デバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES2216041T3 (es) | 2004-10-16 |
AU717476B2 (en) | 2000-03-30 |
DE69631815D1 (de) | 2004-04-15 |
TW318286B (ja) | 1997-10-21 |
DE69631815T2 (de) | 2005-02-03 |
CN1158011A (zh) | 1997-08-27 |
MX9603156A (es) | 1997-07-31 |
BR9605346A (pt) | 1998-07-28 |
US5641362A (en) | 1997-06-24 |
AU7063096A (en) | 1997-05-29 |
EP0776051B1 (en) | 2004-03-10 |
KR970030942A (ko) | 1997-06-26 |
CA2181281C (en) | 2005-05-10 |
EP0776051A3 (en) | 1998-07-08 |
CA2181281A1 (en) | 1997-05-23 |
EP0776051A2 (en) | 1997-05-28 |
CN1155106C (zh) | 2004-06-23 |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A711 | Notification of change in applicant |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050530 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A02 | Decision of refusal |
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