JPH0690150B2 - 壜の胴部検査方法及び装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は壜の胴部の欠陥を検出する壜の胴部検出方法及
び装置に関する。

［従来の技術］ 酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜は製壜装置
により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収壜
でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。壜
の検査は壜の各部、壜胴、壜底、口部、ねじ口部を検査
することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よご
れなど食品衛生上の問題となるものと、ビリ（check
s）、クラック（cracks）、傷（scraches）、小泡（see
ds）、大泡（blisters）等の破損事故につながるおそれ
のある欠陥があるため、これら欠陥壜を正確に検出して
排除する必要がある。このため透明又は半透明の壜の透
過映像をみて、その濃淡から欠陥を検出する方法が提案
されている。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、単に壜の胴部の透過映像の濃淡をみるだ
けでは、異物の付着や汚れ等の遮光性欠陥に比べて小泡
（seeds）、大泡（blisters）、すじ（streaks）、しわ
（rumples）等の屈折性欠陥を検出することが困難であ
るという問題があった。

本発明の目的は、壜の胴部における遮光性欠陥とともに
屈折性欠陥をも精度よく検出することができる壜の胴部
検査方法及び装置を提供することである。

［課題を解決するための手段］ 上記目的は、縞模様を形成するようにその胴部を照明
し、前記壜の胴部の透過映像を光電変換し、光電変換さ
れた透過映像を前記縞模様の縞方向に対して斜め方向に
走査し、この走査線上の近接する少なくとも３点の明る
さを比較し、前記少なくとも３点の内側に位置する注目
点の明るさが両側の周辺点の明るさに対して所定値以上
異なる場合に前記注目点を欠陥点として検出し、検出さ
れた欠陥点に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定
することを特徴とする壜の胴部検査方法によって達成さ
れる。

また、上記目的は、縞模様を形成するようにその胴部を
照明する照明手段と、前記照明手段により照明された前
記壜の胴部の透過映像を光電変換する光電変換手段と、
前記光電変換手段により光電変換された透過映像を前記
縞模様を横切る方向に走査し、この走査線上の近接する
少なくとも３点の明るさを比較し、前記少なくとも３点
の内側の位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明る
さに対して所定値以上異なる場合に前記注目点を欠陥点
とする欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段により検出さ
れた欠陥点に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定
する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の胴部検査
装置によって達成される。

［作用］ 本発明による壜の胴部検査方法及び装置は、縞模様を照
明するようにして、壜の胴部の透過映像の所定の走査線
上の近接する少なくとも３点の明るさを比較し、内側に
位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明るさに対し
て所定値以上異なる場合に注目点を欠陥点として検出
し、この欠陥点に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判定
する。

［実施例］ 本発明の第１の実施例による壜の胴部検査装置を第１図
に示す。本実施例では検査される壜12は回転台14上で回
転させられる。壜12は光源10により照明される。光源10
の前面には、照明を拡散させる拡散板10aと拡散光を斜
方向の縞模様にする第２図に示すような斜スリット板10
bが設けられている。壜12には斜スリット板10bを透過し
た斜方向の縞模様の光が当たる。

壜12の透過映像は二次元光電変換装置16に入射され、壜
12の回転中に所定数の画像が光電変換される。壜12の透
過映像は第３図に示すように壜12の端の部分で少し歪ん
だ縞模様の像になる。

壜12に遮光性欠陥Faがあると、第４図（ａ）に示すよう
に縞模様の明部で暗い点となる。これは、遮光性欠陥Fa
により光が遮られるからである。なお、遮光性欠陥Faが
縞模様の暗部に位置しているときには遮光性欠陥Fbも暗
い点として現れるため、縞模様の暗部と区別できない。
しかし、壜12の回転に伴い遮光性欠陥Fbも回転して必ず
縞模様の明部に位置することになる。したがって、縞模
様の暗部で検出できなかった遮光性欠陥Fbも、縞模様の
明部に位置するときに検出しうる。

壜12に屈折性欠陥Fbがあると、縞模様の明部では第４図
（ｂ）に示すように暗い点となり、縞模様の暗部では第
４図（ｃ）に示すように明るい点となる。これは、屈折
性欠陥Fbにより縞模様が歪められるからである。なお、
屈折性欠陥Fbの面積が大きいと第４図（ｂ）に示すよう
に真中が反転する場合がある。

壜12に「すじ」や「しわ」のような細長い屈折性欠陥Fc
があると、第４図（ｄ）に示すように、縞模様の明部で
は暗いすじとして、暗部では明るいすじとして現れる。

A/D変換器18は二次元光電変換装置16からのアナログ映
像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変換す
る。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート設定
回路20とモニタ表示用RAM回路22と欠陥検出回路24に出
力される。

検査領域検査ゲート設定回路20は、第５図に示すような
透過映像から後述する欠陥検出回路24で欠陥を検出する
検査領域を定めるための回路である。壜12の画像の上下
端のエッジから検査領域と５つの検査ゲート１、２、
３、４、５に定める。検査領域検査ゲート設定回路20か
らは検査ゲート信号がモニタ表示用RAM回路22、欠陥検
出回路24、マスク処理回路26、判定回路28に出力され
る。なお、壜12の像の外縁がはっきりしない場合には、
検査領域検査ゲート設定回路20により、検査領域、及び
検査ゲート１、２、３、４、５を予め定めておいてもよ
い。

欠陥検出回路24は、A/D変換回路18からのディジタル映
像信号に基づいて、縞模様の縞方向に対して斜方向、例
えば壜12の縦方向、すなわち、回転軸方向の走査線上の
複数の点の明るさを比較することにより欠陥の検出を行
う。

本実施例の欠陥検出方式では、注目点Ａと注目点Ａから
所定距離離れた周辺点Ｂ、Ｃの明るさを比較して注目点
Ａが欠陥点であるか否かを検出する。各点Ａ、Ｂ、Ｃの
明るさをQA、QB、QCとして、次式が共に成立すれば欠陥
ありとする。

|QA−QB|≧（定数Ａ） |QA−QC|≧（定数Ａ） 定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決めておく。すなわ
ち、この欠陥検出方式では、注目点Ａの明るさが周辺点
Ｂに比べても周辺点Ｃに比べても一定値以上明るさが異
なる（明るい又は暗い）場合に欠陥とする。この欠陥検
出方式によれば縞模様の縁を誤って欠陥と検出すること
なく、遮光性欠陥Fa及び遮光性欠陥Fbを確実に欠陥点と
して検出できる。

第６図に示すように３点A1、B1、C1が縞模様の暗部内に
ある場合、これら点A1、B1、C1の明るさをQA1、QB1、QC
1とすると、 QA1−QB1＝０ QA1−QC1＝０ となり、当然のことながら点Ａは欠陥点として検出され
ない。また、３点A2、B2、C2が縞模様の暗部と明部にま
たがっている場合、これら点A2、B2、C2の明るさをQA
2、QB2、QC2とすると、 QA2−QB2＞Ａ となるが、 QA2−QC2＝０ となり、点A2は欠陥点として検出されない。さらに、３
点A3、B3、C3が縞模様の明部と暗部にまたがっている場
合も、これら点A3、B3、C3の明るさをQA3、QB3、QC3と
すると、 QA3−QC3＞Ａ となるが、 QA3−QB3＝０ となり、点A3は欠陥点として検出されない。

しかしながら、第６図に示すように例えば縞模様の明部
中に欠陥があり暗くなっていて、そこに注目点A4が位置
する場合、３点A4、B4、C4の明るさをQA4、QB4、QC4と
すると、 QA4−QB4＜−Ａ となり、しかも、 QA4−QC4＜−Ａ となり、点A4が欠陥点として検出される。

欠陥検出回路24の具体例を第７図に示す。シフトレジス
タ51、52には、ディジタル映像信号が順次入力されて出
力される。３点間の距離をどの位にするかは、シフトレ
ジスタ51、52のシフト幅により定まる。このシフト幅は
シフト幅設定部53により定められる。この具体例では２
つのシフトレジスタ51、52のシフト幅は同じシフト幅に
設定される。

演算回路55はシフトレジスタ51の出力映像信号QAと入力
映像信号QBの差の絶対値を演算する。演算された絶対値
は比較回路56により感度設定部54に設定された感度（定
数Ａ）と比較され、差の絶対値が定数Ａより大きい場合
に検出信号を出力する。

演算回路57はシフトレジスタ52の出力映像信号QCと入力
映像信号QAの差の絶対値を演算する。演算された絶対値
は比較回路58により感度設定部54に設定された感度（定
数Ａ）と比較され、差の絶対値が定数Ａより大きい場合
に検出信号を出力する。比較回路56の出力信号と比較回
路58の出力信号はANDゲート59に入力され、両出力信号
が共に欠陥を示す信号である場合にANDゲート59は欠陥
検出信号を出力する。

欠陥検出回路24による欠陥検出の具体例を第８図乃至第
10図に示す。

第８図は、遮光性欠陥Faにより縞模様の明部で暗い点が
現れた場合である。同図（ａ）に示す走査線SLに沿った
映像信号の明るさは同図（ｂ）のようになる。これに上
述の方式により欠陥検出を行うと同図（ｃ）のようにな
り、遮光性欠陥Faが正しく検出できる。

第９図は、遮光性欠陥Fbにより縞模様の明部で中心が明
るい暗い領域が現れた場合である。同図（ａ）に示す走
査線SLに沿った映像信号の明るさは同図（ｂ）のように
なる。これに上述の方式により欠陥検出を行うと同図
（ｃ）のようになり、透光性欠陥Fbが正しく検出でき
る。

第10図は、透光性欠陥Fbにより縞模様の暗部で明るい点
が現れた場合である。同図（ａ）に示す走査線SLに沿っ
た映像信号の明るさは同図（ｂ）のようになる。これに
上述の方式により欠陥検出を行うと同図（ｃ）のように
なり、透光性欠陥Fbが正しく検出できる。

欠陥検出回路24から出力される欠陥検出信号はマスク処
理回路26によりマスク処理される。欠陥検出回路24で欠
陥の検出ミスを防止するため感度を上げると、欠陥でな
い部分をも欠陥点であると誤って検出してしまうことが
ある。マスク処理はかかる欠陥検出信号を除くために行
なう処理である。マスク処理には種々の方式があるが、
本実施例では連続マスク処理と集合マスク処理を組合わ
せて行っている。

実際の欠陥箇所ではその大きさに応じた欠陥検出信号が
連続して現れるのに対し、その他の欠陥でない部分では
欠陥検出信号が離散的に現れる。そこで連続マスク処理
では孤立した欠陥検出信号やある設定値以下しか連続し
ない欠陥検出信号は、実際には欠陥でないとして削除す
る。

集合マスク処理は、小泡（seeds）、大泡（blister
s）、すじ（streaks）、しわ（rumples）等の欠陥を検
出するため感度を上げた場合に生ずるノイズを除去する
ために行われる。集合マスク処理は、注目画素を中心と
して例えば矩形の処理領域を設定し、処理領域中の欠陥
画素の数を加算し、欠陥画素総数が所定の設定値を越え
たか否かにより集合マスク処理信号を出力する。したが
って、欠陥画素が集中している所だけに集合マスク信号
が生成され、離散的に現われるノイズは除去されること
になる。

なお、マスク処理回路26において、連続マスク処理又は
集合マスク処理を単独で行うようにしてもよい。

判定回路28は、マスク処理回路26によりマスク処理され
た欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する。例え
ば、欠陥検出信号の総数が所定の設定値を越えた場合に
欠陥壜であると判定する。この判定信号は壜12の搬送系
（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果に応じ
て、例えば欠陥壜を排除するようにする。

基準信号発生回路30は壜位置検出器32からの壜位置信号
に基づいて、検査期間信号を生成して出力する。検査期
間信号は検査期間を指示するための信号で、判定回路28
に出力される。判定回路28は検査期間信号がハイレベル
の期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効として、壜
12が欠陥壜であるか否かを判断する。なお、この検査期
間信号を検査領域検査ゲート設定回路20、欠陥検出回路
24又はマスク処理回路26に出力し、検査期間信号がハイ
レベルの期間中に入力する信号だけを有効とするように
しもよい。

モニタ表示用RAM回路22は内蔵するフレームメモリに壜1
2のデジタル映像信号を記憶してモニタ36に表示する。
モニタ表示用RAM回路22にはマスク処理回路26から欠陥
検出信号と判定回路28からの判定結果信号と検査領域検
査ゲート設定回路20からの検査ゲート信号が入力されて
いる。欠陥検出信号に基づいて欠陥点をモニタ表示用RA
M回路22に書込む。また検査ゲート信号に基づいてモニ
タ36上に検査ゲートを表示する。

なお、モニタ表示用RAM回路22に２つのフレームを設
け、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、今回
光電変換したディジタル映像信号と前回光電変換したデ
ィジタル映像信号とを記憶するようにしてもよい。

このように本実施例によれば斜スリット板による縞模様
の照明を壜に照射して検査しているので、遮光性欠陥の
みならず屈折性欠陥も感度よく検出することができる。

本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第11図を用いて説明する。

本実施例の欠陥検出方式は、色むら等により透過映像の
明るさが不均一の場合に有効である。

第１の実施例と同じ点は、３点として、注目点Ａと、注
目点Ａから所定距離離れた周辺点Ｂ、Ｃとを選択し、こ
れらの点Ａ、Ｂ、Ｃの明るさを比較して注目点Ａが欠陥
点であるか否かを検出する点である。

第１の実施例と異なる点は、第１の実施例では各点Ａ、
Ｂ、Ｃの明るさQA、QB、QCの差の絶対値のみにより欠陥
か否か判断しているのに対し、本実施例では注目点Ａが
周辺点Ｂ、Ｃに対して暗いか明るいかの情報も用いてい
る点である。

本実施例では、注目点Ａの明るさQAが周辺点Ｂ、Ｃの明
るさQB、QCに比較して共に明るいか暗いかの場合のみ欠
陥点とする。注目点Ａの明るさQAが周辺点Ｂに対しては
明るいが、周辺点Ｃに対しては暗い場合、差の絶対値が
共に定数Ａ以上あっても欠陥点とはしない。

すなわち、次式が成立する場合 QA−QB≧（定数Ａ） QA−QC≧（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合に注目点Ａを欠陥とする。

QA−QB＜−（定数Ａ） QA−QC＜−（定数Ａ） 次式が成立する場合 QA−QB≧（定数Ａ） QA−QC＜−（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合は注目点Ａを欠陥としない。

QA−QB＜−（定数Ａ） QA−QC≧（定数Ａ） このようにすれば、第11図に示すように明るさが不均一
である場合にも欠陥点を正しく判断できる。すなわち、
注目点A2の明るさQAに対して周辺点B2、C2の明るさQB、
QCの差の絶対値が定数Ａを越えても、注目点Ａが周辺点
Ｂに対しては明るいが、周辺点Ｃに対しては暗いので、
注目点A2は欠陥点ではないと正しく判断される。

本実施例の欠陥検出回路24の具体例を第12図に示す。第
７図と同一の構成要素には同一の符号を付し説明を省略
する。

シフトレジスタ51の出力映像信号QAと入力映像信号QBは
比較部61により比較され、差の絶対値が感度設定回路54
の設定値Ｓより大きいか否か及び出力映像信号QAが入力
映像信号QBより明るいか否かが検出される。出力映像信
号QAが入力映像信号QBより設定値Ｓ以上明るければ、出
力信号ＧがＨレベルとなり、出力映像信号QAが入力映像
信号QBより設定値Ｓ以上暗ければ、出力信号ＧがＬレベ
ルとなる。

比較部61の詳細を第13図に示す。演算回路101は映像信
号QA、QBの差の絶対値を演算する。この演算結果は比較
回路102により入力された設定値Ｓを比較される。ま
た、比較回路103は映像信号QA、QBを比較し、どちらが
明るいかを判定する。ANDゲート104には比較回路102の
出力信号と比較回路103の出力信号の論理積をとり信号
Ｇとして出力する。出力信号ＧがＨレベルになるのは、
比較回路102により差の絶対値が設定値Ｓより大きく、
かつ映像信号QAがQBに比べて明るい場合である。ANDゲ
ート105には比較回路102の出力信号と比較回路103の出
力信号の反転信号の論理積をとり信号Ｌとして出力す
る。出力信号ＬがＨレベルになるのは、比較回路102に
より差の絶対値が設定値Ｓより大きく、かつ映像信号QA
がQBに比べて暗い場合である。

本発明の第３の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第14図を用いて説明する。

上記第１及び第２の実施例では注目点Ａに対して１点ず
つの周辺点Ｂ、Ｃにより欠陥か否か判定していたが、本
実施例では第14図に示すように注目点Ａに対し、一方の
側に２点の周辺点Ｂ、Ｄを配し、他方の側に２点の周辺
点Ｃ、Ｅを配している。

本実施例の欠陥検出方式は基本的な考え方は第１の実施
例の欠陥検出方式と同じである。注目点Ａと周辺点Ｂ、
Ｄとを比較し、注目点Ａと周辺点Ｃ、Ｅとを比較する。
注目点Ａの明るさが周辺点Ｂ又はＤのいずれかの明るさ
に比べて一定値以上異なり、かつ、注目点Ａの明るさが
周辺点Ｃ又はＥのいずれかの明るさに比べて一定値以上
異なる場合に、注目点Ａを欠陥とする。

すなわち、各点Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅの明るさをQA、QB、
QC、QD、QEとして、次式が共に成立すれば欠陥ありとす
る。

|QA−（QB又はQD）｜≧（定数Ａ） |QA−（QC又はQE）｜≧（定数Ａ） 本実施例の欠陥検出方式によれば、欠陥の大きさがたま
たま注目点とある周辺点との距離に一致したために欠陥
として検出されなくとも、他の周辺点により欠陥を検出
することが可能となる。

本実施例の欠陥検出回路24の具体例を第15図に示す。

映像信号は４つのシフトレジスタ71〜74に順次入力され
る。各シフトレジスタ71、72、73、74には、それぞれ演
算回路75、76、77、78と比較回路79、80、81、82が設け
られ、注目点Ａと各周辺点Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅの明るさの差
の絶対値が感度設定回路54の設定値より大きいか否かが
判断される。比較回路79と80の出力はORゲート83により
論理和がとられ、比較回路81と82の出力はORゲート84に
より論理和がとられ、これらORゲート83、84の出力はAN
Dゲート85により論理積がとられる。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方を第２の実施
例の欠陥検出方式と同じにしてもよい。すなわち、注目
点Ａの明るさQAが周辺点Ｂ（又はＤ）、Ｃ（又はＥ）の
明るさQB（又はQD）、QC（又はQE）に比較して共に明る
いか暗いかの場合のみ欠陥点とする。注目点Ａの明るさ
QAが周辺点Ｂ（又はＤ）に対しては明るいが、周辺点Ｃ
（又はＥ）に対しては暗い場合、差の絶対値が共に定数
Ａ以上あっても欠陥点とはしない。

すなわち、次式が成立する場合 QA−（QB又はQD）≧（定数Ａ） QA−（QC又はQE）≧（定数Ａ） 及び、次式が成立する場合に注目点Ａを欠陥とする。

QA−（QB又はQD）＜−（定数Ａ） QA−（QC又はQE）＜−（定数Ａ） このようにすることにより、第11図に示すように明るさ
が不均一である場合にも欠陥点を正しく判断することが
できる。

この欠陥検出方式による欠陥検出回路24の具体例を第16
図に示す。

各シフトレジスタ71、72、73、74には、それぞれ第13図
の比較部86、87、88、89が設けられ、注目点Ａが各周辺
点Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅに比べて感度設定回路54の設定値以上
明るいか暗いかが判断される。比較部86〜89の出力信号
ＧはANDゲート91〜94により論理積がとられる。ANDゲー
ト91では比較部87と89の出力信号Ｇの論理積がとられ、
ANDゲート92では比較部87と88の出力信号Ｇの論理積が
とられ、ANDゲート93では比較部86と89の出力信号Ｇの
論理積がとられ、ANDゲート94では比較部86と88の出力
信号Ｇの論理積がとられる。比較部86〜89の出力信号Ｌ
はANDゲート95〜98により論理積がとられる。ANDゲート
95では比較部87と89の出力信号Ｌの論理積がとられ、AN
Dゲート96では比較部87と88の出力信号Ｌの論理積がと
られ、ANDゲート97では比較部86と89の出力信号Ｌの論
理積がとられ、ANDゲート98では比較部86と88の出力信
号Ｌの論理積がとられる。ANDゲート91〜94と95〜98の
出力はORゲート99により論理和がとられ、欠陥検出信号
として出力される。

本発明の第４の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥検
出方式を第14図に用いて説明する。

上記第１及び第２の実施例では注目点Ａに対して１点ず
つの周辺点Ｂ、Ｃにより欠陥か否か判定していたが、本
実施例では第17図に示すように注目点Ａに対し両側にそ
れぞれ多数（実施例では８個）の周辺点B1〜B8及び周辺
点C1〜C8を配している。本実施例は、上記第１及び第２
の実施例において１点である周辺点Ｂ、Ｃを８個ずつの
周辺点B1〜B8、C1〜C8に広がりをもたせたものである。

なお、周辺点B8から周辺点C8の距離は縞模様のストライ
プの幅より短いことが望ましい。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方は第１の実施
例の欠陥検出方式と同じである。注目点Ａの明るさQAと
周辺点B1〜B8の明るさQB1〜QB8とをそれぞれ比較し、注
目点Ａの明るさQAと周辺点C1〜C8の明るさQC1〜QC8とを
それぞれ比較する。注目点Ａの明るさQAが周辺点B1〜B8
のいずれの明るさQB1〜QB8に比べて一定値以上異なり、
かつ、注目点Ａの明るさQAが周辺点C1〜C8のいずれかの
明るさQC1〜QC8に比べて一定値以上異なる場合に、注目
点Ａを欠陥とする。

本実施例の欠陥検出回路24の具体例を第18図に示す。

映像信号は７つのＤフリップフロップ101〜107、シフト
レジスタ51、52、７つのＤフリップフロップ111〜117に
順次入力される。演算回路121は注目点Ａの明るさQAと
各周辺点B1〜B8のそれぞれの明るさQB1〜QB8の差の絶対
値を演算する。比較回路122は、演算回路121による各差
の絶対値がそれぞれ感度設定回路54の設定値より大きい
か否か判断する。演算回路124は注目点Ａの明るさQAと
各周辺点C1〜C8のそれぞれの明るさQC1〜QC8の差の絶対
値を演算する。比較回路123は、演算回路124による各差
の絶対値がそれぞれ感度設定回路54の設定値より大きい
か否か判断する。比較回路122と123の出力はANDゲート5
9により論理積がとられる。

本実施例の欠陥検出方式の基本的な考え方を第２の実施
例の欠陥検出方式と同じにしてもよい。すなわち、注目
点Ａの明るさQAが周辺点B1〜B8の明るさQB1〜QB8、周辺
点C1〜C8の明るさQC1〜QC8に比較して共に明るいか暗い
かの場合のみ欠陥点とする。注目点Ａが周辺点B1〜B8に
対しては明るいが、周辺点C1〜C8に対しては暗い場合、
差の絶対値が共に定数Ａ以上あっても欠陥点とはしな
い。

このようにすることにより、第11図に示すように明るさ
が不均一である場合にも欠陥点を正しく判断することが
できる。

この欠陥検出方式による欠陥検出回路24の具体例を第19
図に示す。

各シフトレジスタ51、52には、それぞれ比較部131、132
が設けられ、注目点Ａが各周辺点B1〜B8、C1〜C8に比べ
て感度設定回路54の設定値以上明るいか暗いかが判断さ
れる。比較部131、132の出力信号ＧはORゲート133、134
で論理和がとられた後、ANDゲート63により論理積がと
られる。比較部131、132の出力信号ＬはORゲート135、1
36で論理和がとられた後、ANDゲート64により論理積が
とられる。ANDゲート63、64の力はORゲート65により論
理和がとられ、欠陥検出信号として出力される。

本発明は上記実施例に限らず種々の変形が可能である。

本発明では注目点に対する周辺点は２点以上幾つでもよ
い。また、注目点と周辺点との距離、及び周辺点間の距
離は任意に設定してもよい。さらに、注目点の両側に同
数の周辺点がある必要はなく、異なる数の周辺点を配置
してもよい。

また、上記実施例では固定位置で回転する壜12を検査し
たが、回転しながら連続して移動する壜12に対しても振
動レンズや振動ミラーを設けることにより検査が可能で
ある。

さらに、上記実施例で２点の明るさの相違を検出するの
に差を演算したが、演算回路で割算を行って比を求め、
その比を所定の設定値と比較してもよい。

また、上記実施例では直線状の縞模様であったが、直線
ではなく曲線状の縞模様でも良い。

さらに、上記実施例では縞模様が壜の回転軸に対して斜
めであったが、回転軸に対して垂直であってもよい。こ
の場合は、明暗をずらした２つの縞模様によりひとつの
壜を２回検査する。

また、上記実施例では拡散板と斜スリットを別部材とし
たが、拡散板に斜め縞模様を一体的に形成したものでも
よい。

さらに、壜は透明又は半透明のガラス壜でもプラスチッ
ク壜でもよく、さらにガラス容器の側面やガラス板の検
査にも本発明を適用することができる。

［発明の効果］ 以上の通り、本発明によれば壜の胴部の遮光性欠陥だけ
でなく屈折性欠陥をも精度よく検出することがができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例による壜の胴部検査装置
のブロック図、 第２図は第１の実施例による壜の胴部検査装置で用いら
れる斜スリット板を示す図、 第３図は第１の実施例による壜の胴部検査装置の透過影
像の全体を示す図、 第４図は第１の実施例による壜の胴部検査装置の欠陥部
分の透過映像を示す図、 第５図は第１の実施例による壜の胴部検査装置における
検査領域と検査ゲートを示す図、 第６図は第１の実施例による壜の胴部検査装置における
欠陥検出方式の説明図、 第７図は第６図に示す欠陥検出方式を実現する欠陥検出
回路の具体例を示すブロック図、 第８図乃至第10図は、それぞれ第６図に示す欠陥検出方
式の検出例の説明図、 第11図は本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出方式の説明図、 第12図、第13図は第２の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図、 第14図は本発明の第３の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出方式の説明図、 第15図、第16図は第３の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図、 第17図は本発明の第４の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出方式の説明図、 第18図、第19図は第４の実施例による壜の胴部検査装置
の欠陥検出回路の具体例を示すブロック図である。 10……拡散光源、10a……拡散板、10b……斜スリット
板、12……壜、14……回転台、16……二次元光電変換装
置、18……A/D変換回路、20……検査領域検査ゲート設
定回路、22……モニタ表示用RAM回路、24……欠陥検出
回路、26……マスク処理回路、28……判定回路、30……
基準信号発生回路、32……壜位置検出器、36……モニ
タ。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】縞模様を形成するようにその胴部を照明
   し、 前記壜の胴部の透過映像を光電変換し、 光電変換された透過映像を前記縞模様の縞方向に対して
   斜め方向に走査し、 この走査線上の近接する少なくとも３点の明るさを比較
   し、 前記少なくとも３点の内側に位置する注目点の明るさが
   両側の周辺点の明るさに対して所定値以上異なる場合に
   前記注目点を欠陥点として検出し、 検出された欠陥点に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無
   を判定する ことを特徴とする壜の胴部検査方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の方法において、 前記縞模様は壜の回転軸に対して斜め方向であることを
   特徴とする壜の胴部検査方法。
3. 【請求項３】請求項１又は２記載の方法において、 前記注目点の明るさが前記周辺点の明るさに対して所定
   値以上異なり、かつ前記注目点が前期周辺点に対して共
   に明るいか暗いかである場合に前記注目点を欠陥点とす
   ることを特徴とする壜の胴部検査方法。
4. 【請求項４】請求項１乃至３のいずれかに記載の方法に
   おいて、 前記周辺点が前記注目点の両側にそれぞれ複数点ずつ設
   けられ、 前記注目点が前記複数の周辺点のいずれかに対して欠陥
   点であれば前記注目点を欠陥点とすること特徴とする壜
   の胴部検査方法。
5. 【請求項５】縞模様を形成するようにその胴部を照明す
   る照明手段と、 前記照明手段により照明された前記壜の胴部の透過映像
   を光電変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段により光電変換された透過映像を前記
   縞模様を横切る方向に走査し、この走査線上の近接する
   少なくとも３点の明るさを比較し、前記少なくとも３点
   の内側の位置する注目点の明るさが両側の周辺点の明る
   さに対して所定値以上異なる場合に前記注目点を欠陥点
   とする欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて前
   記壜の胴部の欠陥の有無を判定する判定手段と を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。
6. 【請求項６】請求項５記載の装置において、 前記照明手段により形成される縞模様は壜の回転軸に対
   して斜め方向であることを特徴とする壜の胴部検査装
   置。
7. 【請求項７】請求項５又は６記載の装置において、 前記欠陥検出手段は、前記注目点の明るさが前記周辺点
   の明るさに対して所定値以上異なり、かつ前記注目点が
   前期周辺点に対して共に明るいか暗いかである場合に前
   記注目点を欠陥点とすることを特徴とする壜の胴部検査
   装置。
8. 【請求項８】請求項５乃至７のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記周辺点が前記注目点の両側にそれぞれ複数点ずつ設
   けられ、 前記欠陥検出手段は、前記注目点が前記複数の周辺点の
   いずれかに対して欠陥点であれば前記注目点を欠陥点と
   することを特徴とする壜の胴部検査装置。