JPS63304146A - 壜の胴部検査装置 - Google Patents
壜の胴部検査装置Info
- Publication number
- JPS63304146A JPS63304146A JP62140597A JP14059787A JPS63304146A JP S63304146 A JPS63304146 A JP S63304146A JP 62140597 A JP62140597 A JP 62140597A JP 14059787 A JP14059787 A JP 14059787A JP S63304146 A JPS63304146 A JP S63304146A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- defect
- scanning line
- inspection device
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 93
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 56
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 23
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 11
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 101100136092 Drosophila melanogaster peng gene Proteins 0.000 description 1
- 235000013334 alcoholic beverage Nutrition 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 235000014214 soft drink Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は回転する壜の胴部の欠陥を検出する壜の胴部検
査装置に関する。
査装置に関する。
酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜は、製壜装
置により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収
壜でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。
置により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収
壜でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。
壜の検査は壜の各部、壜胴、壜底、口部、ねじ口部を検
査することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よ
ごれなど食品衛生上の問題となるものと、クラック泡な
ど破損事故につながるおそれのある欠陥があるため、こ
れら欠陥壜を正確に検出して排除する必要がある。
査することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よ
ごれなど食品衛生上の問題となるものと、クラック泡な
ど破損事故につながるおそれのある欠陥があるため、こ
れら欠陥壜を正確に検出して排除する必要がある。
しかしながら、通常壜の胴部には色むらや肉厚のむらが
あり、これらむらのために本来の欠陥が検出できなかっ
たり、これらむらを欠陥と誤って検出してしまうという
問題点があった。またこれらむらのために検査領域の設
定や感度の設定等を適切に行うことが困難であるという
問題点があった。
あり、これらむらのために本来の欠陥が検出できなかっ
たり、これらむらを欠陥と誤って検出してしまうという
問題点があった。またこれらむらのために検査領域の設
定や感度の設定等を適切に行うことが困難であるという
問題点があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、回転する
壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度調整等を簡単に
行うことができる壜の胴部検査装置を提供することを目
的とする。
壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度調整等を簡単に
行うことができる壜の胴部検査装置を提供することを目
的とする。
上記目的は、回転する壜の胴部を照明する照明手段と、
照明手段により照明された壜の胴部の透過映像を光電変
換する光電変換手段と、光電変換手段により光電変換さ
れた透過映像画面を予め定められた検出走査線上の少な
くとも２点の明るさに基づいて欠陥点を検出する欠陥検
出手段と、欠陥検出手段により検出された欠陥点に基づ
いて検出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判定する
判定手段とを備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置
によって達成される。
照明手段により照明された壜の胴部の透過映像を光電変
換する光電変換手段と、光電変換手段により光電変換さ
れた透過映像画面を予め定められた検出走査線上の少な
くとも２点の明るさに基づいて欠陥点を検出する欠陥検
出手段と、欠陥検出手段により検出された欠陥点に基づ
いて検出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判定する
判定手段とを備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置
によって達成される。
本発明による壜の胴部検査装置は、回転する壜の胴部の
透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥点に基づいて判
定された欠陥走査線の連続状態から欠陥の有無を検査す
る。
透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥点に基づいて判
定された欠陥走査線の連続状態から欠陥の有無を検査す
る。
本発明の一実施例による壜の胴部検査装置を第１図に示
す。本実施例では検査される壜１２は回転しながら連続
して流れていく。この壜１２は均一な拡散光を放つ面を
有する拡散光源１０により照明される。この壜１２の胴
部の透過映像は振動レンズ１４を介して一次元光電変換
装置１６に入射される。−次元光電変換装置１６はリニ
アＣＣＤのように透過映像を電気的アナログ信号に変換
する受光部とこの受光部に透過映像を結像するための光
学系とで構成されている。振動レンズ１４は振動レンズ
駆動装置２１により駆動される。この振動レンズ１４は
、−次元光電変換装置１６の受光部に透過映像が結像す
るように壜１２の動きに同期して動かされる。例えば、
第２図に示すように一次元光電変換装置１６の受光部が
リニアＣＣＤ１６ａで光学系が凸レンズ１６ｂの場合に
は、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レンズ１４を
振動させる。即ち、壜１２が位置Ａから位置Ａ′に移動
するに従い、凹レンズ１４も位置Ａから位置Ａ′に回転
させられる。このようにすると壜１２の透過映像の中心
像が常にリニアＣＣＤ１６ａの一定の位置に結像する。
す。本実施例では検査される壜１２は回転しながら連続
して流れていく。この壜１２は均一な拡散光を放つ面を
有する拡散光源１０により照明される。この壜１２の胴
部の透過映像は振動レンズ１４を介して一次元光電変換
装置１６に入射される。−次元光電変換装置１６はリニ
アＣＣＤのように透過映像を電気的アナログ信号に変換
する受光部とこの受光部に透過映像を結像するための光
学系とで構成されている。振動レンズ１４は振動レンズ
駆動装置２１により駆動される。この振動レンズ１４は
、−次元光電変換装置１６の受光部に透過映像が結像す
るように壜１２の動きに同期して動かされる。例えば、
第２図に示すように一次元光電変換装置１６の受光部が
リニアＣＣＤ１６ａで光学系が凸レンズ１６ｂの場合に
は、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レンズ１４を
振動させる。即ち、壜１２が位置Ａから位置Ａ′に移動
するに従い、凹レンズ１４も位置Ａから位置Ａ′に回転
させられる。このようにすると壜１２の透過映像の中心
像が常にリニアＣＣＤ１６ａの一定の位置に結像する。
壜１２は位置Ａから位置Ａ′に移動する間に１回転自転
させられるので、リニアＣＣＤ１６ａには壜１２の全周
の像が人力することとなる。
させられるので、リニアＣＣＤ１６ａには壜１２の全周
の像が人力することとなる。
Ａ／Ｄ変換器１８は一次元光電変換装置１６からのアナ
ログ映像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変
換する。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート
設定回路２０とモニタ表示用ＲＡＭ回路２２と欠陥検出
回路２４に出力される。
ログ映像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変
換する。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート
設定回路２０とモニタ表示用ＲＡＭ回路２２と欠陥検出
回路２４に出力される。
検査領域検査ゲート設定回路２０は、第３図に示すよう
な透過映像から後述する欠陥検出回路２４で欠陥を検出
する垂直方向の検査領域を定めるための回路である。壜
１２の形状に応じて、壜１２上下端のエツジから検査領
域を定め、この検査領域内を複数の検査ゲートに分けて
設定する。
な透過映像から後述する欠陥検出回路２４で欠陥を検出
する垂直方向の検査領域を定めるための回路である。壜
１２の形状に応じて、壜１２上下端のエツジから検査領
域を定め、この検査領域内を複数の検査ゲートに分けて
設定する。
第３図では壜１２の全体を検査領域とし、この検査領域
を壜１２の形状に応じて５つの検査ゲート１．２．３．
４．５に分けている。検査領域検査ゲート設定回路２０
からは、リニアＣＣＤ１６ａの現在のスキャンの位置が
検査領域内のどの検査ゲートであるかを示す検査ゲート
信号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２、欠陥検出回路２４
、マスク処理回路２６、判定回路２８に出力される。
を壜１２の形状に応じて５つの検査ゲート１．２．３．
４．５に分けている。検査領域検査ゲート設定回路２０
からは、リニアＣＣＤ１６ａの現在のスキャンの位置が
検査領域内のどの検査ゲートであるかを示す検査ゲート
信号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２、欠陥検出回路２４
、マスク処理回路２６、判定回路２８に出力される。
欠陥検出回路２４は、Ａ／Ｄ変換回路１８からのディジ
タル映像信号に基づいて、垂直方向及び水平方向にある
一定距離離れた複数点の明るさを比較することにより欠
陥の検出を行なう。
タル映像信号に基づいて、垂直方向及び水平方向にある
一定距離離れた複数点の明るさを比較することにより欠
陥の検出を行なう。
複数点の明るさを比較する欠陥検出方式には、２点の明
るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥検出方式と３点
の明るさを比較して欠陥を検出する３点欠陥検出方式と
がある。第４図は２点欠陥検出方式の説明図であり、第
５図は３点欠陥検出方式の説明図である。
るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥検出方式と３点
の明るさを比較して欠陥を検出する３点欠陥検出方式と
がある。第４図は２点欠陥検出方式の説明図であり、第
５図は３点欠陥検出方式の説明図である。
２点欠陥検出方式では、比較演算する２点Ａ１Ｂの明る
さをＱＡＳＱＢとして、次式が成立すれば欠陥ありとす
る。
さをＱＡＳＱＢとして、次式が成立すれば欠陥ありとす
る。
ＩＱＡ−ＱＢＩ≧（定数Ａ）
第４図の場合、リニアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａｌ
とＢｌ、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれＱＡＩ、ＱＢＩ
、 ＱＡ２、ＱＢ２として、次式により比較演算するこ
とにより欠陥の検出を行う。
とＢｌ、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれＱＡＩ、ＱＢＩ
、 ＱＡ２、ＱＢ２として、次式により比較演算するこ
とにより欠陥の検出を行う。
Ｉ ＱＡＩ−ＱＢＩ Ｉ≧Ａ
ｌ ＱＡ２− ＱＢ２１ ≧Ａ
なお、定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決めておく。
第４図（ａ）に示すように走査線上の透過映像の明るさ
が均一であれば、 ＱＡＩ−ＱＢＩ＞Ａ ＱＡ２−ＱＢ２−〇 が成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。
が均一であれば、 ＱＡＩ−ＱＢＩ＞Ａ ＱＡ２−ＱＢ２−〇 が成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。
このように明るさが均一であれば、この２点欠陥検出方
式が有効である。しかし、第４図（ｂ）に示すように走
査線上の透過映像の明るさが不均一であると、 Ｉ ＱＡＩ−ＱＢＩ ｌ ＜Ａ Ｉ ＱＡ２− ＱＢ２ ＋ ＜ Ａ となり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがある。
式が有効である。しかし、第４図（ｂ）に示すように走
査線上の透過映像の明るさが不均一であると、 Ｉ ＱＡＩ−ＱＢＩ ｌ ＜Ａ Ｉ ＱＡ２− ＱＢ２ ＋ ＜ Ａ となり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがある。
３点欠陥検出方式はこのような場合でも確実に検出でき
る。３点欠陥検出方式では、比較演算する３点Ａ、Ｂ、
Ｃの明るさをＱＡ、ＱＢ 、ＱＣとして、次式により比
較演算して欠陥を検出する。
る。３点欠陥検出方式では、比較演算する３点Ａ、Ｂ、
Ｃの明るさをＱＡ、ＱＢ 、ＱＣとして、次式により比
較演算して欠陥を検出する。
ｌ ＱＢ −１（ＱＡ ＋ＱＣ）／２１ １≧（定数Ｂ
）なお、定数Ｂは壜の種類等に基づいて予め決めておく
。第５図の場合、リニアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａ
ＩとＢｌとＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２の明るさをそれぞれ
ＱＡＩ、ＱＢＩ、ＱＣＩ、ＱＡ２、ＱＢ２、ＱＣ２とし
て、次式により比較演算することにより欠陥の検出を行
なう。
）なお、定数Ｂは壜の種類等に基づいて予め決めておく
。第５図の場合、リニアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａ
ＩとＢｌとＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２の明るさをそれぞれ
ＱＡＩ、ＱＢＩ、ＱＣＩ、ＱＡ２、ＱＢ２、ＱＣ２とし
て、次式により比較演算することにより欠陥の検出を行
なう。
ＩＱＢＩ−１（ＱＡｔ＋ＱＣｔ）／２）ｌ≧ＢＩＱＢ２
−ｆ（ＱＡ２＋ＱＣ２）／２１ ｌ≧Ｂ中間の点Ｂ１
％Ｂ２の明るさと比較する明るさが両側の点ＡｌとＣ１
、Ａ２とＣ２の明るさの算術平均であるので、明るさが
均一である第５図（ａ）の場合も、明るさが不均一であ
る第５図（ｂ）の場合も正確に欠陥点Ｂ１が検出できる
。
−ｆ（ＱＡ２＋ＱＣ２）／２１ ｌ≧Ｂ中間の点Ｂ１
％Ｂ２の明るさと比較する明るさが両側の点ＡｌとＣ１
、Ａ２とＣ２の明るさの算術平均であるので、明るさが
均一である第５図（ａ）の場合も、明るさが不均一であ
る第５図（ｂ）の場合も正確に欠陥点Ｂ１が検出できる
。
２点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第６図
に示す。２点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ａのシフ
ト幅により定まる。このシフト幅はシフト幅設定部２４
ｂにより定められる。
に示す。２点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ａのシフ
ト幅により定まる。このシフト幅はシフト幅設定部２４
ｂにより定められる。
比較部２４ｃは現在人力されているディジタル映像信号
とシフト幅だけ前のディジタル映像信号であるシフレジ
スタ２４ａの出力信号とを比較し、その差の絶対値が感
度設定部２４ｄに設定された感度（即ち、定数Ａ）より
大きいか否かを判断して欠陥検出信号を出力する。定数
Ａは検査ゲートにより異なるため、感度設定部２４ｄは
入力する検査ゲート信号により適切な定数Ａを比較部２
４ｃに出力する。
とシフト幅だけ前のディジタル映像信号であるシフレジ
スタ２４ａの出力信号とを比較し、その差の絶対値が感
度設定部２４ｄに設定された感度（即ち、定数Ａ）より
大きいか否かを判断して欠陥検出信号を出力する。定数
Ａは検査ゲートにより異なるため、感度設定部２４ｄは
入力する検査ゲート信号により適切な定数Ａを比較部２
４ｃに出力する。
３点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第７図
に示す。３点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次人力されるシフトレジスタ２４ｅ、２４
ｆのシフト幅により定まる。
に示す。３点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次人力されるシフトレジスタ２４ｅ、２４
ｆのシフト幅により定まる。
シフトレジスタ２４ｅ、２４ｆのシフト幅はシフト幅設
定部２４ ｇにより定められる。この具体例では２つの
シフトレジスタ２４ｅ、２４ｆのシフト幅は同じシフト
幅に設定される。演算回路２４ｈは現在入力しているデ
ィジタル映像信号とシフトレジスタ２４ｆから出力され
るディジタル映像信号との算術平均を演算する。これに
より現在走査している映像の平均の明るさが計算される
。
定部２４ ｇにより定められる。この具体例では２つの
シフトレジスタ２４ｅ、２４ｆのシフト幅は同じシフト
幅に設定される。演算回路２４ｈは現在入力しているデ
ィジタル映像信号とシフトレジスタ２４ｆから出力され
るディジタル映像信号との算術平均を演算する。これに
より現在走査している映像の平均の明るさが計算される
。
比較回路２４ｉは演算回路２４ｈにより演算された平均
の明るさと、シフトレジスタ２４ｅからのディジタル映
像信号とを比較し、その差の絶対値が感度設定部２４ｊ
に設定された感度（即ち、定数Ｂ）より大きいか否かを
判断して欠陥検出信号を出力する。定数Ｂは検査ゲート
により異なるため、感度設定部２４ｊは入力する検査ゲ
ート信号により適切な定数Ｂを比較部２４ｉに出力する
。
の明るさと、シフトレジスタ２４ｅからのディジタル映
像信号とを比較し、その差の絶対値が感度設定部２４ｊ
に設定された感度（即ち、定数Ｂ）より大きいか否かを
判断して欠陥検出信号を出力する。定数Ｂは検査ゲート
により異なるため、感度設定部２４ｊは入力する検査ゲ
ート信号により適切な定数Ｂを比較部２４ｉに出力する
。
第６図、第７図はリニアＣＣＤ１６．の走査線（即ち、
壜１２の垂直方向）に添った２点間又は３点間の明るさ
を比較する回路であったが、壜１２の水平方向に添った
２点間又は３点間の明るさを比較する場合には、ディジ
タル映像信号を必要な走査線数分だけメモリ（図示せず
）に記憶し、メモリからディジタル映像信号を走査線に
垂直方向に順次読出してシフトレジスタ２４ａ又は２４
ｅに人力するようにすればよい。なお、この場合シフト
レジスタ２４ａ−又は２４ｅに入力されるディジタル映
像信号は壜１２のスピン速度に依存することになるため
、シフト幅を設定するシフト幅設定回路２４ｂ又は２４
ｇに速度信号を入力している。例えば、壜１２のスピン
速度に応じて４段階のシフト幅設定を行なうことにより
、スピン速度が異なってもほぼ一定距離離れた２点又は
３点の比較を行なうことができる。
壜１２の垂直方向）に添った２点間又は３点間の明るさ
を比較する回路であったが、壜１２の水平方向に添った
２点間又は３点間の明るさを比較する場合には、ディジ
タル映像信号を必要な走査線数分だけメモリ（図示せず
）に記憶し、メモリからディジタル映像信号を走査線に
垂直方向に順次読出してシフトレジスタ２４ａ又は２４
ｅに人力するようにすればよい。なお、この場合シフト
レジスタ２４ａ−又は２４ｅに入力されるディジタル映
像信号は壜１２のスピン速度に依存することになるため
、シフト幅を設定するシフト幅設定回路２４ｂ又は２４
ｇに速度信号を入力している。例えば、壜１２のスピン
速度に応じて４段階のシフト幅設定を行なうことにより
、スピン速度が異なってもほぼ一定距離離れた２点又は
３点の比較を行なうことができる。
欠陥検出回路２４から出力される欠陥検出信号はマスク
処理回路２６によりマスク処理される。
処理回路２６によりマスク処理される。
欠陥検出回路２４で欠陥の検出ミスを防止するため感度
を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点であると誤って
検出してしまうことがある。マスク処理はかかる欠陥検
出信号を除くために行なう処理である。実際の欠陥箇所
ではその大きさに応じた欠陥検出信号が連続して現れる
のに対し、その他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が
離散的に現れる。そこでこのマスク処理では孤立した欠
陥検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検出信
号は、実際には欠陥ではないとして削除する。
を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点であると誤って
検出してしまうことがある。マスク処理はかかる欠陥検
出信号を除くために行なう処理である。実際の欠陥箇所
ではその大きさに応じた欠陥検出信号が連続して現れる
のに対し、その他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が
離散的に現れる。そこでこのマスク処理では孤立した欠
陥検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検出信
号は、実際には欠陥ではないとして削除する。
判定回路２８は、マスク処理回路２６によりマスク処理
された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する。
された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する。
例えば、欠陥検出信号の数をスキャン毎に計数し、その
計数値が所定の設定値を越えるとエラースキャン（欠陥
走査線）とする。更に、そのエラースキャンが連続する
数を計数し、その計数値が所定の設定値を越えた場合に
欠陥壜であると判定する。この判定信号は壜１２の搬送
系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果に応
じて、例えば欠陥壜を排除するようにする。
計数値が所定の設定値を越えるとエラースキャン（欠陥
走査線）とする。更に、そのエラースキャンが連続する
数を計数し、その計数値が所定の設定値を越えた場合に
欠陥壜であると判定する。この判定信号は壜１２の搬送
系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果に応
じて、例えば欠陥壜を排除するようにする。
基準信号発生回路３０は壜位置検出器３２からの壜位置
信号に基づいて、レンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ
Ｍ１ｊ込信号を生成して出力する。
信号に基づいて、レンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ
Ｍ１ｊ込信号を生成して出力する。
レンズ娠角信号は、壜１２の中心線の像を常に一次元光
電変換装置１６で得るように振動レンズ１４を振動させ
るための信号で、振動レンズ駆動回路３４に出力される
。振動レンズ駆動回路３４はこのレンズ振角信号に基づ
いて振動レンズ１４を振動させる。検査期間信号は、振
動レンズ１４が壜１２の動きに追随して動いている間で
ある検査期間を指示するための信号で、判定回路２８に
出力される。ＲＡＭ書込信号は、モニタ表示用ＲＡＭ回
路２２にディジタル映像信号を書込むべきタイミングを
指示するための信号である。これによりモニタ３６は、
検査期間信号で示される検査期間中に等ピッチで例えば
４８０スキヤンのディジタル映像信号を表示する。
電変換装置１６で得るように振動レンズ１４を振動させ
るための信号で、振動レンズ駆動回路３４に出力される
。振動レンズ駆動回路３４はこのレンズ振角信号に基づ
いて振動レンズ１４を振動させる。検査期間信号は、振
動レンズ１４が壜１２の動きに追随して動いている間で
ある検査期間を指示するための信号で、判定回路２８に
出力される。ＲＡＭ書込信号は、モニタ表示用ＲＡＭ回
路２２にディジタル映像信号を書込むべきタイミングを
指示するための信号である。これによりモニタ３６は、
検査期間信号で示される検査期間中に等ピッチで例えば
４８０スキヤンのディジタル映像信号を表示する。
壜１２の位置とレンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡＭ
１Ｆ込信号の関係を第８図、第９図に示す。
１Ｆ込信号の関係を第８図、第９図に示す。
第９図に示すように連続して流れる壜１２のピッチをＬ
１壜１２が１回転するときに移動する距離をｇ （−Ｌ
Ｘｏ、８ ）、振動レンズ１４が壜１２の動きに追随す
る距離をＭ （−ＬＸｏ、９ ）とする。
１壜１２が１回転するときに移動する距離をｇ （−Ｌ
Ｘｏ、８ ）、振動レンズ１４が壜１２の動きに追随す
る距離をＭ （−ＬＸｏ、９ ）とする。
レンズ振角信号は、壜１２がＡ点からＡ′点までの間は
振動レンズ１４が壜１２の動きに追随するように変化す
る。壜１２が振動レンズ１４の位置を中心とする円弧上
を移動する場合、レンズ振角信号は第９図（ａ）に示す
ように所定の傾きの直線となる。壜１２がＡ′点になる
と振動レンズ１４が直ちにＡ点に戻るように変化する。
振動レンズ１４が壜１２の動きに追随するように変化す
る。壜１２が振動レンズ１４の位置を中心とする円弧上
を移動する場合、レンズ振角信号は第９図（ａ）に示す
ように所定の傾きの直線となる。壜１２がＡ′点になる
と振動レンズ１４が直ちにＡ点に戻るように変化する。
この時点では次の壜１２はまだＢ′点にあるので、この
壜１２がＡ点に達するまで変化しない。壜１２がＡ点に
達すると再び振動レンズ１４が壜１２の動きに追随する
ようにレンズ振角信号は変化する。
壜１２がＡ点に達するまで変化しない。壜１２がＡ点に
達すると再び振動レンズ１４が壜１２の動きに追随する
ようにレンズ振角信号は変化する。
検査期間信号は振動レンズ１４が壜１２の動きに追随し
ている距離Ｍのうち壜１２が１回転する距離ｇを含むよ
うな期間として設定される。即ち、例えば検査期間信号
は、第９図（ｂ）に示すようにＬ Ｘｏ、８５ （＞Ｎ
）の期間中ハイレベルとなる。
ている距離Ｍのうち壜１２が１回転する距離ｇを含むよ
うな期間として設定される。即ち、例えば検査期間信号
は、第９図（ｂ）に示すようにＬ Ｘｏ、８５ （＞Ｎ
）の期間中ハイレベルとなる。
ＲＡＭ書込信号は壜１２の一周を走査する走査線の本数
分のパルス信号である。例えば、壜１２の１周を４８０
本の走査線分だけモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込む
とすると、第９図（Ｃ）に示すように検査期間信号がハ
イレベルの間に４８０パルスのＲＡＭ書込信号を出力す
る。
分のパルス信号である。例えば、壜１２の１周を４８０
本の走査線分だけモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込む
とすると、第９図（Ｃ）に示すように検査期間信号がハ
イレベルの間に４８０パルスのＲＡＭ書込信号を出力す
る。
なお、基準信号発生回路３０ではレンズ振角信号、検査
期間信号、ＲＡＭ書込信号を生成するのにＲＯＭを用い
る。即ち、壜位置信号をアドレスとして各アドレスに予
めレンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ Ｍ書込信号を
書込んでおくことにより、壜位置信号をアドレスとして
人力すると適切なレンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ
Ｍ書込信号を得ることができる。
期間信号、ＲＡＭ書込信号を生成するのにＲＯＭを用い
る。即ち、壜位置信号をアドレスとして各アドレスに予
めレンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ Ｍ書込信号を
書込んでおくことにより、壜位置信号をアドレスとして
人力すると適切なレンズ振角信号、検査期間信号、ＲＡ
Ｍ書込信号を得ることができる。
基準信号発生回路３０からのレンズ振角信号に基づいて
振動レンズ駆動回路２１は振動レンズ１４を駆動する。
振動レンズ駆動回路２１は振動レンズ１４を駆動する。
この振動レンズ駆動回路２１は振動レンズ１４側から振
角位置信号をフィードバック信号としてフィードバック
制御する。なお、振動レンズ１４側から振角位置信号が
出力されない場合にはオーブンループで制御する。
角位置信号をフィードバック信号としてフィードバック
制御する。なお、振動レンズ１４側から振角位置信号が
出力されない場合にはオーブンループで制御する。
基準信号発生回路３０からの検査期間信号は例えば判定
回路２８に出力される。判定回路２８は検査期間信号が
ハイレベルの期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効
として、壜１２が欠陥であるか否かを判断する。なお、
この検査期間信号を、検査領域検査ゲート設定回路２０
、欠陥検出回路２４又はマスク処理回路２６に出力し、
検査期間信号がハイレベルの期間中に人力する信号だけ
を有効とするようにしてもよい。
回路２８に出力される。判定回路２８は検査期間信号が
ハイレベルの期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効
として、壜１２が欠陥であるか否かを判断する。なお、
この検査期間信号を、検査領域検査ゲート設定回路２０
、欠陥検出回路２４又はマスク処理回路２６に出力し、
検査期間信号がハイレベルの期間中に人力する信号だけ
を有効とするようにしてもよい。
基り信号発生回路３０からのＲＡＭ書込信号はモニタ表
示用ＲＡＭ回路２２に出力される。このＲＡＭ書込信号
に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８からのディジタル映像信
号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込まれる。モニタ
表示用ＲＡＭ回路２２にはＲＡＭ書込信号の他にマスク
処理回路２６から欠陥検出信号と判定回路２８がらのエ
ラースキャン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路２０からの検査ゲート信号が入力されている
。欠陥検出信号及びエラースキャン信号に基づいて欠陥
点やエラースキャンをモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書
込む。また検査ゲート信号に基づいてモニタ３６上に検
査ゲートを表示する。
示用ＲＡＭ回路２２に出力される。このＲＡＭ書込信号
に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８からのディジタル映像信
号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込まれる。モニタ
表示用ＲＡＭ回路２２にはＲＡＭ書込信号の他にマスク
処理回路２６から欠陥検出信号と判定回路２８がらのエ
ラースキャン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路２０からの検査ゲート信号が入力されている
。欠陥検出信号及びエラースキャン信号に基づいて欠陥
点やエラースキャンをモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書
込む。また検査ゲート信号に基づいてモニタ３６上に検
査ゲートを表示する。
モニタ表示用ＲＡＭ回路２２は２つのフレームメモリを
有し、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、検
査中の壜１２のディジタル映像信号と前回検査した壜１
２のディジタル映像信号とを記憶する。通常は検査中の
壜１２のディジタル映像信号を順々にモニタ３６に表示
するが、判定回路２８からの欠陥壜であるとの判定信号
が人力されると、その欠陥壜のディジタル映像信号を記
憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表示し、欠
陥の状態を詳細に検査することができる。
有し、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、検
査中の壜１２のディジタル映像信号と前回検査した壜１
２のディジタル映像信号とを記憶する。通常は検査中の
壜１２のディジタル映像信号を順々にモニタ３６に表示
するが、判定回路２８からの欠陥壜であるとの判定信号
が人力されると、その欠陥壜のディジタル映像信号を記
憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表示し、欠
陥の状態を詳細に検査することができる。
このように本実施例によれば連続して移動しながら回転
する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状態を詳細に調べ
ることができる。
する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状態を詳細に調べ
ることができる。
本発明は上記実施例に限らず以下に示すように種々の変
形が可能である。
形が可能である。
上記実施例では第２図に示すように振動レンズ１４を一
次元光電変換装置１６の光学系１６ｂと壜１２の間の位
置に設けたが、第１０図に示すように一次元光電変換装
置１６の光学系の一部として振動レンズ１６ｃを設け、
この振動レンズ１６ｃを壜１２の動きに追随して動かし
てもよい。
次元光電変換装置１６の光学系１６ｂと壜１２の間の位
置に設けたが、第１０図に示すように一次元光電変換装
置１６の光学系の一部として振動レンズ１６ｃを設け、
この振動レンズ１６ｃを壜１２の動きに追随して動かし
てもよい。
また、振動レンズの代わりに第１１図に振動ミラー３８
を設け、壜１２の動きに追随してこの振動ミラー３８を
振動させるようにしてもよい。
を設け、壜１２の動きに追随してこの振動ミラー３８を
振動させるようにしてもよい。
また振動レンズを用いた場合は、振動レンズと一次元光
電変換装置からなる光学検出系が一直線に並べられてい
るので、光学検出系を横方向に近接して並べることがで
きる。従って、連続して流れる壜１２の動きが速く一つ
の光学系では検出できない場合でも、第１２図に示すよ
うに振動レンズ１４１．１４２．１４３．１４４と一次
元光電変換装置１６１．１６２．１６３．１６４からな
る光学検出系を例えば４台並べることにより、高速で移
動する壜１２を検出することができる。
電変換装置からなる光学検出系が一直線に並べられてい
るので、光学検出系を横方向に近接して並べることがで
きる。従って、連続して流れる壜１２の動きが速く一つ
の光学系では検出できない場合でも、第１２図に示すよ
うに振動レンズ１４１．１４２．１４３．１４４と一次
元光電変換装置１６１．１６２．１６３．１６４からな
る光学検出系を例えば４台並べることにより、高速で移
動する壜１２を検出することができる。
また上記実施例では回転しながら連続して移動する壜１
２を検査したが、固定位置で回転する壜１２に対しては
第１３図に示すように振動レンズや振動ミラーを設けず
に固定した一次元光電変換装置１６により壜１２の全周
の透過映像を得るようにする。
２を検査したが、固定位置で回転する壜１２に対しては
第１３図に示すように振動レンズや振動ミラーを設けず
に固定した一次元光電変換装置１６により壜１２の全周
の透過映像を得るようにする。
さらに上記実施例では壜１２の透過映像を検出するのに
一次元光電変換装置を用いたが、エリアＣＣＤのような
二次元光電変換装置を用いてもよい。
一次元光電変換装置を用いたが、エリアＣＣＤのような
二次元光電変換装置を用いてもよい。
また欠陥検出方式も上記実施例に示したものに限らず種
々の変形が可能である。例えば、比較演算する２点の明
るさをＱＡ 、ＱＢとして、次式のいずれかが成立すれ
ば欠陥ありとしてもよい。
々の変形が可能である。例えば、比較演算する２点の明
るさをＱＡ 、ＱＢとして、次式のいずれかが成立すれ
ば欠陥ありとしてもよい。
ＱＡ ／ＱＢ≧（定数Ｃ）
ＱＡ ／ＱＢ≦１／（定数Ｃ）
また比較する３点の明るさを、ＱＡ、ＱＢ、ＱＣとして
、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
ＱＢ ／１（ＱＡ ＋ＱＣ）／２＋ ≧（定数Ｄ）ＱＢ
／＋（ＱＡ ＋ＱＣ）／２＋ ≦１／（定数Ｄ）なお
定数０２定数りは１以上の数である。
／＋（ＱＡ ＋ＱＣ）／２＋ ≦１／（定数Ｄ）なお
定数０２定数りは１以上の数である。
以上の通り本発明によれば検査領域の設定や感度調整等
を適切に行なって回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検
出することがができる。
を適切に行なって回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検
出することがができる。
第１図は本発明の一実施例による壜の胴部検査装置のブ
ロック図、第２図は開場の胴部検査装置の光学検出系を
示す図、第３図は開場の胴部検査装置における検査領域
と検査ゲートを示す図、第４図、第５図は開場の胴部検
査装置における欠陥検出方式の説明図、第６図、第７図
はこれら欠陥検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例
を示すブロック図、第８図、第９図は開場の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間信号、
ＲＡＭ書込信号の関係を説明するための図、第１０図、
第１１図、第１２図、第１３図は壜の胴部検査装置の光
学検出系の他の具体例を示す図である。 １０・・・拡散光源、１２・・・壜、１４・・・振動レ
ンズ、１６・・・−次元光電変換装置、１８・・・Ａ／
Ｄ変換回路、２０・・・検査領域検査ゲート設定回路、
２２・・・モニタ表示用ＲＡＭ回路、２４・・・欠陥検
出回路、２６・・・マスク処理回路、２８・・・判定回
路、３０・・・基準信号発生回路、３２・・・壜位置検
出器、３６・・・モニタ、３８・・・振動ミラー。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第３図 第６図 鵬Ｙ図 ｌ〉（Ａ） 鵬１０図 第１２区 ≦≦二〇＝ミう 悄１３図
ロック図、第２図は開場の胴部検査装置の光学検出系を
示す図、第３図は開場の胴部検査装置における検査領域
と検査ゲートを示す図、第４図、第５図は開場の胴部検
査装置における欠陥検出方式の説明図、第６図、第７図
はこれら欠陥検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例
を示すブロック図、第８図、第９図は開場の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間信号、
ＲＡＭ書込信号の関係を説明するための図、第１０図、
第１１図、第１２図、第１３図は壜の胴部検査装置の光
学検出系の他の具体例を示す図である。 １０・・・拡散光源、１２・・・壜、１４・・・振動レ
ンズ、１６・・・−次元光電変換装置、１８・・・Ａ／
Ｄ変換回路、２０・・・検査領域検査ゲート設定回路、
２２・・・モニタ表示用ＲＡＭ回路、２４・・・欠陥検
出回路、２６・・・マスク処理回路、２８・・・判定回
路、３０・・・基準信号発生回路、３２・・・壜位置検
出器、３６・・・モニタ、３８・・・振動ミラー。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第３図 第６図 鵬Ｙ図 ｌ〉（Ａ） 鵬１０図 第１２区 ≦≦二〇＝ミう 悄１３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、回転する壜の胴部を照明する照明手段と、前記照明
手段により照明された前記壜の胴部の透過映像を光電変
換する光電変換手段と、 前記光電変換手段により光電変換された透過映像画面を
予め定められた検出走査線上の少なくとも２点の明るさ
に基づいて欠陥点を検出する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて前
記検出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線の
連続状態に基づいて前記壜の胴部の欠陥の有無を判定す
る判定手段と を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の壜の胴部検査装置にお
いて、前記壜の胴部の透過映像から前記欠陥検出手段に
より検出する所定領域を定める検出領域設定手段を有す
ることを特徴とする壜の胴部検査装置。 ３、特許請求の範囲第１項または第２項記載の壜の胴部
検査装置において、前記壜は回転しながら連続的に移動
し、連続して移動する前記壜の透過映像が順次前記光電
変換手段上に結像するように前記壜から前記光電変換手
段に至る光路を変更する光路変更手段を備えたことを特
徴とする壜の胴部検査装置。 ４、特許請求の範囲第３項記載の壜の胴部検査装置にお
いて、前記光路変更手段は、前記壜がら前記光電変換手
段に至る光路途中に位置するレンズを前記壜の移動に追
随させて振動させる振動手段を有することを特徴とする
壜の胴部検査装置。 ５、特許請求の範囲第３項記載の壜の胴部検査装置にお
いて、前記光路変更手段は、前記壜から前記光電変換手
段に至る光路途中に位置するミラーを前記壜の移動に追
随させて振動させる振動手段を有することを特徴とする
壜の胴部検査装置。 ６、特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれかに記載
の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検出手段は、欠
陥走査線上の近接した２点の明るさを比較することによ
り欠陥点を検出することを特徴とする壜の胴部検査装置
。 ７、特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれかに記載
の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検出手段は、欠
陥走査線上の近接した３点のうち両端の２点の明るさの
平均値を真中の点の明るさと比較することにより欠陥点
を検出することを特徴とする壜の胴部検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
| US07/112,246 US4866263A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-21 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| CA000550048A CA1273694A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| AU80087/87A AU596454B2 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| EP87115664A EP0293510B1 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Apparatus for inspecting side-wall of bottle |
| DE8787115664T DE3783907T2 (de) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Vorrichtung zur pruefung der seitenwand einer flasche. |
| KR1019870011944A KR960016171B1 (ko) | 1987-06-04 | 1987-10-28 | 병의 측벽 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63304146A true JPS63304146A (ja) | 1988-12-12 |
| JPH0549181B2 JPH0549181B2 (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=15272397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62140597A Granted JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4866263A (ja) |
| EP (1) | EP0293510B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63304146A (ja) |
| KR (1) | KR960016171B1 (ja) |
| AU (1) | AU596454B2 (ja) |
| CA (1) | CA1273694A (ja) |
| DE (1) | DE3783907T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0658888A (ja) * | 1992-06-19 | 1994-03-04 | Owens Brockway Glass Container Inc | 対向反射装置を用いる透明容器の検査 |
| JPH0880475A (ja) * | 1994-05-14 | 1996-03-26 | Maschimpex Gmbh | 製薬工業、製菓工業等における小形製品を形態及び色に応じて分別する自動分別装置 |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6396095A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜のねじ口部検査装置 |
| JPH01299443A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Kirin Brewery Co Ltd | 光軸変更式壜検査装置 |
| JPH0641924B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1994-06-01 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜胴部の欠陥検出装置 |
| EP0344617B1 (en) * | 1988-05-30 | 1995-08-02 | Kabushiki Kaisha Kirin Techno System | Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles |
| DE3831401A1 (de) * | 1988-09-15 | 1990-03-29 | Kolb Gmbh & Co Hans | Verfahren und vorrichtung zur automatisierten beruehrungsfreien oberflaechenkontrolle von zylindrischen teilen |
| DE4022733C1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-05-08 | Elpatronic Ag, Zug, Ch | Three=dimensional cavity inspection appts. - uses matrix or line camera to receive reflected light via gp. of four mirrors and deflecting mirror |
| DK17791D0 (da) * | 1991-02-01 | 1991-02-01 | Novo Nordisk As | Beholderinspektion |
| US5243400A (en) * | 1992-04-27 | 1993-09-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers |
| US5405015A (en) * | 1993-08-11 | 1995-04-11 | Videojet Systems International, Inc. | System and method for seeking and presenting an area for reading with a vision system |
| FR2742865B1 (fr) * | 1995-12-22 | 1998-01-16 | Saint Gobain Cinematique | Procede de controle d'un recipient en verre |
| GB9720864D0 (en) * | 1997-10-01 | 1997-12-03 | Univ Nottingham Trent | Line-scan imaging in 3-d |
| US6473169B1 (en) | 2000-05-03 | 2002-10-29 | Air Logic Power Systems, Inc. | Integrated leak and vision inspection system |
| KR20010084934A (ko) * | 2001-05-16 | 2001-09-07 | 전주한 | Tilt-up 벽판의 단열 시공 기술 |
| US7060999B2 (en) | 2004-07-09 | 2006-06-13 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Apparatus and method for inspecting ribbed containers |
| EP1630550A1 (en) | 2004-08-27 | 2006-03-01 | Moller & Devicon A/S | Methods and apparatuses of detecting foreign particles or faults in a plurality of filled containers |
| KR101090105B1 (ko) * | 2011-08-26 | 2011-12-07 | 피엔에스테크놀러지(주) | 원통형 물체 표면 검사 장치 |
| US10422755B2 (en) * | 2016-12-07 | 2019-09-24 | Applied Vision Corporation | Identifying defects in transparent containers |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3411009A (en) * | 1964-10-05 | 1968-11-12 | Fords Fensbury Ltd | Radiation sensitive apparatus for detecting dirt in transparent bottles |
| US3877821A (en) * | 1973-07-23 | 1975-04-15 | Inex Inc | Apparatus for detecting flaws using an array of photo sensitive devices |
| US4029416A (en) * | 1973-11-15 | 1977-06-14 | Hawes Roland C | Sample-background-signal autocancellation in fluid-sample analyzers |
| US4378494A (en) * | 1980-11-07 | 1983-03-29 | Owens-Illinois, Inc. | Apparatus and method for detecting defects in glass bottles using event proximity |
| US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
| DE3111194C2 (de) * | 1981-03-21 | 1984-01-05 | Fa. Hermann Heye, 3063 Obernkirchen | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung von Fehlern von Glasgegenständen |
| JPS5899738A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-14 | Yamamura Glass Kk | 透明体の欠陥検出装置 |
| JPS60220850A (ja) * | 1984-04-17 | 1985-11-05 | Suntory Ltd | 容器検査装置 |
| GB2157824B (en) * | 1984-04-19 | 1988-09-14 | Owens Illinois Inc | Inspecting and sorting of glass containers |
| JPS61107144A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Kirin Brewery Co Ltd | 容器の検査方法 |
| US4655349A (en) * | 1984-12-27 | 1987-04-07 | Brockway, Inc. | System for automatically inspecting transparent containers for sidewall and dimensional defects |
| JPS6396095A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜のねじ口部検査装置 |
-
1987
- 1987-06-04 JP JP62140597A patent/JPS63304146A/ja active Granted
- 1987-10-21 US US07/112,246 patent/US4866263A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-23 CA CA000550048A patent/CA1273694A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-23 AU AU80087/87A patent/AU596454B2/en not_active Ceased
- 1987-10-26 EP EP87115664A patent/EP0293510B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-26 DE DE8787115664T patent/DE3783907T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-28 KR KR1019870011944A patent/KR960016171B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0658888A (ja) * | 1992-06-19 | 1994-03-04 | Owens Brockway Glass Container Inc | 対向反射装置を用いる透明容器の検査 |
| JPH0880475A (ja) * | 1994-05-14 | 1996-03-26 | Maschimpex Gmbh | 製薬工業、製菓工業等における小形製品を形態及び色に応じて分別する自動分別装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1273694A (en) | 1990-09-04 |
| DE3783907D1 (de) | 1993-03-11 |
| KR960016171B1 (ko) | 1996-12-04 |
| JPH0549181B2 (ja) | 1993-07-23 |
| AU596454B2 (en) | 1990-05-03 |
| AU8008787A (en) | 1988-12-08 |
| EP0293510B1 (en) | 1993-01-27 |
| DE3783907T2 (de) | 1993-05-19 |
| EP0293510A3 (en) | 1989-10-11 |
| KR890000877A (ko) | 1989-03-17 |
| US4866263A (en) | 1989-09-12 |
| EP0293510A2 (en) | 1988-12-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63304146A (ja) | 壜の胴部検査装置 | |
| JPH0641924B2 (ja) | 壜胴部の欠陥検出装置 | |
| US4376951A (en) | Foreign matter detecting device | |
| CA1252849A (en) | Glassware inspection using optical streak detection | |
| EP0337421B1 (en) | Method and device for inspecting sidewall of bottle | |
| US4736851A (en) | Process and apparatus for the automatic inspection by transparency contrast in particular of containers | |
| JPH0690150B2 (ja) | 壜の胴部検査方法及び装置 | |
| US5486692A (en) | Glassware inspection machine comprising diffused light sources and two-dimensional cameras | |
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| NO309213B1 (no) | Fremgangsmåte og apparat for inspeksjon av væskefylte beholdere | |
| JP2000055829A (ja) | 単一領域のアレイセンサと交互のストロボ光源を使用する容器の検査装置及びその方法 | |
| MX2014000972A (es) | Metodo y dispositivo para la deteccion confiable de defectos de material en un material transparente. | |
| JPH01299443A (ja) | 光軸変更式壜検査装置 | |
| JPH0682388A (ja) | 走行中のストリップの欠陥の検出装置 | |
| JPS6210379B2 (ja) | ||
| JPH06118026A (ja) | 容器内面検査方法 | |
| JP3104151B2 (ja) | カラーラインセンサカメラ使用の缶内面外面の欠陥検査方法 | |
| JPH09101128A (ja) | 容器口天面の欠陥検査装置 | |
| JP2701872B2 (ja) | 面付パターンの欠陥検査装置 | |
| JP3210846B2 (ja) | シート状物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置 | |
| JPH08210992A (ja) | 容器内の沈澱異物の検査方法および装置 | |
| JPS5871442A (ja) | 検びん装置 | |
| JPH0210254A (ja) | 瓶外観検査装置 | |
| JPH06103277B2 (ja) | 壜胴部の欠陥検出装置 | |
| MXPA99004896A (en) | Inspection of containers through the use of a single area arrangement detector and selected light sources alternativame |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |