JPH0646447B2 - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPH0646447B2 JPH0646447B2 JP59152820A JP15282084A JPH0646447B2 JP H0646447 B2 JPH0646447 B2 JP H0646447B2 JP 59152820 A JP59152820 A JP 59152820A JP 15282084 A JP15282084 A JP 15282084A JP H0646447 B2 JPH0646447 B2 JP H0646447B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は薄膜磁気ヘツドに関し、特に高精度ギヤツプ深
さ加工に好適な製造方法に関するものである。
さ加工に好適な製造方法に関するものである。
〔発明の背景〕 従来の薄膜磁気ヘツドにおいて、ギヤツプ深さを加工す
る際は、実素子ではなく、加工検知パターンにより加工
量を決めている為、実素子と加工検知パターンの間にず
れが生じ、素子間の並び精度等により、ギヤツプ深さ寸
法のバラツキが起こるとうい問題があつた。ギヤツプ深
さ寸法が大きいと、記録媒体側へ十分な記録磁界が得ら
れなくなる。又、ギヤツプ深さがゼロ位置より更にギヤ
ツプ深さ加工を追い込み過ぎると、ギヤツプ長の増加、
媒体対向面側への有機樹脂の露出が発生し、耐クラツシ
ュ性が悪くなる。
る際は、実素子ではなく、加工検知パターンにより加工
量を決めている為、実素子と加工検知パターンの間にず
れが生じ、素子間の並び精度等により、ギヤツプ深さ寸
法のバラツキが起こるとうい問題があつた。ギヤツプ深
さ寸法が大きいと、記録媒体側へ十分な記録磁界が得ら
れなくなる。又、ギヤツプ深さがゼロ位置より更にギヤ
ツプ深さ加工を追い込み過ぎると、ギヤツプ長の増加、
媒体対向面側への有機樹脂の露出が発生し、耐クラツシ
ュ性が悪くなる。
耐クラツクシュ性については、従来第1図の層間絶縁層
9の前端を位置Aより後退させることにより、磁気ギヤ
ツプ深さ0(位置A)まで、加工してもトラツク面に有
機樹脂部が露出せず、耐クラツシュ性を向上できるよう
にしていた(特開昭58−9882号公報参照)。ま
た、層間絶縁層9を、有機絶縁材と有機絶縁材で構成
し、磁気ギヤツプ深さが0になるまで加工してもトラツ
ク面に露出するのは、無機絶縁材だけとなるように形成
して耐クラツシュ性を向上させたものがある(特開昭5
8−111116号公報参照)。
9の前端を位置Aより後退させることにより、磁気ギヤ
ツプ深さ0(位置A)まで、加工してもトラツク面に有
機樹脂部が露出せず、耐クラツシュ性を向上できるよう
にしていた(特開昭58−9882号公報参照)。ま
た、層間絶縁層9を、有機絶縁材と有機絶縁材で構成
し、磁気ギヤツプ深さが0になるまで加工してもトラツ
ク面に露出するのは、無機絶縁材だけとなるように形成
して耐クラツシュ性を向上させたものがある(特開昭5
8−111116号公報参照)。
しかし、ギヤツプ深さ寸法が小さく、高精度ギヤツプ深
さを有し、かつ耐クラツシュ性に優れた薄膜磁気ヘツド
を安定して製造することは困難である。
さを有し、かつ耐クラツシュ性に優れた薄膜磁気ヘツド
を安定して製造することは困難である。
本発明の目的は、ギヤツプ深さ寸法の小さい、高精度ギ
ヤツプ深さを有し、耐クラツシュ性の優れた薄膜磁気ヘ
ツドを安定して製造することができる薄膜磁気ヘツドの
製造方法を提供することにある。
ヤツプ深さを有し、耐クラツシュ性の優れた薄膜磁気ヘ
ツドを安定して製造することができる薄膜磁気ヘツドの
製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の薄膜磁気ヘツドの
製造方法では、有機絶縁膜をマスクとしてギヤツプ材を
エツチングした後、さらに前記有機絶縁膜をエツチング
することに特徴がある。
製造方法では、有機絶縁膜をマスクとしてギヤツプ材を
エツチングした後、さらに前記有機絶縁膜をエツチング
することに特徴がある。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第2図は、本発明の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
る。
第2図(a)において、基板1上に、下地膜2を介して、
下部磁性体3の形成,ギヤツプ材4の形成,導体コイル
5の形成,有機絶縁膜6の形成を順次行う。有機絶縁膜
6はスピン塗布,熱硬化により膜形成され、ネガ型ホト
レジストを用いたウエツトエツチングにより30〜50
度のテーパー形状をもつパターンを得ることができる。
下部磁性体3の形成,ギヤツプ材4の形成,導体コイル
5の形成,有機絶縁膜6の形成を順次行う。有機絶縁膜
6はスピン塗布,熱硬化により膜形成され、ネガ型ホト
レジストを用いたウエツトエツチングにより30〜50
度のテーパー形状をもつパターンを得ることができる。
次に第2図(b)に示す様に、有機絶縁膜6をマスクとし
てギヤツプ材4をエツチングする。この方法はウエツト
式,ドライ式のどちらでもよいが、ギヤツプと有機絶縁
膜6のエツチングレートが同等になる方法が望ましい。
これはギヤツプ材4にテーパを持たせる為である。
てギヤツプ材4をエツチングする。この方法はウエツト
式,ドライ式のどちらでもよいが、ギヤツプと有機絶縁
膜6のエツチングレートが同等になる方法が望ましい。
これはギヤツプ材4にテーパを持たせる為である。
例えば、イオンミリング装置を用い、CF4圧力1.6
×10-4torr、加速電圧500V、イオン入射角60度
の条件でエツチングすると、ギヤツプ材(Al
2O3),有機絶縁膜(PIQ),のエツチング選択比
は、6:5程度であり、ギヤツプ材4に有機絶縁膜テー
パ角を転写することができる。
×10-4torr、加速電圧500V、イオン入射角60度
の条件でエツチングすると、ギヤツプ材(Al
2O3),有機絶縁膜(PIQ),のエツチング選択比
は、6:5程度であり、ギヤツプ材4に有機絶縁膜テー
パ角を転写することができる。
第2図(c)に示すように、再び、有機絶縁膜6をエツチ
ングする。これはギヤツプ深さ加工停止点より有機絶縁
膜先端点(ギヤツプ深さゼロ位置)を後退させる為であ
り、有機絶縁膜6だけを選択的にエツチングすることが
できる方法を選べばよい。例えば、イオンミリング装置
を用い、O2圧力1.6×10-4torr,加速電圧400
V,イオン入射角90度の条件で10分間エツチングす
ると有機絶縁膜6は2〜3μmギヤツプ材パターンより
小さくなる。従つて、第2図(c)に示すA点が有機絶縁
膜先端点となり、ギヤツプ深さゼロ位置となる。又、有
機絶縁膜後退量が、ギヤツプ深さ寸法となる(元の位置
を破線で示す)。
ングする。これはギヤツプ深さ加工停止点より有機絶縁
膜先端点(ギヤツプ深さゼロ位置)を後退させる為であ
り、有機絶縁膜6だけを選択的にエツチングすることが
できる方法を選べばよい。例えば、イオンミリング装置
を用い、O2圧力1.6×10-4torr,加速電圧400
V,イオン入射角90度の条件で10分間エツチングす
ると有機絶縁膜6は2〜3μmギヤツプ材パターンより
小さくなる。従つて、第2図(c)に示すA点が有機絶縁
膜先端点となり、ギヤツプ深さゼロ位置となる。又、有
機絶縁膜後退量が、ギヤツプ深さ寸法となる(元の位置
を破線で示す)。
第2図(d)に示すように、上部磁性体7,保護膜8を順
次形成し、薄膜ヘツド素子が完成する。
次形成し、薄膜ヘツド素子が完成する。
第2図(d)に示す媒体対向面側であるC方向からギヤツ
プ深さ加工を行い、ギヤツプ材4が、必要ギヤツプ長と
なるB点まで研磨することにより薄膜磁気ヘツドが完成
する。
プ深さ加工を行い、ギヤツプ材4が、必要ギヤツプ長と
なるB点まで研磨することにより薄膜磁気ヘツドが完成
する。
本実施例によれば、薄膜ヘツドは、有機絶縁膜6の後退
量によりギヤツプ深さを高精度に制御することができ、
ギヤツプ長の変化により、ギヤツプ深さ加工を高精度で
停止させることができる。
量によりギヤツプ深さを高精度に制御することができ、
ギヤツプ長の変化により、ギヤツプ深さ加工を高精度で
停止させることができる。
さらに、有機絶縁膜6を露出させることなくギヤツプ深
さ寸法を小さくすることができる。
さ寸法を小さくすることができる。
ギヤツプ深さ加工は、実素子のギヤツプ長を監視しなが
らできるので、加工検知パターンは不要になり、実素子
と加工検知パターンのズレ、素子間の並び精度は問題に
ならなくなる。従つて、基板面内の素子有効面積を広く
とることができる。又、有機絶縁膜6をテーパ形状を持
つたパターンに形成した後、再度有機絶縁膜6をエツチ
ングして後退させるので、ギヤツプ深さ寸法が均一な薄
膜磁気ヘツドを製造することができる。
らできるので、加工検知パターンは不要になり、実素子
と加工検知パターンのズレ、素子間の並び精度は問題に
ならなくなる。従つて、基板面内の素子有効面積を広く
とることができる。又、有機絶縁膜6をテーパ形状を持
つたパターンに形成した後、再度有機絶縁膜6をエツチ
ングして後退させるので、ギヤツプ深さ寸法が均一な薄
膜磁気ヘツドを製造することができる。
本発明によれば、ギヤツプ深さ寸法の小さい、高精度ギ
ヤツプ深さ寸法を有する,電気的特性の均一な薄膜磁気
ヘツドを安定して製造することができる。したがつて、
薄膜磁気ヘツドは、高性能かつ高信頼性になり、高歩留
りで製造できる。
ヤツプ深さ寸法を有する,電気的特性の均一な薄膜磁気
ヘツドを安定して製造することができる。したがつて、
薄膜磁気ヘツドは、高性能かつ高信頼性になり、高歩留
りで製造できる。
第1図は薄膜磁気ヘツドの断面図、第2図(a)〜(d)は薄
膜磁気ヘツドの断面図であり、製造プロセス図である。 1:基板、2:下地膜、3:下部磁性体、4:ギヤツプ
材、5:導体コイル、6:有機絶縁膜、7:上部磁性
体、8:保護膜、9:層間絶縁層、10:絶縁層。
膜磁気ヘツドの断面図であり、製造プロセス図である。 1:基板、2:下地膜、3:下部磁性体、4:ギヤツプ
材、5:導体コイル、6:有機絶縁膜、7:上部磁性
体、8:保護膜、9:層間絶縁層、10:絶縁層。
Claims (1)
- 【請求項1】基板上に下部磁性体、ギャップ材、導体コ
イル、有機絶縁膜及び上部磁性体を形成してなる薄膜磁
気ヘッドの製造方法において、前記有機絶縁膜をマスク
として前記ギャップ材をエッチングした後、さらに前記
有機絶縁膜をエッチングして前記ギャップ材端部よりギ
ャップ深さ寸法だけ後退させ、ギャップ深さ加工時に前
記下部磁性体と上部磁性体の間に前記ギャップ材が露出
したところで加工停止することを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59152820A JPH0646447B2 (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
US06/758,464 US4749439A (en) | 1984-07-25 | 1985-07-24 | Method for manufacturing thin film magnetic head |
US07/202,555 US5045961A (en) | 1984-07-25 | 1988-06-06 | Thin film magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59152820A JPH0646447B2 (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6132212A JPS6132212A (ja) | 1986-02-14 |
JPH0646447B2 true JPH0646447B2 (ja) | 1994-06-15 |
Family
ID=15548866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59152820A Expired - Lifetime JPH0646447B2 (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4749439A (ja) |
JP (1) | JPH0646447B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63173213A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
JP2901749B2 (ja) * | 1990-11-19 | 1999-06-07 | 株式会社日立製作所 | 磁気抵抗効果型ヘッド |
US5435053A (en) * | 1994-03-02 | 1995-07-25 | International Business Machines Corporation | Simplified method of making merged MR head |
US5544774A (en) * | 1994-08-26 | 1996-08-13 | Aiwa Research And Development, Inc. | Method of eliminating pole recession in a thin film magnetic head |
US5901431A (en) * | 1995-06-07 | 1999-05-11 | International Business Machines Corporation | Method of fabricating a thin film inductive head having a second pole piece having a mushroom yoke portion |
JPH0916925A (ja) * | 1995-06-28 | 1997-01-17 | Yamaha Corp | 誘導型・mr型複合磁気ヘッドおよびその製造方法 |
US5877924A (en) * | 1996-05-08 | 1999-03-02 | Nec Corporation | Thin film magnetic head including negative photoresist |
US5966800A (en) * | 1997-07-28 | 1999-10-19 | Read-Rite Corporation | Method of making a magnetic head with aligned pole tips and pole layers formed of high magnetic moment material |
JP2000242911A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Tdk Corp | 複合型薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
US6417998B1 (en) | 1999-03-23 | 2002-07-09 | Read-Rite Corporation | Ultra small advanced write transducer and method for making same |
US6631546B1 (en) * | 2000-02-01 | 2003-10-14 | International Business Machines Corporation | Self-aligned void filling for mushroomed plating |
JP2002343639A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-11-29 | Sony Corp | 薄膜コイルおよび磁気ヘッドならびに薄膜コイルの製造方法および磁気ヘッドの製造方法 |
US6870705B2 (en) * | 2002-01-17 | 2005-03-22 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Magnetic head having short pole yoke length and method for fabrication thereof |
US7692893B2 (en) * | 2004-06-30 | 2010-04-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Side-by-side magnetic head configuration with flared pole tip layer and read sensor sharing same plane |
US7251878B2 (en) * | 2004-06-30 | 2007-08-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method and apparatus for defining leading edge taper of a write pole tip |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5898822A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-11 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツド |
JPS58108019A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-28 | Trio Kenwood Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
JPS58111116A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-02 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツド |
US4511942A (en) * | 1982-05-07 | 1985-04-16 | Computer & Communications Technology Corp. | Automatic throat height control for film heads |
US4528065A (en) * | 1982-11-24 | 1985-07-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and its manufacturing method |
US4425183A (en) * | 1983-08-08 | 1984-01-10 | Ncr Corporation | Metal bevel process for multi-level metal semiconductor applications |
US4560436A (en) * | 1984-07-02 | 1985-12-24 | Motorola, Inc. | Process for etching tapered polyimide vias |
JPS6176642A (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-19 | Hitachi Ltd | Co―Ni―Fe合金の電気めっき浴及び電気めっき方法 |
US4560435A (en) * | 1984-10-01 | 1985-12-24 | International Business Machines Corporation | Composite back-etch/lift-off stencil for proximity effect minimization |
JPS62173607A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
-
1984
- 1984-07-25 JP JP59152820A patent/JPH0646447B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-07-24 US US06/758,464 patent/US4749439A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-06-06 US US07/202,555 patent/US5045961A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6132212A (ja) | 1986-02-14 |
US4749439A (en) | 1988-06-07 |
US5045961A (en) | 1991-09-03 |
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