JPS63173213A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPS63173213A JPS63173213A JP62004081A JP408187A JPS63173213A JP S63173213 A JPS63173213 A JP S63173213A JP 62004081 A JP62004081 A JP 62004081A JP 408187 A JP408187 A JP 408187A JP S63173213 A JPS63173213 A JP S63173213A
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 43
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 12
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3163—Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
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- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
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- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
- Y10T29/49021—Magnetic recording reproducing transducer [e.g., tape head, core, etc.]
- Y10T29/49032—Fabricating head structure or component thereof
- Y10T29/49036—Fabricating head structure or component thereof including measuring or testing
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- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
- Y10T29/49021—Magnetic recording reproducing transducer [e.g., tape head, core, etc.]
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Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜磁気ヘッドの製造方法に係り、特に斉密度
記録・再生に好適な狭いトラック幅と浅いギャップ深さ
を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法に関する。
記録・再生に好適な狭いトラック幅と浅いギャップ深さ
を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法に関する。
従来の７＃膜磁気ヘツドの製造方法としては、特開昭６
０−２５８７１５号公報や特開昭６１−３２２１２号公
報に開示されている様に、ギャップ深さ寸法を高精度形
成するものが知られている。しかし、近年の薄膜磁気ヘ
ッドは、従来よりも更に高密度記録・再生を達成するこ
とを目標としており、従来技術では狭トラツク幅形成・
トラック幅寸法の高精度化及び浅いギャップ深さ形成に
関しては、配慮されていなかった。
０−２５８７１５号公報や特開昭６１−３２２１２号公
報に開示されている様に、ギャップ深さ寸法を高精度形
成するものが知られている。しかし、近年の薄膜磁気ヘ
ッドは、従来よりも更に高密度記録・再生を達成するこ
とを目標としており、従来技術では狭トラツク幅形成・
トラック幅寸法の高精度化及び浅いギャップ深さ形成に
関しては、配慮されていなかった。
従来の１１ ′ｙ３．ｍ気へラドの製造方法において、
トラック幅やトラック幅精度は、薄ｎｕ ６１１気ヘツ
ドの上部磁性体を形成する際のホトレジストパターン形
成で定まる。即ち、上部磁性体を形成する際のホトレジ
ストパターン形成において、有機絶縁膜の段差上に必要
となる３〜４μｍ膜厚のホトレジストを形成すると、ト
ラック幅を決定する段差テーパ部の下端においては１３
〜１６μｍのレジスト膜厚となり、高精度にトランク幅
を形成することや、レジスト膜厚より小さい寸法となる
狭トラック幅を形成することが困難であった。従って、
従来技術では高精度トランク幅形成・狭トラツク幅形成
・浅いギャップ深さ形成の点について配慮されておらず
、トランク幅を決定する上部磁性体は、厚い有機絶縁膜
の段差があるため、高精度に形成することが困難である
という問題点があった。
トラック幅やトラック幅精度は、薄ｎｕ ６１１気ヘツ
ドの上部磁性体を形成する際のホトレジストパターン形
成で定まる。即ち、上部磁性体を形成する際のホトレジ
ストパターン形成において、有機絶縁膜の段差上に必要
となる３〜４μｍ膜厚のホトレジストを形成すると、ト
ラック幅を決定する段差テーパ部の下端においては１３
〜１６μｍのレジスト膜厚となり、高精度にトランク幅
を形成することや、レジスト膜厚より小さい寸法となる
狭トラック幅を形成することが困難であった。従って、
従来技術では高精度トランク幅形成・狭トラツク幅形成
・浅いギャップ深さ形成の点について配慮されておらず
、トランク幅を決定する上部磁性体は、厚い有機絶縁膜
の段差があるため、高精度に形成することが困難である
という問題点があった。
本発明は、上記した従来技術の問題点に鑑みなされたも
ので、高精度トラック幅形成・狭トラツク幅形成・浅い
ギャップ深さ形成に好適な薄膜磁気ヘッドの製造方法を
提供することを目的としている。
ので、高精度トラック幅形成・狭トラツク幅形成・浅い
ギャップ深さ形成に好適な薄膜磁気ヘッドの製造方法を
提供することを目的としている。
本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法は、基板上に第１の
磁性体・ギャップ材・渦巻状の巻き線から成るａｔ体・
絶縁膜・第２の磁性体・保護膜を順次ａ層するものであ
り、特に皇紀絶縁膜の導電、体が存在しない領域に、長
方形で側面がテーパ状の凹部を形成してギャップ材を露
出させ、次に上記絶縁膜をマスクとしてギャップ材を所
望のギャップ長までエツチングし、次に第２の磁性体を
全面に形成することを特徴としている。
磁性体・ギャップ材・渦巻状の巻き線から成るａｔ体・
絶縁膜・第２の磁性体・保護膜を順次ａ層するものであ
り、特に皇紀絶縁膜の導電、体が存在しない領域に、長
方形で側面がテーパ状の凹部を形成してギャップ材を露
出させ、次に上記絶縁膜をマスクとしてギャップ材を所
望のギャップ長までエツチングし、次に第２の磁性体を
全面に形成することを特徴としている。
即ち、本発明においては、上記目的を達成するため、第
２の磁性体形成前の段差の影響のないプロセスにおいて
、絶縁膜に長方形の凹部（テーパ状）を形成してギャッ
プ材を露出させ、この状態で絶縁膜をマスクとしてギャ
ップ材をエツチングする。上記凹部をエツチングした結
果、第１の磁性体上のギャップ材には、テーパ状の凹部
が形成され、基板面と水平な面となる凹部底面において
、適正ギャップ長となり、かつ上記底部は一辺がトラッ
ク幅寸法となり、他の一辺がほぼギャップ深さ寸法とな
る長方形に形成される。この底面の長方形寸法精度は、
段差の影響のない状態で形成されるため、高精度に形成
することができる。更にこの上に上部磁性体を形成する
ことにより適正ギャップ長をはさみ、第１の磁性体と第
２の磁性体が対向する様にし、高精度狭トラック幅寸法
、高精度で小さいギャップ深さを有する薄膜磁気ヘッド
を得ることができる。
２の磁性体形成前の段差の影響のないプロセスにおいて
、絶縁膜に長方形の凹部（テーパ状）を形成してギャッ
プ材を露出させ、この状態で絶縁膜をマスクとしてギャ
ップ材をエツチングする。上記凹部をエツチングした結
果、第１の磁性体上のギャップ材には、テーパ状の凹部
が形成され、基板面と水平な面となる凹部底面において
、適正ギャップ長となり、かつ上記底部は一辺がトラッ
ク幅寸法となり、他の一辺がほぼギャップ深さ寸法とな
る長方形に形成される。この底面の長方形寸法精度は、
段差の影響のない状態で形成されるため、高精度に形成
することができる。更にこの上に上部磁性体を形成する
ことにより適正ギャップ長をはさみ、第１の磁性体と第
２の磁性体が対向する様にし、高精度狭トラック幅寸法
、高精度で小さいギャップ深さを有する薄膜磁気ヘッド
を得ることができる。
上記した様に、本発明は段差の影響のないプロセスにお
いて、長方形の凹部（テーパ状）をギヤツブ材に形成す
ることにより、狭いトラック幅寸法を浅いギャップ深さ
寸法の高精度化を同時に実現するものである。
いて、長方形の凹部（テーパ状）をギヤツブ材に形成す
ることにより、狭いトラック幅寸法を浅いギャップ深さ
寸法の高精度化を同時に実現するものである。
トラック幅寸法は凹部の底部寸法により決定するため、
第２の磁性体形成時のレジストパターンはこのホール底
部の寸法より大きい寸法で形成でき、高精度化を必要と
しない。
第２の磁性体形成時のレジストパターンはこのホール底
部の寸法より大きい寸法で形成でき、高精度化を必要と
しない。
更に、第１の磁性体と第２磁性体は少なくとも媒体対向
側にて、はぼ、所定の浅いギャップ深さに等しい長さで
ギャップ材をはさんで対向する部分を有し、この部分よ
り前方部、後方部でギャップ長が大となる構造であるの
で、ギャップ深さ加工途中において、前記前方部のギャ
ップ長の変化を加工面側から監視することにより、ギャ
ップ長が適正になったところを加工終点とすることで、
素子形成面側からギヤツブ深さを測定しなくてもすみ、
高精度で短かい寸法のギヤツブ深さを有するヘッド構造
を実現することができる。
側にて、はぼ、所定の浅いギャップ深さに等しい長さで
ギャップ材をはさんで対向する部分を有し、この部分よ
り前方部、後方部でギャップ長が大となる構造であるの
で、ギャップ深さ加工途中において、前記前方部のギャ
ップ長の変化を加工面側から監視することにより、ギャ
ップ長が適正になったところを加工終点とすることで、
素子形成面側からギヤツブ深さを測定しなくてもすみ、
高精度で短かい寸法のギヤツブ深さを有するヘッド構造
を実現することができる。
以下、添付の図面に示す実施例により、更に詳細に本発
明について説明する。
明について説明する。
第１図（ａ）、 （ｂ）、 （Ｃ）、 （ｄ）、 （ｅ
）は、本発明による薄膜磁気ヘッドの製造方法の一実施
例を示すブロック図であり、素子部中央断面を示してい
る。第１図（ａ）に示す様に、セラミック基板１上に下
地膜２゜下部磁性体３を順次形成する。次に、ギャップ
材４となる無機絶縁膜をギャップ長より厚く形成する。
）は、本発明による薄膜磁気ヘッドの製造方法の一実施
例を示すブロック図であり、素子部中央断面を示してい
る。第１図（ａ）に示す様に、セラミック基板１上に下
地膜２゜下部磁性体３を順次形成する。次に、ギャップ
材４となる無機絶縁膜をギャップ長より厚く形成する。
例えば、ギャップ長０．５μｍのときは２．０μｍμｍ
膜厚色なる様に、基板面のほぼ全面にＡ ／ ｚｏ＊を
ギャップ材４としてスパッタリングにより堆積する。更
に、導体コイル５をスパッタリングやメッキにより形成
する。
膜厚色なる様に、基板面のほぼ全面にＡ ／ ｚｏ＊を
ギャップ材４としてスパッタリングにより堆積する。更
に、導体コイル５をスパッタリングやメッキにより形成
する。
次に、第１図（ｂ）に示す様に、この上にポリイミド系
樹脂等の有機絶縁膜をスピン塗布して熱硬化し、更にホ
トレジストを用いてエツチングし、表面の平坦な絶縁Ｄ
Ｉ ６を形成する。この絶縁膜６のパターンは、下部磁
性体３と上部磁性体を接続するバンクギャップ部ＢＧと
本発明の詳細な説明ラド先端部ＨＴに長方形のホール部
を形成するために、３０〜５０″のテーパ角を有し、か
つ断面が台形形状になる様に形成される。また、ヘッド
先端部）ｉ ”Ｉ’の長方形ボール寸法は、次の工程で
のエツチングにおい°ζ所定のトラック幅寸法と所定の
ギヤツブ深さ寸法とになる様な寸法に形成する。
樹脂等の有機絶縁膜をスピン塗布して熱硬化し、更にホ
トレジストを用いてエツチングし、表面の平坦な絶縁Ｄ
Ｉ ６を形成する。この絶縁膜６のパターンは、下部磁
性体３と上部磁性体を接続するバンクギャップ部ＢＧと
本発明の詳細な説明ラド先端部ＨＴに長方形のホール部
を形成するために、３０〜５０″のテーパ角を有し、か
つ断面が台形形状になる様に形成される。また、ヘッド
先端部）ｉ ”Ｉ’の長方形ボール寸法は、次の工程で
のエツチングにおい°ζ所定のトラック幅寸法と所定の
ギヤツブ深さ寸法とになる様な寸法に形成する。
次に、第１図（Ｃ）に示す様に、絶縁膜６をマスクとし
てギャップ材４となる無機絶縁膜をエツチングする。但
し、このエツチングは、エツチングされる部分であるヘ
ッド先端部Ｈ′Ｆの膜がギャップ長に等しくなった時点
で停止する。例えば、ギャップ材（無ｉ絶縁膜）４の膜
厚が２．０μｍの場合には、１．５μｍエツチングし、
ギャップ長として０．５μｍの膜厚が残る様にする。又
、エツチング形状は、絶縁膜６のテーパ形状が転写する
様にする。例えば、イオンミリング装置を用いて、ＣＦ
。
てギャップ材４となる無機絶縁膜をエツチングする。但
し、このエツチングは、エツチングされる部分であるヘ
ッド先端部Ｈ′Ｆの膜がギャップ長に等しくなった時点
で停止する。例えば、ギャップ材（無ｉ絶縁膜）４の膜
厚が２．０μｍの場合には、１．５μｍエツチングし、
ギャップ長として０．５μｍの膜厚が残る様にする。又
、エツチング形状は、絶縁膜６のテーパ形状が転写する
様にする。例えば、イオンミリング装置を用いて、ＣＦ
。
圧力１．６Ｘ１０−’ Ｔｏｒｒ 、加速電圧５００Ｖ
、 イオン入射角６０°の条件でエツチングすると、ギ
ャップ材（Ａ ｊ！ Ｊｓ） ４、絶縁膜（ポリイミド
系樹脂）６のエツチング選択比は、６：５程度であり、
ギヤツブ材４にテーパ角を転写することがでてき、かつ
絶縁膜６とギャップ材４のテーパ部は連続したテーパ形
状とすることができる。このヘッド先端部ＨＴの底部に
おいて、寸法すが所定のギャップ深さ寸法（例えば２．
０μｍ）で、これと直角方向に所定のトラック幅寸法（
例えば、１０μｍ）となる長方形に形成する。
、 イオン入射角６０°の条件でエツチングすると、ギ
ャップ材（Ａ ｊ！ Ｊｓ） ４、絶縁膜（ポリイミド
系樹脂）６のエツチング選択比は、６：５程度であり、
ギヤツブ材４にテーパ角を転写することがでてき、かつ
絶縁膜６とギャップ材４のテーパ部は連続したテーパ形
状とすることができる。このヘッド先端部ＨＴの底部に
おいて、寸法すが所定のギャップ深さ寸法（例えば２．
０μｍ）で、これと直角方向に所定のトラック幅寸法（
例えば、１０μｍ）となる長方形に形成する。
上記したヘッド先端部ＨＴの底部寸法の精度は、絶縁膜
６のホトレジストパターン精度、絶縁膜６・ギャップ材
４のエツチング精度によって定まる。
６のホトレジストパターン精度、絶縁膜６・ギャップ材
４のエツチング精度によって定まる。
次に、第１図（ｄ）に示す様に、磁気回路形成部ｄ以外
の絶縁膜６及び、バンクギャップ部のギャップ材４を除
去する。これと同様のヘッド先端部ＨＴの底部形状は、
絶縁膜６をマスクとしてギャップ材４を完全にエツチン
グした後、基板全面にギャップ材を形成し、バックギャ
ップ部のギャップ材を除去することにより形成すること
も可能である。
の絶縁膜６及び、バンクギャップ部のギャップ材４を除
去する。これと同様のヘッド先端部ＨＴの底部形状は、
絶縁膜６をマスクとしてギャップ材４を完全にエツチン
グした後、基板全面にギャップ材を形成し、バックギャ
ップ部のギャップ材を除去することにより形成すること
も可能である。
次に、上部磁性体７と保護膜８を形成し、第１図（ｅ）
に示す薄膜磁気ヘッド素子を得る。上部磁性体７のトラ
ンク幅部の寸法は、絶縁膜６のトランク幅寸法より大き
く形成し、高精度に形成する必要はない。また、絶縁膜
６の材質は、ギャップ材４とのエツチング選択比が得ら
れるものであれば、有機材料でも無機材料でも良い。
に示す薄膜磁気ヘッド素子を得る。上部磁性体７のトラ
ンク幅部の寸法は、絶縁膜６のトランク幅寸法より大き
く形成し、高精度に形成する必要はない。また、絶縁膜
６の材質は、ギャップ材４とのエツチング選択比が得ら
れるものであれば、有機材料でも無機材料でも良い。
次に、第２図から第４図を用いて、完成後の薄膜磁気ヘ
ッド素子について説明する。第２図は素子完成後におけ
るヘッド先端部ＨＴを示す平面図、第３図は素子完成後
における薄膜磁気ヘッドを示す中央断面図、第４図はギ
ャップ深さ加工後の記録媒体対向面側の薄膜磁気ヘッド
を示す側面図である。第２図と第４図において、寸法ａ
がトラック幅となり、寸法すがギャップ深さの最大値と
なる。薄膜磁気ヘッド素子完成後記録媒体対向面側から
最適なギャップ深さになる様に加工し、ギャップ材が適
正ギャップ長となる加工ラインＡで加工を停止する。こ
の場合、第３図に示す様にギャップ深さ寸法は寸法すよ
り小さい寸法Ｃとなる。
ッド素子について説明する。第２図は素子完成後におけ
るヘッド先端部ＨＴを示す平面図、第３図は素子完成後
における薄膜磁気ヘッドを示す中央断面図、第４図はギ
ャップ深さ加工後の記録媒体対向面側の薄膜磁気ヘッド
を示す側面図である。第２図と第４図において、寸法ａ
がトラック幅となり、寸法すがギャップ深さの最大値と
なる。薄膜磁気ヘッド素子完成後記録媒体対向面側から
最適なギャップ深さになる様に加工し、ギャップ材が適
正ギャップ長となる加工ラインＡで加工を停止する。こ
の場合、第３図に示す様にギャップ深さ寸法は寸法すよ
り小さい寸法Ｃとなる。
従って、適正ギャップ長の領域において、適正ギャップ
深さ寸法と適正トラック幅寸法を有する薄膜磁気ヘッド
を得ることができる。
深さ寸法と適正トラック幅寸法を有する薄膜磁気ヘッド
を得ることができる。
本実施例に従って、薄膜磁気ヘッドを製作し、性能を評
価した結果、高性能・高信頼性を有し、高密度記録に適
した薄膜磁気ヘッドであることが確認できた。
価した結果、高性能・高信頼性を有し、高密度記録に適
した薄膜磁気ヘッドであることが確認できた。
本発明によれば、狭いトラック幅寸法、小さいギャップ
深さ寸法を有する薄膜磁気ヘッドを高精度で形成するこ
とができる。従って、高密度記録・再生に適した高性能
・高信頼性のヘッドを高歩留りで製造できる効果がある
。
深さ寸法を有する薄膜磁気ヘッドを高精度で形成するこ
とができる。従って、高密度記録・再生に適した高性能
・高信頼性のヘッドを高歩留りで製造できる効果がある
。
第１図（ａ）、 （ｂ）、 （Ｃ１，（ｄ）、 （ｅ）
は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法の一実施例を示す
説明図、第２図は完成した薄膜磁気ヘッド先端部を示す
平面図、第３図は完成した薄膜磁気ヘッドの中央断面図
、第４図は完成した薄膜磁気ヘッドの記録媒体対向面側
の平面図である。 ｌ・・・基板、２・・・下地膜、３・・・下部磁性体、
４・・・ギャップ材、５・・・コイル、６・・・絶縁膜
、７・・・上部磁性体、８・・・保護膜、Ａ・・・加工
ライン、ａ・・・所定のトラック幅寸法、ｂ・・・所定
のギャップ深さ寸法（最大値）、Ｃ・・・ギャップ深さ
寸法、ｄ・・・磁気回路形成部。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第２図
は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法の一実施例を示す
説明図、第２図は完成した薄膜磁気ヘッド先端部を示す
平面図、第３図は完成した薄膜磁気ヘッドの中央断面図
、第４図は完成した薄膜磁気ヘッドの記録媒体対向面側
の平面図である。 ｌ・・・基板、２・・・下地膜、３・・・下部磁性体、
４・・・ギャップ材、５・・・コイル、６・・・絶縁膜
、７・・・上部磁性体、８・・・保護膜、Ａ・・・加工
ライン、ａ・・・所定のトラック幅寸法、ｂ・・・所定
のギャップ深さ寸法（最大値）、Ｃ・・・ギャップ深さ
寸法、ｄ・・・磁気回路形成部。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第２図
Claims (1)
- １、基板上に第１の磁性体・ギャップ材・渦巻状の巻き
線から成る導電体・絶縁膜・第２の磁性体・保護膜を順
次積層する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、上記絶
縁膜の導電体が存在しない領域に、テーパ状に凹部を形
成してギャップ材を露出させ、次に上記絶縁膜をマスク
としてギャップ材を所望のギャップ長までエッチングし
、次に第２の磁性体を全面に形成することを特徴とする
薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62004081A JPS63173213A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
| US07/142,696 US4841624A (en) | 1987-01-13 | 1988-01-11 | Method of producing a thin film magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62004081A JPS63173213A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63173213A true JPS63173213A (ja) | 1988-07-16 |
Family
ID=11574834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62004081A Pending JPS63173213A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4841624A (ja) |
| JP (1) | JPS63173213A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0389143A2 (en) * | 1989-03-20 | 1990-09-26 | Hitachi, Ltd. | Thin film magnetic heads, their manufacture and magnetic information storage apparatus including them |
| US6305072B1 (en) | 1996-11-28 | 2001-10-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing thin film magnetic head |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2501873B2 (ja) * | 1988-06-23 | 1996-05-29 | シャープ株式会社 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| US5236735A (en) * | 1989-05-27 | 1993-08-17 | Tdk Corporation | Method of producing a thin film magnetic head |
| JPH0478012A (ja) * | 1990-07-12 | 1992-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| US5086360A (en) * | 1990-09-06 | 1992-02-04 | Applied Magnetics Corporation | Constant flying height slider |
| US5269895A (en) * | 1991-05-21 | 1993-12-14 | North American Philips Corporation | Method of making composite structure with single domain magnetic element |
| US5470491A (en) * | 1992-07-03 | 1995-11-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Process for producing a thin-film magnetic head having an insulation formed of a ladder-type silicone resin |
| US5282308A (en) * | 1992-12-29 | 1994-02-01 | International Business Machines Corporation | Thin film planarization process for fabricating magnetic heads employing a stitched pole structure |
| EP0635821A1 (en) * | 1993-07-22 | 1995-01-25 | International Business Machines Corporation | A process for the fabrication of thin film magnetic heads |
| US5452164A (en) * | 1994-02-08 | 1995-09-19 | International Business Machines Corporation | Thin film magnetic write head |
| US5435053A (en) * | 1994-03-02 | 1995-07-25 | International Business Machines Corporation | Simplified method of making merged MR head |
| US5544774A (en) * | 1994-08-26 | 1996-08-13 | Aiwa Research And Development, Inc. | Method of eliminating pole recession in a thin film magnetic head |
| US6118627A (en) * | 1994-10-31 | 2000-09-12 | Seagate Technology Llc | Thin film head design improving top pole width control |
| US6178066B1 (en) | 1998-05-27 | 2001-01-23 | Read-Rite Corporation | Method of fabricating an improved thin film device having a small element with well defined corners |
| JP3474447B2 (ja) * | 1998-07-10 | 2003-12-08 | Ｔｄｋ株式会社 | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法 |
| US6191468B1 (en) * | 1999-02-03 | 2001-02-20 | Micron Technology, Inc. | Inductor with magnetic material layers |
| US6178070B1 (en) | 1999-02-11 | 2001-01-23 | Read-Rite Corporation | Magnetic write head and method for making same |
| JP2000242911A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Tdk Corp | 複合型薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| US6466402B1 (en) | 1999-06-18 | 2002-10-15 | Read-Rite Corporation | Compact MR write structure |
| US7089651B2 (en) * | 2001-10-05 | 2006-08-15 | Headway Technologies, Inc. | Process of manufacturing coil layers using a novel combination of photoexposure and thermal curing to achieve shape control of a photoresist material |
| US7145427B2 (en) * | 2003-07-28 | 2006-12-05 | Tdk Corporation | Coil component and method of manufacturing the same |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59104717A (ja) * | 1982-12-08 | 1984-06-16 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツドおよびその製造方法 |
| JPS60258715A (ja) * | 1984-06-04 | 1985-12-20 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
| JPH0646447B2 (ja) * | 1984-07-25 | 1994-06-15 | 株式会社日立製作所 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
-
1987
- 1987-01-13 JP JP62004081A patent/JPS63173213A/ja active Pending
-
1988
- 1988-01-11 US US07/142,696 patent/US4841624A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4841624A (en) | 1989-06-27 |
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