JPH04192105A - 薄膜磁気ヘッド及びそれを搭載した磁気ディスク装置 - Google Patents

薄膜磁気ヘッド及びそれを搭載した磁気ディスク装置

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JPH04192105A
JPH04192105A JP32078490A JP32078490A JPH04192105A JP H04192105 A JPH04192105 A JP H04192105A JP 32078490 A JP32078490 A JP 32078490A JP 32078490 A JP32078490 A JP 32078490A JP H04192105 A JPH04192105 A JP H04192105A
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盛明 府山
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栄次 芦田
Takashi Kawabe
川辺 隆
Koichi Nishioka
浩一 西岡
Hideki Yamazaki
秀樹 山崎
Tetsuya Okai
哲也 岡井
Ken Sugita
杉田 愃
Shinji Narushige
成重 真治
Hiroshi Fukui
宏 福井
Shunichiro Kuwazuka
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、薄膜磁気ヘッドに係り、特に高記録密度を達
成するために、基板に凹部を形成し、その内部に磁性体
、絶縁層、コイルを形成した構造を有する薄膜磁気ヘッ
ドとそれを搭載した磁気ディスク装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来の薄膜磁気ヘッドは基板上に下部磁性体、ギャップ
層、絶縁層、導体コイル及び上部磁性層を順次形成し、
所□定形状にパターン化することを繰り返して積層して
作製していた。しかし、記録密度が高くなるにしたがっ
て、トラック幅は狭くなり、かつ高精度化が要求されて
くる。
さらに、ヘッドのS/Nを大きくするためにはコイルの
多巻線化及び低抵抗化が必要である。
そのためには、コイルは多層化にし、かつコイル高さを
高くする必要がある。トラック幅の狭トラツク化、高精
度化を図るためには、ヘッドを低段差構造にして、素子
高さをできるだけ低クシ、トラック幅加工をする必要が
ある。
例えば、第8図に示す特開昭62−84415号公報の
従来技術がそれである。第8図は基板1の上に形成した
絶縁膜2にあらかじめ加工して凹部を作製し、その中に
下部磁性層3、第1層絶縁層4、導体コイル5、第2層
絶縁層6、ギャップ層7及び上部磁性体8を形成し、ヘ
ッドを作製するものである。本構造の場合、上部磁性体
8がほぼ平坦部に形成されることから、トラック幅加工
は容易であり、高精度化が達成されるとしている。
しかし、前記の特開昭62−84415号公報には、基
板に凹部を作製する場合、凹部のテーパ形状、特にギャ
ップ先端部のテーパ角は記録磁界的にも重要であるが、
そのテーパ角などについては述べられていない。さらに
、テーパ部では下部磁性体が薄くなり、磁束が飽和する
ことが考えられるが、これらの点についても考慮されて
いない。また、高密度化を達成するためには狭トラツク
化以外に、ヘッドのS/Nを向上させる必要がある。そ
のためには、コイルの多巻線化及び低抵抗化を図る必要
がある。しかし、前記公報では多巻線化、低抵抗化の観
点からの、基板の凹部構造について検討がされていない
。特に、多巻線でコイル高さを高くした場合、素子高さ
が高くなることから、基板に凹部加工する深さが重要と
なってくる。素子高さと凹部深さとの関係についてはま
ったく明らかにされていない。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来技術はトラック幅を高精度化する方法に関しての構
造については検討されているが、しかし、ヘッド特性に
大きく寄与する磁界強度を大きくするための構造、つま
り凹部のテーパ角、ギャップ深さ零の形成位置(66判
)、下部磁性膜(+)の形成位置、インナギャップ角度
などについては、配慮がされていない。また、素子高さ
と凹部深さの関係、コイルの多巻線、低抵抗化を考慮し
たヘッド構造の配慮がなされておらず、基板に凹部を形
成したヘッド構造の特徴を生かすことができず、ヘッド
特性に問題があった。
本発明の目的は、コイルの多巻線化、低抵抗化を可能に
して、かつトラック幅の高精度化を達成することのでき
る基板に凹部を有する薄膜磁気ヘッドとそれを搭載した
磁気ディスク装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明では、基板表面に、
絶縁膜、下部磁性体、ギャップ層、絶縁層、コイル及び
上部磁性体を順次パターン化して積層した積層体からな
り、下部及び上部磁性体の一端はギャップ層のみを挟持
して磁極先端部を構成し、他端はスルホール部を介して
直接接続され、下部及び上部磁性体が前記一端と他端と
の間において絶縁層により絶縁され、絶縁層を介して、
2層以上の多巻線コイルを有する構造の薄膜磁気ヘッド
において、基板もしくはその上に形成された絶縁膜に、
凹部が形成されており、その凹部に下部磁性体、ギャッ
プ層、絶縁層、コイルが埋め込まれ、第2層以上の絶縁
膜でギャップ深さ零が決められていることを特徴とする
薄膜磁気ヘッドとしたも゛のである。
又、上記他の目的を達成するために、本発明では、2層
以上の多巻線コイルを有する薄膜磁気ヘッドにおいて、
コイル高さは3〜10μm1コイル間隙は1.5〜3μ
mであることを特徴とする薄膜磁気ヘッドとしたもので
あり、また、本発明では、凹部を有する基板上に下部磁
性体を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、前記下部磁性体
の先端幅のひろがり開始位置が、ギャップ深さ零と前記
凹部のテーパ最下端との間にあることを特徴とする薄膜
磁気ヘッドとしたものであり、更に、本発明では、2層
以上の導体コイルを有し、該コイルを絶縁する複数の絶
縁層を有する基板上に形成された薄膜磁気ヘッドにおい
て、 前記基板が凹部を有し、該凹部に形成された第1層目の
絶縁層を有し、磁気ギャップ深さ零の位置を第2層目以
上の絶縁層で決めることを特徴とする薄膜磁気ヘッドと
したものである。
また、上記もう一つの目的を達成するた袷に、本発明で
は、磁気ディスク及びそれを回転保持する手段と、該磁
気ディスクに対して機能する磁気ヘッドとを有する磁気
ディスク装置において、該磁気ヘッドとして上記の薄膜
磁気ヘッドを搭載したことを特徴とする磁気ディスク装
置としたものである。
本発明では、基板上に形成された絶縁膜に高精度で、か
つ再現性よく凹部を作製する必要があるため、まず、凹
部のテーパ角コントロールについて検討した。その結果
、凹部のテーパ角はあらかじめホトレジスト膜のテーパ
角をコントロールしておき、^1.D、とホトレジスト
とのエツチング速度比(選択比)が高いC)IP、ガス
を用いてミリングすればよい。ホトレジスト膜のテーパ
角はベーク温度とベータ前の露光量によりコントロール
できることを明らかにし、本発明に採用している。凹部
のテーパ角は磁界強度の点から40±10°の範囲がよ
く、この角度範囲をコントロールするためには、凹部の
エツチング深さとしては約10μm以下が望ましい。
凹部のテーパ部においては、磁性膜の形成膜厚が薄くな
ることから、磁化の飽和が起こる。
そこで、本発明でのヘッド構造においては、下部磁性体
の膜厚を上部磁性体の膜厚より厚くし、また、下部磁性
体は凹部の立下るところからパターンを広くしだもりで
ある。さらに、下部磁性体を2層構造にし、下層の下部
磁性体(I)のパターン先端は凹部のテーパ部分から形
成され、この凹部テーパ部はその上に積層される下部磁
性体(II)と2層構造になるようにしている。
S/Nを向上し、かつ狭トラツク幅に対応するためには
、コイルの多巻線化、低抵抗化が必要であり、かつ全体
の素子高さをできるだけ低くする必要がある。そのため
に、少なくとも一層目のコイルは凹部の中に形成し、2
層目以上のコイルは基板表面以上に形成したものである
そして、コイル高さは3〜10μmでコイル間隙は1.
5〜3μmとしたものである。
基板に凹部を有するヘッド構造において、素子の並び精
度はギャップ加工するために非常に重要である。並び精
度を達成するために、2層目以上の絶縁膜でギャップ深
さ零を決定するようにし、かつ、ギャップ深さ零の位置
は(第2層以上のホトレジスト絶縁膜の先端位置)、凹
部の立下り点より前にしたものである。
凹部を有するヘッド構造において、上部磁性体と下部磁
性体の接合不良をなくし、磁界の発生を完全にするため
に、接合位置は基板凹部の表面でしたものである。
また、磁気ギャップ部は基板もしくは第2層絶縁膜とほ
ぼ同じ平面であり、バックギャップ部は基板もしくはそ
の上の絶縁膜の凹部表面に形成することとしたものであ
る。
〔作用〕
S/Nの向上には主にコイルの多巻線化及び低抵抗化が
必要であり、狭トラツク化を達成するためにはできるだ
け素子高さを低くする必要があり、両者は相反する。そ
こで、両者を満足するヘッド構造として基板に凹部を有
するヘッド構造とした。
特に、基板凹部の深さは凹部のテーパ角コントロールの
点から、10μm以下とし、かつその凹部に少なくとも
一層目のコイルを形成するところにある。かつ、下部磁
性体と上部磁性体との接合は、凹部の表面で行い、接合
を完全にし特定の向上を図ったものである。また、基板
に凹部を形成することから、凹部テーパ部での下部磁性
体の形成膜厚が薄くなり、発生磁界も小さくなる問題が
ある。本発明は、テーパ部での下部磁性体パターンを大
きくし、かつ2層構造(下部磁性体I、  II)にし
て問題の解決を図っている。さらに、基板に凹部を形成
し、2層コイル以上のヘッドを作製する場合、1層コイ
ルは凹部に形成し、2層コイルは基板表面と同等以上の
位置に形成し、かつ3層目以上の絶縁膜の先端でギャッ
プ深さ(Gd=0)を決定し、その形成位置は基板に形
成した凹部の立下り位置より前に形成するところにあり
、これにより素子のギャップ深さコントロールの高精度
化を図ったものである。
また、上記のような薄膜磁気ヘッドを、磁気ディスク装
置の磁気ヘッドとして搭載すると高記録密度が達成でき
る。
〔実施例〕
以下、本発明を図面を用いて具体的に説明する。
実施例1 第1図は本発明の実施例の2層コイル型薄膜磁気ヘッド
の断面図である。第2図は、第1図の平面図を示す。
スライダーとして用いられる基板1上に、厚い絶縁膜2
を形成する。この絶縁膜2は、例えばアルミナ(^1i
os)を用いる。次いで、この絶縁膜2に本発明に係る
ところの凹部を作製する。
この凹部は、第1図に示すように磁気ギャップ以外のコ
イルの巻線部分及び磁気コアの接続部であるバックギャ
ップ部を埋めこむことができる形状に作製する。
凹部を作製する方法としては、ホトレジスト膜をマスク
にしてCF、及びCHF3ガスを用い、イオンミIJン
グ法を用いた。凹部を作製する場合、磁界強度の点から
テーパ角は40±10°でコントロールする必要がある
。凹部のテーパ角は、マスク材であるホトレジスト膜の
テーパ角ニより、制御する。
第3図は凹部のエツチング深さHとテーパ角のばらつき
幅を調べた結果である。テーパ角は40°を目標とした
ものである。これから明らかなように、テーパ角40±
10°を確保するためには、凹部のエツチング深さは1
0μm以下が望ましい。本実施例ではエツチング深さは
10μmとした。次いで、凹部の中に下部磁性体(I)
9を形成する。膜厚は約1μm程度でよく、本実施例の
特徴は下部磁性体(I)9の先端形成位置が凹部のテー
パ部範囲内に形成されることである。次いで、約2μm
程度の下部磁性体(If)10を形成する。
下部磁性体(II)10は、第4−a図及び第4−b図
に示すように、凹部の立下り点からパターンが広がるよ
うになっている。このように、下部磁性体(■)9の形
成位置及び下部磁性体(II)10のパターン形状の工
夫により、凹部テーパ部での磁束の飽和を防止している
。これらの下部磁性体の作製は、基板全面に磁性膜をス
パッタリングで堆積した後、ホトレジストパターンをマ
スクにしてイオンミリング法で形成する。次いで、磁気
ギャップ膜7を作製する。
磁気ギャップ膜7としては、アルミナ膜等の無機絶縁膜
を用いることが望ましい。この工程において、バックギ
ャップ部分のアルミナ膜を除去しておくことは勿論であ
る。
続いて、層間絶縁膜及びコイルを順次作製する。まず、
下部磁性体とコイルとを絶縁するための、第1層間絶縁
膜4を形成する。この第1層間絶縁膜4は、例えばノボ
ラック系ポジ型のホトレジスト膜を200℃以上で焼成
した膜である。勿論、他のホトレジスト膜やポリイミド
系樹脂等の有機樹脂膜や、あるいは無機絶縁膜を用いる
ことも可能である。
次いで、第1層コイル5を作製する。本実施例では凹部
のエツチング深さ10μm中に第1層コイルを完全に埋
めこむことを考えた場合、コイル高さは5μm程度にな
る。コイルの作製工程を第5図を用い′て説明する。ま
ず、第5図−(1)に示すように第1層間絶縁膜4の上
にめっき下地膜13を形成する。次いで、(2)に示す
コイルめっき用マスク材として用いるホトレジスト膜1
4を塗布する。次に、コイルを形成する部分を露光・現
像することによって除去し、ホトレジストパターン15
を作製する。これを第5図−(3)に示した。下地膜除
去後のコイル高さ5μmを確保するた約には、めっき後
のコイル高さは約5.5〜6.0μm必要とし、そのた
めにはめっき用ホトレジストパターン高さは約8μm以
上必要である。第5図−(4)は高さ約6μmめっき後
、ホトレジストパターンを除去し、コイル5を作製する
。次いで、下地膜13をイオンミリングで除去する必要
がある。
コイル形状は、第5図−(4)に示すように逆テーパに
なっていることから、下地膜を除去するにはコイル間隙
が重要になってくる。そこで、下地膜除去が可能なコイ
ル高さ(めっき後の高さ)とコイル間隙について検討し
た。その結果、めっき後のコイル高さ約6μm(下地膜
除去によるコイル高さの減少は0.6μmである)の下
地膜を除去するためには、コイル間隙は1.5μm以上
必要であることを明らかにした。これらのことから、本
実施例においてはコイル高さ5μm(下地膜除去後)、
コイル間隙1.8μmとしている。
上記技術を用いて第1コイル5を形成した後、第1コイ
ル上に、第2層絶縁膜6を形成する。
本実施例のもう一つの特徴は、第2図に示すように第2
層絶縁膜6の先端形成位置を基板凹部の立下り位置より
前に形成するところにある。
これにより、素子の並び精度を向上させ、ギャップ深さ
零の位置を決定する。
次に、第2コイル11を作製する。作製工程は第1コイ
ル5の作製工程とほぼ同じである。
続いて、第3層絶縁膜12を作製する。作製工程は第2
層絶縁膜と同じである。第3層絶縁膜12を形成した後
、上部磁性膜8を形成する。
この上部磁性膜8を加工することにより、トラック幅を
決定することになる。コイル高さ5μmで、かつ2層コ
イルのヘッドを作製した場合、本実施例のように基板に
凹部(エツチング深さ10μm)を設けたことにより、
トラック幅を加工するに際しての素子高さは10μm程
度と低い。しかし凹部を設けないヘッド構造にした場合
は約20μmと高くなり、トラック幅精度としては悪い
実施例2 第6図は、本発明の他の実施例を示す断面図である。本
実施例の特徴は第3層絶縁膜でギャップ深さ零を決める
ところにある。勿論、第3層絶縁膜の先端形成位置は基
板凹部の立下り点より前に形成することは勿論である。
これによリ、素子の並び精度は高精度となる。また、第
2層絶縁膜は基板表面と同一レベルにした。これにより
、実施例1に比較して、素子高さは低くなりトラック幅
加工は容易になり高精度になる。
実施例3 第7図は、本発明の他の実施例を示す断面図である。本
実施例の特徴は実施例2の第2層絶縁膜の作製までは同
じ工程であるが、上部磁性体を2回に分けて作製すると
ころにある。第7図に示すように、第2層絶縁膜を作製
した後、段差の低いところで、まず上部磁性体(I)1
6を加工し、トラック幅を決定するものである。
このように、段差の低いところで、上部磁性体(1)を
加工することから、トラック幅精度は向上する。その後
、第2層コイル1を作製し、その上に第3層絶縁膜12
を形成する。次いで、ポール長保護膜18を形成し、コ
ンタクトスルホール19を開ける。その上に上部磁性体
(II)17を作製する。
本実施例の場合は、上部磁性体の種々の材料の組合せが
あり、本実施例のもう一つの特徴になっている。例えば
、上部磁性体(1)が高Bs材であるCgTa2r、上
部磁性体(If)がパーマロイ (Ni−Fe)である
構造、また、上部磁性体(I)がパーマロイの多層膜、
上部磁性体(It)がパーマロイの単層膜である構造、
などの例がある。上記例にこだわらず、磁性体としては
、Ni−Fe、高BS材の単層膜及び多層膜との種々の
組合せがある。
実施例4 第9図は、本発明の薄膜磁気ヘッドを搭載した磁気ディ
スク装置の概略斜視図であり、磁気ディスク装置を所定
のスペースに収納した状態を示すものである。容器10
0の内部にヘッド・ディスク・アッセンブリ(HDA)
101及び電子回路部102でヘッド・ディスク・アッ
センブリ・ユニッ) (HDU)103を形成し、容器
100の内部に収納されている。また、計算機とのイン
ターフェース(図示せず)が容器100の内部に収納さ
れている。HDU103は8個あり、これらが2個ずつ
四段に収納しである。容器100は、底の一辺の長さが
0.5〜1、5m、高さが約2mである。
第9図においてA及びBは、磁気ヘッド及び磁気ディス
クに清浄な空気を供給するための空気の流れを示す。
第10図は、本発明の一実施例を示す概略図である。第
11図は、第10図における薄膜磁気へラド25近傍を
拡大した斜視図である。
符号21はベース、22はスピンドルである。
一つのスピンドルに図のように複数枚の円板状の薄膜磁
気ディスク24が取り付けられる。薄膜磁気ディスク2
4は、第11図に示すようにアルミナ等の非磁性円板2
4a(D一方又は両方の面に磁性膜24bを設けたもの
からなる。磁性膜2’4bには、多数のトラック溝が設
けである。
第10図では、1つのスピンドルに五枚の薄膜磁気ディ
スクを設けた例が示されているが、五枚に限るものでは
ない。又、このように1つのスピンドルに複数枚の薄膜
磁気ディスクを設けたものを複数個設置してもよい。
符号23は、スピンドル22を駆動し、薄膜磁気ディス
クを回転するためのモータである。
符号25はデータ用磁気ヘッドであり、実施例1で製造
した薄膜磁気ヘッドを示し、符号25aは位置決め用磁
気ヘッドを示している。符号26はキャリッジ、符号2
7はボイスコイル、符号28はマグネットである。ボイ
スコイル27とマグネット28によりボイスコイルモー
タが構成される。そして符号26と27と28の要素に
より、ヘッドの位置決めがなされる。ボイスコイルと磁
気ヘッド25.25aとはボイスコイルモータ制御回路
を介して接続されている。
第10図において、上位装置とは、たとえばコンピュー
タシステムを示す。
リード/ライト回路とは、書き込み及び読み出しの情報
を識別し、磁気ディスク装置に信号を送るもらであり、
インターフェイス部とは上位装置と磁気ディスク装置と
を接続するものである。この上位装置と磁気ディスク装
置とを有するシステムが情報処理システムである。
第11図は、薄膜磁気ヘッド及び薄膜磁気ディスクの拡
大図である。符号31はスライダー、符号29は記録波
長、符号30はディスク回転方向を示している。tは薄
膜磁気ヘッドの浮上量を表し、blはトラックピッチを
表している。
このような磁気ディスク装置に搭載する磁気ヘッドとし
て、前記した本発明の薄膜磁気ヘッドがいずれも好適に
用いられる。
〔発胡の効果〕
本発明によれば、基板に凹部を作製し、その中に少なく
とも1層目のコイルを形成することからトラック幅加工
時の素子高さが低(できるので、トラック幅精度が向上
し、かつテーパ角のコントロールにより磁界強度を大き
(できる。
また、凹部のテーパ部では下部磁性体パターンを広くし
、かつテーパ部では下部磁性体が2層構造で積層される
ので、テーパ部における磁束の飽和がなくなり、大きな
磁界強度が得られる。さらに、ギャップ深さ零(Gd=
0)を凹部テーパ部の前方に形成し、かつGd=0を第
2層目以上の層間絶縁膜で決定することから、素子の並
び精度が向上し、特性及び加工歩留まりが向上する。
また、この薄膜磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置
は高記録密度化が達成できた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す薄膜磁気ヘッドの断面
図、第2図は第1図の平面図、第3図は凹部テーパ角と
エツチング深さとの関係を示すグラフ、第4−a図は本
発明の下部磁性体のパターン形状を示す側面図、第4−
b図は第4−a図の平面図、第5図はコイル作製工程を
示す断面説明図、第6図及び第7図は本発明の他の実施
例を示す断面図、第8図は従来構造の薄膜磁気ヘッドの
断面図、第9図は、本発明の薄膜磁気ヘッドを搭載した
磁気ディスク装置の概略斜視図、第10図は磁気ディス
ク装置の全体構成図、第11図は第10図の薄膜磁気ヘ
ッド近傍の拡大斜視図である。 1 基板、2 絶縁膜、3 下部磁性体、4 第1層絶
縁膜、5 第1層コイル、6 第2層絶縁膜、7 ギャ
ップ膜、8 上部磁性体、9 下部磁性体(1)、10
  下部磁性体(II)11 第2層コイル、12 第
3層絶縁膜、13 下地膜、14 ホトレジスト膜、1
5コイル用ホトレジストパターン、16  上部磁性体
(1)、17  上部磁性体(II)、19コンタクト
スルホール、22 スピンドル、23 モータ、24 
磁気ディスク、25 磁気ヘッド、26 キャリッジ、
27 ボイスコイル、28 マグネット 特許出願人  株式会社日立製作所 代  理  人   中   本       穴間 
     井   上       昭第 2 図 第3図 エッチ〉り′漂で(PWL) 易5図 $6 図 第7図 f!78 図 累70図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板表面に、絶縁膜、下部磁性体、ギャップ層、絶
    縁層、コイル及び上部磁性体を順次パターン化して積層
    した積層体からなり、下部及び上部磁性体の一端はギャ
    ップ層のみを挟持して磁極先端部を構成し、他端はスル
    ホール部を介して直接接続され、下部及び上部磁性体が
    前記一端と他端との間において絶縁層により絶縁され、
    絶縁層を介して、2層以上の多巻線コイルを有する構造
    の薄膜磁気ヘッドにおいて、基板もしくはその上に形成
    された絶縁膜に、凹部が形成されており、その凹部に下
    部磁性体、ギャップ層、絶縁層、コイルが埋め込まれ、
    第2層以上の絶縁膜でギャップ深さ零が決められている
    ことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 2、凹部の立上り点から上の下部磁性体膜厚が、上部磁
    性体膜厚より厚いことを特徴とする請求項1記載の薄膜
    磁気ヘッド。 3、基板もしくはその上の絶縁膜に形成された凹部は、
    そのテーパ角が30〜50゜の角度であることを特徴と
    する請求項1記載の薄膜磁気ヘッド。 4、上部磁性体はギャップ深さ零の点から立上り、下部
    磁性体はギャップ深さ零より後方で、かつ凹部の立下り
    点で立下ることを特徴とする請求項1記載の薄膜磁気ヘ
    ッド。 5、基板もしくはその上の絶縁膜に形成された凹部の中
    に少なくともコイルが一層形成されていることを特徴と
    する請求項1記載の薄膜磁気ヘッド。 6、磁気ギャップ部は基板もしくは第2層絶縁膜とほぼ
    同じ平面であり、バックギャップ部は基板もしくはその
    上の絶縁膜の凹部表面に形成されていることを特徴とす
    る請求項1記載の薄膜磁気ヘッド。 7、2層以上の多巻線コイルを有する薄膜磁気ヘッドに
    おいて、コイル高さは3〜10μm、コイル間隙は1.
    5〜3μmであることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 8、凹部を有する基板上に下部磁性体を有する薄膜磁気
    ヘッドにおいて、前記下部磁性体の先端幅のひろがり開
    始位置が、ギャップ深さ零と前記凹部のテーパ最下端と
    の間にあることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 9、2層以上の導体コイルを有し、該コイルを絶縁する
    複数の絶縁層を有する基板上に形成された薄膜磁気ヘッ
    ドにおいて、前記基板が凹部を有し、該凹部に形成され
    た第1層目の絶縁層を有し、磁気ギャップ深さ零の位置
    を第2層目以上の絶縁層で決めることを特徴とする薄膜
    磁気ヘッド。 10、磁気ディスク及びそれを回転保持する手段と、該
    磁気ディスクに対して機能する磁気ヘッドとを有する磁
    気ディスク装置において、該磁気ヘッドとして請求項1
    〜9のいずれか1項記載の薄膜磁気ヘッドを搭載したこ
    とを特徴とする磁気ディスク装置。
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