JPH0539580A - 無電解パラジウムめつき液 - Google Patents

無電解パラジウムめつき液

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JPH0539580A
JPH0539580A JP3194451A JP19445191A JPH0539580A JP H0539580 A JPH0539580 A JP H0539580A JP 3194451 A JP3194451 A JP 3194451A JP 19445191 A JP19445191 A JP 19445191A JP H0539580 A JPH0539580 A JP H0539580A
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JP
Japan
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plating
palladium
plating solution
solution
electroless
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JP3194451A
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English (en)
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Kuniaki Otsuka
邦顕 大塚
Eiichi Torikai
栄一 鳥養
Shigemitsu Kawagishi
重光 川岸
Kazuyoshi Okuno
和義 奥野
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OKUNO SEIYAKU KOGYO KK
Okuno Chemical Industries Co Ltd
Original Assignee
OKUNO SEIYAKU KOGYO KK
Okuno Chemical Industries Co Ltd
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Publication date
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/42Coating with noble metals
    • C23C18/44Coating with noble metals using reducing agents

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Abstract

(57)【要約】 【目的】工業的規模で使用できる無電解パラジウムめっ
き液を提供する。 【構成】 (1)パラジウム化合物 0.001〜0.1 モル/l、
(2)次亜リン酸化合物0.01〜1 モル/l、及び (3)アン
モニア及び飽和アルキルアミン化合物の少なくとも1種
0.01〜5 モル/lを含有する次亜リン酸型のめっき浴に
おいて、該めっき浴に分子量 300〜100000の高分子ポリ
エチレンイミン0.01〜20mg/l及び不飽和アルキルアミ
ン0.01〜10g/lが添加されていることを特徴とする無
電解パラジウムめっき液。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、無電解パラジウムめっ
き液に関する。
【0002】
【従来技術とその問題点】貴金属あるいは貴金属合金
は、電気特性が安定しており、しかも耐腐食性、耐磨耗
性等に優れていることから電子部品の接点材料等に従来
より幅広く利用されている。これら貴金属は工業的には
電気めっき、特に電気金めっきに最も多く利用されてき
たが、金めっきではコスト高になることが避けられな
い。また、プリント基板製造分野においては高密度表面
実装技術が主流になっており、この技術による表面実装
基板は一般に銅回路に金めっきを施して作製されている
が、ハンダ付けにおいてはめっきした金が銅に拡散して
しまうため、金めっきに先立って無電解ニッケルめっき
による前処理を行なわなければならず、それ故に製造工
程が複雑になり、生産性の低下が引き起こされてしま
う。従って、以上のような見地から現在では電気金めっ
きの代替として電気パラジウムめっきの利用が増加して
いる。
【0003】しかしながら、代替材料としてパラジウム
を用いても上記のような電気めっきの技術では被膜厚を
均一に維持することができない等の理由により、近年の
電子部品の微細化、複雑化等の高度な技術に対応するこ
とが困難になってきている。これに対し、無電解めっき
技術によれば微細で複雑な形状の電子部品であっても均
一な析出被膜を形成することができる。このため貴金属
を用いる無電解めっき、特に金や白金に比べコスト的に
も有利な無電解パラジウムめっきに関する技術が数多く
提案されている。
【0004】現在、無電解パラジウムめっきにおいて汎
用されているめっき液としては、2価のパラジウム塩、
アンモニア、エチレンジアミン四酢酸塩及びヒドラジン
からなる液、2価のパラジウム塩、エチレンジアミン、
エチレンジアミン四酢酸塩及び次亜リン酸ソーダからな
る液(特公昭46−26764号)等が知られている
が、これらのめっき液は浴安定性が悪く、短時間で分解
してしまうという問題がある。従って、上記浴安定性を
改善することを目的として2価の硫黄を含有する有機化
合物を添加する方法(特公昭53−37045号、特開
昭62−124280号等)が提案されている。
【0005】しかしながら、上記有機化合物を添加する
方法では、得られるめっき被膜中に比較的大きな内部応
力が発生し、クラック等が生じ易くなるため、厚膜のめ
っきを行なうことが困難乃至不可能となっている。それ
故に現在では電子工業等の分野において工業的規模で使
用できる無電解パラジウムめっきに最適なめっき液の開
発が切望されている。
【0006】
【問題点を解決するための手段】本発明は、工業的規模
で使用できる無電解パラジウムめっき液を提供すること
を目的とする。
【0007】本発明者らは、上記のような問題に鑑み鋭
意研究を重ねた結果、分子量300〜100000の高
分子ポリエチレンイミンと不飽和アルキルアミンを併用
した無電解パラジウムめっき液は、その浴安定性に優
れ、しかも得られるパラジウムめっき層中に発生する内
部応力を低減乃至防止しつつ、均一で緻密な被膜が形成
できることを見出し、本発明を完成するに至った。
【0008】即ち、本発明は、 (1)パラジウム化合物
0.001〜0.1 モル/l、 (2)次亜リン酸化合物0.01〜1
モル/l、及び (3)アンモニア及び飽和アルキルアミン
化合物の少なくとも1種0.01〜5 モル/lを含有する次
亜リン酸型のめっき浴において、該めっき浴に分子量 3
00〜100000の高分子ポリエチレンイミン0.01〜20mg/l
及び不飽和アルキルアミン0.01〜10g/lが添加されて
いることを特徴とする無電解パラジウムめっき液に係る
ものである。
【0009】以下、本発明について詳細に説明する。
【0010】本発明のめっき液で用いるパラジウム化合
物としては、公知のものが使用でき、酸化パラジウム、
塩化パラジウム、硝酸パラジウム、酢酸パラジウム、塩
化パラジウムナトリウム、塩化パラジウムカリウム、塩
化パラジウムアンモニウム、硫酸パラジウム、テトラア
ンミンパラジウムクロライド、ジニトロジアンミンパラ
ジウム等の各種パラジウム化合物を挙げることができ
る。このパラジウム化合物の濃度は 0.001〜0.1 モル/
l、好ましくは0.003〜0.05モル/lとする。上記濃度
が 0.001モル/lを下回る場合には析出速度が低下し、
生産性の低下を引き起こし、0.1モル/lを上回る場合
にはめっき液の安定性を損なうので好ましくない。
【0011】本発明で用いる次亜リン酸化合物として
は、公知のものが使用でき、次亜リン酸、次亜リン酸ア
ンモニウム、次亜リン酸カリウム、次亜リン酸ナトリウ
ム、次亜リン酸リチウム、次亜リン酸カルシウム等の各
種次亜リン酸化合物を例示することができる。上記次亜
リン酸化合物は、本発明めっき液においてパラジウムイ
オンに対する還元剤として働き、その濃度は0.01〜1 モ
ル/l、好ましくは0.05〜0.5 モル/lとする。上記濃
度が0.01モル/lを下回る場合には析出速度が低下し、
1 モル/lを上回る場合にはめっき液が不安定となるの
で好ましくない。本発明で用いる飽和アルキルアミン化
合物としては、汎用されているものを使用でき、例えば
メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ジメチ
ルアミン、トリメチルアミン、メチルエチルアミン、イ
ソプロピルアミン等のモノアミン類、メチレンジアミ
ン、エチレンジアミン、プロピレンジアミン、ブチレン
ジアミン等のジアミン類、ジメチレントリアミン、ジエ
チレントリアミン、トリエチレンテトラミン、テトラエ
チレンペンタミン、ペンタエチレンヘキサミン等のポリ
アミン類が挙げられ、さらにはエチレンジアミン四酢
酸、ジエチレントリアミン五酢酸、N−ヒドロキシエチ
ルエチレンジアミン三酢酸、ニトリロトリ酢酸等とこれ
らのアルカリ金属塩、グリシン、N−メチルグリシン等
の各種アミン酸類も含まれる。上記飽和アルキルアミン
化合物及びアンモニアの少なくとも1種を添加すること
により、めっき液中のパラジウムと錯体を形成させ、め
っき液中のパラジウムの安定化を図る。その濃度は、0.
01〜5 モル/l、好ましくは0.05〜3 モル/lとする。
上記濃度が0.01モル/lを下回る場合にはめっき液が不
安定となり、5 モル/lを超える場合にはめっき液は安
定するが析出速度が低下するたけでなく、コスト面にお
いても好ましくない。上記飽和アルキルアミン化合物及
びアンモニアは、上記濃度範囲内であれば2種類以上併
用して添加してもよい。
【0012】本発明で用いる高分子ポリエチレンイミン
は、その分子量が 300〜100000 (重合度 8〜2350) 、好
ましくは 600〜70000(重合度14〜1600) とする。上記分
子量が 300未満の場合にはめっき液の安定化に対する効
果が不充分であり、100000を上回る場合にはめっき液が
安定になり過ぎる結果、析出速度が低下するので好まし
くない。また、上記高分子ポリエチレンイミンは、完全
な線状高分子重合体でも分子内窒素で枝分かれした1〜
3級アミノ窒素を含む構造を有するものであってもよ
く、これらを単独又は2種類以上を組み合わせて使用す
ることができる。その濃度は0.01〜20mg/lで使用す
る。上記濃度が0.01mg/lを下回る場合にはめっき液の
安定化に対する効果が不充分となり、20mg/lを上回る
場合には析出速度が低下するので好ましくない。
【0013】本発明で用いる不飽和アルキルアミンは、
公知の化合物を使用でき、モノエチニルアミン、ジエチ
ニルアミン、モノビニルアミン、ジビニルアミン、モノ
アリルアミン、ジアリルアミン、プロペニルアミン、イ
ソプロペニルアミン、アニリン等のモノアミン類、N−
モノエチニルエチレンジアミン、N−モノビニルエチレ
ンジアミン、N−モノアリルエチレンジアミン、N,N
´−ジアリルエチレンジアミン、N−イソプロペニルエ
チレンジアミン、N−フェニルエチレンジアミン等のジ
アミン類、N−アリルジエチレントリアミン、N,N´
−ジアリルジエチレントリアミン、N−ビニルトリエチ
レンテトラミン等のポリアミン類の各種不飽和アルキル
アミンを例示できる。これらの不飽和アルキルアミンは
単独又は2種類以上を併用してもよい。その濃度は0.01
〜10g/l、好ましくは 0.1〜5g/lで用いる。上記
濃度が0.01g/lを下回る場合にはめっき液の安定化に
対する効果が不充分となり、10g/lを上回る場合には
めっき液の安定化には寄与するが、不経済となるので好
ましくない。
【0014】以上の各成分からなる本発明の無電解パラ
ジウムめっき液は、通常25〜80℃程度の広い温度範
囲で使用することができるが、35〜70℃程度とする
のが望ましい。上記温度が25℃未満になると析出速度
が小さくなり実用上好ましくない。また、80℃を超え
ると析出速度は大きくなるが、一方ではめっき液が不安
定となるので好ましくない。
【0015】また、使用する際における上記めっき液の
pHは、 5〜10、好ましくは 5.5〜9 とする。上記pH
が 5未満ではめっき液中のパラジウムとアミンとの錯体
の安定度が低下し、またpH10を超えると還元剤の還元
力が強くなり、めっき液が不安定となるので好ましくな
い。尚、上記pH調整は、常法に従い、塩酸、硫酸等の
酸性水溶液、或いは水酸化ナトリウム等のアルカリ性水
溶液で行えばよい。
【0016】本発明の無電解パラジウムめっき液の使用
に際し、上記の条件下Fe、Ni、Au、Ag、Pt、
Ru、Rh、Pd等の金属、或いはこれらの合金に対し
ては、これらを上記めっき液に浸漬するだけでめっき被
膜が自己触媒的に析出する。また、樹脂、セラミック
ス、ガラス等の触媒性のない素材に対して用いるの場合
には、センシタイジング−アクチベーティング法やキャ
ラクタライジング−アクセレーティング法等の触媒化処
理することにより、めっき被膜が自己触媒的に析出す
る。
【0017】
【発明の効果】本発明の無電解パラジウムめっき液は次
のような優れた性質を有する。
【0018】(1)極めて優れた安定性を有するため、
めっきを行なうことにより減少したパラジウム、還元剤
等のめっき液成分を補充するだけで長期間にわたって使
用できる。
【0019】(2)自己触媒性のめっき液であるため、
任意の膜厚のめっき被膜を形成することができる。
【0020】(3)本発明めっき液は広いpH領域で使
用でき、特に中性付近での使用が可能であるため、アル
カリ可溶性のレジストを塗布した基板やアルカリ性で劣
化し易いポリエステル系の樹脂等にも適用でき、各種素
材をめっき対象として適用することができる。
【0021】(4)得られるめっき被膜には内部応力が
実質的に発生しないため、極めて良好な密着性を発現で
き、10μm以上の厚付めっきを行なってもめっき被膜
にクラックが発生しない。また、上記めっき被膜は緻密
な構造を有し、耐蝕性にも優れているため、電子部品の
接点材料等に最適である。
【0022】(5)得られるめっき被膜は金と同等に優
れたハンダ付け性を有し、しかも金と異なり銅に拡散す
ることもないので、表面実装基板等の製造においては直
接銅回路上にめっきすることが可能となり、結果として
製造工程の簡略化を実現し、生産性及び経済性の向上を
図ることができる。
【0023】
【実施例】以下に実施例を示し、本発明の特徴とすると
ころをより一層明瞭にする。
【0024】実施例1 第1表に示すような各組成をそれぞれの配合比で調製
し、本発明の各めっき液(No1〜No13) を建浴し、めっき
を行ない、各評価試験を行なった。その結果を第1表に
示す。
【0025】めっき対象素材として2cm×2cm×0.0
3cmの銅板を使用した。めっき処理は、銅板をアルカリ
脱脂剤(商標名「OPC−250クリーナーM」奥野製
薬工業(株)製)50g/l水溶液に60℃で5分間浸
漬し、銅板の脱脂を行なった。次いで、水洗後、活性化
剤(商標名「ICPアクセラ」奥野製薬工業(株)製)
200ml/l水溶液に25℃で1分間浸漬して、銅板の
活性化を行なった。続いて、水洗後、上記の各めっき液
(No1〜No13) 1リットルに浸漬してめっきを行なった。
めっき処理中の攪拌は、銅板を2m/分の速さで5cm幅
でロッキングすることにより行なった。
【0026】めっき浴安定性の評価試験は、80℃で1
00時間放置後のめっき浴の状態を観察することにより
行なった。
【0027】ハンダ付け性は、常法のメコスコグラフ法
による評価試験を行なった。即ち、1cm×5cm×0.0
3cmの銅板試片に上記の無電解パラジウムめっき処理を
厚さ1μm施し、ロジンフラックス(イソプロピルアル
コール1リットルにロジン350gが溶解した溶液)に
10秒間浸漬した後、ソルダーチェッカー(レスカ
(株)製)を用い、上記試片を230℃の溶融ハンダ
(6/4ハンダ(Sn:Pb=6:4))に2mmの深さ
に浸漬し、10秒間放置し、浸漬開始からハンダと上記
試片との接触角が90度になるまでの時間(ゼロクスタ
イム)を測定することにより上記ハンダ付け性を調べ
た。
【0028】また、クラック発生の有無は、連続3時間
めっきした後のめっき被膜を電子顕微鏡(4000倍)で観
察することにより行なった。
【0029】尚、比較のため、不飽和アルキルアミン及
び高分子ポリエチレンイミンを添加しない浴液並びに両
者を併用しない浴液、さらに公知の硫黄系添加剤を加え
た浴液(No14 〜No21) をそれぞれ建浴し、上記と同様の
評価試験を行なった。その結果を第1表に併記する。
【0030】
【表1】
【0031】
【表2】
【0032】
【表3】
【0033】この結果、本発明の要件を満たす無電解パ
ラジウムめっき液によるめっき被膜は、光沢があり、折
り曲げテストをしても密着性は良好であった。また、連
続3時間のめっき後もそのめっき被膜は光沢を有し、電
子顕微鏡による観察でもクラックの発生は認められなか
った。また、めっき浴安定性においてもその状態に変化
はなく安定した状態を保持していた。これに対して、No
14〜No21のうち硫黄系添加剤を加えた浴液以外のもの
は、いずれも浴安定性が不充分で、80℃で100時間
の放置後には全てが分解した。一方、硫黄系添加剤を加
えた浴液では浴安定性は良好であったが、3時間めっき
後には被膜にクラックが観察された。
【0034】以上より、本発明のめっき液では、浴安定
性に優れ、クラックのない良好なめっき被膜を形成でき
ることがわかる。
【0035】実施例2 実施例1で使用した無電解パラジウムめっき液(第1表
中の No1)を用い、厚膜の無電解パラジウムめっきを実
施した。テストピースは2cm×2cm×0.03cmの銅板
を使用し、めっき処理工程及び処理条件は、めっき浴を
50℃と60℃に分けた以外は実施例1と同様にして行
なった。その結果を第1図に示す。
【0036】尚、比較のため、従来の無電解パラジウム
めっき液(第1表中のNo14及びNo15)について上記と同
様に実施した。その結果を第1図に併記する。
【0037】この結果、本発明の無電解めっき液の析出
速度はその温度が高いほど大きく、50℃では1.3μ
m/時間、60℃では2.0μm/時間であった。めっ
き被膜は光沢があり、折り曲げテストを行なったが密着
性は良好であった。また、めっき膜厚は時間の経過とと
もに増大し、7時間のめっき後も光沢を有し、電子顕微
鏡による観察でもクラックの発生は認められなかった。
【0038】これに対して、比較のNo14及びNo15のうち
No14のめっき浴は、浴安定性が悪く、3.5時間で分解
し、約6μm以上の厚膜を得ることができなかった。ま
た、No15のめっき浴の浴安定性は比較的良好であった
が、3時間以上めっきすると被膜にクラックが発生し、
約5μm以上の厚膜を得ることができなかった。
【0039】以上から明らかなように本発明の無電解パ
ラジウムめっき液は、浴安定性が極めて優れているた
め、長時間のめっきが可能である。しかも、めっき被膜
内には内部応力が実質的に生じないので、クラックが発
生せず、10μm以上の厚膜を得ることが可能である。
【0040】実施例3 実施例1で使用した無電解パラジウムめっき液(第1表
中の No1)を用い、銅以外の素材に無電解パラジウムめ
っきを実施した。各素材のめっき時間と膜厚との関係を
示すグラフを第2図に示す。尚、銅以外の素材として
は、鉄板、無電解ニッケルめっき板、ABS樹脂及びア
ルミナセラミックスの4種類を用いた。
【0041】鉄板は、2cm×5cm×0.03cmの鉄板
(冷間圧延鋼板)をアルカリ脱脂剤(商標名「OPC−
250クリーナーM」奥野製薬工業(株)製)50g/
l水溶液に60℃で5分間浸漬して脱脂した。次いで、
電解脱脂剤(商標名「エースクリーンMK」、奥野製薬
工業(株)製)100g/l水溶液を使用し、60℃で
1分間の陰極電解(1A/dm2 )により脱脂を行なっ
た。続いて、水洗後、36%塩酸100ml/l水溶液に
室温で1分間浸漬し、活性化した。その後、水洗し、本
発明の無電解パラジウムめっきを行なった。尚、めっき
処理中の攪拌は、鉄板を2m/分の速さで5cm幅でロッ
キングすることにより行なった。
【0042】無電解ニッケルめっき板は、2cm×5cm×
0.03cmのテストピースを用い、上記鉄板と同様のめ
っき処理及びめっき条件で無電解パラジウムめっきを行
なった。尚、上記無電解ニッケルめっき板の作製は次の
ようにして行なった。即ち、2cm×5cm×0.03cmの
銅板をアルカリ脱脂剤(商標名「OPC−250クリー
ナーM」奥野製薬工業(株)製)50g/l水溶液に6
0℃で5分間浸漬して脱脂し、水洗後活性化剤(商標名
「ICPアクセラ」奥野製薬工業(株)製)200ml/
l水溶液に25℃で1分間浸漬し、活性化した。その
後、水洗し、無電解ニッケルめっき液(商標名「ICP
ニコロンU」奥野製薬工業(株)製)(標準建浴液)中
に85℃で30分間浸漬し、約5μmの無電解ニッケル
めっきを施した。
【0043】ABS樹脂は、2cm×5cm×0.3cmのテ
ストピースを用い、アルカリ脱脂剤(商標名「OPC−
250クリーナーM」奥野製薬工業(株)製)50g/
l水溶液に60℃で5分間浸漬して脱脂した。次いで、
水洗後、エッチング液(無水クロム酸400g/l、9
8%硫酸400ml/l水溶液)に70℃で5分間浸漬
し、表面粗化を行なった。続いて、水洗後36%塩酸1
00ml/l水溶液に室温で1分間浸漬してクロム酸中和
を行ない、水洗後キャタリスト液(商標名「A−30」
奥野製薬工業(株)製)標準建浴液に室温で3分間浸漬
して触媒付与し、次いで水洗後、活性化剤(商標名「O
PC−500アクセレーター」奥野製薬工業(株)製)
100ml/l水溶液に35℃で5分間浸漬し、活性化し
た。水洗後、本発明の無電解パラジウムめっき液1リッ
トルに60℃で浸漬し、めっき処理を行なった。尚、め
っき処理中の攪拌は、ABS樹脂を2m/分の速さで5
cm幅でロッキングすることにより行なった。
【0044】アルミナセラミックスは、2cm×5cm×
0.1cmのテストピースを用い、アルカリ脱脂剤(商標
名「OPC−250クリーナーM」奥野製薬工業(株)
製)50g/l水溶液に60℃で5分間浸漬して脱脂を
行なった。水洗後、エッチング液(酸性フッ化アンモニ
ウム250g/l水溶液)に室温で5分間浸漬して表面
粗化を行ない、超音波水洗後に感応性付与剤(商標名
「センシタイザー」奥野製薬工業(株)製)200ml/
l水溶液に室温で3分間浸漬して感受性化を行なった。
続いて、水洗後、活性化剤(商標名「アクチベーター」
奥野製薬工業(株)製)50ml/l水溶液に室温で3分
間浸漬し、活性化した。水洗後、本発明の無電解パラジ
ウムめっき液1リットルに60℃で浸漬し、めっき処理
を行なった。尚、めっき処理中の攪拌は、アルミナセラ
ミックス板を2m/分の速さで5cm幅でロッキングする
ことにより行なった。
【0045】この結果、鉄板では析出速度が1.9μm
/時間、無電解ニッケルめっき板では1.7μm/時
間、ABS樹脂では2.1μm/時間、アルミナセラミ
ックスでは1.9μm/時間であり、これらはいずれも
めっき膜厚がめっき時間の経過とともに直線的に増加
し、7時間のめっき後でもめっき被膜には光沢があり、
クラックの発生も認められなかった。
【0046】このように、本発明の無電解パラジウムめ
っき液では、ニッケル、鉄等の金属のみならず、樹脂や
セラミックス等の非金属(不導体)にも密着性が高く且
つクラックのない優れためっき被膜を形成できることが
わかる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明めっき液(No1) と比較浴 (No14及びNo1
5) におけるめっき時間と膜厚の関係を示すグラフであ
る。
【図2】本発明めっき液でめっきした時の各素材におけ
るめっき時間と膜厚の関係を示すグラフである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (1)パラジウム化合物 0.001〜0.1 モル/
    l、 (2)次亜リン酸化合物0.01〜1 モル/l、及び (3)
    アンモニア及び飽和アルキルアミン化合物の少なくとも
    1種0.01〜5 モル/lを含有する次亜リン酸型のめっき
    浴において、該めっき浴に分子量 300〜100000の高分子
    ポリエチレンイミン0.01〜20mg/l及び不飽和アルキル
    アミン0.01〜10g/lが添加されていることを特徴とす
    る無電解パラジウムめっき液。
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