JPH052866Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 （産業上の利用分野） 本考案は、プリント回路基板、両面回路基板や
電子部品を実装した実装回路基板等による被検査
体の電気的な特性を検査する回路基板検査装置に
係り、特に、この回路基板検査装置における被検
査体自体の反りやねじれ若しくは上記両面回路基
板を検査する際のプローブピンの密度の差から生
じるこの両面回路基板の反り（変形）やねじれ防
止装置に関する。

（従来の技術） 既に提案されているこの種の電子部品を実装し
た実装回路基板等による被検査体の電気的な特性
を検査する回路基板検査装置は、第２図に示され
るように構成されている。

即ち、第２図において、機枠（図示されず）に
水平にして並設された上下一対をなすピンボード
１，２には、多数のプローブピン３、４が進退自
在にして挿着されており、この各ピンボード３，
４は、導電性のスリーブ３ａ，４ａにばねを介し
て導電性のコンタクトピン３ｂ，４ｂを抜け出な
いようにして進退自在に設けられている。

従つて、上述した回路基板検査装置は、電子部
品を実装した実装回路基板等による被検査体Ｗの
電気的な特性を検査する時、この被検査体Ｗの両
面Wa，Wbを上下方向から上記各プローブピン
３，４の各コンタクトピン３ｂ，４ｂで押圧して
通電することにより、実装回路基板等による被検
査体Ｗの電気的な特性を検査するようになつてい
る。

（考案が解決しようとする問題点） しかしながら、上述した回路基板検査装置で
は、上下方向か上記各プローブピン３，４の各コ
ンタクトピン３ｂ，４ｂが電子部品を実装した実
装回路基板等による被検査体Ｗに対しアンバラン
スな挿着であるので、第２図の鎖線で示されるよ
うに、電子部品を実装した実装回路基板等による
被検査体Ｗが山形の反りを生じて湾曲に変形す
る。これに起因して、上記各プローブピン３，４
の各コンタクトピン３ｂ，４ｂの接触圧は、被検
査体Ｗに対し、不均一となり、局部的に接触不良
を生じる。さらに、検査終了後、上記被検査体Ｗ
の接触面に圧痕跡の外観不良を生じ、品質を損な
う等のおそれがある。

また一方、上記被検査体Ｗが片面回路基板で
も、電子部品を実装した実装回路基板のものは、
反りやねじれのあることが多く、上記各プローブ
ピン３，４の各コンタクトピン３ｂ，４ｂの接触
圧は、被検査体Ｗに対し不均一となり、局部的に
接触不良を生じるばかりでなく、上記ピンボード
１，２の加圧力を大きくし、上記各プローブピン
３，４の寿命を短くし、上記被検査体Ｗを損傷す
るおそれがある。

〔考案の構成〕

（問題点を解決するための手段とその作用） 本考案は、上述した事情に鑑みてなされたもの
であつて、被検査体Ｗが片面回路基板や両面回路
基板において、上下の各ピンボードに挿着される
各プローブピンの本数や密度に差が生じても、検
査時、上記被検査体Ｗが反りや変形を生じないよ
うにして、上記各プローブピンの接触不良を解消
し、検査精度の向上を図ると共に、上記被検査体
Ｗを損傷しないようにして、併せて、反りやねじ
れのある上記被検査体Ｗを矯正して上記各プロー
ブピンの接触を均一にし、安定した検査を施すよ
うにして上記各プローブピンの寿命を長くするよ
うにした回路基板検査装置を提供することを目的
とする。

本考案は、上下一対をなすピンボードに多数の
プローブピンを進退自在に挿着し、この各プロー
ブピンで被検査体としての回路基板を電気的な特
性検査する回路基板検査装置において、少なくと
も一方のピンボードの外側にスペーサを介して補
助板を並設し、この補助板に押え部材を上記一方
のピンボードを貫通して上記被検査体を当接する
ようにして設け、被検査体Ｗが片面回路基板や両
面回路基板において、上下の各ピンボードに挿着
される各プローブピンの本数や密度差が生じて
も、検査時、上記被検査体Ｗが反りや変形を生じ
ないようにして、上記各プローブピンの接触不良
を解消し、検査精度の向上を図ると共に、上記被
検査体Ｗを損傷しないようにし、併せて、反りや
ねじれのある上記被検査体Ｗを矯正して上記各プ
ローブピンの接触を均一にし、安定した検査を施
すようにしたものである。

（実施例） 以下、本考案を図示の一実施例について説明す
る。

なお、本考案は上述した具体例と同一構成部材
には、同じ符号を付して説明する。

第１図において、符号１は、機枠（図示され
ず）に水平にして並設された上下一対をなすピン
ボード１，２であつて、この各ピンボード１，２
には、多数のプローブピン３，４が進退自在にし
て挿着されており、この各ピンボード３，４は、
導電性のスリーブ３ａ，４ａにばねを介して導電
性のコンタクトピン３ｂ，４ｂを抜け出ないよう
にして進退自在に設けられている。また、一方の
上記ビンボード３の外側には、偏平な補助板５が
絶縁材による棒状の各スペーサ６ａ，６ｂを介し
て並設されており、この補助板５には、棒状をな
す複数の押し部材７，８が一方の上記ピンボード
３を貫通して片面回路基板や両面回路基板として
の被検査体Ｗを当接するようにして設けられてい
る。特に、上記スペーサ６ａに近接した押し部材
７のねじ部７ａは、上記補助板５に螺装されてお
り、このねじ部７ａは上記被検査体Ｗを微動調整
し得るように当接し、被検査体Ｗのたわみを防止
するようになつている。また、上記スペーサ７，
８は上記各スペーサ６ａ，６ｂのストロークに合
せて取付けられている。

従つて、本考案による回路基板検査装置は、電
子部品を実装した実装回路基板等による被検査体
Ｗの電気的な特性を検査する時、この被検査体Ｗ
の両面Wa，Wbを上下方向から上記各プローブ
ピン３，４の各コンタクトピン３ｂ，４ｂで押圧
して通電することにより、実装回路基板等による
被検査体Ｗの電気的な特性を検査するようになつ
ている。

他方、被検査体Ｗの電気的な特性検査時、上記
各押部材７，８の下端部は、この被検査体Ｗを水
平に保持するように当接するようになつている。

なお、上述した具体例は、一方のピンボード１
の外側にスペーサ６ａ，６ｂを介して補助板５を
並設し、この補助板５に押え部材７，８を上記一
方のピンボード１に貫通して上記被検査体Ｗを当
接するようにしたものについて説明したけれど
も、本考案の要旨を変更しない範囲で、例えば、
各ピンボード１，２の外側に各スペーサ６ａ，６
ｂを介して各補助板５を上・下に並設し、この両
補助板５に各押し部材７，８を上記各ピンボード
１，２を貫通して被検査体Ｗを上下から当接する
ようにして設けるようにしてもよいこと勿論であ
る。

〔考案の効果〕

以上述べたように本考案によれば、上下一対を
なすピンボード１，２に多数のプローブピン３，
４を進退自在に挿着し、この各プローブピン３，
４で被検査体Ｗとしての回路基板を電気的な特性
検査する回路基板検査装置において、少なくとも
一方のピンボード１の外側にスペーサ６ａ，６ｂ
を介して補助板５を並設し、この補助板５に押え
部材７，８を上記一方のピンボード１を貫通して
上記被検査体Ｗを当接するようにして設けてある
ので、上下の各ピンボード１，２に挿着される各
プローブピン３，４の本数や密度が生じても、検
査時、上記被検査体Ｗが反りや変形を生じるおそ
れはなく、上記各プローブピン３，４の接触不良
を解消できるばかりでなく、検査精度の向上を図
ると共に、上記被検査体Ｗを損傷しないように
し、併せて、反りやねじれのある上記被検査体Ｗ
を矯正して上記各プローブピン３，４の接触を均
一にし、安定した検査をして信頼性の向上を図る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の回路基板検査装置の要部の
みを示す断面図、第２図は、既に提案されている
回路基板検査装置の要部のみを示す断面図であ
る。 １，２……ピンボード、３，４……プローブピ
ン、５……補助板、６ａ，６ｂ……スペーサ、
７，８……押し部材。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 上下一対をなすピンボードに多数のプローブ
   ピンを進退自在に挿着し、この各プローブピン
   で被検査体としての回路基板を電気的な特性検
   査する回路基板検査装置において、少なくとも
   一方のピンボードの外側にスペーサを介して補
   助板を並設し、この補助板に押え部材を上記一
   方のピンボードを貫通して上記被検査体に当接
   するようにして設けたことを特徴とする回路基
   板検査装置。 ２ 各ピンボードの外側に各スペーサを介して各
   補助板を並設し、この両補助板に各押し部材を
   上記各ピンボードを貫通して被検査体を上下か
   ら当接するようにして設けたことを特徴とする
   実用新案登録請求の範囲第１項記載の回路基板
   検査装置。