JPH10221398A - プリント基板の検査装置 - Google Patents
プリント基板の検査装置Info
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- JPH10221398A JPH10221398A JP9019187A JP1918797A JPH10221398A JP H10221398 A JPH10221398 A JP H10221398A JP 9019187 A JP9019187 A JP 9019187A JP 1918797 A JP1918797 A JP 1918797A JP H10221398 A JPH10221398 A JP H10221398A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】バネや押圧棒の交換が簡単にできると共に、ワ
イヤー等の部品がバネに引っ掛かるのを防止する。 【解決手段】このプリント基板の検査装置30では、支
持板36のプリント基板2とは反対側の面側に天板37
が固定され、天板37の下面には押圧棒35の上端側を
付勢するためのバネ22が取り付けられる。プリント基
板2の検査時には、プリント基板2を装置の所定の場所
に載置し、基板押圧部34を下降させる。このとき、押
圧棒35はバネ22によってプリント基板2側へ付勢さ
れているので、押圧棒35の先端がプリント基板2上の
電気、電子部品(素子)に当たっても、基板押圧部34
の下降に伴ってバネ22が縮むので、素子やプリント基
板2が損傷を受けることがない。また、バネ22はプリ
ント基板2とは反対側である支持板36の上面側に配さ
れているので、プリント基板2上に配されているリード
線等の部品を引っ掛かけてしまうことが防止されると共
に、バネ22や押圧棒35の交換時には、天板37を外
すだけで簡単にこれらを交換することができる。
イヤー等の部品がバネに引っ掛かるのを防止する。 【解決手段】このプリント基板の検査装置30では、支
持板36のプリント基板2とは反対側の面側に天板37
が固定され、天板37の下面には押圧棒35の上端側を
付勢するためのバネ22が取り付けられる。プリント基
板2の検査時には、プリント基板2を装置の所定の場所
に載置し、基板押圧部34を下降させる。このとき、押
圧棒35はバネ22によってプリント基板2側へ付勢さ
れているので、押圧棒35の先端がプリント基板2上の
電気、電子部品(素子)に当たっても、基板押圧部34
の下降に伴ってバネ22が縮むので、素子やプリント基
板2が損傷を受けることがない。また、バネ22はプリ
ント基板2とは反対側である支持板36の上面側に配さ
れているので、プリント基板2上に配されているリード
線等の部品を引っ掛かけてしまうことが防止されると共
に、バネ22や押圧棒35の交換時には、天板37を外
すだけで簡単にこれらを交換することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント基板の
検査装置に関する。詳しくは、プリント基板を押圧する
ための押圧棒を支持板によってスライド自在に支持する
と共に、押圧棒の上端側を付勢するためのバネをプリン
ト基板とは反対側の支持板の上面側で保持できるよう
に、支持板の上側に天板を設けることによって、バネお
よび押圧棒の交換時には、天板を外すだけで簡単にこれ
らを交換できるようにしたプリント基板の検査装置に係
るものである。
検査装置に関する。詳しくは、プリント基板を押圧する
ための押圧棒を支持板によってスライド自在に支持する
と共に、押圧棒の上端側を付勢するためのバネをプリン
ト基板とは反対側の支持板の上面側で保持できるよう
に、支持板の上側に天板を設けることによって、バネお
よび押圧棒の交換時には、天板を外すだけで簡単にこれ
らを交換できるようにしたプリント基板の検査装置に係
るものである。
【0002】
【従来の技術】プリント基板の回路の機能を検査するた
めに各種の検査装置が提案されている。図3はこのよう
なプリント基板の検査装置1に検査対象となるプリント
基板2が載置された状態を示したものである。同図にお
いて、プリント基板の検査装置1はプリント基板2が載
置されるベース10と、ベース10の下側に配されるピ
ンボード(検査治具)3と、載置されたプリント基板2
を上方から押圧する押圧棒4と、押圧棒4が取り付けら
れ、上下方向に移動可能な押え板5とからなされてい
る。
めに各種の検査装置が提案されている。図3はこのよう
なプリント基板の検査装置1に検査対象となるプリント
基板2が載置された状態を示したものである。同図にお
いて、プリント基板の検査装置1はプリント基板2が載
置されるベース10と、ベース10の下側に配されるピ
ンボード(検査治具)3と、載置されたプリント基板2
を上方から押圧する押圧棒4と、押圧棒4が取り付けら
れ、上下方向に移動可能な押え板5とからなされてい
る。
【0003】ピンボード3上面の所定の位置にはプリン
ト基板2の背面にある導通パターン部3aに接触するた
めの検査ピン6が複数個立設されており、これら検査ピ
ン6は棒状のコンタクトプローブ7を介してピンボード
3の下面側に配されたリード線8にそれぞれ接続されて
いる。リード線8はマイコンなどの計測装置(図示せ
ず)に接続され、この計測装置によって、プリント基板
2の導通試験や特性試験などが行われる。
ト基板2の背面にある導通パターン部3aに接触するた
めの検査ピン6が複数個立設されており、これら検査ピ
ン6は棒状のコンタクトプローブ7を介してピンボード
3の下面側に配されたリード線8にそれぞれ接続されて
いる。リード線8はマイコンなどの計測装置(図示せ
ず)に接続され、この計測装置によって、プリント基板
2の導通試験や特性試験などが行われる。
【0004】押圧棒4は非導電性の樹脂で所定長さに形
成され、平板状の押え板5の下面に複数本垂設されてい
る。これら押圧棒4はプリント基板2の上面2aのみを
押圧するもので、プリント基板2上に配されたIC9な
どの電気、電子部品(素子)に接触しないようにその取
り付け位置が選ばれている。
成され、平板状の押え板5の下面に複数本垂設されてい
る。これら押圧棒4はプリント基板2の上面2aのみを
押圧するもので、プリント基板2上に配されたIC9な
どの電気、電子部品(素子)に接触しないようにその取
り付け位置が選ばれている。
【0005】押え板5はプリント基板2を載置する前は
上方に上げられている。プリント基板2を載置した後は
図3のように、所定の位置まで下げられる。
上方に上げられている。プリント基板2を載置した後は
図3のように、所定の位置まで下げられる。
【0006】このように、プリント基板2背面の導通パ
ターン部3aが確実に検査ピン6に接触するように押圧
棒4がプリント基板2を全体的に押圧した状態で、計測
装置から出力された所定の電気信号をプリント基板2の
回路に流し、回路からの出力を計測装置で計測すること
によって回路の機能を検査できるようになっている。
ターン部3aが確実に検査ピン6に接触するように押圧
棒4がプリント基板2を全体的に押圧した状態で、計測
装置から出力された所定の電気信号をプリント基板2の
回路に流し、回路からの出力を計測装置で計測すること
によって回路の機能を検査できるようになっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3に示し
たプリント基板の検査装置1では、上述したように、押
圧棒4は検査対象となるプリント基板2上に取り付けら
れた素子に接触しないように押え板5に対する取り付け
位置が選定されている。このようなプリント基板の検査
装置1において、例えば、素子の取り付け位置が異なっ
た別のプリント基板を検査する場合、押え板5を降ろし
たとき、押圧棒4の先端が素子に当たってしまうことが
ある。この状態のまま押え板5が所定の高さまで無理に
下降した場合には、素子を壊したり、素子を押し潰して
プリント基板2を破損させてしまうという問題があっ
た。
たプリント基板の検査装置1では、上述したように、押
圧棒4は検査対象となるプリント基板2上に取り付けら
れた素子に接触しないように押え板5に対する取り付け
位置が選定されている。このようなプリント基板の検査
装置1において、例えば、素子の取り付け位置が異なっ
た別のプリント基板を検査する場合、押え板5を降ろし
たとき、押圧棒4の先端が素子に当たってしまうことが
ある。この状態のまま押え板5が所定の高さまで無理に
下降した場合には、素子を壊したり、素子を押し潰して
プリント基板2を破損させてしまうという問題があっ
た。
【0008】このような問題を解決するために、図4に
示すようなプリント基板の検査装置20が考えられてい
る。同図において、プリント基板の検査装置20では、
プリント基板2を下方に押圧するための押圧棒21がバ
ネ22を介して支持板23に伸縮自在に取り付けられて
いるので、押圧棒21の先端が素子に当たった場合であ
っても、バネ22が縮むことによって、素子が押し潰さ
れたり、プリント基板2が破損されることがない。した
がって、プリント基板2を無理なく全体的に押圧してこ
れを保持することができる。
示すようなプリント基板の検査装置20が考えられてい
る。同図において、プリント基板の検査装置20では、
プリント基板2を下方に押圧するための押圧棒21がバ
ネ22を介して支持板23に伸縮自在に取り付けられて
いるので、押圧棒21の先端が素子に当たった場合であ
っても、バネ22が縮むことによって、素子が押し潰さ
れたり、プリント基板2が破損されることがない。した
がって、プリント基板2を無理なく全体的に押圧してこ
れを保持することができる。
【0009】しかし、このプリント基板の検査装置20
では、支持板23の下面側つまり、プリント基板2側の
面にバネ22が取り付けられているので、プリント基板
2の上面2aに配されているリード線などがこのバネ2
2に引っ掛かってしまうことがある。このようなとき
に、例えば、プリント基板2が装置から取り外されよう
とした場合、リード線が無理に引っ張られて切断されて
しまうことも考えられる。
では、支持板23の下面側つまり、プリント基板2側の
面にバネ22が取り付けられているので、プリント基板
2の上面2aに配されているリード線などがこのバネ2
2に引っ掛かってしまうことがある。このようなとき
に、例えば、プリント基板2が装置から取り外されよう
とした場合、リード線が無理に引っ張られて切断されて
しまうことも考えられる。
【0010】また、検査対象に合わせて、バネ22を強
度の異なるものに交換したり、あるいは、先端が摩耗し
た押圧棒21を交換するような場合には、押圧棒21の
上端側に取り付け固定されたワッシャー24の全てを取
り外してから行わなければならず、その取り替え作業が
非常に面倒であった。
度の異なるものに交換したり、あるいは、先端が摩耗し
た押圧棒21を交換するような場合には、押圧棒21の
上端側に取り付け固定されたワッシャー24の全てを取
り外してから行わなければならず、その取り替え作業が
非常に面倒であった。
【0011】そこで、この発明は、上述した問題を解決
したものであって、プリント基板やこれに取り付けられ
た素子が破損するのを防止すると共に、バネおよび押圧
棒の交換を簡単に行えるようにしたプリント基板の検査
装置を提供するものである。
したものであって、プリント基板やこれに取り付けられ
た素子が破損するのを防止すると共に、バネおよび押圧
棒の交換を簡単に行えるようにしたプリント基板の検査
装置を提供するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、この発明に係るプリント基板の検査装置では、プリ
ント基板の回路の機能を検査するため回路の導通パター
ン部に接触可能な複数の検査ピンが立設されたピンボー
ドと、プリント基板をピンボードとは反対側より押圧す
る基板押圧部とを有し、基板押圧部はプリント基板を押
圧するための複数の押圧棒と、押圧棒をスライド自在に
支持する支持板と、支持板の上面側に配され、押圧棒の
一端側よりこの押圧棒を付勢するためのバネと、バネの
一端が取り付けられる天板とで構成されたことを特徴と
するものである。
め、この発明に係るプリント基板の検査装置では、プリ
ント基板の回路の機能を検査するため回路の導通パター
ン部に接触可能な複数の検査ピンが立設されたピンボー
ドと、プリント基板をピンボードとは反対側より押圧す
る基板押圧部とを有し、基板押圧部はプリント基板を押
圧するための複数の押圧棒と、押圧棒をスライド自在に
支持する支持板と、支持板の上面側に配され、押圧棒の
一端側よりこの押圧棒を付勢するためのバネと、バネの
一端が取り付けられる天板とで構成されたことを特徴と
するものである。
【0013】この発明においては、プリント基板を検査
するとき、プリント基板を装置の所定の場所に載置し、
基板押圧部を下降させる。このとき、押圧棒には、その
上端を付勢するためのバネが取り付けられると共に、支
持板にスライド自在に取り付けられているので、押圧棒
の先端がプリント基板上の素子に当たっても、バネが縮
むことにより、素子やプリント基板を傷めることがな
い。また、バネはプリント基板とは反対側である支持板
の上面側に配されているので、プリント基板上に配され
ているリード線等の部品がこのバネに引っ掛かってしま
うことを防止できると共に、バネや押圧棒の交換時に
は、天板を外すだけで簡単にこれらを交換することがで
きる。
するとき、プリント基板を装置の所定の場所に載置し、
基板押圧部を下降させる。このとき、押圧棒には、その
上端を付勢するためのバネが取り付けられると共に、支
持板にスライド自在に取り付けられているので、押圧棒
の先端がプリント基板上の素子に当たっても、バネが縮
むことにより、素子やプリント基板を傷めることがな
い。また、バネはプリント基板とは反対側である支持板
の上面側に配されているので、プリント基板上に配され
ているリード線等の部品がこのバネに引っ掛かってしま
うことを防止できると共に、バネや押圧棒の交換時に
は、天板を外すだけで簡単にこれらを交換することがで
きる。
【0014】
【発明の実施の形態】続いて、この発明に係るプリント
基板の検査装置の実施の一形態について、図面を参照し
て詳細に説明する。
基板の検査装置の実施の一形態について、図面を参照し
て詳細に説明する。
【0015】図1はこの発明に係るプリント基板の検査
装置30の構成を示す。このプリント基板の検査装置3
0は各種電気、電子部品が実装されたプリント基板2の
回路の導通試験や特性試験に用いられるものである。図
の例では、検査装置30に検査対象であるプリント基板
2がセットされた状態を示している。
装置30の構成を示す。このプリント基板の検査装置3
0は各種電気、電子部品が実装されたプリント基板2の
回路の導通試験や特性試験に用いられるものである。図
の例では、検査装置30に検査対象であるプリント基板
2がセットされた状態を示している。
【0016】同図に示すように、プリント基板の検査装
置30はベース10上に載置されたプリント基板2を押
圧するために上下に移動可能となされた基板押圧部34
と、検査ピン6が立設されたピンボード3と、プリント
基板2の回路に電気信号を送り、これを演算処理する計
測装置33とで構成されている。
置30はベース10上に載置されたプリント基板2を押
圧するために上下に移動可能となされた基板押圧部34
と、検査ピン6が立設されたピンボード3と、プリント
基板2の回路に電気信号を送り、これを演算処理する計
測装置33とで構成されている。
【0017】図1のように、基板押圧部34はプリント
基板2を押圧する複数の押圧棒35と、押圧棒35を上
下にスライド自在に支持する支持板36とを有してい
る。さらに、この発明においては、押圧棒35の上端側
を下方に付勢するためのバネ22を支持板36の上面側
で保持するために、支持板36の上面側に所定距離を保
持してこれと対向するように、平板状の天板37が取付
固定されている。天板37はブッシュ42を挟んで支持
板36にネジによって締め付け固定されている。
基板2を押圧する複数の押圧棒35と、押圧棒35を上
下にスライド自在に支持する支持板36とを有してい
る。さらに、この発明においては、押圧棒35の上端側
を下方に付勢するためのバネ22を支持板36の上面側
で保持するために、支持板36の上面側に所定距離を保
持してこれと対向するように、平板状の天板37が取付
固定されている。天板37はブッシュ42を挟んで支持
板36にネジによって締め付け固定されている。
【0018】図2にも示すように、支持板36には押圧
棒35の外径より僅かに大きい孔39が複数穿設され、
ここに押圧棒35がスライド自在に挿通される。押圧棒
35の上端近傍にはワッシャー24が取付固定されてい
るので、押圧棒35の上端側は常に支持板36の上面側
に突出した状態となされている。また、押圧棒35のワ
ッシャー24より上側の部分にはバネ22の一端が嵌め
込まれている。バネ22の他端(上端側)は天板37の
下面側に形成されたバネ受穴40に嵌め込まれており、
これによって押圧棒35はワッシャー24を介して下方
に付勢されていることになる。
棒35の外径より僅かに大きい孔39が複数穿設され、
ここに押圧棒35がスライド自在に挿通される。押圧棒
35の上端近傍にはワッシャー24が取付固定されてい
るので、押圧棒35の上端側は常に支持板36の上面側
に突出した状態となされている。また、押圧棒35のワ
ッシャー24より上側の部分にはバネ22の一端が嵌め
込まれている。バネ22の他端(上端側)は天板37の
下面側に形成されたバネ受穴40に嵌め込まれており、
これによって押圧棒35はワッシャー24を介して下方
に付勢されていることになる。
【0019】また、図1において、プリント基板2の両
端(図では左右)寄りには支持棒41が配されている。
これは、電気、電子部品(素子)が実装されていないプ
リント基板2の縁端部分を下方に押圧するためのもの
で、例えば、プリント基板2の4隅に配されるように取
り付けられている。この支持棒41は上下に伸縮する必
要がないので、図2のように、支持板36と天板37と
で挟持固定されている。
端(図では左右)寄りには支持棒41が配されている。
これは、電気、電子部品(素子)が実装されていないプ
リント基板2の縁端部分を下方に押圧するためのもの
で、例えば、プリント基板2の4隅に配されるように取
り付けられている。この支持棒41は上下に伸縮する必
要がないので、図2のように、支持板36と天板37と
で挟持固定されている。
【0020】このように、スライド自在な押圧棒35に
バネ22を取り付ければ、押圧棒35の先端がプリント
基板2上の素子に当たった場合でも、バネ22が縮むの
で、素子やプリント基板2自体に損傷を与えるようなこ
とがない。したがって、電気、電子部品の取り付け位置
が異なる様々なプリント基板を単一の検査装置で検査す
ることができる。
バネ22を取り付ければ、押圧棒35の先端がプリント
基板2上の素子に当たった場合でも、バネ22が縮むの
で、素子やプリント基板2自体に損傷を与えるようなこ
とがない。したがって、電気、電子部品の取り付け位置
が異なる様々なプリント基板を単一の検査装置で検査す
ることができる。
【0021】また、バネ22を支持板36の上面側つま
り、プリント基板2の反対側に取り付けたので、バネ2
2や押圧棒35を交換する必要があるときは、ネジを緩
めて天板37を取り外すだけでよい。その結果、全ての
ワッシャー24を取り外すような作業が不要になるため
に交換作業が非常に簡単になると共に、プリント基板2
上に実装されているリード線やワイヤー等の部品がバネ
22に引っ掛かるのを防ぐことができる。
り、プリント基板2の反対側に取り付けたので、バネ2
2や押圧棒35を交換する必要があるときは、ネジを緩
めて天板37を取り外すだけでよい。その結果、全ての
ワッシャー24を取り外すような作業が不要になるため
に交換作業が非常に簡単になると共に、プリント基板2
上に実装されているリード線やワイヤー等の部品がバネ
22に引っ掛かるのを防ぐことができる。
【0022】一方、ピンボード3は板状をなし、ベース
10の下側に固定されている。これの上面に立設された
検査ピン6は棒状のコンタクトプローブ7を介してピン
ボード3の下面側でリード線8に接続されている。検査
ピン6は金属製でプリント基板2の導通パターン部3a
に接触することによってプリント基板2の回路につなが
れる。一端がコンタクトプローブ7に接続されたリード
線8の他端は計測装置33に接続されている。
10の下側に固定されている。これの上面に立設された
検査ピン6は棒状のコンタクトプローブ7を介してピン
ボード3の下面側でリード線8に接続されている。検査
ピン6は金属製でプリント基板2の導通パターン部3a
に接触することによってプリント基板2の回路につなが
れる。一端がコンタクトプローブ7に接続されたリード
線8の他端は計測装置33に接続されている。
【0023】このように構成されたプリント基板の検査
装置30において、プリント基板2を検査するときは、
図1のように、プリント基板2を装置にセットした状態
で、計測装置33から出力された所定の電気信号を回路
に流し、回路からの出力を計測装置33で計測すること
によって、回路の機能を検査する。計測装置33によっ
て得られた結果はこの例では、プリンタ43によって出
力することができる。これによって得られた結果が所定
の条件を満足しているかいないかを判断することによっ
て、プリント基板の品質を判定することができる。
装置30において、プリント基板2を検査するときは、
図1のように、プリント基板2を装置にセットした状態
で、計測装置33から出力された所定の電気信号を回路
に流し、回路からの出力を計測装置33で計測すること
によって、回路の機能を検査する。計測装置33によっ
て得られた結果はこの例では、プリンタ43によって出
力することができる。これによって得られた結果が所定
の条件を満足しているかいないかを判断することによっ
て、プリント基板の品質を判定することができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明に係るプリ
ント基板の検査装置では、プリント基板を押圧するため
の押圧棒を支持板によってスライド自在に支持すると共
に、押圧棒の上端側を付勢するためのバネをプリント基
板とは反対側の支持板の上面側で保持できるように、支
持板の上側に天板を設けることによって、バネおよび押
圧棒の交換時には、天板を外すだけで簡単にこれらを交
換できるようにしたものである。
ント基板の検査装置では、プリント基板を押圧するため
の押圧棒を支持板によってスライド自在に支持すると共
に、押圧棒の上端側を付勢するためのバネをプリント基
板とは反対側の支持板の上面側で保持できるように、支
持板の上側に天板を設けることによって、バネおよび押
圧棒の交換時には、天板を外すだけで簡単にこれらを交
換できるようにしたものである。
【0025】したがって、スライド自在な押圧棒にバネ
を取り付けたので、検査時に押圧棒の先端がプリント基
板上の素子に当たった場合でも、バネが縮むことによ
り、素子やプリント基板が破損されることがない。これ
により、電気、電子部品(素子)の取り付け位置が異な
る様々なプリント基板を単一の検査装置で検査すること
ができる。
を取り付けたので、検査時に押圧棒の先端がプリント基
板上の素子に当たった場合でも、バネが縮むことによ
り、素子やプリント基板が破損されることがない。これ
により、電気、電子部品(素子)の取り付け位置が異な
る様々なプリント基板を単一の検査装置で検査すること
ができる。
【0026】また、バネを支持板の上面側つまり、プリ
ント基板の反対側に取り付けたので、バネや押圧棒を交
換する必要があるときは、ネジを緩めて天板を取り外す
だけで簡単に交換作業が行えると共に、プリント基板上
に実装されているリード線やワイヤー等の部品がバネに
引っ掛かるのを防止できる等の効果がある。
ント基板の反対側に取り付けたので、バネや押圧棒を交
換する必要があるときは、ネジを緩めて天板を取り外す
だけで簡単に交換作業が行えると共に、プリント基板上
に実装されているリード線やワイヤー等の部品がバネに
引っ掛かるのを防止できる等の効果がある。
【図1】この発明に係るプリント基板の検査装置30の
構成を示す平面図である。
構成を示す平面図である。
【図2】基板押圧部34の要部の断面図である。
【図3】従来のプリント基板の検査装置1の構成を示す
平面図である。
平面図である。
【図4】従来のプリント基板の検査装置20の構成を示
す平面図である。
す平面図である。
1,20,30 プリント基板の検査装置 2 プリント基板 3 ピンボード 3a 導通パターン部 4,21,35 押圧棒 6 検査ピン 7 コンタクトプローブ 8 リード線 10 ベース 22 バネ 23,36 支持板 24 ワッシャー 33 計測装置 34 基板押圧部 37 天板 40 バネ受穴 42 ブッシュ
Claims (1)
- 【請求項1】 プリント基板の回路の機能を検査するた
め上記回路の導通パターン部に接触可能な複数の検査ピ
ンが立設されたピンボードと、 上記プリント基板を上記ピンボードとは反対側より押圧
する基板押圧部とを有し、 上記基板押圧部は上記プリント基板を押圧するための複
数の押圧棒と、上記押圧棒をスライド自在に支持する支
持板と、上記支持板の上面側に配され、上記押圧棒の一
端側よりこの押圧棒を付勢するためのバネと、上記バネ
の一端が取り付けられる天板とで構成されたことを特徴
とするプリント基板の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9019187A JPH10221398A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | プリント基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9019187A JPH10221398A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | プリント基板の検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10221398A true JPH10221398A (ja) | 1998-08-21 |
Family
ID=11992345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9019187A Pending JPH10221398A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | プリント基板の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10221398A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012088065A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Hioki Ee Corp | ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
KR20200078560A (ko) * | 2017-10-26 | 2020-07-01 | 자일링크스 인코포레이티드 | 집적 회로 패키지 워크프레스 테스팅 시스템들에 대한 밸런싱된 합치력 메커니즘 |
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1997
- 1997-01-31 JP JP9019187A patent/JPH10221398A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012088065A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Hioki Ee Corp | ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
KR20200078560A (ko) * | 2017-10-26 | 2020-07-01 | 자일링크스 인코포레이티드 | 집적 회로 패키지 워크프레스 테스팅 시스템들에 대한 밸런싱된 합치력 메커니즘 |
JP2021501317A (ja) * | 2017-10-26 | 2021-01-14 | ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated | 集積回路パッケージのワークプレス検査システムの平衡適合力機構 |
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