KR200169513Y1 - 반도체 소자 검사용 테스트 보드 - Google Patents
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- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F7/00—Magnets
- H01F7/02—Permanent magnets [PM]
Abstract
본 고안은 반도체 소자 검사용 테스트 보드에 관한 것으로, 종래 반도체 소자 검사용 테스트 보드(1)는 소켓(2)을 사용함으로써 소켓(2)이 파손되면 이를 교환해주어야 하므로 비용이 상승되는 결함이 있었고, 제품의 검사가 끝난 후에 제품을 꺼내는 과정에서 반도체 소자의 리드가 손상을 입게 되어 외관불량이 발생되는 문제점이 있었는 바, 테스트 보드(10) 상면의 반도체 소자 접촉부위(11)마다 영구자석(12)을 설치하여, 상기 영구자석(12)의 자력에 의해 반도체 패키지(13)를 고정하도록 구성한 본 고안을 제공하여 소켓 대신에 자석을 설치하여 반도체 패키지가 자력으로 고정되도록 함으로써, 소켓을 사용하지 않게 되어 비용을 절감하고, 반도체 패키지 리드의 손상을 방지하도록 한 것이다.
Description
제1도는 종래 반도체 소자 검사용 테스트 보드를 보인 사시도.
제2도는 본 고안에 의한 반도체 소자 검사용 테스트 보드를 보인 사시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 테스트 보드 11 : 접촉부위
12 : 영구자석 13 : 패키지
본 고안은 반도체 소자의 전기적 특성을 검사하는 테스트 보드(TEST BOARD)에 관한 것으로, 특히 소켓(SOCKET)을 사용하지 않고도 패키지를 검사하기에 적당하도록 한 반도체소자 검사용 테스트 보드에 관한 것이다.
종래 수평반송방식 핸들러에 사용되는 반도체 소자 검사용 테스트 보드는 제1도에 도시한 바와 같이, 테스트 보드(1) 상면에 다수개의 소케(2)이 형성되어 있어, 이 소켓(2)에 로보트를 사용하여 이송되어진 반도체 패키지(미도시)를 삽입하여 테스트한 후, 다시 소켓(2)에서 패키지를 꺼내도록 되어 있다.
이와 같이 종래 반도체 소자 검사용 테스트 보드(1)는 소켓(2)을 사용함으로써 소켓(2)이 파손되면 이를 교환해주어야 하므로 비용이 상승되는 결함이 있었고, 제품의 검사가 끝난후에 제품을 꺼내는 과정에서 반도체 패키지의 리드가 손상을 입게 되어 외관불량이 발생되는 문제점이 있었다.
이러한 문제점에 착안하여 안출한 본 고안의 목적은 소켓 대신에 자석을 설치하여 반도체 패키지가 자력으로 고정되도록 함으로써, 소켓을 사용하지 않게 되어 비용을 절감하고, 반도체 패키지 리드의 손상을 방지하려는 것이다.
상기한 바와 같은 본 고안의 목적을 달성하기 위하여, 반도체 패키지 검사용 테스트 보드에 있어서, 상기 테스트 보드 상면의 패키지 접촉부위에 영구자석을 각각 설치하여, 상기 영구자석의 자력에 의해 패키지를 테스트 보드의 상면에 설치할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 검사용 테스트 보드가 제공된다.
이하, 상기한 본 고안을 첨부한 일 실시예에 의거하여 설명한다.
첨부한 도면 제2도는 반도체 소자 검사용 테스트 보드를 보인 사시도로서, 이에 도시한 바와 같이, 본 고안에 의한 반도체 소자 검사용 테스트 보드는 테스트 보드(10) 상면의 반도체 소자 접촉부위(11)마다 영구자석(12)을 설치하여 상기 영구자석(12)의 자력으로 반도체 패키지(13)를 고정할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 한다.
이와 같이 테스트 보드(10)에 소켓의 설치를 배제하고, 영구자석(12)을 설치함으로써, 반도체 패키지(13)가 영구자석(12)에 부착되는 성질을 이용하여 테스트 보드(10)의 영구자석(12)에 패키지(13)를 부착시키면, 패키지(13)의 리드(14)가 테스트 보드(10)의 리드 접촉부위(11)와 접촉됨으로써 반도체 소자의 검사가 이루어지게 된다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 의한 반도체 소자 검사용 테스트 보드는 패키지용 소켓을 사용하지 않으므로, 비용이 절감되고, 파손된 소켓을 교환할 필요가 없으며, 제품의 리드가 손상을 입지 않게 되어 제품의 외관불량을 감소시킬 수 있는 한편, 리드의 평탄도가 불량인 제품인 경우에 소켓을 사용함으로써 전기적 기능상의 문제가 없으면 테스트시 양품으로 판명되는 오류를 범할 수 있으나, 본 고안에서는 리드의 접촉상태가 불완전하게 되므로 테스트시에 쉽게 불량으로 판정할 수 있어 사용자가 기판에 제품을 실장했을 때 불량이 발생할 수 있는 가능성을 사전에 방지할 수 있어 제품의 품질이 향상되는 효과가 있다.
Claims (1)
- 반도체 소자 검사용 테스트 보드에 있어서, 상기 테스트 보드 상면의 패키지 접촉부위에 영구자석을 각각 설치하여, 상기 영구자석의 자력에 의해 패키지를 테스트 보드의 상면에 설치할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 검사용 테스트 보드.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019940001268U KR200169513Y1 (ko) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 반도체 소자 검사용 테스트 보드 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019940001268U KR200169513Y1 (ko) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 반도체 소자 검사용 테스트 보드 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR950023961U KR950023961U (ko) | 1995-08-23 |
| KR200169513Y1 true KR200169513Y1 (ko) | 2000-02-01 |
Family
ID=19376167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019940001268U KR200169513Y1 (ko) | 1994-01-24 | 1994-01-24 | 반도체 소자 검사용 테스트 보드 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200169513Y1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102547617B1 (ko) * | 2022-06-23 | 2023-06-26 | 큐알티 주식회사 | 가속환경 제공 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 이용한 가속환경에서 반도체 소자 테스트 방법 |
-
1994
- 1994-01-24 KR KR2019940001268U patent/KR200169513Y1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102547617B1 (ko) * | 2022-06-23 | 2023-06-26 | 큐알티 주식회사 | 가속환경 제공 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 이용한 가속환경에서 반도체 소자 테스트 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950023961U (ko) | 1995-08-23 |
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