KR20030016060A - 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커 - Google Patents

모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커 Download PDF

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KR20030016060A
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grippers
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김두철
송기영
이기현
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미래산업 주식회사
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67379Closed carriers characterised by coupling elements, kinematic members, handles or elements to be externally gripped

Abstract

본 발명은 모듈 아이씨(Module IC) 테스트 핸들러용 픽커에 관한 것으로, 그립퍼가 모듈 아이씨를 테스트소켓에 삽입하는 과정에서 어떤 요인에 의해 그립퍼에 기울어짐이 발생하더라도 모듈 아이씨 양측에서 가해지는 힘이 항상 균일하도록 하여 접속 불량을 방지할 수 있도록 한 것이다.
이를 위해 본 발명은, 핸들러의 본체에 상하 및 좌우로 이동가능하게 설치된 이동부재와, 상기 이동부재에 좌우로 수평이동 가능하게 대향 설치되어 모듈 아이씨의 양단 모서리부를 홀딩하여 테스트소켓에 장착하여 주는 한 쌍의 그립퍼를 포함하여 구성된 것에 있어서, 상기 각 그립퍼는 상기 이동부재와 결합되는 수직한 부분의 하단부에 모듈 아이씨의 상단 모서리와 접촉하는 돌기부를 구비한 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커를 제공한다.

Description

모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커{Picker of Handler for testing Module IC}
본 발명은 모듈 아이씨(Module IC)를 테스트하는 핸들러에 관한 것으로, 특히 핸들러에서 모듈 아이씨를 홀딩하고 이송하여 테스트소켓에 장착하여 주는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커에 관한 것이다.
일반적으로, 모듈 아이씨는 복수개의 아이씨(IC) 및 기타 소자를 하나의 기판상에 납땜 고정하여 독립적인 회로를 구성한 것으로, 이러한 모듈 아이씨는 마더보드에 실장되는 여러가지의 부품들 중에서 매우 중요한 역할을 하기 때문에 사용하기 전에 보다 정밀하게 이상상태를 점점하는 과정을 반드시 거쳐야 함은 필수적이다.
따라서, 반도체 소자 및 모듈 아이씨를 생산하는 업체에서는 제품 출하 전단계에서 핸들러를 테스터(Tester)에 결합시켜 단시간내에 대량의 제품들을 테스트하고 있다.
이러한 모듈 아이씨 테스트 핸들러에서 이루어지는 테스트 과정에 대해 간단히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 작업자가 모듈 아이씨들이 적재된 트레이를 로딩스택커에 적재한 후 핸들러를 가동시키면, 핸들러의 베이스 상측에서 X-Y-Z축으로 이동 가능하게 형성된 픽커가 그의 그립퍼로 상기 로딩스택커의 테스트할 모듈 아이씨를 홀딩하여 테스터에 전기적으로 연결된 테스트소켓에 장착하고, 이 상태에서 소정의 테스트를 수행하게 된다.
이후 테스트가 완료된 모듈 아이씨는 다시 픽커에 의해 언로딩스택커의 트레이에 테스트 결과별로 분류되어 재수납된다.
그런데, 상기와 같은 종래의 핸들러는 픽커의 그립퍼가 모듈 아이씨를 테스트소켓에 눌러 장착하는 과정에서 모듈 아이씨가 기울어지는 등의 문제가 종종 발생하여 모듈 아이씨와 테스트소켓 간의 전기적 연결이 잘 이루어지지 않는 경우가 발생하였다.
구체적으로 설명하면, 도 1에 도시된 것과 같이 종래의 픽커는 한 쌍의 그립퍼(11)가 구동수단에 의해 좌우로 수평운동하며 모듈 아이씨(1)의 모서리 부분을 홀딩하도록 되어 있는데, 이 때 그립퍼(102)와 모듈 아이씨(1) 모서리 부분은 서로 면접촉하게 된다.
이와 같은 상태에서 픽커 자체가 하강 운동하여 그립퍼(11)가 모듈 아이씨(1)를 눌러 테스트소켓(2)에 삽입하게 되는데, 이 때 상기 그립퍼(11)에 가해지는 힘은 그의 수직한 부분에 집중되고 모듈 아이씨(1)를 누르는 힘은 모듈 아이씨(1)와 접촉하는 수평한 부분 전체에 걸쳐 분포하게 되므로, 그립퍼(11)의 결합부분에 조립 공차 등이 존재하거나 픽커 자체에 구조적 문제가 있을 경우 그립퍼(11)에 모멘트가 발생하여 어느 정도 회전하게 된다.
따라서, 전술한 바와 같이 그립퍼(11)가 모듈 아이씨(1) 모서리 부분과 면접촉하며 힘을 전달하도록 되어 있음으로 인하여, 상기와 같이 그립퍼(11)가 기울어지게 되면 모듈 아이씨(1) 양측에서 전달되는 힘에 분균형이 생겨 모듈 아이씨가 기울어지게 되고, 이에 따라 모듈 아이씨(1)가 테스트소켓(2)에 제대로 삽입되지 않아 접속 불량이 발생하여 정확한 테스트가 이루어지지 않게 되는 문제점이 발생하였다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 그립퍼가 모듈 아이씨를 테스트소켓에 삽입하는 과정에서 어떤 요인에 의해 그립퍼에 기울어짐이 발생하더라도 모듈 아이씨 양측에서 가해지는 힘이 항상 균일하도록 하여 접속 불량을 방지할 수 있도록 한 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 종래 핸들러의 그립퍼의 작동 상태를 개략적으로 나타낸 도면
도 2는 본 발명의 핸들러용 픽커의 구성을 나타낸 정면도
* 도면의 주요부분의 참조부호에 대한 설명 *
1 - 모듈 아이씨 2 - 테스트소켓
100 - 픽커 101 - 이동부재
102 - 그립퍼 102a - 결합부
102b - 홀딩부 102c - 돌기부
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 핸들러의 본체에 상하 및 좌우로 이동가능하게 설치된 이동부재와, 상기 이동부재에 좌우로 수평이동 가능하게 대향 설치되어 모듈 아이씨의 양단 모서리부를 홀딩하여 테스트소켓에 장착하여 주는 한 쌍의 그립퍼를 포함하여 구성된 것에 있어서, 상기 각 그립퍼는 상기 이동부재와 결합되는 수직한 부분의 하단부에 모듈 아이씨의 상단 모서리와 접촉하는 돌기부를 구비한 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커를 제공한다.
이하, 본 발명에 따른 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 픽커의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 픽커의 구조를 나타낸 것으로, 본 발명의 픽커(100)는 핸들러의 본체 상측에 별도의 구동수단에 의해서 전후 좌우 및 상하로 이동가능하도록 설치된 이동부재(101)와, 상기 이동부재(101)에 좌우로 수평운동 가능하도록 서로 대향되게 설치되어 모듈 아이씨(1)의 양측단 모서리 부분을 홀딩하는 한 쌍의 그립퍼(102) 및, 상기 이동부재(101)의 양측에 고정된 고정블럭(103)에 고정 설치되어 상기 그립퍼(102)를 좌우로 구동시키도록 된 공압실린더(104)를 포함하여 구성된다.
그리고, 상기 그립퍼(102) 사이에는 모듈 아이씨(1)가 위치되었는지를 감지하는 센서(105)가 설치되어 있다.
한편, 상기 그립퍼(102)는 수직한 결합부(102a)와 이 결합부(102a)의 하단부에 외측으로 수평하게 연장된 홀딩부(102b)의 2부분으로 구분할 수 있는데, 상기 결합부(102a)는 그의 상단부가 엘엠가이드(106)와 같은 안내부재를 매개로 이동부재에 좌우로 이동가능하게 결합되고, 홀딩부(102b)는 결합부(102a) 하단부에서 모듈 아이씨(1)의 양측 모서리부를 홀딩하도록 구성되어 있다.
또한, 상기 각 그립퍼(102)의 홀딩부(102b)에는 수직한 결합부(102a)의 바로 아래쪽 위치에 하측으로 돌출된 돌기부(102c)가 형성되어, 그립퍼(102)가 모듈 아이씨(1)를 홀딩시 모듈 아이씨(1) 상단 모서리부분이 상기 돌기부(102c)와 접촉하게 된다.
따라서, 픽커(100)의 그립퍼(102)가 핸들러의 로딩부에서 테스트할 모듈 아이씨(1)를 홀딩하여 테스트소켓(2)에 상측으로 이송하게 되면, 이동부재(101)가 별도의 구동수단(미도시)에 의해 하강운동하여 그립퍼(102)에 홀딩된 모듈 아이씨(1)를 테스트소켓(2)에 누르면서 삽입시키게 되는데, 이 때 그립퍼(102)의 홀딩부(102b)에 형성된 돌기부(102c)가 모듈 아이씨(1) 상단 모서리와 접촉되어 있음에 따라 모듈 아이씨(1)를 누르는 힘은 그립퍼(102) 결합부(102a)를 통해 상기 돌기부(102c)와 접촉하고 있는 양측 두 지점으로 전달된다.
다시 말해서, 이동부재(101)의 하강시 그립퍼(102)에 의해 가해지는 힘이 결합부(102a) 바로 아래에 위치한 돌기부(102c)를 통해 모듈 아이씨(1) 상단 모서리부분 양측에 집중적으로 전달되므로 모듈 아이씨를 누르는 시점에서 각 그립퍼(102)에 가해지는 힘과 모듈 아이씨(1)에 가해지는 힘의 작용점이 일치하게된다.
따라서, 모듈 아이씨(1)를 테스트소켓(2)에 삽입하는 과정에서 모듈 아이씨(1)의 양측에 가해지는 힘이 거의 균일하게 유지되므로 그립퍼(102)에 기울어짐이 거의 발생하지 않게 되고, 이에 따라 모듈 아이씨(1)와 테스트소켓(2) 간의 접속 불량 발생이 방지될 수 있게 된다.
또한, 어떠한 요인에 의해 그립퍼(102)에 약간의 기울어짐이 발생하더라도 모듈 아이씨(1)에 가해지는 힘은 거의 균일하게 되므로 모듈 아이씨(1)가 테스트소켓(2)에 접속되지 않는 현상은 발생하지 않게 된다.
한편, 상기 각 그립퍼(102)의 돌기부(102c)는 서로 같은 높이로 형성되는 것이 바람직하다.
또한, 전술한 실시예에서는 돌기부가 하나씩만 형성되어 있으나 각 그립퍼에 복수개의 돌기부가 형성될 수도 있을 것이다. 이 경우에도 돌기부들은 그립퍼의 누름 작용점인 결합부(102a) 위치를 벗어나지 않는 것이 바람직하다.
이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 모듈 아이씨를 테스트소켓에 삽입하는 시점에서 픽커의 그립퍼에 가해지는 힘과 모듈 아이씨에 가해지는 힘의 작용점이 그립퍼 하단에 형성된 돌기부에서 일치하게 되므로 픽커의 그립퍼에 기울어짐이 발생하지 않게 되고, 이에 따라 모듈 아이씨가 테스트소켓에 접속되지 않는 현상이 방지되어 테스트 신뢰성이 향상된다.

Claims (3)

  1. 핸들러의 본체에 상하 및 좌우로 이동가능하게 설치된 이동부재와, 상기 이동부재에 좌우로 수평이동 가능하게 대향 설치되어 모듈 아이씨의 양단 모서리부를 홀딩하여 테스트소켓에 눌러 장착하여 주는 한 쌍의 그립퍼를 포함하여 구성된 것에 있어서,
    상기 각 그립퍼는 상기 이동부재와 결합되는 수직한 부분의 하단부에 모듈 아이씨의 상단 모서리와 접촉하게 되는 돌기부를 구비한 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 각 그립퍼의 돌기부는 동일 높이로 형성된 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 각 그립퍼의 돌기부는 복수개 형성된 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100607546B1 (ko) * 2005-05-25 2006-08-02 우리마이크론(주) 컴퓨터용 메모리 자동 실장테스트장치
KR100724150B1 (ko) * 2005-09-21 2007-06-04 에이엠티 주식회사 모듈 아이씨(ic)의 외관검사 방법 및 그 장치
KR20190036686A (ko) 2017-09-28 2019-04-05 이원석 모듈아이씨 핸들러용 픽업유닛
KR20230148993A (ko) 2022-04-19 2023-10-26 (주)이레기술 양방형 핸들러가 구비된 픽업유닛

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