JPH036100A - 電子部品の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、電子部品の挿入検査装置に関し、詳しくは、
電子部品のリートを基板の端子孔に挿入した状態で、そ
の挿入状態の良否を確認した上、上述のり−トをクリン
チすることのできる電子部品の挿入検査装置に関する。

［従来の技術］ 従来、電子部品の挿入検査を行うにあたっては、基板の
端子孔に挿入された電子部品の全てのリードに対してひ
ずみゲージを使用したクリンチ装置で折曲げを行い、挿
着状態の良否を検査するか、あるいはリードピンに通電
して導通検査する機能を具えたクリンチ装置によりリー
ドピンを折曲げたあとの挿着検査が行われてきた。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述した従来の電子部品の挿入状態検査
装置では、クリンチ装置自体の大きさによって検査対象
の電子部品か制約を受け、リードの間隔が著しく狭いよ
うな電子部品に対してスペース的に対応できなかったり
、リードの数が多い電子部品に対してその数に対応した
だけのひずみゲージおよびゲージ用アンプ等導通させる
ための回路構成を必要とし、コストが高くつく。

本発明の目的は、上述したような従来の問題点に着目し
、その解決を回るべく簡単な機構および操作によりリー
ドのクリンチ動作を行い、かつ自動的に挿着状態の良否
が検査可能な電子部品の挿入検査装置を提供することに
ある。

［課題を解決するための手段］ かかる目的を達成するために、本発明は、電子部品のリ
ードに対応して設けられ、リードを個々に支承可能な複
数のリード保持ピンと、複数のリード保持ピンを個々に
上下自在に支持する絶縁体のブロック部材と、ブロック
部材の上面および下面に配設された導電体板と、リード
の全てが個々のリード保持ピンにより支承されたとぎに
のみ上面に配設された導電体板と下面に配設された導電
体板との間に電位差を発生させる検査手段と、ブロック
部材に連結され、互いに対向する方向に揺動してその揺
動によりリードピンの折曲げを行うと共に、ブロック部
材を連動させて下方に導く対をなす爪部材と、爪部材を
揺動させると共にブロック部材を下方に連動させるクリ
ンチ手段とを具え、検査手段によりリードの基板に対す
る挿入状態の検査が可能であり、爪部材およびブロック
部材をクリンチ手段により動作させてり一ドピンの折曲
げを行うようにしたことを特徴とするものである。

［作　用コ 本発明によれば、基板に挿入された電子部品のり−トを
それぞれ個々のリード保持ピンに支承させたときに、挿
入不良のリードは保持ピンに支承されず、従って保持ピ
ンが下方に押下げられないために検査手段を介して上下
の導電体板間に電位差が得られず、以て、その不良を検
出することができると共に、更に爪部材をクリンチ手段
により駆動させてリートのクリンチを行うことかできる
。

［実施例コ 以下に、図面に基づいて本発明の実施例を詳細かつ具体
的に説明する。

第１Ａ図〜第１Ｄ図は本発明の一実施例を示し、第１八
図は正面図、ＺＵ図は側面図、第１Ｃ図は上面図、第１
Ｄ図は第１Ｃ図のＡ−Ａ線断面図である。これらの図に
おいて、１はベース部材、２はベース部材１に立設され
た案内軸、３は案内軸２に沿って上下に摺動自在なブロ
ック部材、４は案内軸２の周りに設けられ、ブロック部
材３を図示の操作前状態に保つブロック復帰ばねである
。５は対をなす爪部材であり、爪部材５はベース部材１
に設けられた支持軸６の周りにそれぞね揺動自在に支持
されていて、各爪部材５の下端部にはローラ７が、また
、支持軸６とローラ７との間には第１Ｄ図に示すように
ばね８を係止させるためのピン９が設けられている。

１０は爪部材５に穿設した長孔型の溝孔であり、ブロッ
ク部材３に架設したピン１１がこの溝孔１０にそれぞれ
嵌合されていて、後述するようにして双方の爪部材５を
支持軸６の周りに互いに内側に揺動させたときに、ピン
１１を溝孔１０に沿って摺動させながらブロック部材３
を案内軸４に沿って下方に押下げることかできる。１２
はベース部材１に上下自在に支持されるロッドであり、
ロッド１２は第１Ｄ図に示すように大径部１２Ａ１中径
部１２Ｂおよび小径部１２Ｃを具えていて、小径部１２
Ｃには小径部１．２Ｃより幾分径の大きいローラ部１３
が取付けられている。

かくして、検査装置の操作前の状態においては、第１Ｄ
図に示すようにばね８のばね力により爪部材５の双方の
ローラ７がロッド１２の中径部１２Ｂに両側から圧接す
ると共に、ロッド１２のローラ部１３に両側から爪部材
５が当接した状態に保たれる。

次に、ブロック部材３について、第２八図および第２Ｂ
図を参照しながら説明する。ブロック部材３は爪部材５
と協動して不図示の電子部品を基板に挿着するときのり
−トの折り曲げと共に挿着状態の良否の検査に係わるも
ので、ブロック部材３自体は絶縁材料で形成されており
、その上面および下面にはそれぞれ導電体板Ｉ４および
１５か接着されている。また、導電体板１４および１５
にはブロック部材３と共に電子部品のリード先端を保持
する複数のリード保持ピン（以下で保持ピンという）１
６のために同数の貫通孔１４八および１５八か設けられ
ていて、下部導電体板１５に穿設した貫通孔１５Ａの方
は同じく導電材料で形成されている保持ピン１Ｂとの間
に絶縁状態が得られるようにするためにブロック部材３
の貫通孔３Ａよりは大きい径にしである。

１６Ａは保持ピン１６の頂部に設けられ、不図示の電子
部品リードの先端を支持可能なピン受は部、１７はリー
ド受は部１６Ａと上部導電体板１４との間に介装され、
保持ピン１６を第２八図に示すように上方に突出させた
状態に保つ圧縮ばね、１８は第２Ｂ図に示すようにして
保持ピン１６の下端に取付けられた導電性を有するスト
ップ部材であって、保持ピン１６かばね１７により第２
Ａ図に示すように保たれた状態では、ストップ部材１８
は下部導電体板１５と接触を保つ。またここで、上部導
電体板１４はＯｖの電位にイしたれ、下部導電体板１５
は抵抗Ｒを介して例えは５■の電位に保たれている。

ついで、このように措成した電子部品の挿入検査装置に
よる検査時とクリンチ動作時とについて説明する。

まず、電子部品Ｗのリードｗｐが全て不図示の基板に挿
入された状態で第１Ｄ図に示すようにそのリードＷＰを
保持ピン１６上に載置した状態に保ち、保持ピン１６に
荷重がかけられた場合、全てのり一ドＷＰにより全ての
保持ピン１６がはね１７のばね力に抗して押下されるこ
とになる。そこで、保持ピンＩ６のストップ部材３８が
全て下方に移動され、下部導電体板１５と保持ピン１６
との間の電気的接続状態が絶たれることによって下部導
電体板１５の電位は５Ｖに保持される。

しかし、仮にリートＷＰのうち１木でも基板に挿入され
ていない状態で同様にしてブロック部材３上に電子部品
Ｗが載置されたとすると、そのリードＷＰに対応する保
持ピン１６が押下されない。従って、下部導電体板１５
と上部導電体板１４との間にはその保持ピン１６を介し
て第３図に示す経路で電流が流れ、下部導電体板１５の
電位はＯｖとなり、それによって、電子部品Ｗの基板へ
の挿入状態不良を検出することができる。すなわち、以
下のようにして下部４電体板の電位が５ｖに保たわてい
るか０であるかによって挿入状態の良不良を判定するこ
とができる。

ついで、本装置によるクリンチ動作を第４図によって説
明する。まず、上述した挿入状態の検出時においては第
１０図に示すようにロッド１２のローラ部１３が双方の
爪部材５の間に挟持された状態に保たれており、従って
、爪部材５と共にブロック部材３も第１Ａ図に示す状態
で固定されている。

そこで、クリンチを行う場合は、電子部品Ｗを第１ｔ１
図に示すように保持した状態で第４図に示“Ｖようにロ
ット１２を上方に動作させ、その大径部１．２　Ａをば
ね８のはね力に抗して双方のローラ７の間に割込ませる
ようにすると、ロッド１２のローラ部１３が上方に移動
し、爪部材５の拘束状態を解くことによって爪部材５の
先端爪５八が互いに内側に向けてＯ動するように回動さ
れ、電子部品ＷのリードＷＰを内側に折曲げるように作
動する。

なおこのとき、双方の爪部材５か互いに拝み合う形で支
持軸６の周りに揺動することにより、ブロック部材３の
ピン１１が爪部材５の１１４孔１０に沿って摺動し、ブ
ロック部月３を復帰ばね４のばね力に抗して下方に引下
げる。従って、保持ピン１６もまた一斉に下方に引下げ
られ、爪部材５による折曲げ動作の妨げとなるようなこ
とがない。

［発明の効果］ 以上説明してきたように、本発明によれば、従来のよう
にクリンチ装置にゲージやその他の複雑な導通検査機構
を設けることなく、複数のリード保持ピンを上下自在に
支持する絶縁材のブロック部材と、ブロック部材の上面
および下面に設けた導電体板とを設け、リードの全てが
上述の保持ピンにより支承された状態のときにのみ保持
ピンを介して上下の４電体板の間に電位差が発生される
ようにしたので、簡単な構成で電子部品のり−トの抑大
状態の良否を検出することができ、しかも上述のブロッ
ク部材を対をなす爪部材に連結して爪部材の互いに内側
に向ζづでの揺動動作により、上述のリードを折曲げる
と共にブロック部材を下降させるべく連動させて電子部
材から退避させることができるもので、挿入状態の検査
に引続いてクリンチ動作を有効に実施することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１Ａ図、第１Ｂ図および第１Ｃ図は本発明電子部品の
挿入検査装置の構成の一例を示すそれぞれ、正面図、側
面図、上面図、第１Ｄ図は第１Ｃ図のＡ−Ａ線断面図、 第２八図および第２Ｂ図は本発明にかかるリード保持ピ
ンとブロック部材ならびに上下の４電体板の関係をそれ
ぞれ示す断面図、 第３図は本発明による挿入検査時の電流経路を示すブロ
ック図、 第４図は本発明によるクリンチ動作を説明するための断
面図である。 １７・・・圧縮ばね、 １８・−・ストップ部材、 Ｗ・・・電子部品、 ＷＰ・・・リード。 １・・・ベース部材、 ２・・・案内軸、 ３・・・ブロック部材、 ４・・・復帰ばね、 ５・・・爪部材、 ６・・・支持軸、 ７・・・ローラ、 ８・・・ばね、 ｌＯ・・・溝孔、 １１・・・ピン、 １２・・・ロット、 １３・・・ローラ部、 １４、１５・・・導電体板、 １６・・・保持ピン、 第１Ａ図 １６ 第１ｃ 図 ５Ａ部材 第１Ｂ 図 第 Ｄ 図 第２Ａ図 第２Ｂ図 第 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）　電子部品のリードに対応して設けられ、該リード
   を個々に支承可能な複数のリード保持ピンと、 該複数のリード保持ピンを個々に上下自在に支持する絶
   縁体のブロック部材と、 該ブロック部材の上面および下面に配設された導電体板
   と、 前記リードの全てが個々の前記リード保持ピンにより支
   承されたときにのみ前記上面に配設された導電体板と前
   記下面に配設された導電体板との間に電位差を発生させ
   る検査手段と、 前記ブロック部材に連結され、互いに対向する方向に揺
   動してその揺動により前記リードピンの折曲げを行うと
   共に、前記ブロック部材を連動させて下方に導く対をな
   す爪部材と、 該爪部材を揺動させると共に前記ブロック部材を下方に
   連動させるクリンチ手段と を具え、前記検査手段により前記リードの基板に対する
   挿入状態の検査が可能であり、前記爪部材および前記ブ
   ロック部材を前記クリンチ手段により動作させて前記リ
   ードピンの折曲げを行うようにしたことを特徴とする電
   子部品の挿入検査装置。