JPS6162877A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査装置

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JPS6162877A
JPS6162877A JP59183683A JP18368384A JPS6162877A JP S6162877 A JPS6162877 A JP S6162877A JP 59183683 A JP59183683 A JP 59183683A JP 18368384 A JP18368384 A JP 18368384A JP S6162877 A JPS6162877 A JP S6162877A
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
holding plate
elastic body
inspection
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JP59183683A
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JPH0458583B2 (ja
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Mineo Fujimura
藤村 峰夫
Kiyoshi Kimura
潔 木村
Kozo Arai
新井 洸三
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JSR Corp
Original Assignee
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプリント基板の検査装置に関するものである。
〔従来技術〕
一般にプリント基板においては、これにトランジスタ、
ダイオード、抵抗等のl’N能素子が組込まれる前に、
所期のパターンのリードが形H,されているか否か盆−
検査することが必要である。この検査は、プリント基板
に形成された。機能索子が差込1れる孔即ちスルーホー
ルの1わりに形成された導電部(以下、「被検査導電部
」という。)の相互間の導通状態の肩゛無會調べること
によって行われる。
従来、この種の検査を行なうために用いられる汎用性の
検査vc置としては、検f丁べきプリント基板の被検査
4を部の基本的な配列・eターン、丁なわち例えばピッ
チ2.54 W 6るいは1.2711111で縦横に
規則的に配列される格子点の果合(以下、単に「基本格
子」という。)に対応して金属製のビン、例えばスプリ
ングプローブよりなる検査用端子會配置し、この検査用
端子とプリント基板の被検査導電部と’kill気的に
接触させることにより、かかる被検査導電部の導通状M
あるいは被検査導電部相互間の絶縁状態の検査を行なう
ものが知られている。しかるに、近年に3いては、電気
、電子機器の小型化に伴ってプリント回路基板の被検査
導電部が高い密度で形成されるようになり、当該導電部
の一部が基本格子に対して若干変位した状態で配置され
たプリント基板が多(用いられており、このようなタイ
プのプリント基板に対しては上述の検査装置?用いて確
実な検査?行なうことは困難となっている。
そこで、上述のような基本格子と厳密に対応して配#さ
れない被検査導電部を一部に肩するプリント基板の導通
検査全可能にする技術として、−面に8いてプリント基
板の仮検査導m部に対応する位置に11!極?形成し、
他面において基本格子に対応する位置に前記!極と電気
的に接続された電極全形成してなる位置変換体?、プリ
ント基板と検査用端子を構成するスプリングプローブと
の間に介在させてなる装置が開示されている(特開昭5
6−54096号公報参照)。しかしながら、この装置
においては、■スプリングプローブと位置変換体の接点
が点接触の状態にあって接触信頼性に欠けること、■そ
のため、両者の接触?十分確実なものとするために大き
な押圧力klし、この過度の押圧力によって位置変換体
の電極めるいはスプリングプローブが損傷しやすく、耐
久性に劣ること、■位置変換体が内層/eターン方式の
基板よnm成されてjdす、これ會製造するのに比較的
多くの工数?要し、製造が容易でない等の問題点r有す
る。
〔発明の目的〕
本発明は、以上のような背景のもとKなされたものでろ
って、その目的は、耐久性に優れ、長期にわたって(N
頼件の高い検査音実施することができ、しかも製造が容
易なプリント基板の検査装置を提供することにある。
〔発明の構成〕
本発明の特徴とするところは、基本格子から変位した被
検査導電部ヶ含んでなるプリント基板の回路形成面に対
し、 (イj厚み方向のみに導電機能盆石する第1の弾性体と
、 (ロ)−面において前記プリント基板の各被検査導電部
に対応して位置する表面電極部、8よびこの表面電極部
と電気的に接続されかつ他面において前記プリント基板
の基本格子に対応して位置する表面!極部會有する中間
電極体と、 (ハ)厚み方向のみに導電機能盆石する第2の弾、性体
と、 (ニ)前記プリント基板の基本格子に対応して位置する
検出用端子を肩する端子保持板とを、(イ)〜(二]の
順に積重してなる点にある。
〔発明の実施例〕
以下、不発明の一実施例を図面會参照しながら詳細に説
明する。
第1図はこの実施例に係る装置の要部會分解しく 6 
) て示j説明用斜視図、第2図はこの装置の要部?拡大し
て示す説明用断面図である。
この実施例の検査装置は、検査子べきプリント基板Bと
、このプリント基板Bの基本格子の各格子点に対応する
位置に検査用端子17保持してなる端子保持板2とを、
前記プリント基板Bの回路形成面Blと端子保持板2の
上面とが対向するよう配置□′E7、この両者の間にプ
リント基板Bの側より第1の弾性体3、中間電極体4お
よび第2の弾性体5r順次積み重ねて積重体J−形成し
、この積重体り會基f!36と図示しない加圧機構によ
って駆動される抑圧板7との間に配置して構成される。
8は、端子保持1f12に配設された検査用端子lの各
々と電気的に接続された検査回路葡WL、各検査用端子
lの導通状態音検査するための検査1部である。
前記端子保持板2は、アクリル樹脂、フェノール樹脂、
エポキシ樹脂等の絶縁性材料より形成され、その表面に
は検査子べきプリント基板Bの基本格子のピッチd[対
応する間隔1例えば2.54glで端子保持孔21が縦
横に並んで穿8され、この端子保持孔21の各々にはリ
ベット状の検査用端子lがその頭部全露出させ友状態で
挿入固定されている。1だ、端子保持板2の4隅には位
置決め用ピン22が設けられてりる。
前記中間電極体4Fi、スルーホールプリント基板より
なり、そのスルーホール41〜45の上側、丁なわち検
査すべきプリント基板Bが位置する側の表面1!極部E
1〜E5は、前記プリント基板Bの被検査導電部盆なす
スルーホールDi−B5に対応する位置にそれぞれ設け
られ、−万中間電極体4のスルーホール41〜45の下
側、jなゎ)検査用端子1が位置する側の表面11極部
El’〜E5’は、前記検査用端子lの各々に対応する
位置にそれぞれ設けられている。図中、46は端子保持
板2の位置決め用ピンが挿入される位置決め孔でろり、
47は第1の4−’Jtr−4!l=弾性体によびプリ
ント基板B會固定するだめの位置決め用ピンである。
中間電極体4?11−構成するスルーホールの表面電極
部の形状、配置等については必要に応じて修正が加えら
れる。例えば、プリント基板Bの基本格子より変位して
配tjltvれ濫スルーホールB4i例にとって説明す
る。このスルーホール84はスルー ホー ルHaに近
接しているので、これら両者の各々に厳密に対応する位
置に、中間11億体4の表面!極部E3uよびE4を規
定どにりの形状で形成したとすると、これら表面を他部
E3およびE4の相互間で短絡を生ずるおそれがある場
合には、例えば表面!極部B47縮小してこれと隣接す
る表面電極部E3との間+I’t4才、間ぶすることに
よって、表面電極部E3sよびE4の相互の絶縁性を応
して位置するようその端部を延長して形成し、それに化
上1・二隣接する表面電極部E 31 w縮小する必要
がろる。
このように、中間11t極体4のスルーホールの導通性
あるいはスルーホール相互間の絶縁性tJN実に得るた
めに、必斐に応じて、スルーホールの表面t&部の形状
、配置を変えたり、めるいは図示はしないが表面電極部
の相互間に樹脂などの絶縁性物質全充填して絶縁部全形
成するなどの修正7行なう。
前記iiの弾性体3ならびに第2の弾性体5は。
当該弾性体の厚み方向にのみ導電8!能’に!する弾性
材料、例えばその厚み方向に圧力が加えられた部分が導
電状態となる感圧導電性ゴム、あるいはカーゼンファイ
バー等の線状体よりなる導電路を厚み方向に多数配列し
たもの等によって構成される。回申31および51はそ
れぞれ位置決め用ピン47j、sよび22が挿入される
位置決め用孔である。
〔実施例の作用効果〕
以上の構成の装置Kgいては、検査すべきプリント基板
B、第1の弾性体3、中間電極体4、第2の弾性体5ど
よび端子保持板2の積重体LQ基台6に対して抑圧板7
によって圧接して検査m8?作動させることにより、プ
リント基板Bの被検査導電部であるスルーホールの導通
状態あるいはスルーホール相互の絶縁状態を検査するこ
とがで(lO) きる。
そしてかかる装置によれば、中間を礁体4とプリント基
板Bとの間に第1の弾性体3r配置し、さらに中間!億
体4と端子保持板2との間に第2の弾性体5ケ介在させ
ているので、プリント基板Bと中間電極体4にBけるス
ルーホール相互の接触、ならびに中間電極体4のスルー
ホールと検査用端子lとの接触が点接触でな(面接触の
状態となり、したがって小さい圧接力によって十分な電
気的接続ケ達成することがでさ、信頼性の尚い検査がi
J能となる。さらに上述のように、プリント基板Bなら
びに中間tm体4におけるスルーホール、検査用端子1
などの電極はそれぞれ弾性体全弁して接触していること
から、接触による損傷音生じにくり、シたがって多数回
にわたる検査においても高い信頼性を維持することがで
きる。
さらに、中間を礁体4はスルーホールプリント、mkv
cよって構成されているため、当該中間電極体4會小型
かつ軽重なものとすることができる。
そして、中間電極体4にKけるスルーホールの上側の表
面電極部は、検査すべきプリント基板Bのスルーホール
の位置と対応する配置を有するので、当該プリント基板
Bの形成に用いたと同じ・ぞターンマスク會使用するこ
とによって形成することができ、−万、スルーホールの
下側の表面電極部は、プリント基板の基本格子に対応す
る配置を有することから、同一ピッチの基本格子會肩す
るプリント基板については同一のパターンマスク音用い
ることによって形成することができ、したがってプリン
ト基板ごとに新らたなパターンマスク?ffE[する必
要がないことから製造が容易である。しかも、上述のパ
ターンマスク?若干修正するだけで基本格子上に配置さ
れていない仮検査導電部を含むプリント基板の検査に適
用することのできる中間電極体4會容易に形成すること
ができて製造上有利であろうえ、かかる中間′tlL極
体4極用4會用とにより、検査装置の汎用性音高めるこ
とが可能となる。
し発明の効果〕 以上のように、本発明によれば、耐久性に優れ、長期に
わたって信頼性の高い検査音実施することができ、しか
も製造が容易なプリント基板の検査装置r提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部?分解して示−f説明
用斜視図、第2図は同じく本発明の一実施。 例の要部會拡大して示す説明用断面図である。 B・・・プリント基板 Bl〜B5・・スルーホール ■・・・検査用端子    2・・・端子保持板3・・
・第1の弾性体   4・・・中間!極用41〜45・
スルーホール 、E1〜E5.El’〜E5’・・・衣面電、惚部5・
・・第2の弾性体   6・・基台7・・・押圧板  
    L・・・槓1体8・・・検食部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)基本格子から変位した被検査導電部を含んでなるプ
    リント基板の回路形成面に対し、 (イ)厚み方向のみに導電機能を有する第1の弾性体と
    、 (ロ)一面において前記プリント基板の各被検査導電部
    に対応して位置する表面電極部、およびこの表面電極部
    と電気的に接続されかつ他面において前記プリント基板
    の基本格子に対応して位置する表面電極部を有する中間
    電極体と、 (ハ)厚み方向のみに導電機能を有する第2の弾性体と
    、 (ニ)前記プリント基板の基本格子に対応して位置する
    検出用端子を有する端子保持板とを、 (イ)〜(ニ)の順に積重してなることを特徴とするプ
    リント基板の検査装置。 2)中間電極体がスルーホールプリント基板より構成さ
    れる特許請求の範囲第1項記載のプリント基板の検査装
    置。
JP59183683A 1984-09-04 1984-09-04 プリント基板の検査装置 Granted JPS6162877A (ja)

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JPH0458583B2 JPH0458583B2 (ja) 1992-09-17

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6201398B1 (en) 1996-03-28 2001-03-13 Oht Inc. Non-contact board inspection probe

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6201398B1 (en) 1996-03-28 2001-03-13 Oht Inc. Non-contact board inspection probe
US6373258B2 (en) 1996-03-28 2002-04-16 Naoya Takada Non-contact board inspection probe

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