JPH0458583B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0458583B2
JPH0458583B2 JP59183683A JP18368384A JPH0458583B2 JP H0458583 B2 JPH0458583 B2 JP H0458583B2 JP 59183683 A JP59183683 A JP 59183683A JP 18368384 A JP18368384 A JP 18368384A JP H0458583 B2 JPH0458583 B2 JP H0458583B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
conductive
inspected
surface electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59183683A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6162877A (ja
Inventor
Mineo Fujimura
Kyoshi Kimura
Kozo Arai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Synthetic Rubber Co Ltd filed Critical Japan Synthetic Rubber Co Ltd
Priority to JP59183683A priority Critical patent/JPS6162877A/ja
Publication of JPS6162877A publication Critical patent/JPS6162877A/ja
Publication of JPH0458583B2 publication Critical patent/JPH0458583B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプリント基板の検査装置に関するもの
である。
〔従来技術〕
一般にプリント基板においては、これにトラン
ジタ、ダイオード、抵抗等の機能素子が組込まれ
る前に、所期のパターンのリードが形成されてい
るか否かを検査することが必要である。この検査
は、プリント基板に形成された、機能素子が差込
まれる孔即ちスルーホールのまわりに形成された
導電部(以下、「被検査導電部」という。)の相互
間の導電状態の有無を調べることによつて行われ
る。
従来、この種の検査を行なうために用いられる
汎用性の検査装置としては、検査すべきプリント
基板の被検査導電部の基本的な配列パターン、す
なわち例えばピツチ25.4mmあるいは1.27mmで縦横
に規則的に配列される格子点の集合(以下、単に
「基本格子」という。)に対応して金属製のピン、
例えばスプリングプローブよりなる検査用端子を
配置し、この検査用端子とプリント基板の被検査
導電部とを電気的に接触させることにより、かか
る被検査導電部の導電状態あるいは被検査導電部
相互間の絶縁状態の検査を行なうものが知られて
いる。しかるに、近年においては、電気、電子機
器の小型化に伴つてプリント回路基板の被検査導
電部が高い密度で形成されるようになり、当該導
電部の一部が基本格子に対して若干変位した状態
で配置されたプリント基板が多く用いられてお
り、このようなタイプのプリント基板に対しては
上述の検査装置を用いて確実な検査を行なうこと
は困難となつている。
そこで、上述のような基本格子と厳密に対応し
て配置されない被検査導電部を一部に有するプリ
ント基板の導電検査を可能にする技術として、一
面においてプリント基板の被検査導電部に対応す
る位置に電極を形成し、他面において基本格子に
対応する位置に前記電極と電気的に接続された電
極を形成してなる位置変換体を、プリント基板と
検査用端子を構成するスプリングプロープとの間
に介在させてなる装置が開示されている(特開昭
56−54096号公報参照)。しかしながら、この装置
においては、スプリングプロープと位置変換体
の接点が点接触の状態にあつて接触信頼性に欠け
ること、そのため、両者の接触を十分確実なも
のとするために大きな押圧力を要し、この過度の
押圧力によつて位置変換体の電極あるいはスプリ
ングプロープが損傷しやすく、耐久性に劣るこ
と、位置変換体が内層パターン方式の基板より
構成されており、これを製造するのに比較的多く
の工数を要し、製造が容易でない等の問題点を有
する。
〔発明の目的〕
本発明は、以上のような背景のもとになされた
ものであつて、その目的は、耐久性に優れ、長期
にわたつて信頼性の高い検査を実施することがで
き、しかも製造が容易なプリント基板の検査装置
を提供することにある。
〔発明の構成〕
本発明の特徴とするところは、基本格子から変
位した被検査導電部を含んでなるプリント基板の
回路形成面に対し、 (イ) 厚み方向のみに導電機能を有する第1の弾性
体と、 (ロ) 一面において前記プリント基板の各被検査導
電部に対応して位置する表面電極部、およびこ
の表面電極部と電気的に接続されかつ他面にお
いて前記プリント基板の基本格子に対応して位
置する表面電極部を有する中間電極体と、 (ハ) 厚み方向のみに導電機能を有する第2の弾性
体と、 (ニ) 前記プリント基板の基本格子に対応して位置
する検出用端子を有する端子保持板とを、 (イ)〜(ニ)の順に積重してなる点にある。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら
詳細に説明する。
第1図はこの実施例に係る装置の要部を分解し
て示す説明用斜視図、第2図はこの装置の要部を
拡大して示す説明用断面図である。
この実施例の検査装置は、検査すべきプリント
基板Bと、このプリント基板Bも基本格子の各格
子点に対応する位置に検査用端子1を保持してな
る端子保持板2とを、前記プリント基板Bの回路
形成面B1と端子保持板2の上面とが対向するよ
うに配置し、この両者の間にプリント基板Bの側
より第1の弾性体3、中間電極体4および第2の
弾性体5を順次積み重ねて積重体Lを形成し、こ
の積重体Lを基板6と図示しない加圧機構によつ
て駆動される押圧板7との間に配置して構成され
る。8は、端子保持板2に配設された検査用端子
1の各々と電気的に接続された検査回路を有し、
各検査用端子1の導通状態を検査するための検査
部である。
前記端子保持板2は、アクリル樹脂、フエノー
ル樹脂、エポキシ樹脂等の絶縁性材料より形成さ
れ、その表面には検査すべきプリント基板Bの基
本格子のピツチdに対応する間隔、例えば2.54mm
で端子保持孔21が縦横に並んで穿設され、この
端子保持孔21の各々にはリベツト状の検査用端
子1がその頭部を露出させた状態で挿入固定され
ている。また、端子保持板2の4隅には位置決め
用ピン22が設けられている。
前記中間電極体4は、スルーホールプリント基
板よりなり、そのスルーホール41〜45の上
側、すなわち検査すべきプリント基板Bが位置す
る側の表面電極部E1〜E5は、前記プリント基板
Bの被検査導電部をなすスルーホールB1〜B5
に対応する位置にそれぞれ設けられ、一方中間電
極体4のスルーホール41〜45の下側、すなわ
ち検査用端子1が位置する側の表面電極部E1′〜
E5′は、前記検査用端子1の各々に対応する位置
にそれそれ設けられている。図中、46は端子保
持板2の位置決め用ピンが挿入される位置決め孔
であり、47は第1の弾性体およびプリント基板
Bを固定するための位置決め用ピンである。
中間電極体4を構成するスルーホールの表面電
極部の形状、配置等については必要に応じて修正
が加えられる。例えば、プリント基板Bの基本格
子より変位して配置されたスルーホールB4を例
にとつて説明する。このスルーホールB4はスル
ーホールB3に近接しているので、これら両者の
各々に厳密に対応する位置に、中間電極体4の表
面電極部E3およびE4を規定どおりの形状で形
成したとすると、これら表面電極部E3およびE
4の相互間で短絡を生ずるおそれがある場合に
は、例えば表面電極部E4を縮小してこれと隣接
する表面電極部E3との間を離間させることによ
つて、表面電極部E3およびE4の相互の絶縁性
を確保する必要があり、またスルーホール44の
下面の表面電極部E4′は検査用端子1に対応し
て位置するようその端部を延長して形成し、それ
とともに隣接する表面電極部E3′を縮小する必
要がある。
このように、中間電極体4のスルーホールの導
電性あるいはスルーホール相互間の絶縁性を確実
に得るために、必要に応じて、スルーホールの表
面電極部の形状、配置を変えたり、あるいは図示
はしないが表面電極部の相互間に樹脂などの絶縁
性物質を充填して絶縁部を形成するなどの修正を
行なう。
前記第1の弾性体3ならびに第2の弾性体5
は、当該弾性体の厚み方向にのみ導電機能を有す
る弾性材料、例えばその厚み方向に圧力が加えら
れた部分が導電状態となる感圧導電性ゴム、ある
いはカーボンフアイバー等の線状体よりなる導電
路を厚み方向に多数配列したもの等によつて構成
される。図中31および51はそれぞれ位置決め
用ピン47および22が挿入される位置決め用孔
である。
〔実施例の作用効果〕
以上の構成の装置においては、検査すべきプリ
ント基板B、第1の弾性体3、中間電極体4、第
2の弾性体5および端子保持板2の積重体Lを基
台6に対して押圧板7によつて圧接して検査部8
を作動させることにより、プリント基板Bの被検
査導電部であるスルーホールの導通状態あるいは
スルーホール相互の絶縁状態を検査することがで
きる。
そしてかかる装置によれば、中間電極体4とプ
リント基板Bとの間に第1の弾性体3を配置し、
さらに中間電極体4と端子保持板2との間に第2
の弾性体5を介在させているので、プリント基板
Bと中間電極体4におけるスルーホール相互の接
触、ならびに中間電極体4のスルーホールと検査
用端子1との接触が点接触でなく面接触の状態と
なり、したがつて小さい圧接力によつて十分な電
気的接続を達成することができ、信頼性の高い検
査が可能となる。さらに上述のように、プリント
基板Bならびに中間電極体4におけるスルーホー
ル、検査用端子1などの電極はそれぞれ弾性体を
介して接触していることから、接触による損傷を
生じにくく、したがつて多数回にわたる検査にお
いても高い信頼性を維持することができる。
さらに、中間電極体4はスルーホールプリント
基板によつて構成されているため、当該中間電極
体4を小型かつ軽量なものとすることができる。
そして、中間電極体4におけるスルーホールの上
側の表面電極部は、検査すべきプリント基板Bの
スルーホールの位置と対応する配置を有するの
で、当該プリント基板Bの形成に用いたと同じパ
ターンマスクを使用することによつて形成するこ
とができ、一方、スルーホールの下側の表面電極
部は、プリント基板の基本格子に対応する配置を
有することから、同一ピツチの基本格子を有する
プリント基板については同一のパターンマスクを
用いることによつて形成することができ、したが
つてプリント基板ごとに新らたなパターンマスク
を作成する必要がないことから製造が容易であ
る。しかも、上述のパターンマスクを若干修正す
ることだけで基本格子上に配置されていない被検
査導電部を含むプリント基板の検査に適用するこ
とのできる中間電極体4を容易に形成することが
できて製造上有利であるうえ、かかる中間電極体
4を用いることにより、検査装置の汎用性を高め
ることが可能となる。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、耐久性に優
れ、長期にわたつて信頼性の高い検査を実施する
ことができ、しかも製造が容易なプリント基板の
検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部を分解して示
す説明用斜視図、第2図は同じく本発明の一実施
例の要部を拡大して示す説明用断面図である。 B……プリント基板、B1〜B5……スルーホ
ール、1……検査用端子、2……端子保持板、3
……第1の弾性体、4……中間電極体、41〜4
5……スルーホール、E1〜E5,E1′〜E5
……表面電極部、5……第2の弾性体、6……基
台、7……押圧板、L……積重体、8……検査
部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基本格子から変位した被検査導電部を含んで
    なるプリント基板の回路形成面に対し、 (イ) 厚み方向のみに導電機能を有する第1の弾性
    体と、 (ロ) 一面において前記プリント基板の各被検査導
    電部に対応して位置する表面電極部、およびこ
    の表面電極部と電気的に接続されかつ他面にお
    いて前記プリント基板の基本格子に対応して位
    置する表面電極部を有する中間電極体と、 (ハ) 厚み方向のみに導電機能を有する第2の弾性
    体と、 (ニ) 前記プリント基板の基本格子に対応して位置
    する検出用端子を有する端子保持板とを、 (イ)〜(ニ)の順に積重してなることを特徴とするプ
    リント基板の検査装置。 2 中間電極体がスルーホールプリント基板より
    構成される特許請求の範囲第1項記載のプリント
    基板の検査装置。
JP59183683A 1984-09-04 1984-09-04 プリント基板の検査装置 Granted JPS6162877A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59183683A JPS6162877A (ja) 1984-09-04 1984-09-04 プリント基板の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59183683A JPS6162877A (ja) 1984-09-04 1984-09-04 プリント基板の検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6162877A JPS6162877A (ja) 1986-03-31
JPH0458583B2 true JPH0458583B2 (ja) 1992-09-17

Family

ID=16140096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59183683A Granted JPS6162877A (ja) 1984-09-04 1984-09-04 プリント基板の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6162877A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2994259B2 (ja) 1996-03-28 1999-12-27 オー・エイチ・ティー株式会社 基板検査方法および基板検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6162877A (ja) 1986-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5892245A (en) Ball grid array package emulator
US5399982A (en) Printed circuit board testing device with foil adapter
EP0667962B1 (en) Printed circuit board testing device with foil adapter
JP3092191B2 (ja) 回路基板検査装置
US6281692B1 (en) Interposer for maintaining temporary contact between a substrate and a test bed
KR0155573B1 (ko) 반도체 디바이스의 검사장치
JPH0458583B2 (ja)
JPH0619403B2 (ja) 導電性パタ−ンに対する電気的接続装置
JP2559242B2 (ja) プローブカード
JPH052867Y2 (ja)
JPH06784Y2 (ja) 電子部品の検査用治具
JPS6314307B2 (ja)
JP2600745Y2 (ja) 集積回路の検査装置用治具
JP2000003741A (ja) コネクターおよびそれを用いた回路基板検査装置
JP3248195B2 (ja) 回路基板の検査装置
JPS58155374A (ja) プリント基板のテスト装置
JPH045022Y2 (ja)
JPH065263B2 (ja) プリント回路基板検査装置の変換治具
JPH022957A (ja) プリント配線試験用プローズ装置
JPH06104035A (ja) 電気接続用コネクタ
JP2003066101A (ja) 接点シートおよびそれを用いた測定用治具
JPH0159756B2 (ja)
JP2759451B2 (ja) プリント基板検査治具
JPH05215814A (ja) 半導体デバイスの検査装置
JP2948802B2 (ja) 電気接続用部材

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term