JPS593269A - プリント基板の検査方法及び装置 - Google Patents
プリント基板の検査方法及び装置Info
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- JPS593269A JPS593269A JP57111496A JP11149682A JPS593269A JP S593269 A JPS593269 A JP S593269A JP 57111496 A JP57111496 A JP 57111496A JP 11149682 A JP11149682 A JP 11149682A JP S593269 A JPS593269 A JP S593269A
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- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント基板の検査方法及び装置に関するもの
である。
である。
一般にプリント基板に２（・では、これにトランジスタ
、夛゛イオード、抵抗等の機能素子が組込まれる前圧、
所期のパターンのリードが形成されているか否かン検査
することか必要である。この検査は、プリント基板に形
成された、機能素子が差込まれる孔即ちスルーホールの
まわりに形成された導電部（以下「スルーホール部」と
いう。）の相互間の導通状態の有無を調べることによっ
て行われる。
、夛゛イオード、抵抗等の機能素子が組込まれる前圧、
所期のパターンのリードが形成されているか否かン検査
することか必要である。この検査は、プリント基板に形
成された、機能素子が差込まれる孔即ちスルーホールの
まわりに形成された導電部（以下「スルーホール部」と
いう。）の相互間の導通状態の有無を調べることによっ
て行われる。
従来に８けるこの検査方法の一例に？いては、例えば、
第１図忙示すように、絶縁性の端子保持板１における、
検査子べさプリント基板４のスルーホール部５の配列パ
ターンに対応し定位置において、例えば金メッキしたピ
ンより成る検査用端（３） 子２を、各々進退自在に挿通して設けると共にその先端
部２１が端子保持板ｌの表面より相当の距離突出された
状態となるよう、検査用端子２の各々にスプリング１０
０Ｙ設けて成る検査装置ｊＪｔｗ用い、各検査用端子２
をコンピユータン有する測定器６に接続し、前記端子保
持板１ンプリント基板４に重ねて抑圧することによって
各検査用端子２乞スルーホール都５に当接せしめて電気
的に接続させ、この状態でスルーホール部５の相互間の
導通状態の有無を調べるようにしている。ここに上述の
検査装置において検査用端子２を可動型とし且つスプリ
ング１００を設けた理由は、反りがあって及Ｗまたは表
面に凹凸があって完全に平板状ではないプリント基板４
に対しても検査用端子２の各々を対応するスルーホール
部５に接触させるためである。
第１図忙示すように、絶縁性の端子保持板１における、
検査子べさプリント基板４のスルーホール部５の配列パ
ターンに対応し定位置において、例えば金メッキしたピ
ンより成る検査用端（３） 子２を、各々進退自在に挿通して設けると共にその先端
部２１が端子保持板ｌの表面より相当の距離突出された
状態となるよう、検査用端子２の各々にスプリング１０
０Ｙ設けて成る検査装置ｊＪｔｗ用い、各検査用端子２
をコンピユータン有する測定器６に接続し、前記端子保
持板１ンプリント基板４に重ねて抑圧することによって
各検査用端子２乞スルーホール都５に当接せしめて電気
的に接続させ、この状態でスルーホール部５の相互間の
導通状態の有無を調べるようにしている。ここに上述の
検査装置において検査用端子２を可動型とし且つスプリ
ング１００を設けた理由は、反りがあって及Ｗまたは表
面に凹凸があって完全に平板状ではないプリント基板４
に対しても検査用端子２の各々を対応するスルーホール
部５に接触させるためである。
しかしながらこのような検査装置に８いては、各検査用
端子２を可動型にし且つ各検査用端子２毎にスプリング
１００ン設ける必要がある定め、その製作に要するコス
トが大さり、シかも検査用端子２の数は通常相当数に上
ること、各検査用端子２に金メッキ欠施丁ことが実際上
必要なこと、及ヒスルーホール都５の配列パターンが異
なるプリント基板４についてはそのまま適用することか
でざな（・、いわば特定のプリント基板４に対しての専
用のものであることから当該検査装置の製造コストが非
常ＫＫいものとなる欠点がある。
端子２を可動型にし且つ各検査用端子２毎にスプリング
１００ン設ける必要がある定め、その製作に要するコス
トが大さり、シかも検査用端子２の数は通常相当数に上
ること、各検査用端子２に金メッキ欠施丁ことが実際上
必要なこと、及ヒスルーホール都５の配列パターンが異
なるプリント基板４についてはそのまま適用することか
でざな（・、いわば特定のプリント基板４に対しての専
用のものであることから当該検査装置の製造コストが非
常ＫＫいものとなる欠点がある。
また斯かる検査装置によって検査馨行うにあたっては、
検査用端子２の各々とスルーホール部５との電気的接触
を確実なものとすることか必要であるが、そのためには
検査用端子２の１個につぎ１００〜２００ ｇもの荷重
を加えなければならず、従って例えば検査用端子２の数
が１０００個であるならば全体として１００ｋｇもの大
さな荷重を必要としていた。このためスルーホール部５
が過度の押圧力を受けて損傷されるおそれが大きい欠点
がある。
検査用端子２の各々とスルーホール部５との電気的接触
を確実なものとすることか必要であるが、そのためには
検査用端子２の１個につぎ１００〜２００ ｇもの荷重
を加えなければならず、従って例えば検査用端子２の数
が１０００個であるならば全体として１００ｋｇもの大
さな荷重を必要としていた。このためスルーホール部５
が過度の押圧力を受けて損傷されるおそれが大きい欠点
がある。
一方プリント基板４のスルーホール部５は規格ｇ ｔｌ
、 ｙ、：基盤目状に位置されるよう規定されているこ
とから検査用端子２ン基盤目状に、即ちスルーホール部
５の形成される可能性のある位置に対応（５） する丁べての位置に設けたユニバーサル型と称される検
査装置もある。この検査装置はあらゆるスルーホール部
５の配列のプリント基板４に適用できるいわば汎用型の
装置という点で有利なものではあるが、プリント基板４
におけるスルーホール部５の形成されてり・ない部分に
も検査用端子２が接触することとなり、しかも先述のよ
うに１本の検査用端子２に加えられる荷重が大さく・こ
とからプリント配線部を損傷する８それが大さい欠点が
ある。
、 ｙ、：基盤目状に位置されるよう規定されているこ
とから検査用端子２ン基盤目状に、即ちスルーホール部
５の形成される可能性のある位置に対応（５） する丁べての位置に設けたユニバーサル型と称される検
査装置もある。この検査装置はあらゆるスルーホール部
５の配列のプリント基板４に適用できるいわば汎用型の
装置という点で有利なものではあるが、プリント基板４
におけるスルーホール部５の形成されてり・ない部分に
も検査用端子２が接触することとなり、しかも先述のよ
うに１本の検査用端子２に加えられる荷重が大さく・こ
とからプリント配線部を損傷する８それが大さい欠点が
ある。
本発明はこのような背景のもとになされたものであって
その目的は、極めて簡単な手段によって確実にプリント
基板の導電部との電気的接触娑得ることがでさて確実な
検査２行うことがでさるプリント基板の検査方法を提供
することにある。
その目的は、極めて簡単な手段によって確実にプリント
基板の導電部との電気的接触娑得ることがでさて確実な
検査２行うことがでさるプリント基板の検査方法を提供
することにある。
本発明の他の目的は、上述の方法を実施する上で好適に
用（・られ、構造が簡単であってコストの低いプリント
基板の検査装置ケ提供することにある。
用（・られ、構造が簡単であってコストの低いプリント
基板の検査装置ケ提供することにある。
本発明に係るプリント基板の検査方法の特徴と（６）
するところは、その厚さ方向罠圧力が加えられた部分が
導覧牡状態となる感圧導電性の弾性板の一面を検査子べ
ざプリント基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上
に位置する前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し
、以って前記検査用端子と前記プリント基板の導電部と
を電気的に接続させる工程を含む点にある。
導覧牡状態となる感圧導電性の弾性板の一面を検査子べ
ざプリント基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上
に位置する前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し
、以って前記検査用端子と前記プリント基板の導電部と
を電気的に接続させる工程を含む点にある。
本発明に係るプリント基板の検査装置の特徴とするとこ
ろは、その−面が検査子べさプリント基板に重ねられる
、その厚さ方向に圧力が加えられた部分が浜柾状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間ｖｊｗ
介して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子
保持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記
間隙内に突出する複数の検査用端子と２具えて成り、前
記複数の検査用端子は、検査子ぺざプリント基板の導電
部の配列パターンに対応して配列された検査用端子の群
を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近する
方向に相対的に押圧されるものである点にある。
ろは、その−面が検査子べさプリント基板に重ねられる
、その厚さ方向に圧力が加えられた部分が浜柾状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間ｖｊｗ
介して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子
保持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記
間隙内に突出する複数の検査用端子と２具えて成り、前
記複数の検査用端子は、検査子ぺざプリント基板の導電
部の配列パターンに対応して配列された検査用端子の群
を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近する
方向に相対的に押圧されるものである点にある。
（７）
以下図面により本発明ン説明する。
本発明方法に３いては、第２図（イ）、（ロ）に示すよ
うにその厚さ方向に圧力が加えられたとぎその部分が厚
さ方向に導電性状態となる感圧導電性の弾性板３の一面
を検査子べぎプリント基板４の一面に亘ねる一方、プリ
ント基板４の他面上にスポンジ等より成る緩衝材１８８
１ン介して受は板８を重ね、前記プリント基板４のスル
ーホール部５のうちハ）ら任意の一対のスルーホール部
ケ選び、その一方のスルーポール部上に位置する前記弾
性板３の部分？、コンピュータを含む測定器６に接続さ
れた検査用端子２の先端部２１により弾性板３の他面側
から押圧して受は板８との間で挾圧し、こねにより弾性
板３においてプリント基板４の前記一方のスルーホール
部のエツジ部とそれに対応した各検査用端子２との間の
部分を破線で示すように導電性状態として前記検査用端
子２と前記一方のスルーボール部とン電気的に接続する
と共に、同時に前記一対のスルーホール部に８ける他方
のスルーホール部上に位置する弾性板３０部分について
もこれを同様に他の検査用端子２により押圧し、これに
よって前記一方のスルーホール部と前記他方のスルーホ
ール部との間の導通状態の有無乞検査し、以ってプリン
ト基板４の検査を行う。
うにその厚さ方向に圧力が加えられたとぎその部分が厚
さ方向に導電性状態となる感圧導電性の弾性板３の一面
を検査子べぎプリント基板４の一面に亘ねる一方、プリ
ント基板４の他面上にスポンジ等より成る緩衝材１８８
１ン介して受は板８を重ね、前記プリント基板４のスル
ーホール部５のうちハ）ら任意の一対のスルーホール部
ケ選び、その一方のスルーポール部上に位置する前記弾
性板３の部分？、コンピュータを含む測定器６に接続さ
れた検査用端子２の先端部２１により弾性板３の他面側
から押圧して受は板８との間で挾圧し、こねにより弾性
板３においてプリント基板４の前記一方のスルーホール
部のエツジ部とそれに対応した各検査用端子２との間の
部分を破線で示すように導電性状態として前記検査用端
子２と前記一方のスルーボール部とン電気的に接続する
と共に、同時に前記一対のスルーホール部に８ける他方
のスルーホール部上に位置する弾性板３０部分について
もこれを同様に他の検査用端子２により押圧し、これに
よって前記一方のスルーホール部と前記他方のスルーホ
ール部との間の導通状態の有無乞検査し、以ってプリン
ト基板４の検査を行う。
本発明は以上のようにしてプリント基板４を検査するた
め、プリント基板４の光面に対接されるものが弾性板３
であるので検査用端子２が当該弾性板３の他面側から押
圧されたとぎにも当該プリント基板４には局所的に過大
な力が加えられないから、プリント基板４が損傷される
おそれが全（なくてプリント基板４はいわば保護された
状態で検査され、しかも検査用端子２に加えられる力は
弾性板３乞挾圧して変形せしめその部分が導電性となる
に十分な太ささでよ（・から非常に小さな力でよ（、ま
た検査用端子２は特別な構ａ：ヲ必要とせず弾性板３ン
挾圧するに足る剛性を具えた導電体であればよ（・ので
そのコストが非常に低い等の利益が得られる。そしてプ
リント基板４が反って（・たり及び／または表面に凹凸
があってこれの一面が平坦でない場合にも弾性板３の一
面は検査用（９） 端子２の抑圧によりプリント基板４の一面に追従してｆ
ｆｉ！’ｇれるから、丁べてのスルーホール部５につし
・てこれと検査用端子２との間の電気的な接続ケ確実な
ものとすることかでさ、従って極めて簡単な手段により
所期の検査を確実に行うことかでざる。
め、プリント基板４の光面に対接されるものが弾性板３
であるので検査用端子２が当該弾性板３の他面側から押
圧されたとぎにも当該プリント基板４には局所的に過大
な力が加えられないから、プリント基板４が損傷される
おそれが全（なくてプリント基板４はいわば保護された
状態で検査され、しかも検査用端子２に加えられる力は
弾性板３乞挾圧して変形せしめその部分が導電性となる
に十分な太ささでよ（・から非常に小さな力でよ（、ま
た検査用端子２は特別な構ａ：ヲ必要とせず弾性板３ン
挾圧するに足る剛性を具えた導電体であればよ（・ので
そのコストが非常に低い等の利益が得られる。そしてプ
リント基板４が反って（・たり及び／または表面に凹凸
があってこれの一面が平坦でない場合にも弾性板３の一
面は検査用（９） 端子２の抑圧によりプリント基板４の一面に追従してｆ
ｆｉ！’ｇれるから、丁べてのスルーホール部５につし
・てこれと検査用端子２との間の電気的な接続ケ確実な
ものとすることかでさ、従って極めて簡単な手段により
所期の検査を確実に行うことかでざる。
第３図は本発明方法を実施するために好適に用いること
のでさる本発明プリント基板の検査装置の一例を示し、
この例においては、その厚さ方向に圧力が加えられたと
ぎその部分が厚さ方向に導電性状態となる感圧導電性の
弾性板３に、当該弾性の端子保持板１を対向して設け、
この端子保持板１には、検査子べざプリント基板のスル
ーホール部の配列パターンに対応した位置において、各
々がコンピュータを含む測定器６に接続された検査用端
子２を固定して設けてその先端部２１を前記端子保持板
１０）表面より前記間隙Ｓ内に突出させ、この端子保持
板１を例えばその検査用端子２の先（１０） 端ｇ２１の頂面が前記弾性板３の他面に当接するよう配
置した状態で前記弾性板３と前記端子保持板１とを、前
記端子保持板ｌが弾性板３に向かって移動し得るよう、
それらの周縁部にｊ６Ｌ・て結合部材７により互に結合
し、以ってプリント基板の検査装置を構５５ｊ、する。
のでさる本発明プリント基板の検査装置の一例を示し、
この例においては、その厚さ方向に圧力が加えられたと
ぎその部分が厚さ方向に導電性状態となる感圧導電性の
弾性板３に、当該弾性の端子保持板１を対向して設け、
この端子保持板１には、検査子べざプリント基板のスル
ーホール部の配列パターンに対応した位置において、各
々がコンピュータを含む測定器６に接続された検査用端
子２を固定して設けてその先端部２１を前記端子保持板
１０）表面より前記間隙Ｓ内に突出させ、この端子保持
板１を例えばその検査用端子２の先（１０） 端ｇ２１の頂面が前記弾性板３の他面に当接するよう配
置した状態で前記弾性板３と前記端子保持板１とを、前
記端子保持板ｌが弾性板３に向かって移動し得るよう、
それらの周縁部にｊ６Ｌ・て結合部材７により互に結合
し、以ってプリント基板の検査装置を構５５ｊ、する。
この検査装置によればプリント基板の検査は次のように
して行われる。即ち第４図（イ）に示すように弾性板３
の一面上に検査子べさプリント基板４を重ねる一方、プ
リント基板４の他面に緩衝材層８１ぞ介して受は板８′
（Ｉ−重ね、この受は板８馨固定して−Ｊ６ｔ、・て第
４図（ロ）に示すように端子保持板ｌを抑圧機構（図示
せず）により間隙Ｓが消失するまでプリント基板４に対
して押圧し、これにより弾性板３にだいてプリント基板
４の各スルーホール部５のエツジ部とそれに対応した各
検査用端子２との間の部分を破線で示すように導電＋１
！状態としてスルーホール部５と検査用端子２との間を
弾性板３ン介して電気的に接続せしめ、この状態でスル
ーホール１ｆｌＳ５の相互間の導通状態の有無を検査す
る。
して行われる。即ち第４図（イ）に示すように弾性板３
の一面上に検査子べさプリント基板４を重ねる一方、プ
リント基板４の他面に緩衝材層８１ぞ介して受は板８′
（Ｉ−重ね、この受は板８馨固定して−Ｊ６ｔ、・て第
４図（ロ）に示すように端子保持板ｌを抑圧機構（図示
せず）により間隙Ｓが消失するまでプリント基板４に対
して押圧し、これにより弾性板３にだいてプリント基板
４の各スルーホール部５のエツジ部とそれに対応した各
検査用端子２との間の部分を破線で示すように導電＋１
！状態としてスルーホール部５と検査用端子２との間を
弾性板３ン介して電気的に接続せしめ、この状態でスル
ーホール１ｆｌＳ５の相互間の導通状態の有無を検査す
る。
（１１）
而してこのような構成によれば、プリント基板４の所望
のスルーホール部５の丁べてに対して対応する検査用端
子２７弾性板３を介して一斉に電気的に接続せしめろこ
とがでざるので所要の検査を迅速に且つ容易に達Ｈ，す
ることがでさると共に、端子保持板ＩＫｘける検査用端
子２は固定して８けばよいので可動型とすること或いは
更にスプリングを設け％Ｙｍ要がないことからその構成
が簡単で小型化すね、その結果弾性板３をも含めた全体
のコストヲ従来のものより大幅に低下せしめることがで
きる。更に実施例のように弾性板３と端子保持板ｌとを
一体に結合して左げば操作上便利である。
のスルーホール部５の丁べてに対して対応する検査用端
子２７弾性板３を介して一斉に電気的に接続せしめろこ
とがでざるので所要の検査を迅速に且つ容易に達Ｈ，す
ることがでさると共に、端子保持板ＩＫｘける検査用端
子２は固定して８けばよいので可動型とすること或いは
更にスプリングを設け％Ｙｍ要がないことからその構成
が簡単で小型化すね、その結果弾性板３をも含めた全体
のコストヲ従来のものより大幅に低下せしめることがで
きる。更に実施例のように弾性板３と端子保持板ｌとを
一体に結合して左げば操作上便利である。
また上述の例におけるように端子保持板ｌの押圧により
端子保持板１の表面が弾性板３の表面に密接’ｉ！′ｉ
ｌるようにしておくことにより、端子保持板１０弄而に
よりプリント基板４のスルーホール都５以外の部分が押
圧されるため、プリント基板４の反りが矯正された状態
で検査ン行うことかでさ、従って弾性板３のいずれの個
所に８いても検査用端子２により受ける挟圧力が均一な
ものどなるので信頼性の高い結果を得ることかでざる。
端子保持板１の表面が弾性板３の表面に密接’ｉ！′ｉ
ｌるようにしておくことにより、端子保持板１０弄而に
よりプリント基板４のスルーホール都５以外の部分が押
圧されるため、プリント基板４の反りが矯正された状態
で検査ン行うことかでさ、従って弾性板３のいずれの個
所に８いても検査用端子２により受ける挟圧力が均一な
ものどなるので信頼性の高い結果を得ることかでざる。
本発明にだいては、プリント基板４のスルーホール部５
の形成される可能性のある位置に対応する丁べての位置
に検査用端子２を設けたユニバーザル型として検査装置
’ｉｒ構成してもよ（、このような構成の装置において
も何れのパターンのプリント基板４に対しても上記と全
く同様の効果を得ることがでさ、Ｌ７１））も検査に係
るプリント基板４の表面と検査用端子２との間には弾性
板３が介在しているため、これが保護層となるためプリ
ント配線部を損傷する２それもない。
の形成される可能性のある位置に対応する丁べての位置
に検査用端子２を設けたユニバーザル型として検査装置
’ｉｒ構成してもよ（、このような構成の装置において
も何れのパターンのプリント基板４に対しても上記と全
く同様の効果を得ることがでさ、Ｌ７１））も検査に係
るプリント基板４の表面と検査用端子２との間には弾性
板３が介在しているため、これが保護層となるためプリ
ント配線部を損傷する２それもない。
本発明に２いて用いる検査用端子２としては、その先端
部２１ン球面状に形成丁ればよいが、平坦面状に形成し
てもよい。
部２１ン球面状に形成丁ればよいが、平坦面状に形成し
てもよい。
以上に３いて本発明に用いられる弾性板３としては、例
えば導電性粒子と絶縁性高分子弾性体とを生成分とする
異方性感圧導電性ゴムシート［ＪＳＲＰＣＦＬＪ （日
本合成ゴム株式会社製）を用いることかでざる。また弾
性板３の厚さ、検査用（１３） 端子２の端子保持板１よりの突出高さの具体的−例ヶあ
げると、弾性板３の厚さが１鰭、検査用端子２の突出高
さが０．１〜０．４１ＥＴ＋＋であり、この例にお（・
ては、検査用端子２０１個当りに対し約１（ｌの荷重ン
印加して変形せしめれば導電性となる。
えば導電性粒子と絶縁性高分子弾性体とを生成分とする
異方性感圧導電性ゴムシート［ＪＳＲＰＣＦＬＪ （日
本合成ゴム株式会社製）を用いることかでざる。また弾
性板３の厚さ、検査用（１３） 端子２の端子保持板１よりの突出高さの具体的−例ヶあ
げると、弾性板３の厚さが１鰭、検査用端子２の突出高
さが０．１〜０．４１ＥＴ＋＋であり、この例にお（・
ては、検査用端子２０１個当りに対し約１（ｌの荷重ン
印加して変形せしめれば導電性となる。
尚検査用端子２を弾性板３ン介してプリント基板４に押
圧するにあたっては、検査用端子２側若しくはプリント
基板４ｆｌｌｌのどちらから抑圧を加えてもよく、そし
て押圧するための機構としては従来使用されているもの
をそのまま適用することかでざる。まＫ、具体的装置に
おいては、緩衝材層、受は板等娑弾性板、端子保持板と
一体的に開閉自在に設けることもでざる。
圧するにあたっては、検査用端子２側若しくはプリント
基板４ｆｌｌｌのどちらから抑圧を加えてもよく、そし
て押圧するための機構としては従来使用されているもの
をそのまま適用することかでざる。まＫ、具体的装置に
おいては、緩衝材層、受は板等娑弾性板、端子保持板と
一体的に開閉自在に設けることもでざる。
本発明においては、プリント基板のスルー７１ニール都
の検査に適用することに限定されるものではなく、それ
以外の導電部相互間の導通状態の検査に適用することが
できる。
の検査に適用することに限定されるものではなく、それ
以外の導電部相互間の導通状態の検査に適用することが
できる。
また本発明に３いては、検査丁べざプリント基板がその
両面に導電部を有するものである場合には、当該プリン
ト基板の両面に弾性板を配設して（１４） プリント基板を挾んだ状態として検査用端子を作用させ
るようにしてもよ（、このような検査方法によれば、当
該プリント基板の両面につ（・て所要の検査を同時に達
成することかでさ、或いは更に表面の導電部と裏面の導
１１！部との間の電気的接続状態の検査をも容易に行う
ことかでざる。
両面に導電部を有するものである場合には、当該プリン
ト基板の両面に弾性板を配設して（１４） プリント基板を挾んだ状態として検査用端子を作用させ
るようにしてもよ（、このような検査方法によれば、当
該プリント基板の両面につ（・て所要の検査を同時に達
成することかでさ、或いは更に表面の導電部と裏面の導
１１！部との間の電気的接続状態の検査をも容易に行う
ことかでざる。
以上のように本発明によれば、極めて簡単な手段によっ
て確実にプリント基板の導電部との電気的接触ン得るこ
とがでさて確実な検査を行うことがでさるプリント基板
の検査方法を提供することができると共に、そのような
方法を実施する上で好適に用いられ、構造が簡単であっ
てコストの低いプリント基板の検査装置を提供すること
かでざる。
て確実にプリント基板の導電部との電気的接触ン得るこ
とがでさて確実な検査を行うことがでさるプリント基板
の検査方法を提供することができると共に、そのような
方法を実施する上で好適に用いられ、構造が簡単であっ
てコストの低いプリント基板の検査装置を提供すること
かでざる。
第１図は従来のプリント基板の検査装置を示す縦断側面
図、第２図（イ）、（ロ）は、本発明に係るプリント基
板の検査方法を段階的に示す説明図、第３図は本発明に
係るプリント基板の検査装置を示す縦断側面図、第４図
（イ）、（ロ）は、第３図に示しに装（Ｉ５） 置によるプリント基板の検査の実施を段階的に示１゛説
明図である。 Ｉ・・・端子保持板 ２・・・検査用端子３・・・
弾性板 ４・・・プリント基板５・・・スルー
ホール都 ６・・・測定器７・・・結上部材 ８
・・・受は板８Ｉ・・・緩衝材層 第１図 第２図（イ） 第２図（ロ） 第３区
図、第２図（イ）、（ロ）は、本発明に係るプリント基
板の検査方法を段階的に示す説明図、第３図は本発明に
係るプリント基板の検査装置を示す縦断側面図、第４図
（イ）、（ロ）は、第３図に示しに装（Ｉ５） 置によるプリント基板の検査の実施を段階的に示１゛説
明図である。 Ｉ・・・端子保持板 ２・・・検査用端子３・・・
弾性板 ４・・・プリント基板５・・・スルー
ホール都 ６・・・測定器７・・・結上部材 ８
・・・受は板８Ｉ・・・緩衝材層 第１図 第２図（イ） 第２図（ロ） 第３区
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｌ）その厚さ方向に圧力が加えられた部分が導電性状態
となる感圧導電性の弾性板の一面ン検査丁べざプリント
基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上に位Ｒ−ｓ
−る前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し、以っ
て前記検査用端子と前記プリント基板の導電部とを電気
的に接続させろ工程を含むことｗ％徴とするプリント基
板の検査方法。 ２）その−面が検査子べざプリント基板に重ねられる、
その厚さ方向に圧力が加えられた部分か導電性状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間隙を介
して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子保
持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記間
隙内に突出する複数の検査用端子とを具えて成り、前記
複数の検査用端子は、検査子べさプリント基板の導電部
の配列パターンに対応して配列さ２″した検査用端子の
（２） 群を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近す
る方向に相対的に押圧されるものであることを特徴とす
るプリント基板の検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111496A JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
| US06/506,617 US4571542A (en) | 1982-06-30 | 1983-06-22 | Method and unit for inspecting printed wiring boards |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111496A JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593269A true JPS593269A (ja) | 1984-01-09 |
Family
ID=14562751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111496A Pending JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593269A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04186173A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-02 | Nisshin Koki Kk | 電子部品検査用具 |
| US6849335B2 (en) | 2000-08-09 | 2005-02-01 | Jsr Corporation | Anisotropic conductive sheet |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57111496A patent/JPS593269A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04186173A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-02 | Nisshin Koki Kk | 電子部品検査用具 |
| US6849335B2 (en) | 2000-08-09 | 2005-02-01 | Jsr Corporation | Anisotropic conductive sheet |
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