JPH0454375B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0454375B2 JPH0454375B2 JP57051992A JP5199282A JPH0454375B2 JP H0454375 B2 JPH0454375 B2 JP H0454375B2 JP 57051992 A JP57051992 A JP 57051992A JP 5199282 A JP5199282 A JP 5199282A JP H0454375 B2 JPH0454375 B2 JP H0454375B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- film
- source
- gate electrode
- resist pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
Landscapes
- Thin Film Transistor (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57051992A JPS58168278A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57051992A JPS58168278A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58168278A JPS58168278A (ja) | 1983-10-04 |
| JPH0454375B2 true JPH0454375B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1992-08-31 |
Family
ID=12902344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57051992A Granted JPS58168278A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58168278A (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6053082A (ja) * | 1983-09-02 | 1985-03-26 | Seiko Epson Corp | 薄膜トランジスタ |
| JPS60134474A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-17 | Seiko Epson Corp | Mos型アモルフアス半導体装置 |
| JPS60213062A (ja) * | 1984-04-09 | 1985-10-25 | Hosiden Electronics Co Ltd | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH0752776B2 (ja) * | 1985-01-24 | 1995-06-05 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造法 |
| JPS62205664A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH0680684B2 (ja) * | 1986-12-22 | 1994-10-12 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH0680685B2 (ja) * | 1986-12-29 | 1994-10-12 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタとその製造方法 |
| JPH0622246B2 (ja) * | 1987-07-22 | 1994-03-23 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH0611060B2 (ja) * | 1987-08-21 | 1994-02-09 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH04269837A (ja) * | 1991-02-26 | 1992-09-25 | Sharp Corp | 薄膜トランジスタの製造方法 |
| JPH0555254A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Sharp Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
| JP2653312B2 (ja) * | 1992-02-28 | 1997-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜トランジスターの製造方法 |
| JP3173854B2 (ja) | 1992-03-25 | 2001-06-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 薄膜状絶縁ゲイト型半導体装置の作製方法及び作成された半導体装置 |
| US6624450B1 (en) | 1992-03-27 | 2003-09-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
| JP3173926B2 (ja) | 1993-08-12 | 2001-06-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 薄膜状絶縁ゲイト型半導体装置の作製方法及びその半導体装置 |
| US6331717B1 (en) | 1993-08-12 | 2001-12-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. | Insulated gate semiconductor device and process for fabricating the same |
| JPH08248445A (ja) * | 1995-12-22 | 1996-09-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 絶縁ゲイト型電界効果半導体装置 |
| DE69839005T2 (de) * | 1997-10-29 | 2009-01-08 | Xerox Corp., Rochester | Verfahren zur Herstellung eines Dünnschicht-Feldeffekttransistors |
| JP2001007342A (ja) * | 1999-04-20 | 2001-01-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821864A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-08 | Seiko Epson Corp | 薄膜半導体装置の製造方法 |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57051992A patent/JPS58168278A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58168278A (ja) | 1983-10-04 |
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