JPH0268734A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH0268734A JPH0268734A JP63219712A JP21971288A JPH0268734A JP H0268734 A JPH0268734 A JP H0268734A JP 63219712 A JP63219712 A JP 63219712A JP 21971288 A JP21971288 A JP 21971288A JP H0268734 A JPH0268734 A JP H0268734A
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 65
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- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
-
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＣＤ ［ｃｏａ＋ｐａｃｔ ｄｉｓｋ］プレ
ーヤや光ビデオディスク装置等に用いられる光ピックア
ップ装置に関するものである。
ーヤや光ビデオディスク装置等に用いられる光ピックア
ップ装置に関するものである。
ｉ）光ピックアップ装置の概略
ＣＤプレーヤ等に用いる光ピックアップ装置では、回折
素子（ホログラム素子）を利用することにより光学系の
部品点数を削減する技術が従来より開発されている。
素子（ホログラム素子）を利用することにより光学系の
部品点数を削減する技術が従来より開発されている。
このような光ピックアップ装置を第１０図及び第１１図
に示す。
に示す。
第１０図に示すように、発光素子１１から発したレーザ
ビームは、まず回折素子１２を通過する。そして、この
回折素子１２００次回折光は１さらにコリメートレンズ
１３及び対物レンズ１４を介しディスク１５に集光され
る。
ビームは、まず回折素子１２を通過する。そして、この
回折素子１２００次回折光は１さらにコリメートレンズ
１３及び対物レンズ１４を介しディスク１５に集光され
る。
次に、このディスク１５からの戻り光は、対物レンズ１
４及びコリメートレンズ１３を介して再び回折素子１２
を逆方向に通過する。ここで、この回折素子１２は、ト
ラック方向に沿った分割線によってそれぞれ回折角の異
なる回折領域１２ａ・１２ｂに分割されている。このた
め、一方の回折領域１２ａにおける１次回折光は、２分
割された一方の受光素子１６ａ・１６ｂ上に集光される
。また、他方の回折領域１２ｂにおける１次回折光は、
同じ（２分割された他方の受光素子１６ｃ・１６ｄ上に
集光される。
４及びコリメートレンズ１３を介して再び回折素子１２
を逆方向に通過する。ここで、この回折素子１２は、ト
ラック方向に沿った分割線によってそれぞれ回折角の異
なる回折領域１２ａ・１２ｂに分割されている。このた
め、一方の回折領域１２ａにおける１次回折光は、２分
割された一方の受光素子１６ａ・１６ｂ上に集光される
。また、他方の回折領域１２ｂにおける１次回折光は、
同じ（２分割された他方の受光素子１６ｃ・１６ｄ上に
集光される。
そして、これらの受光素子１６ａ〜１６ｄの各出力信号
５ａ−５ｄは、第１１図に示す演算回路により、フォー
カシングエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ
及び再生情報信号ＲＦにそれぞれ変換される。即ち、フ
ォーカシングエラー信号ＦＥは、一種のナイフェツジ法
に基づき、加算回路１７・１８及び減算回路１９を介し
て出力信号Ｓ ａ −Ｓ ｄに下記の演算を施すことに
より検出される。
５ａ−５ｄは、第１１図に示す演算回路により、フォー
カシングエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ
及び再生情報信号ＲＦにそれぞれ変換される。即ち、フ
ォーカシングエラー信号ＦＥは、一種のナイフェツジ法
に基づき、加算回路１７・１８及び減算回路１９を介し
て出力信号Ｓ ａ −Ｓ ｄに下記の演算を施すことに
より検出される。
ＦＥ＝ （Ｓｂ＋５ｃ）−（Ｓａ＋Ｓｄ）また、トラッ
キングエラー信号ＴＥは、プッシュプル法に基づき、加
算回路２０・２１及び減算回路２２を介して出力信号５
ａ−３ｄに下記の演算を施すことにより検出される。
キングエラー信号ＴＥは、プッシュプル法に基づき、加
算回路２０・２１及び減算回路２２を介して出力信号５
ａ−３ｄに下記の演算を施すことにより検出される。
ＴＥ＝ （Ｓｃ＋Ｓｄ） （Ｓａ＋Ｓｂ）さらに、
再生情報信号ＲＦは、上記加算回路２０・２１及び別の
加算回路２３を介して出力信号Ｓａ −” Ｓ ｄを下
記のように全て加算することにより検出される。
再生情報信号ＲＦは、上記加算回路２０・２１及び別の
加算回路２３を介して出力信号Ｓａ −” Ｓ ｄを下
記のように全て加算することにより検出される。
ＲＦ＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋５ｄ
１１）光ピックアップ装置のチルト機構ところが、上記
光ピックアップ装置は、例えばディスク１５に反り等が
あるために光ビームがディスク面に垂直に入射しなくな
ると、このディスク面上の光スポットにコマ収差が発生
して、隣接トラックからのクロストークが生じ易くなる
。そこで、このような光ピックアップ装置は、ディスク
面の傾きに応じてチルト角度を調整することにより、デ
ィスク１５に反り等があっても光ビームが常に垂直に照
射されるようにチルト機構を設ける場合がある。
光ピックアップ装置は、例えばディスク１５に反り等が
あるために光ビームがディスク面に垂直に入射しなくな
ると、このディスク面上の光スポットにコマ収差が発生
して、隣接トラックからのクロストークが生じ易くなる
。そこで、このような光ピックアップ装置は、ディスク
面の傾きに応じてチルト角度を調整することにより、デ
ィスク１５に反り等があっても光ビームが常に垂直に照
射されるようにチルト機構を設ける場合がある。
このチルト機構によってチルト角度の調整を行う場合、
従来は、光ピックアップ装置の先端に第１２図に示すよ
うなチルトセンサ２４を設け、これによってディスク面
の傾きを検出していた。
従来は、光ピックアップ装置の先端に第１２図に示すよ
うなチルトセンサ２４を設け、これによってディスク面
の傾きを検出していた。
このチルトセンサ２４は、発光素子２５と一対の受光素
子２６ａ・２６ｂとによって構成されている。発光素子
２５は、ディスク１５に向けて光を発するように配置さ
れている。また、受光素子２６ａ・２６ｂは、ディスク
１５のラジアル方向におけるこの発光素子２５の両側に
配置されている。
子２６ａ・２６ｂとによって構成されている。発光素子
２５は、ディスク１５に向けて光を発するように配置さ
れている。また、受光素子２６ａ・２６ｂは、ディスク
１５のラジアル方向におけるこの発光素子２５の両側に
配置されている。
これにより、第１２図（ａ）に示すように、ディスク１
５に周端部はど上向きの反りがある場合には、発光素子
２５からの光がディスク面で外向きに反射するので、外
側の受光素子２６ｂの方が受光量が多くなる。また、第
１２図（ｂ）に示すように、ディスク１５に周端部はど
下向きの反りがある場合には、発光素子２５からの光が
ディスク面で内向きに反射するので、内側の受光素子２
６ａの方が受光量が多くなる。従って、これら受光素子
２６ａ・２６ｂの出力を第１３図に示す減算回路２７に
人力すれば、ディスク面の傾きに応じたチルトエラー信
号を得ることができる。
５に周端部はど上向きの反りがある場合には、発光素子
２５からの光がディスク面で外向きに反射するので、外
側の受光素子２６ｂの方が受光量が多くなる。また、第
１２図（ｂ）に示すように、ディスク１５に周端部はど
下向きの反りがある場合には、発光素子２５からの光が
ディスク面で内向きに反射するので、内側の受光素子２
６ａの方が受光量が多くなる。従って、これら受光素子
２６ａ・２６ｂの出力を第１３図に示す減算回路２７に
人力すれば、ディスク面の傾きに応じたチルトエラー信
号を得ることができる。
しかしながら、上記のように光ピックアップ装置から独
立してチルトセンサ２４を設けたのでは、製品の部品点
数が増加することになる。また、反り等のない平坦な基
準ディスクに対して減算回路２７からのチルトエラー信
号が０“となるように、光ピックアップ装置とは別個に
初期調整を行う必要があるので、製品の組み立て工数が
増加する。
立してチルトセンサ２４を設けたのでは、製品の部品点
数が増加することになる。また、反り等のない平坦な基
準ディスクに対して減算回路２７からのチルトエラー信
号が０“となるように、光ピックアップ装置とは別個に
初期調整を行う必要があるので、製品の組み立て工数が
増加する。
このように、従来の光ピックアップ装置は、チルト角度
の調整を行う場合に、独立したチルトセンサ２４を設け
なければならないので、部品点数の増加と初期調整のた
めの製品のコストアップを招来するという問題点を有し
ていた。
の調整を行う場合に、独立したチルトセンサ２４を設け
なければならないので、部品点数の増加と初期調整のた
めの製品のコストアップを招来するという問題点を有し
ていた。
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記課題を解決す
るために、発光素子から発せられた照射光を記録担体上
に集光させると共に、この記録担体で反射された戻り光
を受光素子上に集光させる光ピックアップ装置において
、発光素子と受光素子の前方に回折素子が配置され、か
つ、この回折素子上に少なくとも、発光素子からの照射
光を主ビームとこれに対してトラック方向に直交する方
向にずれた副ビームとに分離する第１回折領域と、記録
担体からの主ビームの戻り光を主受光素子に照射すると
共に副ビームの戻り光を副受光素子に照射する第２回折
領域とが形成され、この副受光素子の出力から副ビーム
のフォーカス状態を示すチルトエラー信号を検出する演
算回路が設けられたことを特徴としている。
るために、発光素子から発せられた照射光を記録担体上
に集光させると共に、この記録担体で反射された戻り光
を受光素子上に集光させる光ピックアップ装置において
、発光素子と受光素子の前方に回折素子が配置され、か
つ、この回折素子上に少なくとも、発光素子からの照射
光を主ビームとこれに対してトラック方向に直交する方
向にずれた副ビームとに分離する第１回折領域と、記録
担体からの主ビームの戻り光を主受光素子に照射すると
共に副ビームの戻り光を副受光素子に照射する第２回折
領域とが形成され、この副受光素子の出力から副ビーム
のフォーカス状態を示すチルトエラー信号を検出する演
算回路が設けられたことを特徴としている。
発光素子から発せられた照射光は、回折素子を通過する
。そして、この回折素子を通過したいずれか１つの回折
光（０次回１光を含む。以下同じ）は、主ビームとして
記録担体上に集光される。
。そして、この回折素子を通過したいずれか１つの回折
光（０次回１光を含む。以下同じ）は、主ビームとして
記録担体上に集光される。
この主ビームは、通常全ての回折領域を通過した０次回
１光によって構成される。また、この場合、通過した回
折領域によって光量差が生じるのを防ぐため、各領域で
のＯ次回折効率をできるだけ等しくなるようにする。な
お、この主ビームは、記録担体の記録情報を再生すると
共に、通常はナイフェツジ法や非点収差法等によるフォ
ーカシングエラー信号の検出にも利用される。また、こ
の主ビームは、プッシュプル法等を用いることにより、
トラッキングエラー信号の検出に利用することもできる
。
１光によって構成される。また、この場合、通過した回
折領域によって光量差が生じるのを防ぐため、各領域で
のＯ次回折効率をできるだけ等しくなるようにする。な
お、この主ビームは、記録担体の記録情報を再生すると
共に、通常はナイフェツジ法や非点収差法等によるフォ
ーカシングエラー信号の検出にも利用される。また、こ
の主ビームは、プッシュプル法等を用いることにより、
トラッキングエラー信号の検出に利用することもできる
。
また、この回折素子の第１回１令頁域を通過した回折光
のうち、前記主ビームとは異なる回折光により副ビーム
が形成され、記録担体上における主ビームの照射位置に
対してトラック方向に直交する方向にずれた位置に集光
される。主ビームをＯ次回１光とした場合、この副ビー
ムは、±１次回折光を利用するのが適当である。
のうち、前記主ビームとは異なる回折光により副ビーム
が形成され、記録担体上における主ビームの照射位置に
対してトラック方向に直交する方向にずれた位置に集光
される。主ビームをＯ次回１光とした場合、この副ビー
ムは、±１次回折光を利用するのが適当である。
なお、３スポツト法によりトラッキングエラー信号を検
出する場合には、主ビームに対してトラック方向の前後
にずれたトラッキングエラー検出用副ビームを分離する
ための第３の回折領域を回折素子に設けてもよい。
出する場合には、主ビームに対してトラック方向の前後
にずれたトラッキングエラー検出用副ビームを分離する
ための第３の回折領域を回折素子に設けてもよい。
記録担体で反射された主ビームの戻り光は、前記回折素
子の第２回折領域を通過し、その回折光が主受光素子に
照射される。また、副ビームの戻り光は、この第２回折
領域を通過して、その回折光が副受光素子に照射される
。これらの戻り光は、光軸が互いに傾いているので、第
２回折領域における同じ回折光を利用することができる
。なお、主ビームが前記のように回折素子の０次回１光
からなる場合、これらの戻り光は、０次回１光以外の回
折光を利用することになる。この際、第２回折領域にブ
レーズ特性を持たせ、例えば＋１次回折光の光強度のみ
を高めるようにすれば、１の回折光のみを利用する場合
にも十分な感度を得ることができる。
子の第２回折領域を通過し、その回折光が主受光素子に
照射される。また、副ビームの戻り光は、この第２回折
領域を通過して、その回折光が副受光素子に照射される
。これらの戻り光は、光軸が互いに傾いているので、第
２回折領域における同じ回折光を利用することができる
。なお、主ビームが前記のように回折素子の０次回１光
からなる場合、これらの戻り光は、０次回１光以外の回
折光を利用することになる。この際、第２回折領域にブ
レーズ特性を持たせ、例えば＋１次回折光の光強度のみ
を高めるようにすれば、１の回折光のみを利用する場合
にも十分な感度を得ることができる。
主受光素子は、ナイフェツジ法や非点収差法によってフ
ォーカシングエラー信号を検出する場合、２乃至４分割
された受光領域を有している。再生信号は、これら各受
光領域の出力を全て加算することにより得ることができ
る。また、フォ−カシングエラー信号は、これら各受光
領域の出力をそれぞれの方式に従って演算することによ
り得ることができる。プッシュプル方式によってトラッ
キングエラー信号を検出する場合も同様である。
ォーカシングエラー信号を検出する場合、２乃至４分割
された受光領域を有している。再生信号は、これら各受
光領域の出力を全て加算することにより得ることができ
る。また、フォ−カシングエラー信号は、これら各受光
領域の出力をそれぞれの方式に従って演算することによ
り得ることができる。プッシュプル方式によってトラッ
キングエラー信号を検出する場合も同様である。
なお、３スポツト法によってトラッキングエラー信号を
検出する場合には、第２回折領域を通過した前記トラッ
キングエラー検出用副ビームがこの主受光素子における
トラック方向の前後に配置したトラッキングエラー信号
検出用側受光素子に集光されるようにする。
検出する場合には、第２回折領域を通過した前記トラッ
キングエラー検出用副ビームがこの主受光素子における
トラック方向の前後に配置したトラッキングエラー信号
検出用側受光素子に集光されるようにする。
副受光素子は、通常主受光素子におけるトラック方向に
直交する方向の前後に配置される。そして、ナイフェツ
ジ法による場合には、第２回折領域の境界線に沿った分
割線によって受光領域が２分割されている。従って、こ
れら受光領域の出力の差をとれば、副ビームのフォーカ
ス状態を検出することができる。この副ビームのフォー
カス状態は、主ビームのフォーカスが合致している場合
には、記録担体におけるトラック方向に直交する方向の
傾きを示すことになる。
直交する方向の前後に配置される。そして、ナイフェツ
ジ法による場合には、第２回折領域の境界線に沿った分
割線によって受光領域が２分割されている。従って、こ
れら受光領域の出力の差をとれば、副ビームのフォーカ
ス状態を検出することができる。この副ビームのフォー
カス状態は、主ビームのフォーカスが合致している場合
には、記録担体におけるトラック方向に直交する方向の
傾きを示すことになる。
従って、例えば光ディスク等の場合には、反り等による
ディスク面のラジアル方向の傾きを検出することとなり
、これによってチルトエラー信号を得ることができる。
ディスク面のラジアル方向の傾きを検出することとなり
、これによってチルトエラー信号を得ることができる。
このチルトエラー信号は、チルト機構に送られ、光ピン
クアップ装置のチルト角度を調整することにより、主ビ
ームが常に記録担体に垂直に照射されるように修正が行
われる。
クアップ装置のチルト角度を調整することにより、主ビ
ームが常に記録担体に垂直に照射されるように修正が行
われる。
ここで、副ビームが、例えば前記第１回折領域における
±１次回折光を利用したときのように、主ビームの両側
の２本のビームからなる場合には、２箇所に配置された
側受光素子におけるそれぞれの受光領域の出力を交互に
加算して両者の差をとることにより、主ビームのフォー
カスがずれた場合にも記録担体の傾きを検出することが
できる。ただし、主ビームのフォーカスが常に一致して
いるものとすれば、１本の副ビームで検出を行うことも
可能であり、また、主ビームによるフォーカシングエラ
ー信号を他方の副ビームの代わりに利用することも可能
である。この場合、第１回折領域にブレーズ特性を持た
せ、副ビームに利用する回折光の光強度を高めれば、１
本の副ビームでも十分な検出感度を得ることができる。
±１次回折光を利用したときのように、主ビームの両側
の２本のビームからなる場合には、２箇所に配置された
側受光素子におけるそれぞれの受光領域の出力を交互に
加算して両者の差をとることにより、主ビームのフォー
カスがずれた場合にも記録担体の傾きを検出することが
できる。ただし、主ビームのフォーカスが常に一致して
いるものとすれば、１本の副ビームで検出を行うことも
可能であり、また、主ビームによるフォーカシングエラ
ー信号を他方の副ビームの代わりに利用することも可能
である。この場合、第１回折領域にブレーズ特性を持た
せ、副ビームに利用する回折光の光強度を高めれば、１
本の副ビームでも十分な検出感度を得ることができる。
また、このチルトエラー信号は、副ビームのフォーカス
状態によって検出を行うので、ナイフェツジ法に限らず
、他のフォーカシングエラー信号検出手段によって検出
することも可能である。この場合、主ビームの戻り光に
よるフォーカシングエラー信号の検出手段と同じ方式を
用いるのが便利であり、例えば非点収差法による場合に
は、主ビームの戻り光のために第２回折領域に付加され
たシリンドリカルレンズの特性を利用すればよい。なお
、この回折素子には、その他、戻り光や照射光の集光を
行う集光レンズの特性等を付加することも可能である。
状態によって検出を行うので、ナイフェツジ法に限らず
、他のフォーカシングエラー信号検出手段によって検出
することも可能である。この場合、主ビームの戻り光に
よるフォーカシングエラー信号の検出手段と同じ方式を
用いるのが便利であり、例えば非点収差法による場合に
は、主ビームの戻り光のために第２回折領域に付加され
たシリンドリカルレンズの特性を利用すればよい。なお
、この回折素子には、その他、戻り光や照射光の集光を
行う集光レンズの特性等を付加することも可能である。
本発明の一実施例を第１図乃至第９図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
れば、以下の通りである。
ｉ）実施例の構成
本実施例は、ＣＤプレーヤ等の光ピックアップ装置につ
いて示す。
いて示す。
第１図に示すように、光ピックアップ装置における発光
素子１の前方には、回折素子２、コリメートレンズ３及
び対物レンズ４が配置され、この発光素子１から発した
レーザ光を照射光としてディスク５上に集光させるよう
になっている。
素子１の前方には、回折素子２、コリメートレンズ３及
び対物レンズ４が配置され、この発光素子１から発した
レーザ光を照射光としてディスク５上に集光させるよう
になっている。
回折素子２は、回折領域をディスク５におけるラジアル
方向に沿って２分割され、その一方に第２回折領域２ｂ
が形成されている。また、この分割された他方側は、さ
らにディスク５におけるトラック方向に沿って２分割さ
れ、それぞれ第１回折領域２ａと第３回折領域２Ｃとが
形成されている。
方向に沿って２分割され、その一方に第２回折領域２ｂ
が形成されている。また、この分割された他方側は、さ
らにディスク５におけるトラック方向に沿って２分割さ
れ、それぞれ第１回折領域２ａと第３回折領域２Ｃとが
形成されている。
コリメートレンズ３は、回折素子２を通過した発光素子
１からの照射光を平行光線にするためのレンズである。
１からの照射光を平行光線にするためのレンズである。
また、対物レンズ４は、この照射光をディスク５上に集
光するためのレンズである。また、これらのレンズ３・
４は、照射光がディスク５で反射した戻り光を再び回折
素子２に導くようになっている。
光するためのレンズである。また、これらのレンズ３・
４は、照射光がディスク５で反射した戻り光を再び回折
素子２に導くようになっている。
発光素子１のラジアル方向に隣接した一方には、受光素
子６ａ〜６ｅが配置されている。これらの受光素子６ａ
〜６ｅは、主受光素子６ａを中心に、チルトエラー検出
側受光素子６ｂ・６Ｃをラジアル方向の内周側と外周側
に配置し、トラッキングエラー検出側受光素子６ｄ・６
ｅをトラック方向の前後に配置している。そして、・前
記戻り光が回折素子２を介してこれらの受光素子６ａ〜
６ｅ上に集光されることになる。
子６ａ〜６ｅが配置されている。これらの受光素子６ａ
〜６ｅは、主受光素子６ａを中心に、チルトエラー検出
側受光素子６ｂ・６Ｃをラジアル方向の内周側と外周側
に配置し、トラッキングエラー検出側受光素子６ｄ・６
ｅをトラック方向の前後に配置している。そして、・前
記戻り光が回折素子２を介してこれらの受光素子６ａ〜
６ｅ上に集光されることになる。
回折素子２における前記第１回折領域２ａは、第２図（
ａ）に示すように、発光素子１からの照射光Ａを０次回
１光Ａ０．と、これに対してラジアル方向の前後にずれ
た±１次回折１Ａ ＋ ｌａ ・Ａ−０とに分離する
ような回折格子が形成されている。
ａ）に示すように、発光素子１からの照射光Ａを０次回
１光Ａ０．と、これに対してラジアル方向の前後にずれ
た±１次回折１Ａ ＋ ｌａ ・Ａ−０とに分離する
ような回折格子が形成されている。
この第１回折領域２ａによって回折された±１次回折光
Ａ、１．・Ａ−１，は、ディスク５の傾きを検出するた
めのチルトエラー検出副ビームＡ ＋ ＋ １１Ａ−１
１となる。なお、この第１回折領域２ａでは、照射光Ａ
における他の回折光及び戻り光Ｂの全ての通過光は利用
されない。
Ａ、１．・Ａ−１，は、ディスク５の傾きを検出するた
めのチルトエラー検出副ビームＡ ＋ ＋ １１Ａ−１
１となる。なお、この第１回折領域２ａでは、照射光Ａ
における他の回折光及び戻り光Ｂの全ての通過光は利用
されない。
第３回折領域２Ｃは、第３図（ａ）に示すように、発光
素子１からの照射光Ａを０次回折光Ａ０゜と、これに対
して１−ラック方向の前後にずれた±１次回折光Ａ＋Ｉ
Ｃ’Ａ−＋ｃとに分離するような回折格子が形成されて
いる。この第３回折領域２Ｃによって回折された±１次
回折折光やＩｃ ’ Ａ−１ｃは、３ビーム法によっ
てトラッキングエラーを検出するためのトラッキングエ
ラー検出副ビームＡ◆Ｉ（・Ａ −、ｃとなる。なお、
この第３回折領域２Ｃでは、照射光Ａにおける他の回折
光及び戻り光Ｂの全ての通過光は利用されない。
素子１からの照射光Ａを０次回折光Ａ０゜と、これに対
して１−ラック方向の前後にずれた±１次回折光Ａ＋Ｉ
Ｃ’Ａ−＋ｃとに分離するような回折格子が形成されて
いる。この第３回折領域２Ｃによって回折された±１次
回折折光やＩｃ ’ Ａ−１ｃは、３ビーム法によっ
てトラッキングエラーを検出するためのトラッキングエ
ラー検出副ビームＡ◆Ｉ（・Ａ −、ｃとなる。なお、
この第３回折領域２Ｃでは、照射光Ａにおける他の回折
光及び戻り光Ｂの全ての通過光は利用されない。
第２回折領域２ｂは、後に説明する回折格子が形成され
、照射光Ａに対しては第３図（ａ）に示すようにＯ次回
折光Ａ０．のみが利用される。そして、上記第１回折領
域２ａの０次回折光Ａ。、と第３回折領域２ＣのＯ次回
折光Ａ。Ｃとこの第２回折領域２ｂの０次回折光Ａ。ｂ
とは、ディスク５の記録情報を再生し、かつフォーカシ
ングエラーを検出するための主ビームＡ。を構成するよ
うになっている。このため、主ビーム八〇の光強度分布
が対称となるように、各回折領域２ａ・２ｂ・２ｃは、
０次回折効率ができるだけ等しくなるようにしている。
、照射光Ａに対しては第３図（ａ）に示すようにＯ次回
折光Ａ０．のみが利用される。そして、上記第１回折領
域２ａの０次回折光Ａ。、と第３回折領域２ＣのＯ次回
折光Ａ。Ｃとこの第２回折領域２ｂの０次回折光Ａ。ｂ
とは、ディスク５の記録情報を再生し、かつフォーカシ
ングエラーを検出するための主ビームＡ。を構成するよ
うになっている。このため、主ビーム八〇の光強度分布
が対称となるように、各回折領域２ａ・２ｂ・２ｃは、
０次回折効率ができるだけ等しくなるようにしている。
この第２回折領域２ｂは、戻り光Ｂに対して＋１次回折
光が各受光素子６ａ〜６ｅ上に照射されるような回折格
子が形成されている。ここで、戻り光Ｂは、各回折領域
２ａ・２ｂ・２Ｃの０次回１光及び±１次回折光がディ
スク５上で反射したものなので、それぞれ光軸を異にす
る。このため、第２図（ｂ）に示すように、チルトエラ
ー検出副ビームＡ＋１１ ・Ａ−１３の戻り光Ｂ＋３．
・Ｂは、それぞれチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６
ｃ上に照射されることになる。また、第３図（ｂ）に示
すように、トラッキングエラー検出副ビームＡ＋Ｉｃ’
Ａ−Ｉｃの戻り光Ｂ＋ｌｃ’Ｂ−ＩＣは、それぞれトラ
ッキングエラー検出側受光素子６ｄ・６ｅ上に照射され
ることになる。さらに、第２図（ｂ）及び第３図（ｂ）
に示すように、主ビームＡ０の戻り光Ｂ０は、主受光素
子６ａ上に照射されるようになっている。なお、この第
２回折領域２ｂでは、戻り光Ｂにおける０次回１光及び
他の回折光は利用されない。
光が各受光素子６ａ〜６ｅ上に照射されるような回折格
子が形成されている。ここで、戻り光Ｂは、各回折領域
２ａ・２ｂ・２Ｃの０次回１光及び±１次回折光がディ
スク５上で反射したものなので、それぞれ光軸を異にす
る。このため、第２図（ｂ）に示すように、チルトエラ
ー検出副ビームＡ＋１１ ・Ａ−１３の戻り光Ｂ＋３．
・Ｂは、それぞれチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６
ｃ上に照射されることになる。また、第３図（ｂ）に示
すように、トラッキングエラー検出副ビームＡ＋Ｉｃ’
Ａ−Ｉｃの戻り光Ｂ＋ｌｃ’Ｂ−ＩＣは、それぞれトラ
ッキングエラー検出側受光素子６ｄ・６ｅ上に照射され
ることになる。さらに、第２図（ｂ）及び第３図（ｂ）
に示すように、主ビームＡ０の戻り光Ｂ０は、主受光素
子６ａ上に照射されるようになっている。なお、この第
２回折領域２ｂでは、戻り光Ｂにおける０次回１光及び
他の回折光は利用されない。
上記主受光素子６ａは、第４図に示すように、受光領域
をラジアル方向に沿って２分割され、この分割線の中央
に第２回折領域２ｂによって回折された主ビーム八〇の
戻り光Ｂ。が集光するようになっている。そして、この
第２回折領域２ｂは、戻り光Ｂ０の光束をラジアル方向
に沿って分割するので、一種のナイフェツジ法に基づき
両受光領域からの出力信号の差をとれば、フォーカシン
グエラー信号ＦＥを検出することができる。また、両受
光領域の出力信号を加算すると、再生情報信号ＲＦを得
ることができる。
をラジアル方向に沿って２分割され、この分割線の中央
に第２回折領域２ｂによって回折された主ビーム八〇の
戻り光Ｂ。が集光するようになっている。そして、この
第２回折領域２ｂは、戻り光Ｂ０の光束をラジアル方向
に沿って分割するので、一種のナイフェツジ法に基づき
両受光領域からの出力信号の差をとれば、フォーカシン
グエラー信号ＦＥを検出することができる。また、両受
光領域の出力信号を加算すると、再生情報信号ＲＦを得
ることができる。
また、チルトエラー検出側受光素子６ｂ・６ｃも、主受
光素子６ａと同様に、それぞれ受光領域をラジアル方向
に沿って２分割され、この分割線の中央に第２回折領域
２ｂによって回折されたチルトエラー検出副ビームＡや
１．・Ａ −１Ｂの戻り光Ｂ ０１１１ ・Ｂ−１１
が集光するようになっている。このため、各チルトエラ
ー検出側受光素子６ｂ・６Ｃにおける両受光領域の出力
信号の差をとれば、主受光素子６ａの場合と同様に各チ
ルトエラー検出副ビームＡ ＋ １ｍ ・Ａ−１，の
ディスク５上でのフォーカス状態をそれぞれ検出するこ
とができる。
光素子６ａと同様に、それぞれ受光領域をラジアル方向
に沿って２分割され、この分割線の中央に第２回折領域
２ｂによって回折されたチルトエラー検出副ビームＡや
１．・Ａ −１Ｂの戻り光Ｂ ０１１１ ・Ｂ−１１
が集光するようになっている。このため、各チルトエラ
ー検出側受光素子６ｂ・６Ｃにおける両受光領域の出力
信号の差をとれば、主受光素子６ａの場合と同様に各チ
ルトエラー検出副ビームＡ ＋ １ｍ ・Ａ−１，の
ディスク５上でのフォーカス状態をそれぞれ検出するこ
とができる。
そして、さらにこれらの差をとれば、チルトエラー検出
副ビームＡ。１１ ・Ａ −１＠が照射されたディス
ク５上の２点間の傾きをチルトエラー信号ＴＬＥとして
検出することができる。
副ビームＡ。１１ ・Ａ −１＠が照射されたディス
ク５上の２点間の傾きをチルトエラー信号ＴＬＥとして
検出することができる。
トラッキングエラー検出側受光素子６ｄ・６ｅは、それ
ぞれ１つの受光領域を有し、第２回折領域２ｂによって
回折されたトラッキングエラー検出副ビームＡ 、 Ｉ
Ｃ＋ Ａ−、の戻り光Ｂ ４ＩＣ’ Ｂ−ｌｃが集光さ
れるようになっている。このトラッキングエラー検出副
ビームＡ＋ｌｅ’Ａ−１ｃは、主ビームＡ０に対してト
ラック方向の前後にずれる他に、それぞれラジアル方向
の内周外周側にも僅かにずれている。このため、３ビー
ム法により両トラッキングエラー検出副受光素子６ｄ・
６ｅの出力信号の差をとれば、トランキングエラー信号
ＴＲＥを検出することができる。
ぞれ１つの受光領域を有し、第２回折領域２ｂによって
回折されたトラッキングエラー検出副ビームＡ 、 Ｉ
Ｃ＋ Ａ−、の戻り光Ｂ ４ＩＣ’ Ｂ−ｌｃが集光さ
れるようになっている。このトラッキングエラー検出副
ビームＡ＋ｌｅ’Ａ−１ｃは、主ビームＡ０に対してト
ラック方向の前後にずれる他に、それぞれラジアル方向
の内周外周側にも僅かにずれている。このため、３ビー
ム法により両トラッキングエラー検出副受光素子６ｄ・
６ｅの出力信号の差をとれば、トランキングエラー信号
ＴＲＥを検出することができる。
上記各受光素子６ａ〜６ｅの出力は、第５図に示す信号
検出回路に入力されるようになっている。この信号検出
回路は、１個の加算回路７と３個の減算回路８〜１０に
よって構成されている。そして、前記再生情報信号ＲＦ
は、主受光素子６ａの両受光領域からの出力信号Ｓａ、
−３ａＬを加算回路７で加算して下記の演算を行うこと
により検出される。
検出回路に入力されるようになっている。この信号検出
回路は、１個の加算回路７と３個の減算回路８〜１０に
よって構成されている。そして、前記再生情報信号ＲＦ
は、主受光素子６ａの両受光領域からの出力信号Ｓａ、
−３ａＬを加算回路７で加算して下記の演算を行うこと
により検出される。
ＲＦ＝Ｓａ、＋ＳａＬ
また、フォーカシングエラー信号ＦＥは、この出力信号
Ｓａ、 ・Ｓａｔを減算回路８で減算して下記の演算
を行うことにより検出される。
Ｓａ、 ・Ｓａｔを減算回路８で減算して下記の演算
を行うことにより検出される。
Ｆ Ｅ ＝ Ｓ ａ ＲＳ ａ ｔ
さらに、トラッキングエラー信号ＴＲＥは、トラッキン
グエラー検出側受光素子６ｄ・６ｅからの出力信号５ｄ
−３ｅを減算回路９で減算して下記の演算を行うことに
より検出される。
グエラー検出側受光素子６ｄ・６ｅからの出力信号５ｄ
−３ｅを減算回路９で減算して下記の演算を行うことに
より検出される。
ＴＲＥ＝Ｓｄ−３ｅ
そして、チルトエラー信号ＴＬＥは、チルトエラー検出
側受光素子６ｂ・６Ｃからの出力信号ＳｂＲ・ＳｂＬ及
びＳ ｃ、−ＳｃＬを交互に電流加算した後に減算回路
１０で減算し、結果的に下記の演算を行うことにより検
出される。
側受光素子６ｂ・６Ｃからの出力信号ＳｂＲ・ＳｂＬ及
びＳ ｃ、−ＳｃＬを交互に電流加算した後に減算回路
１０で減算し、結果的に下記の演算を行うことにより検
出される。
ＴＬＥ＝（Ｓ ｂｉ−３ｂＬ）−（Ｓ ＣＲ−３Ｃｔ）
ｉｉ）実施例の作用 上記のように構成された光ピックアップ装置の作用を説
明する。
ｉｉ）実施例の作用 上記のように構成された光ピックアップ装置の作用を説
明する。
発光素子１からの照射光Ａは、まず回折素子２を通過す
る。そして、第２図（ａ）及び第３図（ａ）に示すよう
に、この回折素子２の全ての回折領域２ａ・２ｂ・２Ｃ
を通過した０次回先光Ａ。っ・ＡＩ）、、・ＡＩ、ｃは
、主ビームＡ０としてディスク５上に集光される。また
、第２図（ａ）に示すように、回折素子２の第１回折領
域２ａによる±１次回折先人＋１．・Ａ −ＩＢは、２
方向のチルトエラー検出副ビームＡ、１．・Ａ−＋１と
して、ディスク５上の主ビームＡ０におけるラジアル方
向の前後にずれた位置に集光される。さらに、第３図（
ａ）に示すように、回折素子２の第３回折領域２ｃによ
る±１次回折折光＋Ｉｃ’Ａ−１ｃは、２方向のトラッ
キングエラー検出副ビームＡＢｃ’Ａ−＋ｃとして、デ
ィスク５上の主ビームＡ０におけるトラック方向の前後
にずれた位置に集光される。この結果、第６図に示すよ
うに、主ビーム八〇は、ディスク５の所定のトラック５
ａ上の中央に集光されることになる。また、チルトエラ
ー検出副ビームＡや１．・Ａ−０は、この主ビームＡ０
に対してラジアル方向の内周側と外周側とにずれた位置
に集光されることになる。さらに、トラッキングエラー
検出副ビームＡ＋Ｉｅ’Ａ−１（は、この主ビーム八〇
に対してトラック方向の前後にずれ、かつ僅かに外周側
と内周側とにずれた位置に集光されることになる。
る。そして、第２図（ａ）及び第３図（ａ）に示すよう
に、この回折素子２の全ての回折領域２ａ・２ｂ・２Ｃ
を通過した０次回先光Ａ。っ・ＡＩ）、、・ＡＩ、ｃは
、主ビームＡ０としてディスク５上に集光される。また
、第２図（ａ）に示すように、回折素子２の第１回折領
域２ａによる±１次回折先人＋１．・Ａ −ＩＢは、２
方向のチルトエラー検出副ビームＡ、１．・Ａ−＋１と
して、ディスク５上の主ビームＡ０におけるラジアル方
向の前後にずれた位置に集光される。さらに、第３図（
ａ）に示すように、回折素子２の第３回折領域２ｃによ
る±１次回折折光＋Ｉｃ’Ａ−１ｃは、２方向のトラッ
キングエラー検出副ビームＡＢｃ’Ａ−＋ｃとして、デ
ィスク５上の主ビームＡ０におけるトラック方向の前後
にずれた位置に集光される。この結果、第６図に示すよ
うに、主ビーム八〇は、ディスク５の所定のトラック５
ａ上の中央に集光されることになる。また、チルトエラ
ー検出副ビームＡや１．・Ａ−０は、この主ビームＡ０
に対してラジアル方向の内周側と外周側とにずれた位置
に集光されることになる。さらに、トラッキングエラー
検出副ビームＡ＋Ｉｅ’Ａ−１（は、この主ビーム八〇
に対してトラック方向の前後にずれ、かつ僅かに外周側
と内周側とにずれた位置に集光されることになる。
次に、このディスク５上で反射された各戻り光Ｂは、第
２図（ｂ）及び第３図（ｂ）に示すように、回折素子２
の第２回折領域２ｂによって回折され、その±１次回折
光がそれぞれ各受光素子６ａ〜６ｅ上に集光される。
２図（ｂ）及び第３図（ｂ）に示すように、回折素子２
の第２回折領域２ｂによって回折され、その±１次回折
光がそれぞれ各受光素子６ａ〜６ｅ上に集光される。
そして、主ビーム八〇の戻り光Ｂ０が集光された主受光
素子６ａの出力信号Ｓａ、−３ａＬは、信号検出回路に
おける加算回路７によって加算されて再生情報信号ＲＦ
として出力される。また、これらの出力信号Ｓａえ ・
ＳａＬは、減算回路８によって減算されてフォーカシン
グエラー信号ＦＥとして出力される。トラッキングエラ
ー検出副ビームＡ＋ｌｅ’Ａ−＋ｃの戻り光Ｂ ＋ｌｃ
’ Ｂ−１ｃが集光されたトラッキングエラー検出
側受光素子６ｄ・６ｅの出力信号５ｄ−３ｅは、減算回
路９によって減算されてトラッキングエラー信号ＴＲＥ
として出力される。チルトエラー検出副ビームＡ。１．
・Ａ −１＠の戻り光Ｂ ＋ ｌ ａ ・Ｂ −１ｍ
が集光されたチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃの
出力信号Ｓ ｂｉ −Ｓ ｂｔ −Ｓ ＣＲ−Ｓ
ＣＬは、電流加算された後に減算回路１０で減算されて
チルトエラー信号ＴＬＥとして出力される。
素子６ａの出力信号Ｓａ、−３ａＬは、信号検出回路に
おける加算回路７によって加算されて再生情報信号ＲＦ
として出力される。また、これらの出力信号Ｓａえ ・
ＳａＬは、減算回路８によって減算されてフォーカシン
グエラー信号ＦＥとして出力される。トラッキングエラ
ー検出副ビームＡ＋ｌｅ’Ａ−＋ｃの戻り光Ｂ ＋ｌｃ
’ Ｂ−１ｃが集光されたトラッキングエラー検出
側受光素子６ｄ・６ｅの出力信号５ｄ−３ｅは、減算回
路９によって減算されてトラッキングエラー信号ＴＲＥ
として出力される。チルトエラー検出副ビームＡ。１．
・Ａ −１＠の戻り光Ｂ ＋ ｌ ａ ・Ｂ −１ｍ
が集光されたチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃの
出力信号Ｓ ｂｉ −Ｓ ｂｔ −Ｓ ＣＲ−Ｓ
ＣＬは、電流加算された後に減算回路１０で減算されて
チルトエラー信号ＴＬＥとして出力される。
このチルトエラー検出副ビームＡ ＋＋ｓ ’ Ａ−
Ｉｍによるチルトエラー信号ＴＬＥの検出の様子を第７
図及び第８図の記載に基づいて説明する。
Ｉｍによるチルトエラー信号ＴＬＥの検出の様子を第７
図及び第８図の記載に基づいて説明する。
第７図（ａ）に示すように、ディスク５が平坦な場合に
は、フォーカシングエラー信号ＦＥに基づくフォーカシ
ングサーボにより主ビームＡ０のフォーカスが合致して
いる状態で、チルトエラー検出副ビームＡ。３．・Ａ
−１，もそれぞれラジアル方向の外周側と内周側とにず
れた位置にフォーカスが合致する。従って、各チルトエ
ラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃは、共にフォーカスが合
致した状態を検出するので、これらの差によるチルトエ
ラー信号ＴＬＥは“０°”となる。そして、この場合に
は、光ピックアップ装置のチルト角度は調整されない。
は、フォーカシングエラー信号ＦＥに基づくフォーカシ
ングサーボにより主ビームＡ０のフォーカスが合致して
いる状態で、チルトエラー検出副ビームＡ。３．・Ａ
−１，もそれぞれラジアル方向の外周側と内周側とにず
れた位置にフォーカスが合致する。従って、各チルトエ
ラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃは、共にフォーカスが合
致した状態を検出するので、これらの差によるチルトエ
ラー信号ＴＬＥは“０°”となる。そして、この場合に
は、光ピックアップ装置のチルト角度は調整されない。
ところが、第７図（ｂ）に示すように、ディスク５が外
周側はど上方に傾斜している場合には、主ビームＡ０の
フォーカスが合致していても、チルトエラー検出副ビー
ムＡ ０１ ｍ ・Ａ−１１がデフォーカスの状態と
なる。即ち、第８図に詳細に示すように、チルトエラー
検出副ビームＡ ＋ １ｍがディスク５の後方で焦点を
結び、チルトエラー検出副ビームＡ −１＠がディスク
５の手前側で焦点を結ぶことになる。従って、各チルト
エラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃは、それぞれ逆方向の
フォーカシングエラーを検出するので、これらの差によ
るチルトエラー信号ＴＬＥは、ディスク５の傾き方向に
応じた極性を有し、かつその傾きの程度に比例する値を
有することになる。そして、この場合には、図示しない
チルト機構により光ピックアップ装置のチルト角度を調
整して照射光Ａがディスク５に垂直に照射するように制
御する。
周側はど上方に傾斜している場合には、主ビームＡ０の
フォーカスが合致していても、チルトエラー検出副ビー
ムＡ ０１ ｍ ・Ａ−１１がデフォーカスの状態と
なる。即ち、第８図に詳細に示すように、チルトエラー
検出副ビームＡ ＋ １ｍがディスク５の後方で焦点を
結び、チルトエラー検出副ビームＡ −１＠がディスク
５の手前側で焦点を結ぶことになる。従って、各チルト
エラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃは、それぞれ逆方向の
フォーカシングエラーを検出するので、これらの差によ
るチルトエラー信号ＴＬＥは、ディスク５の傾き方向に
応じた極性を有し、かつその傾きの程度に比例する値を
有することになる。そして、この場合には、図示しない
チルト機構により光ピックアップ装置のチルト角度を調
整して照射光Ａがディスク５に垂直に照射するように制
御する。
なお、本実施例では、回折領域を３分割した回折素子２
を用いたが、少な（ともチルトエラー検出副ビームを分
離するための回折領域と、このチルトエラー検出副ビー
ムを所定のチルトエラー検出側受光素子に集光させるた
めの回折領域とを含むものであれば、どのように分割さ
れた回折素子２であってもよい。第９図に、回折領域を
６分割した回折素子２の他の構成を示す。ここでは、チ
ルトエラー検出副ビームを分離する第１回折領域２ａと
トランキングエラー検出副ビームを分離する第３回折領
域２ｃとの間に、主ビームの戻り光を再生情報信号を検
出するための受光素子６ｆ上に集光させるための第４回
折領域２ｄが設けられている。また、第２回折領域２ｂ
は、それぞれ主ビームとチノにトエラー検出副ビームと
トラッキングエラー検出副ビームの戻り光を各受光素子
６ａ〜６ｅに集光させるための３つの回折領域２ｂ。
を用いたが、少な（ともチルトエラー検出副ビームを分
離するための回折領域と、このチルトエラー検出副ビー
ムを所定のチルトエラー検出側受光素子に集光させるた
めの回折領域とを含むものであれば、どのように分割さ
れた回折素子２であってもよい。第９図に、回折領域を
６分割した回折素子２の他の構成を示す。ここでは、チ
ルトエラー検出副ビームを分離する第１回折領域２ａと
トランキングエラー検出副ビームを分離する第３回折領
域２ｃとの間に、主ビームの戻り光を再生情報信号を検
出するための受光素子６ｆ上に集光させるための第４回
折領域２ｄが設けられている。また、第２回折領域２ｂ
は、それぞれ主ビームとチノにトエラー検出副ビームと
トラッキングエラー検出副ビームの戻り光を各受光素子
６ａ〜６ｅに集光させるための３つの回折領域２ｂ。
・２ｂｚ ・２ｂ３に分割されている。
また、本実施例では、検出感度を高めるために、２本の
チルトエラー検出副ビームＡや、１ ・Ａ −Ｉ＠を用
いて２箇所のチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃに
よりこれを検出するようにしている。
チルトエラー検出副ビームＡや、１ ・Ａ −Ｉ＠を用
いて２箇所のチルトエラー検出側受光素子６ｂ・６Ｃに
よりこれを検出するようにしている。
しかし、ディスク５上での主ビームの照射位置との距離
が十分にとれるならば、いずれか一方のチルトエラー検
出副ビームＡ、３．又はＡ−１１１とチルトエラー検出
側受光素子６ｂ又は６Ｃのみによってチルトエラー信号
ＴＬＥの検出を行うことも可能である。
が十分にとれるならば、いずれか一方のチルトエラー検
出副ビームＡ、３．又はＡ−１１１とチルトエラー検出
側受光素子６ｂ又は６Ｃのみによってチルトエラー信号
ＴＬＥの検出を行うことも可能である。
さらに、本実施例では、２本のトラッキングエラー検出
副ビームＡ ＋ｌｃ ’ Ａ−１（を用いた３ビーム
法によりトラッキングエラー信号ＴＲＥを検出している
。しかし、本発明では、このトラッキングエラー信号Ｔ
ＲＥの検出方法は任意であり、主ビームＡ０を利用した
プッシュプル法によることも可能である。
副ビームＡ ＋ｌｃ ’ Ａ−１（を用いた３ビーム
法によりトラッキングエラー信号ＴＲＥを検出している
。しかし、本発明では、このトラッキングエラー信号Ｔ
ＲＥの検出方法は任意であり、主ビームＡ０を利用した
プッシュプル法によることも可能である。
（発明の効果〕
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、発
光素子から発せられた照射光を記録担体上に集光させる
と共に、この記録担体で反射された戻り光を受光素子上
に集光させる光ピックアップ装置において、発光素子と
受光素子の前方に回折素子が配置され、かつ、この回折
素子上に少なくとも、発光素子からの照射光を主ビーム
とこれに対してトラック方向に直交する方向にずれた副
ビームとに分離する第１回折領域と、記録担体からの主
ビームの戻り光を主受光素子に照射すると共に副ビーム
の戻り光を副受光素子に照射する第２回折領域とが形成
され、この副受光素子の出力から副ビームのフォーカス
状態を示すチルトエラー信号を検出する演算回路が設け
られた構成をなしている。
光素子から発せられた照射光を記録担体上に集光させる
と共に、この記録担体で反射された戻り光を受光素子上
に集光させる光ピックアップ装置において、発光素子と
受光素子の前方に回折素子が配置され、かつ、この回折
素子上に少なくとも、発光素子からの照射光を主ビーム
とこれに対してトラック方向に直交する方向にずれた副
ビームとに分離する第１回折領域と、記録担体からの主
ビームの戻り光を主受光素子に照射すると共に副ビーム
の戻り光を副受光素子に照射する第２回折領域とが形成
され、この副受光素子の出力から副ビームのフォーカス
状態を示すチルトエラー信号を検出する演算回路が設け
られた構成をなしている。
これにより、光ピックアップ装置の部品点数を増加させ
ることなくチルトエラー信号の検出を行うことができる
。また、このための初期調整も、光ピックアップ装置の
本来の光学系と同時に行うことができる。
ることなくチルトエラー信号の検出を行うことができる
。また、このための初期調整も、光ピックアップ装置の
本来の光学系と同時に行うことができる。
従って、本発明に係る光ピックアップ装置は、チルトエ
ラー信号の検出のために別個のチルトセンサを設ける必
要がなくなり、部品点数の増加や初期調整による組み立
て工数の増加に伴う製品のコストアップを防止すること
ができるという効果を奏する。
ラー信号の検出のために別個のチルトセンサを設ける必
要がなくなり、部品点数の増加や初期調整による組み立
て工数の増加に伴う製品のコストアップを防止すること
ができるという効果を奏する。
第１図乃至第９図は本発明の一実施例を示すものであっ
て、第１図は光ピックアップ装置の構成を示す斜視図、
第２図（ａ）は光ピックアップ装置における発光素子か
らの照射光の光路を示す正面図、第２図（ｂ）は光ピッ
クアップ装置におけるディスクからの戻り光の光路を示
す正面図、第３図（ａ）は光ピックアップ装置における
発光素子からの照射光の光路を示す側面図、第３図（ｂ
）は光ピックアップ装置におけるディスクからの戻り光
の光路を示す側面図、第４図は回折素子と受光素子の平
面図、第５図は信号検出回路のブロック図、第６図はデ
ィスクの部分底面図、第７図（ａ）はディスクが平坦な
場合のチルトエラー検出副ビームを示す正面図、第７図
（ｂ）はディスクの周端部が上方に反っている場合のチ
ルトエラー検出副ビームを示す正面図、第８図はディス
クが傾斜している場合のチルトエラー検出副ビームを模
式的に示した正面図、第９図は回折素子の他の構成を示
す平面図である。第１０図乃至第１３図は従来例を示す
ものであって、第１０図は回折素子を利用した光ピック
アップ装置の構成を示す斜視図、第１１図は信号検出回
路のブロック図、第１２図はチルトセンサを示すもので
あり、同図（ａ）はディスクの周端部が上方に反ってい
る場合の要部正面図、同図（ｂ）はディスクの周端部が
下方に反っている場合の要部正面図、第１３図はチルト
エラー信号の検出回路のブロック図である。 １は発光素子、２は回折素子、２ａは第１回折領域、２
ｂは第２回折領域、５はディスク（記録担体）、６ｂ・
６ｃはチルトエラー検出側受光素子（側受光素子）、１
０は減算回路（演算回路）、Ａは照射光、Ａｏは主ビー
ム、Ａや、、・Ａ−１゜はチルトエラー検出副ビーム（
副ビーム）、Ｂは戻り光、ＴＬＥはチルトエラー信号で
ある。 第５図 特許出願人 シャープ 株式会社−２′ （６ｄ） 第 図（ａ） 第３図（ｂ） 第１０ 図 第 図
て、第１図は光ピックアップ装置の構成を示す斜視図、
第２図（ａ）は光ピックアップ装置における発光素子か
らの照射光の光路を示す正面図、第２図（ｂ）は光ピッ
クアップ装置におけるディスクからの戻り光の光路を示
す正面図、第３図（ａ）は光ピックアップ装置における
発光素子からの照射光の光路を示す側面図、第３図（ｂ
）は光ピックアップ装置におけるディスクからの戻り光
の光路を示す側面図、第４図は回折素子と受光素子の平
面図、第５図は信号検出回路のブロック図、第６図はデ
ィスクの部分底面図、第７図（ａ）はディスクが平坦な
場合のチルトエラー検出副ビームを示す正面図、第７図
（ｂ）はディスクの周端部が上方に反っている場合のチ
ルトエラー検出副ビームを示す正面図、第８図はディス
クが傾斜している場合のチルトエラー検出副ビームを模
式的に示した正面図、第９図は回折素子の他の構成を示
す平面図である。第１０図乃至第１３図は従来例を示す
ものであって、第１０図は回折素子を利用した光ピック
アップ装置の構成を示す斜視図、第１１図は信号検出回
路のブロック図、第１２図はチルトセンサを示すもので
あり、同図（ａ）はディスクの周端部が上方に反ってい
る場合の要部正面図、同図（ｂ）はディスクの周端部が
下方に反っている場合の要部正面図、第１３図はチルト
エラー信号の検出回路のブロック図である。 １は発光素子、２は回折素子、２ａは第１回折領域、２
ｂは第２回折領域、５はディスク（記録担体）、６ｂ・
６ｃはチルトエラー検出側受光素子（側受光素子）、１
０は減算回路（演算回路）、Ａは照射光、Ａｏは主ビー
ム、Ａや、、・Ａ−１゜はチルトエラー検出副ビーム（
副ビーム）、Ｂは戻り光、ＴＬＥはチルトエラー信号で
ある。 第５図 特許出願人 シャープ 株式会社−２′ （６ｄ） 第 図（ａ） 第３図（ｂ） 第１０ 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、発光素子から発せられた照射光を記録担体上に集光
させると共に、この記録担体で反射された戻り光を受光
素子上に集光させる光ピックアップ装置において、 発光素子と受光素子の前方に回折素子が配置され、かつ
、この回折素子上に少なくとも、発光素子からの照射光
を主ビームとこれに対してトラック方向に直交する方向
にずれた副ビームとに分離する第１回折領域と、記録担
体からの主ビームの戻り光を主受光素子に照射すると共
に副ビームの戻り光を副受光素子に照射する第２回折領
域とが形成され、この副受光素子の出力から副ビームの
フォーカス状態を示すチルトエラー信号を検出する演算
回路が設けられたことを特徴とする光ピックアップ装置
。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63219712A JPH0758559B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 光ピックアップ装置 |
| US07/397,189 US5065380A (en) | 1988-09-02 | 1989-08-23 | Diffraction grating for an optical pickup device |
| DE68916342T DE68916342T2 (de) | 1988-09-02 | 1989-08-23 | Optische Abtastvorrichtung. |
| EP89308520A EP0357323B1 (en) | 1988-09-02 | 1989-08-23 | Optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63219712A JPH0758559B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0268734A true JPH0268734A (ja) | 1990-03-08 |
| JPH0758559B2 JPH0758559B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=16739786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63219712A Expired - Fee Related JPH0758559B2 (ja) | 1988-09-02 | 1988-09-02 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5065380A (ja) |
| EP (1) | EP0357323B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0758559B2 (ja) |
| DE (1) | DE68916342T2 (ja) |
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| US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
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