JP2680440B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JP2680440B2 JP2680440B2 JP1239007A JP23900789A JP2680440B2 JP 2680440 B2 JP2680440 B2 JP 2680440B2 JP 1239007 A JP1239007 A JP 1239007A JP 23900789 A JP23900789 A JP 23900789A JP 2680440 B2 JP2680440 B2 JP 2680440B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクに記録又は再生を行う光ディス
ク装置に含まれる光ピックアップ装置であって、特に、
トラッキングエラーの検出に回折素子により生成される
１次回折光を利用する光ピックアップ装置に関するもの
である。
ク装置に含まれる光ピックアップ装置であって、特に、
トラッキングエラーの検出に回折素子により生成される
１次回折光を利用する光ピックアップ装置に関するもの
である。
従来、光ディスク装置におけるトラッキングエラーの
検出法としては、プッシュプル法、３ビーム法等が良く
知られている。
検出法としては、プッシュプル法、３ビーム法等が良く
知られている。
例えば、第７図（ａ）に示すようなプッシュプル法で
は、図示しない光源から出射され、プリズムミラー31を
透過した光ビームは対物レンズ32により光ディスク33上
に集光される。光ディスク33からの反射光は対物レンズ
32を経てプリズムミラー31により直角方向に反射され
る。プリズムミラー31からの光ビームは受光素子34に導
かれて、受光素子34の１対の受光部34a・34bにスポット
Ｓ′として集光される。なお、第７図（ａ）では、便宜
上受光部34a・34bを紙面と平行な向きで表示している
が、実際は、受光部34a・34bはプリズムミラー31と対向
している。
は、図示しない光源から出射され、プリズムミラー31を
透過した光ビームは対物レンズ32により光ディスク33上
に集光される。光ディスク33からの反射光は対物レンズ
32を経てプリズムミラー31により直角方向に反射され
る。プリズムミラー31からの光ビームは受光素子34に導
かれて、受光素子34の１対の受光部34a・34bにスポット
Ｓ′として集光される。なお、第７図（ａ）では、便宜
上受光部34a・34bを紙面と平行な向きで表示している
が、実際は、受光部34a・34bはプリズムミラー31と対向
している。
受光部34a・34bからはそれぞれの受光量に応じた検出
信号が出力される。トラッキングエラーが生じていない
場合、受光部34a・34bからの出力信号の大きさは等しい
が、トラッキングエラーが生じた場合、受光部34a・34b
からの出力信号の大きさが相違する。受光部34a・34bか
らの出力信号は減算器35により減算処理が施されて、そ
の差がトラッキングエラー信号として出力される。
信号が出力される。トラッキングエラーが生じていない
場合、受光部34a・34bからの出力信号の大きさは等しい
が、トラッキングエラーが生じた場合、受光部34a・34b
からの出力信号の大きさが相違する。受光部34a・34bか
らの出力信号は減算器35により減算処理が施されて、そ
の差がトラッキングエラー信号として出力される。
ところが、上記のプッシュプル法では、光ディスク33
が水平姿勢を保ち、対物レンズ32と平行な状態にある場
合、トラッキングエラーの検出は正確に行われるが、第
７図（ｂ）に示すように、光ディスク33が傾斜した場
合、光ディスク33からの反射光の光路が正規の光路から
ずれるため、受光基34上でのスポットの位置ずれが生
じ、実際にはトラッキングエラーが生じていないにもか
かわらず、トラッキングエラーを生じた旨の検出が行わ
れる。このように、トラッキングエラー信号にオフセッ
トが生じてトラッキングの調整が正確に行えなくなるた
め、正確な再生が不可能となる。なお、上記のオフセッ
トの補正を行えば、プッシュプル法によるトラッキング
調整が可能であるが、補正動作が煩雑になるものであっ
た。
が水平姿勢を保ち、対物レンズ32と平行な状態にある場
合、トラッキングエラーの検出は正確に行われるが、第
７図（ｂ）に示すように、光ディスク33が傾斜した場
合、光ディスク33からの反射光の光路が正規の光路から
ずれるため、受光基34上でのスポットの位置ずれが生
じ、実際にはトラッキングエラーが生じていないにもか
かわらず、トラッキングエラーを生じた旨の検出が行わ
れる。このように、トラッキングエラー信号にオフセッ
トが生じてトラッキングの調整が正確に行えなくなるた
め、正確な再生が不可能となる。なお、上記のオフセッ
トの補正を行えば、プッシュプル法によるトラッキング
調整が可能であるが、補正動作が煩雑になるものであっ
た。
又、プッシュプル法において、対物レンズ32を駆動す
ることによりトラッキングの調整を行う場合、対物レン
ズ32を光ディスク33の半径方向へ移動させることによっ
ても上記と同様の不具合が生じるため、正しいトラッキ
ングの制御を行うためには対物レンズ32を光ピックアッ
プ装置と一体的に駆動する等の対策を講じる必要があっ
た。以上のように、プッシュプル法を用いる場合は、種
々の条件を満たさねばならないという不便を生じてい
た。
ることによりトラッキングの調整を行う場合、対物レン
ズ32を光ディスク33の半径方向へ移動させることによっ
ても上記と同様の不具合が生じるため、正しいトラッキ
ングの制御を行うためには対物レンズ32を光ピックアッ
プ装置と一体的に駆動する等の対策を講じる必要があっ
た。以上のように、プッシュプル法を用いる場合は、種
々の条件を満たさねばならないという不便を生じてい
た。
一方、３ビーム法では、１対の光ビームをトラッキン
グエラーの検出に用いるので、上記のような問題は解消
されている。この３ビーム法では第８図に示すような凹
凸の格子面を有する回折素子36により、入射光ビームが
０次回折光及び±１次回折光に３分割された光ビームが
利用される。これらの光ビームは第９図に示すように、
０次回折光が光ディスク37の目標のトラック38にメイン
スポットS1′として集光される一方、±１次回折光がメ
インスポットの前後で光ディスク37の半径方向に僅かに
ずれた位置でサブスポットS2′・S3′として集光される
ようになっている。これにより、光ディスク37上に、例
えば、トラック38に沿うピット39（便宜上、ハッチング
で示す）として記録されている記録情報は、メインスポ
ットS1′により読み取られる一方、トラッキングエラー
信号はサブスポットS2′・S3′の光強度の差として生成
される。
グエラーの検出に用いるので、上記のような問題は解消
されている。この３ビーム法では第８図に示すような凹
凸の格子面を有する回折素子36により、入射光ビームが
０次回折光及び±１次回折光に３分割された光ビームが
利用される。これらの光ビームは第９図に示すように、
０次回折光が光ディスク37の目標のトラック38にメイン
スポットS1′として集光される一方、±１次回折光がメ
インスポットの前後で光ディスク37の半径方向に僅かに
ずれた位置でサブスポットS2′・S3′として集光される
ようになっている。これにより、光ディスク37上に、例
えば、トラック38に沿うピット39（便宜上、ハッチング
で示す）として記録されている記録情報は、メインスポ
ットS1′により読み取られる一方、トラッキングエラー
信号はサブスポットS2′・S3′の光強度の差として生成
される。
ところが、上記した従来の３ビーム法では、既にピッ
ト39が記録されたトラック38の再生を行う場合は正しく
トラッキングエラーの検出が行われるが、例えば、追記
型の光ディスク等においてピット39の形成により記録を
行う場合、記録すべきトラック38においてメインスポッ
トS1′に先行するサブスポットS2′は常にピット39の未
だ形成されていない領域に集光される一方、メインスポ
ットS1′の後方のサブスポットS3′は常にピット39の形
成済の領域に集光されることになる。そのため、トラッ
キングエラーの生じていない状態でもサブスポットS2′
・S3′の光強度に差が生じ、トラッキングエラー信号に
オフセットが発生する問題がある。従って、３ビーム法
では、記録時にトラッキングエラーの検出を行うことが
困難であるという問題点を有していた。
ト39が記録されたトラック38の再生を行う場合は正しく
トラッキングエラーの検出が行われるが、例えば、追記
型の光ディスク等においてピット39の形成により記録を
行う場合、記録すべきトラック38においてメインスポッ
トS1′に先行するサブスポットS2′は常にピット39の未
だ形成されていない領域に集光される一方、メインスポ
ットS1′の後方のサブスポットS3′は常にピット39の形
成済の領域に集光されることになる。そのため、トラッ
キングエラーの生じていない状態でもサブスポットS2′
・S3′の光強度に差が生じ、トラッキングエラー信号に
オフセットが発生する問題がある。従って、３ビーム法
では、記録時にトラッキングエラーの検出を行うことが
困難であるという問題点を有していた。
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解
決するために、光源から出射された光を光ディスク上に
導くとともに光ディスクからの反射光を受光素子に導く
光学系と、光源と光ディスクとの間の光路上に配置され
る回折素子とを備えた光ピックアップ装置において、上
記回折素子は光源からの出射光を０次回折光と１対の１
次回折光とに分離し、０次回折光が光ディスクのトラッ
ク上にメインスポットを成し、１対の１次回折光がとも
に上記トラックにおけるメインスポットより先行する位
置か又はともに上記トラックにおけるメインスポットの
後方の位置にトラッキングエラーを検出するための１対
のサブスポットを成すように、２分割された領域にそれ
ぞれ方向の異なる回折格子が形成され、かつ、上記回折
素子は、１対のサブスポット間の間隔を調節するため
に、光軸方向に移動可能に支持されていることを特徴と
するものである。
決するために、光源から出射された光を光ディスク上に
導くとともに光ディスクからの反射光を受光素子に導く
光学系と、光源と光ディスクとの間の光路上に配置され
る回折素子とを備えた光ピックアップ装置において、上
記回折素子は光源からの出射光を０次回折光と１対の１
次回折光とに分離し、０次回折光が光ディスクのトラッ
ク上にメインスポットを成し、１対の１次回折光がとも
に上記トラックにおけるメインスポットより先行する位
置か又はともに上記トラックにおけるメインスポットの
後方の位置にトラッキングエラーを検出するための１対
のサブスポットを成すように、２分割された領域にそれ
ぞれ方向の異なる回折格子が形成され、かつ、上記回折
素子は、１対のサブスポット間の間隔を調節するため
に、光軸方向に移動可能に支持されていることを特徴と
するものである。
上記の構成によれば、回折素子は、１対の１次回折光
がともに光ディスク上でメインスポットより前方にサブ
スポットを成すか、又は１対の１次回折光がともに光デ
ィスク上でメインスポットより後方にサブスポットを成
すように形成されているので、光ディスクが記録可能型
のものである際に光ディスクへの信号の記録時にピット
の形成等により信号の記録済領域と未記録領域とで光の
反射率が異なる場合でも、１対のサブスポットはともに
未記録領域に集光されるか、ともに記録済領域に集光さ
れるかのいずれかとなり、トラッキングエラーが生じて
いない限り両サブスポット間で光強度の差は生じなくな
り、安定したトラッキング制御が行えるようになる。
がともに光ディスク上でメインスポットより前方にサブ
スポットを成すか、又は１対の１次回折光がともに光デ
ィスク上でメインスポットより後方にサブスポットを成
すように形成されているので、光ディスクが記録可能型
のものである際に光ディスクへの信号の記録時にピット
の形成等により信号の記録済領域と未記録領域とで光の
反射率が異なる場合でも、１対のサブスポットはともに
未記録領域に集光されるか、ともに記録済領域に集光さ
れるかのいずれかとなり、トラッキングエラーが生じて
いない限り両サブスポット間で光強度の差は生じなくな
り、安定したトラッキング制御が行えるようになる。
ところで、上記１対のサブスポットからの反射光に基
づいて得られるトラッキングエラーを検出するための信
号のレベルはできるだけ大きくすることが好ましく、そ
のためには、上記１対のサブスポット間の位相差、つま
り、１対のサブスポット間の光ディスク半径方向及びト
ラック方向の距離が適正な値となるように調節する必要
がある。その場合、本発明によれば、上記回折素子を、
光軸方向に移動させることにより、１対のサブスポット
間の光ディスク半径方向及びトラック方向の距離を拡大
又は縮小させることができるので、回折素子を光軸方向
へ移動させることにより、トラッキングエラー信号のレ
ベルが最大になるように調節することができる。
づいて得られるトラッキングエラーを検出するための信
号のレベルはできるだけ大きくすることが好ましく、そ
のためには、上記１対のサブスポット間の位相差、つま
り、１対のサブスポット間の光ディスク半径方向及びト
ラック方向の距離が適正な値となるように調節する必要
がある。その場合、本発明によれば、上記回折素子を、
光軸方向に移動させることにより、１対のサブスポット
間の光ディスク半径方向及びトラック方向の距離を拡大
又は縮小させることができるので、回折素子を光軸方向
へ移動させることにより、トラッキングエラー信号のレ
ベルが最大になるように調節することができる。
なお、本発明の光ピックアップ装置は記録可能型の光
ディスクへの記録・再生を行う場合に特に有効である
が、それに限らず、再生専用型の光ディスクの再生等に
も使用できるものである。
ディスクへの記録・再生を行う場合に特に有効である
が、それに限らず、再生専用型の光ディスクの再生等に
も使用できるものである。
本発明の一実施例を第１図乃至第６図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。
すれば、以下の通りである。
第３図に示すように、本実施例に係る光ピックアップ
装置は、光源としての半導体レーザ11を備え、半導体レ
ーザ11から出射された光ビームは、回折素子12の格子面
に形成された後述の回折格子12c・12c…、12d・12d…に
より０次回折光及び１対の＋１次回折光に分割されるよ
うになっている。なお、回折素子12は光軸の方向に移動
可能に支持されている。
装置は、光源としての半導体レーザ11を備え、半導体レ
ーザ11から出射された光ビームは、回折素子12の格子面
に形成された後述の回折格子12c・12c…、12d・12d…に
より０次回折光及び１対の＋１次回折光に分割されるよ
うになっている。なお、回折素子12は光軸の方向に移動
可能に支持されている。
回折素子12を通過した光ビームはハーフミラー13で直
角に反射され、コリメートレンズ14を通過することによ
り平行光束となった後、対物レンズ15により光ディスク
16に集光されるものである。光ディスク16として、ここ
では、光ビームを照射してピット21（第５図参照：便宜
上ハッチングで示す）を形成することにより、１回のみ
所望の記録が可能な追記型のものが使用される。
角に反射され、コリメートレンズ14を通過することによ
り平行光束となった後、対物レンズ15により光ディスク
16に集光されるものである。光ディスク16として、ここ
では、光ビームを照射してピット21（第５図参照：便宜
上ハッチングで示す）を形成することにより、１回のみ
所望の記録が可能な追記型のものが使用される。
光ディスク16から反射した光ビームは、対物レンズ1
5、コリメートレンズ14及びハーフミラー13を通過し、
平凹レンズ17により受光素子18に集光されるようになっ
ている。この光ピックアップ装置においては、ハーフミ
ラー13、コリメートレンズ14、対物レンズ15及び平凹レ
ンズ17が光学系19を成している。
5、コリメートレンズ14及びハーフミラー13を通過し、
平凹レンズ17により受光素子18に集光されるようになっ
ている。この光ピックアップ装置においては、ハーフミ
ラー13、コリメートレンズ14、対物レンズ15及び平凹レ
ンズ17が光学系19を成している。
第１図に回折素子12及びその後方に位置する光ディス
ク16を示す。なお、回折素子12と光ディスク16との間に
はハーフミラー13が介在されていて、回折素子12と光デ
ィスク16とは同一直線上には位置していないが、第１図
では説明の便宜上回折素子12と光ディスク16とが同一直
線上に位置しているように表示している。
ク16を示す。なお、回折素子12と光ディスク16との間に
はハーフミラー13が介在されていて、回折素子12と光デ
ィスク16とは同一直線上には位置していないが、第１図
では説明の便宜上回折素子12と光ディスク16とが同一直
線上に位置しているように表示している。
回折素子12の格子面は、２つの領域12a・12bに分割さ
れている。各領域12a・12bには互いに方向の異なる直線
状の回折格子12c・12c…、12d・12d…がそれぞれ形成さ
れている。
れている。各領域12a・12bには互いに方向の異なる直線
状の回折格子12c・12c…、12d・12d…がそれぞれ形成さ
れている。
各回折格子12c・12c…、12d・12d…は、第２図に示す
ように、その断面がともにブレーズ形状を成し、入射光
ビームを、そのまま直進して回折素子12を透過する０次
回折光と、０次回折光との間に所定の角度を成す各１つ
の＋１次回折光とに分離し、かつ、＋１次回折光と逆の
方向に分離される−１次回折光を殆ど生じさせないよう
に構成されている。これにより、回折素子12全体として
は、０次回折光と１対の＋１次回折光とが形成されるこ
とになる。
ように、その断面がともにブレーズ形状を成し、入射光
ビームを、そのまま直進して回折素子12を透過する０次
回折光と、０次回折光との間に所定の角度を成す各１つ
の＋１次回折光とに分離し、かつ、＋１次回折光と逆の
方向に分離される−１次回折光を殆ど生じさせないよう
に構成されている。これにより、回折素子12全体として
は、０次回折光と１対の＋１次回折光とが形成されるこ
とになる。
なお、第１図の如く、上記の０次回折光は光ディスク
16のトラック16a上にメインスポットS1を形成し、領域1
2aにより生成される＋１次回折光は同一のトラック16a
におけるメインスポットS1よりD1だけ先行する位置にサ
ブスポットS2を形成する一方、領域12bにより生成され
る＋１次回折光はサブスポットS2より更にトラック16a
の方向にD0だけ先行する位置に今１つのサブスポットS3
を形成するようになっている。メインスポットS1とサブ
スポットS2の各中心を結ぶ直線l1は領域12aの回折格子1
2c・12c…の方向と直交し、かつ、トラック16aの中止線
Ｔに対しθ1だけ傾斜している。一方、メインスポットS
1とサブスポットS3の各中心を結ぶ直線l2は領域12bの回
折格子12d・12d…の方向と直交し、トラック16aの中心
線Ｔに対しθ2だけ傾斜している。
16のトラック16a上にメインスポットS1を形成し、領域1
2aにより生成される＋１次回折光は同一のトラック16a
におけるメインスポットS1よりD1だけ先行する位置にサ
ブスポットS2を形成する一方、領域12bにより生成され
る＋１次回折光はサブスポットS2より更にトラック16a
の方向にD0だけ先行する位置に今１つのサブスポットS3
を形成するようになっている。メインスポットS1とサブ
スポットS2の各中心を結ぶ直線l1は領域12aの回折格子1
2c・12c…の方向と直交し、かつ、トラック16aの中止線
Ｔに対しθ1だけ傾斜している。一方、メインスポットS
1とサブスポットS3の各中心を結ぶ直線l2は領域12bの回
折格子12d・12d…の方向と直交し、トラック16aの中心
線Ｔに対しθ2だけ傾斜している。
記録に際しては、光ディスク16のトラック16a上に集
光されるメインスポットS1により、トラック16aに沿っ
て所定長さのピット21が形成される。又、再生時には、
記録時より光強度を低くされたメインスポットS1によ
り、後に詳述する如く、ピット21として記録された信号
の再生が行われる。そして、後述のように、記録及び再
生時に１対のサブスポットS2・S3によりトラッキングエ
ラーの検出が行われ、それに基づいてメインスポットS1
がトラック16aの中央に位置するようにメインスポットS
1の半径位置の調整が行われるようになっている。
光されるメインスポットS1により、トラック16aに沿っ
て所定長さのピット21が形成される。又、再生時には、
記録時より光強度を低くされたメインスポットS1によ
り、後に詳述する如く、ピット21として記録された信号
の再生が行われる。そして、後述のように、記録及び再
生時に１対のサブスポットS2・S3によりトラッキングエ
ラーの検出が行われ、それに基づいてメインスポットS1
がトラック16aの中央に位置するようにメインスポットS
1の半径位置の調整が行われるようになっている。
上記受光素子18は、第４図に示すように、６つの受光
部18a〜18fを有している。受光部18a〜18dには光ディス
ク16上のメインスポットS1からの反射光が集光されたス
ポットR1が形成され、受光部18a〜18dのそれぞれで受光
した光強度に応じた検出信号Sa〜Sdが出力されるように
なっている。
部18a〜18fを有している。受光部18a〜18dには光ディス
ク16上のメインスポットS1からの反射光が集光されたス
ポットR1が形成され、受光部18a〜18dのそれぞれで受光
した光強度に応じた検出信号Sa〜Sdが出力されるように
なっている。
又、受光部18e・18fには、それぞれサブスポットS2・
S3からの反射光が集光されてなるスポットR2・R3が形成
され、それぞれの受光部18e・18fがスポットR2・R3の光
強度に応じた検出信号Se・Sfを出力するようになってい
る。なお、サブスポットS2・S3に基づくスポットR2・R3
を受光する受光部18e・18fは、受光部18a〜18dに比して
高周波領域での周波数特性を必要としないため、受光部
18e・18fは、スポットR2・R3の移動を考慮して受光面積
の比較的大きいものを使用するのが好ましい。
S3からの反射光が集光されてなるスポットR2・R3が形成
され、それぞれの受光部18e・18fがスポットR2・R3の光
強度に応じた検出信号Se・Sfを出力するようになってい
る。なお、サブスポットS2・S3に基づくスポットR2・R3
を受光する受光部18e・18fは、受光部18a〜18dに比して
高周波領域での周波数特性を必要としないため、受光部
18e・18fは、スポットR2・R3の移動を考慮して受光面積
の比較的大きいものを使用するのが好ましい。
上記各受光部18a〜18fの検出信号Sa〜Sfに基づいて、
ピット21により記録された情報を再生してなる再生信号
RFは、RF＝Sa＋Sb＋Sc＋Sdで求められる。又、フォーカ
スエラー信号FESはFES＝（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）の演算
で求められ、トラッキングエラー信号TESはTES＝Se−Sf
の演算で求められて、FES及びTESが“0"となるようにフ
ォーカス及びトラッキングの調整が行われる。
ピット21により記録された情報を再生してなる再生信号
RFは、RF＝Sa＋Sb＋Sc＋Sdで求められる。又、フォーカ
スエラー信号FESはFES＝（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）の演算
で求められ、トラッキングエラー信号TESはTES＝Se−Sf
の演算で求められて、FES及びTESが“0"となるようにフ
ォーカス及びトラッキングの調整が行われる。
上記の構成によれば、光ディスク16に信号の記録を行
う際には、第５図に示すように、トラック16a上にメイ
ンスポットS1によりその照射時間に応じた長さのピット
21が形成される。その際、サブスポットS2・S3は、メイ
ンスポットS1より先行する位置で同一のトラック16a上
の未記録領域を走査し、サブスポットS2・S3がピット21
を走査することはない。従って、記録時において、トラ
ッキングエラー信号の生成にピット21の影響が及ばなく
なるので、トラッキングエラー信号のオフセットをなく
すことができる。なお、メインスポットS1とサブスポッ
トS2・S3を光強度の比は10:1程度で、サブスポットS2・
S3の光強度は充分に微弱であるため、サブスポットS2・
S3により記録が行われることはない。
う際には、第５図に示すように、トラック16a上にメイ
ンスポットS1によりその照射時間に応じた長さのピット
21が形成される。その際、サブスポットS2・S3は、メイ
ンスポットS1より先行する位置で同一のトラック16a上
の未記録領域を走査し、サブスポットS2・S3がピット21
を走査することはない。従って、記録時において、トラ
ッキングエラー信号の生成にピット21の影響が及ばなく
なるので、トラッキングエラー信号のオフセットをなく
すことができる。なお、メインスポットS1とサブスポッ
トS2・S3を光強度の比は10:1程度で、サブスポットS2・
S3の光強度は充分に微弱であるため、サブスポットS2・
S3により記録が行われることはない。
ところで、光ピックアップ装置の組立時等には、トラ
ッキングエラー信号のレベルが最大になるように、２つ
のサブスポットS2・S3間の位相差を調節するものであ
る。その場合、従来の３ビーム法では、光軸を中心とし
た回折素子36（第８図）の回転により２つのサブスポッ
トS2′・S3′間の位相差の調節を行っていたが、本実施
例では、回折素子12を光軸に沿って第３図中に矢印Ａ又
はＢで示す方向に移動させることによりサブスポットS2
・S3間の位相差の調節を行うことができる。
ッキングエラー信号のレベルが最大になるように、２つ
のサブスポットS2・S3間の位相差を調節するものであ
る。その場合、従来の３ビーム法では、光軸を中心とし
た回折素子36（第８図）の回転により２つのサブスポッ
トS2′・S3′間の位相差の調節を行っていたが、本実施
例では、回折素子12を光軸に沿って第３図中に矢印Ａ又
はＢで示す方向に移動させることによりサブスポットS2
・S3間の位相差の調節を行うことができる。
すなわち、回折素子12が第３図図示の位置にある時、
トラック16a上でのメインスポットS1及びサブスポットS
2・S3の配列状態は、例えば、第６図（ｂ）の如くにな
る。それに対し、回折素子２を第３図の位置からＡ方
向、つまり、半導体レーザ11から遠ざかる方向へ移動さ
せた場合は、第６図（ａ）の如くになり、サブスポット
S2・S3間のトラック方向の距離がD0からD0′に縮小され
るとともに、サブスポットS2・S3間のラジアル方向の距
離がd0からd0′に縮小される。
トラック16a上でのメインスポットS1及びサブスポットS
2・S3の配列状態は、例えば、第６図（ｂ）の如くにな
る。それに対し、回折素子２を第３図の位置からＡ方
向、つまり、半導体レーザ11から遠ざかる方向へ移動さ
せた場合は、第６図（ａ）の如くになり、サブスポット
S2・S3間のトラック方向の距離がD0からD0′に縮小され
るとともに、サブスポットS2・S3間のラジアル方向の距
離がd0からd0′に縮小される。
一方、回折素子12を第３図の位置からＢ方向、つま
り、半導体レーザ11に接近する方向に移動させた場合
は、第６図（ｃ）の如く、サブスポットS2・S3間のトラ
ック方向の距離がD0″に、ラジアル方向の距離がd0″に
それぞれ拡大される。
り、半導体レーザ11に接近する方向に移動させた場合
は、第６図（ｃ）の如く、サブスポットS2・S3間のトラ
ック方向の距離がD0″に、ラジアル方向の距離がd0″に
それぞれ拡大される。
なお、メインスポットS1及びサブスポットS2・S3を同
一のトラック16a上に形成する調節を行う際、及びトラ
ッキングエラー信号のオフセットを調節する際には、光
軸を中心とした回折素子12の回転が行われる。
一のトラック16a上に形成する調節を行う際、及びトラ
ッキングエラー信号のオフセットを調節する際には、光
軸を中心とした回折素子12の回転が行われる。
上記の実施例では、２つのサブスポットS2・S3がとも
にトラック16a上でメインスポットS1より先行するよう
にしたが、それに代えて、２つのサブスポットS2・S3を
ともにメインスポットS1より後方に配置するようにして
も良い。その場合、ピット21の形成による記録時に、２
つのサブスポットS2・S3がともにピット21上を走査する
ので、トラッキングエラーが生じていない限り２つのサ
ブスポットS2・S3からの反射光強度はほぼ等しくなり、
正確なトラッキング制御が行われる。
にトラック16a上でメインスポットS1より先行するよう
にしたが、それに代えて、２つのサブスポットS2・S3を
ともにメインスポットS1より後方に配置するようにして
も良い。その場合、ピット21の形成による記録時に、２
つのサブスポットS2・S3がともにピット21上を走査する
ので、トラッキングエラーが生じていない限り２つのサ
ブスポットS2・S3からの反射光強度はほぼ等しくなり、
正確なトラッキング制御が行われる。
なお、上記の実施例では、追記型の光ディスク16の一
例として、光ビームの照射によりピット21が形成される
ものにつき説明したが、それ以外に、光ビームの照射に
よりピット21は形成せずに反射率のみを変化させること
により信号の記録を行う光ディスク等にも本発明は有効
である。又、本発明の光ピックアップ装置は、追記型等
の記録可能型の光ディスクに特に有効であるが、それ以
外に、再生専用型の光ディスクの再生等にも使用できる
ものである。
例として、光ビームの照射によりピット21が形成される
ものにつき説明したが、それ以外に、光ビームの照射に
よりピット21は形成せずに反射率のみを変化させること
により信号の記録を行う光ディスク等にも本発明は有効
である。又、本発明の光ピックアップ装置は、追記型等
の記録可能型の光ディスクに特に有効であるが、それ以
外に、再生専用型の光ディスクの再生等にも使用できる
ものである。
又、上記の光ピックアップ装置の光学系19の構成及び
受光素子８の分割方法等は適宜変更することができるも
のである。
受光素子８の分割方法等は適宜変更することができるも
のである。
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、
光源から出射された光を光ディスク上に導くとともに光
ディスクからの反射光を受光素子に導く光学系と、光源
と光ディスクとの間の光路上に配置される回折素子とを
備えた光ピックアップ装置において、上記回折素子は光
源からの出射光を０次回折光と１対の１次回折光とに分
離し、０次回折光が光ディスクのトラック上にメインス
ポットを成し、１対の１次回折光がともに上記トラック
におけるメインスポットより先行する位置か又はともに
上記トラックにおけるメインスポットの後方の位置にト
ラッキングエラーを検出するための１対のサブスポット
を成すように、２分割された領域にそれぞれ方向の異な
る回折格子が形成され、かつ、上記回折素子は、１対の
サブスポット間の間隔を調節するために、光軸方向に移
動可能に支持されている構成である。
光源から出射された光を光ディスク上に導くとともに光
ディスクからの反射光を受光素子に導く光学系と、光源
と光ディスクとの間の光路上に配置される回折素子とを
備えた光ピックアップ装置において、上記回折素子は光
源からの出射光を０次回折光と１対の１次回折光とに分
離し、０次回折光が光ディスクのトラック上にメインス
ポットを成し、１対の１次回折光がともに上記トラック
におけるメインスポットより先行する位置か又はともに
上記トラックにおけるメインスポットの後方の位置にト
ラッキングエラーを検出するための１対のサブスポット
を成すように、２分割された領域にそれぞれ方向の異な
る回折格子が形成され、かつ、上記回折素子は、１対の
サブスポット間の間隔を調節するために、光軸方向に移
動可能に支持されている構成である。
これにより、回折素子は、１対の１次回折光がともに
光ディスク上でメインスポットより前方にサブスポット
を成すか、又は１対の１次回折光がともに光ディスク上
でメインスポットより後方にサブスポットを成すように
形成されているので、光ディスクが記録可能型のもので
ある際に光ディスクへの信号の記録時にピットの形成等
により信号の記録済領域と未記録領域とで光の反射率が
異なる場合でも、１対のサブスポットはともに未記録領
域に集光されるか、ともに記録済領域に集光されるのい
ずれかとなり、トラッキングカラーが生じていない限り
両サブスポットの光強度はほぼ等しくなり、安定したト
ラッキング制御が行えるようになる。
光ディスク上でメインスポットより前方にサブスポット
を成すか、又は１対の１次回折光がともに光ディスク上
でメインスポットより後方にサブスポットを成すように
形成されているので、光ディスクが記録可能型のもので
ある際に光ディスクへの信号の記録時にピットの形成等
により信号の記録済領域と未記録領域とで光の反射率が
異なる場合でも、１対のサブスポットはともに未記録領
域に集光されるか、ともに記録済領域に集光されるのい
ずれかとなり、トラッキングカラーが生じていない限り
両サブスポットの光強度はほぼ等しくなり、安定したト
ラッキング制御が行えるようになる。
ところで、上記１対のサブスポットからの反射光に基
づいて得られるトラッキングエラーを検出するための信
号のレベルはできるだけ大きくすることが好ましく、そ
のためには、上記１対のサブスポット間の位相差、つま
り、１対のサブスポット間の光ディスク半径方向及びト
ラック方向の距離が適正な値となるように調節する必要
がある。その場合、本発明によれば、上記回折素子を光
軸方向に移動させることにより、１対のサブスポット間
の光ディスク半径方向及びトラック方向の距離を拡大又
は縮小させることができるので、回折素子を光軸方向へ
移動させることにより、トラッキングエラー信号のレベ
ルが最大になるように調節することができる。
づいて得られるトラッキングエラーを検出するための信
号のレベルはできるだけ大きくすることが好ましく、そ
のためには、上記１対のサブスポット間の位相差、つま
り、１対のサブスポット間の光ディスク半径方向及びト
ラック方向の距離が適正な値となるように調節する必要
がある。その場合、本発明によれば、上記回折素子を光
軸方向に移動させることにより、１対のサブスポット間
の光ディスク半径方向及びトラック方向の距離を拡大又
は縮小させることができるので、回折素子を光軸方向へ
移動させることにより、トラッキングエラー信号のレベ
ルが最大になるように調節することができる。
なお、本発明の光ピックアップ装置は記録可能型の光
ディスクへの記録を行う場合に特に有効であるが、それ
に限らず、再生専用型の光ディスクの再生等にも使用で
きるものである。
ディスクへの記録を行う場合に特に有効であるが、それ
に限らず、再生専用型の光ディスクの再生等にも使用で
きるものである。
第１図乃至第６図は本発明の一実施例を示すものであ
る。 第１図は回折素子及び光ディスクを示す概略正面図であ
る。 第２図は回折素子を示す側面説明図である。 第３図は光ピックアップ装置の説明図である。 第４図は受光素子の概略正面図である。 第５図は光ディスクの拡大正面部分図である。 第６図（ａ）〜（ｃ）は回折素子を光軸上で移動させた
際の光ディスク上でのメインスポット及びサブスポット
の移動を示す説明図である。 第７図乃至第９図は従来例を示すものである。 第７図（ａ）は光ピックアップ装置の説明図である。 同図（ｂ）は光ディスクが傾斜した場合の同説明図であ
る。 第８図は回折素子を示す側面説明図である。 第９図は光ディスクの拡大正面部分図である。 11は半導体レーザ（光源）、12は回折素子、12a・12bは
領域、12c・12dは回折格子、16は光ディスク、18は受光
素子、19は光学系、S1はメインスポット、S2・S3はサブ
スポットである。
る。 第１図は回折素子及び光ディスクを示す概略正面図であ
る。 第２図は回折素子を示す側面説明図である。 第３図は光ピックアップ装置の説明図である。 第４図は受光素子の概略正面図である。 第５図は光ディスクの拡大正面部分図である。 第６図（ａ）〜（ｃ）は回折素子を光軸上で移動させた
際の光ディスク上でのメインスポット及びサブスポット
の移動を示す説明図である。 第７図乃至第９図は従来例を示すものである。 第７図（ａ）は光ピックアップ装置の説明図である。 同図（ｂ）は光ディスクが傾斜した場合の同説明図であ
る。 第８図は回折素子を示す側面説明図である。 第９図は光ディスクの拡大正面部分図である。 11は半導体レーザ（光源）、12は回折素子、12a・12bは
領域、12c・12dは回折格子、16は光ディスク、18は受光
素子、19は光学系、S1はメインスポット、S2・S3はサブ
スポットである。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−147823（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−37848（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−149230（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】光源から出射された光を光ディスク上に導
くとともに光ディスクからの反射光を受光素子に導く光
学系と、光源と光ディスクとの間の光路上に配置される
回折素子とを備えた光ピックアップ装置において、 上記回折素子は光源からの出射光を０次回折光と１対の
１次回折光とに分離し、０次回折光が光ディスクのトラ
ック上にメインスポットを成し、１対の１次回折光がと
もに上記トラックにおけるメインスポットより先行する
位置か又はともに上記トラックにおけるメインスポット
の後方の位置にトラッキングエラーを検出するための１
対のサブスポットを成すように、２分割された領域にそ
れぞれ方向の異なる回折格子が形成され、かつ、上記回
折素子は、１対のサブスポット間の間隔を調節するため
に、光軸方向に移動可能に支持されていることを特徴と
する光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1239007A JP2680440B2 (ja) | 1989-09-14 | 1989-09-14 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1239007A JP2680440B2 (ja) | 1989-09-14 | 1989-09-14 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03102650A JPH03102650A (ja) | 1991-04-30 |
| JP2680440B2 true JP2680440B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=17038509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1239007A Expired - Fee Related JP2680440B2 (ja) | 1989-09-14 | 1989-09-14 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2680440B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58147823A (ja) * | 1982-02-25 | 1983-09-02 | Mitsubishi Electric Corp | トラツクずれ検出装置 |
| JPS59149230U (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-05 | 松下電器産業株式会社 | 光学式ビデオデイスクプレ−ヤの読出装置 |
-
1989
- 1989-09-14 JP JP1239007A patent/JP2680440B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03102650A (ja) | 1991-04-30 |
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Legal Events
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