JPH05144054A - 光ピツクアツプ装置及び光ピツクアツプ装置における傾斜制御装置 - Google Patents
光ピツクアツプ装置及び光ピツクアツプ装置における傾斜制御装置Info
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- JPH05144054A JPH05144054A JP3300710A JP30071091A JPH05144054A JP H05144054 A JPH05144054 A JP H05144054A JP 3300710 A JP3300710 A JP 3300710A JP 30071091 A JP30071091 A JP 30071091A JP H05144054 A JPH05144054 A JP H05144054A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
Abstract
(57)【要約】
【目的】 従来の光ピックアップ装置及び光ピックアッ
プ装置の傾斜制御装置に比べ構成の簡易な光ピックアッ
プ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】 線像となる光ビームを発生する光源と、発生
した光ビームが光学式情報記録媒体の記録面において反
射された反射光ビームを集光して出射する光学系と、光
学系から出射された反射光ビームを屈折させて出射する
光屈折手段と、複数の受光面に分割されるとともに、光
屈折手段から出射された反射光ビームを光電変換し複数
の傾斜誤差検出用信号を出力する複数の光検出器と、を
備えて構成する。
プ装置の傾斜制御装置に比べ構成の簡易な光ピックアッ
プ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】 線像となる光ビームを発生する光源と、発生
した光ビームが光学式情報記録媒体の記録面において反
射された反射光ビームを集光して出射する光学系と、光
学系から出射された反射光ビームを屈折させて出射する
光屈折手段と、複数の受光面に分割されるとともに、光
屈折手段から出射された反射光ビームを光電変換し複数
の傾斜誤差検出用信号を出力する複数の光検出器と、を
備えて構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ピックアップ装置及
び光ピックアップ装置における傾斜制御装置に係り、特
に、従来例に比べ光量損失が少なくかつ構成の簡易な光
ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装
置に関する。
び光ピックアップ装置における傾斜制御装置に係り、特
に、従来例に比べ光量損失が少なくかつ構成の簡易な光
ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンパクトディスク（ＣＤ）やレ
ーザビデオディスク（ＬＶＤ）等の光学式情報記録媒体
の光ピックアップ装置において、光源から発射される光
ビームを記録媒体の記録面に対し垂直に入射しているか
否かを検出する傾斜検出装置として図１３（Ａ）及び図
１３（Ｂ）に示すものが知られている。図１３におい
て、この傾斜検出装置２００は、光源である半導体レー
ザ３１と、光ディスクＤＫの記録面Ｓ2 で反射された反
射光ビームを受光して光電変換し光検出信号を出力する
２つのフォトディテクタ３２、３３と、フォトディテク
タ３２、３３の受光面からの光検出信号に基づき両者の
差分をとる演算を行い、光ビームが光ディスクＤＫの記
録面Ｓ2 に対し垂直に入射しているか否かを示すチルト
エラー信号ＴＥを出力する差動増幅器３４と、を備えて
いる。
ーザビデオディスク（ＬＶＤ）等の光学式情報記録媒体
の光ピックアップ装置において、光源から発射される光
ビームを記録媒体の記録面に対し垂直に入射しているか
否かを検出する傾斜検出装置として図１３（Ａ）及び図
１３（Ｂ）に示すものが知られている。図１３におい
て、この傾斜検出装置２００は、光源である半導体レー
ザ３１と、光ディスクＤＫの記録面Ｓ2 で反射された反
射光ビームを受光して光電変換し光検出信号を出力する
２つのフォトディテクタ３２、３３と、フォトディテク
タ３２、３３の受光面からの光検出信号に基づき両者の
差分をとる演算を行い、光ビームが光ディスクＤＫの記
録面Ｓ2 に対し垂直に入射しているか否かを示すチルト
エラー信号ＴＥを出力する差動増幅器３４と、を備えて
いる。
【０００３】この傾斜検出装置２００においては、図１
３（Ａ）のように半導体レーザ３１と、フォトディテク
タ３２、３３とが光ディスクＤＫに正しく対面している
場合には２つのフォトディテクタ３２、３３の受光量が
等しいので差動増幅器３４の出力は０であるが、図１３
（Ｂ）のように光ディスクＤＫが傾いている場合にはフ
ォトディテクタ３３よりもフォトディテクタ３２の受光
量の方が多くなるので差動増幅器３４の出力は正の値と
なり、光ディスクＤＫの傾きを検出できる。この傾斜検
出装置２００に、図示しない制御部を接続することによ
り、光ピックアップからの光ビームの光軸を光ディスク
ＤＫの記録面に対して垂直になるように修正させる傾斜
制御装置を構成することができる。
３（Ａ）のように半導体レーザ３１と、フォトディテク
タ３２、３３とが光ディスクＤＫに正しく対面している
場合には２つのフォトディテクタ３２、３３の受光量が
等しいので差動増幅器３４の出力は０であるが、図１３
（Ｂ）のように光ディスクＤＫが傾いている場合にはフ
ォトディテクタ３３よりもフォトディテクタ３２の受光
量の方が多くなるので差動増幅器３４の出力は正の値と
なり、光ディスクＤＫの傾きを検出できる。この傾斜検
出装置２００に、図示しない制御部を接続することによ
り、光ピックアップからの光ビームの光軸を光ディスク
ＤＫの記録面に対して垂直になるように修正させる傾斜
制御装置を構成することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の傾
斜制御装置においては、光ディスクＤＫに記録された情
報信号を再生する光ピックアップとは別に傾斜検出用光
源及び受光素子が必要になり、構造の複雑化、ピックア
ップの大型化等の欠点があった。
斜制御装置においては、光ディスクＤＫに記録された情
報信号を再生する光ピックアップとは別に傾斜検出用光
源及び受光素子が必要になり、構造の複雑化、ピックア
ップの大型化等の欠点があった。
【０００５】そこで、本発明は、上記従来の光ピックア
ップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装置に比べ
構成の簡易な光ピックアップ装置及び光ピックアップ装
置の傾斜制御装置を提供することを目的とする。
ップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御装置に比べ
構成の簡易な光ピックアップ装置及び光ピックアップ装
置の傾斜制御装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、線像となる光ビームを発生
する光源と、当該発生した光ビームが光学式情報記録媒
体の記録面において反射された反射光ビームを集光して
出射する光学系と、当該光学系から出射された反射光ビ
ームを屈折させて出射する光屈折手段と、複数の受光面
に分割されるとともに、前記光屈折手段から出射された
反射光ビームを光電変換し複数の傾斜誤差検出用信号を
出力する複数の光検出器とを備えて構成される。
め、請求項１記載の発明は、線像となる光ビームを発生
する光源と、当該発生した光ビームが光学式情報記録媒
体の記録面において反射された反射光ビームを集光して
出射する光学系と、当該光学系から出射された反射光ビ
ームを屈折させて出射する光屈折手段と、複数の受光面
に分割されるとともに、前記光屈折手段から出射された
反射光ビームを光電変換し複数の傾斜誤差検出用信号を
出力する複数の光検出器とを備えて構成される。
【０００７】また、請求項２記載の発明は、光学式情報
記録媒体の記録面に記録された情報を読出すための光ピ
ックアップ装置における傾斜制御装置であって、線像と
なる光ビームを発生する光源と、当該発生した光ビーム
を前記記録面上に収束入射させて前記線像を結像させ、
かつ、前記記録面において反射された反射光ビームを集
光して出射する対物レンズを含む光学系と、当該光学系
から出射された反射光ビームを屈折させて出射する光屈
折手段と、複数の受光面に分割されるとともに、前記光
屈折手段から出射された反射光ビームを光電変換し複数
の光検出信号を出力する複数の光検出器と、前記複数の
光検出信号に基づき演算を行うことにより前記光ビーム
が前記記録面に対し垂直に入射しているか否かを示す傾
斜誤差信号を出力する演算手段と、当該傾斜誤差信号に
基づいて前記光ビームを前記記録面に対し垂直に入射さ
せるように前記対物レンズの前記光学式情報記録媒体に
対する位置を制御する制御手段と、を備えて構成され
る。
記録媒体の記録面に記録された情報を読出すための光ピ
ックアップ装置における傾斜制御装置であって、線像と
なる光ビームを発生する光源と、当該発生した光ビーム
を前記記録面上に収束入射させて前記線像を結像させ、
かつ、前記記録面において反射された反射光ビームを集
光して出射する対物レンズを含む光学系と、当該光学系
から出射された反射光ビームを屈折させて出射する光屈
折手段と、複数の受光面に分割されるとともに、前記光
屈折手段から出射された反射光ビームを光電変換し複数
の光検出信号を出力する複数の光検出器と、前記複数の
光検出信号に基づき演算を行うことにより前記光ビーム
が前記記録面に対し垂直に入射しているか否かを示す傾
斜誤差信号を出力する演算手段と、当該傾斜誤差信号に
基づいて前記光ビームを前記記録面に対し垂直に入射さ
せるように前記対物レンズの前記光学式情報記録媒体に
対する位置を制御する制御手段と、を備えて構成され
る。
【０００８】
【作用】上記構成を有する本発明によれば、線状の光ス
ポットを結像するように構成し、かつ光屈折手段を用い
て複数の光検出器の受光面に入射する反射光ビームを屈
折させることにより、各々の光検出器が光学式情報記録
媒体に相対的に近いか遠いかを判断できるように構成し
たので、線像となる反射光ビームの一部ずつを用いて傾
斜誤差信号を生成可能となる。上記の複数の光検出器を
用いれば、焦点検出や情報信号の検出も兼用して行うこ
とが可能であり、その場合には、従来装置と比べ光ピッ
クアップ全体の構成が非常に単純になる。
ポットを結像するように構成し、かつ光屈折手段を用い
て複数の光検出器の受光面に入射する反射光ビームを屈
折させることにより、各々の光検出器が光学式情報記録
媒体に相対的に近いか遠いかを判断できるように構成し
たので、線像となる反射光ビームの一部ずつを用いて傾
斜誤差信号を生成可能となる。上記の複数の光検出器を
用いれば、焦点検出や情報信号の検出も兼用して行うこ
とが可能であり、その場合には、従来装置と比べ光ピッ
クアップ全体の構成が非常に単純になる。
【０００９】
【実施例】以下に、本発明の好適な実施例を図面に基づ
いて説明する。第１実施例 図１乃至図７に、本発明を光ピックアップの傾斜制御装
置について開示した第１実施例の構成を示す。図１にお
いて、この傾斜制御装置１００は、所定の長さを持った
線状の光束を射出する光源である半導体レーザ１と、半
導体レーザ１から射出されたレーザ光を反射面Ｓ1 で反
射し光学式情報記録媒体である光ディスクＤＫの方向に
向わせるビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２か
らの光束を平行光束にするコリメータレンズ３と、コリ
メータレンズ３からの平行光束を光ディスクＤＫの記録
面Ｓ2 上に線像として収束させる対物レンズ４と、光デ
ィスクＤＫの記録面Ｓ2 で反射され上記と同じ光路を逆
に戻り対物レンズ４及びコリメータレンズ３を経て今度
はビームスプリッタ２の反射面Ｓ1 を通過し面Ｓ3 に到
達した線状光束の一部を受光して光電変換し複数の光検
出信号を出力する光検出部５Ａと、この複数の光検出信
号に基づいて所定の演算を行い傾斜誤差信号であるチル
トエラー信号ＴＥを出力するエラー生成回路６Ａと、こ
のチルトエラー信号ＴＥに基づき駆動信号を出力する駆
動回路７と、駆動信号により対物レンズ４の光ディスク
ＤＫに対する傾きを制御するアクチュエータ８と、を備
えている。
いて説明する。第１実施例 図１乃至図７に、本発明を光ピックアップの傾斜制御装
置について開示した第１実施例の構成を示す。図１にお
いて、この傾斜制御装置１００は、所定の長さを持った
線状の光束を射出する光源である半導体レーザ１と、半
導体レーザ１から射出されたレーザ光を反射面Ｓ1 で反
射し光学式情報記録媒体である光ディスクＤＫの方向に
向わせるビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２か
らの光束を平行光束にするコリメータレンズ３と、コリ
メータレンズ３からの平行光束を光ディスクＤＫの記録
面Ｓ2 上に線像として収束させる対物レンズ４と、光デ
ィスクＤＫの記録面Ｓ2 で反射され上記と同じ光路を逆
に戻り対物レンズ４及びコリメータレンズ３を経て今度
はビームスプリッタ２の反射面Ｓ1 を通過し面Ｓ3 に到
達した線状光束の一部を受光して光電変換し複数の光検
出信号を出力する光検出部５Ａと、この複数の光検出信
号に基づいて所定の演算を行い傾斜誤差信号であるチル
トエラー信号ＴＥを出力するエラー生成回路６Ａと、こ
のチルトエラー信号ＴＥに基づき駆動信号を出力する駆
動回路７と、駆動信号により対物レンズ４の光ディスク
ＤＫに対する傾きを制御するアクチュエータ８と、を備
えている。
【００１０】一方、上記の光検出部５Ａにおいては、面
Ｓ3 上の線状光束の他の一部からは光ディスクＤＫ内に
記録された情報信号がＲＦ信号の形で読取られ、ＲＦア
ンプ９に送られる。ＲＦアンプ９は、このＲＦ信号を適
当なゲインで増幅し信号復調部等へ送ることができる。
Ｓ3 上の線状光束の他の一部からは光ディスクＤＫ内に
記録された情報信号がＲＦ信号の形で読取られ、ＲＦア
ンプ９に送られる。ＲＦアンプ９は、このＲＦ信号を適
当なゲインで増幅し信号復調部等へ送ることができる。
【００１１】上記の傾斜制御装置１００において、ビー
ムスプリッタ２、コリメータレンズ３、及び対物レンズ
４は光学系を構成し、エラー生成回路６Ａは演算手段に
相当し、駆動回路７とアクチュエータ８とは制御手段を
構成している。また、半導体レーザ１と、ビームスプリ
ッタ２と、コリメータレンズ３と、対物レンズ４と、光
検出部５Ａは光ピックアップ装置を構成している。
ムスプリッタ２、コリメータレンズ３、及び対物レンズ
４は光学系を構成し、エラー生成回路６Ａは演算手段に
相当し、駆動回路７とアクチュエータ８とは制御手段を
構成している。また、半導体レーザ１と、ビームスプリ
ッタ２と、コリメータレンズ３と、対物レンズ４と、光
検出部５Ａは光ピックアップ装置を構成している。
【００１２】図２は、光ディスクＤＫ上における信号ピ
ットＳＰと線状光スポットＬＳとの関係を示す図であ
る。図２に示すように、線状光スポットＬＳは隣接する
トラックの信号ピットには照射されない範囲でトラック
方向（光ディスク円周方向）に直角に線状に延びた光ス
ポットである。
ットＳＰと線状光スポットＬＳとの関係を示す図であ
る。図２に示すように、線状光スポットＬＳは隣接する
トラックの信号ピットには照射されない範囲でトラック
方向（光ディスク円周方向）に直角に線状に延びた光ス
ポットである。
【００１３】図３は、本発明の第１実施例における光検
出部５Ａの構成を示した図である。図３（Ａ）は正面
図、図３（Ｂ）は平面図、図３（Ｃ）は図３（Ａ）にお
いて方向Ｉから見た側面図、図３（Ｄ）は図３（Ａ）に
おいて方向IIから見た側面図である。
出部５Ａの構成を示した図である。図３（Ａ）は正面
図、図３（Ｂ）は平面図、図３（Ｃ）は図３（Ａ）にお
いて方向Ｉから見た側面図、図３（Ｄ）は図３（Ａ）に
おいて方向IIから見た側面図である。
【００１４】図３（Ａ）乃至図３（Ｄ）に示すように、
この光検出部５Ａは、光ディスクＤＫからの反射光ビー
ム（線状光束）ＬＳを受光する検出部本体１３と、この
検出部本体１３の一部を被覆する平行平板ガラス１１及
び１２とを有している。検出部本体１３上には、２組の
三分割受光面ａ1 、ａ2 、ａ3 及びａ5 、ａ6 、ａ7 と
単一の受光面ａ4 とが設けられており、平行平板ガラス
１１は三分割受光面ａ 1 、ａ2 、ａ3 の全体を被覆する
ように構成され、平行平板ガラス１２は三分割受光面ａ
5 、ａ6 、ａ7 の全体を被覆するように構成されてい
る。平行平板ガラス１１及び１２は、厚さｄ1 、絶対屈
折率ｎ1 であり、ｎ1 ×ｄ1 の光学距離を有している。
各々の受光面ａ1 〜ａ7 は受光した反射光ビームＬＳを
光電変換し各々光検出信号Ｉ1 〜Ｉ7 を出力する。Ｉ1
〜Ｉ3及びＩ5 〜Ｉ7 は傾斜誤差検出用光検出信号であ
り、Ｉ4 は情報信号である。
この光検出部５Ａは、光ディスクＤＫからの反射光ビー
ム（線状光束）ＬＳを受光する検出部本体１３と、この
検出部本体１３の一部を被覆する平行平板ガラス１１及
び１２とを有している。検出部本体１３上には、２組の
三分割受光面ａ1 、ａ2 、ａ3 及びａ5 、ａ6 、ａ7 と
単一の受光面ａ4 とが設けられており、平行平板ガラス
１１は三分割受光面ａ 1 、ａ2 、ａ3 の全体を被覆する
ように構成され、平行平板ガラス１２は三分割受光面ａ
5 、ａ6 、ａ7 の全体を被覆するように構成されてい
る。平行平板ガラス１１及び１２は、厚さｄ1 、絶対屈
折率ｎ1 であり、ｎ1 ×ｄ1 の光学距離を有している。
各々の受光面ａ1 〜ａ7 は受光した反射光ビームＬＳを
光電変換し各々光検出信号Ｉ1 〜Ｉ7 を出力する。Ｉ1
〜Ｉ3及びＩ5 〜Ｉ7 は傾斜誤差検出用光検出信号であ
り、Ｉ4 は情報信号である。
【００１５】ここに、三分割受光面ａ1 〜ａ3 及びａ5
〜ａ7 は各々光検出器を構成し、平行平板ガラス１１及
び１２は光屈折手段に相当している。この場合は、平行
平板ガラス１１及び１２は三分割受光面ａ1 〜ａ3 及び
ａ5 〜ａ7 の全部を被覆している。
〜ａ7 は各々光検出器を構成し、平行平板ガラス１１及
び１２は光屈折手段に相当している。この場合は、平行
平板ガラス１１及び１２は三分割受光面ａ1 〜ａ3 及び
ａ5 〜ａ7 の全部を被覆している。
【００１６】次に、図４乃至図７を用いて、この第１実
施例の動作を説明する。図４は、光検出器５Ａにおける
反射光ビームの状態・形状を示した図であり、図４
（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）は、図３（Ａ）におい
て方向Ｉから見た場合の光束ＬＳの状態を示している。
また、図４（Ａ）は、三分割受光面ａ1 〜ａ 3 が形成す
る光検出器１３1 と光ディスクＤＫとの間の距離が対物
レンズ４の焦点距離よりも短い場合、すなわち光ディス
クＤＫに近すぎる場合を示し、図４（Ｂ）は、三分割受
光面ａ1 〜ａ3 が形成する光検出器１３1 と光ディスク
ＤＫとの間の距離が対物レンズ４の焦点距離と等しい場
合を示し、図４（Ｃ）は、三分割受光面ａ1 〜ａ3 が形
成する光検出器１３1 と光ディスクＤＫとの間の距離が
対物レンズ４の焦点距離よりも長い場合、すなわち光デ
ィスクＤＫから遠すぎる場合を示している。図４
（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）において、実線の矢印
線は、平行平板ガラス１１中を屈折して進む反射光ビー
ムＬＳの状態を示し、破線の矢印線は、平行平板ガラス
１１がない場合の反射光ビームＬＳの状態を示してい
る。したがって、受光面上の反射光ビームＬＳの幅
ｂ1 、ｂ2 、ｂ3 の間には、平行平板ガラス１１の光の
屈折作用により、ｂ1 ＜ｂ2 ＜ｂ3 の関係が成立する。
平行平板ガラス１２と三分割受光面ａ5 〜ａ7 が形成す
る光検出器１３2 の場合にも全く同様なことがいえる。
施例の動作を説明する。図４は、光検出器５Ａにおける
反射光ビームの状態・形状を示した図であり、図４
（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）は、図３（Ａ）におい
て方向Ｉから見た場合の光束ＬＳの状態を示している。
また、図４（Ａ）は、三分割受光面ａ1 〜ａ 3 が形成す
る光検出器１３1 と光ディスクＤＫとの間の距離が対物
レンズ４の焦点距離よりも短い場合、すなわち光ディス
クＤＫに近すぎる場合を示し、図４（Ｂ）は、三分割受
光面ａ1 〜ａ3 が形成する光検出器１３1 と光ディスク
ＤＫとの間の距離が対物レンズ４の焦点距離と等しい場
合を示し、図４（Ｃ）は、三分割受光面ａ1 〜ａ3 が形
成する光検出器１３1 と光ディスクＤＫとの間の距離が
対物レンズ４の焦点距離よりも長い場合、すなわち光デ
ィスクＤＫから遠すぎる場合を示している。図４
（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）において、実線の矢印
線は、平行平板ガラス１１中を屈折して進む反射光ビー
ムＬＳの状態を示し、破線の矢印線は、平行平板ガラス
１１がない場合の反射光ビームＬＳの状態を示してい
る。したがって、受光面上の反射光ビームＬＳの幅
ｂ1 、ｂ2 、ｂ3 の間には、平行平板ガラス１１の光の
屈折作用により、ｂ1 ＜ｂ2 ＜ｂ3 の関係が成立する。
平行平板ガラス１２と三分割受光面ａ5 〜ａ7 が形成す
る光検出器１３2 の場合にも全く同様なことがいえる。
【００１７】図５は、光検出部５Ａと、この光検出部５
Ａに接続されるエラー生成回路６Ａとの関係を示してい
る。図５において、エラー生成回路６Ａは、加算器２３
及び２４と減算器２５、２６及び２７とを有している。
加算器２３の一方の入力端は受光面ａ1 に接続され、他
方の入力端は受光面ａ3 に接続されている。減算器２５
の負側入力端は受光面ａ2 に接続され、正側入力端は加
算器２３の出力端に接続されている。また、加算器２４
の一方の入力端は受光面ａ5 に接続され、他方の入力端
は受光面ａ7 に接続されている。減算器２６の負側入力
端は受光面ａ6 に接続され、正側入力端は加算器２４の
出力端に接続されている、そして、減算器２７の正側入
力端は減算器２５の入力端に接続され、負側入力端は減
算器２６の出力端に接続されている。従って、このエラ
ー生成回路６Ａは、 ＴＥ＝（Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ）−（Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ）…（１） を演算して出力することになる。
Ａに接続されるエラー生成回路６Ａとの関係を示してい
る。図５において、エラー生成回路６Ａは、加算器２３
及び２４と減算器２５、２６及び２７とを有している。
加算器２３の一方の入力端は受光面ａ1 に接続され、他
方の入力端は受光面ａ3 に接続されている。減算器２５
の負側入力端は受光面ａ2 に接続され、正側入力端は加
算器２３の出力端に接続されている。また、加算器２４
の一方の入力端は受光面ａ5 に接続され、他方の入力端
は受光面ａ7 に接続されている。減算器２６の負側入力
端は受光面ａ6 に接続され、正側入力端は加算器２４の
出力端に接続されている、そして、減算器２７の正側入
力端は減算器２５の入力端に接続され、負側入力端は減
算器２６の出力端に接続されている。従って、このエラ
ー生成回路６Ａは、 ＴＥ＝（Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ）−（Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ）…（１） を演算して出力することになる。
【００１８】この場合、光検出器１３1 と光ディスクＤ
Ｋとの間の距離と、光検出器１３2 と光ディスクＤＫと
の間の距離とが等しい場合には、図６に示すようにな
り、各光検出器１３1 及び１３2 の受光面上の光束の幅
はいずれもｂ4 となる。従って、エラー生成回路６Ａ内
の減算器２５の出力と減算器２６の出力は等しくなり、
ＴＥの値はＴＥ＝０となる。
Ｋとの間の距離と、光検出器１３2 と光ディスクＤＫと
の間の距離とが等しい場合には、図６に示すようにな
り、各光検出器１３1 及び１３2 の受光面上の光束の幅
はいずれもｂ4 となる。従って、エラー生成回路６Ａ内
の減算器２５の出力と減算器２６の出力は等しくなり、
ＴＥの値はＴＥ＝０となる。
【００１９】また、光ディスクＤＫの記録面が光ビーム
の光軸に対し垂直ではなくいずれかの方向へ傾いている
場合、例えば光検出器１３1 の方が光ディスクＤＫから
相対的に遠く、光検出器１３2 の方が光ディスクＤＫに
相対的に近い場合には、図７に示すようになり、光検出
器１３1 の受光面上の光束の幅ｂ5 は、光検出器１３ 2
の受光面上の光束の幅ｂ6 に比べ大きくなり、ｂ5 ＞ｂ
6 の関係が成立する。この場合、光ビームの光ディスク
ＤＫの記録面上における線像が対物レンズ４の焦点位置
に結像した場合（図４（Ｂ）のような場合）に ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＝０…（２） かつ、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＝０…（３） となるように各受光面及び光学系を設定しておけば、各
光検出器が光ディスクＤＫに近すぎる場合（図４（Ａ）
のような場合）には、平行平板ガラス１１又は１２によ
る光の屈折作用により、受光面ａ2 の出力Ｉ2 の方が受
光面ａ1 とａ3 の出力の和（Ｉ1 ＋Ｉ3 ）より相対的に
大きくなるため、 ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＜０…（４） となり、同様にして、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＜０…（５） となる。逆に、各検出器が光ディスクＤＫから遠すぎる
場合（図４（Ｃ）のような場合）には、平行平板ガラス
１１又は１２により光の屈折作用により、受光面ａ2 の
出力Ｉ2 の方が受光面ａ1 とａ3 の出力の和（Ｉ1 ＋Ｉ
3 ）より相対的に小さくなるため、 ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＞０…（６） となり、同様にして、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＞０…（５） となる。
の光軸に対し垂直ではなくいずれかの方向へ傾いている
場合、例えば光検出器１３1 の方が光ディスクＤＫから
相対的に遠く、光検出器１３2 の方が光ディスクＤＫに
相対的に近い場合には、図７に示すようになり、光検出
器１３1 の受光面上の光束の幅ｂ5 は、光検出器１３ 2
の受光面上の光束の幅ｂ6 に比べ大きくなり、ｂ5 ＞ｂ
6 の関係が成立する。この場合、光ビームの光ディスク
ＤＫの記録面上における線像が対物レンズ４の焦点位置
に結像した場合（図４（Ｂ）のような場合）に ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＝０…（２） かつ、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＝０…（３） となるように各受光面及び光学系を設定しておけば、各
光検出器が光ディスクＤＫに近すぎる場合（図４（Ａ）
のような場合）には、平行平板ガラス１１又は１２によ
る光の屈折作用により、受光面ａ2 の出力Ｉ2 の方が受
光面ａ1 とａ3 の出力の和（Ｉ1 ＋Ｉ3 ）より相対的に
大きくなるため、 ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＜０…（４） となり、同様にして、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＜０…（５） となる。逆に、各検出器が光ディスクＤＫから遠すぎる
場合（図４（Ｃ）のような場合）には、平行平板ガラス
１１又は１２により光の屈折作用により、受光面ａ2 の
出力Ｉ2 の方が受光面ａ1 とａ3 の出力の和（Ｉ1 ＋Ｉ
3 ）より相対的に小さくなるため、 ＦＥ1 ＝Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ＞０…（６） となり、同様にして、 ＦＥ2 ＝Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ＞０…（５） となる。
【００２０】従って、図７の場合には、 ＴＥ＝（Ｉ1 ＋Ｉ3 −Ｉ2 ）−（Ｉ5 ＋Ｉ7 −Ｉ6 ）＞０…（８） となる。逆に、光検出器１３1 の方が光ディスクＤＫに
相対的に近く、光検出器１３2 の方が光ディスクＤＫか
ら相対的に近い場合には、 ＴＥ＜０…（９） となる。このことから、この演算出力ＴＥを傾斜誤差信
号であるチルトエラー信号として利用することができ
る。
相対的に近く、光検出器１３2 の方が光ディスクＤＫか
ら相対的に近い場合には、 ＴＥ＜０…（９） となる。このことから、この演算出力ＴＥを傾斜誤差信
号であるチルトエラー信号として利用することができ
る。
【００２１】これは、光検出器である受光面ａ1 〜ａ3
及びａ5 〜ａ7 の全面を、所定の光学距離を有し光の屈
折作用を有する平行平板ガラス１１で被覆したため、反
射光束の受光面上における幅が、図に示すようにｂ1 、
ｂ2 、ｂ3 （ｂ1 ＜ｂ2 ＜ｂ 3 ）のようになるからであ
る。この場合、平行平板ガラス１１及び１２で被覆しな
いと、反射光束は図４（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）
において破線の矢印線で示すように受光面に入射するの
で、合焦点状態でＦＥ1 ＝０及びｂＦＥ2 ＝０となるよ
うに設定しても非合焦状態では常にＦＥ1 ＞０及びＦＥ
2 ＞０となり、その検出器が光ディスクＤＫに近すぎる
のか遠すぎるのかは判別できず、従ってＴＥの値からは
どちらの方向に傾いているかは判別できない。
及びａ5 〜ａ7 の全面を、所定の光学距離を有し光の屈
折作用を有する平行平板ガラス１１で被覆したため、反
射光束の受光面上における幅が、図に示すようにｂ1 、
ｂ2 、ｂ3 （ｂ1 ＜ｂ2 ＜ｂ 3 ）のようになるからであ
る。この場合、平行平板ガラス１１及び１２で被覆しな
いと、反射光束は図４（Ａ）、図４（Ｂ）、図４（Ｃ）
において破線の矢印線で示すように受光面に入射するの
で、合焦点状態でＦＥ1 ＝０及びｂＦＥ2 ＝０となるよ
うに設定しても非合焦状態では常にＦＥ1 ＞０及びＦＥ
2 ＞０となり、その検出器が光ディスクＤＫに近すぎる
のか遠すぎるのかは判別できず、従ってＴＥの値からは
どちらの方向に傾いているかは判別できない。
【００２２】第２実施例 次に、図８に基づいて本発明の第２実施例を説明する。
この第２実施例は、光検出部及びエラー生成回路の部分
を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有してい
る。図８において、光検出部５Ｂは，検出部本体１４
と、この検出部本体１４の一部である光検出器１４1 及
び１４2 の全体を被覆する図示しない平行平板ガラスを
有している。この場合には、各光検出器１４1 、１４2
は、図８に示すように、線像の中心部付近の光束を受光
可能な受光面ａ9 及びａ13を有しており、エラー生成回
路６Ｂは受光面ａ9 の出力と受光面ａ13の出力との差分
である ＴＥ＝Ｉ9 −Ｉ13…（１０） を出力する。図８の場合は、光検出器１４1 の方が光検
出器１４2 より相対的に光ディスクＤＫから遠いため、
光束が全体的に拡散することからＩ9 ＜Ｉ13の関係が成
立する。従って図８の場合には ＴＥ＜０…（１１） となる。逆に、光検出器１４1 の方が光検出器１４2 よ
り相対的に近い場合には ＴＥ＞０…（１２） となる。従って、このＴＥを傾斜誤差信号であるチルト
エラー信号として利用することができる。
この第２実施例は、光検出部及びエラー生成回路の部分
を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有してい
る。図８において、光検出部５Ｂは，検出部本体１４
と、この検出部本体１４の一部である光検出器１４1 及
び１４2 の全体を被覆する図示しない平行平板ガラスを
有している。この場合には、各光検出器１４1 、１４2
は、図８に示すように、線像の中心部付近の光束を受光
可能な受光面ａ9 及びａ13を有しており、エラー生成回
路６Ｂは受光面ａ9 の出力と受光面ａ13の出力との差分
である ＴＥ＝Ｉ9 −Ｉ13…（１０） を出力する。図８の場合は、光検出器１４1 の方が光検
出器１４2 より相対的に光ディスクＤＫから遠いため、
光束が全体的に拡散することからＩ9 ＜Ｉ13の関係が成
立する。従って図８の場合には ＴＥ＜０…（１１） となる。逆に、光検出器１４1 の方が光検出器１４2 よ
り相対的に近い場合には ＴＥ＞０…（１２） となる。従って、このＴＥを傾斜誤差信号であるチルト
エラー信号として利用することができる。
【００２３】第３実施例 次に、図９に基づいて本発明の第３実施例を説明する。
この第３実施例は、光検出器及びエラー生成回路の部分
を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有してい
る。図９において、図９（Ａ）は光検出部の正面図、図
９（Ｂ）は平面から見た光検出部を示した図である。図
９（Ａ）及び図９（Ｂ）に示すように第３実施例の光検
出器５Ｃは、検出部本体１７と、この検出部本体１７の
一部である光検出器１７1 及び１７2 を被覆する平行平
板ガラス１５及び１６とを有している。検出器１７1 上
には二分割受光面ａ16、ａ17及びａ19、ａ20と単一の受
光面ａ18とが設けられており、平行平板ガラス１５及び
１６は二分割受光光面ａ16、ａ17及びａ19、ａ20の全体
を被覆するように構成されている。平行平板ガラス１５
及び１６は、厚さｄ2 、絶対屈折率ｎ2 であり、ｎ2 ×
ｄ2 の光学距離を有している。各々の受光面ａ5 〜ａ7
は受光した反射光ビームＬＳを光電変換し各々光検出信
号Ｉ16〜Ｉ20を出力する。Ｉ16、Ｉ17及びＩ19、Ｉ20は
チルトエラー用光検出信号であり、Ｉ18は情報信号であ
る。
この第３実施例は、光検出器及びエラー生成回路の部分
を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有してい
る。図９において、図９（Ａ）は光検出部の正面図、図
９（Ｂ）は平面から見た光検出部を示した図である。図
９（Ａ）及び図９（Ｂ）に示すように第３実施例の光検
出器５Ｃは、検出部本体１７と、この検出部本体１７の
一部である光検出器１７1 及び１７2 を被覆する平行平
板ガラス１５及び１６とを有している。検出器１７1 上
には二分割受光面ａ16、ａ17及びａ19、ａ20と単一の受
光面ａ18とが設けられており、平行平板ガラス１５及び
１６は二分割受光光面ａ16、ａ17及びａ19、ａ20の全体
を被覆するように構成されている。平行平板ガラス１５
及び１６は、厚さｄ2 、絶対屈折率ｎ2 であり、ｎ2 ×
ｄ2 の光学距離を有している。各々の受光面ａ5 〜ａ7
は受光した反射光ビームＬＳを光電変換し各々光検出信
号Ｉ16〜Ｉ20を出力する。Ｉ16、Ｉ17及びＩ19、Ｉ20は
チルトエラー用光検出信号であり、Ｉ18は情報信号であ
る。
【００２４】ここに、二分割受光面ａ16、Ｉ17及び
Ｉ19、Ｉ20は光検出器を構成し、平行平板ガラス１５及
び１６は光屈折手段に相当している。この場合も、平行
平板ガラス１５及び１６は、二分割受光面ａ16、Ｉ17及
びＩ19、Ｉ20の全部を被覆している。
Ｉ19、Ｉ20は光検出器を構成し、平行平板ガラス１５及
び１６は光屈折手段に相当している。この場合も、平行
平板ガラス１５及び１６は、二分割受光面ａ16、Ｉ17及
びＩ19、Ｉ20の全部を被覆している。
【００２５】次に、図９（Ｂ）を用いて、この第３実施
例の動作を説明する。この第３実施例の場合は、図９
（Ｂ）に示すように、線状光束の端部が受光面ａ16、ａ
20に照射されるように構成される。この場合、光ディス
クＤＫと対物レンズの間の距離が適切な場合に、 ＦＥ1 ＝Ｉ16−Ｉ17＝０…（１３） かつ ＦＥ2 ＝Ｉ19−Ｉ20＝０…（１４） かつ ＴＥ＝ＦＥ1 −ＦＥ2 ＝０…（１５） となるように設定すれば、光ビームが光ディスクＤＫに
垂直に入射していない場合には、平行平板ガラス１５及
び１６の光の屈折作用により、ＴＥ＞０又はＴＥ＜０と
なるように設定することができこのＴＥの値により傾斜
制御を行うことができる。
例の動作を説明する。この第３実施例の場合は、図９
（Ｂ）に示すように、線状光束の端部が受光面ａ16、ａ
20に照射されるように構成される。この場合、光ディス
クＤＫと対物レンズの間の距離が適切な場合に、 ＦＥ1 ＝Ｉ16−Ｉ17＝０…（１３） かつ ＦＥ2 ＝Ｉ19−Ｉ20＝０…（１４） かつ ＴＥ＝ＦＥ1 −ＦＥ2 ＝０…（１５） となるように設定すれば、光ビームが光ディスクＤＫに
垂直に入射していない場合には、平行平板ガラス１５及
び１６の光の屈折作用により、ＴＥ＞０又はＴＥ＜０と
なるように設定することができこのＴＥの値により傾斜
制御を行うことができる。
【００２６】第４実施例 次に、図１０に基づいて本発明の第４実施例を説明す
る。この第４実施例は、光検出部及びエラー生成回路の
部分を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有して
いる。図１０において、図１０（Ａ）は光検出部の正面
図、図１０（Ｂ）は光検出部の平面図、図１０（Ｃ）は
図１０（Ａ）において方向III から見た断面図、図１０
（Ｄ）は図１０（Ａ）において方向IVから見た側面図、
図１０（Ｅ）は図１０（Ａ）において方向Ｖから見た側
面図を示している。
る。この第４実施例は、光検出部及びエラー生成回路の
部分を除き図１に示す第１実施例と同一の構成を有して
いる。図１０において、図１０（Ａ）は光検出部の正面
図、図１０（Ｂ）は光検出部の平面図、図１０（Ｃ）は
図１０（Ａ）において方向III から見た断面図、図１０
（Ｄ）は図１０（Ａ）において方向IVから見た側面図、
図１０（Ｅ）は図１０（Ａ）において方向Ｖから見た側
面図を示している。
【００２７】図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示すよう
に、第４実施例の光検出部５Ｄは、光ディスクＤＫから
の反射光ビーム（線状光束）ＬＳを受光する検出部本体
１９と、この検出部本体１９の一部を被覆する平行平板
ガラス１８とを有している。検出部本体１９上には、２
組の三分割受光面ａ21、ａ22、ａ23及びａ25、ａ26、ａ
27と単一の受光面ａ24とが設けられており、平行平板ガ
ラス１８は単一受光面ａ24の全体を被覆するように構成
されている。平行平板ガラスは、厚さｄ3 、絶対屈折率
ｎ3 であり、ｎ3 ×ｄ3 の光学距離を有している。各々
の受光面ａ21〜ａ27は受光した反射光ビームＬＳを光電
変換し各々光検出信号Ｉ21〜Ｉ27を出力する。Ｉ21〜Ｉ
23及びＩ25〜Ｉ27は傾斜誤差検出用光検出信号であり、
Ｉ24は情報信号である。図１０（Ｂ）に示すように、エ
ラー生成回路６Ｄは受光面ａ22の出力と受光面ａ26の出
力との差分である ＴＥ＝Ｉ22−Ｉ26…（１６） を出力する。
に、第４実施例の光検出部５Ｄは、光ディスクＤＫから
の反射光ビーム（線状光束）ＬＳを受光する検出部本体
１９と、この検出部本体１９の一部を被覆する平行平板
ガラス１８とを有している。検出部本体１９上には、２
組の三分割受光面ａ21、ａ22、ａ23及びａ25、ａ26、ａ
27と単一の受光面ａ24とが設けられており、平行平板ガ
ラス１８は単一受光面ａ24の全体を被覆するように構成
されている。平行平板ガラスは、厚さｄ3 、絶対屈折率
ｎ3 であり、ｎ3 ×ｄ3 の光学距離を有している。各々
の受光面ａ21〜ａ27は受光した反射光ビームＬＳを光電
変換し各々光検出信号Ｉ21〜Ｉ27を出力する。Ｉ21〜Ｉ
23及びＩ25〜Ｉ27は傾斜誤差検出用光検出信号であり、
Ｉ24は情報信号である。図１０（Ｂ）に示すように、エ
ラー生成回路６Ｄは受光面ａ22の出力と受光面ａ26の出
力との差分である ＴＥ＝Ｉ22−Ｉ26…（１６） を出力する。
【００２８】ここに、三分割受光面ａ21〜ａ23及びａ25
〜ａ27は光検出手段を構成し、平行平板ガラス１８は光
屈折手段に相当している。図１０（Ｃ）乃至図１０
（Ｅ）における実線の矢印線は、光検出器５Ｄにおける
反射光ビームの状態を示した図である。このように構成
してもＴＥを傾斜誤差信号であるチルトエラー信号とし
て利用することができる。
〜ａ27は光検出手段を構成し、平行平板ガラス１８は光
屈折手段に相当している。図１０（Ｃ）乃至図１０
（Ｅ）における実線の矢印線は、光検出器５Ｄにおける
反射光ビームの状態を示した図である。このように構成
してもＴＥを傾斜誤差信号であるチルトエラー信号とし
て利用することができる。
【００２９】第５実施例 上記第１実施例乃至第４実施例においては、反射光ビー
ムの線状光束が隣接するトラックに照射されないように
構成しているが、これは、図１１（Ａ）に示すように、
光束ＬＳの長手方向の長さを長くとり、図１１（Ｂ）に
示すように単一受光面ａ31により光ディスクＤＫの情報
信号を読出し、かつ、三分割受光面ａ28〜ａ30を有する
光検出器２０1 及び三分割受光面ａ32〜ａ34を有する光
検出器２０2 において傾斜誤差信号の光検出信号を出力
する光検出部５Ｆのような構成としてもよい。この場合
は、三分割受光面ａ28〜ａ30及びａ32〜ａ34の上面全体
は、第１実施例と同様に、図示しない平行平板ガラスで
被覆される。また、チルトエラー検出用光検出信号を読
み取るべきトラック以外の他のトラックからの光束が光
検出器２０1 又は２０2 に重なってしまう場合には、光
検出器２０1 又は２０2 を高周波数帯域の信号が検知で
きない構成とすることにより焦点誤差信号を得ることも
可能である。
ムの線状光束が隣接するトラックに照射されないように
構成しているが、これは、図１１（Ａ）に示すように、
光束ＬＳの長手方向の長さを長くとり、図１１（Ｂ）に
示すように単一受光面ａ31により光ディスクＤＫの情報
信号を読出し、かつ、三分割受光面ａ28〜ａ30を有する
光検出器２０1 及び三分割受光面ａ32〜ａ34を有する光
検出器２０2 において傾斜誤差信号の光検出信号を出力
する光検出部５Ｆのような構成としてもよい。この場合
は、三分割受光面ａ28〜ａ30及びａ32〜ａ34の上面全体
は、第１実施例と同様に、図示しない平行平板ガラスで
被覆される。また、チルトエラー検出用光検出信号を読
み取るべきトラック以外の他のトラックからの光束が光
検出器２０1 又は２０2 に重なってしまう場合には、光
検出器２０1 又は２０2 を高周波数帯域の信号が検知で
きない構成とすることにより焦点誤差信号を得ることも
可能である。
【００３０】第６実施例 さらに、図１２に示すように、第６実施例として、非常
に長い線状光束を用いて光検出器５Ｆに情報信号検出部
を２２1 〜２２n のように複数個設ければトラックの並
列読み出しも可能になる。傾斜誤差信号を検出する部分
２１1 及び２１ 2 は第１実施例等と同様に三分割受光面
ａ35〜ａ37及びａ38〜ａ40と、図示しない平行平板ガラ
スを有して構成される。
に長い線状光束を用いて光検出器５Ｆに情報信号検出部
を２２1 〜２２n のように複数個設ければトラックの並
列読み出しも可能になる。傾斜誤差信号を検出する部分
２１1 及び２１ 2 は第１実施例等と同様に三分割受光面
ａ35〜ａ37及びａ38〜ａ40と、図示しない平行平板ガラ
スを有して構成される。
【００３１】上記実施例では、被覆部として平行平板ガ
ラスについて説明したが、それに限らずとも、光の屈折
等を利用して焦点位置を変化させればよいのであるか
ら、レンズ、フレネルレンズ、シリンドリカルレンズ、
屈折率分布の変化している部材などであっても可能であ
る。また、ガラスなどの焦点位置を変化させる部材と光
検出器の間隔は、密着している必要はなく、離れた構成
でも可能である。
ラスについて説明したが、それに限らずとも、光の屈折
等を利用して焦点位置を変化させればよいのであるか
ら、レンズ、フレネルレンズ、シリンドリカルレンズ、
屈折率分布の変化している部材などであっても可能であ
る。また、ガラスなどの焦点位置を変化させる部材と光
検出器の間隔は、密着している必要はなく、離れた構成
でも可能である。
【００３２】また、式（１）〜（１３）において減算の
順序は逆であってもかまわない。さらに、上記実施例の
光検出器においては、チルトエラー用信号検出部とＲＦ
情報信号検出部が同一の面に設けられる例について説明
したが、ＲＦ情報信号検出部はハーフミラー等で光路を
分割し他の位置に設けてもかまわない。
順序は逆であってもかまわない。さらに、上記実施例の
光検出器においては、チルトエラー用信号検出部とＲＦ
情報信号検出部が同一の面に設けられる例について説明
したが、ＲＦ情報信号検出部はハーフミラー等で光路を
分割し他の位置に設けてもかまわない。
【００３３】また、上記実施例では光検出器が２個の場
合について説明したが、これは３個以上であってもかま
わない。
合について説明したが、これは３個以上であってもかま
わない。
【００３４】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、従来の
光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御
装置に比べ構成の簡易な光ピックアップ装置及び光ピッ
クアップ装置の傾斜制御装置を提供することができると
いう利点を有する。
光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の傾斜制御
装置に比べ構成の簡易な光ピックアップ装置及び光ピッ
クアップ装置の傾斜制御装置を提供することができると
いう利点を有する。
【図１】本発明の第１実施例の構成を示す図である。
【図２】本発明の第１実施例における動作を説明する図
（１）である。
（１）である。
【図３】本発明の第１実施例における光検出部の構成を
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明の第１実施例における光検出部と反射光
束との関係を示す図である。
束との関係を示す図である。
【図５】本発明の第１実施例における光検出部とエラー
生成回路の関係を示す図である。
生成回路の関係を示す図である。
【図６】本発明の第１実施例の動作説明する図（２）で
ある。
ある。
【図７】本発明の第１実施例の動作説明する図（３）で
ある。
ある。
【図８】本発明の第２実施例の構成を示す図である。
【図９】本発明の第３実施例の構成を示す図である。
【図１０】本発明の第４実施例の構成を示す図である。
【図１１】本発明の第５実施例の構成を示す図である。
【図１２】本発明の第６実施例の構成を示す図である。
【図１３】従来例の傾斜制御装置の構成を示す図であ
る。
る。
１…半導体レーザ ２…ビームスプリッタ ３…コリメータレンズ ４…対物レンズ ５Ａ〜５Ｅ…光検出部 ６Ａ〜６Ｃ…エラー生成回路 ７…駆動回路 ８…アクチュエータ ９…ＲＦアンプ １１、１２、１５、１６、１８…平行平板ガラス １３、１４、１７、１９…検出部本体 ２０1 、２０2 、２１1 、２１2 …傾斜誤差信号検出部 ２１1 〜２２n …情報信号検出部 ２３、２４…加算器 ２５、２６、２７…減算器 ３１…半導体レーザ ３２、３３…フォトディテクタ ３４…差動増幅器 ａ1 〜ａ40…受光面 ＤＫ…光ディスク ＬＳ…反射光束 ＳＰ…信号ピット
Claims (2)
- 【請求項１】 線像となる光ビームを発生する光源と、 当該発生した光ビームが光学式情報記録媒体の記録面に
おいて反射された反射光ビームを集光して出射する光学
系と、 当該光学系から出射された反射光ビームを屈折させて出
射する光屈折手段と、 複数の受光面に分割されるとともに、前記光屈折手段か
ら出射された反射光ビームを光電変換し複数の傾斜誤差
検出用信号を出力する複数の光検出器と、 を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 光学式情報記録媒体の記録面に記録され
た情報を読出すための光ピックアップ装置における傾斜
制御装置であって、 線像となる光ビームを発生する光源と、 当該発生した光ビームを前記記録面上に収束入射させて
前記線像を結像させ、かつ、前記記録面において反射さ
れた反射光ビームを集光して出射する対物レンズを含む
光学系と、 当該光学系から出射された反射光ビームを屈折させて出
射する光屈折手段と、 複数の受光面に分割されるとともに、前記光屈折手段か
ら出射された反射光ビームを光電変換し複数の光検出信
号を出力する複数の光検出器と、 前記複数の光検出信号に基づき演算を行うことにより前
記光ビームが前記記録面に対し垂直に入射しているか否
かを示す傾斜誤差信号を出力する演算手段と、 当該傾斜誤差信号に基づいて前記光ビームを前記記録面
に対し垂直に入射させるように前記対物レンズの前記光
学式情報記録媒体に対する位置を制御する制御手段と、 を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置における
傾斜制御装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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