JP3161891B2 - ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置 - Google Patents
ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置Info
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクドライブに
おいて、光ディスク媒体と光ピックアップの対物レンズ
の光軸との傾きを検出するディスクチルト検出装置、お
よびそのディスクチルト検出装置からの検出信号を用い
てディスクチルトを補正するディスクチルト補正装置に
関するものである。
おいて、光ディスク媒体と光ピックアップの対物レンズ
の光軸との傾きを検出するディスクチルト検出装置、お
よびそのディスクチルト検出装置からの検出信号を用い
てディスクチルトを補正するディスクチルト補正装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスク装置は高密度化の一途
を辿っているが、高密度になるほど光ピックアップ系の
精度の向上が強く要望される。なかでも光ディスク媒体
に対する光ピックアップの対物レンズの光軸の垂直性は
厳密に要求され、両者の間にチルトと呼ばれる傾斜誤差
が発生すると、これを高精度に検出して補正することが
必要となる。
を辿っているが、高密度になるほど光ピックアップ系の
精度の向上が強く要望される。なかでも光ディスク媒体
に対する光ピックアップの対物レンズの光軸の垂直性は
厳密に要求され、両者の間にチルトと呼ばれる傾斜誤差
が発生すると、これを高精度に検出して補正することが
必要となる。
【０００３】従来のディスクチルト検出装置は、例えば
図７のように、光ピックアップ３１と、光学センサー３
２と、差動アンプ３３とを備えており、光学センサー３
２は、発光源３４と、受光素子３５ａ，３５ｂとを備え
ていた（例えば実開昭６０−１２７６３０号公報参
照）。光ピックアップ３１は、光ディスク媒体３０の情
報トラックに光を照射する。光学センサー３２は、光ピ
ックアップ３１に設けられており、発光源３４から光デ
ィスク媒体３０に光を照射し、反射光を受光素子３５
ａ，３５ｂで受光する。差動アンプ３３は、受光素子３
５ａ，３５ｂからの出力の差を演算する。
図７のように、光ピックアップ３１と、光学センサー３
２と、差動アンプ３３とを備えており、光学センサー３
２は、発光源３４と、受光素子３５ａ，３５ｂとを備え
ていた（例えば実開昭６０−１２７６３０号公報参
照）。光ピックアップ３１は、光ディスク媒体３０の情
報トラックに光を照射する。光学センサー３２は、光ピ
ックアップ３１に設けられており、発光源３４から光デ
ィスク媒体３０に光を照射し、反射光を受光素子３５
ａ，３５ｂで受光する。差動アンプ３３は、受光素子３
５ａ，３５ｂからの出力の差を演算する。
【０００４】この従来のディスクチルト検出装置におい
て、発光源３４から出た遠赤外線などの光は、光ディス
ク媒体３０を反射して受光素子３５ａ，３５ｂに達す
る。ここで、チルトが０°のとき、すなわち対物レンズ
の光軸と光ディスク媒体３０とが垂直のとき、反射光が
受光素子３５ａ，３５ｂの境界に到達するようになって
いるので、チルトが発生した場合、反射光が受光素子３
５ａ，３５ｂのいずれか一方に片寄る。したがって、受
光素子３５ａ，３５ｂの出力の差を演算する差動アンプ
３３の出力として、チルトの方向および量に応じた電気
信号を得ることができる。
て、発光源３４から出た遠赤外線などの光は、光ディス
ク媒体３０を反射して受光素子３５ａ，３５ｂに達す
る。ここで、チルトが０°のとき、すなわち対物レンズ
の光軸と光ディスク媒体３０とが垂直のとき、反射光が
受光素子３５ａ，３５ｂの境界に到達するようになって
いるので、チルトが発生した場合、反射光が受光素子３
５ａ，３５ｂのいずれか一方に片寄る。したがって、受
光素子３５ａ，３５ｂの出力の差を演算する差動アンプ
３３の出力として、チルトの方向および量に応じた電気
信号を得ることができる。
【０００５】また従来のディスクチルト補正装置は、光
ピックアップ全体を傾斜ステージで傾ける構成であっ
た。
ピックアップ全体を傾斜ステージで傾ける構成であっ
た。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記従来のディ
スクチルト検出装置では、検出精度に限界があり、しか
も光ピックアップ３１上に別途光学センサー３２を設け
るため、光ピックアップ３１が大がかりになるという問
題点を有していた。また上記従来のディスクチルト補正
装置では、光ピックアップ全体を傾斜ステージで傾ける
ので、装置が大がかりになり、応答性に難点があった。
スクチルト検出装置では、検出精度に限界があり、しか
も光ピックアップ３１上に別途光学センサー３２を設け
るため、光ピックアップ３１が大がかりになるという問
題点を有していた。また上記従来のディスクチルト補正
装置では、光ピックアップ全体を傾斜ステージで傾ける
ので、装置が大がかりになり、応答性に難点があった。
【０００７】本発明はかかる事情に鑑みて成されたもの
であり、検出精度が高く、しかも従来のような別光学系
を必要としないディスクチルト検出装置を提供すること
を目的とする。さらに本発明は、応答性に優れたディス
クチルト補正装置を提供することを目的とする。
であり、検出精度が高く、しかも従来のような別光学系
を必要としないディスクチルト検出装置を提供すること
を目的とする。さらに本発明は、応答性に優れたディス
クチルト補正装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、対物
レンズによって集束されたレーザービームを光ディスク
媒体に形成された情報トラックに照射する照射手段と、
遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直進光と
情報トラックによる１次回折光との干渉領域内のしかも
その干渉領域より小さい小領域内の反射光を検出する第
１の受光手段と、小領域を除く干渉領域の反射光を検出
する第２の受光手段と、第１の受光手段による受光量と
第２の受光手段による受光量との差を演算する差動手段
と、を備えたことを特徴としている。
レンズによって集束されたレーザービームを光ディスク
媒体に形成された情報トラックに照射する照射手段と、
遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直進光と
情報トラックによる１次回折光との干渉領域内のしかも
その干渉領域より小さい小領域内の反射光を検出する第
１の受光手段と、小領域を除く干渉領域の反射光を検出
する第２の受光手段と、第１の受光手段による受光量と
第２の受光手段による受光量との差を演算する差動手段
と、を備えたことを特徴としている。
【０００９】請求項２の発明は、小領域を通過する反射
光を第１の受光手段へ導く偏向機能を有した光学素子を
遠視野における反射光の光軸上に設けたことを特徴とし
ている。請求項３の発明は、第２の受光手段は、反射光
の光軸を中心に対称に設けられた２つの受光素子から成
り、第１の受光手段は、第２の受光手段の両側に設けら
れた２つの受光素子から成る構成としたことを特徴とし
ている。
光を第１の受光手段へ導く偏向機能を有した光学素子を
遠視野における反射光の光軸上に設けたことを特徴とし
ている。請求項３の発明は、第２の受光手段は、反射光
の光軸を中心に対称に設けられた２つの受光素子から成
り、第１の受光手段は、第２の受光手段の両側に設けら
れた２つの受光素子から成る構成としたことを特徴とし
ている。
【００１０】請求項４の発明は、第１の受光手段を成す
２つの受光素子のそれぞれの出力をＡ1 ，Ａ2 とし、第
２の受光手段を成す２つの受光素子のそれぞれの出力を
Ｂ1，Ｂ2 とし、しかも出力Ａ1 は出力Ｂ1 と同一の干
渉領域における反射光を検出したものであり、また出力
Ａ2 は出力Ｂ2 と同一の干渉領域における反射光を検出
したものであるときに、差動手段が、上記数１の演算を
行う構成としたことを特徴としている。
２つの受光素子のそれぞれの出力をＡ1 ，Ａ2 とし、第
２の受光手段を成す２つの受光素子のそれぞれの出力を
Ｂ1，Ｂ2 とし、しかも出力Ａ1 は出力Ｂ1 と同一の干
渉領域における反射光を検出したものであり、また出力
Ａ2 は出力Ｂ2 と同一の干渉領域における反射光を検出
したものであるときに、差動手段が、上記数１の演算を
行う構成としたことを特徴としている。
【００１１】
【００１２】
【００１３】
【００１４】
【００１５】
【作用】請求項１の発明において、照射手段は、対物レ
ンズによって集束されたレーザービームを光ディスク媒
体に形成された情報トラックに照射する。第１の受光手
段は、遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直
進光と情報トラックによる１次回折光との干渉領域内の
しかもその干渉領域より小さい小領域内の反射光成分を
検出する。第２の受光手段は、小領域を除く干渉領域の
反射光を検出する。差動手段は、第１の受光手段による
受光量と第２の受光手段による受光量との差を演算す
る。
ンズによって集束されたレーザービームを光ディスク媒
体に形成された情報トラックに照射する。第１の受光手
段は、遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直
進光と情報トラックによる１次回折光との干渉領域内の
しかもその干渉領域より小さい小領域内の反射光成分を
検出する。第２の受光手段は、小領域を除く干渉領域の
反射光を検出する。差動手段は、第１の受光手段による
受光量と第２の受光手段による受光量との差を演算す
る。
【００１６】請求項２の発明において、光学素子は、遠
視野における反射光の光軸上に設けられ、小領域を通過
する反射光を第１の受光手段へ導く。請求項３の発明に
おいて、２つの受光素子から成る第２の受光手段は、反
射光の光軸を中心に対称に設けられており、２つの受光
素子から成る第１の受光手段は、第２の受光手段の両側
に設けられている。
視野における反射光の光軸上に設けられ、小領域を通過
する反射光を第１の受光手段へ導く。請求項３の発明に
おいて、２つの受光素子から成る第２の受光手段は、反
射光の光軸を中心に対称に設けられており、２つの受光
素子から成る第１の受光手段は、第２の受光手段の両側
に設けられている。
【００１７】請求項４の発明において、差動手段は、第
１の受光手段を成す２つの受光素子のそれぞれの出力を
Ａ1 ，Ａ2 とし、第２の受光手段を成す２つの受光素子
のそれぞれの出力をＢ1 ，Ｂ2 とし、しかも出力Ａ1 は
出力Ｂ1 と同一の干渉領域における反射光を検出したも
のであり、また出力Ａ2 は出力Ｂ2 と同一の干渉領域に
おける反射光を検出したものであるときに、上記数１の
演算を行う。
１の受光手段を成す２つの受光素子のそれぞれの出力を
Ａ1 ，Ａ2 とし、第２の受光手段を成す２つの受光素子
のそれぞれの出力をＢ1 ，Ｂ2 とし、しかも出力Ａ1 は
出力Ｂ1 と同一の干渉領域における反射光を検出したも
のであり、また出力Ａ2 は出力Ｂ2 と同一の干渉領域に
おける反射光を検出したものであるときに、上記数１の
演算を行う。
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【００２１】
【００２２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。 （実施例１）図１は本発明の実施例１におけるディスク
チルト検出装置の構成図で、このディスクチルト検出装
置は、対物レンズ２と、受光レンズ３と、分波素子４
と、受光素子５ａ，５ｂ，６ａ，６ｂと、加算アンプ
７，８と、差動アンプ９とを備えている。なお、対物レ
ンズ２によって集束されたレーザービームを光ディスク
媒体１に形成された情報トラック１ａに照射する照射手
段は、周知の構成であるので図示していない。光ディス
ク媒体１の記録面上には、情報トラック１ａが形成され
ている。分波素子４は、平板基材上に微小プリズム４
ａ，４ｂを形成したものであり、遠視野におけるレーザ
ービームの反射光の光軸上に設けられ、遠視野における
レーザービームの反射光の反射直進光と情報トラック１
ａによる１次回折光との干渉領域内のしかもその干渉領
域より小さい小領域を通過する反射光を受光素子６ａ，
６ｂへ導く偏向機能を有した光学素子を構成している。
受光素子５ａ，５ｂは、レーザービームの反射光の光軸
を中心に、光ディスク媒体１の半径方向に沿って対称に
設けられており、上記小領域を除く干渉領域の反射光を
検出する第２の受光手段を構成している。受光素子６
ａ，６ｂは、受光素子５ａ，５ｂの両側に、光ディスク
媒体１の半径方向に所定間隔をあけて設けられており、
上記小領域内の反射光を検出する第１の受光手段を構成
している。加算アンプ７，８と差動アンプ９とは、受光
素子６ａ，６ｂによる受光量と受光素子５ａ，５ｂによ
る受光量との差を演算する差動手段を構成しており、受
光素子６ａ，６ｂのそれぞれの出力をＡ1 ，Ａ2 とし、
受光素子５ａ，５ｂのそれぞれの出力をＢ1 ，Ｂ2 と
し、しかも出力Ａ1 は出力Ｂ1 と同一の干渉領域におけ
る反射光を検出したものであり、また出力Ａ2 は出力Ｂ
2 と同一の干渉領域における反射光を検出したものであ
るときに、下記数２の演算を行う。
説明する。 （実施例１）図１は本発明の実施例１におけるディスク
チルト検出装置の構成図で、このディスクチルト検出装
置は、対物レンズ２と、受光レンズ３と、分波素子４
と、受光素子５ａ，５ｂ，６ａ，６ｂと、加算アンプ
７，８と、差動アンプ９とを備えている。なお、対物レ
ンズ２によって集束されたレーザービームを光ディスク
媒体１に形成された情報トラック１ａに照射する照射手
段は、周知の構成であるので図示していない。光ディス
ク媒体１の記録面上には、情報トラック１ａが形成され
ている。分波素子４は、平板基材上に微小プリズム４
ａ，４ｂを形成したものであり、遠視野におけるレーザ
ービームの反射光の光軸上に設けられ、遠視野における
レーザービームの反射光の反射直進光と情報トラック１
ａによる１次回折光との干渉領域内のしかもその干渉領
域より小さい小領域を通過する反射光を受光素子６ａ，
６ｂへ導く偏向機能を有した光学素子を構成している。
受光素子５ａ，５ｂは、レーザービームの反射光の光軸
を中心に、光ディスク媒体１の半径方向に沿って対称に
設けられており、上記小領域を除く干渉領域の反射光を
検出する第２の受光手段を構成している。受光素子６
ａ，６ｂは、受光素子５ａ，５ｂの両側に、光ディスク
媒体１の半径方向に所定間隔をあけて設けられており、
上記小領域内の反射光を検出する第１の受光手段を構成
している。加算アンプ７，８と差動アンプ９とは、受光
素子６ａ，６ｂによる受光量と受光素子５ａ，５ｂによ
る受光量との差を演算する差動手段を構成しており、受
光素子６ａ，６ｂのそれぞれの出力をＡ1 ，Ａ2 とし、
受光素子５ａ，５ｂのそれぞれの出力をＢ1 ，Ｂ2 と
し、しかも出力Ａ1 は出力Ｂ1 と同一の干渉領域におけ
る反射光を検出したものであり、また出力Ａ2 は出力Ｂ
2 と同一の干渉領域における反射光を検出したものであ
るときに、下記数２の演算を行う。
【００２３】
【数２】
【００２４】次に動作を説明する。いま、対物レンズ２
にはレーザー発光源（図示せず）からのレーザービーム
が入射し、光ディスク媒体１の情報トラック１ａ上に集
光しているものとする。このときの反射光は再び対物レ
ンズ２を経て、レーザービームが十分発散した領域であ
る遠視野領域において受光レンズ３および分波素子４を
通過する。そして分波素子４が、微小プリズム４ａ，４
ｂの形成されている領域を通過した光を受光素子６ａ，
６ｂに振り分け、残りを直進させて受光素子５ａ，５ｂ
に入射させる。
にはレーザー発光源（図示せず）からのレーザービーム
が入射し、光ディスク媒体１の情報トラック１ａ上に集
光しているものとする。このときの反射光は再び対物レ
ンズ２を経て、レーザービームが十分発散した領域であ
る遠視野領域において受光レンズ３および分波素子４を
通過する。そして分波素子４が、微小プリズム４ａ，４
ｂの形成されている領域を通過した光を受光素子６ａ，
６ｂに振り分け、残りを直進させて受光素子５ａ，５ｂ
に入射させる。
【００２５】ここで、遠視野における光ディスク媒体１
の反射光の強度分布は、ディスクチルトが無い場合、図
２の（Ａ）に示すように、レーザービームが情報トラッ
ク１ａ上で反射すると、トラックエッジによる散乱作用
により、直進光である０次光が生じると共に、その両側
にそれぞれ１次回折光である＋１次光および−１次光が
生じる。遠視野領域においてこれらは互いに干渉しあ
い、図２の（Ａ）に斜線で示すような模様を作る。つま
り、対物レンズ２により集束されたレーザービームが情
報トラック１ａのほぼ中心線を照射している場合、１次
回折光は０次光に対して一定の位相差を有す性質があ
る。従って、遠視野領域における干渉領域ではこの両者
がベクトル加算され、非干渉領域に対してほぼ均等に強
度が低下あるいは増加することとなる。一方、ディスク
チルトがある場合、レーザービームに波面収差すなわち
コマ収差が発生する。収差とは、同一波面内における位
相差の不均一分布を意味し、これがあると上記干渉領域
における０次および＋１次ならびに−１次光の位相差も
不均一となり、その結果図２の（Ｂ）あるいは（Ｃ）に
示すような不均一強度分布が干渉領域内に生じる。図２
の（Ｂ）は対物レンズ２の光軸が相対的に光ディスク媒
体１の半径方向すなわち情報トラック１ａに対して垂直
（ラジアル）方向にθ傾斜した場合を示し、図２の
（Ｃ）はラジアル方向に−θ傾斜した場合を示してい
る。そこで、干渉領域内の小領域と、干渉領域の他の部
分との差をとればこの収差、すなわちチルトの量と方向
とを検出することができる。
の反射光の強度分布は、ディスクチルトが無い場合、図
２の（Ａ）に示すように、レーザービームが情報トラッ
ク１ａ上で反射すると、トラックエッジによる散乱作用
により、直進光である０次光が生じると共に、その両側
にそれぞれ１次回折光である＋１次光および−１次光が
生じる。遠視野領域においてこれらは互いに干渉しあ
い、図２の（Ａ）に斜線で示すような模様を作る。つま
り、対物レンズ２により集束されたレーザービームが情
報トラック１ａのほぼ中心線を照射している場合、１次
回折光は０次光に対して一定の位相差を有す性質があ
る。従って、遠視野領域における干渉領域ではこの両者
がベクトル加算され、非干渉領域に対してほぼ均等に強
度が低下あるいは増加することとなる。一方、ディスク
チルトがある場合、レーザービームに波面収差すなわち
コマ収差が発生する。収差とは、同一波面内における位
相差の不均一分布を意味し、これがあると上記干渉領域
における０次および＋１次ならびに−１次光の位相差も
不均一となり、その結果図２の（Ｂ）あるいは（Ｃ）に
示すような不均一強度分布が干渉領域内に生じる。図２
の（Ｂ）は対物レンズ２の光軸が相対的に光ディスク媒
体１の半径方向すなわち情報トラック１ａに対して垂直
（ラジアル）方向にθ傾斜した場合を示し、図２の
（Ｃ）はラジアル方向に−θ傾斜した場合を示してい
る。そこで、干渉領域内の小領域と、干渉領域の他の部
分との差をとればこの収差、すなわちチルトの量と方向
とを検出することができる。
【００２６】上記小領域部分を通過する反射光は、分波
素子４に形成された微小プリズム４ａ，４ｂによってそ
れぞれ受光素子６ａ，６ｂに振り分けられ、残りは受光
素子５ａ，５ｂに振り分けられる。これら微小プリズム
４ａ，４ｂは、ガラスを加工したものであってもよい
し、ホログラム素子のようなものであってもよい。従っ
て、受光素子６ａ，６ｂの出力信号をＡ1 ，Ａ2 とし、
受光素子５ａ，５ｂの出力信号をＢ1 ，Ｂ2 とすれば、
加算アンプ７，８および差動アンプ９が、上記数２を演
算して検出チルト量に対応するラジアルチルト検出信号
Ｔrad を出力する。
素子４に形成された微小プリズム４ａ，４ｂによってそ
れぞれ受光素子６ａ，６ｂに振り分けられ、残りは受光
素子５ａ，５ｂに振り分けられる。これら微小プリズム
４ａ，４ｂは、ガラスを加工したものであってもよい
し、ホログラム素子のようなものであってもよい。従っ
て、受光素子６ａ，６ｂの出力信号をＡ1 ，Ａ2 とし、
受光素子５ａ，５ｂの出力信号をＢ1 ，Ｂ2 とすれば、
加算アンプ７，８および差動アンプ９が、上記数２を演
算して検出チルト量に対応するラジアルチルト検出信号
Ｔrad を出力する。
【００２７】このように、０次光と１次光または−１次
光との干渉領域内の小領域と他の干渉領域とにおける検
出信号の差を求めることにより、ディスクチルトを高精
度にしかも光ピックアップ上に特別なセンサーを設ける
ことなく検出することができる。すなわち、図７に示す
従来装置では、受光素子３５ａ，３５ｂのＳ／Ｎやオフ
セットから考えて０．１°のチルトを正確に検出するこ
とは困難である。一方本実施例では、０．１°程度のチ
ルトでも上記波面収差は位相差にして数１０°程度発生
し、反射光強度分布を顕著に変える。
光との干渉領域内の小領域と他の干渉領域とにおける検
出信号の差を求めることにより、ディスクチルトを高精
度にしかも光ピックアップ上に特別なセンサーを設ける
ことなく検出することができる。すなわち、図７に示す
従来装置では、受光素子３５ａ，３５ｂのＳ／Ｎやオフ
セットから考えて０．１°のチルトを正確に検出するこ
とは困難である。一方本実施例では、０．１°程度のチ
ルトでも上記波面収差は位相差にして数１０°程度発生
し、反射光強度分布を顕著に変える。
【００２８】さらに本実施例では従来例のような光学セ
ンサー３２を光ピックアップ３１に設ける必要がなく、
図１に示した要素を光ピックアップ内に取り込むことが
可能である。このとき、受光素子５ａ，５ｂおよび受光
素子６ａ，６ｂからなる受光素子群の出力を用いて、下
記数３および数４を演算することにより、再生信号ＲＦ
やトラッキング誤差信号ＴＥを同時に検出することがで
きる。
ンサー３２を光ピックアップ３１に設ける必要がなく、
図１に示した要素を光ピックアップ内に取り込むことが
可能である。このとき、受光素子５ａ，５ｂおよび受光
素子６ａ，６ｂからなる受光素子群の出力を用いて、下
記数３および数４を演算することにより、再生信号ＲＦ
やトラッキング誤差信号ＴＥを同時に検出することがで
きる。
【００２９】
【数３】
【００３０】
【数４】
【００３１】（実施例２）上記実施例１のディスクチル
ト検出装置が有効に動作するのは、先述のようにラジア
ル方向のチルトであるため、トラック接線方向のチルト
すなわちタンジェンシャルチルトを検出する他のディス
クチルト検出装置と併用する必要がある。そこで実施例
２では、タンジェンシャルチルトを高精度に検出するデ
ィスクチルト検出装置について説明する。
ト検出装置が有効に動作するのは、先述のようにラジア
ル方向のチルトであるため、トラック接線方向のチルト
すなわちタンジェンシャルチルトを検出する他のディス
クチルト検出装置と併用する必要がある。そこで実施例
２では、タンジェンシャルチルトを高精度に検出するデ
ィスクチルト検出装置について説明する。
【００３２】図３は本発明の実施例２におけるディスク
チルト検出装置の構成図で、このディスクチルト検出装
置は、対物レンズ１２と、受光素子１３ａ，１３ｂと、
差動アンプ１４と、極大値検出回路１５と、極小値検出
回路１６と、差動アンプ１７とを備えている。なお、回
転する光ディスク媒体１１に形成された情報マーク１１
ａに対物レンズ１２によって集束されたレーザービーム
を照射する照射手段は、周知であるので図示を省略す
る。光ディスク媒体１１の記録面上には、破線で示す情
報トラックに沿って情報マーク１１ａが記録されてい
る。受光素子１３ａ，１３ｂは、光ディスク媒体１１の
回転接線すなわちタンジェンシャル方向に互いに隣接し
て配置されている。差動アンプ１４は、受光素子１３
ａ，１３ｂの出力の差動演算を実行する第２の差動手段
を構成している。受光素子１３ａ，１３ｂと差動アンプ
１４とにより、レーザービームの反射光の光量変化の微
分値を出力する微分手段を構成している。極大値検出回
路１５は、微分手段の出力すなわち差動アンプ１４の出
力の極大値をサンプルホールドする極大値検出手段を構
成している。極小値検出回路１６は、微分手段の出力す
なわち差動アンプ１４の出力の極小値をサンプルホール
ドする極小値検出手段を構成している。差動アンプ１７
は、極大値検出手段すなわち極大値検出回路１５の出力
と極小値検出手段すなわち極小値検出回路１６の出力と
の差を演算する第１の差動手段を構成している。
チルト検出装置の構成図で、このディスクチルト検出装
置は、対物レンズ１２と、受光素子１３ａ，１３ｂと、
差動アンプ１４と、極大値検出回路１５と、極小値検出
回路１６と、差動アンプ１７とを備えている。なお、回
転する光ディスク媒体１１に形成された情報マーク１１
ａに対物レンズ１２によって集束されたレーザービーム
を照射する照射手段は、周知であるので図示を省略す
る。光ディスク媒体１１の記録面上には、破線で示す情
報トラックに沿って情報マーク１１ａが記録されてい
る。受光素子１３ａ，１３ｂは、光ディスク媒体１１の
回転接線すなわちタンジェンシャル方向に互いに隣接し
て配置されている。差動アンプ１４は、受光素子１３
ａ，１３ｂの出力の差動演算を実行する第２の差動手段
を構成している。受光素子１３ａ，１３ｂと差動アンプ
１４とにより、レーザービームの反射光の光量変化の微
分値を出力する微分手段を構成している。極大値検出回
路１５は、微分手段の出力すなわち差動アンプ１４の出
力の極大値をサンプルホールドする極大値検出手段を構
成している。極小値検出回路１６は、微分手段の出力す
なわち差動アンプ１４の出力の極小値をサンプルホール
ドする極小値検出手段を構成している。差動アンプ１７
は、極大値検出手段すなわち極大値検出回路１５の出力
と極小値検出手段すなわち極小値検出回路１６の出力と
の差を演算する第１の差動手段を構成している。
【００３３】次に動作を説明する。受光素子１３ａ，１
３ｂならびに差動アンプ１４は、対物レンズ１２の出射
ビームが情報マーク１１ａを走査した際に得られる反射
光検出信号の微分を実行する微分器として動作する。す
なわちチルトが無い場合、図４の（Ａ）に示すように、
情報マーク１１ａを走査したときの検出光量すなわち受
光素子１３ａ，１３ｂの和出力の変化は、出射ビームが
情報マーク１１ａの中央に位置するときに最大値をとる
前後対称な波形になる。差動アンプ１４からはこれを微
分した波形が得られる。これは図４の（Ａ）に示される
ような極大、極小値が等振幅なＳ次波形となる。ここで
タンジェンシャル方向の正方向あるいは負方向にチルト
が発生すると、これに起因するコマ収差のために、図４
の（Ｂ）に実線あるいは破線で示すように、検出光量は
前後に歪む。このときの微分波形は図４の（Ｂ）に示す
ように極大、極小値がそれぞれアンバランスになる。
３ｂならびに差動アンプ１４は、対物レンズ１２の出射
ビームが情報マーク１１ａを走査した際に得られる反射
光検出信号の微分を実行する微分器として動作する。す
なわちチルトが無い場合、図４の（Ａ）に示すように、
情報マーク１１ａを走査したときの検出光量すなわち受
光素子１３ａ，１３ｂの和出力の変化は、出射ビームが
情報マーク１１ａの中央に位置するときに最大値をとる
前後対称な波形になる。差動アンプ１４からはこれを微
分した波形が得られる。これは図４の（Ａ）に示される
ような極大、極小値が等振幅なＳ次波形となる。ここで
タンジェンシャル方向の正方向あるいは負方向にチルト
が発生すると、これに起因するコマ収差のために、図４
の（Ｂ）に実線あるいは破線で示すように、検出光量は
前後に歪む。このときの微分波形は図４の（Ｂ）に示す
ように極大、極小値がそれぞれアンバランスになる。
【００３４】そこでこの極大値および極小値をそれぞれ
極大値検出回路１５および極小値検出回路１６でサンプ
ルホールドし、さらに差動アンプ１７で両者の差を演算
する。かくして差動アンプ１７の出力に、チルト０°で
０となり、チルトの方向および量に応じて正負に適量変
化するタンジェンシャルチルト検出信号Ｔtan が得られ
る。
極大値検出回路１５および極小値検出回路１６でサンプ
ルホールドし、さらに差動アンプ１７で両者の差を演算
する。かくして差動アンプ１７の出力に、チルト０°で
０となり、チルトの方向および量に応じて正負に適量変
化するタンジェンシャルチルト検出信号Ｔtan が得られ
る。
【００３５】このように、タンジェンシャル方向のチル
トを簡易な光学系で検出することができる。なお上記実
施例２では、微分手段として受光素子１３ａ，１３ｂと
差動アンプ１４とを用い、受光素子１３ａ，１３ｂの出
力を差動アンプ１４により差動演算するように構成した
が、微分手段を、単一受光素子の出力を電気的に微分す
る構成としてもよい。ただしこのように電気的に微分す
る構成の場合、Ｓ／Ｎが悪くなることが考えられる。 （実施例３）上記実施例１ではラジアル成分のチルト検
出を行うディスクチルト検出装置について説明し、上記
実施例２ではタンジェンシャル成分のチルト検出を行う
ディスクチルト検出装置について説明したが、実施例１
のディスクチルト検出装置における受光素子５ａ，５ｂ
をそれぞれ２分割するだけで、ラジアル成分のチルト検
出とタンジェンシャル成分のチルト検出との双方を行え
るディスクチルト検出装置を実現できる。実施例３のデ
ィスクチルト検出装置は、このようなラジアル成分のチ
ルト検出とタンジェンシャル成分のチルト検出との双方
を行えるディスクチルト検出装置であり、図５のよう
に、図１の受光素子５ａの代わりに受光素子５ａ1 ，５
ａ2 を設け、受光素子５ｂの代わりに受光素子５ｂ1 ，
５ｂ2 を設けたものである。他の構成は図１に示すディ
スクチルト検出装置と同じであるので図示を省略する。
ただし、図３に示すディスクチルト検出装置の差動アン
プ１４や極大値検出回路１５や極小値検出回路１６や差
動アンプ１７などを図１に示すディスクチルト検出装置
に加える必要がある。
トを簡易な光学系で検出することができる。なお上記実
施例２では、微分手段として受光素子１３ａ，１３ｂと
差動アンプ１４とを用い、受光素子１３ａ，１３ｂの出
力を差動アンプ１４により差動演算するように構成した
が、微分手段を、単一受光素子の出力を電気的に微分す
る構成としてもよい。ただしこのように電気的に微分す
る構成の場合、Ｓ／Ｎが悪くなることが考えられる。 （実施例３）上記実施例１ではラジアル成分のチルト検
出を行うディスクチルト検出装置について説明し、上記
実施例２ではタンジェンシャル成分のチルト検出を行う
ディスクチルト検出装置について説明したが、実施例１
のディスクチルト検出装置における受光素子５ａ，５ｂ
をそれぞれ２分割するだけで、ラジアル成分のチルト検
出とタンジェンシャル成分のチルト検出との双方を行え
るディスクチルト検出装置を実現できる。実施例３のデ
ィスクチルト検出装置は、このようなラジアル成分のチ
ルト検出とタンジェンシャル成分のチルト検出との双方
を行えるディスクチルト検出装置であり、図５のよう
に、図１の受光素子５ａの代わりに受光素子５ａ1 ，５
ａ2 を設け、受光素子５ｂの代わりに受光素子５ｂ1 ，
５ｂ2 を設けたものである。他の構成は図１に示すディ
スクチルト検出装置と同じであるので図示を省略する。
ただし、図３に示すディスクチルト検出装置の差動アン
プ１４や極大値検出回路１５や極小値検出回路１６や差
動アンプ１７などを図１に示すディスクチルト検出装置
に加える必要がある。
【００３６】次に動作を説明する。受光素子５ａ1 と受
光素子５ａ2 との出力を加算すれば、図１の受光素子５
ａと等価になり、受光素子５ｂ1 と受光素子５ｂ2 との
出力を加算すれば、図１の受光素子５ｂと等価になる。
また、受光素子５ａ1 と受光素子５ｂ1 との出力を加算
すれば、図３の受光素子１３ａと等価になり、受光素子
５ａ2 と受光素子５ｂ2 との出力を加算すれば、図３の
受光素子１３ｂと等価になる。したがって、これらの加
算に必要な加算アンプと、図３のディスクチルト検出装
置の電気系の構成要素とを、図１のディスクチルト検出
装置に加えることにより、ラジアル成分のチルト検出と
タンジェンシャル成分のチルト検出との双方を行えるデ
ィスクチルト検出装置を実現できる。 （実施例４）上記ディスクチルト検出装置からの検出信
号をフィードバック系に入れ、チルトを補正するために
は、ディスクチルト補正装置が必要である。したがって
このようなディスクチルト補正装置について説明する。
光素子５ａ2 との出力を加算すれば、図１の受光素子５
ａと等価になり、受光素子５ｂ1 と受光素子５ｂ2 との
出力を加算すれば、図１の受光素子５ｂと等価になる。
また、受光素子５ａ1 と受光素子５ｂ1 との出力を加算
すれば、図３の受光素子１３ａと等価になり、受光素子
５ａ2 と受光素子５ｂ2 との出力を加算すれば、図３の
受光素子１３ｂと等価になる。したがって、これらの加
算に必要な加算アンプと、図３のディスクチルト検出装
置の電気系の構成要素とを、図１のディスクチルト検出
装置に加えることにより、ラジアル成分のチルト検出と
タンジェンシャル成分のチルト検出との双方を行えるデ
ィスクチルト検出装置を実現できる。 （実施例４）上記ディスクチルト検出装置からの検出信
号をフィードバック系に入れ、チルトを補正するために
は、ディスクチルト補正装置が必要である。したがって
このようなディスクチルト補正装置について説明する。
【００３７】図６は本発明の実施例４におけるディスク
チルト補正装置の構成図で、このディスクチルト補正装
置は、対物レンズ２１と、コマ収差レンズ２２，２３
と、回転装置２４，２５と、変換回路２６とを備えてい
る。レーザー発光源２０および対物レンズ２１は、図外
の光ディスク媒体上に集光レーザービームを照射する。
コマ収差レンズ２２，２３は、互いに同等のコマ収差を
有しており、集光レーザービームの光軸上に設置されて
いる。回転装置２４，２５は、コマ収差レンズ２２，２
３をそれぞれ互いに同方向および逆方向に集光レーザー
ビームの光軸を中心として回転させる。変換回路２６
は、ラジアルチルト検出信号Ｔrad およびタンジェンシ
ャルチルト検出信号Ｔtan に基づいて、同方向回転信号
φを作出して回転装置２４に供給し、また逆方向回転信
号ψを作出して回転装置２５に供給する。
チルト補正装置の構成図で、このディスクチルト補正装
置は、対物レンズ２１と、コマ収差レンズ２２，２３
と、回転装置２４，２５と、変換回路２６とを備えてい
る。レーザー発光源２０および対物レンズ２１は、図外
の光ディスク媒体上に集光レーザービームを照射する。
コマ収差レンズ２２，２３は、互いに同等のコマ収差を
有しており、集光レーザービームの光軸上に設置されて
いる。回転装置２４，２５は、コマ収差レンズ２２，２
３をそれぞれ互いに同方向および逆方向に集光レーザー
ビームの光軸を中心として回転させる。変換回路２６
は、ラジアルチルト検出信号Ｔrad およびタンジェンシ
ャルチルト検出信号Ｔtan に基づいて、同方向回転信号
φを作出して回転装置２４に供給し、また逆方向回転信
号ψを作出して回転装置２５に供給する。
【００３８】次に動作を説明する。いま、コマ収差レン
ズ２２，２３は、ある基準軸に対して下記数５で表され
るコマ収差を有しているものとする。この収差関数は極
座標表示されていて、ｒはレンズ光軸からの半径、θは
方位角を表す。ｗは係数である。こういったコマ収差レ
ンズ２２，２３は、実際にこういった形状の入射面を持
ったレンズでも実現できるし、また通常の凹あるいは凸
レンズを光軸に沿って傾けたものでも実現でき、さらに
はホログラム素子のようなものであってもよい。ここ
で、コマ収差レンズ２２，２３が上記基準軸に対して同
方向にφ、互いに逆方向にψ回転したとすると、両者の
合成収差Ｗｓは下記数６のようになる。これより明かな
ように、逆方向回転角ψは係数項となり、収差係数を０
〜２ｗまで可変にすることができる。また同方向回転角
φによって、収差を基準軸に対して回転することができ
る。
ズ２２，２３は、ある基準軸に対して下記数５で表され
るコマ収差を有しているものとする。この収差関数は極
座標表示されていて、ｒはレンズ光軸からの半径、θは
方位角を表す。ｗは係数である。こういったコマ収差レ
ンズ２２，２３は、実際にこういった形状の入射面を持
ったレンズでも実現できるし、また通常の凹あるいは凸
レンズを光軸に沿って傾けたものでも実現でき、さらに
はホログラム素子のようなものであってもよい。ここ
で、コマ収差レンズ２２，２３が上記基準軸に対して同
方向にφ、互いに逆方向にψ回転したとすると、両者の
合成収差Ｗｓは下記数６のようになる。これより明かな
ように、逆方向回転角ψは係数項となり、収差係数を０
〜２ｗまで可変にすることができる。また同方向回転角
φによって、収差を基準軸に対して回転することができ
る。
【００３９】
【数５】
【００４０】
【数６】
【００４１】そこで変換回路２６が、ディスクチルト検
出装置からのラジアルチルト検出信号Ｔrad およびタン
ジェンシャルチルト検出信号Ｔtan に基づいて、同方向
回転角φおよび逆方向回転角ψを演算する。すなわち両
チルト成分は互いに直交しているので、これらよりコマ
収差の方向が下記数７のように計算され、これをφとす
る。また収差の絶対値は下記数８により得られるから、
これに適当な負符号の係数を掛けてψとする。このよう
に求めたφ，ψになるようコマ収差レンズ２２，２３を
光軸中心に回転すれば、チルトによって生じるコマ収差
を相殺することができ、その結果、実質的にチルトが補
正できることとなる。
出装置からのラジアルチルト検出信号Ｔrad およびタン
ジェンシャルチルト検出信号Ｔtan に基づいて、同方向
回転角φおよび逆方向回転角ψを演算する。すなわち両
チルト成分は互いに直交しているので、これらよりコマ
収差の方向が下記数７のように計算され、これをφとす
る。また収差の絶対値は下記数８により得られるから、
これに適当な負符号の係数を掛けてψとする。このよう
に求めたφ，ψになるようコマ収差レンズ２２，２３を
光軸中心に回転すれば、チルトによって生じるコマ収差
を相殺することができ、その結果、実質的にチルトが補
正できることとなる。
【００４２】
【数７】
【００４３】
【数８】
【００４４】このように、ラジアル方向およびタンジェ
ンシャル方向に生じたチルトを実質的に補正することが
できる。また従来のように光ピックアップ全体を傾斜ス
テージで傾けるというような大掛かりな装置でないの
で、応答性に優れている。
ンシャル方向に生じたチルトを実質的に補正することが
できる。また従来のように光ピックアップ全体を傾斜ス
テージで傾けるというような大掛かりな装置でないの
で、応答性に優れている。
【００４５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、対
物レンズによって集束されたレーザービームを光ディス
ク媒体に形成された情報トラックに照射する照射手段
と、遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直進
光と情報トラックによる１次回折光との干渉領域内のし
かもその干渉領域より小さい小領域内の反射光を検出す
る第１の受光手段と、小領域を除く干渉領域の反射光を
検出する第２の受光手段と、第１の受光手段による受光
量と第２の受光手段による受光量との差を演算する差動
手段と、を備えたので、情報トラック遠視野像の０次、
１次光干渉領域内の小領域における検出光と、それ以外
の干渉領域内の検出光の差から、ラジアルチルトを検出
することから、ラジアル方向のチルトを高精度にしかも
光ピックアップ上に特別なセンサーを設けることなく検
出することができる。
物レンズによって集束されたレーザービームを光ディス
ク媒体に形成された情報トラックに照射する照射手段
と、遠視野におけるレーザービームの反射光の反射直進
光と情報トラックによる１次回折光との干渉領域内のし
かもその干渉領域より小さい小領域内の反射光を検出す
る第１の受光手段と、小領域を除く干渉領域の反射光を
検出する第２の受光手段と、第１の受光手段による受光
量と第２の受光手段による受光量との差を演算する差動
手段と、を備えたので、情報トラック遠視野像の０次、
１次光干渉領域内の小領域における検出光と、それ以外
の干渉領域内の検出光の差から、ラジアルチルトを検出
することから、ラジアル方向のチルトを高精度にしかも
光ピックアップ上に特別なセンサーを設けることなく検
出することができる。
【００４６】また、回転する光ディスク媒体に形成され
た情報マークに対物レンズによって集束されたレーザー
ビームを照射する照射手段と、レーザービームの反射光
の光量変化の微分値を出力する微分手段と、微分手段の
出力の極大値をサンプルホールドする極大値検出手段
と、微分手段の出力の極小値をサンプルホールドする極
小値検出手段と、極大値検出手段の出力と極小値検出手
段の出力との差を演算する第１の差動手段と、を備えれ
ば、情報マーク検出信号を微分したものの極大値と極小
値との差からタンジェンシャルチルトを検出することか
ら、タンジェンシャル方向のチルトを簡易な光学系で検
出することができる。
た情報マークに対物レンズによって集束されたレーザー
ビームを照射する照射手段と、レーザービームの反射光
の光量変化の微分値を出力する微分手段と、微分手段の
出力の極大値をサンプルホールドする極大値検出手段
と、微分手段の出力の極小値をサンプルホールドする極
小値検出手段と、極大値検出手段の出力と極小値検出手
段の出力との差を演算する第１の差動手段と、を備えれ
ば、情報マーク検出信号を微分したものの極大値と極小
値との差からタンジェンシャルチルトを検出することか
ら、タンジェンシャル方向のチルトを簡易な光学系で検
出することができる。
【００４７】また、同等のコマ収差を有する第１の光学
素子と第２の光学素子とを、発光手段から光ディスク媒
体に至る同一の光軸を中心に回転可能に設ければ、例え
ばコマ収差特性を持つ２枚のレンズを互いに同方向、逆
方向に回転させることによって、ラジアル・タンジェン
シャルチルトを補正することができることから、従来の
ように光ピックアップ全体を傾斜ステージで傾けるとい
うような大掛かりな装置を必要とせず、応答性に優れて
いる。
素子と第２の光学素子とを、発光手段から光ディスク媒
体に至る同一の光軸を中心に回転可能に設ければ、例え
ばコマ収差特性を持つ２枚のレンズを互いに同方向、逆
方向に回転させることによって、ラジアル・タンジェン
シャルチルトを補正することができることから、従来の
ように光ピックアップ全体を傾斜ステージで傾けるとい
うような大掛かりな装置を必要とせず、応答性に優れて
いる。
【図１】本発明の実施例１におけるディスクチルト検出
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図２】遠視野における光ディスク媒体の反射光の強度
分布の説明図である。
分布の説明図である。
【図３】本発明の実施例２におけるディスクチルト検出
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図４】光ディスク媒体の反射光の光量およびその微分
信号の説明図である。
信号の説明図である。
【図５】本発明の実施例３におけるディスクチルト検出
装置に備えられた受光素子の配置説明図である。
装置に備えられた受光素子の配置説明図である。
【図６】本発明の実施例４におけるディスクチルト補正
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図７】従来のディスクチルト検出装置の構成図であ
る。
る。
１ 光ディスク媒体 １ａ 情報トラック ２ 対物レンズ ３ 受光レンズ ４ 分波素子 ４ａ 微小プリズム ４ｂ 微小プリズム ５ａ 受光素子 ５ｂ 受光素子 ５ａ1 受光素子 ５ａ2 受光素子 ５ｂ1 受光素子 ５ｂ2 受光素子 ６ａ 受光素子 ６ｂ 受光素子 ７ 加算アンプ ８ 加算アンプ ９ 差動アンプ １１ 光ディスク媒体 １１ａ 情報マーク １２ 対物レンズ １３ａ 受光素子 １３ｂ 受光素子 １４ 差動アンプ １５ 極大値検出回路 １６ 極小値検出回路 １７ 差動アンプ ２０ レーザー発光源 ２１ 対物レンズ ２２ コマ収差レンズ ２３ コマ収差レンズ ２４ 回転装置 ２５ 回転装置 ２６ 変換回路
Claims (4)
- 【請求項１】 対物レンズによって集束されたレーザー
ビームを光ディスク媒体に形成された情報トラックに照
射する照射手段と、 遠視野における前記レーザービームの反射光の反射直進
光と前記情報トラックによる１次回折光との干渉領域内
のしかもその干渉領域より小さい小領域内の反射光を検
出する第１の受光手段と、 前記小領域を除く前記干渉領域の反射光を検出する第２
の受光手段と、 前記第１の受光手段による受光量と前記第２の受光手段
による受光量との差を演算する差動手段と、 を備えたことを特徴とするディスクチルト検出装置。 - 【請求項２】 小領域を通過する反射光を第１の受光手
段へ導く偏向機能を有した光学素子を遠視野における反
射光の光軸上に設けたことを特徴とする請求項１に記載
のディスクチルト検出装置。 - 【請求項３】 第２の受光手段は、反射光の光軸を中心
に対称に設けられた２つの受光素子から成り、第１の受
光手段は、前記第２の受光手段の両側に設けられた２つ
の受光素子から成る構成としたことを特徴とする請求項
１に記載のディスクチルト検出装置。 - 【請求項４】 第１の受光手段を成す２つの受光素子の
それぞれの出力をＡ1 ，Ａ2 とし、第２の受光手段を成
す２つの受光素子のそれぞれの出力をＢ1 ，Ｂ2 とし、
しかも出力Ａ1 は出力Ｂ1 と同一の干渉領域における反
射光を検出したものであり、また出力Ａ2 は出力Ｂ2 と
同一の干渉領域における反射光を検出したものであると
きに、差動手段が、下記数１の演算を行う構成としたこ
とを特徴とする請求項３に記載のディスクチルト検出装
置。 【数１】
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28705993A JP3161891B2 (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置 |
| US08/340,262 US5523989A (en) | 1993-11-16 | 1994-11-15 | Optical disk drive having functions of detecting disk tilt from difrraction pattern of track and compensating disk tilt with use of comatic lenses |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28705993A JP3161891B2 (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000345828A Division JP3431595B2 (ja) | 2000-11-13 | 2000-11-13 | ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07141673A JPH07141673A (ja) | 1995-06-02 |
| JP3161891B2 true JP3161891B2 (ja) | 2001-04-25 |
Family
ID=17712525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28705993A Expired - Fee Related JP3161891B2 (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | ディスクチルト検出装置およびディスクチルト補正装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5523989A (ja) |
| JP (1) | JP3161891B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US8554839B2 (en) | 2008-11-19 | 2013-10-08 | Huawei Device Co., Ltd. | Method and device for intercommunicating address book information between different networks |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5696756A (en) * | 1995-04-14 | 1997-12-09 | Kabushiki Kaishia Toshiba | Optical disk having an evaluation pattern for evaluating the optical disk |
| JP3489271B2 (ja) * | 1995-06-16 | 2004-01-19 | ソニー株式会社 | ディスク駆動装置および傾き調整方法 |
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| JP3486145B2 (ja) | 2000-01-17 | 2004-01-13 | 松下電器産業株式会社 | デジタル記録データ再生装置 |
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| JP3817408B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2006-09-06 | 三星電機株式会社 | チルト検出装置 |
| JP3456579B2 (ja) | 2000-04-20 | 2003-10-14 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置および光学式情報記録再生装置 |
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| JP4085812B2 (ja) * | 2000-09-06 | 2008-05-14 | 株式会社日立製作所 | 光ヘッドおよび光ディスク装置 |
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| US7929386B2 (en) * | 2005-12-22 | 2011-04-19 | Panasonic Corporation | Optical disc device |
| JP2011086337A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Panasonic Corp | 光ヘッド装置、光情報処理装置及び信号検出方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2911449B2 (ja) * | 1987-10-29 | 1999-06-23 | パイオニア株式会社 | 光学式情報読取装置 |
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1993
- 1993-11-16 JP JP28705993A patent/JP3161891B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 1994-11-15 US US08/340,262 patent/US5523989A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5523989A (en) | 1996-06-04 |
| JPH07141673A (ja) | 1995-06-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080223 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090223 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100223 Year of fee payment: 9 |
|
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