JPH05128548A - 光学式走査装置 - Google Patents

光学式走査装置

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JPH05128548A
JPH05128548A JP4117545A JP11754592A JPH05128548A JP H05128548 A JPH05128548 A JP H05128548A JP 4117545 A JP4117545 A JP 4117545A JP 11754592 A JP11754592 A JP 11754592A JP H05128548 A JPH05128548 A JP H05128548A
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signal
tracking
track
objective lens
scanning device
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 対物レンズの変位による影響を受けにくい光
学式走査装置を提供する。 【構成】 2本のビームの各々を3個のスリット型の検
出系(10, 11,12)によりそれぞれプッシュプル検出す
る。調整素子(9) の位置の目安となると共にトラックに
対するスポットのトラッキング方向の位置を決定する位
置信号Ep を、電子回路(24-26,30-32) により検出器信
号から取り出す。制御回路は、位置信号を用いて調整素
子の位置を補正することができる。位置信号Ep がビー
ム強度による影響を受けないように正規化信号は同一の
検出器信号から取り出すことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トラックを有する情報
面を光学的に走査する装置であって、2本のトラッキン
グビームと1本の主ビームを発生する光学系と、これら
3本のビームを記録媒体上に集束させ、走査すべきトラ
ックの両側にそれぞれ位置する2個のトラッキングスポ
ット及びトラック上に1個の主スポットを形成するレン
ズ系と、記録媒体からの2本のトラッキングビーム及び
主ビームの放射をそれぞれ受光する少なくとも3個の検
出系a,b及びcを具え、各検出系が少なくとも2個の
検出器に分割されている光学式走査装置に関するもので
ある。この光学式走査装置は光記録媒体に情報を書込み
及び/又は読取る装置に用いることができる。
【0002】
【従来の技術】上記型式の走査装置は欧州特許出願第2
01603号から既知である。この既知の走査装置で
は、トラックサーボ系により主スポットを走査すべきト
ラック上に位置させている。このサーボ系はスリット検
出器の信号から取り出したトラッキングエラー信号によ
り制御される。粗制御及び微細制御はトラッキングサー
ボ系で用いることができる。粗制御は、走査ヘッドと協
働するスライダを直交方向すなわち円形の記録媒体の半
径方向に移動させることにより行われる。微細制御は対
物レンズを走査ヘッド内で直交方向に変位させることに
より行われる。この対物レンズの変位により、検出器面
にビームによって形成される放射スポットは関連する検
出器に対してずれてしまい、トラッキングサーボ系を制
御するトラッキングエラー信号にオフセットが生じてし
まう。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】欧州特許出願第201
603号には、対物レンズの微小なトラッキング方向変
位に依存しないトラッキングエラー信号を発生させる検
出器信号の組み合せが記載されている。しかしながら、
対物レンズの変位が大きい場合、対物レンズは光軸から
大きく離れるため、走査ビームに顕著な収差が生じてし
まう。このような対物レンズの変位は、例えば走査ヘッ
ドの移動速度が相当高速となり記録媒体の別のトラック
を追従するサーチ動作の開始時に発生する。このような
状況において、検出器から供給される信号が顕著に乱れ
てしまい、サーチ動作中に通過するトラックの数の計数
に誤差が生じてしまう。従って、本発明の目的は、上述
した欠点を除去し、トラッキングエラー信号に及ぼす対
物レンズの位置による影響又は光学系中に組み込まれて
いる別の調整素子の影響を一層低減した光学式走査装置
を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段並びに作用】本発明による
光学式走査装置は、主スポットの走査すべきトラックに
対するトラッキング方向の位置を調整する素子と、前記
検出器の出力信号を処理して前記素子の位置を表わす位
置信号を発生する電子回路とを具えることを特徴とす
る。位置信号は、検出器に入射する放射のずれによって
生ずる検出器信号から簡単な方法で取り出すことができ
る。この結果、個別の位置センサを可調整素子に近接し
て配置する必要がなくなる。上記調整素子は、例えば対
物レンズ又は回動ミラーとすることができる。この調整
素子の位置は、ビームができるだけ対物レンズの中心を
通過するように位置信号を用いて既知の方法で補正する
ことができる。サーチ動作中、位置信号を用いて、例え
ば対物レンズを走査ヘッド中の正規の位置に維持し対物
レンズの光軸が装置の光軸上に位置するように微細制御
を行うことができる。トラッキング中、位置信号は粗制
御を行い、対物レンズが走査ビームを走査すべきトラッ
ク上に集束せる正規の位置にほぼ位置することができる
ように走査ヘッドを位置決めする。
【0005】特開昭63−291224号公報には、走
査ヘッドの対物レンズの位置を、単一の走査ビームによ
って発生したトラッキングエラー信号から検出する方法
が提案されている。この既知の方法では、サーチ動作中
に走査ヘッドがトラックと直交する方向に移動すると、
トラッキングエラー信号は正弦波状に変化する。トラッ
キングエラー信号の直流成分は対物レンズの位置の目安
となる。この既知の装置の欠点は、交流成分をトラッキ
ングエラー信号の範囲外となるように濾波する必要があ
るため、信号処理速度が遅くなることである。一方、対
物レンズの位置の変化は高速であり、特にサーチ動作の
スタート時には走査ヘッドの速度は相当増大する。従っ
て、既知の装置の処理回路では補正信号を発生させるこ
とができない。
【0006】本発明の光学式走査装置の有益な実施例
は、前記電子回路が、前記検出系a及びbの差信号と検
出系cからの差信号に乗算される定数との和に比例する
位置信号を発生するように構成したことを特徴とする。
この検出器信号の新規な組み合わせによって、走査スポ
ットのトラック方向と直交する方向(トラッキング方
向)の移動によってほとんど影響を受けない極めて有益
な位置信号を形成することができる。
【0007】本発明による光学式走査装置の別の実施例
は、Tをトラッキングビームと主ビームとの間の強度比
とした場合に、前記定数を2T倍に等しくしたことを特
徴とする。定数をこのように選択することにより、主ビ
ームとトラッキングビームとの間の強度差が補償される
作用効果が達成される。
【0008】放射源から放出されるビームの非対称性強
度分布により或いは放射源と検出器との間の光学素子の
非対称性により、2本のトラッキングビームが同一強度
を有しない場合がある。本発明による光学式走査装置の
別の実施例は、検出系a及びbの一方の検出系からの差
信号が、2個のトラッキングビーム間の強度差で補正さ
れることを特徴とする。検出系a又はbの差信号に2本
のトラッキングビームの強度比を乗算することにより、
正確な位置信号を発生させることができる。
【0009】本発明による光学式走査装置の好適実施例
は、2個のトラッキングスポットの走査されるべきトラ
ックと直交する方向における間隔を、トラック周期の半
分に等しくしたことを特徴とする。この場合、電子回路
から供給される位置信号はスポットのトラック方向と直
交する方向の移動による影響を受けない。
【0010】トラッキングスポット間の距離を上述した
ように設定することは上述した欧州特許出願から既知で
ある。しかしながら、上記出願では、この距離はトラッ
キングエラー信号の最大振幅を得るためにだけ用いられ
てる。
【0011】本発明による光学式走査装置の別の実施例
は、検出系a,b及びcの出力部に接続され、検出系a
及びbの和信号並びに検出系cの和信号を2T倍した信
号に比例する正規化信号を発生する別の電子回路と、前
記2個の電子回路の出力部に接続され、正規化された位
置信号を発生する正規化回路とを有することを特徴とす
る。正規化することにより位置信号は放射源の強度に対
して依存しなくなる。従って、放射源の強度変化が生じ
ても、前記素子の位置を制御する制御ループの増幅度が
変化することはない。以下、図面に基づき本発明を詳細
に説明する。
【0012】
【実施例】図1は光ヘッドによって走査される記録媒体
の情報面1の一部を示す。情報面は平行トラック、すな
わち一緒になって紙面と直交する螺旋状トラックを構成
する平行トラックを有する。情報はトラック間又はトラ
ック中心の光学的に読取可能な区域(図示せず)として
記録することができる。光ヘッドは例えばダイオードレ
ーザから成る放射源を具え、このダイオードレーザから
回折格子4に向けて放射ビームを放出する。回折格子4
は入射ビームを+1次、−1次及び0次ビーム、すなわ
ち第1トラッキングビーム5、第2トラッキングビーム
6及び主ビーム7に分割する。図面を明瞭にするため、
第1ビーム及び主ビームの全光路だけを示す。例えばハ
ーフミラーから成るビームスプリッタ8によりビームを
対物レンズ9に向けて反射し、この対物レンズによりビ
ームを情報面1上に集束させる。情報面1上に形成され
るスポットの位置を図2に示す。トラック2はトラック
間距離9を有する。トラック13は光ヘッドによって追
従されるべきトラックである。第1及び第2のトラッキ
ングビームはトラッキングスポット14及び15をそれ
ぞれ形成し、これらのスポットはトラック13の中心か
ら公差x0 だけ離れて位置する。主ビームによって形成
される主スポット16はトラック13上に位置する。図
1に示すように、情報面で反射した放射は、対物レンズ
9及びビームスプリッタ8を経て検出系10,11及び
12にそれぞれ入射する。検出系10は第1のトラッキ
ングビーム5からの放射を受光し、検出系11は第2の
トラッキングビーム6からの放射を受光し、検出系に1
2は主ビームからの放射を受光する。図3は3個の検出
系を平面図として示す。各検出系10,11及び12は
分割線17,18及び19によりそれぞれ二分割され、
各半部が1個の検出器を構成する。これら検出器を図面
上符号10a,10bと、11a,11bと12a,1
2bで示す。分割線は情報面1のトラック2に平行に延
在する。
【0013】図3において、3本のビームによって形成
されるスポットを符号21,22及び23で示す。3本
のビームの情報はプッシュ−パル法に従って読出す。す
なわち、検出器10a及び10bの出力信号を差動増幅
器24に供給してプッシュ−プル信号Pa を形成する。
同様に差動増幅器25及び26は検出系11及び12の
プッシュ−プル信号Pb 及びPc を形成する。
【0014】このようにして形成された3個のプッシュ
−プル信号は2種類のオフセット誤差を含むおそれがあ
る。第1のオフセット誤差は、3個のスポット21,2
2及び23が検出系10,11及び12に対して分割線
17と直交する方向にずれた場合に発生する対称性のず
れである。このずれは、図4に示すように対物レンズ9
が横方向すなわちトラットと直交する方向に偏位すると
発生する。図4において、実線は正規の位置にある対物
レンズ9並びにビーム5,6又は7のうちの1本のビー
ムの関連する光路を示し、破線は距離x1 だけ偏位した
対物レンズ9並びに上記ビームの光路を示す。このずれ
が生じている間、放射源3の像の位置は変化せずに維持
される。情報面1上の主スポット16は側方にすなわち
距離x1 に比例する距離に亘ってトラック2と直交する
方向に移動する。従って、対物レンズ9の変位制御が主
スポット16のトラッキング方向と直交する方向におけ
る微細制御を行うために用いられ、粗制御は光ヘッド全
体のトラッキング方向と直交する方向への変位に用いら
れる。図4から明らかなように、対物レンズ9を変位さ
せることによりスポット23は検出器面上で変位する。
スポットの変位xd は次式で規定される。 xd /Dd =x1 /D1 --- (1) ここでDd 及びD1 は検出系12及び対物レンズ9にお
ける主ビームの直径である。スポット21及び23の位
置はスポット23の位置に結合されるので、スポット2
3が検出系に対して距離xd 以上に亘って変位している
場合スポット21及び22はそれらの検出系10及び1
1に対して同一距離だけ変位することになる。この結
果、差信号Pa ,Pb 及びPc は距離xd に比例したず
れεs をそれぞれ有することになる。
【0015】3個のプッシュ−プル信号が含む可能性の
ある第2のオフセット誤差は、非対称のずれである。こ
のずれは検出系10及び11の分割線17及び18間の
距離がトラッキングビームのスポット21及び22の中
心間距離に等しくない場合に発生する。この場合、プッ
シュ−プル信号Pa 及びPb に符号が反対で同一の大き
さのずれεs が発生する。適切に規定することにより、
この非対称のずれはプッシュ−プル信号Pc において零
になる。この非対称性のずれは、例えばダイオードレー
ザ3の温度変化による放射の波長変化によって生ずる場
合がある。この波長変化によって回折格子4がトラッキ
ングビーム5及び6を偏向する角度、従ってトラッキン
グビームによって検出系10及び11上に形成されるス
ポット21及び22の位置が変位する。
【0016】3個のプッシュ−プル信号に対して以下の
式が成立する。
【数1】 上式において、cは放射を電気信号に変換する変換効率
によって決まる検出器に依存する定数であり、Ii はi
番目のビーム検出系の位置における強度であり、mは光
ヘッドがトラックと直交する方向に変位している場合の
トラックの形状に依存する変調振幅である。xはトラッ
キング誤差、すなわち主スポット16がトラック13に
正確に追従していない場合のスポット14,15及び1
6のトラックと直交する方向における変位である。強度
i は、主としてレーザ3からの放射の強度、回折格子
4によって形成されるビームの強度分布、及び情報面1
の反射率によって決定される。Ia 及びIb はほぼ等し
い。欧州特許出願第201603号から以下の演算処理
が既知である。 Er =2TPc −(Pa +Pb ) --- (6) T=Ia /Ic --- (7) この演算処理により、オフセット項εs 及びεa が発生
しないトラッキング誤差xを表わす信号Er が得られ
る。ここで、Ia とIb は等しいものとする。xに対す
るEr の最大感度は、φ=πの場合、換言すれば、トラ
ッキングスポット14と15との間のトラッキング方向
と直交する方向の距離がトラック幅の1/2 となる場合す
なわちトラッキングスポットがトラック間の正しい位置
にある場合に得られる。例えば円形の記録媒体の回転軸
に対するトラック構造のエキセントリックに起因するφ
の微小な変化は、信号Er に対してほとんど影響を及ぼ
さない。従って、信号Er をトラッキングサーボ系のト
ラッキング誤差として用いて主スポット16を所望のト
ラック13上に位置させることができる。
【0017】対物レンズ9のずれを利用してトラッキン
グ制御を行なう場合、対物レンズを光学系の光軸から遠
く離れて位置させるおそれがある。この変位は、光ヘッ
ドが相当高速で移動する場合にサーチ動作のスタート時
又は終了時に発生する。この大きなずれを補正するため
走査ヘッド(光ヘッド)中における対物レンズの位置を
表わす位置信号が必要になる。このため、本発明による
装置では、対物レンズの変位の目安となるずれεs を決
定する。プッシュ−プル信号について以下の処理を行な
うことによりずれεs に比例する信号Ep が得られる。
【数2】 変調振幅mは一般的にずれεs に対して微小であるか
ら、信号Ep を対物レンズ9の位置の目安として用いる
ことができる。一方、mが大きい場合、対物レンズの位
置の目安は、回路を用いて信号Ep の直流成分を決定す
ることにより得られる。この構成は特開昭63−291
224号公報の記載内容から既知の方法に類似していな
い。この既知の方法は、本発明による位置信号Ep に対
してよりもトラッキング誤差信号に対して一層良好に作
動する。この理由は、位置信号の変調がトラッキング誤
差信号の変調よりも一層小さいからである。φがπにな
るように選択される場合すなわちトラッキングスポット
14及び15の中心が互いに隣接する2個のトラック間
に正確に位置する場合、簡単な方法が得られる。この場
合、xの依存性が除去され、次式が成立する。 Ep =4CIa εs --- (9) この信号は検出系の対称性誤差εs に比例し、従って検
出系上のスポットの変位xd に比例する。よって、(1)
式により、この信号は走査ヘッドの対物レンズ9の変位
1 に比例することになる。φを適切に選択することに
より、位置信号pには情報面のトラック2による変調成
分がなくなる。すなわち、走査ヘッドがトラックと直交
する方向に変位している場合でも、位置信号Ep はトラ
ックに起因して変化することはない。位置信号Ep をサ
ーボ系に対する位置誤差信号として用いて対物レンズの
位置を補正することができる。
【0018】2本のトラッキングビーム5及び6の強度
が相異する可能性がある。このビーム強度の相異は、特
願平3−229002号明細書に記載されているよう
に、例えばトラッキングビームがレーザ3から放射され
るビームのうち限界光線部分によって形成される場合に
発生する。ビーム中の強度分布が非対称の場合、限界光
線のビーム部分は等しい強度にならず、従ってトラッキ
ングビーム5及び6は互いに異なる強度となる。この場
合、(9)式によって規定される位置信号Ep は依然と
してxに対して依存し、すなわち位置信号はトラックに
よる変調を受けてしまう。従って、この位置信号は対物
レンズ用の位置信号としてあまり有用でない。この場
合、満足し得る位置信号は、プッシュ−プル信号Pb
補正因子bを乗算することにより得られ、ここで因子b
は検出系10及び11上にそれぞれ形成されるスポット
21と22との間の強度比に等しい。位置信号Ep を形
成する新たな式は次式で与えられる。 Ep =2TPc +Pa +bPb b=Ia /Ib --- (10) プッシュプル信号Pb にbを乗算する代わりに、Pa
1/bを乗算することも可能である。
【0019】(9)式における位置信号Ep の値は検出
系への入射強度Ia に依存する。この強度Ia はレーザ
3から放出される放射光の品質及び情報面1の反射性能
に依存する。例えば、レーザが書込中に情報面の情報を
再生する場合の10倍のパワーを発生する場合、位置信
号も読取中より書込中の方が10倍以上の強度となり、
対物レンズ9の位置に依存しなくなってしまう。このよ
うな状態は、制御ループにとって望ましくない状態であ
る。従って、位置信号が検出系への入射強度に依存しな
いようにすることが望ましい。本発明の別の見地におい
て、この課題は、検出系10,11及び12の信号から
取出した正規化信号によって位置信号を正規化すること
により達成する。前述したように、各検出系の差信号を
決定する代わりに、各検出系から検出系への全入射強度
をそれぞれ表わす和信号を形成する。検出系10,11
及び12の各和信号は次式で与えられる。
【数3】 上式において、dは1にほぼ等しい定数であり、nはト
ラックの形状に依存する変調振幅であり(2),(3)
及び(4)式における変調振幅に相当する。正規化信号
n は次式で与えられる。
【数4】 上式においてφ=πに選択すると、正規化信号は以下の
ようになる。
【数5】 この信号は、変数xを含んでいないから、トラック2に
よる変調成分のない信号になる。(9)式及び(16)
式を用いると、正規化された位置信号Ep ′は次式で与
えられる。
【数6】 この正規化された位置信号は、レーザ3の強度、情報面
1の反射率及びトラック2に対する走査ヘッドの位置に
対して独立している。
【0020】(10)式に従って対物レンズ9の位置信
号を発生させる電気回路の一例を図5に示す。3個のプ
ッシュ−プル信号Pa ,Pb 及びPc を、図3に示す回
路と同様に検出系10,11及び12の信号から取り出
す。回路30により、信号P c に定数因子2Tを乗算す
る((7)式参照)。トラッキングビーム5及び6のス
ポットの強度が互いに等しくない場合、回路31におい
て信号Pb に定数bを乗算する必要がある((11)式
参照)。回路30及び31は差動増幅器26及び25と
それぞれ一体化することができる。差動増幅器24から
の出力信号と回路30からの出力信号と回路31の出力
信号とを加算増幅器32で加算する。加算増幅器の出力
信号は位置信号EP となる。この位置信号は、対物レン
ズ9を横方向にすなわちトラック及び対物レンズの光軸
と直交する方向に補正する制御回路用の入力信号として
用いることができる。制御回路はトラッキングエラー信
号Er 用の別の入力部34を有することができる。アク
チュエータ35は、対物レンズ9を制御回路33の出力
信号に従って変位させる。走査装置のサーチ動作中、位
置信号Ep を用いて対物レンズをその位置に維持する。
トラッキング中、トラッキング誤差信号Er を用いて対
物レンズの位置を主スポット16のトラッキングの微細
制御として制御する。信号Ep は、トラックに関して走
査ヘッドと協働するスライダの位置を決定する粗制御用
に用いる。主スポット16が所定のトラック上に維持さ
れている場合、走査ヘッド中の対物レンズの位置はスラ
イダの位置を制御することにより補正することができ
る。
【0021】(17)式に基づいて正規化された対物レ
ンズ用の位置信号を発生させる電子回路を図6に示す。
正規化された位置信号Ep は図5に示す方法と同一の方
法で形成する。加算増幅器36から検出系10に入射す
る全放射強度に比例する和信号Sa を発生させる。同様
に、加算増幅器37及び39からの和信号Sb 及びS c
をそれぞれ発生する。検出系10及び11にそれぞれ入
射する放射強度が互いに等しくない場合、回路38にお
いて信号Sb に定数bを乗算する必要がある((11)
式参照)。和信号Sc は回路40において定数2Tを乗
算する((7)式参照)。次に、加算増幅器41は加算
増幅器36の出力信号と2個の回路38及び40の出力
信号とを加算する。加算増幅器41の出力信号は正規化
信号Sn となる。最後に、除算回路42において位置信
号Ep を正規化信号Sn で除算して正規化された位置信
号Ep ′を得る。図5に示す回路と同様に、正規化され
た位置信号Ep ′を対物レンズ9を位置決めする制御回
路33に供給することができる。
【0022】米国特許第4023033号に記載されて
いるように、検出系12は4分割領域に分割し、フォー
カスエラー信号を発生させるように非点収差が形成され
た主ビームと協働させることができる。検出系12の異
なる領域を必要とする他のフォーカスエラー信号発生方
法も用いることができる。本発明による光学式走査装置
においては、信号Pc に類似するプシュプル信号を検出
系12から取り出す限り、全てのフォーカスエラー信号
発生方法を用いることができる。上述した実施例では、
主スポットのトラッキング位置の微細制御は対物レンズ
を変位させることにより行なわれ、位置信号を用いて対
物レンズの位置を決定した。一方、主スポットのトラッ
キング方向位置は他の素子を用いて制御することも可能
である。この素子として図1のミラー8がある。主スポ
ット16は、このミラー8を回動させることにより変位
させることができる。位置信号はミラーの傾きの目安と
なり、この位置信号を用いて制御回路においてミラーを
制御することができる。上述した位置信号を発生させる
電気回路は上述した実施例だけに限定されず、同一の機
能を達成する種々の回路を用いることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は3本のビームにより記録媒体を走査する
走査ヘッドの一例の構成を示す線図である。
【図2】図2は3本のビームによって記録媒体上に形成
されるスポットの位置を示す線図である。
【図3】図3は電子処理回路を有する走査ヘッドの3個
の検出系を示す線図である。
【図4】図4は対物レンズが正規の位置及びシフトした
位置にある場合の走査ヘッドの構成を示す線図である。
【図5】図5は位置信号を発生する回路及び対物レンズ
の位置制御機構を有する走査ヘッドを示す線図である。
【図6】図6は位置信号用の正規化回路を有する走査ヘ
ッドを示す線図である。
【符号の説明】
1 情報面 3 放射源 4 回折格子 8 ビームスプリッタ 9 対物レンズ 10,11,12 検出系 24,25,26 差動増幅器

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 トラックを有する情報面を光学的に走査
    する装置であって、2本のトラッキングビームと1本の
    主ビームを発生する光学系と、これら3本のビームを記
    録媒体上に集束させ、走査すべきトラックの両側にそれ
    ぞれ位置する2個のトラッキングスポット及びトラック
    上に1個の主スポットを形成するレンズ系と、記録媒体
    からの2本のトラッキングビーム及び主ビームの放射を
    それぞれ受光する少なくとも3個の検出系a,b及びc
    を具え、各検出系が少なくとも2個の検出器に分割され
    ている光学式走査装置において、 前記主スポットの走査すべきトラックに対するトラッキ
    ング方向の位置を調整する素子と、前記検出器の出力信
    号を処理して前記素子の位置を表わす位置信号を発生す
    る電子回路とを具えることを特徴とする光学式走査装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の装置において、前記電
    子回路が、前記検出系a及びbの差信号と検出系cから
    の差信号に乗算される定数との和に比例する位置信号を
    発生するように構成したことを特徴とする光学式走査装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の装置において、Tをト
    ラッキングビームと主ビームとの間の強度比とした場合
    に、前記定数を2T倍に等しくしたことを特徴とする光
    学式走査装置。
  4. 【請求項4】 請求項1から3までのいずれか1項に記
    載の装置において、前記検出系a及びbの一方の検出系
    からの差信号が、2個のトラッキングビーム間の強度差
    で補正されることを特徴とする光学式走査装置。
  5. 【請求項5】 請求項1から4までのいずれか1項に記
    載の装置において、2個のトラッキングスポットの走査
    されるべきトラックと直交する方向における間隔を、ト
    ラック周期の半分に等しくしたことを特徴とする光学式
    走査装置。
  6. 【請求項6】 請求項1から5までのいずれか1項に記
    載の装置において、前記検出系a,b及びcの出力部に
    接続され、検出系a及びbの和信号並びに検出系cの和
    信号を2T倍した信号に比例する正規化信号を発生する
    別の電子回路と、前記2個の電子回路の出力部に接続さ
    れ、正規化された位置信号を発生する正規化回路とを有
    することを特徴とする光学式走査装置。
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