JPH0370859B2 - - Google Patents

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JPH0370859B2
JPH0370859B2 JP10411983A JP10411983A JPH0370859B2 JP H0370859 B2 JPH0370859 B2 JP H0370859B2 JP 10411983 A JP10411983 A JP 10411983A JP 10411983 A JP10411983 A JP 10411983A JP H0370859 B2 JPH0370859 B2 JP H0370859B2
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JP
Japan
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diffraction grating
light
focus
diffracted
tracking error
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Yoshihiro Katase
Toshihiko Goto
Masayuki Inoe
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、光学式ビデオデイスクプレーヤなど
において、光源から照射された光が対物レンズ等
を介して光デイスク等の記録媒体上の情報トラツ
ク上に正しく集光しているかどうかを検出するた
めに用いるフオーカスおよびトラツキング誤差検
出装置に関する。
〔発明の背景〕
光学式ビデオデイスクプレーヤ等においては、
その記録・再生に当つて、レーザ等の光源からの
光束を光学系により微小スポツトとしてデイスク
の情報トラツク上に常に正しく集光する必要があ
り、そのためのフオーカスおよびトラツキング誤
差検出装置が備えられている。
第1図はNational Technical Report Vol.28
No.3 June 1982に見られる従来のフオーカスお
よびトラツキングの誤差検出装置を示す構成図で
ある。第1図において、1は半導体レーザ光源、
2はコリメートレンズ、3は発散光、4は平行
光、5は偏光ビームスプリツタ、6は4分の1波
長板、7は対物レンズ、8は光デイスク、9は情
報トラツク、10は反射光、11は平行光、12
は凸レンズ、13はミラー、14は凹レンズ、1
5はフオーカス誤差信号、16と17は2分割受
光素子、18はトラツキング誤差信号、19と2
0は2分割受光素子、である。
次に動作について簡単に説明する。光源には半
導体レーザ光源1が用いられる。コリメートレン
ズ2は光源の発散光3を集光して平行光4に変換
する集光レンズである。平行光4は、偏光ビーム
スプリツタ5、4分の1波長板6を通過し、対物
レンズ7によつて絞り込まれ、デイスク8におけ
る情報トラツク9上に照射する情報トラツク9か
らの反射光10は対物レンズ7によつて集光され
て再び平行光11となり、4分の1波長板6を通
過後、偏光ビームスプリツタ5で反射される。こ
の平行光11は凸レンズ12を通過後ミラー13
で2分割され、一方は凹レンズ14を経てフオー
カス誤差信号15を得るための2分割受光素子1
6,17に、他方はトラツキング誤差信号18を
得るための2分割受光素子19,20に導かれ
る。図には示されてはいないが、これらの誤差信
号15,18は、フイードバツク制御に用いら
れ、対物レンズ7をx軸、y軸方向に動かすこと
によりフオーカスサーボ、トラツキングサーボを
行なう。
ところで、再生専用のビデオデイスク等で用い
られるフオーカス誤差信号検出方式としては、円
柱レンズを用いる非点収差方式が良く知られてい
る。この方式は反射光のフアーフイールド像の形
状の変化を利用して誤差信号を得るものであり、
フオーカス感度が高いという特徴がある。ところ
が、トラツキング用としてのデイスク8に設けら
れてあるλ/8の溝のトラツク9によつて一次元
方向の回折を受けるために、この回折の影響がフ
オーカス誤差信号に外乱として混入し、フオーカ
ス精度が劣化する。その結果、トラツキング誤差
信号の品質が悪くなりトラツキングの引込み時や
検索時にサーボ系が不安定となる要因になる。こ
の影響は、非点収差方式のように反射光のフアー
フイールド像からフオーカス誤差信号を得る方式
の方が大きい。
そのため、第1図に示した反射光学系では、凸
レンズ12と凹レンズ14による反射光の結像位
置に2分割受光素子16,17を設けフオーカス
誤差信号15を得るようにする。反射光の結像位
置では、デイスク8上の像に対して共役な像がで
きるため、溝トラツク9による回折の影響はかな
り軽減でき、フアーカス精度を高めることができ
る。
次に、トラツキング誤差信号18の検出につい
て述べる。
第2図は溝トラツク9を横切つた時のフアーフ
イールド像21の変化を示したものである。実際
には、光学系側からみて凸部に信号の記録再生が
行なわれる。
溝トラツク9の深さは半導体レーザ1の波長λ
に対して、λ/8の光学的距離をもち、溝と溝間
からの両反射光にはπ/2の位相差がある。この
位相差π/2の位相差をもつ溝トラツク9の端に
光が入射したとき、反射光のフアーフイールド像
21では、その方向に光強度の強いところが移
る。したがつて、この光強度の変化を第1図に示
した光学系に示す2分割受光素子19,20で検
出し、両受光素子19,20の受光量の差からト
ラツキング誤差信号18を得ることができる。
このように、従来のフオーカスおよびトラツキ
ング誤差検出装置では、ミラー13により光束を
異なつた方向に2分割し、それぞれの光束を受け
るために、フオーカス誤差信号15を得るための
2分割受光素子16,17とトラツキング誤差信
号18を得るための2分割受光素子19,20と
を別々の位置にそれぞれ独立して配置しなければ
ならない。そのため受光素子や調整機構などの部
品点数が多くなり、光学系が大形になり、調整箇
所がふえるといつた欠点があつた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述した欠点を除去し、フオ
ーカス信号を得るための2分割受光素子とトラツ
キング誤差信号を得るための2分割受光素子とを
同一平面上に近接させて配置して光学系を小形に
構成し、しかも常に正確に正しく動作するフオー
カスおよびトラツキング誤差検出装置を提供する
ことにある。
〔発明の概要〕
本発明のフオーカスおよびトラツキング誤差検
出装置は、光源から射出された光を集束させて、
デイスク記録面の情報トラツク上に照射させる対
物レンズと、該対物レンズと該光源との間に配置
され、前記光源からの光を該対物レンズに導くと
共に、前記情報トラツクで反射され、該対物レン
ズで集光された反射光を分割受光素子に導くビー
ムスプリツタと、該ビームスプリツタと該分割受
光素子との間に配置され、前記情報トラツクにお
けるトラツク中心線に光学的に対応する直線によ
り分割された、互いに性質の異なる第1の回折格
子面と第2の回折格子面を同一平面上に有する回
折格子とを具備し、第1の回折格子面で回折され
た回折光と、第2の回折格子面で回折された回折
光の光量分布の変化を検出することにより、前記
対物レンズの情報トラツクに対するフオーカスお
よびトラツキング誤差信号を得るように構成した
ことを特徴としている。
〔発明の実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細
に説明する。
第3図は本発明の一実施例を示す斜視図、第4
図aは第3図における回折格子22の正面図、第
4図bは同側面図、第4図cは第4図bの部分的
拡大図、第5図は光束11に対する回折格子22
の位置関係を示す回折格子22の正面図、第6図
は分割受光素子28および信号処理を示す構成図
である。
第3図において、デイスク8の反射光10を偏
光ビームスプリツタ5で反射させるまでは、第1
図に示した従来の光学的記録再生装置と同じ構成
であり、第1図に示す符号と同一符号は同一光学
部材を表わす。さらに、22は回折格子、22a
は第1の回折格子面、22bは第2の回折格子
面、23はトラツク中心線に光学的に対応する直
線、27は検出レンズ、28は分割受光素子、で
ある。
つづいて回折格子22について説明する。
この回折格子22は、回折格子面が情報トラツ
ク中心線と光学的に対応する直線23により分割
された、互いに性質の異なる第1の回折格子面2
2aと第2の回折格子面22bを同一平面上に有
するよう構成されている。本実施例においては、
第2の回折格子面22bとして、回折格子が形成
されていない面とし、第1の回折格子面22aの
み回折格子が形成されている面とした。
第1の回折格子面22aに形成された回折格子
は第4図に示すように、表面が凸凹形状をなした
透過型の回折格子であり、凸部の幅bと凹部の幅
aが等しく、かつ凸部と凹部の高さの差hと、光
源の波長λおよび回折格子の屈折率nとの間に h=λ/2(n−1) なる関係を満足するよう構成されている。凸部の
幅bと凹部の幅aが等しい回折格子面において光
が回折されると偶数次(0次を除く)回折光は光
量が0となる。また、凸部と凹部の高さの差hが
λ/2の光学的距離をもつ回折格子面において光
が回折されると凸部の透過光と凹部の透過光との
間にはπの位相差が生じるため0次回折光の光量
は0になる。しかるに両者の性質を兼ね備えた回
折格子面を用いた場合、透過光は0次及び偶数次
回折光の光量は0となり、±1次回折光の光量の
みが十分得られるようになる。すなわち、該回折
格子面を通過した光は2方向に分割して回折され
る。
ところで、本実施例で用いられる回折格子22
は、分光用のそれとは異なり、1mmあたり数本〜
数十本程度の比較的粗い格子であるから、ルーリ
ングエンジンを用いずに、ガラスエツチングやガ
ラス蒸着等の手法により安価にかつ容易に製作す
ることができる。
以上のことを踏まえて本実施例における動作に
ついて説明する。デイスク8における情報トラツ
ク9上で反射された反射光10が偏光ビームスプ
リツタ5で反射するまでは第1図に示す従来の光
学的記録再生装置と同様の動作を行なう。偏光ビ
ームスプリツタ5で反射された後、光束11は第
5図に示すように回折格子22に入射する。この
とき第1の回折格子面22aに入射した光束は該
回折格子面22aにより回折され+1次光24と
−1次光25とに2分割される。また、第2の回
折格子面22bに入射した光束は、該回折格子面
22bには回折格子が形成されていないために、
回折を受けず透過され0次光26となる。そして
+1次光24、−1次光25、0次光26はそれ
ぞれ検出レンズ27によつて集束光となり、分割
受光素子28の各受光面に入射する。
この分割受光素子28は、+1次光24の受光
面28aと、−1次光25の受光面28bと、デ
イスク8における情報トラツク9のトラツク中心
線と光学的に対応する直線29による2領域に分
割された、0次光の受光面28c,28dとによ
り構成されている。
各受光面に入射した光束はそれぞれ電気信号に
変換され、第6図に示すように信号処理される。
すなわち従来例で説明した原理と同様に、フオー
カス誤差信号15は、受光面28c,28dの出
力の差から得られる。また、トラツキング誤差信
号18は、受光面28c,28dの加算信号30
と、受光面28a,28bの加算信号31を適当
に増幅した信号32との差から得られる。
次に本発明において用いる回折格子および受光
素子の他の構成例について述べる。
第7図、第9図、第11図はそれぞれ他の構成
例を示す回折格子の正面図、第8図、第10図、
第12図はそれぞれ第7図、第9図、第11図に
示した回折格子に対応する分割受光素子および信
号処理を示す構成図、である。
第5図では、回折格子22の境界線23に対し
て、格子線33の方向が垂直であるが、第7図の
ように、回折格子34の境界線35に対して格子
線36の方向を平行としてもよい。この場合に
は、第8図に示した分割受光素子37を用いれば
よい。
また、第9図のように、互いに格子間隔が異な
る2つの回折格子面38a,38bで構成される
回折格子38を用いることもできる。この場合に
は、例えば第10図に示した分割受光素子39を
用いればよい。
さらに、第11図のように、互いに格子線の向
きが異なる2つの回折格子面40a,40bで構
成される回折格子40を用いることもできる。こ
の場合には、例えば第12図に示した分割受光素
子41を用いればよい。
このように、互いに性質の異なる2つの回折格
子面を有する回折格子を用いた場合には、少なく
とも4つ以上の回折光が得られ、それらの内2つ
をフオーカス検出用に、残りの2つをトラツキン
グ検出用に使用することができるので、信号処理
もより簡単になる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、回折格
子で回折された回折光の光量分布の変化を検出す
ることにより、対物レンズの情報トラツクに対す
るフオーカスおよびトラツキング誤差信号を検出
するために、フオーカス信号を得るための2分割
受光素子とトラツキング誤差信号を得るための2
分割受光素子とを同一平面上に近接させて配置す
ることができるので、受光素子や調整機構などの
部品点数が減り、光学系が小型になり、調整箇所
が減るといつた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はフオーカスおよびトラツキング誤差検
出装置の従来例を示す構成図、第2図は反射光の
フアーフイールド像の説明図、第3図は本発明の
一実施例を示す斜視図、第4図aは第3図におけ
る回折格子22の正面図、第4図bは同側面図、
第4図cは第4図bの部分的拡大図、第5図は回
折格子22の正面図、第6図は分割受光素子28
および信号処理を示す構成図、第7図、第9図、
第11図はそれぞれ本発明において用いる回折格
子の他の構成例を示す構成図、第8図、第10
図、第12図は同じく分割受光素子および信号処
理の他の構成例を示す構成図、である。 1……半導体レーザ光源、2……コリメートレ
ンズ、3……発散光、4……平行光、5……偏光
ビームスプリツタ、6……4分の1波長板、7…
…対物レンズ、8……光デイスク、9……情報ト
ラツク、10……反射光、11……平行光、12
……凸レンズ、13……ミラー、14……凹レン
ズ、15……フオーカス誤差信号、16,17…
…2分割受光素子、18……トラツキング誤差信
号、19,20……2分割受光素子、21……反
射光のフアーフイールド像、22……回折格子、
22a……第1の回折格子面、22b……第2の
回折格子面、23……直線、24……+1次光、
25……−1次光、26……0次光、27……検
出レンズ、28……分割受光素子、28a〜28
d……受光面、29……直線、33……格子線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源から射出された光を集束させて、デイス
    ク記録面の情報トラツク上に照射させる対物レン
    ズと、該対物レンズと前記光源との間に配置さ
    れ、該光源からの光を前記対物レンズに導くと共
    に、前記情報トラツクで反射され、対物レンズで
    集光された反射光を分割受光素子に導くビームス
    プリツタと、前記情報トラツクにおけるトラツク
    中心線に光学的に対応する直線により分割され
    た、互いに性質の異なる第1の回折格子面と第2
    の回折格子面を同一平面上に有する回折格子とを
    具備し、前記第1の回折格子面で回折された回折
    光と、第2の回折格子面で回折された回折光の光
    量分布を検出することにより、前記対物レンズの
    情報トラツクに対するフオーカスおよびトラツキ
    ング誤差信号を検出するようにしたことを特徴と
    するフオーカスおよびトラツキング誤差検出装
    置。 2 前記回折格子は、表面が凸凹形状をなした透
    過型の回折格子であり、凸部の幅と凹部の幅が等
    しく、凸部と凹部の高さの差hと、前記光源の波
    長λおよび回折格子の屈折率nとの間に h=λ/2(n−1) なる関係を満足するようにしたことを特徴とす
    る、特許請求の範囲第1項に記載のフオーカスお
    よびトラツキング誤差検出装置。 3 前記回折格子の第1の回折格子面と第2の回
    折格子面のうちの一方は、回折格子が形成されて
    いない面としたことを特徴とする、特許請求の範
    囲第1項に記載のフオーカスおよびトラツキング
    誤差検出装置。 4 前記回折格子は、互いに格子線の向きが異な
    るように形成された第1の回折格子面と第2の回
    折格子面から成ることを特徴とする、特許請求の
    範囲第1項に記載のフオーカスおよびトラツキン
    グ誤差検出装置。 5 前記回折格子は、互いに格子間隔が異なるよ
    うに形成された第1の回折格子面と第2の回折格
    子面から成ることを特徴とする、特許請求の範囲
    第1項に記載のフオーカスおよびトラツキング誤
    差検出装置。 6 前記分割受光素子は、第1の回折格子面で回
    折された回折光と、第2の回折格子面で回折され
    た回折光をそれぞれ受光するための少なくとも2
    つの受光面を具え、そのうちの少なくとも1つの
    受光面は、前記情報トラツクにおけるトラツク中
    心線に光学的に対応する直線により2領域に分割
    されていることを特徴とする、特許請求の範囲第
    1項に記載のフオーカスおよびトラツキング誤差
    検出装置。
JP10411983A 1983-06-13 1983-06-13 フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置 Granted JPS59231736A (ja)

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